JPH0618365A - Light pulse tester - Google Patents

Light pulse tester

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JPH0618365A
JPH0618365A JP4175670A JP17567092A JPH0618365A JP H0618365 A JPH0618365 A JP H0618365A JP 4175670 A JP4175670 A JP 4175670A JP 17567092 A JP17567092 A JP 17567092A JP H0618365 A JPH0618365 A JP H0618365A
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light
measured
optical
polarization
optical fiber
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順吉 城野
Yahei Oyamada
弥平 小山田
Shinichi Furukawa
眞一 古川
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Anritsu Corp
Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Anritsu Corp
Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Abstract

PURPOSE:To conduct waveform observation of back scattering light just after fresnel reflection which has been impossible to be measured due to a trailing phenomenon caused by a step response characteristic of a filter and surely find a connection point in which an abnormality occurs and automatically conduct highly precise measurement even in the case where a plurality of the connection points exist. CONSTITUTION:Reflection light transmitted from an optical fiber to be measured accompanying supply of probe pulse light is synthesized with coherent local light whose polarization state is variably controlled in order to conduct coherent detection. And, when a polarization component of fresnel reflection light is shifted from another polarization component of local light and they do not interfere with each other, a level after detection of the fresnel reflection light lowers and back scattering just after the fresnel reflection impossible to be measured due a traveling phenomenon caused by step response characteristic of a filter, can be measured. In addition, at this time the level after the detection does not almost change because the polarization state changes at random and the back scattering is averaged.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、被測定光ファイバに対
しコヒーレントな光パルスを供給し、これに伴って被測
定光ファイバから戻ってくる後方散乱光および反射光
と、ローカル光(局発光)とを合波してコヒーレント検
波し、所定の信号処理を行って被測定光ファイバの光損
失や障害点等を測定する光パルス試験器に関するもので
ある。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention supplies a coherent optical pulse to an optical fiber to be measured and, together with this, backscattered light and reflected light returning from the optical fiber to be measured, and local light (local light). ) Is combined with coherent detection, and predetermined signal processing is performed to measure an optical loss or a failure point of the optical fiber to be measured.

【0002】[0002]

【従来の技術】被測定光ファイバに光パルスを供給し、
この光パルスの供給に伴って被測定光ファイバから戻っ
てくる後方散乱光および反射光と、ローカル光とを合波
してコヒーレント検波し、この検出した信号に対して自
乗加算等の演算を行い信号処理することによって被測定
光ファイバの損失や障害点等の測定を行う装置として光
パルス試験器が知られている。
2. Description of the Related Art An optical pulse is supplied to an optical fiber to be measured,
Coherent detection is performed by combining the backscattered light and reflected light returning from the optical fiber under measurement with the supply of this optical pulse, and the local light, and performing calculations such as square addition on the detected signal. 2. Description of the Related Art An optical pulse tester is known as a device that measures loss or a failure point of an optical fiber under measurement by performing signal processing.

【0003】図4はこの種のコヒーレント検波方式によ
る光パルス試験器のブロック図である。このコヒーレン
ト検波方式の光パルス試験器は、コヒーレント光源2
1、光学スイッチ22、光パルスドライブ回路23、基
準トリガ発生回路24、光分岐結合器25、O/E変換
器26、交流増幅器27、フィルタ28、A/D変換器
29、自乗加算器30、対数変換器31、表示器32を
備えて構成されている。
FIG. 4 is a block diagram of an optical pulse tester based on this type of coherent detection method. The optical pulse tester of the coherent detection system is based on the coherent light source 2
1, optical switch 22, optical pulse drive circuit 23, reference trigger generation circuit 24, optical branching / coupling device 25, O / E converter 26, AC amplifier 27, filter 28, A / D converter 29, square adder 30, The logarithmic converter 31 and the display 32 are provided.

【0004】そして、この光パルス試験器では、基準ト
リガ発生回路24より発生した基準トリガが光学スイッ
チ22を駆動する光パルスドライブ回路23に入力され
ると、コヒーレント光源21より出力された連続光が光
学スイッチ22により光パルスに変換されてブローブパ
ルス光として被測定光ファイバ33に入射される。この
プローブパルス光の供給に伴って被測定光ファイバ33
からは後方散乱光およびフレネル反射光が戻り、この戻
り光は光学スイッチ22を介して光分岐結合器25に入
力される。光分岐結合器25にはコヒーレント光源21
よりローカル光が入力しており、このロカール光と戻り
光とのミキシングにより光分岐結合器25から出力され
るビート信号はO/E変換器26により電気信号に変換
される。この電気信号はフィルタ28によりビート信号
周波数の信号のみが通過して交流増幅器27により交流
増幅された後にA/D変換器27に入力される。A/D
変換器27では入力される電気信号を所定のサンプリン
グ周期でサンプリングし、このサンプリングした各デー
タを自乗加算した後に対数変換して波形処理し、その結
果が表示器32の表示画面上に表示される。
In this optical pulse tester, when the reference trigger generated by the reference trigger generation circuit 24 is input to the optical pulse drive circuit 23 that drives the optical switch 22, the continuous light output from the coherent light source 21 is output. It is converted into an optical pulse by the optical switch 22 and is incident on the measured optical fiber 33 as probe pulse light. With the supply of the probe pulse light, the measured optical fiber 33
The backscattered light and the Fresnel reflected light are returned from, and the returned light is input to the optical branching / coupling device 25 via the optical switch 22. The optical branching / combining device 25 includes a coherent light source 21.
Local light is further input, and the beat signal output from the optical branching / coupling device 25 by mixing the local light and the return light is converted into an electric signal by the O / E converter 26. This electric signal is input to the A / D converter 27 after only the signal having the beat signal frequency passes through the filter 28 and is AC amplified by the AC amplifier 27. A / D
The converter 27 samples the input electric signal at a predetermined sampling period, squares and adds each sampled data, performs logarithmic conversion, and performs waveform processing, and the result is displayed on the display screen of the display 32. .

