JPH0631619A - Machining method for metal surface - Google Patents

Machining method for metal surface

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Publication number
JPH0631619A
JPH0631619A JP18505092A JP18505092A JPH0631619A JP H0631619 A JPH0631619 A JP H0631619A JP 18505092 A JP18505092 A JP 18505092A JP 18505092 A JP18505092 A JP 18505092A JP H0631619 A JPH0631619 A JP H0631619A
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JP
Japan
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metal surface
light
reflection light
solder resist
optical power
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP18505092A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hideaki Terauchi
秀明 寺内
Michio Tamano
道夫 玉野
Hirokazu Fukuda
広和 福田
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
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Publication of JPH0631619A publication Critical patent/JPH0631619A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
  • Shaping Metal By Deep-Drawing, Or The Like (AREA)
  • Non-Metallic Protective Coatings For Printed Circuits (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)

Abstract

PURPOSE:To simply stabilize the reflection characteristic by uniformly coating the solder resist at the preset thickness on a metal surface in the surface machining for unifying the light power of the regular reflected light and the irregular reflected light of a light spot beam fed vertically to the metal surface for the surface of the preset area. CONSTITUTION:Gold or palladium 12 provided with an adhesive 10, a copper foil 11, and lustrous nickel plating as a backing is provided at the preset thickness on a printed board 8 made of glass epoxy resin, for example. Solder resist 30 is coated by screen printing at the film thickness of 5-35mum on the surface of the board 8. The metal surface may be polished several times with a solid rubber containing abrasive grains having the grain size of 10-200mum, or a pit having the surface roughness of about 1mum and the pitch of 10-200mum on the alternating shaped cross section may be pressed for a shape transfer.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は金属表面の加工方法に関
し、更に詳しくは高反射率の金属表面に垂直に入射させ
た光スポットビームの正反射光及び乱反射光の光パワー
を所定の広さの金属表面について夫々に均一なレベルで
得るための金属表面の加工方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for processing a metal surface, and more particularly to a method for processing light power of specular reflection light and diffuse reflection light of a light spot beam vertically incident on a metal surface having high reflectance to a predetermined range. The present invention relates to a method for processing a metal surface so as to obtain each metal surface at a uniform level.

【0002】近年、電話の新設・移転等に伴う加入者ケ
ーブルと交換機ケーブルとの接続替えの作業を行う所謂
配線架(MDF:Main Distributing Frame )が自動化
されつつある。この自動化は、従来の人手に代わってロ
ボットがMDFジャンパの接続替えを行うものである
が、その際には、ロボットはジャンパ用マトリクスボー
ド上に設けられた多数の導電性差点穴にジャンパピンを
的確に挿抜する必要がある。本発明は、かかるマトリク
スボード上の導電性プリントパターンの表面処理に好適
するものであり、以下に、一例の自動MDFについて説
明しておく。
In recent years, a so-called wiring frame (MDF: Main Distributing Frame) for changing the connection between a subscriber cable and an exchange cable due to new installation or relocation of a telephone has been automated. In this automation, the robot replaces MDF jumpers in place of the conventional manual operation. At that time, the robot accurately attaches jumper pins to a large number of conductive difference holes provided on the jumper matrix board. Need to be inserted and removed. The present invention is suitable for the surface treatment of a conductive print pattern on such a matrix board, and an example of automatic MDF will be described below.

【0003】図9は一例のマトリクスボード部を説明す
る図である。図9の(A)はマトリクスボード部の正面
図で、図において10はマトリクスボード部、8はプリ
ント基板、1〜4は位置決め用の基準マーク、5はプリ
ントパターン部、6はプリントパターン、7はプリント
パターン部5に設けられた略5000個の差点穴であ
る。不図示のロボットは個々の差点穴7にジャンパピン
を挿抜することでN本の加入者ケーブルとM本の交換機
ケーブルとの接続替えを行う。
FIG. 9 is a diagram for explaining an example of a matrix board section. FIG. 9A is a front view of the matrix board section. In the figure, 10 is a matrix board section, 8 is a printed circuit board, 1 to 4 are reference marks for positioning, 5 is a print pattern section, 6 is a print pattern, and 7 is a print pattern. Are approximately 5000 difference point holes provided in the print pattern portion 5. A robot (not shown) replaces the connection between N subscriber cables and M exchange cables by inserting / removing jumper pins into / from the individual difference holes 7.

【0004】図9の(B)はプリントパターン部の部分
拡大図で、図においてCは差点穴の中心、9は差点穴7
に挿入された状態のジャンパピンである。図示の如く、
横(X軸)方向のプリントパターンを有するプリント基
板と縦(Y軸)方向のプリントパターンを有するプリン
ト基板とを交互に積層してマトリクスボード部10を構
成している。
FIG. 9B is a partially enlarged view of the print pattern portion. In the figure, C is the center of the difference point hole, and 9 is the difference point hole 7.
It is a jumper pin inserted in. As shown,
The matrix board unit 10 is configured by alternately stacking a printed board having a horizontal (X axis) print pattern and a printed board having a vertical (Y axis) print pattern.

【0005】図9の(C)は図9の(B)のA−A断面
図で、図において81 〜87 はプリント基板、61 ,6
3 ,65 ,67 はマトリクスボード側の接触端子、
1 ,9 2 はジャンパピン9のバネ接触端子である。図
示の如くジャンパピン9を挿入した状態では加入者ケー
ブル(N)側のペア線A,Bと交換機ケーブル(M)側
のペア線A,Bとが夫々に接続しており、またジャンパ
ピン9を抜去するとこれらは切断される。
FIG. 9C is a sectional view taken along line AA of FIG. 9B.
8 in the figure1~ 87Printed circuit board, 61, 6
3, 6Five, 67Is the contact terminal on the matrix board side,
91, 9 2Is a spring contact terminal of the jumper pin 9. Figure
With the jumper pin 9 inserted as shown,
The pair wires A and B on the bull (N) side and the exchange cable (M) side
Pair wires A and B are connected to each other, and a jumper
These are cut when the pin 9 is removed.

【0006】図10は一例の光センサ部を説明する図
で、この光センサ部はロボットがジャンパピン9の挿抜
を行う際の目として働く。図10の(A)は光センサ部
の構成を示す図で、図において21はビームスプリッ
タ、22はλ/4波長板、23はCCD等の1次元受光
素子アレイ、24は集光レンズ、25はフォトダイオー
ド等の単一の受光素子である。
FIG. 10 is a view for explaining an example of an optical sensor section, and this optical sensor section functions as an eye when the robot inserts and removes the jumper pin 9. FIG. 10A is a diagram showing the configuration of the optical sensor section, in which 21 is a beam splitter, 22 is a λ / 4 wavelength plate, 23 is a one-dimensional light receiving element array such as CCD, 24 is a condenser lens, and 25 is a condenser lens. Is a single light receiving element such as a photodiode.

