JPH06260555A - 半導体集積回路 - Google Patents
半導体集積回路Info
- Publication number
- JPH06260555A JPH06260555A JP4161693A JP4161693A JPH06260555A JP H06260555 A JPH06260555 A JP H06260555A JP 4161693 A JP4161693 A JP 4161693A JP 4161693 A JP4161693 A JP 4161693A JP H06260555 A JPH06260555 A JP H06260555A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- clock
- wiring
- integrated circuit
- driver
- local
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Abstract
(57)【要約】
【目的】クロック・ドライバを有する半導体論理集積回
路においてクロックスキューを低減させること。 【構成】半導体論理集積回路に於いて各ローカル・クロ
ックドライバより供給されるフリップ・フロップのクロ
ック・ゲート数を均等に配置する事によりクロックスキ
ューが低減される。
路においてクロックスキューを低減させること。 【構成】半導体論理集積回路に於いて各ローカル・クロ
ックドライバより供給されるフリップ・フロップのクロ
ック・ゲート数を均等に配置する事によりクロックスキ
ューが低減される。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体集積回路に関し、
特に高速に同期して動作するクロック・ドライバを有す
る半導体論理集積回路に関する。
特に高速に同期して動作するクロック・ドライバを有す
る半導体論理集積回路に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のゲートアレーまたはスタンダード
セル方式LSIなどの半導体論理集積回路においてクロ
ックドライバは、CICC’89講演番号16.4に記
載されている図3の論理ICチップ7の平面模式図に示
すように、外部からクロックCLKをマスタ・クロック
ドライバ1で受けて一本のクロック配線3にクロックを
通すと共に、クロック配線3の両側に配置された各セル
列6のローカル・クロックドライバ5はクロック配線3
からクロックを受け取り、出力信号をセル列内のフリッ
プ・フロップ(以下F/Fと略す)2の入力端に入力し
ていた。ここで、クロック・ドライバ1からF/F2ま
でのスキューを小さくするために、クロック配線3とし
て通常の信号線よりも太い配線を用いたり、ローカル・
クロックドライバ5の出力端を短絡させる等の工夫を行
っているが、各ローカル・クロックドライバ5毎に駆動
するF/FのFan−In容量が異なっていた。
セル方式LSIなどの半導体論理集積回路においてクロ
ックドライバは、CICC’89講演番号16.4に記
載されている図3の論理ICチップ7の平面模式図に示
すように、外部からクロックCLKをマスタ・クロック
ドライバ1で受けて一本のクロック配線3にクロックを
通すと共に、クロック配線3の両側に配置された各セル
列6のローカル・クロックドライバ5はクロック配線3
からクロックを受け取り、出力信号をセル列内のフリッ
プ・フロップ(以下F/Fと略す)2の入力端に入力し
ていた。ここで、クロック・ドライバ1からF/F2ま
でのスキューを小さくするために、クロック配線3とし
て通常の信号線よりも太い配線を用いたり、ローカル・
クロックドライバ5の出力端を短絡させる等の工夫を行
っているが、各ローカル・クロックドライバ5毎に駆動
するF/FのFan−In容量が異なっていた。
【0003】また、一方ではCICC’89講演番号1
5.4に記載されているように、図4の論理ICチップ
7は、マスタ・クロックドライバ1から、クロック配線
3を介して4個のローカル・バッファ群5a〜5dに接
続し、そこからF/F2の各入力端子に接続していた。
しかしながら各ローカル・クロックドライバ5の負荷と
なるF/Fの数はそれぞれ異なっていた。
5.4に記載されているように、図4の論理ICチップ
7は、マスタ・クロックドライバ1から、クロック配線
3を介して4個のローカル・バッファ群5a〜5dに接
続し、そこからF/F2の各入力端子に接続していた。
しかしながら各ローカル・クロックドライバ5の負荷と
なるF/Fの数はそれぞれ異なっていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】以上のような従来の半
導体論理集積回路では、各ローカル・クロックドライバ
5が供給するF/F2のクロックゲート数が均等でなか
ったため、クロックスキューの最大が制限できないとい
う問題があった。
導体論理集積回路では、各ローカル・クロックドライバ
5が供給するF/F2のクロックゲート数が均等でなか
ったため、クロックスキューの最大が制限できないとい
う問題があった。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体論理集積
