JPH061299B2 - Microscope sample warmer - Google Patents

Microscope sample warmer

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JPH061299B2
JPH061299B2 JP6177084A JP6177084A JPH061299B2 JP H061299 B2 JPH061299 B2 JP H061299B2 JP 6177084 A JP6177084 A JP 6177084A JP 6177084 A JP6177084 A JP 6177084A JP H061299 B2 JPH061299 B2 JP H061299B2
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temperature
sample
temperature sensor
microscope
observation
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到 遠藤
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    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/24Base structure
    • G02B21/30Base structure with heating device

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は、顕微鏡の載物台上に配設された試料の特に観
察部分を所定温度に制御するようにした顕微鏡の試料保
温装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a sample heat retaining device for a microscope, in which an observation portion of a sample arranged on a stage of the microscope is controlled to a predetermined temperature.

従来技術 従来、この種顕微鏡の試料保温装置としては、例えば実
公昭57−41774号公報によるものが知られてお
り、これは温度センサーが試料の近傍で且つ顕微鏡によ
る観察の妨げにならないような位置に設けられていて、
この温度センサーからの出力信号により制御装置が試料
を所定温度に保温するようになつている。しかしなが
ら、例えば培養細胞を顕微鏡により観察する場合、一般
に使用されている培養観察容器は、観察視野に比べてか
なり大きいので、該培養観察容器のすぐ傍に温度センサ
ーを配設しても観察位置との検出位置との間に大きな温
度差が生じてしまい、従つて正確な温度制御を行なうこ
とが困難であり、また観察位置の近傍の温度を検出する
ために温度センサーを培養観察容器内に設けることは、
該温度セサーによる培養観察容器内への雑菌の混入の危
険性があり而も観察の度に該温度センサーの洗浄及び滅
菌が必要になる等、非常に問題があり好ましくない。
2. Description of the Related Art Conventionally, as a sample heat-retaining device for this type of microscope, for example, a device disclosed in Japanese Utility Model Publication No. 57-41774 has been known. Is installed in
The control device keeps the sample at a predetermined temperature by the output signal from the temperature sensor. However, for example, when observing cultured cells with a microscope, the culture observation container that is generally used is considerably larger than the observation field of view, so even if a temperature sensor is arranged in the immediate vicinity of the culture observation container, the observation position is There is a large temperature difference with the detection position, which makes it difficult to perform accurate temperature control, and a temperature sensor is installed in the culture observation container to detect the temperature near the observation position. The thing is
There is a risk that various bacteria will be mixed into the culture observation container by the temperature sensor, and the cleaning and sterilization of the temperature sensor will be required each time the observation is performed.

目的 本発明は、以上の点に鑑み、顕微鏡を載物台上に配設さ
れた試料に影響を及ぼすことなく該試料を所定温度に正
確に制御し得るようにした顕微鏡の試料保温装置を提供
することを目的としている。
In view of the above points, the present invention provides a sample heat retaining device for a microscope, which enables the microscope to be accurately controlled to a predetermined temperature without affecting the sample disposed on a stage. The purpose is to do.

概要 この目的は、載物台上に配設された試料の観察部分の近
傍位置即ち第一の位置における第一の温度と該第一の位
置とは異なり而も前記試料の観察部分の温度の影響下に
在る第二の位置における第二の温度との間の相関データ
が前以て記憶されている制御装置と、該第二の温度を検
出するための第一の温度センサーとを含んでおり、該第
一の温度センサーからの出力信号により前記相関データ
に基づき該制御装置が試料特にその観察部分を所定温度
に制御するように加熱手段または冷却手段を温度制御す
るようにしたことを特徴とする、顕微鏡の試料保温装置
により解決される。
Outline This purpose is different from the first temperature at the position near the observation portion of the sample arranged on the stage, that is, the first position and the first position. A controller having prestored correlation data between a second temperature at an affected second position and a first temperature sensor for detecting the second temperature. The control device controls the temperature of the heating means or the cooling means based on the correlation data based on the output signal from the first temperature sensor so as to control the sample, particularly the observation portion thereof, to a predetermined temperature. It is solved by the feature of the sample sample heat retaining device.

