JPH06203484A - Device and method for inspecting disk - Google Patents

Device and method for inspecting disk

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JPH06203484A
JPH06203484A JP36011992A JP36011992A JPH06203484A JP H06203484 A JPH06203484 A JP H06203484A JP 36011992 A JP36011992 A JP 36011992A JP 36011992 A JP36011992 A JP 36011992A JP H06203484 A JPH06203484 A JP H06203484A
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JP
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Patent type
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error
signal
disk
circuit
reference voltage
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Withdrawn
Application number
JP36011992A
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Japanese (ja)
Inventor
Yasuyuki Ishihama
靖之 石濱
Original Assignee
Sony Corp
ソニー株式会社
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Abstract

PURPOSE: To attain the error detection with high precision on a widespread error ratio.
CONSTITUTION: An error signal with the error ratio A% is sent to a comparator 1 from a variable level error generation circuit 4, and a first reference voltage (a) capable of detecting an error is set by a threshold value voltage variable circuit 6. Then, a second reference voltage (b) corresponding to the error ratio B% is set by b=a×(B/A), and the error ratio B'% error detected is obtained. When the error detection with the error ratio X%, is performed on a regenerative signal 3, the reference voltage is set to a value calculated by a-((a-b)/(A-B'))×(A-X).
COPYRIGHT: (C)1994,JPO&Japio

Description

【発明の詳細な説明】 DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】 [0001]

【産業上の利用分野】本発明は、磁気ディスク等の如き情報信号の記録媒体となるディスクの特性等を検査するためのディスク検査装置及びディスク検査方法に関する。 The present invention relates to a disk inspection apparatus and a disk inspection method for inspecting the characteristics of the disk or the like as a recording medium, such as information signals such as a magnetic disk.

【0002】 [0002]

【従来の技術】従来、いわゆるフレキシブルディスク等の磁気ディスクの如き、情報信号の記録媒体となるディスクが提案されており、また、このようなディスクの特性等を検査するためのディスク検査装置及びディスク検査方法が提案されている。 Conventionally, such a magnetic disk such as a so-called flexible disk, a disk as a recording medium of information signals has been proposed, also, such a disk disk inspection apparatus and a disk for inspecting the characteristics of inspection methods have been proposed.

【0003】上記ディスクの特性を検査するにあたっては、該ディスク上の情報信号を全て消去(DCイレース)した後の、図1に示すような、突発的パルス成分(エクストラパルス:以下「EP」と称する)の有無を検出することが行われる。 [0003] When examining the characteristics of the disc, after erasing all information signals on the disc (DC erase), such as shown in FIG. 1, sudden pulse component (Extra pulses: hereinafter "EP" it is carried out to detect the presence or absence of designated).

【0004】また、上記ディスクの特性を検査するにあたっては、該ディスク上に一定周波数の正弦波信号(2 Further, when examining the characteristics of the disk, a constant frequency sine wave signal on the disc (2
f信号)を書込み、この信号を読出したときの、図2に示すような、ドロップアウト成分(ミッシングパルス: f signal) writing, when read out of this signal, as shown in FIG. 2, the drop-out component (missing pulse:
以下「MP」と称する)の有無を検出することが行われる。 It is possible to detect the presence or absence of the following referred to as "MP") is performed.

【0005】上記「EP」を検出するにあたっては、図3に示すように、上記ディスクより読み出した信号を、 [0005] When detecting the "EP", as shown in FIG. 3, a signal read from the disc,
ディスク検査装置となる比較器(コンパレータ)1に入力し、適宜設定された基準電圧Vr(v)と比較することにより、該比較器1の出力信号における矩形波パルスの有無を判断する。 Input to a comparator 1 which is a disk inspection apparatus, by comparing the appropriate set reference voltage Vr (v), it is determined whether the square wave pulse in the output signal of the comparator 1. すなわち、上記基準電圧Vrは、上記EPを検出するための閾値電圧となっている。 That is, the reference voltage Vr has a threshold voltage for detecting the EP.

【0006】また、上記「MP」を検出するにあたっては、図4に示すように、上記ディスクより読み出した信号を上記比較器1に入力し、適宜設定された基準電圧V Further, in order to detect the "MP", as shown in FIG. 4, a signal read from the disc and input to the comparator 1, appropriately set reference voltage V
r(v)と比較することにより、該比較器1の出力信号における周期的な矩形波パルスの欠落の有無を判断する。 By comparison with r (v), to determine whether the lack of periodic square-wave pulses in the output signal of the comparator 1. すなわち、上記基準電圧Vrは、上記MPを検出するための閾値電圧となっている。 That is, the reference voltage Vr has a threshold voltage for detecting the MP.

【0007】なお、「EP」については、上記ディスクにおける記録信号の基準レベルを±S(v)とし、この「EP」の波高レベルをp(v)としたとき、p/S [0007] Note that "EP" is a reference level of the recording signal in said disc and ± S (v), when the height level of the "EP" was p (v), p / S
(%)をエラー比率という。 (Percent) that the error ratio. また、「MP」については、上記ディスクにおける記録信号の基準レベルを±S Further, the "MP" is, ± the standard level of the recording signal in said disc S
(v)とし、この「MP」の波高レベルをp(v)としたとき、p/S(%)をエラー比率という。 (V) and then, the height level of the "MP" when the p (v), p / S (%) referred to the error rate.

【0008】そして、上記基準電圧Vrを定めるには、 [0008] and, to define the above-mentioned reference voltage Vr,
先ず、既知のエラー比率A%を有する「EP」または「MP」の第1のエラー信号を上記比較器1に入力し、 First, a first error signal of "EP" or "MP" with known error ratio A% was inputted to the comparator 1,
このエラー信号についてエラー検出を行える第1の基準電圧aを設定する。 This error signal to set the first reference voltage a which can perform error detection. 次に、X%のエラー比率を有するエラー信号についてエラー検出を行う場合には、上記基準電圧を、Y=a(X/A)により算出されるY(v)に設定する。 Then, when performing error detection on the error signals having a X% error ratio, the reference voltage is set to Y (v) calculated by Y = a (X / A).

