JPH06260555A - 半導体集積回路 - Google Patents

半導体集積回路

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Publication number
JPH06260555A
JPH06260555A JP4161693A JP4161693A JPH06260555A JP H06260555 A JPH06260555 A JP H06260555A JP 4161693 A JP4161693 A JP 4161693A JP 4161693 A JP4161693 A JP 4161693A JP H06260555 A JPH06260555 A JP H06260555A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
clock
wiring
integrated circuit
driver
local
Prior art date
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Pending
Application number
JP4161693A
Other languages
English (en)
Inventor
Naotsuyo Watanabe
直剛 渡辺
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH06260555A publication Critical patent/JPH06260555A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】クロック・ドライバを有する半導体論理集積回
路においてクロックスキューを低減させること。 【構成】半導体論理集積回路に於いて各ローカル・クロ
ックドライバより供給されるフリップ・フロップのクロ
ック・ゲート数を均等に配置する事によりクロックスキ
ューが低減される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体集積回路に関し、
特に高速に同期して動作するクロック・ドライバを有す
る半導体論理集積回路に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のゲートアレーまたはスタンダード
セル方式LSIなどの半導体論理集積回路においてクロ
ックドライバは、CICC’89講演番号16.4に記
載されている図3の論理ICチップ7の平面模式図に示
すように、外部からクロックCLKをマスタ・クロック
ドライバ1で受けて一本のクロック配線3にクロックを
通すと共に、クロック配線3の両側に配置された各セル
列6のローカル・クロックドライバ5はクロック配線3
からクロックを受け取り、出力信号をセル列内のフリッ
プ・フロップ(以下F/Fと略す)2の入力端に入力し
ていた。ここで、クロック・ドライバ1からF/F2ま
でのスキューを小さくするために、クロック配線3とし
て通常の信号線よりも太い配線を用いたり、ローカル・
クロックドライバ5の出力端を短絡させる等の工夫を行
っているが、各ローカル・クロックドライバ5毎に駆動
するF/FのFan−In容量が異なっていた。
【0003】また、一方ではCICC’89講演番号1
5.4に記載されているように、図4の論理ICチップ
7は、マスタ・クロックドライバ1から、クロック配線
3を介して4個のローカル・バッファ群5a〜5dに接
続し、そこからF/F2の各入力端子に接続していた。
しかしながら各ローカル・クロックドライバ5の負荷と
なるF/Fの数はそれぞれ異なっていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】以上のような従来の半
導体論理集積回路では、各ローカル・クロックドライバ
5が供給するF/F2のクロックゲート数が均等でなか
ったため、クロックスキューの最大が制限できないとい
う問題があった。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体論理集積
回路は、各ローカル・クロックドライバ5が供給するF
/F2のクロックゲート数を均等に配置することを特徴
とする。
【0006】F/Fを均等に配置する方法として、チッ
プ内の総F/F数をカウントして各ローカル・クロック
ドライバが供給するF/Fの数を総F/F数を総クロッ
クドライバ数で割った値とする。割り切れなかった場合
は、ダミーのF/Fを新たに加える。
【0007】
【実施例】次に本発明の実施例を図面を参照して説明す
る。図1は本発明の一実施例の半導体集積回路(IC)
チップ7の平面模式図である。本実施例のICチップ7
はマスタ・クロックドライバ1に接続したクロック配線
(第1のクロック配線)3が一本中央を通り、その両側
に複数のセル列6が線対称に配置されている。各セル列
6はローカル・クロックドライバ5とF/F2を備え、
第2のクロック配線を介してローカル・クロックドライ
バ5に接続されるF/F2のクロックゲート数を各セル
列に均等に配置している。I/Oはクロック配線とセル
列を取り囲んで配置されている。なお、図中4はデータ
配線である。
【0008】例えばチップサイズを10mm×10m
m、F/Fの数を10000個、セル列の数をクロック
配線の左右にそれぞれ100本配置したとすると各ロー
カル・クロックドライバ5の供給するF/F2のクロッ
クゲート数は均等化により50となる。F/F2のFa
n In容量を0.1pF、1mm当たりの配線容量を
0.1pF、1mm当たりの配線抵抗を100Ω、とす
ると各ローカル・クロックドライバ5より一番離れたF
/F2のクロックゲートまでのスキューは、配線抵抗5
00Ω、F/Fの総Fan In容量5pF、配線容量
0.5pFより2.75nsとなり、他のF/Fまでの
クロックスキューは、それ以下となるのでクロックスキ
ューの最大が制限できる。
【0009】F/Fの均等化によって起こる問題点とし
て同一セル内にF/Fの数が制限されるためF/F間の
データ配線4が長くなる可能性が出てくる。しかし、配
線が最大長20mmの場合を考えても配線遅延は2ns
となり最大クロックスキューと足しあわせても4.75
nsとなる。一方、従来のように均等化をしなかった場
合、一セルにF/F2の数が倍の100個になったと仮
定すると、その時のクロックスキューは、5.25ns
となりデータ配線長が長くなった場合よりもさらにクロ
ックスキューは大きくなる可能性がある。
【0010】図2は、本発明の実施例2のICチップの
平面模式図である。本実施例では、実施例1と同様にク
ロック配線3が一本中央を通り、ローカル・クロックド
ライバ5より供給されるF/F2のクロック・ゲート数
を均等に配置されている。実施例1と異なる点は各ロー
カル・クロックドライバ5が二本のセル列6にクロック
信号を供給しているところである。このことにより各ロ
ーカル・クロックドライバ5より供給されるF/F2の
数を日本のセル6上で均等に配置すればよいことにな
り、F/F2の配置に自由度が増すことになる。
【0011】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は各ローカ
ル・クロックドライバより供給されるF/Fのクロック
ゲートの数を均等化することによりクロックスキューの
最大が制限できるとともにクロックスキューの低減が可
能となる効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例1の半導体論理集積回路のチッ
プ平面模式図である。
【図2】本発明の実施例2の半導体論理集積回路のチッ
プ平面模式図である。
【図3】従来の半導体論理集積回路の回路図である。
【図4】従来の半導体論理集積回路の他の例の回路図で
ある。
【符号の説明】
1 マスタ・クロックドライバ 2 フリップ・フロップ 3 クロック配線 4 データ配線 5 ローカル・クロックドライバ 6 セル列 7 論理ICチップ CLK クロック

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 高さが同じで互いに幅が異なる論理セル
    を横方向に複数配置した論理セル列を縦方向に多段に配
    置し、該論理セル間を配線することでレイアウトブロッ
    クを構成し、第1のクロック配線を該レイアウトブロッ
    クの上から下へ垂直に貫通して配置し、第2のクロック
    配線を該論理セル列と並行して複数配置し、且つ、全て
    の該第2クロック配線を該第1のクロック配線と接続
    し、該第2のクロック配線を該論理セルのクロック入力
    端子に接続したスタンダードセル方式レイアウトの半導
    体集積回路において、該第2のクロック配線に接続され
    る論理セルの個数を、全ての該第2クロック配線におい
    て同一にしたことを特徴とする半導体集積回路。
JP4161693A 1993-03-03 1993-03-03 半導体集積回路 Pending JPH06260555A (ja)

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JPH06260555A true JPH06260555A (ja) 1994-09-16

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ID=12613277

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1309045C (zh) * 2003-11-04 2007-04-04 松下电器产业株式会社 半导体集成电路及其设计方法
US7612599B2 (en) 2007-09-21 2009-11-03 Hitachi, Ltd. Semiconductor device

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Effective date: 20000111