【0007】光センサ部は不図示のエンコーダ機構部に
より予め例えば基準マーク1上に粗移動される。この光
センサ部ではスポット径略200μmのP偏光のレーザ
スポットビームLBが矢印B方向にスキャンしており、
該P偏光はλ/4波長板22で円偏光となり、基準マー
ク1の面上に垂直に入射する。この基準マーク1は厚さ
35μmの銅箔上に光沢性のニッケルメッキを下地とし
て厚さ2μmの金(Au)又はパラジウム(Pd)をメ
ッキ処理した高反射率の金属表面を有しており、かつそ
の表面には微細で均一な凹凸が設けられている。そし
て、この基準マーク1の表面で垂直方向に正反射した円
偏光Rφ0 はλ/4波長板22でS偏光となり、更にビ
ームスプリッタ21でスプリットされて受光素子アレイ
23に入射する。かかる状態で、光センサ部のX,Y方
向への微動に伴う各スキャンフレームの光パワーをモニ
タし、基準マーク1のX,Y位置及びX,Y,Z軸につ
いての回転を画像解析することにより、不図示のロボッ
トハンド部のX,Y位置及び姿勢を制御している。
The optical sensor unit is roughly moved in advance, for example, on the reference mark 1 by an encoder mechanism unit (not shown). In this optical sensor section, a P-polarized laser spot beam LB having a spot diameter of about 200 μm is scanned in the direction of arrow B,
The P-polarized light becomes circularly polarized light at the λ / 4 wavelength plate 22 and is vertically incident on the surface of the reference mark 1. The reference mark 1 has a high-reflectance metal surface plated with 35 μm thick copper foil and 2 μm thick gold (Au) or palladium (Pd) on a glossy nickel plating as a base, Moreover, fine and uniform irregularities are provided on the surface thereof. Then, the circularly polarized light Rφ 0 specularly reflected in the vertical direction on the surface of the reference mark 1 becomes S-polarized light by the λ / 4 wavelength plate 22, is further split by the beam splitter 21, and enters the light-receiving element array 23. In this state, the optical power of each scan frame accompanying the fine movement of the optical sensor unit in the X and Y directions is monitored, and the X and Y positions of the reference mark 1 and the rotation about the X, Y and Z axes are image-analyzed. This controls the X, Y position and posture of the robot hand unit (not shown).

【0008】一方、光センサ部の高さhについては次の
方法で制御する。即ち、光センサ部が規定の高さhにあ
る場合は、基準マーク1の表面で乱反射した光のうち所
定方向の成分Rφ1 は集光レンズ24を介して図示の如
く屈折し、受光素子25に入射する。この基準マーク1
の表面の性質は均一であるので、その全面について均一
な乱反射の成分Rφ1 が得られ、よって受光素子25に
は常に略一定の光パワーが入射する。しかし、光センサ
部が規定の高さhより例えば矢印C方向にずれた場合に
は、この方向にも前記Rφ1 と同程度の光パワーの乱反
射光成分Rφ2が存在しているが、該成分Rφ2 はレン
ズ24により図示の如く屈折させられるので受光素子2
5に入射することはできない。こうして、光センサ部の
高さ(Z位置)hも一定に制御される。なお、上記した
動作は他の基準マーク2〜4及びプリントパターン部5
においても同様である。
On the other hand, the height h of the optical sensor section is controlled by the following method. That is, when the optical sensor portion is at the prescribed height h, the component Rφ 1 in the predetermined direction of the light diffusely reflected on the surface of the reference mark 1 is refracted through the condenser lens 24 as shown in the figure, and the light receiving element 25 Incident on. This reference mark 1
Since the surface properties of R are uniform, a uniform diffuse reflection component Rφ 1 is obtained over the entire surface thereof, so that substantially constant optical power is always incident on the light receiving element 25. However, when the optical sensor portion is deviated from the specified height h in the direction of arrow C, for example, there is a diffused reflected light component Rφ 2 of the same optical power as Rφ 1 also in this direction. The component Rφ 2 is refracted by the lens 24 as shown in FIG.
It cannot enter 5. In this way, the height (Z position) h of the optical sensor unit is also controlled to be constant. In addition, the above-mentioned operation is performed by the other reference marks 2 to 4 and the print pattern portion 5.
The same is true for.

【0009】かくして、高反射率の金属表面に垂直に入
射させた光スポットビームの正反射光及び乱反射光の光
パワーを所定の広さの金属表面について夫々に均一なレ
ベルで得ることの可能な簡易かつ安定で量産性に優れた
金属表面の加工方法の提供が望まれている。図10の
(B)は基準マーク1の部分拡大図であり、上記例の要
求を満足するような金属表面の粗さを十点平均あらさR
Z で言うと1μm以下である。
Thus, it is possible to obtain the optical power of specular reflection light and diffuse reflection light of a light spot beam vertically incident on a metal surface having high reflectance at a uniform level for a metal surface having a predetermined width. It is desired to provide a metal surface processing method that is simple, stable, and excellent in mass productivity. FIG. 10 (B) is a partially enlarged view of the reference mark 1. The roughness of the metal surface that satisfies the requirements of the above example has a ten-point average roughness R.
Z is 1 μm or less.

【0010】[0010]

【従来の技術】従来は、金(Au)又はパラジウム(P
d)によるメッキ処理を行う前の銅箔又は銅メッキの表
面にエッチング法により均一な凹凸を設けていた。
2. Description of the Related Art Conventionally, gold (Au) or palladium (P
Uniform unevenness was provided by an etching method on the surface of the copper foil or the copper plating before the plating treatment according to d).

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】しかし、エッチング法
によると化学処理の部分に時間がかかり、量産性に乏し
い。また、エッチング法ではプリント板の全面をエッチ
ング液に浸漬する必要があるので、これにより差点穴の
内部にまで凹凸が設けられてしまうという不都合があっ
た。
However, according to the etching method, it takes a long time for the chemical treatment, and the mass productivity is poor. Further, in the etching method, since it is necessary to immerse the entire surface of the printed board in the etching solution, there is an inconvenience that unevenness is provided even inside the difference hole.