【0009】このようなディスク検査装置は、例えば、 [0009] Such a disk inspection apparatus, for example,
図16に示すように、ディスクドライブ装置を含む検査ユニット105と、この検査ユニット105よりの信号がケーブル104を介して送られるシステムラック部1 As shown in FIG. 16, the inspection unit 105 including a disk drive apparatus, the system rack portion 1 to which a signal from the inspection unit 105 is sent via a cable 104
01とを有して構成される。 01 and configured to have a. このディスク検査装置においては、上記検査ユニット105において上記ディスクより読出された再生信号は、上記ケーブル104を介して、上記システムラック部101の計測制御基板103 In this disk inspection apparatus read reproduction signal from the disc in the inspection unit 105 via the cable 104, the measurement control board 103 of the system rack 101
に送られる。 It is sent to. この計測制御基板103には、上記検査ユニット105を制御するとともに上記再生信号についての信号処理を行うための上記比較器1を含む計測制御回路が構成されている。 The measurement control board 103, the measurement control circuit including the comparator 1 for performing signal processing for the reproduced signal to control the inspection unit 105 is configured. また、上記システムラック部10 Further, the system rack portion 10
1には、上記計測制御基板103と専用パス106により接続されたシステムコントローラ(シスコン)基板1 The 1, connected system controller by the measurement control board 103 and the dedicated path 106 (Sys Con) substrate 1
02が設けられている。 02 is provided. このシステムコントローラ基板102には、上記計測制御基板103の動作を制御するCPU(信号処理ユニット)等が設けられている。 The system controller board 102, CPU (signal processing unit) or the like is provided for controlling the operation of the measurement control board 103.

【0010】 [0010]

【発明が解決しようとする課題】ところで、上述のような比較器1からなるディスク検査装置を用い、上述のようにして基準電圧を定めるディスク検査方法においては、上記エラー比率と上記基準電圧とがリニアな関係で変化する場合には、正確なエラー検出が行えるが、上記比較器1を含む回路にオフセットが存在する場合には、 [SUMMARY OF THE INVENTION Incidentally, using a disk inspection apparatus comprising a comparator 1 as described above, in the disk inspection method of determining the reference voltage as described above, and the above-mentioned error rate and the reference voltage If the changes in linear relation is performed accurate error detection, when there is an offset in the circuit including the comparator 1,
正確なエラー検出が行えない。 Not be accurate error detection.

【0011】すなわち、上記第1のエラー信号のエラー比率であるA%の近傍のエラー比率のエラー信号については、略々正確なエラー検出が行えるものの、エラー比率がA%より離れるにつれて、正確なエラー検出が行えなくなる。 [0011] That is, the error signal error rate in the vicinity of A% which is the error rate of the first error signal, although can be performed substantially exact error detection, as the error rate is separated from the A%, the precise error detection can not be performed. したがって、このディスク検査装置及びディスク検査方法においては、エラー検出の結果を信頼することができるエラー比率の範囲、すなわち、検査精度の有効範囲が狭い。 Thus, in this disk inspection apparatus and a disk inspection method, the range of error rate which can trust the results of error detection, i.e., a narrow scope of inspection accuracy.

【0012】また、上述のように検査ユニット105とシステムラック部101とを有して構成されたディスク検査装置においては、該検査ユニット105と該システムラック部101とがアナログ信号を送るケーブル10 Further, in the disk inspection apparatus is configured to have an inspection unit 105 and the system rack portion 101 as described above, the cable 10 and the inspection unit 105 and the system rack portion 101 sends an analog signal
4により接続されているため、検査の信頼性が低下する虞れがある。 Because they are connected by 4, there is a possibility that the reliability of the inspection is reduced. すなわち、このディスク検査装置においては、上記ケーブル104における外来ノイズによる再生信号のS/N比の低下や、該ケーブル104を介して行われる制御速度の低下等が生ずる虞れがある。 That, in this disk inspection apparatus, decrease in S / N ratio of the reproduction signal due to external noise in the cable 104, there is a possibility that reduction of the control velocity is performed via the cable 104 occurs.

【0013】そして、このディスク検査装置は、上記システムラック部101を有して構成されているため、システム形態の変更が困難であり、また、小型化が困難である。 [0013] Then, the disk inspection apparatus, since it is configured to have the system rack section 101, it is difficult to change the system configuration, also, downsizing is difficult.

【0014】そこで、本発明は、上述の実情に鑑みて提案されるものであって、広い範囲のエラー比率について高精度のエラー検出が行えるディスク検査装置及びディスク検査方法を提供することを目的とする。 [0014] The present invention, which is proposed in view of the circumstances described above, and aims to provide a wide range disk inspection apparatus and a disk inspection method can be performed highly accurate error detected for error rate of to.

【0015】また、本発明は、システム形態の変更や小型化が容易化されながら、検査結果の信頼性の向上及び制御の高速化が実現できるディスク検査装置を提供することを目的とする。 Further, the present invention is, while being easier to change and miniaturization of the system configuration, and an object thereof is to provide a disk inspection apparatus can be realized faster improvement and control of the reliability of the test result.

【0016】 [0016]

【課題を解決するための手段】上述の課題を解決し上記目的を達成するため、本発明に係るディスク検査装置は、被検査ディスクよりの情報信号の読出しを行うディスクドライブ部と、このディスクドライブ部を制御するとともにこのディスクドライブ部より送られる情報信号を処理する計測制御回路部と、この計測制御回路部と外部機器との間の双方向通信を行うインターフェイスユニットとを備えてなるものである。 [SUMMARY OF] To achieve the solution to the object the problems described above, the disk inspection apparatus according to the present invention, a disk drive unit for reading the information signal from the inspection disk, the disk drive a measurement control circuit unit for processing the information signal sent from the disc drive unit controls the parts is made and a interface unit for two-way communication between the measurement control circuit unit and the external device .

【0017】また、本発明に係るディスク検査方法は、 [0017] In addition, disk inspection method according to the present invention,
所定のエラー比率のエラー信号を発生する可変レベルエラー発生回路と、被検査ディスクより情報信号を読出して読出信号を送出するディスクドライブ部と、上記エラー信号と上記読出信号とがスイッチを介して選択的に送られる比較器と、上記スイッチにより選択されたエラー信号または読出信号のレベル判定を行うための基準電圧を上記比較器に対して供給する閾値電圧可変回路とを備えてなるものである。 A variable level error generation circuit, a disk drive unit for sending a read signal of information signal is read from the inspection disk, the error signal and the read signal via the switch selection for generating an error signal of a predetermined error rate a comparator sent to, being directed comprising a reference voltage for performing level determination of the error signal or read signal selected by the switch and a threshold voltage variable circuit for supplying to said comparator.