【0005】ここで、プローブパルス光の供給に伴う被
測定光ファイバ33からのフレネル反射光は、光ファイ
バ線路中に光コネクタ結合があるときに、空気とガラス
との屈折率差によって生じるもので、そのレベルは、結
合部分の端面の反射率によって異なり、図5(b)に示
すように後方散乱光を示す傾斜部分に比べて高い。すな
わち、被測定光ファイバ33の入力パワーの0dBmと
すると、被測定光ファイバ33の口元33aでのフレネ
ル反射光は約−14dBmであり、また、このフレネル
反射光の直後で生じる後方散乱光は約−54dBm
(1,55μm、パルス幅1μmの場合)であって、そ
の差が約40dBと大きいものになっている。
Here, the Fresnel reflected light from the measured optical fiber 33 accompanying the supply of the probe pulse light is generated by the difference in refractive index between air and glass when there is an optical connector coupling in the optical fiber line. The level depends on the reflectance of the end surface of the coupling portion and is higher than that of the inclined portion showing the backscattered light as shown in FIG. 5B. That is, when the input power of the measured optical fiber 33 is 0 dBm, the Fresnel reflected light at the mouth 33a of the measured optical fiber 33 is about −14 dBm, and the backscattered light generated immediately after this Fresnel reflected light is about -54 dBm
(When the pulse width is 1,55 μm and the pulse width is 1 μm), the difference is as large as about 40 dB.

【0006】また、この種の光パルス試験器において、
光学スイッチ22に例えばA/Oスイッチを使用した場
合、プローブパルス光はA/Oスイッチの駆動周波数f
0(通常は100〜150MHz程度)に従って周波数
がf0だけシフトされ、光方向性結合器、ファイバカプ
ラ等によるメカスイッチやE/Oスイッチを使用した場
合には、周波数f0が0Hzになる。
Also, in this type of optical pulse tester,
When, for example, an A / O switch is used as the optical switch 22, the probe pulse light has a drive frequency f of the A / O switch.
The frequency is shifted by f0 according to 0 (usually about 100 to 150 MHz), and when a mechanical switch such as an optical directional coupler or a fiber coupler or an E / O switch is used, the frequency f0 becomes 0 Hz.

【0007】このため、コヒーレント検波された信号の
中間周波数はf0の周波数となり、この周波数f0の信
号を通すためには、フィルタ28として中間周波数f0
のバンドパスフィルタを使用していた。また、特にf0
が低周波(0Hzを含む)の場合には、ローパスフィル
タを使用していた。
Therefore, the intermediate frequency of the coherently detected signal becomes the frequency of f0, and in order to pass the signal of this frequency f0, the intermediate frequency f0 is used as the filter 28.
I was using a bandpass filter. Also, especially f0
In the case of low frequency (including 0 Hz), a low pass filter was used.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】ところで、後方散乱光
に比べてレベルの高いフレネル反射光をコヒーレント検
波すると、この検波した信号はパルス状の矩形波となる
が(図6(a)参照)、フィルタ28としてバンドパス
フィルタを使用し、応答速度を速めて信号を通すと、図
6(b)に示すようにフィルタのステップ応答によりス
ソヒキ現象が生じ、このスソヒキ現象が生じている間
は、図5(b)に示すようにフレネル反射が生じた場所
から先の後方散乱光の波形観測が行えないという問題が
あった。
By the way, when the Fresnel reflected light having a higher level than the backscattered light is coherently detected, the detected signal becomes a pulse-shaped rectangular wave (see FIG. 6 (a)). When a bandpass filter is used as the filter 28 and a signal is transmitted at an increased response speed, a sootki phenomenon occurs due to the step response of the filter as shown in FIG. 6B. As shown in FIG. 5 (b), there is a problem that it is not possible to observe the waveform of the backscattered light from the location where the Fresnel reflection occurs.