【0012】本発明の目的は、高反射率の金属表面に垂
直に入射させた光スポットビームの正・乱反射光の光パ
ワーを所定の広さの金属表面について夫々に均一なレベ
ルで得ることの可能な、簡易かつ得られた反射特性が安
定で量産性に優れた金属表面の加工方法を提供すること
にある。
An object of the present invention is to obtain the optical power of the regular / diffuse reflected light of a light spot beam vertically incident on a metal surface having a high reflectance at a uniform level for a metal surface having a predetermined width. (EN) It is possible to provide a method of processing a metal surface that is simple, has stable reflection characteristics obtained, and is excellent in mass productivity.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】本発明(1)の加工方法
は、高反射率の金属表面に垂直に入射させた光スポット
ビームの正反射光及び乱反射光の光パワーを所定の広さ
の金属表面について夫々に均一なレベルで得るための金
属表面の加工方法において、膜厚5〜35μmのソルダ
レジストを金属表面に均一に塗布するものである。
According to the processing method of the present invention (1), the optical power of specular reflection light and irregular reflection light of a light spot beam vertically incident on a metal surface having a high reflectance is set to a predetermined range. In the metal surface processing method for obtaining a uniform level for each metal surface, a solder resist having a film thickness of 5 to 35 μm is uniformly applied to the metal surface.

【0014】本発明(2)の加工方法は、高反射率の金
属表面に垂直に入射させた光スポットビームの正反射光
及び乱反射光の光パワーを所定の広さの金属表面につい
て夫々に均一なレベルで得るための金属表面の加工方法
において、粒子径10〜200μmの砥粒子を含む固形
ゴムで金属表面を複数回研磨するものである。本発明
(3)の加工方法は、高反射率の金属表面に垂直に入射
させた光スポットビームの正反射光及び乱反射光の光パ
ワーを所定の広さの金属表面について夫々に均一なレベ
ルで得るための金属表面の加工方法において、表面の十
点平均あらさRZ が略1μmかつその断面交番形状のピ
ッチが10〜200μmのビットで金属表面をプレスす
ることにより形状転写するものである。
In the processing method of the present invention (2), the optical powers of specular reflection light and irregular reflection light of the light spot beam vertically incident on the metal surface having a high reflectance are uniform on the metal surface having a predetermined width. In the method of processing a metal surface for obtaining a high level, the metal surface is polished plural times with solid rubber containing abrasive particles having a particle diameter of 10 to 200 μm. According to the processing method of the present invention (3), the optical powers of specular reflection light and diffuse reflection light of a light spot beam vertically incident on a metal surface having a high reflectance are uniformly distributed on a metal surface having a predetermined width. In the method of processing a metal surface for obtaining, the shape is transferred by pressing the metal surface with a bit having a ten-point average roughness R Z of the surface of approximately 1 μm and a pitch of the cross-sectional alternating shape of 10 to 200 μm.

【0015】本発明(4)の加工方法は、高反射率の金
属表面に垂直に入射させた光スポットビームの正反射光
及び乱反射光の光パワーを所定の広さの金属表面につい
て夫々に均一なレベルで得るための金属表面の加工方法
において、直径100〜500μmの剛性線材を束ねた
ブラシで金属表面を研磨するものである。
In the processing method of the present invention (4), the optical powers of specular reflection light and irregular reflection light of the light spot beam vertically incident on the metal surface having a high reflectance are uniform on the metal surface having a predetermined width. In a method of processing a metal surface to obtain a high level, the metal surface is polished with a brush in which rigid wire rods having a diameter of 100 to 500 μm are bundled.

【0016】[0016]

【作用】本発明(1)の加工方法においては、膜厚5〜
35μmのソルダレジストを金属表面に均一に塗布する
ので、金属表面の保護及び絶縁劣化の防止を行える上
に、該金属表面に入射する平行光線束はソルダレジスト
内に存在するコロイド的、粒子的な構造によってその正
反射光及び乱反射光の光パワーは所定の広さの金属表面
について夫々に均一なレベルになるように散乱される。
しかも、ソルダレジストの膜厚を5〜35μmの範囲内
で適当に選べば正反射光と乱反射光の光パワー比を所望
に選択できる。
In the processing method of the present invention (1), the film thickness of 5 to
Since the 35 μm solder resist is uniformly applied to the metal surface, the metal surface can be protected and insulation deterioration can be prevented, and the parallel light flux incident on the metal surface can be colloidal or particle-like existing in the solder resist. Depending on the structure, the optical powers of the specular reflection light and the diffuse reflection light are scattered so as to have a uniform level on a metal surface having a predetermined width.
Moreover, if the thickness of the solder resist is appropriately selected within the range of 5 to 35 μm, the optical power ratio of specular reflection light and diffuse reflection light can be selected as desired.

【0017】本発明(2)の加工方法においては、粒子
径10〜200μmの砥粒子を含む固形ゴムで金属表面
を複数回研磨するので、該研磨回数が増す度に、金属表
面のスリキズ(銅箔上に施した金メッキのように金属表
面が比較的軟質の場合は金属表面のしわ)は次第に微細
化、ランダム化、均一化されることとなり、これにより
所定の広さの金属表面について夫々に均一なレベルの正
反射光及び乱反射光の光パワーが得られるようになる。
しかも、研磨回数が所定回数を越えると、正反射光Rφ
0 と乱反射光Rφi の光パワー比(Rφi /Rφ0 )は
比較的緩やかに変化するようになるので、簡易な方法に
より反射特性の安定した金属表面が得られる。
In the processing method of the present invention (2), since the metal surface is polished a plurality of times with solid rubber containing abrasive particles having a particle diameter of 10 to 200 μm, each time the polishing number is increased, scratches (copper on the metal surface) When the metal surface is relatively soft, such as gold plating applied on the foil, the wrinkles on the metal surface will gradually become finer, randomized, and uniformized. A uniform level of optical power of specular reflection light and irregular reflection light can be obtained.
Moreover, when the number of polishing times exceeds a predetermined number, the regular reflection light Rφ
Since the optical power ratio (Rφ i / Rφ 0 ) between 0 and the diffusely reflected light Rφ i changes relatively gently, a metal surface having stable reflection characteristics can be obtained by a simple method.

【0018】本発明(3)の加工方法においては、表面
の十点平均あらさRZ が略1μmかつその断面交番形状
のピッチが10〜200μmのビットで金属表面をプレ
スすることにより形状転写するので、金属表面には正反
射光Rφ0 及び特定の乱反射光の成分Rφ1 についての
光パワーのみが多く得られるような所望の断面交番形状
が得られると共に、一旦所望の断面交番形状のビットを
形成してしまえば、反射特性の安定した金属表面を容易
に量産できる。
In the processing method of the present invention (3), the shape is transferred by pressing the metal surface with a bit having a ten-point average roughness R Z of the surface of about 1 μm and a cross-sectional alternating shape pitch of 10 to 200 μm. , A desired cross-section alternating shape is obtained on the metal surface so that a large amount of optical power is obtained only for the specular reflection light Rφ 0 and the specific diffuse reflection light component Rφ 1 , and a bit having a desired cross-section alternating shape is once formed. Then, a metal surface having stable reflection characteristics can be easily mass-produced.

