JPH0563007B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0563007B2
JPH0563007B2 JP61081546A JP8154686A JPH0563007B2 JP H0563007 B2 JPH0563007 B2 JP H0563007B2 JP 61081546 A JP61081546 A JP 61081546A JP 8154686 A JP8154686 A JP 8154686A JP H0563007 B2 JPH0563007 B2 JP H0563007B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ceramic
laminate
ceramic laminate
multilayer
multilayer ceramic
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP61081546A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS62237714A (en
Inventor
Yukio Tanaka
Takao Hosokawa
Emiko Yamaguchi
Kenichi Mizuno
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Murata Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Murata Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Murata Manufacturing Co Ltd filed Critical Murata Manufacturing Co Ltd
Priority to JP61081546A priority Critical patent/JPS62237714A/en
Publication of JPS62237714A publication Critical patent/JPS62237714A/en
Publication of JPH0563007B2 publication Critical patent/JPH0563007B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Ceramic Capacitors (AREA)
  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、積層セラミツクコンデンサに関す
るものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a multilayer ceramic capacitor.

[従来の技術] 積層セラミツクコンデンサの本体部分をなすセ
ラミツク積層体の内部には、複数の内部電極が形
成されている。また、セラミツク積層体の両端面
には、それぞれ、外部電極が形成されている。内
部電極のセラミツク積層体中での形成状態に着目
すると、当該内部電極は、これと接続されるべき
外部電極が形成された端面にまで達する状態で形
成されているが、その他の部分においては、マー
ジンが残されている。すなわち、内部電極と接続
されない外部電極が形成された端面に対してはエ
ンドマージンが残され、セラミツク積層体の各側
面に対してはそれぞれサイドマージンが残されて
いる。
[Prior Art] A plurality of internal electrodes are formed inside a ceramic laminate that forms the main body of a multilayer ceramic capacitor. Furthermore, external electrodes are formed on both end faces of the ceramic laminate. Focusing on the state in which the internal electrodes are formed in the ceramic laminate, the internal electrodes are formed so as to reach the end surface where the external electrodes to be connected are formed, but in other parts, A margin is left. That is, an end margin is left on the end face where the external electrode is formed and is not connected to the internal electrode, and a side margin is left on each side of the ceramic laminate.

通常、積層セラミツクコンデンサを大量に製造
するときには、1枚の大きなセラミツクグリーン
シートの上に内部電極となるべき導電膜を縦およ
び横に配列した状態で印刷したものを用意し、こ
のようなセラミツクグリーンシートを複数枚積重
ねてから切断することが行なわれる。したがつ
て、このような工程をとる場合、導電膜の印刷工
程における誤差、セラミツクグリーンシートの積
重ね工程における誤差、および積重ねられたもの
を切断する工程における誤差を考慮しなければな
らない。そのため、エンドマージンやサイドマー
ジンをあまりにもゆとりなく設定した場合、上述
の誤差が重畳されることにより、所定のマージン
が形成されないという問題点を引き起こす可能性
がある。たとえば、サイドマージンが所定値より
小さい場合には、切断工程の結果、内部電極がセ
ラミツク積層体の側面から露出することもある。
内部電極が露出したときには、得られた積層セラ
ミツクコンデンサの外部との耐電圧性が劣り、か
つ外部電極との不所望な電気的接続が引き起こさ
れる可能性がある。
Normally, when manufacturing multilayer ceramic capacitors in large quantities, one large ceramic green sheet is printed with conductive films that are to become internal electrodes arranged vertically and horizontally. A plurality of sheets are stacked and then cut. Therefore, when using such a process, it is necessary to take into account errors in the process of printing the conductive film, errors in the process of stacking the ceramic green sheets, and errors in the process of cutting the stacked sheets. Therefore, if the end margins and side margins are set too loosely, the above-mentioned errors may be superimposed, which may cause a problem in that the predetermined margins are not formed. For example, if the side margin is smaller than a predetermined value, internal electrodes may be exposed from the sides of the ceramic laminate as a result of the cutting process.
When the internal electrodes are exposed, the obtained multilayer ceramic capacitor has poor voltage resistance with the outside, and there is a possibility that an undesired electrical connection with the external electrodes may occur.

