JPH0589446U - 薄膜形成装置用シャッター機構 - Google Patents

薄膜形成装置用シャッター機構

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JPH0589446U
JPH0589446U JP7341691U JP7341691U JPH0589446U JP H0589446 U JPH0589446 U JP H0589446U JP 7341691 U JP7341691 U JP 7341691U JP 7341691 U JP7341691 U JP 7341691U JP H0589446 U JPH0589446 U JP H0589446U
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JP
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shutter
substrate
film forming
thin film
opening
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JP7341691U
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Inventor
博 藤本
達夫 榊原
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Osaka Vacuum Ltd
Original Assignee
Osaka Vacuum Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】本考案は、シャッターの大きさ及び移動時間に
影響されることなく、基板の全面に均一な薄膜を形成す
ることができ、耐久性及び信頼性の向上を図る。 【構成】薄膜形成装置用シャッター機構であって、移動
自在なシャッター20には成膜用開口部22と、該成膜
用開口部22に対してシャッター20の移動方向の前後
部にそれぞれ位置する遮蔽部23,23aとが設けられ
ている。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、例えば、金属薄膜または誘電体薄膜を披着させるスパッタ装置等の 薄膜形成装置用シャッター機構に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、薄膜形成装置としてのスパッタ装置は、図6(イ)に示すように、真空 容器50内に、ターゲット51と、該ターゲット51をスパッタさせることによ りその飛散原子が被着される基板53と、薄膜を制御すべく該基板53の被着面 側を開放可能に覆うように、ターゲット51と基板53との間を移動自在に設け られたシャッター55とを備えたものがある。
【0003】 このシャッター55は、同図(ロ)〜(ニ)に示すように、基板53の全面を 覆う大きさを呈し、回転軸56を中心にして正逆回転させることにより、基板5 3の被着面を開放または遮蔽するようにしたものである。 即ち、このシャッター55は、遮蔽時において、基板53の前面に位置し(ロ 参照)、開放の際には、回転軸56を中心にして矢印A1方向に回転する(ハ参 照)。このとき、基板53は左端側から開放され、次第に全面が開放される(ニ 参照)。そして、このシャッター55の移動と共に基板53への成膜作業が行わ れ、作業終了時には、シャッター55は反対方向に移動されるのである。
【0004】
【考案が解決しようとする課題】
しかしながら、前記従来の装置におけるシャッター55は開放時における基板 53の左側と右側との開放時間を比較した場合、基板53の左側の方が右側より も開放時間が長くなる。さらに、遮蔽時においては、シャッター55の回転方向 が反対となるため、基板53の右側から遮蔽されることとなり、更に、基板53 の左右の開放時間の差が増加する。
【0005】 この基板53の開放時間の相違は、基板53の左右において膜の被着する成膜 時間が異なることとなり、この結果、基板53上に均一な厚みの薄膜を形成でき ないという欠点があった。そこで、上記問題を解消すべくシャッター55の移動 速度を速くすることも考えられるが、この場合、可及的にシャッター55を高速 にする必要があるため、装置の耐久性及び信頼性に問題がある。
【0006】 上記のような薄膜の不均一は、特に、基板53の外径が大きくなる程その傾向 が顕著になる。そこで、大きな基板53においては、図7(イ)〜(ハ)に示す ように、シャッター55,55aを二分割し、両シャッター55,55aを開閉 するようにしたものもある。
【0007】 この分割されたシャッター55,55aは、移動時間を短くできる点において 効果的であるが、基板53の中央部と両端部との成膜時間に、上記のシャッター 55と同様に差が生じることとなり、上記問題を解決するものではなかった。
【0008】 本考案は、上記の如き従来の問題点に鑑みてなされたもので、シャッターの大 きさ及び移動時間に影響されることなく、基板の全面に均一な薄膜を形成するこ とができ、耐久性及び信頼性の向上を図ることのできる薄膜形成装置用シャッタ ー機構を提供することを課題とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】