【0019】本発明(4)の加工方法においては、直径
100〜500μmの剛性線材を束ねたブラシ(好まし
くは幅広のロールブラシ)で金属表面を研磨するので、
該研磨工程が進むに伴って金属表面のスリキズ(又は金
属表面のしわ)は次第に微細化、ランダム化、均一化さ
れ、これにより所定の広さの金属表面について夫々に均
一なレベルの正反射光及び乱反射光の光パワーが得られ
るようになる。しかも、研磨工程が所定以上進むと、正
反射光Rφ0 と乱反射光Rφi の光パワー比(Rφi
Rφ0 )は比較的緩やかに変化するような傾向にあるの
で、簡易な方法により広いエリアで反射特性の安定した
金属表面が一挙に得られる。
In the processing method of the present invention (4), since the metal surface is polished with a brush (preferably a wide roll brush) in which rigid wire rods having a diameter of 100 to 500 μm are bundled,
As the polishing process progresses, scratches (or wrinkles on the metal surface) on the metal surface are gradually miniaturized, randomized, and made uniform, whereby a uniform level of specular reflection light is obtained for each metal surface having a predetermined size. And, the optical power of diffusely reflected light can be obtained. Moreover, when the polishing process proceeds more than a predetermined amount, the optical power ratio of the regular reflection light Rφ 0 and the irregular reflection light Rφ i (Rφ i /
Since Rφ 0 ) tends to change relatively gently, a metal surface with stable reflection characteristics can be obtained all at once by a simple method.

【0020】[0020]

【実施例】以下、添付図面に従って本発明による実施例
を詳細に説明する。なお、全図を通して同一符号は同一
又は相当部分を示すものとする。図1は実施例のソルダ
レジスト塗布法を説明する図である。図1の(A)はソ
ルダレジスト塗布法の断面図で、図において8は例えば
ガラスエポキシ樹脂のプリント基板、10 は厚さ20μ
mの接着剤、11 は厚さ35μmの銅箔、12 は光沢性
のニッケルメッキを下地として設けた厚さ略2μmの金
(Au)又はパラジウム(Pd)のメッキ、30はソル
ダレジストである。
Embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the accompanying drawings. The same reference numerals denote the same or corresponding parts throughout the drawings. FIG. 1 is a diagram for explaining the solder resist coating method of the embodiment. (A) in FIG. 1 in cross-sectional view of a solder resist coating method, printed circuit board 8, for example, a glass epoxy resin in FIG, 1 0 thickness 20μ
m adhesive, 1 1 of a thickness of 35μm copper foil, 1 2 plating gold thickness of about 2μm having a gloss nickel plating as a base (Au) or palladium (Pd), 30 is a solder resist is there.

【0021】プリント板へのソルダレジスト30の塗布
は公知のスクリーン印刷法、ドライフィルム法、液状レ
ジスト法等により行う。スクリーン印刷法による場合
は、スクリーン版を通してスキージによりソルダレジス
トインクをこすり出し、プリント板上にソルダレジスト
インクを膜厚5〜35μmの範囲内の所定膜厚(この例
では20μm)になるように塗布する。なお、1回のス
クリーン印刷で得られる膜厚の精度が得られないような
場合には、1回のスクリーン印刷で得られる膜厚を薄く
し、これを必要な回数だけ繰り返す方法でも良い。ソル
ダレジストとしてはGS−1、GSL、GSVC等の市
販品を用いた。また、加熱乾燥型インク、加熱硬化型イ
ンク、紫外線硬化型インク等のいずれを用いても良い。
The solder resist 30 is applied to the printed board by a known screen printing method, dry film method, liquid resist method or the like. In the case of the screen printing method, the solder resist ink is rubbed off with a squeegee through a screen plate, and the solder resist ink is applied on the printed board to a predetermined film thickness within the range of 5 to 35 μm (20 μm in this example). To do. If the accuracy of the film thickness obtained by one screen printing cannot be obtained, the film thickness obtained by one screen printing may be thinned and this may be repeated as many times as necessary. As the solder resist, commercially available products such as GS-1, GSL and GSVC were used. Further, any of heat-drying type ink, heat-curing type ink, ultraviolet ray-curing type ink and the like may be used.

【0022】ドライフィルム法による場合は、下層のキ
ャリアフィルム、中間層の膜厚5〜35μmのフォトレ
ジスト(感光樹脂)及び上層の保護フィルムをサンドイ
ッチ状にしたドライフィルムをその下層のキャリアフィ
ルムを剥がしつつプリント板上にラミネートし、その上
に図9の各差点穴7に対応するようなポジ又はネガの露
光用フィルムを密着させ、フォトツールにより差点穴の
パターンを紫外線露光する。しかる後、露光用フィルム
及び上層の保護フィルムを取り外し、所定の現像液で各
差点穴7の部分のフォトレジスト層を溶解除去する。こ
の方法によれば、一回の塗布工程で広い範囲のプリント
パターン上に所望の正確な膜厚が得られる。
When the dry film method is used, the lower layer carrier film, the intermediate layer photoresist (photosensitive resin) having a film thickness of 5 to 35 μm, and the upper layer protective film sandwiched are removed from the lower layer carrier film. At the same time, it is laminated on a printed board, and a positive or negative exposure film corresponding to each of the differential holes 7 in FIG. 9 is brought into close contact therewith, and the pattern of the differential holes is exposed to ultraviolet rays by a photo tool. After that, the exposure film and the upper protective film are removed, and the photoresist layer in the portion of each difference point hole 7 is dissolved and removed with a predetermined developing solution. According to this method, a desired accurate film thickness can be obtained on a wide range of print patterns in a single coating process.

