JPH057800B2 - - Google Patents
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- JPH057800B2 JPH057800B2 JP58179492A JP17949283A JPH057800B2 JP H057800 B2 JPH057800 B2 JP H057800B2 JP 58179492 A JP58179492 A JP 58179492A JP 17949283 A JP17949283 A JP 17949283A JP H057800 B2 JPH057800 B2 JP H057800B2
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 8
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C27/00—Electric analogue stores, e.g. for storing instantaneous values
- G11C27/02—Sample-and-hold arrangements
- G11C27/024—Sample-and-hold arrangements using a capacitive memory element
- G11C27/026—Sample-and-hold arrangements using a capacitive memory element associated with an amplifier
Landscapes
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
- Amplifiers (AREA)
- Filters That Use Time-Delay Elements (AREA)
- Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はフイードバツク形サンプルホールド回
路とその方法に関する。
路とその方法に関する。
サンプルホールド回路は、例えば集積電子回路
において遅延機能を実現するものであり、単独で
もまたトランスバーサルフイルタのような時間領
域フイルタで多段としても使用される。
において遅延機能を実現するものであり、単独で
もまたトランスバーサルフイルタのような時間領
域フイルタで多段としても使用される。
本発明は一例として添付の図面を参照して説明
される。
される。
第1図を参照すれば、共通の演算増幅器Aと関
連して動作するようにバンクとして相互接続され
たN個のサンプルホールド回路段の周知の構成に
おいて、破線で囲まれた段の各々は基本サンプル
ホールド回路部とサンプルホールド回路の出力を
増幅器Aの反転入力に接続するスイツチ付きのフ
イードバツク路を含んでいる。サンプルホールド
回路部の各々はサンプリングスイツチSs、ホール
ドコンデンサCHおよびバツフアBを含んでいる。
サンプリングスイツチSsは個々の関連した1次サ
ンプリングスイツチングパルス列Tsの集合のパ
ルスによつて連続的に動作される。フイードバツ
ク部はフイードバツク付勢スイツチSFを含み、こ
れはスイツチングパルス列の第2の集合TFのパ
ルスによつて連続的に動作され、これによつて特
定の段のフイードバツクがその段のサンプルホー
ルドプロセス全体にわたつて行なわれるようにな
つている。サンプリングスイツチSsおよびフイー
ドバツク付勢スイツチSFに対するスイツチングパ
ルスの電気的接続の詳細は当業者には明らかであ
り、図面を分りやすくするために、こゝでは図示
していない。
連して動作するようにバンクとして相互接続され
たN個のサンプルホールド回路段の周知の構成に
おいて、破線で囲まれた段の各々は基本サンプル
ホールド回路部とサンプルホールド回路の出力を
増幅器Aの反転入力に接続するスイツチ付きのフ
イードバツク路を含んでいる。サンプルホールド
回路部の各々はサンプリングスイツチSs、ホール
ドコンデンサCHおよびバツフアBを含んでいる。
サンプリングスイツチSsは個々の関連した1次サ
ンプリングスイツチングパルス列Tsの集合のパ
ルスによつて連続的に動作される。フイードバツ
ク部はフイードバツク付勢スイツチSFを含み、こ
れはスイツチングパルス列の第2の集合TFのパ
ルスによつて連続的に動作され、これによつて特
定の段のフイードバツクがその段のサンプルホー
ルドプロセス全体にわたつて行なわれるようにな
つている。サンプリングスイツチSsおよびフイー
ドバツク付勢スイツチSFに対するスイツチングパ
ルスの電気的接続の詳細は当業者には明らかであ
り、図面を分りやすくするために、こゝでは図示
していない。
段のひとつの動作の一般的な様子を理解するた
めには、そのサンプリングスイツチが導通した閉
成状態にあり、信号の出力が信号の入力を追尾す
るようになつている状態をまず仮定するとわかり
やすい。サンプリングスイツチSsが開いたとき、
出力は固定したホールド値に保持される。もしス
イツチSsが完全なスイツチで、増幅器Aとバツフ
アBが理想的であるならば、そのときにはホール
ド出力はサンプリングスイツチSsが開かれたとき
に存在した入力と正確に同一の大きさを持つ。フ
イードバツクループは増幅器Aと関連して信号出
力に対するバツフアBとサンプリングスイツチSs
の電圧オフセツトの影響を軽減する。サンプリン
グスイツチSsは一般的に電気的スイツチング素子
であり、ひとつあるいはそれ以上のMOS(メタル
−オキサイド−半導体)トランジスタのような
FET(電界効果トランジスタ)を使用することに
よつて特にうまく実現することができる。
めには、そのサンプリングスイツチが導通した閉