さらに本発明により顕微鏡の試料保温装置は好ましくは
第一及び第二の位置とは異なる第三の位置における顕微
鏡の周囲温度を検出するための第二の温度センサーを含
んでいて、第一及び第二の温度センサーからの出力信号
に対応して制御装置が相関データに基づき加熱手段また
は冷却手段を温度制御するように構成されている。
Further according to the present invention the microscope sample warming device preferably comprises a second temperature sensor for detecting the ambient temperature of the microscope at a third position different from the first and second positions, The control device is configured to control the temperature of the heating means or the cooling means based on the correlation data in response to the output signal from the second temperature sensor.

実施例 以下図面に示した実施例に基づき本発明を説明すれば、
第1図及び第2図は倒立型顕微鏡に本発明を適用した場
合の実施例であり、1は倒立型顕微鏡の載物台、2は載
物台の一部として構成されまたはこれに取付けられた発
熱部、3は倒立型顕微鏡の対物レンズ、4は載物台1の
発熱部2の上面に載置された培養観察容器で、中には観
察すべき培養細胞等の試料が入つている。5は観察前に
培養観察容器4内の試料の観察部分の近傍位置即ち第一
の位置に設けられていて且つ該第一の位置の温度を検出
する基準温度センサー、6は該第一の位置とは異なり而
も前記試料の観察部分の温度即ち基準送度センサー5に
より検出される温度の影響下にある第二の位置(この実
施例の場合には発熱部2の上面)に設けられていて且つ
該第二の位置の温度を検出する第一の温度センサー、7
は例えば前記試料の観察部分の温度即ち基準温度センサ
ー5により検出される温度の影響を受けない第三の位置
(この実施例の場合には載物台1の下方)に設けられて
いて且つ該第三の位置の温度即ち顕微鏡の周囲温度例え
ば照明光源付近の温度等を検出するための第二の温度セ
ンサーである。
EXAMPLES The present invention will be described based on examples shown in the drawings below.
1 and 2 show an embodiment in which the present invention is applied to an inverted microscope, in which 1 is a stage for an inverted microscope, and 2 is configured as a part of the stage or attached to the stage. A heat generating part, 3 is an objective lens of an inverted microscope, and 4 is a culture observation container placed on the upper surface of the heat generating part 2 of the stage 1. The sample contains culture cells to be observed. . Reference numeral 5 is a reference temperature sensor which is provided in the vicinity of the observation portion of the sample in the culture observation container 4 before the observation, that is, a first position and which detects the temperature at the first position, and 6 is the first position Unlike the above, it is provided at the second position (in the case of this embodiment, the upper surface of the heat generating portion 2) under the influence of the temperature of the observed portion of the sample, that is, the temperature detected by the reference sending sensor 5. And a first temperature sensor for detecting the temperature of the second position, 7
Is provided, for example, at a third position (below the stage 1 in the case of this embodiment) that is not affected by the temperature of the observation portion of the sample, that is, the temperature detected by the reference temperature sensor 5. A second temperature sensor for detecting the temperature at the third position, that is, the ambient temperature of the microscope, for example, the temperature near the illumination light source.

第3図は発熱部2の温度制御を行なう制御装置の一例の
ブロツク図であり、8は後述する制御回路により切換え
られるスイツチS1及び各温度センサー5,6,7に接続
されたアナログスイッチAG1,AG2,AG3とから成る選択
回路、9は温度設定回路、10はコンパレータ、11は
アンプ、12は発熱部2の温度制御を行なうための制御
回路、13は記憶回路、14は各温度センサーにより検
出された温度を表示し得る表示装置、15はA/Dコンバ
ータである。
FIG. 3 is a block diagram of an example of a control device for controlling the temperature of the heat generating portion 2, and 8 is a switch S 1 which can be switched by a control circuit described later and an analog switch AG1 connected to each temperature sensor 5, 6, 7. , AG2, AG3, 9 is a temperature setting circuit, 10 is a comparator, 11 is an amplifier, 12 is a control circuit for controlling the temperature of the heating portion 2, 13 is a memory circuit, and 14 is a temperature sensor. A display device capable of displaying the detected temperature, and 15 is an A / D converter.