このように、上述した通常の製造方法をとる限
り、エンドマージンやサイドマージンは、誤差を
許容できる程度に余裕をもつて形成されなければ
ならない。そのため、内部電極の互いの重なり部
分の面積が小さくならざるを得ず、特に小型の積
層セラミツクコンデンサでは静電容量の取得効率
をそれほど高く望むことはできなかつた。
As described above, as long as the above-described normal manufacturing method is used, the end margin and side margin must be formed with enough margin to allow for errors. Therefore, the area of the mutually overlapping portions of the internal electrodes has to be small, and particularly in small multilayer ceramic capacitors, it is not possible to achieve a very high capacitance acquisition efficiency.

上述のような問題点を解決するために、切断工
程において、サイドマージンを形成する側面に、
内部電極を積極的に露出させ、サイドマージンと
して機能する部分を、後で形成しようとする技術
が、たとえば特公昭53−23496号公報に記載され
ている。
In order to solve the above-mentioned problems, in the cutting process, the sides forming the side margins are
For example, Japanese Patent Publication No. 53-23496 describes a technique in which internal electrodes are actively exposed and portions functioning as side margins are formed later.

この従来技術では、セラミツクの焼成後におい
て、切断を行ない、内部電極が露出された切断面
にグレーズを付与して焼付けることがで行なわれ
る。グレーズは、絶縁性を有していて、内部電極
のためのサイドマージンとして働く。
In this conventional technique, after the ceramic is fired, it is cut, and the cut surface where the internal electrodes are exposed is coated with glaze and fired. The glaze has insulating properties and acts as a side margin for the internal electrodes.

上述のようなグレーズを後で付与するという工
程をとることにより、従来の通常の製造方法にお
いて考慮しなければならなかつた導電膜の印刷工
程における誤差、積重ね工程における誤差、およ
び切断工程における誤差を考慮しなくても、グレ
ーズにより確実にサイドマージンが形成されるの
で、セラミツク積層体の両側面間の全幅にわたつ
て内部電極を形成することができるようになり、
静電容量の取得効率を高めることができる。
By applying the glaze later as described above, errors in the printing process, stacking process, and cutting process of the conductive film, which had to be taken into consideration in conventional manufacturing methods, can be avoided. Even without consideration, the glaze reliably forms side margins, making it possible to form internal electrodes across the entire width between both sides of the ceramic laminate.
Capacitance acquisition efficiency can be increased.

[発明が解決しようとする問題点] 上述したグレーズは、セラミツクとは異質の材
料であるガラスで構成されるものである。したが
つて、このようなガラスの性質に起因して、次の
ような問題点に遭遇することがわかつた。
[Problems to be Solved by the Invention] The above-mentioned glaze is made of glass, which is a material different from ceramic. Therefore, it has been found that the following problems occur due to the properties of glass.

まず、得られた積層セラミツクコンデンサは、
ヒートシヨツクに対して弱い。ガラスとセラミツ
クとでは熱膨張係数が異なるためである。
First, the obtained multilayer ceramic capacitor is
Weak against heat shots. This is because glass and ceramic have different coefficients of thermal expansion.

また、グレーズの焼付けにより形成されるガラ
スの層の厚みは、これを制御するのが比較的困難
である。なぜなら、グレーズの焼付時において、
ガラスが溶融し、当初の付着量を焼付後まで維持
できないことがあるためである。すなわち、焼付
後におけるガラスの厚みは、溶融時における表面
張力によつて微妙に左右されるためである。
Additionally, the thickness of the glass layer formed by baking the glaze is relatively difficult to control. This is because when baking the glaze,
This is because the glass may melt and the initial amount of adhesion may not be maintained until after baking. That is, the thickness of the glass after baking is delicately influenced by the surface tension during melting.

また、ガラスは、セラミツクに比べて誘電率が
低いため、ガラス部分での電界集中が生じ、耐電
圧性が低下する。
Further, since glass has a lower dielectric constant than ceramic, electric field concentration occurs in the glass portion, resulting in a decrease in voltage resistance.

また、ガラスの誘電体損が比較的大きいため、
得られた積層セラミツクコンデンサとしての誘電
体損も大きくなる。
In addition, since the dielectric loss of glass is relatively large,
The resulting multilayer ceramic capacitor also has a large dielectric loss.