【0018】そして、本発明に係るディスク検査方法は、上記ディスク検査装置を用い、上記可変レベルエラー発生回路により既知のエラー比率A%を有する第1のエラー信号を発生させて上記比較器に送り、この比較器の出力信号が上記第1のエラー信号についてエラー検出をした信号となるように上記閾値電圧可変回路により第1の基準電圧aを設定し、次に、上記閾値電圧可変回路によりエラー比率B%の第2のエラー信号についてエラー検出するための基準電圧として第2の基準電圧bを、 [0018] The disk inspection method according to the present invention, using the disk inspection apparatus, the variable level error generation circuit to generate a first error signal with a known error ratio A% by by sending to the comparator the error output signal of the comparator to set the first reference voltage a by the threshold voltage variable circuit so that the signal obtained by the error detection on the first error signal, then, by the threshold voltage variable circuit as a reference voltage for detecting the error for the ratio B% of the second error signal and the second reference voltage b,
b=a・(B/A)が成立するように設定し、このときエラー検出されるエラー信号のエラー比率B´%を求め、上記比較器にディスクドライブ部より読出信号を送り、エラー比率X%についてエラー検出を行うときには、上記閾値電圧可変回路により上記基準電圧を、Y= b = a · Set the (B / A) is satisfied, the time seek error rate B'% error signal detected error, sends a read signal from the disk drive unit to the comparator, the error ratio X percent, said reference voltage by the threshold voltage variable circuit when performing error detection on, Y =
a−{(a−b)/(A−B´)}・(A−X)により算出されるYに設定してなるものである。 a - is {(a-b) / (A-B')} · (A-X) made by setting the Y calculated by.

【0019】 [0019]

【作用】本発明に係るディスク検査装置においては、被検査ディスクよりの情報信号の読出しを行うディスクドライブ部を制御するとともにこのディスクドライブ部より送られる情報信号を処理する計測制御回路部は、インターフェイスユニットを介して、外部機器との間で双方向通信を行うことができる。 In the disk inspection apparatus according to the present invention, the measurement control circuit unit for processing the information signal sent from the disc drive unit controls the disk drive section for reading the information signal from the inspected disk interface through the unit, it is possible to perform two-way communication with an external device.

【0020】また、本発明に係るディスク検査装置は、 Further, the disk inspection apparatus according to the present invention,
所定のエラー比率のエラー信号を発生する可変レベルエラー発生回路と、被検査ディスクより情報信号を読出して読出信号を送出するディスクドライブ部と、上記エラー信号と上記読出信号とがスイッチを介して選択的に送られる比較器と、上記スイッチにより選択されたエラー信号または読出信号のレベル判定を行うための基準電圧を上記比較器に対して供給する閾値電圧可変回路とを備えているので、基準電圧をエラー比率に応じて調整することができる。 A variable level error generation circuit, a disk drive unit for sending a read signal of information signal is read from the inspection disk, the error signal and the read signal via the switch selection for generating an error signal of a predetermined error rate a comparator sent to specific, since the reference voltage for performing level determination of the error signal or read signal selected by the switch and a threshold voltage variable circuit for supplying to said comparator, the reference voltage the can be adjusted according to the error rate.

【0021】そして、本発明に係るディスク検査方法においては、上記可変レベルエラー発生回路により既知のエラー比率A%を有する第1のエラー信号を発生させて上記比較器に送り、この比較器の出力信号が上記第1のエラー信号についてエラー検出をした信号となるように上記閾値電圧可変回路により第1の基準電圧aを設定し、次に、上記閾値電圧可変回路によりエラー比率B% [0021] Then, in the disk inspection method according to the present invention, the variable level error generation circuit by to generate a first error signal with a known error ratio A% in the feed to the comparator, the output of the comparator signal sets the first reference voltage a by the threshold voltage variable circuit so that the signal obtained by the error detection on the first error signal, then the error rate B% ​​by the threshold voltage variable circuit
の第2のエラー信号についてエラー検出するための基準電圧として第2の基準電圧bを、b=a・(B/A)が成立するように設定し、このときエラー検出されるエラー信号のエラー比率B´%を求め、上記比較器にディスクドライブ部より読出信号を送り、エラー比率X%についてエラー検出を行うときには、上記閾値電圧可変回路により上記基準電圧を、Y=a−{(a−b)/(A− The about 2 error signal and the second reference voltage b as a reference voltage for detecting errors, b = a · Set the (B / A) is satisfied, the error of the time error signal detected errors find the ratio B'%, sends a read signal from the disk drive unit to the comparator, when performing error detection on the error ratio X% is the reference voltage by the threshold voltage variable circuit, Y = a - {(a- b) / (A-
B´)}・(A−X)により算出されるYに設定するので、広い範囲のエラー比率について、高精度のエラー検出を行うことができる。 Since set to Y, which is calculated by the B')} · (A-X), the error ratio of a wide range, it is possible to perform error detection with high accuracy.

【0022】 [0022]

【実施例】以下、本発明の具体的な実施例を図面を参照しながら説明する。 BRIEF DESCRIPTION while specific embodiments of the present invention with reference to the drawings. 本発明に係るディスク検査装置は、 The disk inspection apparatus according to the present invention,
図5に示すように、比較器(コンパレータ)1を有して構成される。 As shown in FIG. 5, and a comparator (comparator) 1. この比較器1には、再生信号の発生源、すなわち、被検査ディスクに記録された情報信号の読出しを行うディスクドライブ部3より送出される読出信号と、可変レベルエラー発生路4より送出されるエラー信号とが、スイッチ5を介して、選択的に送られる。 The comparator 1, the source of reproduction signal, i.e., a read signal transmitted from the disc drive unit 3 for reading the information signal recorded on the inspection disk, sent from the variable-level error path 4 error signal and, via the switch 5, sent to the selective.

【0023】上記ディスクは、いわゆるフレキシブルディスク等の磁気ディスクの如き情報信号の記録媒体となるディスクである。 [0023] The disc is a disc as a recording medium, such as information signals of a magnetic disk such as a so-called flexible disc. 上記可変レベルエラー発生回路4 The variable level error generation circuit 4
は、図1に示すような「EP」(エクストラパルス)であるエラー信号、または、図2に示すような「MP」 , Such as shown in FIG. 1 "EP" error signals are (extra pulse), or as shown in FIG. 2, "MP"
(ミッシングパルス)であるエラー信号を生成して出力する回路である。 A circuit for generating the error signal is (missing pulses) output. この可変レベルエラー発生回路4は、 The variable level error generating circuit 4,
発生するエラー信号のエラー比率を、所定の既知のエラー比率とすることができる。 The error rate of the error signal generated may be a predetermined, known error rate.