【0009】一方、フィルタ28として応答速度の遅い
ローパスフィルタを使用した場合には、図6(c)に示
すように信号の立ち上がりが遅れて両エッジ部分がなま
り、これにより、ダイナミックレンジが低下するため、
通常はコヒーレント検波したフレネル反射光が再現でき
るだけの高い周波数まで信号が通るように設計されてい
る。従って、ローパスフィルタを使用した場合でも、バ
ンドパスフィルタと同様にスソヒキ現象が生じ、このス
ソヒキ現象が生じている間、後方散乱光の波形観測が不
可能なデッドゾーンとなっていた。
On the other hand, when a low-pass filter having a slow response speed is used as the filter 28, the rising edge of the signal is delayed and both edges are rounded as shown in FIG. 6 (c), which reduces the dynamic range. For,
Normally, the signal is designed to pass through to a high frequency that can reproduce the coherently detected Fresnel reflected light. Therefore, even when a low-pass filter is used, a sootki phenomenon occurs similarly to the bandpass filter, and the waveform of the backscattered light cannot be observed during the dead zone while the sootoki phenomenon occurs.

【0010】すなわち、フレネル反射光は偏光状態が保
持されるが、後方散乱光は偏光状態がランダムになり、
ローカル光と光ファイバからの反射戻り光とをコヒーレ
ント検波する場合、両方の光の偏光状態を変えると、フ
レネル反射部分の検波信号の出力は変化するが、後方散
乱光部分の検波信号の出力は変化しない。従って、偏光
状態によっては、フレネル反射光のレベルが高く、上記
のような問題が生じる。
That is, the Fresnel reflected light retains its polarization state, but the backscattered light has a random polarization state,
When coherent detection of local light and reflected light from the optical fiber, if the polarization state of both lights is changed, the output of the detection signal of the Fresnel reflection part changes, but the output of the detection signal of the backscattered light part It does not change. Therefore, depending on the polarization state, the level of Fresnel reflected light is high, and the above problem occurs.

【0011】そこで、本発明は上記問題点に鑑みてなさ
れたものであって、その目的は、フィルタのステップ応
答特性によるスソヒキ現象で測定不可能であったフレネ
ル反射直後の後方散乱光の波形観測を確実に行うことが
できる光パルス試験器を提供することにある。
Therefore, the present invention has been made in view of the above problems, and an object thereof is to observe the waveform of backscattered light immediately after Fresnel reflection, which could not be measured due to the Sosohiki phenomenon due to the step response characteristic of the filter. An object of the present invention is to provide an optical pulse tester capable of reliably performing.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項1の本発明による光パルス試験器は、コヒー
レントなプローブパルス光の供給に伴う被測定光ファイ
バからの反射光と、コヒーレントなローカル光とによっ
てコヒーレント検波された信号を、所定の周波数成分を
抽出するフィルタを通過させて信号処理し、前記被測定
光ファイバの光損失や障害点等を測定する光パルス試験
器において、前記ローカル光あるいは前記反射光の少な
くとも一方の偏光状態を可変する偏光制御手段を備えた
ことを特徴としている。また、請求項2の発明による光
パルス試験器は、予め所定距離毎に異なる複数の偏光状
態を示すデータが記憶された記憶手段と、該記憶手段の
データに基づいて前記ローカル光あるいは前記反射光の
少なくとも一方の偏光状態を自動的に可変する偏光制御
手段とを備えたことをを特徴としている。
In order to achieve the above object, the optical pulse tester according to the present invention of claim 1 is coherent with the reflected light from the optical fiber to be measured accompanying the supply of the coherent probe pulse light. The signal coherently detected by the local light is subjected to signal processing by passing through a filter for extracting a predetermined frequency component, and an optical pulse tester for measuring an optical loss or a fault point of the optical fiber under measurement is used. A polarization control means for changing the polarization state of at least one of the light and the reflected light is provided. In the optical pulse tester according to the invention of claim 2, storage means in which data indicating a plurality of polarization states different for each predetermined distance are stored in advance, and the local light or the reflected light is stored based on the data of the storage means. And a polarization control means for automatically changing the polarization state of at least one of the above.

【0013】[0013]

【作用】請求項1の発明では、光学スイッチのスイッチ
ング駆動によって発生するプローブパルス光が被測定光
ファイバに供給されると、このプローブパルス光の供給
に伴って被測定光ファイバからは反射光として後方散乱
光およびフレネル反射光が光学スイッチ側に戻る。この
反射光は偏光制御手段により偏光状態が可変されたコヒ
ーレントなローカル光と合波されてコヒーレント検波さ
れる。そして、ローカル光の偏光状態を可変することに
より、フレネル反射光の偏光成分がローカル光の偏光成
分からずれて干渉しなくなると、フレネル反射光のレベ
ルは低下し、フィルタのステップ応答特性によるスソヒ
キで測定不可能であったフレネル反射直後の後方散乱光
が測定される。また、このとき、被測定光ファイバから
の後方散乱光は、偏光状態がランダムに変化して平均化
されるため、検波後のレベルはほとんど変化しない。ま
た、請求項2の発明における偏光制御手段は、記憶手段
の予め所定距離毎に異なる複数の偏光状態を示すデータ
に基づいて所定距離毎にローカル光の偏光状態を自動的
に可変制御する。なお、被測定光ファイバからの反射光
の偏光状態を可変制御してもよい。また、ローカル光お
よび反射光の両方の偏光状態を偏光制御手段によって可
変制御してもよい。
According to the first aspect of the present invention, when the probe pulse light generated by the switching drive of the optical switch is supplied to the optical fiber to be measured, the optical pulse to be measured is reflected by the optical fiber to be measured as the probe pulse light is supplied. Backscattered light and Fresnel reflected light return to the optical switch side. This reflected light is combined with coherent local light whose polarization state is changed by the polarization control means, and is coherently detected. Then, by changing the polarization state of the local light, when the polarization component of the Fresnel reflected light deviates from the polarization component of the local light and no longer interferes, the level of the Fresnel reflected light decreases and the step response characteristic of the filter causes The backscattered light immediately after Fresnel reflection, which could not be measured, is measured. At this time, the backscattered light from the optical fiber to be measured has its polarization state randomly changed and averaged, so that the level after detection hardly changes. Further, the polarization control means in the invention of claim 2 automatically and variably controls the polarization state of the local light for each predetermined distance based on the data indicating a plurality of polarization states which are different for each predetermined distance in the storage means. The polarization state of the reflected light from the measured optical fiber may be variably controlled. Further, the polarization states of both the local light and the reflected light may be variably controlled by the polarization control means.