成状態にあり、信号の出力が信号の入力を追尾す
るようになつている状態をまず仮定するとわかり
やすい。サンプリングスイツチSsが開いたとき、
出力は固定したホールド値に保持される。もしス
イツチSsが完全なスイツチで、増幅器Aとバツフ
アBが理想的であるならば、そのときにはホール
ド出力はサンプリングスイツチSsが開かれたとき
に存在した入力と正確に同一の大きさを持つ。フ
イードバツクループは増幅器Aと関連して信号出
力に対するバツフアBとサンプリングスイツチSs
の電圧オフセツトの影響を軽減する。サンプリン
グスイツチSsは一般的に電気的スイツチング素子
であり、ひとつあるいはそれ以上のMOS(メタル
−オキサイド−半導体)トランジスタのような
FET(電界効果トランジスタ)を使用することに
よつて特にうまく実現することができる。
MOS素子は電子的スイツチ素子として特に適
したものではあるが、これは決して完全なもので
はない。MOS素子のゲート、ソース、ドレイン
間の結合のために、MOSサンプリングスイツチ
Ssが開いたあとにも、スイツチング電荷フイード
スルーの形で望ましくない誤差電荷が保持用コン
デンサCHに与えられる。このとき、サンプリン
グスイツチSsはソースからドレインへの導通を行
なつていないから、演算増幅器Aはもはや保持コ
ンデンサCHに正しい電荷を保持するようには動
作しない。この結果として、保持電圧のオフセツ
トが生じ、その大きさはサンプリングスイツチSs
から保持コンデンサCHへの電荷フイードスルー
の量を保持コンデンサCHの容量値で除した値と
なる。保持コンデンサCHの容量の大きさによつ
て、これを充電する速度が制限されるから、保持
用コンデンサCHの容量の大きさを自由に増加し
て保持電圧オフセツトを減少することはできな
い。
したものではあるが、これは決して完全なもので
はない。MOS素子のゲート、ソース、ドレイン
間の結合のために、MOSサンプリングスイツチ
Ssが開いたあとにも、スイツチング電荷フイード
スルーの形で望ましくない誤差電荷が保持用コン
デンサCHに与えられる。このとき、サンプリン
グスイツチSsはソースからドレインへの導通を行
なつていないから、演算増幅器Aはもはや保持コ
ンデンサCHに正しい電荷を保持するようには動
作しない。この結果として、保持電圧のオフセツ
トが生じ、その大きさはサンプリングスイツチSs
から保持コンデンサCHへの電荷フイードスルー
の量を保持コンデンサCHの容量値で除した値と
なる。保持コンデンサCHの容量の大きさによつ
て、これを充電する速度が制限されるから、保持
用コンデンサCHの容量の大きさを自由に増加し
て保持電圧オフセツトを減少することはできな
い。
従来知られていた保持電圧オフセツトを減少す
る方法は電荷フイードスルー補償スイツチをサン
プリングスイツチSsの両端に接続することであ
る。これは例えば米国特許4308468に述べられて
いる。このような方法によつて特定のスイツチ素
子についてはフイードスルー電荷の全体の影響を
大幅に減らすことができるが、これはスイツチご
とのフイードスルー電荷特性の変動の効果を考慮
したものではない。実際の場合には二つのスイツ
チが同一の特性を持つことはなく、各サンプリン
グスイツチSsのフイードスルー電荷の効果は両方
のフイードスルー電荷の効果が同一である程度に
しか、それに関連した補償スイツチによつて減少
されることはない。従つて、フイードバツク形サ
ンプル−ホールド回路のバンクでは、すべての段
が同一の信号をサンプルしているときにでも、サ
ンプリングスイツチSsおよびこれらの両端に接続
された他の補償スイツチを通る正味の電荷フイー
ドスルーの変動によつて保持コンデンサの電圧の
間の変動を生ずることになる。これによつてサン
プルホールド回路の出力が繰返して順次にサンプ
ルされるような構成では固定パターンの雑音が生
ずる。この問題は例えばIEEE Journal of Solid
−State Circuits,1981年8月号第SC−16巻第4
号頁367−371のサンター(Sunter)他の“音声
周波数応用のためのプログラマブルトランスバー
サルフイルタ”と題する論文にトランスバーサル
フイルタに関して述べられている。
る方法は電荷フイードスルー補償スイツチをサン
プリングスイツチSsの両端に接続することであ
る。これは例えば米国特許4308468に述べられて
いる。このような方法によつて特定のスイツチ素
子についてはフイードスルー電荷の全体の影響を
大幅に減らすことができるが、これはスイツチご
とのフイードスルー電荷特性の変動の効果を考慮
したものではない。実際の場合には二つのスイツ
チが同一の特性を持つことはなく、各サンプリン
グスイツチSsのフイードスルー電荷の効果は両方
のフイードスルー電荷の効果が同一である程度に
しか、それに関連した補償スイツチによつて減少
されることはない。従つて、フイードバツク形サ
ンプル−ホールド回路のバンクでは、すべての段
が同一の信号をサンプルしているときにでも、サ
ンプリングスイツチSsおよびこれらの両端に接続
された他の補償スイツチを通る正味の電荷フイー
ドスルーの変動によつて保持コンデンサの電圧の
間の変動を生ずることになる。これによつてサン
プルホールド回路の出力が繰返して順次にサンプ
ルされるような構成では固定パターンの雑音が生
ずる。この問題は例えばIEEE Journal of Solid
−State Circuits,1981年8月号第SC−16巻第4
号頁367−371のサンター(Sunter)他の“音声
周波数応用のためのプログラマブルトランスバー
サルフイルタ”と題する論文にトランスバーサル
フイルタに関して述べられている。