本発明実施例は以上のように構成されているから、先づ
温度制御の初期設定を行なう場合には、第2図に示され
ているように載物台1の発熱部2の上面に試料例えば培
養細胞の入つている培養観察容器4を載置し、培養観察
容器4内の試料の観察部分の近傍位置即ち第一の位置に
基準温度センサー5を設置して、第一の位置における第
一の温度と第二の位置における第二の温度との間の相関
データの記録を行なうが、これは選択回路8のスイツチ
S1を切換えて基準温度センサー5の出力がコンパレータ
10の一方の入力端子に入力されるようにし且つスイツ
チS2をコンパレータ10側の端子aに切換え温度設定回
路9により所定温度を設定して制御回路12により発熱
部2を温度制御し、該基準温度センサー5により検出さ
れる第一の温度が前記所定温度に達したことを表示装置
14で確認したとき、この温度が記憶回路13に入力さ
れ、その後選択回路8のスイツチS1を第一の温度センサ
ー6側に切換えてこのときの該温度センサー6により検
出される第二の温度が表示装置14に表示されると共に
記憶回路13に入力され、前記所定温度における第一の
温度と第二の温度との間の相関データが記憶装置13内
に記憶され、さらに所定温度を種々に変更することによ
り、第一の温度と第二の温度との間の相関データが記憶
装置13内に記憶されることになる。以上で温度制御の
初期設定が完了するが、次に試料の観察を行なう場合に
は、基準温度センサー5は培養観察容器4内から取除か
れていて、従って顕微鏡の観察視野内には観察すべき試
料のみが存在することになり、また選択回路8のスイッ
チSを切換えて第一の温度センサー6の出力がコンパ
レータ10の一方の入力端子及びA/Dコンバータ15
に入力されるようにし、温度設定回路9を制御しようと
する所定温度即ち第一の温度に対応する位置に設定し且
つスイッチSを制御回路12側の端子bに切換える。
これにより第一の温度センサー6の出力は選択回路8を
介してA/Dコンバータ15によりデジタル値に変換さ
れて制御回路12に入力され、また、温度設定回路9か
らの電圧は制御回路12に印加され該制御回路12内の
図示しないA/Dコンバータによりデジタル値に変換さ
れ制御回路12はこのデジタル値に基づき、前記第一の
温度に対応する第二の温度を記憶装置13から読出し、
そのデジタル値とA/Dコンバータ15から入力された
デジタル値とを該制御回路12内の図示しない比較回路
で比較し、この比較データを発熱部2に出力することに
より、発熱部2の上面の第二の位置の温度を所定温度に
対応する第二の温度に制御することによつて、培養観察
容器4内の試料の観察部分の近傍位置即ち第一の位置を
所定温度に制御する。尚、同一の培養観察容器及び所定
量の試料を使用して観察する場合には、基準温度センサ
ー5を再び設置することなく、記憶された前記送関デー
タに基づき本実施例により適正な温度制御が行なわれ得
る。
Since the embodiment of the present invention is configured as described above, when the temperature control is initially initialized, the sample is placed on the upper surface of the heating portion 2 of the stage 1 as shown in FIG. For example, the culture observation container 4 containing the cultured cells is placed, the reference temperature sensor 5 is installed at a position near the observation portion of the sample in the culture observation container 4, that is, the first position, and the reference temperature sensor 5 is installed at the first position. The recording of the correlation data between the first temperature and the second temperature at the second position is carried out by means of the switch of the selection circuit 8.
Output is set to one so as to be inputted to the input terminal and a predetermined temperature by the switching temperature setting circuit 9 to switch S 2 of the comparator 10 side to the terminal a of the comparator 10 controls the reference temperature sensor 5 by switching the S 1 When the temperature of the heat generating portion 2 is controlled by the circuit 12 and the display device 14 confirms that the first temperature detected by the reference temperature sensor 5 has reached the predetermined temperature, this temperature is input to the memory circuit 13. After that, the switch S 1 of the selection circuit 8 is switched to the first temperature sensor 6 side, and the second temperature detected by the temperature sensor 6 at this time is displayed on the display device 14 and input to the storage circuit 13. , The correlation data between the first temperature and the second temperature at the predetermined temperature is stored in the storage device 13, and the predetermined temperature is changed variously to change the first temperature and the second temperature. Correlation data between the temperature will be stored in the storage device 13. Although the initial setting of the temperature control is completed as described above, when the sample is to be observed next time, the reference temperature sensor 5 is removed from the culture observation container 4, and therefore, the observation is made within the observation field of the microscope. Only the sample to be analyzed is present, and the switch S 1 of the selection circuit 8 is switched to change the output of the first temperature sensor 6 to one input terminal of the comparator 10 and the A / D converter 15
The temperature setting circuit 9 is set to a position corresponding to a predetermined temperature to be controlled, that is, the first temperature, and the switch S 2 is switched to the terminal b on the control circuit 12 side.
As a result, the output of the first temperature sensor 6 is converted into a digital value by the A / D converter 15 via the selection circuit 8 and input to the control circuit 12, and the voltage from the temperature setting circuit 9 is input to the control circuit 12. The applied voltage is converted into a digital value by an A / D converter (not shown) in the control circuit 12, and the control circuit 12 reads the second temperature corresponding to the first temperature from the storage device 13 based on the digital value.
The digital value and the digital value input from the A / D converter 15 are compared by a comparison circuit (not shown) in the control circuit 12, and this comparison data is output to the heat generating section 2 so that the upper surface of the heat generating section 2 By controlling the temperature of the second position to the second temperature corresponding to the predetermined temperature, the position in the vicinity of the observed portion of the sample in the culture observation container 4, that is, the first position is controlled to the predetermined temperature. In the case of observing using the same culture observation container and a predetermined amount of sample, proper temperature control is performed by the present embodiment based on the stored customs data without re-installing the reference temperature sensor 5. Can be done.