【0014】[0014]

【実施例】図1は本発明による光パルス試験器の一実施
例を示すブロック図である。この実施例による光パルス
試験器は、コヒーレント光源1、基準トリガ発生回路
2、光パルスドライブ回路3、光学スイッチ4、偏光制
御器(偏光制御手段)5、光分岐結合器6、O/E変換
器7、交流増幅器8、フィルタ9、A/D変換器10、
自乗加算器11、対数変換器12、表示器13を備えて
構成されている。
1 is a block diagram showing an embodiment of an optical pulse tester according to the present invention. The optical pulse tester according to this embodiment comprises a coherent light source 1, a reference trigger generation circuit 2, an optical pulse drive circuit 3, an optical switch 4, a polarization controller (polarization control means) 5, an optical branching / coupling device 6, and O / E conversion. Device 7, AC amplifier 8, filter 9, A / D converter 10,
It is configured by including a square adder 11, a logarithmic converter 12, and a display 13.

【0015】コヒーレント光源1は被測定光ファイバ1
4側に一定波長のコヒーレント光を連続発光しており、
コヒーレント光の一部をローカル光として偏光制御器5
に供給している。
The coherent light source 1 is an optical fiber 1 to be measured.
Continuously emitting coherent light of a certain wavelength on the 4 side,
Polarization controller 5 using a part of coherent light as local light
Is being supplied to.

【0016】基準トリガ発生回路2は所定の間隔(例え
ば500μsec)で基準トリガを発生して光パルスド
ライブ回路3に出力している。また、この基準トリガ発
生回路2は光分岐結合器6でミキシングされ、O/E変
換器7で電気信号に変換された信号をサンプリングする
ためのサンプリング開始トリガを基準トリガと同時にA
/D変換器10に出力している。
The reference trigger generation circuit 2 generates a reference trigger at a predetermined interval (for example, 500 μsec) and outputs it to the optical pulse drive circuit 3. Further, the reference trigger generation circuit 2 uses a sampling start trigger for sampling a signal mixed by the optical branching / coupling device 6 and converted into an electric signal by the O / E converter 7 at the same time as the reference trigger.
It is output to the / D converter 10.

【0017】光パルスドライブ回路3は基準トリガ発生
回路2からの光パルス発生トリガを受けて光学スイッチ
4をスイッチング駆動するためのスイッチ駆動信号を光
学スイッチ4に出力している。
The optical pulse drive circuit 3 receives the optical pulse generation trigger from the reference trigger generation circuit 2 and outputs a switch drive signal for switching the optical switch 4 to the optical switch 4.

【0018】光学スイッチ4はコヒーレント光源1より
連続発光されるコヒーレント光を光パルスドライブ回路
2から供給されるスイッチ駆動信号によってスイッチン
グ動作している。そして、このスイッチング動作により
コヒーレント光をパルス光(例えば1μsecのコヒー
レント光パルス)に変換し、コヒーレントなプローブパ
ルス光を被測定光ファイバ14に供給している。
The optical switch 4 performs switching operation of the coherent light continuously emitted from the coherent light source 1 by a switch drive signal supplied from the optical pulse drive circuit 2. Then, the switching operation converts the coherent light into pulsed light (for example, 1 μsec coherent light pulse), and supplies the coherent probe pulsed light to the optical fiber 14 to be measured.