本発明のひとつの特徴に従えば、サンプルホー
ルド回路は増幅器と、信号源の入力とバツフアの
入力の間の回路に接続された1次サンプリングス
イツチと、バツフアの入力と規準電圧点の間に接
続された1次保持コンデンサと、バツフアの出力
に応動して増幅器の入力にフイードバツク信号を
与えるフイードバツク手段と、増幅器の出力に接
続されサンプリングスイツチによつて発生された
スイツチングフイードスルー誤差に応動してこの
ような誤差を実質的に修正する修正サンプルホー
ルド手段とを含んでいる。
ルド回路は増幅器と、信号源の入力とバツフアの
入力の間の回路に接続された1次サンプリングス
イツチと、バツフアの入力と規準電圧点の間に接
続された1次保持コンデンサと、バツフアの出力
に応動して増幅器の入力にフイードバツク信号を
与えるフイードバツク手段と、増幅器の出力に接
続されサンプリングスイツチによつて発生された
スイツチングフイードスルー誤差に応動してこの
ような誤差を実質的に修正する修正サンプルホー
ルド手段とを含んでいる。
本発明の他の特徴に従えば、増幅器の出力が1
次保持された信号を発生するための1次フイード
バツクサンプルホールド回路によつてサンプルさ
れ、増幅器の出力が修正保持信号を発生するため
の2次サンプルホールド回路によつてサンプルさ
れて保持され、修正保持信号を減衰したものが1
次保持信号と組合わされるようなフイードバツク
サンプル・ホールド回路で信号をサンプルして保
持する方法が提供される。
次保持された信号を発生するための1次フイード
バツクサンプルホールド回路によつてサンプルさ
れ、増幅器の出力が修正保持信号を発生するため
の2次サンプルホールド回路によつてサンプルさ
れて保持され、修正保持信号を減衰したものが1
次保持信号と組合わされるようなフイードバツク
サンプル・ホールド回路で信号をサンプルして保
持する方法が提供される。
本発明のさらに他の特徴に従えば、サンプル・
ホールド回路は二つの規準電圧点の間に直列に接
続された第1、第2および第3のコンデンサを含
み、第1および第2のコンデンサの共通ノードは
信号ノードを形成し、第2および第3のコンデン
サの共通ノードは修正ノードを形成し、1次サン
プリングスイツチ手段の一端は信号ノードに接続
されていて、信号ノードを選択的に信号電位源の
入力に接続し、2次サンプリングスイツチ手段は
修正ノードを選択的に信号電圧源の入力に接続
し、修正フイードバツク手段はその入力が信号ノ
ードにその出力が修正ノードに接続された演算増
幅手段を含め、1次サンプリングスイツチ手段に
よる信号ノードの信号電圧源入力の切断によつて
生ずる信号ノードの電圧の変化に応動して修正ノ
ードにおける電圧を修正するのに適している。
ホールド回路は二つの規準電圧点の間に直列に接
続された第1、第2および第3のコンデンサを含
み、第1および第2のコンデンサの共通ノードは
信号ノードを形成し、第2および第3のコンデン
サの共通ノードは修正ノードを形成し、1次サン
プリングスイツチ手段の一端は信号ノードに接続
されていて、信号ノードを選択的に信号電位源の
入力に接続し、2次サンプリングスイツチ手段は
修正ノードを選択的に信号電圧源の入力に接続
し、修正フイードバツク手段はその入力が信号ノ
ードにその出力が修正ノードに接続された演算増
幅手段を含め、1次サンプリングスイツチ手段に
よる信号ノードの信号電圧源入力の切断によつて
生ずる信号ノードの電圧の変化に応動して修正ノ
ードにおける電圧を修正するのに適している。
本発明の一実施例においては、修正サンプリン
グスイツチと修正保持コンデンサはそれぞれ増幅
器の出力と通常は接地電圧である規準電圧点の間
に直列に接続されており、修正サンプルホールド
回路を形成する。修正結合コンデンサの一方の端
子は修正サンプリングスイツチと修正サンプルホ
ールド回路の共通ノードに接続されており、その
他方の端子は1次サンプリングスイツチと1次保
持コンデンサの間の共通ノードに接続されてお
り、これによつて減衰された修正回路の出力を1
次信号路に結合する。
グスイツチと修正保持コンデンサはそれぞれ増幅
器の出力と通常は接地電圧である規準電圧点の間
に直列に接続されており、修正サンプルホールド
回路を形成する。修正結合コンデンサの一方の端
子は修正サンプリングスイツチと修正サンプルホ
ールド回路の共通ノードに接続されており、その
他方の端子は1次サンプリングスイツチと1次保
持コンデンサの間の共通ノードに接続されてお
り、これによつて減衰された修正回路の出力を1
次信号路に結合する。
1次回路が保持状態にスイツチされてから短時
間の後で、修正回路は1次回路に保持された信号
のフイードバツク修正のための減衰された2次経
路を形成する。これに対応して減衰された結合は
2次修正回路をその保持状態にスイツチすること
によつて同様に生ずるスイツチング電荷フイード
スルーの影響を減少する。
間の後で、修正回路は1次回路に保持された信号
のフイードバツク修正のための減衰された2次経
路を形成する。これに対応して減衰された結合は
2次修正回路をその保持状態にスイツチすること
によつて同様に生ずるスイツチング電荷フイード
スルーの影響を減少する。
本発明の他の実施例においては、規準電圧と、
修正保持コンデンサと修正サンプリングスイツチ
の間の共通ノードの間に接続された修正零スイツ
チを含み、そのノードを周期的に零として大きな
信号振幅がより良く修正されるようにする。
修正保持コンデンサと修正サンプリングスイツチ
の間の共通ノードの間に接続された修正零スイツ
チを含み、そのノードを周期的に零として大きな
信号振幅がより良く修正されるようにする。
第2図を参照すればバンク10の第1段の部分
であるMOS素子によるフイードバツク形サンプ