回路は、各ローカル・クロックドライバ5が供給するF
/F2のクロックゲート数を均等に配置することを特徴
とする。
回路は、各ローカル・クロックドライバ5が供給するF
/F2のクロックゲート数を均等に配置することを特徴
とする。
【0006】F/Fを均等に配置する方法として、チッ
プ内の総F/F数をカウントして各ローカル・クロック
ドライバが供給するF/Fの数を総F/F数を総クロッ
クドライバ数で割った値とする。割り切れなかった場合
は、ダミーのF/Fを新たに加える。
プ内の総F/F数をカウントして各ローカル・クロック
ドライバが供給するF/Fの数を総F/F数を総クロッ
クドライバ数で割った値とする。割り切れなかった場合
は、ダミーのF/Fを新たに加える。
【0007】
【実施例】次に本発明の実施例を図面を参照して説明す
る。図1は本発明の一実施例の半導体集積回路(IC)
チップ7の平面模式図である。本実施例のICチップ7
はマスタ・クロックドライバ1に接続したクロック配線
(第1のクロック配線)3が一本中央を通り、その両側
に複数のセル列6が線対称に配置されている。各セル列
6はローカル・クロックドライバ5とF/F2を備え、
第2のクロック配線を介してローカル・クロックドライ
バ5に接続されるF/F2のクロックゲート数を各セル
列に均等に配置している。I/Oはクロック配線とセル
列を取り囲んで配置されている。なお、図中4はデータ
配線である。
る。図1は本発明の一実施例の半導体集積回路(IC)
チップ7の平面模式図である。本実施例のICチップ7
はマスタ・クロックドライバ1に接続したクロック配線
(第1のクロック配線)3が一本中央を通り、その両側
に複数のセル列6が線対称に配置されている。各セル列
6はローカル・クロックドライバ5とF/F2を備え、
第2のクロック配線を介してローカル・クロックドライ
バ5に接続されるF/F2のクロックゲート数を各セル
列に均等に配置している。I/Oはクロック配線とセル
列を取り囲んで配置されている。なお、図中4はデータ
配線である。
【0008】例えばチップサイズを10mm×10m
m、F/Fの数を10000個、セル列の数をクロック
配線の左右にそれぞれ100本配置したとすると各ロー
カル・クロックドライバ5の供給するF/F2のクロッ
クゲート数は均等化により50となる。F/F2のFa
n In容量を0.1pF、1mm当たりの配線容量を
0.1pF、1mm当たりの配線抵抗を100Ω、とす
ると各ローカル・クロックドライバ5より一番離れたF
/F2のクロックゲートまでのスキューは、配線抵抗5
00Ω、F/Fの総Fan In容量5pF、配線容量
0.5pFより2.75nsとなり、他のF/Fまでの
クロックスキューは、それ以下となるのでクロックスキ
ューの最大が制限できる。
m、F/Fの数を10000個、セル列の数をクロック
配線の左右にそれぞれ100本配置したとすると各ロー
カル・クロックドライバ5の供給するF/F2のクロッ
クゲート数は均等化により50となる。F/F2のFa
n In容量を0.1pF、1mm当たりの配線容量を
0.1pF、1mm当たりの配線抵抗を100Ω、とす
ると各ローカル・クロックドライバ5より一番離れたF
/F2のクロックゲートまでのスキューは、配線抵抗5
00Ω、F/Fの総Fan In容量5pF、配線容量
0.5pFより2.75nsとなり、他のF/Fまでの
クロックスキューは、それ以下となるのでクロックスキ
ューの最大が制限できる。
【0009】F/Fの均等化によって起こる問題点とし
て同一セル内にF/Fの数が制限されるためF/F間の
データ配線4が長くなる可能性が出てくる。しかし、配
線が最大長20mmの場合を考えても配線遅延は2ns
となり最大クロックスキューと足しあわせても4.75
nsとなる。一方、従来のように均等化をしなかった場
合、一セルにF/F2の数が倍の100個になったと仮
定すると、その時のクロックスキューは、5.25ns
となりデータ配線長が長くなった場合よりもさらにクロ
ックスキューは大きくなる可能性がある。
て同一セル内にF/Fの数が制限されるためF/F間の
データ配線4が長くなる可能性が出てくる。しかし、配
線が最大長20mmの場合を考えても配線遅延は2ns
となり最大クロックスキューと足しあわせても4.75
nsとなる。一方、従来のように均等化をしなかった場
合、一セルにF/F2の数が倍の100個になったと仮
定すると、その時のクロックスキューは、5.25ns
となりデータ配線長が長くなった場合よりもさらにクロ
ックスキューは大きくなる可能性がある。
【0010】図2は、本発明の実施例2のICチップの
平面模式図である。本実施例では、実施例1と同様にク
ロック配線3が一本中央を通り、ローカル・クロックド
ライバ5より供給されるF/F2のクロック・ゲート数
を均等に配置されている。実施例1と異なる点は各ロー
カル・クロックドライバ5が二本のセル列6にクロック
信号を供給しているところである。このことにより各ロ
ーカル・クロックドライバ5より供給されるF/F2の
数を日本のセル6上で均等に配置すればよいことにな
り、F/F2の配置に自由度が増すことになる。