本考案が、上記課題を解決するために講じた技術的手段は、真空容器2内に、 ターゲット1,1aと、該ターゲット1,1aの飛散原子が被着される基板13 と、該基板13の被着面側を覆うように移動自在に設けられたシャッター20と を備えた薄膜形成装置用シャッター機構において、前記シャッター20には成膜 用開口部22と、該成膜用開口郎22に対してシャッター20の移動方向の前後 部にそれぞれ位置する遮蔽部23,23aとが設けられてなることにある。
【0010】
【作用】 本考案の薄膜形成装置用シャッター機構においては、成膜作業の際に、シャッ ター20の一方の遮蔽部23を基板13の前方に位置させると、該遮蔽部23が 基板13を遮蔽するため、基板13に薄膜が形成されることはない。
【0011】 次に、シャッター20を移動させると、成膜用開口部22が基板13に次第に 対応し、基板13は一端側から開放され、このシャッター20の移動と共に、基 板13に薄膜が形成される。成膜用開口部22を基板13に所定時間対応させて 成膜作業を行った後に、更に、シャッター20を前記と同じ方向に移動させると 、他方の遮蔽部23aが基板13を一端側から遮蔽する。
【0012】
【実施例】
以上、本考案をスパッタ装置に採用した実施例を図面に従って説明する。 図1において、1,1aは強磁性材料から成る一対のターゲットで、真空容器 2内に間隔をおいて対向配置されている。 3,3aは前記各ターゲット1,1aを支持するターゲットホルダーで、絶縁 板5,5aを介して真空容器2側に取付けられている。尚、6,6aはターゲッ ト用の電源である。
【0013】 10,10aは前記ターゲット1,1aのスパッタ面に垂直方向の磁界を発生 させるための一対の永久磁石で、各ターゲット1,1aの背面側に設けられてい る。そして、これら両永久磁石10,10aによりターゲット1,1a間に磁界 空間11が形成されるようになっている。 13は円形状を呈した基板で、前記磁界空間11に面するようにホルダー14 を介して真空容器2に取付けられている。
【0014】 20は前記基板13の被着面に形成される薄膜の厚みを制御するためのシャッ ターで、前記ターゲット1,1aと基板13との間に設けられている。この基板 13は、図2に示すように、矩形状板体からなり、その中央部には、基板13よ りも大きな成膜用開口部(本実施例では、正方形状)22が形成され、この成膜 用開口部22の左右両側には、基板13全体を覆うことができる遮蔽部23,2 3aがそれぞれ設けられている。また、該シャッター20の上下縁部は、前記真 空容器2側に固定されたガイド体25の摺動溝26に内嵌され、シャッター20 は基板13に対して左右方向に移動自在に設けられている。
【0015】 28はシャッター20の一側に固定されたブラケットで、このブラケット28 は、シャッター20を基板13に対して各遮蔽部23,23aまたは成膜用開口 部22を対向させることができるようにシャッター20を移動させる図外の移動 装置に連結されている。
【0016】 次に、以上の構成におけるスパッタ装置の使用例について説明する。 スパッタ作業を行うには、先ず真空容器2内の真空排気後にアルゴンガスを導 入し、その後、ターゲット1,1aにこのターゲット1,1aを陰極とすべく電 圧を印加させると、アルゴンガス原子はイオン化して各ターゲット1,1aをス パッタリングする。
【0017】 一方、シャッター20は、その一方の遮蔽部23が基板13の前面に位置する 閉じた位置にあり基板13を遮蔽するため、スパッタされたターゲット金属原子 が基板13に被着することはない(図3(イ)参照)。
【0018】 次に、前記移動装置により、シャッター20を図3(イ)に示す矢印A方向( 右方向)に移動させると、先ず、基板13の左端側から成膜用開口部22に対応 し、該シャッター20の移動と共に、ターゲット金属原子は基板13の左端側か ら被着面に装着する。そして、シャッター20をその成膜用開口部22が基板1 3前方に位置する状態で停止させ、所定時間スパッタ作業を行った後に、シャッ ター20を前記と同じ速度で且つ同方向に移動させる。
【0019】 このシャッター20の移動の際に、基板13の左端側から他方の遮蔽部23a に対応し、この左端側から次第に遮蔽されていく。 このため、基板13はその任意の位置において、全て同じ時間だけターゲット 金属原子が被着されることとなる。この結果、基板13の全面にわたって同じ条 件で成膜できることとなり、基板13の両側は無論、その全面にわたって均一な 厚みの薄膜を形成することができ、基板13全体に均質な磁気特性を持つ磁性膜 を形成することができるのである。 尚、スパッタ作業中においては、シャッター20の両遮蔽部23,23aはホ ールダ14及び真空容器2等にターゲット金属原子が被着するのを好適に防止す る効果がある。
【0020】 また、前記基板13と異なる別の基板13をスパッタする場合には、シャッタ ー20を図3(ハ)の位置から前記とは反対方向に移動させれば良い。 尚、本考案は前記の実施例に限定されるものではなく、例えば、上記実施例の シャッター20は、矩形状を呈すると共に、成膜用開口部22の両側にそれぞれ 遮蔽部23,23aを有するものであったが、図4及び図5に示す如く、シャッ ター20を円板体から構成することも可能である。
