JPH06104875A - シリアルポート - Google Patents

シリアルポート

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JPH06104875A
JPH06104875A JP4254665A JP25466592A JPH06104875A JP H06104875 A JPH06104875 A JP H06104875A JP 4254665 A JP4254665 A JP 4254665A JP 25466592 A JP25466592 A JP 25466592A JP H06104875 A JPH06104875 A JP H06104875A
Authority
JP
Japan
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data
serial data
serial
circuit
parity
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP4254665A
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English (en)
Inventor
Makoto Mogi
誠 茂木
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Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 パリティエラーチェック機能とフレーミング
エラーチェック機能を含めたシリアルポートの全機能の
テストを簡便に行う。 【構成】 パリティエラーチェック機能やフレーミング
エラーチェック機能等をテストする場合、出力端子OU
Tと入力端子INを接続し、テスト用の並列データを送
信データレジスタ41に書き込むと、その並列データが
送信シフトレジスタ45で直列データに変換される。こ
の際、パリティビット設定フラグ44及びEXOR43
により、直列データを構成するパリティビットの状態が
任意に設定され、さらにストップビット設定フラグ46
により、該直列データを構成するストップビットの状態
が任意に設定される。設定された直列データは、OUT
及びINを介して直列データ受信回路50側へ送られ、
全機能テストが行われる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、並列データを直列デー
タに変換して送信し、また直列データを受信して並列デ
ータに変換する機能を有するシリアルポート、特に、パ
リティエラーチェック、フレーミングエラーチェック等
のテスト機能を備えたシリアルポートに関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】シリアルポートは、並列データを直列デ
ータに変換して送信し、また直列データを受信して並列
データに変換する機能を有するもので、少ない信号線で
装置間のデータ転送を可能とする。この種のシリアルポ
ートに関する技術としては、例えば次のような文献に記
載されるものがあり、単体の大規模集積回路(LSI)
として、あるいは1チップマイクロコンピュータ等に周
辺機能として集積され製品化されている。 文献;「日立マイクロコンピュータデータブック 8/
16ビットマイクロコンピュータ周辺LSI」2版(昭
63−2)(株)日立製作所、P.312−328 図2は、前記文献に記載された従来のシリアルポートの
概略の構成ブロック図である。このシリアルポートは、
並列データを直列データに変換して送信する直列データ
送信回路10と、直列データを受信して並列データに変
換する直列データ受信回路20と、該直列データ送信回
路10または直列データ受信回路20とデータバスDB
との入出力等を制御するコントロール回路30とを、備
えている。データバスDBは、図示しないマイクロプロ
セッサのデータバスと接続される。直列データ送信回路
10は、コントロール回路30からの並列データを格納
する送信データレジスタ11と、該送信データレジスタ
11に格納された並列データを直列データに変換して出
力端子OUTから送信する送信シフトレジスタ12と
を、備えている。直列データ受信回路20は、入力端子
INから入力された直列データを受信して並列データに
変換する受信シフトレジスタ21と、該受信シフトレジ
スタ21で変換された並列データを格納する受信データ
レジスタ22とを、備えている。
【0003】次に、図2のシリアルポートの動作を説明
する。直列データを送信する場合、図示しないマイクロ
プロセッサからデータバスDB及びコントロール回路3
0を介して送信データレジスタ11へ並列データが書き