平面模式図である。本実施例では、実施例1と同様にク
ロック配線3が一本中央を通り、ローカル・クロックド
ライバ5より供給されるF/F2のクロック・ゲート数
を均等に配置されている。実施例1と異なる点は各ロー
カル・クロックドライバ5が二本のセル列6にクロック
信号を供給しているところである。このことにより各ロ
ーカル・クロックドライバ5より供給されるF/F2の
数を日本のセル6上で均等に配置すればよいことにな
り、F/F2の配置に自由度が増すことになる。
【0011】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は各ローカ
ル・クロックドライバより供給されるF/Fのクロック
ゲートの数を均等化することによりクロックスキューの
最大が制限できるとともにクロックスキューの低減が可
能となる効果を有する。
ル・クロックドライバより供給されるF/Fのクロック
ゲートの数を均等化することによりクロックスキューの
最大が制限できるとともにクロックスキューの低減が可
能となる効果を有する。
【図1】本発明の実施例1の半導体論理集積回路のチッ
プ平面模式図である。
プ平面模式図である。
【図2】本発明の実施例2の半導体論理集積回路のチッ
プ平面模式図である。
プ平面模式図である。
【図3】従来の半導体論理集積回路の回路図である。
【図4】従来の半導体論理集積回路の他の例の回路図で
ある。
ある。
1 マスタ・クロックドライバ 2 フリップ・フロップ 3 クロック配線 4 データ配線 5 ローカル・クロックドライバ 6 セル列 7 論理ICチップ CLK クロック
Claims (1)
- 【請求項1】 高さが同じで互いに幅が異なる論理セル
を横方向に複数配置した論理セル列を縦方向に多段に配
置し、該論理セル間を配線することでレイアウトブロッ
クを構成し、第1のクロック配線を該レイアウトブロッ
クの上から下へ垂直に貫通して配置し、第2のクロック
配線を該論理セル列と並行して複数配置し、且つ、全て
の該第2クロック配線を該第1のクロック配線と接続
し、該第2のクロック配線を該論理セルのクロック入力
端子に接続したスタンダードセル方式レイアウトの半導
体集積回路において、該第2のクロック配線に接続され
る論理セルの個数を、全ての該第2クロック配線におい
て同一にしたことを特徴とする半導体集積回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4161693A JPH06260555A (ja) | 1993-03-03 | 1993-03-03 | 半導体集積回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4161693A JPH06260555A (ja) | 1993-03-03 | 1993-03-03 | 半導体集積回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06260555A true JPH06260555A (ja) | 1994-09-16 |
Family
ID=12613277
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4161693A Pending JPH06260555A (ja) | 1993-03-03 | 1993-03-03 | 半導体集積回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06260555A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1309045C (zh) * | 2003-11-04 | 2007-04-04 | 松下电器产业株式会社 | 半导体集成电路及其设计方法 |
US7612599B2 (en) | 2007-09-21 | 2009-11-03 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor device |
-
1993
- 1993-03-03 JP JP4161693A patent/JPH06260555A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1309045C (zh) * | 2003-11-04 | 2007-04-04 | 松下电器产业株式会社 | 半导体集成电路及其设计方法 |
US7334210B2 (en) | 2003-11-04 | 2008-02-19 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Semiconductor integrated circuit and method of designing the same |
US7612599B2 (en) | 2007-09-21 | 2009-11-03 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor device |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20000111 |