【0023】液状レジスト法による場合は、感光性のソ
ルダレジストインクをプリント板の全面に膜厚5〜35
μmの範囲内の所定膜厚になるように塗布した後、その
上より差点穴用のマスクフィルムを用いて露光し、現像
により各差点穴7の部分を溶解除去する。図1の(B)
はソルダレジスト層の部分拡大図で、図示の如くソルダ
レジスト30の膜厚を5〜35μmの範囲内で選ぶと、
金メッキ層12 の表面に垂直に入射した平行光線束LB
はソルダレジスト30の内部に存在するコロイド的又は
それよりも小さな粒子的な構造によってその正反射光及
び乱反射光の光パワーは所定の広さの金属表面について
夫々に均一なレベルになるように散乱される。以下、こ
の点を実験データに基づいて説明する。
In the case of the liquid resist method, a photosensitive solder resist ink is formed on the entire surface of the printed board in a thickness of 5 to 35.
After coating so as to have a predetermined film thickness within the range of μm, exposure is performed using a mask film for a difference point hole, and the portion of each difference point hole 7 is dissolved and removed by development. Figure 1 (B)
Is a partial enlarged view of the solder resist layer, and if the thickness of the solder resist 30 is selected within the range of 5 to 35 μm as shown in the figure,
Parallel light flux LB incident perpendicularly on the surface of the gold plating layer 1 2.
Is scattered by the colloidal or smaller particle structure existing inside the solder resist 30 so that the optical power of the specular reflection light and the diffuse reflection light becomes a uniform level for a metal surface of a predetermined width. To be done. Hereinafter, this point will be described based on experimental data.

【0024】図2は実施例のソルダレジスト塗布品の正
・乱反射検出信号例を示す図で、図の横軸は図9の
(A)に示すようなプリントパターン6上に適当な間隔
でとったサンプリング位置、縦軸は正・乱反射光量の検
出電圧(V)及び受光素子25の受光パワーに基づいて
検出した基板表面からの距離(mm)である。実施例の
ソルダレジスト塗布品のプリントパターン表面を図10
に示すような光センサ部で走査した結果、図示のような
正反射光量の信号、乱反射光量の信号及び基板表面
からの距離の検出信号が得られた。このグラフ図によ
れば、プリントパターン6の表面に垂直に入射させた光
スポットビームLBの正反射光Rφ0 及び乱反射光Rφ
1 の光パワーの比は略一定であり、かつサンプリング位
置2〜4にわたっって夫々の光パワーが均一なレベルで
得られていることが分かる。その結果、光センサ部の高
さhも一定に保たれている。なお、サンプリング位置1
〜2及び4〜5の間に生じているピーク信号はプリント
パターン6の端部を走査したものである。
FIG. 2 is a diagram showing an example of regular / diffuse reflection detection signals of the solder resist-coated product of the embodiment. The horizontal axis of the diagram is taken on the print pattern 6 as shown in FIG. 9A at appropriate intervals. The sampling position, and the vertical axis represents the distance (mm) from the substrate surface detected based on the detection voltage (V) of the amount of regular and irregularly reflected light and the light receiving power of the light receiving element 25. FIG. 10 shows the print pattern surface of the solder resist-coated product of the example.
As a result of scanning with the optical sensor unit as shown in FIG. 5, the signal of the amount of specular reflection light, the signal of the amount of irregular reflection light and the detection signal of the distance from the substrate surface as shown in the figure were obtained. According to this graph, the specularly reflected light Rφ 0 and the irregularly reflected light Rφ of the light spot beam LB incident perpendicularly on the surface of the print pattern 6 are shown.
It can be seen that the ratio of the optical power of 1 is substantially constant, and the optical power of each is obtained at a uniform level over the sampling positions 2 to 4. As a result, the height h of the optical sensor unit is also kept constant. In addition, sampling position 1
The peak signals generated between .about.2 and 4 to 5 are obtained by scanning the end portion of the print pattern 6.

【0025】図3は実施例のソルダレジスト塗布品の反
射特性を説明する図である。図3の(A)は実施例のソ
ルダレジスト塗布品の反射特性を示すグラフ図で、図の
横軸はソルダレジストの膜厚(μm)、縦軸は正反射率
(%)及び正・乱反射光のS/N(dB)である。ソル
ダレジスト30のスクリーン印刷を1,2,3回目と繰
り返し、ソルダレジスト30の膜厚を順次変えてプリン
トパターン6の反射特性を検査した結果、図示のような
正反射率、正反射S/N及び乱反射S/Nの各特
性が得られた。正反射率は(正反射光Rφ0 の光パワ
ー)/(入射光LBの光パワー)をパーセントで表した
ものであり、また正・乱反射光S/Nは夫々正反射光及
び乱反射光の信号対雑音比である。
FIG. 3 is a diagram for explaining the reflection characteristics of the solder resist coated product of the embodiment. FIG. 3A is a graph showing the reflection characteristics of the solder resist-coated products of the examples. The horizontal axis of the figure is the solder resist film thickness (μm), and the vertical axis is the regular reflectance (%) and regular / random reflection. It is the S / N (dB) of light. Screen printing of the solder resist 30 was repeated for the first, second and third times, and the film thickness of the solder resist 30 was sequentially changed to inspect the reflection characteristics of the print pattern 6, and as a result, the specular reflectance and specular reflection S / N as shown in the figure were obtained. And diffuse reflection S / N characteristics were obtained. The specular reflectance is (optical power of specularly reflected light Rφ 0 ) / (optical power of incident light LB) expressed as a percentage, and specular and irregularly reflected light S / N are signals of specularly reflected light and irregularly reflected light, respectively. It is a noise-to-noise ratio.

【0026】このグラフ図によれば、ソルダレジスト3
0の膜厚が46.0μmに達すると正・乱反射光S/N
が共に0dB以下になっている。即ち、入射光LBの大
部分はソルダレジスト30に吸収されてしまう。従っ
て、ソルダレジスト30の膜厚は5〜35μmが好まし
い。なお、1回目のスクリーン印刷による膜厚のばらつ
きは、膜厚の平均が13.6μm、標準偏差σは1.4
μm、最大膜厚は15.0μm、最小膜厚は10.0μ
mであった。
According to this graph, the solder resist 3
When the film thickness of 0 reaches 46.0 μm, the regular / diffuse reflected light S / N
Are both below 0 dB. That is, most of the incident light LB is absorbed by the solder resist 30. Therefore, the thickness of the solder resist 30 is preferably 5 to 35 μm. As for the variation in the film thickness due to the first screen printing, the average film thickness was 13.6 μm, and the standard deviation σ was 1.4.
μm, maximum film thickness is 15.0 μm, minimum film thickness is 10.0 μm
It was m.

【0027】図3の(B)は実施例のソルダレジスト塗
布品の加速試験結果を示すグラフ図で、図の横軸は温湿
度サイクル数、縦軸は正反射率(%)及び正・乱反射光
のS/N(dB)である。この種の装置(プリント板)
に規定の温湿度サイクルを12サイクルまで加えてみた
が、正反射率、正反射S/N及び乱反射S/Nの
各特性は殆ど変化していない。
FIG. 3B is a graph showing the results of accelerated tests of the solder resist coated products of the examples. The horizontal axis of the figure is the number of temperature / humidity cycles, and the vertical axis is the regular reflectance (%) and regular / random reflection. It is the S / N (dB) of light. This type of device (printed board)
Although the specified temperature and humidity cycle was added up to 12 cycles, the characteristics of specular reflectance, specular reflection S / N, and diffuse reflection S / N hardly changed.