【0024】上記比較器1には、上記読出信号または上記エラー信号のレベル判別を行うための比較の基準となる基準電圧が供給される。 [0024] the comparator 1, the reference voltage as a reference for comparison for performing level judgment of the read signal or the error signal is supplied. この基準電圧は、閾値電圧可変回路により供給される。 This reference voltage is supplied by a threshold voltage variable circuit. この閾値電圧可変回路は、数値設定スイッチ10と、この数値設定スイッチ10に設定された数値を読み込むための入力ポート9と、この入力ポート9を介して数値の入力を行うCPU(信号処理ユニット)8と、このCPU8に制御されるD/A変換器7と、このD/A変換器7の出力電圧を可変するバリオーム6とを有して構成されている。 The threshold voltage variable circuit includes a numeric setting switch 10, CPU performing an input port 9 to read value set to this value setting switch 10, the numerical input via the input port 9 (signal processing unit) 8, a D / a converter 7 to be controlled in this CPU 8, is configured to have a Bariomu 6 for varying the output voltage of the D / a converter 7. 上記比較器1には、上記D/A変換器7より出力された電圧が、上記バリオーム6を介して、基準電圧として供給される。 The aforementioned comparator 1, a voltage output from the D / A converter 7, through the Bariomu 6 is supplied as a reference voltage.

【0025】そして、上記比較器1の出力信号は、認識回路2に送られる。 [0025] Then, the output signal of the comparator 1 is sent to the recognition circuit 2. この認識回路2は、上記比較器1の出力信号において、上記エラー信号が「EP」であるときには、図3に示すうよな、矩形波パルスの有無を判別し、上記エラー信号が「MP」であるときには、図4に示すうよな、矩形波パルスの欠損の有無を判別する。 The recognition circuit 2, the output signal of the comparator 1, when the error signal is "EP" is Do Let's 3, to determine the presence or absence of the square wave pulses, the error signal is "MP" the case is, Do Let's 4, to determine the presence or absence of defects of the rectangular wave pulse.

【0026】このディスク検査装置においては、上記数値設定スイッチ10における数値設定と、上記バリオーム6の調整とにより、上記基準電圧を適宜設定することができる。 [0026] In this disk inspection apparatus, and the numerical set in the numeric value setting switch 10, by the adjustment of the Bariomu 6, it is possible to set the reference voltage appropriately.

【0027】そして、本発明に係るディスク検査方法は、上述のように構成された本発明に係るディスク検査装置を用いて行う。 [0027] The disk inspection method according to the present invention is carried out using a disk inspection apparatus according to the present invention configured as described above. すなわち、このディスク検査方法においては、先ず、上記スイッチ5を上記可変レベルエラー発生回路4側に切り換え、この可変レベルエラー発生回路4により既知のエラー比率A%を有する第1のエラー信号を発生させ、この第1のエラー信号を上記比較器1に送る。 That is, in this disk inspection method, first, the switch 5 is switched to the variable level error generation circuit 4 side, to generate a first error signal with a known error ratio A% This variable level error generation circuit 4 and it sends the first error signal to the comparator 1.

【0028】そして、上記バリオーム6を調整して、上記比較器1の出力信号において上記第1のエラー信号についてエラー検出がなされるように、第1の基準電圧a [0028] Then, by adjusting the Bariomu 6, so that the error detection is made as to the first error signal in the output signal of the comparator 1, a first reference voltage a
(v)を設定する。 Setting the (v).

【0029】次に、上記D/A変換器7より出力される基準電圧を、エラー比率B%の第2のエラー信号についてエラー検出するための基準電圧として、第2の基準電圧b(v)に設定する。 Next, the reference voltage output from the D / A converter 7, as a reference voltage for detecting errors the error ratio B% of the second error signal, a second reference voltage b (v) It is set to. この第2の基準電圧b(v) The second reference voltage b (v)
は、 b=a・(B/A) ・・・・・・・・・・・・(式1) が成立するように設定する。 Is, b = a · (B / A) ············ (Equation 1) is set to satisfy.

【0030】そして、上記第2の基準電圧b(v)が設定されているときに実際にエラー検出されるエラー信号のエラー比率B´%を求める。 [0030] Then, a error rate B'% of error signal actually detected error when said second reference voltage b (v) is set. このB´%を、上記数値設定スイッチ10に数値設定する。 The B'%, numerically set in the numeric value setting switch 10.

【0031】この状態において、上記スイッチ5を、上記ディスクドライブ部3側に切り換える。 [0031] In this state, the switch 5 is switched to the disc drive unit 3 side. すると、上記比較器1には、上記ディスクドライブ部3より上記読出信号が送られる。 Then, the above-mentioned comparator 1, the read signal is sent from the disc drive unit 3. そして、上記CPU8は、任意のエラー比率X%についてエラー検出を行うときには、上記入力ポート9を介して上記数値設定スイッチ10に設定された数値を読み込むとともに、上記D/A変換器7を制御することにより、上記基準電圧を、 Y=a−{(a−b)/(A−B´)}・(A−X)・・・・・・・・・・・・(式2) により算出されるYに設定する。 Then, the CPU8, when performing error detection for any error ratio X%, as well as reads the value set on the numeric value setting switch 10 through the input port 9, and controls the D / A converter 7 by the above reference voltage, Y = a - calculated according to {(a-b) / (a-B')} · (a-X) ············ (equation 2) is the set to Y. なお、上記CPU8には、上記第1のエラー信号のエラー比率A%、任意のエラー比率X%、上記第1及び第2の基準電圧a(v), Incidentally, the above CPU8, said error ratio A% of the first error signal, any error ratio X%, the first and second reference voltage a (v),
b(v)が、上記式2に基づく制御を行うに先立って入力されている。 b (v) has been input prior to performing the control based on the above equation 2.

【0032】このようにして基準電圧が設定されると、 [0032] When the reference voltage this way is set,
このディスク検査装置を構成する回路にオフセットが存在している場合においても、このオフセットが補正されるため、広い範囲のエラー比率について高精度のエラー検出を行うことができる。 In this case the offset circuit constituting the disk inspection device is also present, because this offset is corrected, it is possible to perform a highly accurate error detection on the error rate over a wide range.

【0033】そして、上述のディスク検査装置は、図8 [0033] Then, the above disk tester, FIG. 8
乃至図12に示すように、一体的に構成することができる。 Or as shown in FIG. 12 can be configured integrally.