【0021】 即ち、該シャッター20は、その一部に円形の成膜用開口部22が形成され、 中心部には回転軸30が設けられ、この回転軸30は前記真空容器2を貫通し、 正逆方向に回転制御可能な電動機31に接続されている。そして、該電動部31 により、シャツター20は図5(イ)〜(ハ)に示す矢印A方向に回転制御され る。尚、このシャッター20における成膜用開口部22に対する回転方向の前後 部が、遮蔽部23,23aとなる。
【0022】 尚、上記実施例では、基板13として円形状のものを採用したが、基板13の 形状はこれに限定されるものではなく、矩形状等の任意の形状のものが採用可能 である。 また、シャッター20の形状及びその成膜用開口部22の形状も基板13に応 じて任意に設計変更自在であり、該成膜用開口部22の個数も1個に限らず、図 5(イ)に仮想線で示すように2個設あるいはそれ以上設けることも可能である 。
【0023】 また、本考案はスパッタ装置を構成する他の部材の具体的な構成も決して上記 実施例に限定されず、例えば、ターゲット1,1aは材質の異なる数種類のもの を採用して多層膜を形成可能な装置であっても良く、各部の具体的な構成は全て 本考案の意図する範囲内で設計変更自在であり、スパッタ装置以外に真空蒸着装 置等の成形装置に採用できることは無論である。
【0024】
【考案の効果】
本考案は、以上説明したように前記シャッターには成膜用開口部と、該成膜用 開口部に対してシャッターの移動方向の前後部にそれぞれ位置する遮蔽部とが設 けられているので、該シャッターを同じ方向に移動させることにより、シャッタ ーの遮蔽及び開放を行うことができる。このため、基板の全面にわたって成膜時 間を均等に設定でき、シャッターの移動時間に影響されることなく、基板に均一 な薄膜を形成することが可能となる。このように均一な薄膜の形成は、特に、膜 が薄い程効果的である。
【0025】 また、薄障を均一にすべくシャッターを可及的に高速に移動させる必要もなく なることから、装置の耐久性及び信頼性の向上を図ることができる。 更に、薄膜作業中には、シャッターの両遮蔽部で基板以外の構成部材を好適に 遮蔽することができるという利点がある。
【0026】 また、特に、基板の外径が大きい場合であっても、基板の全面にわたって成膜 時間を均等に設定できることとなり、従来のようにシャッターを分割して移動さ せる構成のものに比し、構造も簡単にできるという利点がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案をスパッタ装置に採用した断面平面図。
【図2】基板及びシャッターを示す斜視図。
【図3】シャッターの基板に対する状態を示し、(イ)
はシャッターの一方の遮蔽部で基板を遮蔽した状態を示
す正面図、(ロ)は成膜状態を示す正面図、(ハ)はシ
ャッターの他方の遮蔽部で基板を遮蔽した状態を示す正
面図。
【図4】本考案の他の実施例を示す断面平面図。
【図5】同シャッターの基板に対する状態を示し、
(イ)はシャッターの一方の遮蔽部で基板を遮蔽した状
態を示す正面図、(ロ)は成膜状態を示す正面図、
(ハ)はシャッターの他方の遮蔽部で基板を遮蔽した状
態を示す正面図。
【図6】従来例を示し、(イ)は全体概略図、(ロ)は
シャッターで基板を遮蔽した図、(ハ)はシャッターの
開放状態を示す図、(ニ)は成膜状態を示す図。
【図7】シャッターを2分割した場合の他の従来例を示
し、(イ)は閉じた状態の正面図、(ロ)は開閉時の正
面図、(ハ)は開いた状態の正面図。
【符号の説明】
1,1a…ターゲット、2…真空容器、13…基板、2
0…シャッター、22…成膜用開口部、23,23a…
遮蔽部。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】真空容器2内に、ターゲット1,1aと、
    該ターゲット1,1aの飛散原子が被着される基板13
    と、該基板13の被着面側を覆うように移動自在に設け
    られたシャッター20とを備えた薄膜形成装置用シャッ
    ター機構において、前記シャッター20には成膜用開口
    部22と、該成膜用開口部22に対してシャッター20
    の移動方向の前後部にそれぞれ位置する遮蔽部23,2
    3aとが設けられてなることを特徴とする薄膜形成装置
    用シャッター機構。
JP7341691U 1991-06-05 1991-06-05 薄膜形成装置用シャッター機構 Pending JPH0589446U (ja)

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5837174A (ja) * 1981-08-28 1983-03-04 Fujitsu Ltd 蒸着装置
JPS619574A (ja) * 1984-06-25 1986-01-17 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 真空蒸着装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 19961107