込まれる。書き込まれた並列データは、送信シフトレジ
スタ12へ転送され、そこで直列データに変換され、出
力端子OUTから送信される。また、直列データを受信
する場合、入力端子INから入力された直列データは受
信シフトレジスタ21に取り込まれ、そこで並列データ
に変換されて受信データレジスタ22へ格納される。そ
して、図示しないマイクロプロセッサでは、受信データ
レジスタ22に格納された並列データをコントロール回
路30及びデータバスDBを介して読み出すことができ
る。このようにして送受信される直列データの形式を図
3に示す。図3は、転送データビットにスタートビット
及びストップビットが付加され直列データとして送受信
される調歩同期式シリアルポートのデータ形式である。
例えば、8ビットのデータビットB0〜B7は、“0”
レベルのスタートビットと、“1”レベルのストップビ
ットにはさまれた形となっている。以上のようなシリア
ルポートでは、データの送受信の際のエラー発生に対し
て、パリティエラーチェック、フレーミングエラーチェ
ック、及びオーバーランエラーチェックの3つのチェッ
ク機能が標準的に設けられている。
【0004】図4は、図3に示す直列データにパリティ
ビットが付加された直列データの形式を示す図である。
図4に示すように、パリティチェックは、データビット
B0〜B7とストップビット“1”との間に該データビ
ットに対するパリティビットPを挿入して直列データを
送信し、受信時にはデータビットB0〜B7とパリティ
ビットPを照合して、受信された直列データのビット欠
けの発生を検出するものである。フレーミングエラーチ
ェックは、直列データの受信時に正常に同期がとられて
いるか否かを検出するもので、図3のストップビット
“1”のタイミングで、受信した直列データが“0”レ
ベルのときにフレーミングエラーの発生とする。また、
オーバーランエラーチェックは、受信した直列データが
消失したか否かを検出するもので、図2の受信データレ
ジスタ22に格納されているデータを読み出す前に、次
の直列データが受信シフトレジスタ21に入力されたた
めに、そのデータを受信データレジスタ22へ転送でき
ずに消失した場合にオーバーランエラーの発生とする。
このような直列データの送受信時に関するエラー検出機
能を備えたテストを行う場合、一般的に次のようにして
実行される。図2の直列データ用出力端子OUTと入力
端子INを接続し、適当な送信データを送信データレジ
スタ11に書き込む。これにより、送信シフトレジスタ
12、出力端子OUT、入力端子IN、及び受信シフト
レジスタ21を介して、送信したデータが受信データレ
ジスタ22に格納される。そこで、受信データレジスタ
22に格納された送信データを読み出し、送信したデー
タと照合することによってシリアルポートのテストを行
う。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
シリアルポートでは、次のような課題があった。従来の
シリアルポートでは、正常な送受信状態のテスト、及び
オーバーランエラーチェックの機能のテストは可能であ
る。ところが、パリティエラーチェック、及びフレーミ
ングエラーチェックの機能に関しては、図2の出力端子
OUTからは常に正常な直列データが出力され、その直
列データが入力端子INから入力されるため、該パリテ
ィエラーチェック及びフレーミングエラーチェックのテ
ストが不可能である。そのため、図2の出力端子OUT
と入力端子INを接続する簡便なテスト方法が採用でき
ず、入力端子INに外部から、パリティエラーあるいは
フレーミングエラーを発生させる直列データを入力さ
せ、パリティエラーチェック及びフレーミングエラーチ
ェックのテストをせざるを得なかった。本発明は、前記
従来技術が持っていた課題として、パリティエラーチェ
ック機能とフレーミングエラーチェック機能のテストを
簡便にできないという点について解決したシリアルポー
トを提供するものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】第1の発明は、前記課題
を解決するために、並列データを直列データに変換して
送信する手段、及びパリティビット発生回路で発生させ
たパリティビットを該直列データに付加する手段を有す
る直列データ送信回路と、送られてきた直列データを受
信して並列データに変換する手段、及び該直列データの
パリティチェックを行う手段を有する直列データ受信回
路とを、備えたシリアルポートにおいて、前記パリティ
ビット発生回路の出力を変更して前記直列データを構成
するパリティビットの状態を任意に設定する設定手段
を、設けている。第2の発明では、第1の発明と同様な
直列データ送信回路及び直列データ受信回路を備えた調
歩同期式シリアルポートにおいて、前記パリティビット