ルホールド回路段12が図示されている。これで
はすべてのコンデンサとトランジスタスイツチは
MOS素子であり、これは高性能高利得の演算増
幅器Aを含んでいる。増幅器Aは反転入力ポート
(−)と非反転入力ポート(+)および出力ポー
ト14を有している。図には第1段12だけを図
示しているが、バンクには追加の段が接続されて
おり、増幅器Aはそれらに対して共通になつてい
ることが理解されるであろう。
であるMOS素子によるフイードバツク形サンプ
ルホールド回路段12が図示されている。これで
はすべてのコンデンサとトランジスタスイツチは
MOS素子であり、これは高性能高利得の演算増
幅器Aを含んでいる。増幅器Aは反転入力ポート
(−)と非反転入力ポート(+)および出力ポー
ト14を有している。図には第1段12だけを図
示しているが、バンクには追加の段が接続されて
おり、増幅器Aはそれらに対して共通になつてい
ることが理解されるであろう。
各々の段12は入力ポート15と出力ポート1
6を有するバツフアBを含んでいる。増幅器Aの
出力ポート14はMOSトランジスタの1次サン
プリングスイツチSsを通して、バツフアBの入力
ポートに接続されている。バツフアの出力ポート
16はそれにフイードバツク付勢スイツチSFが設
けられたフイードバツク路18によつて増幅器A
の反転入力ポート(−)に接続されている。
6を有するバツフアBを含んでいる。増幅器Aの
出力ポート14はMOSトランジスタの1次サン
プリングスイツチSsを通して、バツフアBの入力
ポートに接続されている。バツフアの出力ポート
16はそれにフイードバツク付勢スイツチSFが設
けられたフイードバツク路18によつて増幅器A
の反転入力ポート(−)に接続されている。
1次保持コンデンサCHはバツフアBの入力ポ
ートBと接地電圧の間に接続されている。保持コ
ンデンサCHより本質的に小さい容量を有する修
正結合コンデンサCccと1次保持コンデンサCHと
ほぼ同一の容量を持つ修正保持コンデンサCCHが、
それぞれバツフアBの入力15と接地電圧の間に
直列に接続されている。2次修正サンプリングス
イツチScは増幅器Aの出力ポート14を修正保持
コンデンサCCHと修正結合コンデンサCccの共通ノ
ード22に結合する。スイツチSs,Scは相互に似
ている。各スイツチはNチヤネルとPチヤネルの
HOSトランジスタを並列に接続したもので、そ
のゲートは適切なスイツチ制御パルスによつて駆
動される。トランジスタの相補的特性によつて
個々の電荷フイードスルーを本質的に相互に相殺
することができるから、この周知の手法によつて
スイツチの電荷フイードスルーを最小化すること
ができる。回路10の信号入力は増幅器Aの非反
転入力ポート(+)に与えられる。段12からの
信号出力はバツフアBの出力ポート16から生ず
る。
ートBと接地電圧の間に接続されている。保持コ
ンデンサCHより本質的に小さい容量を有する修
正結合コンデンサCccと1次保持コンデンサCHと
ほぼ同一の容量を持つ修正保持コンデンサCCHが、
それぞれバツフアBの入力15と接地電圧の間に
直列に接続されている。2次修正サンプリングス
イツチScは増幅器Aの出力ポート14を修正保持
コンデンサCCHと修正結合コンデンサCccの共通ノ
ード22に結合する。スイツチSs,Scは相互に似
ている。各スイツチはNチヤネルとPチヤネルの
HOSトランジスタを並列に接続したもので、そ
のゲートは適切なスイツチ制御パルスによつて駆
動される。トランジスタの相補的特性によつて
個々の電荷フイードスルーを本質的に相互に相殺
することができるから、この周知の手法によつて
スイツチの電荷フイードスルーを最小化すること
ができる。回路10の信号入力は増幅器Aの非反
転入力ポート(+)に与えられる。段12からの
信号出力はバツフアBの出力ポート16から生ず
る。
段12の回路構成は、それによつてフイードバ
ツクループ18をサンプリングスイツチSsの開に
よつて生ずる保持電圧オフセツトを修正するため
に使用することができる手段を提供する。これを
実現するために、増幅器Aは修正保持コンデンサ
CCHに修正電圧Vcを記憶する。修正保持コンデン
サCCHの充電によつて電荷は修正結合コンデンサ
を通して保持コンデンサに与えられ、これによつ
てサンプリングスイツチSsの電荷フイードスルー
による保持電圧オフセツトを修正する。
ツクループ18をサンプリングスイツチSsの開に
よつて生ずる保持電圧オフセツトを修正するため
に使用することができる手段を提供する。これを
実現するために、増幅器Aは修正保持コンデンサ
CCHに修正電圧Vcを記憶する。修正保持コンデン
サCCHの充電によつて電荷は修正結合コンデンサ
を通して保持コンデンサに与えられ、これによつ
てサンプリングスイツチSsの電荷フイードスルー
による保持電圧オフセツトを修正する。
スイツチSs,Sc,Sでは適切なクロツク源から
の接続によるそれぞれのスイツチパルス列TS,
TC,TFによつて以下に述べる適切な時点で動作
するが、その接続は当業者には明らかであるので
図示していない。
の接続によるそれぞれのスイツチパルス列TS,
TC,TFによつて以下に述べる適切な時点で動作
するが、その接続は当業者には明らかであるので
図示していない。
動作モードは次のようである。信号追尾時には
サンプリングスイツチSsと修正スイツチScは共に
閉成しており、フイードバツク路18が付勢され
ていて、出力は入力に等しくなつている。サンプ
リングスイツチSsだけが次に第1のパルス列Ts
によつて開き、保持コンデンサCHが正しい保持
電圧値VHの近くに充電されたままとなるが、こ
れにはサンプリングスイツチSsを通しての電荷フ
イードスルーの結果として生る誤差電圧Verrprが