【0028】図4は実施例の砥粒子ゴムによる研磨法を
説明する図である。図4の(A)は砥粒子ゴム研磨法の
断面図で、図において40は砥粒子ゴム(所謂砂消しゴ
ム)、401 はゴム部、402 はゴム部401 にランダ
ムかつ均一に混合された粒子径10〜200μmの砥粒
子である。砥粒子ゴム40の上面より矢印C方向に一定
の押圧を加えつつ、該砥粒子ゴム40をプリント板の上
で、矢印A及び又はB方向に繰り返し習動させる。この
ように砥粒子ゴム40を一定方向(例えばプリント板の
Y軸方向)に繰り返し習動させると、ある砥粒子402
により削り出された(又はしわ寄せられた)金メッキ1
2 の表面の山は、引き続き他の砥粒子402 により僅か
にずれた位相で再度削り出される結果、このような一定
方向の習動回数を重ねるに伴い、金メッキ表面の凹凸は
次第に微細化、ランダム化、一様化されることになる。
FIG. 4 is a view for explaining the polishing method using the abrasive particle rubber of the embodiment. FIG. 4A is a sectional view of the abrasive particle rubber polishing method. In the figure, 40 is an abrasive particle rubber (so-called sand eraser), 40 1 is a rubber portion, and 40 2 is a rubber portion 40 1 mixed randomly and uniformly. The abrasive particles have a particle diameter of 10 to 200 μm. The abrasive particle rubber 40 is repeatedly moved in the arrow A and / or B direction on the printed board while applying a constant pressure from the upper surface of the abrasive particle rubber 40 in the arrow C direction. As described above, when the abrasive particle rubber 40 is repeatedly driven in a certain direction (for example, the Y-axis direction of the printed board), a certain abrasive particle 40 2
Gold plating that has been carved (or wrinkled) by
Mountain second surface continues other abrasive particles 40 2 results carved again slightly out of phase by, with the overlapping習動number of such predetermined direction, unevenness of the gold-plated surface gradually finer, It will be randomized and uniform.

【0029】図4の(B)は金メッキ表面の部分拡大図
で、砥粒子ゴム40の習動方向に直角な方向(プリント
板のX軸方向)には十点平均あらさRZ が1μm以下の
面が得られている。これにより、金メッキ層12 の表面
に垂直に入射した平行光線束LBは金メッキ表面の微細
でランダムな凹凸面によりその正反射光Rφ0 及び乱反
射光Rφ1 ,Rφi の光パワーは所定の広さの金属表面
について夫々に均一なレベルになるように散乱される。
なお、粒子径が10μmと小さい場合は得られた凹凸は
比較的険しく山の平均ピッチPも小さい。また粒子径が
200μmと大きい場合でも習動回数を増せば山の平均
ピッチPは小さくなり、その凹凸は比較的滑らかであ
る。入射ビームLBのスポット形(100〜200μ
m)等に応じて適当な粒子径を選択する。
FIG. 4B is a partially enlarged view of the gold-plated surface. The ten-point average roughness R Z is 1 μm or less in the direction perpendicular to the moving direction of the abrasive rubber 40 (X-axis direction of the printed board). The face has been obtained. Thus, a gold plating layer 1 parallel light beam incident normal to the second surface LB its regularly reflected light R [phi] 0 and the diffuse reflection R [phi] 1 by random uneven surface at the gold-plated surface topography, the optical power of the R [phi] i is a predetermined wide The metal surface is scattered to a uniform level.
When the particle size is as small as 10 μm, the resulting irregularities are relatively steep and the average pitch P of the mountains is small. Further, even when the particle diameter is as large as 200 μm, the average pitch P of the peaks becomes smaller as the number of movements is increased, and the irregularities are relatively smooth. Spot shape of incident beam LB (100 to 200 μ
m) and the like to select an appropriate particle size.

【0030】図5は実施例の砥粒子ゴム研磨品の反射特
性を示す図で、図の横軸は研磨回数、縦軸は正反射率
(%)及び正・乱反射光のS/N(dB)である。上記
のような研磨の回数を1〜100回目と繰り返し、その
反射特性を検査した結果、図示のような正反射率、正
反射S/N及び乱反射S/Nの各特性が得られた。
FIG. 5 is a diagram showing the reflection characteristics of the abrasive particle rubber polishing product of the embodiment. The horizontal axis of the figure shows the number of polishing, the vertical axis shows the regular reflectance (%) and the S / N (dB of regular / diffuse reflected light). ). As a result of repeating the above-described polishing for 1 to 100 times and inspecting the reflection characteristics, the specular reflectance, specular reflection S / N and irregular reflection S / N characteristics shown in the figure were obtained.

【0031】このグラフ図によれば、研磨回数が5回目
を越えたあたりから正反射S/N及び乱反射S/N
の値が安定してくることが分かる。従って、研磨回数は
例えば20回と大まかに決めることができ、これによっ
ても安定な反射特性の量産品が得られる。図6は実施例
のコイニングによる形状転写法を説明する図である。
According to this graph, the specular reflection S / N and the irregular reflection S / N are observed after the number of polishing times exceeds the fifth.
It can be seen that the value of becomes stable. Therefore, the number of times of polishing can be roughly determined to be 20, for example, and a mass-produced product having stable reflection characteristics can be obtained also by this. FIG. 6 is a diagram for explaining the shape transfer method by coining of the embodiment.

【0032】図6の(A)はコイニング法の断面図で、
図において50は表面の十点平均あらさRZ が1μm程
度でかつその断面交番形状のピッチPが10〜200μ
mの間で選択されたビットである。ビット50の底面の
断面交番形状は例えば三角形、台形又は正弦波形状で良
い。これらの形状は機械研磨法、エッチング法等により
形成する。そして、ビット50の上面より矢印C方向に
全面に均一かつ一定の押圧を加え、ビット50の底面の
断面交番形状を金メッキ層11 の表面に均一圧で転写す
る。
FIG. 6A is a sectional view of the coining method.
In the figure, reference numeral 50 indicates that the ten-point average roughness R Z of the surface is about 1 μm and the pitch P of the cross-sectional alternating shape is 10 to 200 μ.
It is the bit selected between m. The cross-sectional alternating shape of the bottom surface of the bit 50 may be, for example, triangular, trapezoidal or sinusoidal. These shapes are formed by a mechanical polishing method, an etching method, or the like. Then, it added a uniform and constant pressing on the entire surface in the direction of arrow C from the upper surface of the bit 50 is transferred in a uniform pressure sectional alternating shape of the bottom surface of the bit 50 to gold-plated layer 1 1 of the surface.