発生回路の出力を変更して送信する前記直列データを構
成するパリティビットの状態を任意に設定する第1の設
定手段と、送信する前記直列データを構成するストップ
ビットの状態を任意に設定する第2の設定手段とを、設
けている。
【0007】
【作用】第1の発明によれば、以上のようにシリアルポ
ートを構成したので、直列データ送信回路から出力され
る直列データの出力端子と直列データ受信回路に入力さ
れる直列データの入力端子とを接続し、該直列データ送
信回路内の設定手段により、パリティビット発生回路の
出力を変更して直列データを構成するパリティビットの
状態を任意に設定すれば、その直列データが送信データ
受信回路へ送られ、該送信データ受信回路でパリティエ
ラーチェック機能のテストが簡便に行える。
【0008】第2の発明によれば、第1の発明と同様
に、直列データ送信回路の出力端子と直列データ受信回
路の入力端子とを接続し、該直列データ送信回路内の第
1及び第2の設定手段により、直列データを構成するパ
リティビット及びストップビットの状態を任意に設定す
れば、その直列データが直列データ受信回路へ入力され
る。そのため、直列データ受信回路においてパリティエ
ラーチェック機能及びフレーミングエラーチェック機能
等の全機能テストが簡便に行える。従って、前記課題を
解決できるのである。
【0009】
【実施例】図1は、本発明の実施例を示す調歩同期式シ
リアルポートの概略の構成ブロック図である。このシリ
アルポートは、並列データを直列データに変換して出力
端子OUTより送信する直列データ送信回路40と、入
力端子INより送られてきた直列データを受信して並列
データに変換する直列データ受信回路50と、該直列デ
ータ送信回路40及び直列データ受信回路50とデータ
バスDBとの間の入出力等を制御するコントロール回路
60とを、備えている。直列データ送信回路40は、コ
ントロール回路60から送られてくる並列データを格納
する送信データレジスタ41を有し、その出力側にパリ
ティビット発生回路42が接続されている。パリティビ
ット発生回路42は、送信データレジスタ41の出力に
基づきパリティビットを発生する回路であり、その出力
側に2入力排他的論理和ゲート(以下、EXORとい
う)43の一方の入力側が接続されている。このEXO
R43の他方の入力側には、1ビット構成のパリティビ
ット設定フラグ44が接続されている。これらのEXO
R43及びパリティビット設定フラグ44により、直列
データを構成するパリティビットの状態を任意に設定す
る第1の設定手段が構成されている。送信データレジス
タ41及びEXOR43の出力側には、例えば11ビッ
トb0 〜b10構成の送信シフトレジスタ45が接続され
ている。送信シフトレジスタ45は、並列データ入力端
子に入力されるデータを取り込んだ後に1ビットずつ直
列データとして出力端子OUTから出力する並列/直列
変換機能を有している。この送信シフトレジスタ45に
おいて、ビットb0 の並列データ入力端子は“0”レベ
ルに固定され、ビットb1 〜b8 の並列データ入力端子
が送信データレジスタ41の出力側と接続されている。
さらに、ビットb9 の並列データ入力端子が、EXOR
43の出力側と接続され、ビットb10の並列データ入力
端子が、直列データを構成するストップビットの状態を
任意に設定するための第2の設定手段(例えば、1ビッ
ト構成のストップビット設定フラグ)46の出力側と接
続されている。
【0010】直列データ受信回路50は、入力端子IN
から入力される直列データを並列データに変換する受信
シフトレジスタ51を有し、それにはパリティチェック
回路52と受信データレジスタ53が接続されている。
パリティチェック回路52は、受信した直列データのビ
ット欠けの発生を検出する回路である。受信データレジ
スタ53は、受信シフトレジスタ51で変換された並列
データを格納する回路である。この直列データ受信回路
50には、パリティエラーチェック機能の他に、図示し
ないがフレーミングエラーチェック機能及びオーバーラ
ンエラーチェック機能等も設けられている。コントロー
ル回路60に接続されたデータバスDBは、例えば図示
しないマイクロプロセッサのデータバスと接続され、該
データバスDB及びコントロール回路60を介して並列
データを送信データレジスタ41に書き込んだり、ある
いはパリティビット設定フラグ44とストップビット設
定フラグ46の状態を変更することが可能な構成になっ
ている。
【0011】図5は図1のシリアルポートにおける直列
データの形式を示す図であり、この図を参照しつつ、図
1のシリアルポートの動作を説明する。通常の送受信動
作の場合、図示しないマイクロプロセッサは、図1のパ
リティビット設定フラグ44に対して“0”データを、
ストップビット設定フラグ46に対して“1”データを