伴なう。次に修正スイツチScは出力が再び入力に
等しくなるまで修正保持コンデンサCCHを充電す
ることによつて、増幅器Aが保持電圧値VHを修
正することができるようにするための2次経路を
形成する。このとき、第2のスイツチングパルス
列Tcによつて修正スイツチScが開く。修正結合
コンデンサCccの大きさは1次保持コンデンサCH
の大きさよりはるかに小さいから、修正スイツチ
Scを開くことによつて生ずる修正保持コンデンサ
CCHのオフセツト電圧はほぼ Cc/CH 倍だけ出力電圧Vputに対して減衰されることにな
る。
サンプリングスイツチSsと修正スイツチScは共に
閉成しており、フイードバツク路18が付勢され
ていて、出力は入力に等しくなつている。サンプ
リングスイツチSsだけが次に第1のパルス列Ts
によつて開き、保持コンデンサCHが正しい保持
電圧値VHの近くに充電されたままとなるが、こ
れにはサンプリングスイツチSsを通しての電荷フ
イードスルーの結果として生る誤差電圧Verrprが
伴なう。次に修正スイツチScは出力が再び入力に
等しくなるまで修正保持コンデンサCCHを充電す
ることによつて、増幅器Aが保持電圧値VHを修
正することができるようにするための2次経路を
形成する。このとき、第2のスイツチングパルス
列Tcによつて修正スイツチScが開く。修正結合
コンデンサCccの大きさは1次保持コンデンサCH
の大きさよりはるかに小さいから、修正スイツチ
Scを開くことによつて生ずる修正保持コンデンサ
CCHのオフセツト電圧はほぼ Cc/CH 倍だけ出力電圧Vputに対して減衰されることにな
る。
回路10の変形は第3図の回路19であり、こ
れはその段20に修正零スイツチSczが追加され
ていることを除いて回路10と同様である。この
追加のスイツチは修正結合コンデンサCccと修正
保持コンデンサCCHの共通リード22と接地電圧
の間に接続されていて、これもまた第1のパルス
列Tsによつて動作される。この機能によつて、
各々の保持の前に共通ノード22を零にすること
ができた信号振幅の修正が可能になる。
れはその段20に修正零スイツチSczが追加され
ていることを除いて回路10と同様である。この
追加のスイツチは修正結合コンデンサCccと修正
保持コンデンサCCHの共通リード22と接地電圧
の間に接続されていて、これもまた第1のパルス
列Tsによつて動作される。この機能によつて、
各々の保持の前に共通ノード22を零にすること
ができた信号振幅の修正が可能になる。
段20の動作では、信号を追尾する間にまず1
次サンプリングスイツチSsと修正零スイツチScz
が閉成し、修正スイツチScは開となる。次にサン
プリングスイツチSsと修正零スイツチSszが1次
サンプリングパルス列Tsによつて同時に開かれ、
一方修正パルスTcによつて修正スイツチScが同
時に閉成する。修正保持コンデンサCCHの電圧は
初期には0すなわち接地電圧にあるから、増幅器
Aは修正電圧Vcを0からいずれかの極性でフル
スケールに変化することができ、これによつて大
信号振幅にわたつて大きな修正電圧を与えること
ができる。しかしこの構成の欠点は大入力信号が
存在したときには増幅器Aが0あるいは0の近く
に戻らなければならないということである。これ
には余分な時間を必要とし、これによつて保持機
能に必要な時間がある程度延びることになる。
次サンプリングスイツチSsと修正零スイツチScz
が閉成し、修正スイツチScは開となる。次にサン
プリングスイツチSsと修正零スイツチSszが1次
サンプリングパルス列Tsによつて同時に開かれ、
一方修正パルスTcによつて修正スイツチScが同
時に閉成する。修正保持コンデンサCCHの電圧は
初期には0すなわち接地電圧にあるから、増幅器
Aは修正電圧Vcを0からいずれかの極性でフル
スケールに変化することができ、これによつて大
信号振幅にわたつて大きな修正電圧を与えること
ができる。しかしこの構成の欠点は大入力信号が
存在したときには増幅器Aが0あるいは0の近く
に戻らなければならないということである。これ
には余分な時間を必要とし、これによつて保持機
能に必要な時間がある程度延びることになる。
本発明の一実施例であるこの回路の目的は1次
サンプリングスイツチSsを通る電荷フイードスル
ーの効果を本質的に減少することである。修正電
圧もまた記憶されるから、修正電圧を記憶したと
きのスイツチフイードスルーが1次サンプルホー
ルド回路のフイードスルーより小さいような構成
を使用しなければならない。1次サンプリングス
イツチSsを開いたときに生ずる誤差電圧は10ミリ
ボルト程度であり、これに対して記憶されている
信号は数ボルトであるので、記憶された修正電圧
の信号出力への効果は減衰され、必要な修正を実
行する修正電圧には充分な範囲が存在することに
なる。修正電圧がスイツチ手段と1次保持コンデ
ンサCHに似た保持コンデンサによつて記憶され
ているとすれば、このような回路のバンクは段の
バンクの1次サンプルホールド回路が出力電圧に
示すのと同一の変動を修正電圧に与える。このと
きにはもし修正電圧のそれぞれの信号出力に対す
る効果が減衰されれば、修正スイツチScのランダ
ムな差によつて生ずる修正電圧の変動もそれに対
応して減少することができる。最小の固定パター
ン雑音とするという観点からすれば、修正信号の
減衰はできるだけ大きくしておくべきであり、一
方減衰誤差電圧はサンプリングスイツチSsからの
フイードスルーによつて発生される最悪の誤差を
修正するのに充分大きいようになつているべきで
ある。しかし、修正電圧の減衰は増幅器Aに関連
したフイードバツクループ中の要素であるから、
これはループのセツトリング時間に影響する。従
つて、全体のサンプルホールド動作に許される時