【0019】偏光制御器5は例えば光ファイバを同心円
上で複数回巻いて巻回された部分全体を動かして偏光状
態を制御するもの、光ファイバを屈曲してその度合いに
よって偏光状態を制御するもの、光学素子であるλ/4
板とλ/2板とを組み合わせて何れか一方を回転させて
偏光状態を制御するもの、電極に電圧を加えて偏光の垂
直成分あるいは水平成分を変え合波して偏光状態を制御
する導波路形の光学素子を用いたもの等で構成されてい
る。そして、この偏光制御器5では、被測定光ファイバ
14からの戻り光であるフレネル反射光の位置に対応し
てコヒーレント光源1から供給されるローカル光の偏光
状態を可変制御している。さらに説明すると、この実施
例では、光ファイバ結合部分毎に生じるフレネル反射光
が個々にその偏光状態が同一とは限らないため、表示器
13に表示される波形を観測しながら個々のフレネル反
射位置に合わせてローカル光の偏光状態を調整して可変
制御している。
The polarization controller 5 is, for example, one in which an optical fiber is wound a plurality of times on a concentric circle and the entire wound portion is moved to control the polarization state, and one in which the optical fiber is bent to control the polarization state depending on the degree. , Optical element λ / 4
A plate and a λ / 2 plate are combined to rotate one of them to control the polarization state, and a waveguide for controlling the polarization state by applying a voltage to an electrode to change the vertical component or the horizontal component of the polarization and combining them. It is configured by using an optical element of the shape. Then, the polarization controller 5 variably controls the polarization state of the local light supplied from the coherent light source 1 in correspondence with the position of the Fresnel reflected light that is the return light from the optical fiber 14 to be measured. More specifically, in this embodiment, the Fresnel reflected light generated in each optical fiber coupling portion does not necessarily have the same polarization state, so that the Fresnel reflected position of each Fresnel reflected light is observed while observing the waveform displayed on the display 13. The polarization state of the local light is adjusted to variably control according to.

【0020】光分岐結合器6はコヒーレント光パルスの
供給に伴って被測定光ファイバ14から戻ってくる反射
光(後方散乱光およびフレネル反射光)と、偏光制御器
5によって偏光状態の可変されたローカル光とをミキシ
ングしてO/E変換器7に出力している。
The optical splitter / coupler 6 changes the polarization state by the polarization controller 5 and the reflected light (backscattered light and Fresnel reflected light) returning from the optical fiber 14 to be measured with the supply of the coherent light pulse. The local light is mixed and output to the O / E converter 7.

【0021】O/E変換器7は光分岐結合器6において
ミキシングされた光を電気信号に変換し、IF信号とし
て交流増幅器8に出力している。
The O / E converter 7 converts the light mixed in the optical branching / coupling device 6 into an electric signal and outputs it as an IF signal to the AC amplifier 8.

【0022】交流増幅器8はO/E変換器7からのIF
信号をAC増幅し、十分なゲインをもってフィルタ9に
出力している。
The AC amplifier 8 is an IF from the O / E converter 7.
The signal is AC-amplified and output to the filter 9 with sufficient gain.

【0023】フィルタ9はコヒーレント検波された信号
の中間周波数を中心周波数f0とするバンドパスフィル
タで構成されており、交流増幅器8からのIF信号のみ
を通過させてA/D変換器10に出力している。なお、
フィルタ9は中心周波数f0が0Hzの場合には、ロー
パスフィルタで構成されている。
The filter 9 is composed of a bandpass filter having a center frequency f0 which is the intermediate frequency of the coherently detected signal, and passes only the IF signal from the AC amplifier 8 and outputs it to the A / D converter 10. ing. In addition,
The filter 9 is composed of a low-pass filter when the center frequency f0 is 0 Hz.

【0024】A/D変換器10は基準トリガ発生回路2
からのサンプリング開始トリガに従ってフィルタ9から
の信号を所定のサンプリング周期でサンプリングし、デ
ィジタル信号の測定データに変換して自乗加算器11に
出力している。
The A / D converter 10 is a reference trigger generating circuit 2
The signal from the filter 9 is sampled at a predetermined sampling period in accordance with the sampling start trigger from, and converted into digital signal measurement data and output to the square adder 11.

【0025】自乗加算器11はA/D変換器10からの
サンプリングデータを自乗加算して平均化し、この平均
値データを対数変換器12に出力している。
The square adder 11 square-adds and averages the sampling data from the A / D converter 10, and outputs the average value data to the logarithmic converter 12.

【0026】対数変換器12は次のプローブパルス光が
供給されるまでの空き時間内に、自乗加算器11からの
平均値データを対数変換して信号処理を行っている。
The logarithmic converter 12 performs signal processing by logarithmically converting the average value data from the square adder 11 within an idle time until the next probe pulse light is supplied.

【0027】表示器13は対数変換器12における信号
処理に基づく波形データを表示画面上に表示している。
The display 13 displays the waveform data based on the signal processing in the logarithmic converter 12 on the display screen.

【0028】次に、上記のように構成される光パルス試
験器の動作について説明する。光パルスドライブ回路3
によって光学スイッチ4がスイッチング駆動されると、
コヒーレント光源1より連続発光されるコヒーレント光
はプローブパルス光として被測定光ファイバ14に供給
される。
Next, the operation of the optical pulse tester configured as described above will be described. Optical pulse drive circuit 3
When the optical switch 4 is driven to switch by
The coherent light continuously emitted from the coherent light source 1 is supplied to the measured optical fiber 14 as probe pulse light.

【0029】被測定光ファイバ14に対してプローブパ
ルス光が供給されると、これに伴って被測定光ファイバ
14からは後方散乱光およびフレネル反射光が光学スイ
ッチ4側に戻ってくる。この反射光は光学スイッチ4を
介して光分岐結合器6に入力される。
When the probe pulse light is supplied to the measured optical fiber 14, the backscattered light and Fresnel reflected light are returned from the measured optical fiber 14 to the optical switch 4 side. This reflected light is input to the optical branching / coupling device 6 via the optical switch 4.