【0034】すなわち、このディスク検査装置は、図8 [0034] That is, the disk inspection apparatus, FIG. 8
に示すように、シャーシ21を有し、このシャーシ21 As shown in, it has a chassis 21, the chassis 21
上に、前面パネル22、電源コントロール基板23、デジタル基板24、アナログ基板25及びディスクドライブ部12を有して構成されている。 Above, the front panel 22, power supply control board 23, the digital board 24 is configured to have an analog board 25 and a disk drive unit 12. 上記電源コントロール基板23、デジタル基板24及びアナログ基板25 The power supply control board 23, the digital board 24 and the analog circuit board 25
は、上記シャーシ21上に配設された基板ラック26に支持されている。 Is supported by the substrate racks 26 disposed on the chassis 21.

【0035】上記ディスクドライブ部12は、図9に示すように、ヘッド27、ヘッドシークモータ29、00 [0035] The disk drive unit 12, as shown in FIG. 9, the head 27, the head seek motor 29,00
センサ30、ディスク種別検出スイッチ31及びスピンドル回転数切り換えポート32等を有して構成されている。 Sensor 30 is configured to have a disk type detection switch 31 and the spindle speed switching port 32 or the like. 上記ヘッド27は、ヘッドハーネス28を介して、 The head 27 via the head harness 28,
上記アナログ基板25に接続されている。 It is connected to the analog board 25. 上記ヘッドシークモータ29は、ステッパーハーネス35を介して、 The head seek motor 29, via a stepper harness 35,
バックプレーン37に接続されている。 It is connected to the backplane 37. 上記00センサ30は、上記ヘッドが基準位置(00位置)にあることを検出するセンサであって、00センサハーネス34を介して、上記バックプレーン37に接続されている。 The 00 sensor 30 is a sensor for detecting that the head is in the reference position (00 position), through the 00 sensor harness 34 is connected to the backplane 37. 上記ディスク種別検出スイッチ31及びスピンドル回転数切り換えポート32は、補助I/Oハーネス33を介して、上記バックプレーン37に接続されている。 The disk type detection switch 31 and the spindle speed switching port 32 via the auxiliary I / O harness 33 is connected to the backplane 37. また、 Also,
このディスクドライブ部12は、ディスクドライブI/ The disk drive unit 12, the disk drive I /
F(インターフェイス)ハーネス36を介して、上記バックプレーン37に接続されている。 Via the F (interface) harness 36 is connected to the backplane 37.

【0036】上記バックプレーン37には、上記アナログ基板25及び上記デジタル基板24が接続されている。 [0036] the backplane 37, the analog board 25 and the digital board 24 is connected. このアナログ基板25には、メンテコネクタ44が接続されている。 This analog board 25, maintenance connector 44 is connected. 上記デジタル基板24には、GP−I The aforementioned digital substrate 24, GP-I
B(ジェネラルパーボーズインターフェイスバス:ge B (General par Bose interface bus: ge
neral purpose interface b neral purpose interface b
us))コネクタ43が接続されている。 us)) connector 43 is connected. また、上記バックプレーン37には、電源2次ハーネス38を介して、上記電源コントロール基板23が接続されている。 Further, the backplane 37 via the power supply secondary harness 38, the power supply control board 23 are connected.
この電源コントロール基板23には、電源1次ハーネス40を介して電源コネクタ41が接続され、電源スイッチハーネス39を介して電源スイッチ42が接続されている。 The power supply control board 23, power connector 41 is connected via a power primary harness 40, the power switch 42 is connected through the power switch harness 39. 上記電源コネクタ41及び上記電源スイッチ42 The power connector 41 and the power switch 42
は、上記前面パネル22に取付けられている。 It is attached to the front panel 22.

【0037】上記アナログ基板25は、図10に示すように、上記比較器1を含んで構成され上記バックプレーン37に接続された一対の測定回路49,51を有しているこのアナログ基板25において、上記各測定回路4 [0037] The analog circuit board 25, as shown in FIG. 10, in the analog board 25 having a pair of measuring circuits 49 and 51 that are configured and connected to the backplane 37 includes the comparator 1 , each measuring circuit 4
9,51には、一対のアナログスイッチ48,52、一対の再生アンプ47,53及び一対のR/W(リード/ The 9,51, a pair of analog switches 48, 52, a pair of reproducing amplifiers 47, 53 and a pair of R / W (read /
ライト)アンプ46,54が順次対応して接続されている。 Light) amplifier 46, 54 are connected sequentially correspond. 一方のR/W(リード/ライト)アンプ46は、ディスクの第1面(サイド0)用のヘッド27に接続されている。 One R / W (read / write) amplifier 46 is connected to the head 27 for the first surface of the disc (the side 0). すなわち、一方の測定回路49は、上記ディスクの第1面について検査を行うための回路である。 That is, one measuring circuit 49 is a circuit for performing an inspection for the first side of the disc. また、他方のR/W(リード/ライト)アンプ54は、ディスクの第2面(サイド1)用のヘッド27に接続されている。 The other R / W (read / write) amplifier 54 is connected to the head 27 for the second face of the disk (Side 1). すなわち、他方の測定回路51は、上記ディスクの第2面について検査を行うための回路である。 That is, the other measuring circuit 51 is a circuit for performing a test for the second side of the disc. また、このアナログ基板25には、上記バックプレーン3 Moreover, this analog board 25, the backplane 3
7に接続されたエンベロープ回路50が設けられている。 Connected envelope circuit 50 is provided to 7.

【0038】上記デジタル基板24は、図11に示すように、それぞれ上記バックプレーン37に接続された、 [0038] The digital board 24, as shown in FIG. 11, are respectively connected to the backplane 37,
サイド0用認識回路55、サイド1用認識回路56、上記基準電圧発生用のD/A変換器57、A/D変換器5 Side 0 for recognition circuit 55, the side 1 for recognition circuit 56, D / A converter 57 for the reference voltage generator, A / D converter 5
8、消費電流測定回路59、ヘッドシークモータ駆動回路60を有している。 8, consumption current measuring circuit 59 has a head seek motor driving circuit 60. これら各回路は、I/O61に接続されている。 Each of these circuits are connected to the I / O61. また、このI/O61は、上記バックプレーン37に接続されている。 Further, the I / O61 is connected to the backplane 37. そして、このI/O61 Then, the I / O61
は、CPU(Z80)65に接続されている。 It is connected to a CPU (Z80) 65. このCP This CP
U65には、CTC62、ROM(リードオンリーメモリ)63、RAM(ランダムアクセスメモリ)64及びGP−IBコントローラ67が接続されている。 The U65, CTC62, ROM (read only memory) 63, RAM (random access memory) 64 and GP-IB controller 67 is connected. このG The G
P−IBコントローラ67は、上記GP−IBコネクタ(インターフェイスコネクタ)43に接続されている。 P-IB controller 67 is connected to the GP-IB connector (interface connector) 43.