また、第二の温度センサー7により検出された顕微鏡の
周囲温度を利用して、基準温度センサー5及び第一の温
度センサー6により検出された第一の温度及び第二の温
度を前記周囲温度との温度偏差として制御を行なうよう
にすれば、該周囲温度の影響を受けないより適正な温度
制御が行なわれ得る。
Further, by using the ambient temperature of the microscope detected by the second temperature sensor 7, the first temperature and the second temperature detected by the reference temperature sensor 5 and the first temperature sensor 6 are referred to as the ambient temperature. If the control is performed as the temperature deviation of, the temperature can be controlled more appropriately without being affected by the ambient temperature.

第4図は培養観察容器としてマイクロテストプレート2
0を使用した場合を示していて、この場合、基準温度セ
ンサー5はマイクロテストプレート20の観察位置にあ
るセル20a内に配設され、また第一の温度センサー6
はセル20a以外のセル(第4図の場合セル20aの隣
りのセル)20b内に配設されており、その制御は第1図
乃至第3図の実施例と同様である。
Figure 4 shows the micro test plate 2 as a culture observation container.
0 is used. In this case, the reference temperature sensor 5 is arranged in the cell 20a at the observation position of the microtest plate 20, and the first temperature sensor 6 is used.
Are arranged in cells (cells next to the cell 20a in FIG. 4) 20b other than the cell 20a, and the control thereof is the same as that of the embodiment of FIGS. 1 to 3.

尚、以上の説明では顕微鏡の載物台の一部を発熱部とし
て構成した場合について説明したが、載物台の上面に保
温室を形成し該保温室内の空気を加温する保温装置の場
合にも、また以上のような加熱手段の代りに冷却手段を
備えている場合にも、本発明を適用することができ、ま
た試料は培養細胞に限らず細菌類や金属試料等であつて
もよい。また温度センサーは各々他の位置に配設しても
よく、さらに多数の温度センサーを配設し且つ発熱部を
分割制御し得るようにして観察視野内の温度分布を任意
に制御することもできる。さらにまた第2図の制御装置
は一例を示したもので、他の構成の制御装置でもよく、
特にマイクロコンピユータを組込んだ場合には複雑なプ
ログラム制御機能を実行することも可能になる。
In the above description, a case where a part of the stage of the microscope is configured as a heat generating part has been described, but in the case of a heat retaining device that forms a greenhouse on the upper surface of the stage and heats the air in the greenhouse. Also, the present invention can be applied to the case where a cooling means is provided instead of the heating means as described above, and the sample is not limited to cultured cells, but may be bacteria or a metal sample. Good. Further, the temperature sensors may be arranged at different positions, respectively. Further, a large number of temperature sensors may be arranged and the heat generating portion may be dividedly controlled to arbitrarily control the temperature distribution in the observation visual field. . Furthermore, the control device shown in FIG. 2 is an example, and a control device having another configuration may be used.
Especially when a microcomputer is incorporated, it is possible to execute a complicated program control function.