【0030】光分岐結合器6では被測定光ファイバ14
からの反射光と、特に偏光制御器5を操作せずにコヒー
レント光源1より供給されるローカル光とをミキシング
してO/E変換器7に出力する。このとき、後方散乱光
は偏光成分がランダムに変化して平均化されるため、ロ
ーカル光の偏光状態に依存することなく光分岐結合器で
ミキシングされた後のO/E変換出力はほぼ一定になる
が、フレネル反射光は偏光成分が維持されるため、ロー
カル光の偏光状態によってミキシングされた後のO/E
変換出力が変化し、その出力はローカル光と偏光状態が
一致した所で最大となる。
In the optical branching / coupling device 6, the optical fiber 14 under test is measured.
And the local light supplied from the coherent light source 1 without operating the polarization controller 5, and outputs the mixed light to the O / E converter 7. At this time, since the polarization components of the backscattered light are randomly changed and averaged, the O / E conversion output after being mixed by the optical branching coupler is almost constant without depending on the polarization state of the local light. However, since the polarization component of the Fresnel reflected light is maintained, the O / E after mixing is performed depending on the polarization state of the local light.
The conversion output changes, and the output becomes maximum when the polarization state matches the local light.

【0031】次に、O/E変換器7ではミキシングされ
た光を電気信号(IF信号)に変換して交流増幅器8に
出力し、交流増幅器8ではO/E変換器7からのIF信
号をAC増幅してフィルタ9に出力する。
Next, the O / E converter 7 converts the mixed light into an electric signal (IF signal) and outputs the electric signal to the AC amplifier 8. The AC amplifier 8 outputs the IF signal from the O / E converter 7. AC-amplified and output to the filter 9.

【0032】フィルタ9ではAC増幅されたIF信号の
所定周波数(光学スイッチ4の駆動周波数)成分の信号
を通過させてA/D変換器10に出力する。
The filter 9 passes a signal of a predetermined frequency component (driving frequency of the optical switch 4) of the AC amplified IF signal and outputs it to the A / D converter 10.

【0033】A/D変換器10では基準トリガ発生回路
2からの測定開始トリガのタイミングに従ってフィルタ
9を通過した信号を所定のサンプリング周期でサンプリ
ングし、このサンプリングデータを自乗加算器11に出
力する。
The A / D converter 10 samples the signal that has passed through the filter 9 at a predetermined sampling period in accordance with the timing of the measurement start trigger from the reference trigger generation circuit 2, and outputs this sampling data to the square adder 11.

【0034】自乗加算器11ではA/D変換器10でサ
ンプリングされたデータを自乗加算して平均化し、この
平均値データを対数変換器12に出力する。
The square adder 11 squares and adds the data sampled by the A / D converter 10 and averages them, and outputs the average value data to the logarithmic converter 12.

【0035】対数変換器12では被測定光ファイバ14
に対して次のプローブパルス光が供給されるまでの間
に、自乗加算器11からの平均値データを対数変換す
る。そして、この変換に基づく波形データは表示器13
に出力されて表示画面上に表示される(図2(b)参
照)。
In the logarithmic converter 12, the measured optical fiber 14
Meanwhile, the average value data from the square adder 11 is logarithmically converted until the next probe pulse light is supplied. The waveform data based on this conversion is displayed on the display unit 13.
And is displayed on the display screen (see FIG. 2B).

【0036】次に、表示器13の波形を観測しながら、
目標とするフレネル反射光のレベルを見ながら位置を選
定して偏光制御器5を操作し、ローカル光の偏光状態を
可変制御する。これにより、被測定光ファイバ14から
のフレネル反射光は、ローカル光の偏光状態を変えるこ
とで、互いの偏光成分がずれてローカル光と干渉しなく
なると、図2(a)に示すように検波後のフレネル反射
光のレベルが低下する。
Next, while observing the waveform of the display 13,
The polarization controller 5 is operated by observing the target level of the Fresnel reflected light and the polarization controller 5 is operated to variably control the polarization state of the local light. As a result, when the Fresnel reflected light from the optical fiber 14 to be measured changes the polarization state of the local light so that the polarized components of the Fresnel reflected light deviate from each other and do not interfere with the local light, as shown in FIG. The level of the Fresnel reflected light afterward is reduced.

【0037】なお、後方散乱光は偏光成分がランダムに
変化して平均化されるので、この部分における検波後の
レベルはほとんど変化することはなく、O/E変換器7
以降の処理は上記と同様に行われる。
Since the polarization component of the backscattered light changes randomly and is averaged, the level after detection in this portion hardly changes, and the O / E converter 7
Subsequent processing is performed in the same manner as above.