【0039】そして、上記電源コントロール基板23 [0039] Then, the power supply control board 23
は、図12に示すように、上記電源2次ハーネス38に接続されたサージ除去回路68及び直流制限回路69を有している。 As shown in FIG. 12, a surge removing circuit 68 and the DC limiting circuit 69 which is connected to the power supply secondary harness 38. 上記サージ除去回路68は、GP−IBアドレスラインを介して、上記電源コネクタ41に接続されている。 The surge removal circuit 68 through the GP-IB address lines are connected to the power connector 41. 上記直流制限回路69は、電源ラインを介して、上記電源コネクタ41に接続されている。 The DC limiting circuit 69 via the power line, it is connected to the power connector 41. また、上記直流制限回路69には、電源オン/オフ回路70が接続されている。 Further, the DC limiting circuit 69, power on / off circuit 70 is connected. この電源オン/オフ回路70は、上記電源スイッチ42に接続されている。 The power on / off circuit 70 is connected to the power switch 42.

【0040】上述のように構成されたディスク検査装置11は、図6に示すように、上記ディスクドライブ部1 The disk inspection apparatus 11 configured as described above, as shown in FIG. 6, the disc drive unit 1
2に接続された計測回路13及びCPU回路14と、このCPU回路14に接続されたGP−IBインターフェイス回路15とを有して構成されていることになる。 A measuring circuit 13 and the CPU circuit 14 is connected to the 2, it will have been configured and a GP-IB interface circuit 15 connected to the CPU circuit 14. したがって、このディスク検査装置においては、上記CP Therefore, in the disk inspection apparatus, the CP
U回路14は、上記GP−IBインターフェイス回路1 U circuit 14, the GP-IB interface circuit 1
5及びGP−IBケーブル17を介して、外部機器と双方向通信を行うことができる。 Through 5 and GP-IB cables 17, it can be performed with external devices bidirectional communication. なお、このディスク検査装置においては、上記CPU回路14には、汎用入出力回路16が接続されている。 Note that in this disk inspection apparatus, the CPU circuit 14, a general purpose input-output circuit 16 is connected. また、このディスク検査装置には、電源ケーブル18が接続されている。 Further, this disk inspection apparatus, the power cable 18 is connected.

【0041】このディスク検査装置11のCPU回路1 [0041] CPU circuit 1 of this disk inspection apparatus 11
4は上記インターフェイス回路を介して外部機器と双方向通信を行えるため、図7に示すように、このディスク検査装置11を複数台用いてディスク検査システムを構成する場合には、これらディスク検査装置11の各CP Since 4 that allows an external device two-way communication via the interface circuit, as shown in FIG. 7, when configuring the disk inspection system using a plurality of the disk inspection device 11, such disk tester 11 each CP of
U回路14は、一のシステムコントローラ19に対して、一本のGP−IBケーブル17を介して、いわゆるディジーチェーン状に接続されることができる。 U circuit 14 for one of the system controller 19, via a single GP-IB cables 17 can be connected to a so-called daisy chain form. これら各ディスク検査装置11は、上記システムコントローラ19により、各々独立的に制御されることができる。 Each of these disk inspection device 11, by the system controller 19, it can be independently controlled. また、上記各ディスク検査装置11には、一の電源装置2 Further, the respective disk inspection apparatus 11, one power supply 2
0より、並列的に電源供給されることができる。 From 0, it may be parallel power supply.

【0042】すなわち、このディスク検査装置11は、 [0042] In other words, the disk inspection apparatus 11,
図14及び図15に示すように、システムコントローラとしていわゆるVME(バーサモジュールヨーロピアン:Versa Module European)バスシステムを用い、複数のGP−IBボード92を用いて、多数のディスクを検査するディスク検査システムを構成することができる。 As shown in FIGS. 14 and 15, so-called VME as a system controller: using (Versa Module European Versa Module European) bus system, using a plurality of GP-IB board 92, the disk inspection system for inspecting a large number of disks it can be configured. このディスク検査システムにおいては、複数のディスクドライブ部12は、ラック81 In this disk inspection system 12 includes a plurality of disk drives, rack 81
に収納され、FDC(ディスクコントローラ)ボード8 It is housed in, FDC (disk controller) board 8
8を介して、メインCPU(信号処理ユニット)91が接続されたVMEバス89に接続されている。 8 through, is connected to the VME bus 89 to main CPU (signal processing unit) 91 is connected. このVM This VM
Eバス89には、EGS−1ボード84を介して、操作部79が接続されている。 The E-bus 89, via the EGS-1 board 84, the operation unit 79 are connected. この操作部79には、ディスプレイ80が接続されている。 The operation unit 79, a display 80 are connected. このディスプレイ80 This display 80
は、上記ラック81に取付けられている。 It is attached to the rack 81. また、上記V In addition, the above-mentioned V
MEバス89には、複数のメモリ装置83、デュアルI The ME bus 89, a plurality of memory devices 83, dual I
/O(DIO)ボード85、PIA(ペリフェラルインターフェイスアダプタ:periferal inte / O (DIO) board 85, PIA (Peripheral Interface Adapter: periferal inte
rface adapter)ボード86及びSIOボード87等が接続されている。 rface adapter) or the like board 86 and SIO board 87 is connected.

【0043】そして、上記メインCPU91には、I/ [0043] and, in the main CPU91 is, I /
Oチャンネルバス90が接続されている。 O channel bus 90 is connected. このI/Oチャンネルバス90には、複数のGP−IBボード92及び複数のPPMCボード93が接続されている。 The I / O channel bus 90, a plurality of GP-IB board 92 and a plurality of PPMC boards 93 are connected. 上記各GP−IBボード92には、上記各ディスク検査装置1 In each of the above GP-IB board 92, the respective disk inspection apparatus 1
1のCPU95,96,99が対応して接続されている。 1 CPU95,96,99 are connected correspondingly. また、上記各PPMCボード93には、それぞれモータドライバ97を介して、複数のモータ98が接続されている。 Further, to the above PPMC board 93 via a motor driver 97, respectively, a plurality of motors 98 are connected. これらモータ98は、上記各ディスク検査装置11に対して被検査ディスクを搬送し供給するためのモータである。 These motors 98 is a motor for supplying conveying the inspected disk against the respective disk inspection apparatus 11. すなわち、上記ラック81の近傍には、 That is, in the vicinity of the rack 81,
上記被検査ディスクを搬送し各ディスク検査装置11に供給するためのロボットアーム74及び該被検査ディスクを搬送するためのベルトコンベア装置77が配設されている。 Belt conveyor device 77 for conveying the robot arm 74 and the obtaining step disks to be supplied to the disk inspection apparatus 11 conveys the inspection disc is disposed. 上記各モータ98は、上記ロボットアーム74 Each motor 98, said robot arm 74
及び上記ベルトコンベア装置77を駆動するモータである。 And a motor for driving the belt conveyor 77. なお、上記ベルトコンベア77上には、複数の被検査ディスクを積層させて支持するディスクストッカ82 Incidentally, the disk stocker 82 supported on the belt conveyor 77, by laminating a plurality of the test disc
が設けられている。 It is provided.