設定する。マイクロプロセッサが並列データをデータバ
スDB及びコントロール回路60を介して送信データレ
ジスタ41に書き込むと、パリティビット発生回路42
は該送信データレジスタ41に格納された並列データに
従い、適切なパリティビットを発生し、EXOR43へ
送る。
【0012】送信シフトレジスタ45のビットb1 〜b
8 の並列データ入力端子には、送信データレジスタ41
に格納されている並列データがそれぞれ入力される。送
信シフトレジスタ45のビットb9 の並列データ入力端
子には、EXOR43を介してパリティビット発生回路
42の出力が入力され、ビットb10の並列データ入力端
子には、ストップビット設定フラグ46で設定された
“1”レベルが入力される。さらに、送信シフトレジス
タ45のビットb0 の並列データ入力端子には“0”レ
ベルが入力され、それらの各入力信号が該送信シフトレ
ジスタ45に格納される。送信シフトレジスタ45に格
納されたデータは、図5に示す直列データの形式で、出
力端子OUTから送信される。
【0013】直列データを受信する場合、入力端子IN
から入力された直列データが受信シフトレジスタ51に
取り込まれ、そこで並列データに変換されて受信データ
レジスタ53に格納される。そして、図示しないマイク
ロプロセッサは、コントロール回路60及びデータバス
DBを介して並列データを読み出すことができる。異常
データの送信により、シリアルポートの有するパリティ
エラーチェック機能及びフレーミングエラーチェック機
能をテストする場合、直列データの出力端子OUTと入
力端子INを接続し、さらに図示しないマイクロプロセ
ッサによってパリティビット設定フラグ44に“1”デ
ータを、ストップビット設定フラグ46に“0”データ
を設定する。そして、適当な並列データをデータバスD
B及びコントロール回路60を介して送信データレジス
タ41に書き込むと、パリティビット発生回路42は該
送信データレジスタ41に格納された並列データに従
い、適切なパリティビットを発生し、EXOR43へ送
る。
【0014】送信シフトレジスタ45のビットb1 〜b
8 の並列データ入力端子には送信データレジスタ41に
格納されている並列データが、ビットb9 の並列データ
入力端子にはEXOR43を介して反転されたパリティ
ビット発生回路42の出力が、ビットb10の並列データ
入力端子にはストップビット設定フラグ46に設定され
た“0”レベルが、それぞれ入力される。さらに、送信
シフトレジスタ45のビットb0 の並列データ入力端子
には“0”レベルが入力され、それらの入力データが該
送信シフトレジスタ45に格納される。送信シフトレジ
スタ45に格納されたデータは、図5に示す直列データ
の形式で出力端子OUTから送信され、入力端子INを
介して直列データ受信回路50側へ送られる。図5に示
す直列データのパリティビットPは、データビットB0
〜B7に対するパリティビットとは反転した状態となっ
ており、また、ストップビットのタイミングでは直列デ
ータの状態が“0”レベルとなっている。直列データ受
信回路50では、入力端子INからの直列データを受信
シフトレジスタ51で並列データに変換し、それを受信
データレジスタ53に格納する。このとき、受信したパ
リティビットPは、受信したデータビットB0〜B7に
対する正常なパリティとは反転した値となっており、ま
たストップビットのタイミングで受信した直列データの
状態が、“0”レベルとなっている。従って、異常デー
タの受信により、直列データ受信回路におけるパリティ
エラーチェック機能及びフレーミングエラーチェック機
能のテストが行われる。
【0015】以上のように、本実施例では、直列データ
送信回路40に、直列データを構成するパリティビット
とストップビットの状態を任意に設定できるEXOR4
3及びパリティビット設定フラグ44とストップビット
設定フラグ46とを設けている。そのため、直列データ
の出力端子OUTと入力端子INを接続することによ
り、正常なデータの送受信テストと、異常データの送信
によって直列データ受信回路50側でパリティエラーチ
ェック機能及びフレーミングエラーチェック機能のテス
トが可能となる。従って、従来のようにテスト用に作成
した直列データを外部から入力端子INに入力すること
なく、簡便に、シリアルポートの全機能のテストが可能
となる。なお、本発明は上記実施例に限定されず、種々
の変形が可能である。例えば、上記実施例では調歩同期
式シリアルポートの例で説明したが、クロック同期式シ
リアルポートにおいても、パリティエラーチェック機能
のテストのために上記実施例を適用できる。また、送信
シフトレジスタ45を他の任意のビット数構成にした
り、EXOR43及びパリティビット設定フラグ44を
他の回路構成の設定手段で構成したり、あるいはストッ