発明の効果 以上述べたように本発明によれば、載物台上に配設され
た試料の観察部分の近傍位置即ち第一の位置における第
一の温度と該第一の位置とは異なり而も前記試料の観察
部分の温度の影響下に存る第二の位置における第二の温
度との間の送関データが前以て記憶されているから、観
察時に温度センサーが顕微鏡の載物台上に配設された試
料に影響を及ぼすことなく該試料を所定温度に正確に制
御することができ、極めて効果的である。
EFFECTS OF THE INVENTION As described above, according to the present invention, the first temperature and the first position in the vicinity of the observation portion of the sample arranged on the stage, that is, the first position are different from each other. Since the customs data with the second temperature at the second position under the influence of the temperature of the observation portion of the sample is stored in advance, the temperature sensor is used as a microscope stage during observation. This is extremely effective because the sample can be accurately controlled to a predetermined temperature without affecting the sample disposed above.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明を適用した倒立型顕微鏡の側面図、第2
図は本発明による顕微鏡の試料保温装置の一実施例を示
す概略断面図、第3図は第1図の実施例のための制御装
置の一例を示すブロツク図、第4図はマイクロテストプ
レートを使用する場合の本発明実施例を示す概略断面図
である。 1…倒立型顕微鏡の載物台、2…発熱部、3…対物レン
ズ、4…培養観察容器、5…基準温度センサー、6,7
…温度センサー、8…選択回路、9…温度設定回路、1
0…コンパレータ、11…アンプ、12…制御回路、1
3…記憶回路、14…表示装置、15…A/Dコンバー
タ、20…マイクロテストプレート。
FIG. 1 is a side view of an inverted microscope to which the present invention is applied, and FIG.
FIG. 3 is a schematic sectional view showing an embodiment of a sample heat retaining device of a microscope according to the present invention, FIG. 3 is a block diagram showing an example of a control device for the embodiment of FIG. 1, and FIG. It is a schematic sectional drawing which shows the Example of this invention at the time of using. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Inverted microscope stage, 2 ... Heating part, 3 ... Objective lens, 4 ... Culture observation container, 5 ... Reference temperature sensor, 6, 7
... Temperature sensor, 8 ... Selection circuit, 9 ... Temperature setting circuit, 1
0 ... Comparator, 11 ... Amplifier, 12 ... Control circuit, 1
3 ... Memory circuit, 14 ... Display device, 15 ... A / D converter, 20 ... Micro test plate.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 遠藤 到 東京都渋谷区幡ヶ谷2の43の2 オリンパ ス光学工業株式会社内 (72)発明者 島田 佳弘 東京都渋谷区幡ヶ谷2の43の2 オリンパ ス光学工業株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor To Toru Shibuya-ku, Tokyo, 43-2 2 Olympus Optical Industry Co., Ltd. (72) Inventor Yoshihiro Shimada 2-4, Hatagaya, Shibuya-ku, Tokyo Olympus Optical Industry Co., Ltd.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】載物台上に配設された試料の観察部分の近
傍位置即ち第一の位置における第一の温度と該第一の位
置とは異なり而も前記試料の観察部分の温度の影響下に
在る第二の位置における第二の温度との間の相関データ
が前以て記憶されている制御装置と、該第二の温度を検
出するための第一の温度センサーとを含んでおり、該第
一の温度センサーからの出力信号により前記相関データ
に基づき該制御装置が試料特にその観察部分を所定温度
に制御するように加熱手段または冷却手段を温度制御す
るようにしたことを特徴とする、顕微鏡の試料保温装
置。
1. A first temperature at a position in the vicinity of an observation portion of a sample arranged on a stage, that is, at a first position and a temperature of the observation portion of the sample different from the first position. A controller having prestored correlation data between a second temperature at an affected second position and a first temperature sensor for detecting the second temperature. The control device controls the temperature of the heating means or the cooling means based on the correlation data based on the output signal from the first temperature sensor so as to control the sample, particularly the observation portion thereof, to a predetermined temperature. Characteristic, sample sample heat retention device.
【請求項2】第一及び第二の位置とは異なる第三の位置
における顕微鏡を周囲温度を検出するための第二の温度
センサーを含んでいて、第一及び第二の温度センサーか
らの出力信号に対応して制御装置が相関データに基づき
加熱手段または冷却手段を温度制御するようにしたこと
を特徴とする、特許請求の範囲(1)に記載の顕微鏡の試
料保温装置。
2. A second temperature sensor for detecting ambient temperature of a microscope at a third position different from the first and second positions, the outputs from the first and second temperature sensors. The sample sample heat retaining device according to claim (1), wherein the control device controls the temperature of the heating means or the cooling means based on the correlation data in response to the signal.
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