【0044】また、本発明に係るディスク検査装置11 [0044] The disk test apparatus 11 according to the present invention
は、図13に示すように、いわゆるパーソナルコンピュータ19をコントローラとして用いて、ディスク検査システムを構成することができる。 As shown in FIG. 13, by using a so-called personal computer 19 as a controller, it is possible to configure the disk inspection system. すなわち、上記パーソナルコンピュータ19には、GP−IBケーブル17を介して、上記ディスクドライブ部12を有するディスク検査装置11が接続される。 That is, the personal computer 19 via a GP-IB cable 17, the disk inspection apparatus 11 having the above-described disc drive unit 12 are connected. このディスク検査装置11 The disk inspection apparatus 11
には、電源装置20より電源供給がなされる。 The power supply is made from the power supply 20. このディスク検査システムにおいては、上記パーソナルコンピュータ19に接続されたキーボード部72により種々の制御情報を入力し、該パーソナルコンピュータ19に接続されたディスプレイ71により種々の検査結果の表示を行うことができる。 In this disk inspection system, it is possible to display various test results by the type of the various control information with keyboard unit 72 to the personal computer 19, a display 71 connected to the personal computer 19.

【0045】 [0045]

【発明の効果】上述のように、本発明に係るディスク検査装置においては、被検査ディスクよりの情報信号の読出しを行うディスクドライブ部を制御するとともにこのディスクドライブ部より送られる情報信号を処理する計測制御回路部は、インターフェイスユニットを介して、 [Effect of the Invention] As described above, in the disk inspection apparatus according to the present invention, processes the information signal sent from the disc drive unit controls the disk drive section for reading the information signal from the inspection disk measurement control circuit unit through the interface unit,
外部機器との間で双方向通信を行うことができる。 It is possible to perform two-way communication with an external device.

【0046】したがって、このディスク検査装置においては、システム形態の変更や小型化が容易化されながら、検査結果の信頼性の向上及び制御の高速化を実現することができる。 [0046] Thus, in the disk inspection apparatus can system configuration change or miniaturization while being easier to realize high-speed improvement and control of the reliability of the test result.

【0047】また、本発明に係るディスク検査装置は、 Further, the disk inspection apparatus according to the present invention,
所定のエラー比率のエラー信号を発生する可変レベルエラー発生回路と、被検査ディスクより情報信号を読出して読出信号を送出するディスクドライブ部と、上記エラー信号と上記読出信号とがスイッチを介して選択的に送られる比較器と、上記スイッチにより選択されたエラー信号または読出信号のレベル判定を行うための基準電圧を上記比較器に対して供給する閾値電圧可変回路とを備えている。 A variable level error generation circuit, a disk drive unit for sending a read signal of information signal is read from the inspection disk, the error signal and the read signal via the switch selection for generating an error signal of a predetermined error rate a comparator sent to specific, and a threshold voltage variable circuit for supplying a reference voltage for performing level determination of the error signal or read signal selected by the switch with respect to the comparator. そのため、このディスク検査装置においては、上記基準電圧をエラー比率に応じて調整することができる。 Therefore, in the disk inspection apparatus can be adjusted the reference voltage in response to the error rate.

【0048】そして、本発明に係るディスク検査方法においては、上記可変レベルエラー発生回路により既知のエラー比率A%を有する第1のエラー信号を発生させて上記比較器に送り、この比較器の出力信号が上記第1のエラー信号についてエラー検出をした信号となるように上記閾値電圧可変回路により第1の基準電圧aを設定し、次に、上記閾値電圧可変回路によりエラー比率B% [0048] Then, in the disk inspection method according to the present invention, the variable level error generation circuit by to generate a first error signal with a known error ratio A% in the feed to the comparator, the output of the comparator signal sets the first reference voltage a by the threshold voltage variable circuit so that the signal obtained by the error detection on the first error signal, then the error rate B% ​​by the threshold voltage variable circuit
の第2のエラー信号についてエラー検出するための基準電圧として第2の基準電圧bを、b=a・(B/A)が成立するように設定し、このときエラー検出されるエラー信号のエラー比率B´%を求め、上記比較器にディスクドライブ部より読出信号を送り、エラー比率X%についてエラー検出を行うときには、上記閾値電圧可変回路により上記基準電圧を、Y=a−{(a−b)/(A− The about 2 error signal and the second reference voltage b as a reference voltage for detecting errors, b = a · Set the (B / A) is satisfied, the error of the time error signal detected errors find the ratio B'%, sends a read signal from the disk drive unit to the comparator, when performing error detection on the error ratio X% is the reference voltage by the threshold voltage variable circuit, Y = a - {(a- b) / (A-
B´)}・(A−X)により算出されるYに設定する。 If Y calculated by B')} · (A-X).

【0049】したがって、このディスク検査方法においては、広い範囲のエラー比率について、高精度のエラー検出を行うことができる。 [0049] Thus, in this disk inspection method, the error rate of a wide range, it is possible to perform error detection with high accuracy.

【0050】すなわち、本発明は、広い範囲のエラー比率について高精度のエラー検出が行えるディスク検査装置及びディスク検査方法を提供することができるものである。 [0050] Namely, the present invention can provide a highly accurate disk inspection apparatus and a disk inspection method can be performed the error detection on the error ratio of a wide range.

【図面の簡単な説明】 BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS

【図1】ディスクの検査において使用されるエクストラパルスを示す波形図である。 1 is a waveform diagram showing an extra pulse to be used in the disk inspection.

【図2】ディスクの検査において使用されるミッシングパルスを示す波形図である。 2 is a waveform diagram showing a missing pulse to be used in the disk inspection.