プビット設定フラグ46を他の回路構成の設定手段で構
成する等、種々の変形が可能である。
【0016】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、シリアルポ
ートの直列データ送信回路にパリティビット発生回路の
出力を変更してパリティビットの状態を任意に設定する
設定手段を設けたので、シリアルポートの直列データの
出力端子と入力端子を接続することにより、パリティエ
ラーチェック機能のテストを簡便に行うことができる。
第2の発明によれば、調歩同期式シリアルポートの直列
データ送信回路に、直列データを構成するパリティビッ
トとストップビットの状態を任意に設定できる第1と第
2の設定手段を設けたので、該シリアルポートの直列デ
ータの出力端子と入力端子を接続することにより、正常
なデータの送受信テストと、異常データの送信によって
パリティエラーチェック機能及びフレーミングエラーチ
ェック機能のテストが可能となり、簡便にシリアルポー
トの全テストが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例を示す調歩同期式シリアルポー
トの概略の構成ブロック図である。
【図2】従来のシリアルポートの概略の構成ブロック図
である。
【図3】図2のシリアルポートで送受信される直列デー
タの形式を示す図である。
【図4】図3の直列データにパリティビットが付加され
た直列データの形式を示す図である。
【図5】図1のシリアルポートで送受信される直列デー
タの形式を示す図である。
【符号の説明】
40 直列データ送信回路 41 送信データレジスタ 42 パリティビット発生回路 43 EXOR 44 パリティビット設定フラグ 45 送信シフトレジスタ 46 ストップビット設定フラグ 50 直列データ受信回路 51 受信シフトレジスタ 52 パリティチェック回路 53 受信データレジスタ 60 コントロール回路 IN 直列データの入力端子 DB データバス OUT 直列データの出力端子

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 並列データを直列データに変換して送信
    する手段、及びパリティビット発生回路で発生させたパ
    リティビットを該直列データに付加する手段を有する直
    列データ送信回路と、 送られてきた直列データを受信して並列データに変換す
    る手段、及び該直列データのパリティチェックを行う手
    段を有する直列データ受信回路とを、 備えたシリアルポートにおいて、 前記パリティビット発生回路の出力を変更して前記直列
    データを構成するパリティビットの状態を任意に設定す
    る設定手段を、 設けたことを特徴とするシリアルポート。
  2. 【請求項2】 並列データを直列データに変換して送信
    する手段、及びパリティビット発生回路で発生させたパ
    リティビットを該直列データに付加する手段を有する直
    列データ送信回路と、 送られてきた直列データを受信して並列データに変換す
    る手段、及び該直列データのパリティチェックを行う手
    段を有する直列データ受信回路とを、 備えた調歩同期式シリアルポートにおいて、 前記パリティビット発生回路の出力を変更して送信する
    前記直列データを構成するパリティビットの状態を任意
    に設定する第1の設定手段と、 送信する前記直列データを構成するストップビットの状
    態を任意に設定する第2の設定手段とを、 設けたことを特徴とするシリアルポート。
JP4254665A 1992-09-24 1992-09-24 シリアルポート Withdrawn JPH06104875A (ja)

Priority Applications (1)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2726416A1 (fr) * 1994-09-30 1996-05-03 Samsung Electronics Co Ltd Dispositif de communication de donnees et procede d'utilisation d'une carte intelligente

Cited By (2)

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JPH08194784A (ja) * 1994-09-30 1996-07-30 Samsung Electron Co Ltd スマートカードの入出力装置

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Effective date: 19991130