【0033】図6の(B)は金メッキ表面の部分拡大図
で、プリント板のX軸の方向に十点平均あらさRZ が1
μm程度の凹凸面が得られている。ここで、ビット50
の断面交番形状を例えば正反射光Rφ0 と所定の乱反射
光Rφ1 の光パワーのみが夫々多く得られるような形状
に選んでおけば、金メッキ層12 の表面に垂直に入射し
た平行光線束LBの光パワーはその殆どが正反射光Rφ
0 と乱反射光Rφ1 の光パワーに分岐されることとな
る。そして、このようなビット50の底面積を広くして
おけば、全プリントパターン上に形状転写を一挙に行え
る。
FIG. 6B is a partially enlarged view of the gold-plated surface, and the ten-point average roughness R Z is 1 in the direction of the X axis of the printed board.
An uneven surface of about μm is obtained. Where bit 50
If choose sectional alternating shape for example in a shape such that only the optical power of the positive reflected light R [phi] 0 and a predetermined irregularly reflected light R [phi] 1 is obtained many respective parallel light beam incident perpendicularly to the gold-plated layer 1 2 of surface Most of the optical power of LB is specularly reflected light Rφ.
0 and the optical power of the diffusely reflected light Rφ 1 are branched. If the bottom area of the bit 50 is wide, the shapes can be transferred onto all the print patterns at once.

【0034】図7は実施例のコイニング品の反射特性を
示す図で、図の横軸は断面交番形状のピッチ、縦軸は正
反射率(%)及び正・乱反射光のS/N(dB)であ
る。試験的にビット50の断面交番形状を三角形として
そのピッチを50μmとした場合と150μmとした場
合の反射特性を調べてみた。このグラフ図によると、正
反射率と正反射S/Nの特性は十分に得られていない
が、乱反射S/Nについてはかなりの値が得られてい
る。断面交番形状を台形又は正弦波形状にすれば正反射
光Rφ0 の成分が増すから、これにより正反射率及び正
反射S/Nの特性が改善されると考えられる。
FIG. 7 is a diagram showing the reflection characteristic of the coined product of the embodiment. The horizontal axis of the figure is the pitch of the cross-section alternating shape, the vertical axis is the regular reflectance (%) and the S / N (dB) of the regular / diffuse reflected light. ). As a test, the reflection characteristics were examined when the cross-sectional alternating shape of the bit 50 was a triangle and the pitch was 50 μm and 150 μm. According to this graph, the characteristics of the regular reflectance and the regular reflection S / N are not sufficiently obtained, but a considerable value is obtained for the irregular reflection S / N. If the cross-sectional alternating shape is trapezoidal or sinusoidal, the component of the specular reflection light Rφ 0 is increased, and this is considered to improve the characteristics of specular reflectance and specular reflection S / N.

【0035】実際上は、光センサ部の光検出構造に適し
たプリントパターン上の断面交番形状及びピッチが必ず
存在しており、特にピッチPについてはこの例では10
〜200μmの範囲内に存在しており、これらのマッチ
ングが得られれば正反射S/N及び乱反射光S/Nを共
に高くすることができる。図8は実施例のブラシ研磨法
を説明する図である。
In practice, there is always an alternating cross-sectional shape and pitch on the print pattern suitable for the photodetection structure of the photosensor section, and in particular, the pitch P is 10 in this example.
.About.200 .mu.m, the regular reflection S / N and diffuse reflection light S / N can both be increased if the matching is obtained. FIG. 8 is a diagram for explaining the brush polishing method of the embodiment.

【0036】図8の(A)はブラシ研磨法の断面図で、
図において602 は長さ30mmかつその直径を100
〜500μmの範囲で選んだ剛性のブラシ線材(例えば
カーボランダム#800)、601 は前記多数のブラシ
線材602 をX軸方向の幅550mmにわたって直径6
0mmの円周上に密に束ね支持・固定しているパイプ、
60はパイプ601 とブラシ線材602 とからなるロー
ルブラシである。
FIG. 8A is a sectional view of the brush polishing method.
In the figure, 60 2 has a length of 30 mm and a diameter of 100 2.
A rigid brush wire (for example, carborundum # 800) selected in the range of ˜500 μm, 60 1 is a large number of brush wires 60 2 having a diameter 6 across a width of 550 mm in the X-axis direction.
Pipes that are tightly bundled and supported / fixed on a circumference of 0 mm,
A roll brush 60 is composed of a pipe 60 1 and a brush wire 60 2 .

【0037】プリント板上で、パイプ601 に対し矢印
C方向に一定の押圧を加えつつ、右回転又は左回転して
いるロールブラシ60を矢印A及び又はB方向に1回又
は2回以上移動させる。こうすると、ある剛性線材60
2 により削り出された(又はしわ寄せられた)金メッキ
層11 の表面の山は、引き続き他の剛性線材602 によ
り僅かにずれた位相で再度削り出される結果、ロールブ
ラシ60の回転・移動に伴い、金メッキ表面の凹凸は次
第に微細化、ランダム化、一様化される。なお、ブラシ
線材602 の直径はカーボランダムの長さ、剛性、曲げ
性等を考慮して100〜500μmの範囲で選んだ。
On the printed board, the roll brush 60 rotating clockwise or counterclockwise is moved once or twice or more in the arrow A and / or B directions while applying a constant pressure to the pipe 60 1 in the arrow C direction. Let By doing this, a certain rigid wire rod 60
Was carved by 2 (or toll was) of the gold plating layer 1 1 surface mountain continued results carved again slightly out of phase by other rigid wires 60 2, the rotation and movement of the roll brush 60 Accordingly, the irregularities on the gold plating surface are gradually made finer, randomized, and uniformed. The diameter of the brush wire 60 2 was selected in the range of 100 to 500 μm in consideration of the carborundum length, rigidity, bendability and the like.

【0038】図8の(B)は金メッキ表面の部分拡大図
で、プリント板のX軸方向には十点平均あらさRZ が1
μm程度の凹凸面が得られている。実施例のブラシ研磨
品の反射特性については図5の砥粒子ゴム研磨品と同傾
向の反射特性が得られたことは言うまでもない。但し、
ブラシ研磨の場合はロールブラシ60が回転しているの
で、砥粒子ゴム研磨の場合よりも短い作業時間で反射特
性の安定した研磨品が得られた。
FIG. 8B is an enlarged view of a portion of the gold-plated surface. The ten-point average roughness R Z is 1 in the X-axis direction of the printed board.
An uneven surface of about μm is obtained. Regarding the reflection characteristics of the brush-polished products of the examples, it goes without saying that the reflection characteristics similar to those of the abrasive-particle rubber-polished products of FIG. 5 were obtained. However,
In the case of brush polishing, since the roll brush 60 is rotating, a polishing product having stable reflection characteristics can be obtained in a shorter working time than in the case of polishing abrasive rubber particles.