【図3】上記エクストラパルスを検出するためのディスク検査装置の要部の構成を示す回路図及びこの回路上における信号波形を示す波形図である。 3 is a waveform diagram showing signal waveforms in the circuit diagram and the circuit on showing the configuration of a main part of the disk inspection apparatus for detecting the extra pulses.

【図4】上記ミッシングパルスを検出するためのディスク検査装置の要部の構成を示す回路図及びこの回路上における信号波形を示す波形図である。 4 is a waveform diagram showing signal waveforms in the circuit diagram and the circuit on showing the configuration of a main part of the disk inspection apparatus for detecting the missing pulses.

【図5】本発明に係るディスク検査装置の構成を示すブロック回路図である。 5 is a block circuit diagram showing a configuration of a disk inspection apparatus according to the present invention.

【図6】上記ディスク検査装置のディスクドライブ部周辺の構成を示すブロック図である。 6 is a block diagram showing a configuration around the disk drive unit of the disk tester.

【図7】上記ディスク検査装置のディスクドライブ部を複数台有して構成されたディスク検査システムを示すブロック図である。 7 is a block diagram showing a plurality of disk inspection system configured with a disk drive unit of the disk tester.

【図8】上記ディスク検査装置の構成を模式的に示す側面図である。 8 is a side view schematically showing a configuration of the disk tester.

【図9】上記ディスク検査装置の構成を模式的に示す平面図である。 9 is a plan view schematically showing a configuration of the disk tester.

【図10】上記ディスク検査装置のアナログ基板の構成を模式的に示す平面図である。 10 is a plan view schematically showing the configuration of the analog substrate of the disk tester.

【図11】上記ディスク検査装置のデジタル基板の構成を模式的に示す平面図である。 11 is a plan view schematically showing a configuration of a digital circuit board of the disk tester.

【図12】上記ディスク検査装置の電源コントロール基板の構成を模式的に示す平面図である。 12 is a plan view a configuration of a power supply control board of the disk inspection apparatus shown schematically.

【図13】上記ディスク検査装置の構成を示す正面図である。 13 is a front view showing a configuration of the disk tester.

【図14】上記ディスク検査装置のディスクドライブ部を複数台有して構成されたディスク検査システムを示す斜視図である。 14 is a perspective view showing a plurality of disk inspection system configured with a disk drive unit of the disk tester.

【図15】上記ディスク検査システムの構成を示すブロック図である。 15 is a block diagram showing a configuration of the disk inspection system.

【図16】従来のディスク検査装置の構成を示すブロック図である。 16 is a block diagram showing a configuration of a conventional disk tester.

【符号の説明】 DESCRIPTION OF SYMBOLS

1・・・・・・・・・・・・比較器 3・・・・・・・・・・・・ディスクドライブ部 4・・・・・・・・・・・・可変レベルエラー発生回路 5・・・・・・・・・・・・スイッチ 6・・・・・・・・・・・・バリオーム 7・・・・・・・・・・・・D/A変換器 8・・・・・・・・・・・・CPU 9・・・・・・・・・・・・入力ポート 10・・・・・・・・・・・・数値設定スイッチ 1 ............ comparator 3 ............ disk drive unit 4 ............ variable level error generation circuit 5 ............ switch 6 ............ Bariomu 7 ............ D / A converter 8 ... ········ CPU 9 ············ input port 10 ............ numerical setting switch

Claims (3)

    【特許請求の範囲】 [The claims]
  1. 【請求項1】 被検査ディスクよりの情報信号の読出しを行うディスクドライブ部と、 上記ディスクドライブ部を制御するとともに、このディスクドライブ部より送られる情報信号を処理する計測制御回路部と、 上記計測制御回路部と外部機器との間の双方向通信を行うインターフェイスユニットとを備えてなるディスク検査装置。 And 1. A inspected disk drive section for reading the information signal from the disk, to control the disk drive unit, a measurement control circuit unit for processing the information signal sent from the disc drive unit, the measurement disk inspection device including an interface unit which performs bidirectional communication between the control circuit unit and the external device.
  2. 【請求項2】 所定のエラー比率のエラー信号を発生する可変レベルエラー発生回路と、 被検査ディスクより情報信号を読出して読出信号を送出するディスクドライブ部と、 上記エラー信号と上記読出信号とが、スイッチを介して、選択的に送られる比較器と、 上記スイッチにより選択されたエラー信号または読出信号のレベル判定を行うための基準電圧を上記比較器に対して供給する閾値電圧可変回路とを備えてなるディスク検査装置。 A variable level error generating circuit wherein an error signal is generated a predetermined error rate, and a disk drive unit for sending a read signal of information signal is read from the inspection disk, and the said error signal and the readout signal , via a switch, a comparator fed selectively, and a threshold voltage variable circuit for supplying a reference voltage for performing level determination of the error signal or read signal selected by the switch to said comparator disk inspection apparatus comprising a.
  3. 【請求項3】 請求項2記載のディスク検査装置を用い、 可変レベルエラー発生回路により既知のエラー比率A% 3. Using the disk inspection apparatus according to claim 2, wherein the variable level error generation circuit by a known error rate A%
    を有する第1のエラー信号を発生させて比較器に送り、 上記比較器の出力信号が上記第1のエラー信号についてエラー検出をした信号となるように、閾値電圧可変回路により第1の基準電圧aを設定し、 次に、上記閾値電圧可変回路により、エラー比率B%の第2のエラー信号についてエラー検出するための基準電圧として、第2の基準電圧bを、b=a・(B/A)が成立するように設定し、このときエラー検出されるエラー信号のエラー比率B´%を求め、 上記比較器にディスクドライブ部より読出信号を送り、 First feed to the comparator to generate an error signal having, as an output signal of the comparator is a signal obtained by the error detection on the first error signal, a first reference voltage by a threshold voltage variable circuit set a, then, by the threshold voltage variable circuit, as a reference voltage for the error detection the error ratio B% of the second error signal, the second reference voltage b, b = a · (B / set the a) is satisfied, the time seek error rate B'% error signal detected error, sends a read signal from the disk drive unit to the comparator,
    エラー比率X%についてエラー検出を行うときには、上記閾値電圧可変回路により、上記基準電圧を、Y=a− When performing error detection on the error ratio X% is by the threshold voltage variable circuit, the reference voltage, Y = a-
    {(a−b)/(A−B´)}・(A−X)により算出されるYに設定してなるディスク検査方法。 {(A-b) / (A-B')} · (A-X) disk inspection method comprising setting the Y calculated by.
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