間の条件によつて、使用することができる減衰の
量には、よりきびしい制約が課せられることにな
る。
サンプリングスイツチSsを通る電荷フイードスル
ーの効果を本質的に減少することである。修正電
圧もまた記憶されるから、修正電圧を記憶したと
きのスイツチフイードスルーが1次サンプルホー
ルド回路のフイードスルーより小さいような構成
を使用しなければならない。1次サンプリングス
イツチSsを開いたときに生ずる誤差電圧は10ミリ
ボルト程度であり、これに対して記憶されている
信号は数ボルトであるので、記憶された修正電圧
の信号出力への効果は減衰され、必要な修正を実
行する修正電圧には充分な範囲が存在することに
なる。修正電圧がスイツチ手段と1次保持コンデ
ンサCHに似た保持コンデンサによつて記憶され
ているとすれば、このような回路のバンクは段の
バンクの1次サンプルホールド回路が出力電圧に
示すのと同一の変動を修正電圧に与える。このと
きにはもし修正電圧のそれぞれの信号出力に対す
る効果が減衰されれば、修正スイツチScのランダ
ムな差によつて生ずる修正電圧の変動もそれに対
応して減少することができる。最小の固定パター
ン雑音とするという観点からすれば、修正信号の
減衰はできるだけ大きくしておくべきであり、一
方減衰誤差電圧はサンプリングスイツチSsからの
フイードスルーによつて発生される最悪の誤差を
修正するのに充分大きいようになつているべきで
ある。しかし、修正電圧の減衰は増幅器Aに関連
したフイードバツクループ中の要素であるから、
これはループのセツトリング時間に影響する。従
つて、全体のサンプルホールド動作に許される時
間の条件によつて、使用することができる減衰の
量には、よりきびしい制約が課せられることにな
る。
例えば増幅器への入力信号が音声周波数あるい
はこれより周波数の高い信号であるようなサンプ
ルホールド回路10の典型的な実際的応用では、
増幅器の入力ポートの前に入力信号のサンプルホ
ールドを行なうことが望ましい。これは増幅器の
出力ポートの信号レベルが、修正サンプルホール
ドコンデンサが充電されている間に、大きな電荷
を受けて、これによつて修正の精度に影響を受け
るのを防止する。
はこれより周波数の高い信号であるようなサンプ
ルホールド回路10の典型的な実際的応用では、
増幅器の入力ポートの前に入力信号のサンプルホ
ールドを行なうことが望ましい。これは増幅器の
出力ポートの信号レベルが、修正サンプルホール
ドコンデンサが充電されている間に、大きな電荷
を受けて、これによつて修正の精度に影響を受け
るのを防止する。
上述の説明ではサンプルホールド段12のバン
ク10が相互に接続された形態について考えて来
たが、増幅器Aを付けた単一の段12を使用して
も有用なサンプルホールド機能を実行できること
を理解されたい。
ク10が相互に接続された形態について考えて来
たが、増幅器Aを付けた単一の段12を使用して
も有用なサンプルホールド機能を実行できること
を理解されたい。
バツフアBは信号出力に接続された回路が保持
コンデンサCHの電荷を変化するのを防止する。
バンク10の段12において、これはトランジス
タとなつているが、これはまた公称1の利得を持
つた他の種類の増幅器であつても良い。
コンデンサCHの電荷を変化するのを防止する。
バンク10の段12において、これはトランジス
タとなつているが、これはまた公称1の利得を持
つた他の種類の増幅器であつても良い。
サンプルホールド手段は任意の適切なサンプル
ホールド回路の構成をとつても良く、バンク10
の段12に示したような単一のサンプリングスイ
ツチと保持コンデンサを持つ特定の構成である必
要はない。
ホールド回路の構成をとつても良く、バンク10
の段12に示したような単一のサンプリングスイ
ツチと保持コンデンサを持つ特定の構成である必
要はない。
上述した回路10および19では上述の修正結
合手段はコンデンサであるが、それによつて信号
出力に対して減衰された形の修正信号を与えるこ
とができるのであれば、他の結合手段を使用する
こともできる。
合手段はコンデンサであるが、それによつて信号
出力に対して減衰された形の修正信号を与えるこ
とができるのであれば、他の結合手段を使用する
こともできる。
サンプルホールド回路の種々のノードの参照電
圧は同一である必要はない。実際ある種場合には
それが異るレベルを持つことが望ましいこともあ
る。
圧は同一である必要はない。実際ある種場合には
それが異るレベルを持つことが望ましいこともあ
る。
第1図は周知のフイードバツク形サンプルホー
ルド回路の段バンクの一部の説明的回路図;第2
図は本発明の一実施例たるフイードバツク形サン
プルホールド回路段バンクの一部の説明的回路
図;第3図は追加の修正零スイツチを含むように
変更された第2図の回路段の説明的回路図であ
る。 主要部分の符号の説明 請求範囲中の名称 符号 明細書中の名称 増幅器 A 増幅器 1次サンプリング 1次サンプリング スイツチ Ss スイツチ 1次保持コンデンサ CH 1次保持コンデンサ 修正サンプルホール 2次修正サンプリン ド手段 Sc グスイツチ CCH 修正保持コンデンサ 修正サンプリング 2次修正サンプリン スイツチ Sc グスイツチ 修正保持コンデンサ CCH 修正保持コンデンサ 結合手段 Ccc 修正結合コンデンサ 修正結合コンデンサ Ccc 修正結合コンデンサ 修正零スイツチ Scz 修正零スイツチ
ルド回路の段バンクの一部の説明的回路図;第2
図は本発明の一実施例たるフイードバツク形サン
プルホールド回路段バンクの一部の説明的回路
図;第3図は追加の修正零スイツチを含むように
変更された第2図の回路段の説明的回路図であ