【0039】なお、上記各実施例ではプリントパターン
の表面加工方法について述べたが、本発明は他の一般の
金属表面より上記のような正・乱反射光を夫々所定の割
合で得る場合の加工方法にも適用できる。
In each of the above embodiments, the printed pattern surface processing method has been described. However, the present invention is a processing method for obtaining the above-described regular / diffuse reflected light from other general metal surfaces at a predetermined ratio. Can also be applied to.

【0040】[0040]

【発明の効果】以上述べた如く本発明は上記構成である
ので、高反射率の金属表面に垂直に入射させた光スポッ
トビームの正・乱反射光の光パワーを所定の広さの金属
表面について夫々に均一なレベルで得ることの可能な、
簡易かつ得られた反射特性が安定で量産性に優れた金属
表面の加工方法を提供できる。
As described above, the present invention has the above-described structure. Therefore, the optical power of the regular / diffuse reflected light of the light spot beam vertically incident on the metal surface having a high reflectance can be obtained for a metal surface having a predetermined width. It is possible to obtain a uniform level for each
It is possible to provide a method for processing a metal surface which is simple and has stable reflection characteristics and is excellent in mass productivity.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】図1は実施例のソルダレジスト塗布法を説明す
る図である。
FIG. 1 is a diagram illustrating a solder resist coating method according to an embodiment.

【図2】図2は実施例のソルダレジスト塗布品の正・乱
反射検出信号例を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing an example of regular / diffuse reflection detection signals of a solder resist-coated product according to an embodiment.

【図3】図3は実施例のソルダレジスト塗布品の反射特
性を説明する図である。
FIG. 3 is a diagram for explaining the reflection characteristics of the solder resist-coated product of the example.

【図4】図4は実施例の砥粒子ゴムによる研磨法を説明
する図である。
FIG. 4 is a diagram illustrating a polishing method using abrasive particle rubber according to an embodiment.

【図5】図5は実施例の砥粒子ゴム研磨品の反射特性を
示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing a reflection characteristic of an abrasive particle rubber-polished product of an example.

【図6】図6は実施例のコイニングによる形状転写法を
説明する図である。
FIG. 6 is a diagram illustrating a shape transfer method by coining according to an embodiment.

【図7】図7は実施例のコイニング品の反射特性を示す
図である。
FIG. 7 is a diagram showing the reflection characteristics of the coined product of the example.

【図8】図8は実施例のブラシ研磨法を説明する図であ
る。
FIG. 8 is a diagram illustrating a brush polishing method according to an embodiment.

【図9】図9は一例のマトリクスボード部を説明する図
である。
FIG. 9 is a diagram illustrating an example of a matrix board unit.

【図10】図10は一例の光センサ部を説明する図であ
る。
FIG. 10 is a diagram illustrating an example of an optical sensor unit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

8 プリント基板 11 銅箔 12 金メッキ層 30 ソルダレジスト 40 砥粒子ゴム 50 ビット 60 ロールブラシ8 Printed circuit board 1 1 Copper foil 1 2 Gold plating layer 30 Solder resist 40 Abrasive particle rubber 50 bit 60 Roll brush

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 高反射率の金属表面に垂直に入射させた
光スポットビームの正反射光及び乱反射光の光パワーを
所定の広さの金属表面について夫々に均一なレベルで得
るための金属表面の加工方法において、 膜厚5〜35μmのソルダレジストを金属表面に均一に
塗布することを特徴とする金属表面の加工方法。
1. A metal surface for obtaining the optical power of specular reflection light and diffuse reflection light of a light spot beam vertically incident on a high-reflectance metal surface at a uniform level for each metal surface having a predetermined width. In the processing method of, the metal surface is uniformly coated with a solder resist having a film thickness of 5 to 35 μm.
【請求項2】 高反射率の金属表面に垂直に入射させた
光スポットビームの正反射光及び乱反射光の光パワーを
所定の広さの金属表面について夫々に均一なレベルで得
るための金属表面の加工方法において、 粒子径10〜200μmの砥粒子を含む固形ゴムで金属
表面を複数回研磨することを特徴とする金属表面の加工
方法。
2. A metal surface for obtaining the optical power of specular reflection light and diffuse reflection light of a light spot beam vertically incident on a high-reflectance metal surface at a uniform level for each metal surface having a predetermined width. In the processing method of 1., the metal surface is polished a plurality of times with solid rubber containing abrasive particles having a particle diameter of 10 to 200 μm.
【請求項3】 高反射率の金属表面に垂直に入射させた
光スポットビームの正反射光及び乱反射光の光パワーを
所定の広さの金属表面について夫々に均一なレベルで得
るための金属表面の加工方法において、 表面の十点平均あらさ(RZ )が略1μmかつその断面
交番形状のピッチが10〜200μmのビットで金属表
面をプレスすることにより形状転写することを特徴とす
る金属表面の加工方法。
3. A metal surface for obtaining the optical power of specular reflection light and diffuse reflection light of a light spot beam vertically incident on a metal surface having high reflectance at a uniform level for each metal surface having a predetermined width. In the processing method, the ten-point average roughness (R Z ) of the surface is approximately 1 μm, and the shape of the metal surface is transferred by pressing the metal surface with a bit having a cross-sectional alternating shape pitch of 10 to 200 μm. Processing method.
【請求項4】 高反射率の金属表面に垂直に入射させた
光スポットビームの正反射光及び乱反射光の光パワーを
所定の広さの金属表面について夫々に均一なレベルで得
るための金属表面の加工方法において、 直径100〜500μmの剛性線材を束ねたブラシで金
属表面を研磨することを特徴とする金属表面の加工方
法。
4. A metal surface for obtaining the optical power of specular reflection light and diffuse reflection light of a light spot beam vertically incident on a metal surface having high reflectance at a uniform level for a metal surface having a predetermined width. The method for processing a metal surface, wherein the metal surface is polished by a brush in which rigid wires having a diameter of 100 to 500 μm are bundled.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2417139A (en) * 2004-08-13 2006-02-15 Siemens Aktiengesellschaft Printed circuit board
CN102335700A (en) * 2010-07-16 2012-02-01 欧朋达科技(深圳)有限公司 Metal forming method and process equipment
JP2020069506A (en) * 2018-10-31 2020-05-07 東洋製罐グループホールディングス株式会社 Fixture for plastic working of metal

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