【0038】従って、上述した実施例によれば、被測定
光ファイバ14からの反射光とミキシングされるローカ
ル光の偏光状態を、目標とするフレネル反射光毎に可変
制御する偏光制御器5を備えた構成なので、フィルタの
ステップ応答特性によるスソヒキで測定が不可能であっ
たフレネル反射光の直後の後方散乱光の波形を観測して
測定を行うことができる。この結果、例えば直列に接続
された個々の装置に対して複数の端末が一本の伝送路で
接続されたスター型のネットワークにおいて、複数ある
何れの接続点で切断、障害等の異常が発生しても、その
場所を確実に特定して高精度な測定を行うことができ
る。
Therefore, according to the above-described embodiment, the polarization controller 5 is provided for variably controlling the polarization state of the reflected light from the optical fiber 14 to be measured and the mixed local light for each target Fresnel reflected light. With this configuration, it is possible to perform measurement by observing the waveform of the backscattered light immediately after the Fresnel reflected light, which could not be measured due to the step response characteristic of the filter. As a result, for example, in a star type network in which a plurality of terminals are connected to a single device connected in series by one transmission line, an abnormality such as disconnection or failure occurs at any of a plurality of connection points. However, it is possible to reliably specify the location and perform highly accurate measurement.

【0039】次に、図3は本発明による光パルス試験器
の他の実施例を示すブロック図である。なお、偏光制御
器を除く図1の光パルス試験器と同一の構成部分につい
ては省略している。
Next, FIG. 3 is a block diagram showing another embodiment of the optical pulse tester according to the present invention. The same components as those of the optical pulse tester of FIG. 1 except the polarization controller are omitted.

【0040】この実施例の光パルス試験器は、前述した
実施例が個々のフレネル反射毎に位置を選定してローカ
ル光の偏光状態を可変制御する構成であったのに対し、
偏光制御器5に加えて、予め所定距離毎に異なる複数の
偏光状態を示すデータが記憶された偏光データ記憶部1
5と、偏光データ記憶部15のデータに基づいて所定距
離毎に偏光制御器5を駆動してローカル光の偏光状態を
可変制御する偏光駆動部16を備えている。
The optical pulse tester of this embodiment has a configuration in which the polarization state of the local light is variably controlled by selecting the position for each Fresnel reflection in the above-mentioned embodiment.
In addition to the polarization controller 5, a polarization data storage unit 1 in which data indicating a plurality of polarization states different for each predetermined distance is stored in advance.
5 and a polarization drive unit 16 that drives the polarization controller 5 at predetermined intervals based on the data in the polarization data storage unit 15 to variably control the polarization state of the local light.

【0041】この構成によれば、表示器13の表示画面
上の波形を観測することなく、検波後のフレネル反射光
のレベルを自動的に低下させて各フレネル反射直後の状
態を短時間で測定することができる。また、スター型の
ネットワークにおける接続点が同時に切断、障害等の異
常を起こしても、その場所を特定して測定が行え、さら
に測定精度の向上が図れる。
According to this structure, the level of the Fresnel reflected light after detection is automatically lowered without observing the waveform on the display screen of the display 13, and the state immediately after each Fresnel reflection is measured in a short time. can do. Further, even if the connection points in the star-shaped network are simultaneously disconnected or an abnormality such as a failure occurs, the location can be specified and the measurement can be performed, and the measurement accuracy can be further improved.

【0042】ところで、上述した実施例では、偏光制御
器5をコヒーレント光源1と光分岐結合器6との間に設
けてローカル光の偏光状態を可変制御する構成について
説明したが、被測定光ファイバ14から反射される後方
散乱光の偏光成分がランダムに変化して平均化され、ロ
ーカル光の偏光状態に依存しないことから、偏光制御器
5を光学スイッチ4と光分岐結合器6との間に設け、ロ
ーカル光とフレネル反射光の偏光成分がずれて干渉しな
いように被測定光ファイバ14からの反射光の偏光状態
を可変制御する構成としてもよい。また、コヒーレント
光源1と光分岐結合器6との間、光学スイッチ4と光分
岐結合器6との間の両方に偏光制御器5を設けてもよ
い。
By the way, in the above-mentioned embodiment, the polarization controller 5 is provided between the coherent light source 1 and the optical branching / coupling device 6 to variably control the polarization state of the local light. Since the polarization components of the backscattered light reflected from 14 are randomly changed and averaged and do not depend on the polarization state of the local light, the polarization controller 5 is placed between the optical switch 4 and the optical branching / coupling device 6. The polarization state of the reflected light from the optical fiber 14 to be measured may be variably controlled so that the polarized components of the local light and the Fresnel reflected light do not shift and interfere with each other. Further, the polarization controller 5 may be provided both between the coherent light source 1 and the optical branching / coupling device 6 and between the optical switch 4 and the optical branching / coupling device 6.

【0043】[0043]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の光パルス
試験器によれば、フィルタのステップ応答特性によるス
ソヒキ現象で測定不可能であったフレネル反射直後の後
方散乱光の波形観測を行うことができるので、被測定光
ファイバに複数の接続点がある場合でも、切断、障害等
の異常が発生した接続点を確実に特定して高精度な測定
を行うことができる。また、特に、請求項2の発明によ
れば、複数のポイントを自動的に測定できるとともに、
検波後のフレネル反射光のレベルが自動的に低下して各
フレネル反射直後の状態を短時間で測定することがで
き、さらに測定精度を向上させることができる。
As described above, according to the optical pulse tester of the present invention, the waveform of the backscattered light immediately after Fresnel reflection, which cannot be measured due to the Sosohiki phenomenon due to the step response characteristic of the filter, can be observed. Therefore, even if the optical fiber to be measured has a plurality of connection points, it is possible to reliably specify the connection point where an abnormality such as disconnection or failure has occurred and perform high-precision measurement. Moreover, in particular, according to the invention of claim 2, a plurality of points can be automatically measured, and
The level of the Fresnel reflected light after detection is automatically lowered, and the state immediately after each Fresnel reflection can be measured in a short time, and the measurement accuracy can be further improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明による光パルス試験器の一実施例を示す
ブロック図
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of an optical pulse tester according to the present invention.