る。 主要部分の符号の説明 請求範囲中の名称 符号 明細書中の名称 増幅器 A 増幅器 1次サンプリング 1次サンプリング スイツチ Ss スイツチ 1次保持コンデンサ CH 1次保持コンデンサ 修正サンプルホール 2次修正サンプリン ド手段 Sc グスイツチ CCH 修正保持コンデンサ 修正サンプリング 2次修正サンプリン スイツチ Sc グスイツチ 修正保持コンデンサ CCH 修正保持コンデンサ 結合手段 Ccc 修正結合コンデンサ 修正結合コンデンサ Ccc 修正結合コンデンサ 修正零スイツチ Scz 修正零スイツチ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 入力信号ノードとバツフア(例えばB)の入
力(例えば15)の間の回路に接続された1次サ
ンプリングスイツチ(例えばSs)と、該バツフア
の入力と規準電圧点の間に接続された1次保持コ
ンデンサ(例えばCH)と、前記入力信号ノード
から入力を受けるべく設けた増幅器(例えばA)
と、該バツフアの出力(例えば16)に応動して
前記増幅器への入力としてフイードバツク信号を
与えるフイードバツク手段(例えば18,SF)
と、該増幅器の出力(例えば14)に接続された
手段であつて前記サンプリングスイツチによつて
発生されるスイツチングフイードスルー誤差に応
動してこのような誤差を実質的に修正する修正サ
ンプルホールド手段(例えばSc,CCH,Ccc)とを
含むサンプルホールド回路。 2 特許請求の範囲第1項に記載の回路におい
て、修正サンプルホールド手段は、一方の側を修
正サンプングスイツチ(例えばSc)を介し増幅器
の出力(例えば14)に接続し他方の側を規準電
圧点に接続した修正保持コンデンサ(例えばCCH)
と、一方の側を該修正保持コンデンサに接続し修
正信号を発生する結合手段(例えばCcc)とを含
むことを特徴とするサンプルホールド回路。 3 特許請求の範囲第2項に記載の回路におい
て、結合手段はバツフアの入力(例えば15)と
修正保持コンデンサ(例えばCCH)の一方の側と
の間に接続され、1次保持コンデンサ(例えば
CH)のそれより実質的に小さい容量を持つ修正
結合コンデンサ(例えばCcc)を含むことを特徴
とするサンプルホールド回路。 4 特許請求の範囲第2項あるいは第3項に記載
の回路において、規準電圧点と修正保持コンデン
サ(例えばCCH)の一方の側との間に接続された
修正零スイツチ(例えばScz)を含むことを特徴
とするサンプルホールド回路。 5 1次保持信号(例えばCH上)を発生するた
めに1次サンプルホールド回路(例えばSs,CH)
によつて入力信号をサンプルホールドし、修正保
持信号(例えばCCH上)を発生するために、該入
力信号と該1次保持信号とに基づいて与えられる
増幅器の出力(例えば14)を2次サンプルホー
ルド回路(例えばSc,CCH)によつてサンプルホ
ールドし、更に該修正保持信号を減衰して1次保
持信号と結合することを特徴とするサンプルホー
ルド回路で入力信号をサンプルホールドする方
法。 6 第1、第2及び第3のコンデンサを含むサン
プルホールド回路であつて、第2のコンデンサ
(例えばCcc)は第1のコンデンサ(例えばCH)の
一方の側と第3のコンデンサ(例えばCCH)の一
方の側とに接続し、第1のコンデンサの他方の側
は規準電圧に接続し、第3のコンデンサの他方の
側は規準電圧に接続し、第1のコンデンサと第2
のコンデンサの共通ノードは1次信号ノード(例
えば15)を形成し、第2のコンデンサと第3の
コンデンサの共通ノード(例えば22)は修正ノ
ードを形成し、更に1次信号ノードを入力信号ノ
ードに選択的に接続するために一方の側を1次信
号ノードに接続された1次サンプリングスイツチ
手段(例えばSs)と、入力信号ノードに結合され
た入力と2次サンプリングスイツチ手段(例えば
Sc)を介し、修正ノード(例えば22)に結合さ
れた出力(例えば14)を有する演算増幅器(例
えばA)を含む修正フイードバツク手段とを含
み、該修正フイードバツク手段は、1次サンプリ
ングスイツチ手段(例えばSs)による1次信号ノ
ードの入力信号ノードからの切断による1次信号
ノードの電圧の変化に応動して1次信号ノードに
おける電圧を修正するようにしたサンプルホール
ド回路。 7 特許請求の範囲第6項に記載の回路におい
て、演算増幅器(例えばA)は、1次信号ノード
(例えば15)に接続された入力を持つバツフア
(例えばB)からの出力を受け入れるための入力
を有することを特徴とするサンプルホールド回
路。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US42629382A | 1982-09-29 | 1982-09-29 | |
US426293 | 1982-09-29 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5982699A JPS5982699A (ja) | 1984-05-12 |
JPH057800B2 true JPH057800B2 (ja) | 1993-01-29 |
Family
ID=23690184
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58179492A Granted JPS5982699A (ja) | 1982-09-29 | 1983-09-29 | 信号をサンプルホ−ルドする回路と方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0107337B1 (ja) |
JP (1) | JPS5982699A (ja) |
CA (1) | CA1207036A (ja) |