【図2】(a)ローカル光の偏光状態を変えた後のフレ
ネル反射光の波形図 (b)ローカル光の偏光状態を変える前のフレネル反射
光の波形図
FIG. 2A is a waveform diagram of Fresnel reflected light after changing the polarization state of local light. FIG. 2B is a waveform diagram of Fresnel reflected light before changing the polarization state of local light.

【図3】同光パルス試験器の他の実施例を示すブロック
FIG. 3 is a block diagram showing another embodiment of the optical pulse tester.

【図4】従来の光パルス試験器の一例を示すブロック図FIG. 4 is a block diagram showing an example of a conventional optical pulse tester.

【図5】(a)光パルス試験器と被測定光ファイバとの
接続状態を示す図 (b)同接続状態における波形図
FIG. 5A is a diagram showing a connection state between an optical pulse tester and an optical fiber to be measured. FIG. 5B is a waveform diagram in the connection state.

【図6】(a)フレネル反射光のコヒーレント検波後の
信号を示す図 (b)検波した信号のバンドパスフィルタ通過後の信号
を示す図 (c)検波した信号のローパスフィルタ通過後の信号を
示す図
6A is a diagram showing a signal after coherent detection of Fresnel reflected light, FIG. 6B is a diagram showing a signal of the detected signal after passing through a bandpass filter, and FIG. 6C is a diagram showing a signal of the detected signal after passing through a lowpass filter. Figure

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…コヒーレント光源、4…光スイッチ、5…偏光制御
器(偏光制御手段)、6…光分岐結合器、9…フィル
タ、14…被測定光ファイバ、15…偏光データ記憶部
(記憶手段)、16…偏光駆動部(偏光制御手段)。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Coherent light source, 4 ... Optical switch, 5 ... Polarization control device (polarization control means), 6 ... Optical branching / coupling device, 9 ... Filter, 14 ... Optical fiber to be measured, 15 ... Polarization data storage section (storage means), 16 ... Polarization drive section (polarization control means).

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 古川 眞一 東京都千代田区内幸町一丁目1番6号 日 本電信電話株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Shinichi Furukawa 1-1-6 Uchisaiwaicho, Chiyoda-ku, Tokyo Nihon Telegraph and Telephone Corporation

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 コヒーレントなプローブパルス光の供給
に伴う被測定光ファイバからの反射光と、コヒーレント
なローカル光とによってコヒーレント検波された信号
を、所定の周波数成分を抽出するフィルタを通過させて
信号処理し、前記被測定光ファイバの光損失や障害点等
を測定する光パルス試験器において、前記ローカル光あ
るいは前記反射光の少なくとも一方の偏光状態を可変す
る偏光制御手段を備えたことを特徴とする光パルス試験
器。
1. A signal coherently detected by reflected light from an optical fiber to be measured accompanying supply of coherent probe pulse light and coherent local light is passed through a filter for extracting a predetermined frequency component, and then the signal is passed. In the optical pulse tester for processing and measuring the optical loss and the fault point of the optical fiber to be measured, a polarization control means for varying the polarization state of at least one of the local light and the reflected light is provided. Optical pulse tester.
【請求項2】 コヒーレントなプローブパルス光の供給
に伴う被測定光ファイバからの反射光と、コヒーレント
なローカル光とによってコヒーレント検波された信号
を、所定の周波数成分を抽出するフィルタを通過させて
信号処理し、前記被測定光ファイバの光損失や障害点等
を測定する光パルス試験器において、予め所定距離毎に
異なる複数の偏光状態を示すデータが記憶された記憶手
段と、該記憶手段のデータに基づいて前記ローカル光あ
るいは前記反射光の少なくとも一方の偏光状態を自動的
に可変する偏光制御手段とを備えたことを特徴とする光
パルス試験器。
2. A signal coherently detected by reflected light from an optical fiber to be measured accompanying supply of coherent probe pulse light and coherent local light is passed through a filter for extracting a predetermined frequency component, and then the signal is passed. In the optical pulse tester for processing and measuring the optical loss or the fault point of the optical fiber to be measured, storage means in which data indicating a plurality of polarization states different for each predetermined distance are stored in advance, and data of the storage means And a polarization control means for automatically changing the polarization state of at least one of the local light and the reflected light based on the above.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2008215830A (en) * 2007-02-28 2008-09-18 Ntt Docomo Inc Specific absorption rate measuring device and method
JP2013148509A (en) * 2012-01-20 2013-08-01 Canon Inc Image processing device and image processing method

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