DE (1) | DE3381816D1 (ja) |
GB (1) | GB2128434B (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4570080A (en) * | 1983-10-11 | 1986-02-11 | At&T Bell Laboratories | Corrected sample-and-hold circuit |
US4641246A (en) * | 1983-10-20 | 1987-02-03 | Burr-Brown Corporation | Sampling waveform digitizer for dynamic testing of high speed data conversion components |
JPH0617280Y2 (ja) * | 1985-02-04 | 1994-05-02 | ソニー株式会社 | サンプルホ−ルド回路 |
JPH0770239B2 (ja) * | 1986-02-24 | 1995-07-31 | ソニー株式会社 | サンプルホ−ルド回路 |
US4990862A (en) * | 1986-02-24 | 1991-02-05 | Sony Corporation | Output stage for solid-state image pick-up device |
US4885545A (en) * | 1988-08-08 | 1989-12-05 | Tektronix, Inc. | High speed circuit with supporting auxiliary circuit |
JP5470054B2 (ja) * | 2009-01-22 | 2014-04-16 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS558656A (en) * | 1978-07-04 | 1980-01-22 | Nec Corp | Sample hold circuit |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
NL7014135A (ja) * | 1970-09-25 | 1972-03-28 | ||
GB1417731A (en) * | 1972-10-24 | 1975-12-17 | Bradley Ltd G & E | Electronic sampling circuits |
US3832577A (en) * | 1973-06-22 | 1974-08-27 | Ibm | Threshold extraction circuitry for noisy electric waveforms |
FR2453471A1 (fr) * | 1979-04-06 | 1980-10-31 | Inst Francais Du Petrole | Echantillonneur-bloqueur perfectionne |
US4308468A (en) * | 1979-11-15 | 1981-12-29 | Xerox Corporation | Dual-FET sample and hold circuit |
US4370572A (en) * | 1980-01-17 | 1983-01-25 | Trw Inc. | Differential sample-and-hold circuit |
JPS6047676B2 (ja) * | 1980-05-30 | 1985-10-23 | 日本電気株式会社 | サンプルアンドホ−ルド回路 |
-
1983
- 1983-09-12 CA CA000436508A patent/CA1207036A/en not_active Expired
- 1983-09-20 DE DE8383305517T patent/DE3381816D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1983-09-20 EP EP83305517A patent/EP0107337B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1983-09-27 GB GB08325794A patent/GB2128434B/en not_active Expired
- 1983-09-29 JP JP58179492A patent/JPS5982699A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS558656A (en) * | 1978-07-04 | 1980-01-22 | Nec Corp | Sample hold circuit |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0107337B1 (en) | 1990-08-16 |
EP0107337A3 (en) | 1985-08-21 |
JPS5982699A (ja) | 1984-05-12 |
CA1207036A (en) | 1986-07-02 |
EP0107337A2 (en) | 1984-05-02 |
DE3381816D1 (de) | 1990-09-20 |
GB2128434B (en) | 1986-08-20 |
GB2128434A (en) | 1984-04-26 |
GB8325794D0 (en) | 1983-10-26 |
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