また、グレーズの焼付は、セラミツクの焼結後
に改めて行なわれなければならない。また、グレ
ーズの焼付時において、他のセラミツク積層体と
の溶着を防ぐために互いに離しておかなければな
らない。これらのことから、生産性がそれほど高
くない。
Furthermore, the baking of the glaze must be carried out again after the ceramic is sintered. Further, when baking the glaze, they must be kept apart from each other to prevent welding with other ceramic laminates. For these reasons, productivity is not so high.

そこで、この発明は、上述したような問題点を
解消し得る積層セラミツクコンデンサを提供しよ
うとするものである。
Therefore, the present invention aims to provide a multilayer ceramic capacitor that can solve the above-mentioned problems.

[問題点を解決するための手段] この発明は、複数のセラミツク誘電体層が積層
されてなり、上面、下面、相対向する両側面およ
び相対向する両端面を有する直方体状のセラミツ
ク積層体と、セラミツク積層体の各端面にそれぞ
れ形成された外部電極と、セラミツク積層体の内
部にあつてセラミツク誘電体層を挾んで互いに対
向するようにセラミツク誘電体層間に形成される
とともにいずれか一方の外部電極に接続されるよ
うにセラミツク積層体の当該外部電極が形成され
た端面にまで達する状態で形成された複数の内部
電極とを備え、各内部電極は、当該内部電極と接
続されない外部電極が形成された端面に対しては
エンドマージンを残し、かつセラミツク積層体の
各側面に対してはそれぞれサイドマージンを残す
ように、形成された、積層セラミツクコンデンサ
であつて、上述の問題点は次のように解決され
る。
[Means for Solving the Problems] The present invention provides a rectangular parallelepiped-shaped ceramic laminate including a plurality of ceramic dielectric layers stacked together and having an upper surface, a lower surface, opposing side surfaces, and opposing end surfaces. , an external electrode formed on each end face of the ceramic laminate, and an external electrode formed between the ceramic dielectric layers so as to face each other with the ceramic dielectric layer sandwiched between them inside the ceramic laminate, and an external electrode formed on one of the external electrodes. A plurality of internal electrodes are formed to reach the end face of the ceramic laminate on which the external electrodes are formed so as to be connected to the electrodes, and each internal electrode is formed with an external electrode that is not connected to the internal electrodes. The multilayer ceramic capacitor is formed so as to leave an end margin on the edge of the ceramic laminate, and a side margin on each side of the ceramic laminate. resolved to.

すなわち、セラミツク積層体のサイドマージン
を形成する部分は、セラミツク積層体の未焼成段
階において、セラミツク積層体のサイドマージン
部分を除く部分に、セラミツク誘電体層を構成す
るのと同じセラミツク材料のスラリの層が付加さ
れ、その状態で前記セラミツク積層体が一体に焼
成されたときに得られたものであり、その層の厚
みは200μm以下である。
In other words, the portions forming the side margins of the ceramic laminate are coated with a slurry of the same ceramic material as the ceramic dielectric layer in the ceramic laminate, excluding the side margin portions, during the unfired stage of the ceramic laminate. It is obtained when a layer is added and the ceramic laminate is fired together in that state, and the thickness of the layer is 200 μm or less.

[発明の作用効果] この発明によれば、厚みが200μm以下の層を
もつて内部電極のためのサイドマージンが形成さ
れる。したがつて、セラミツク積層体の幅に占め
る内部電極の幅を広くすることができ、静電容量
の取得効率を高めることができるとともに、等価
直列抵抗をを小さくすることができる。
[Operations and Effects of the Invention] According to the present invention, side margins for internal electrodes are formed with a layer having a thickness of 200 μm or less. Therefore, the width of the internal electrodes that occupies the width of the ceramic laminate can be increased, the capacitance acquisition efficiency can be increased, and the equivalent series resistance can be reduced.

また、サイドマージンを形成する部分は、セラ
ミツク積層体の残りの部分を構成するのと同じセ
ラミツク材料、なわち共素地で構成されるため、
熱膨張係数が一致し、耐ヒートシヨツク性が向上
する。
In addition, since the part forming the side margin is made of the same ceramic material that makes up the rest of the ceramic laminate, that is, the common material,
Thermal expansion coefficients match, improving heat shock resistance.

また、サイドマージンを形成するセラミツク材
料は、グレーズのように焼付時において溶融する
ことがないので、その厚みの制御が容易である。
Further, since the ceramic material forming the side margin does not melt during baking unlike glaze, its thickness can be easily controlled.

また、ガラスに比べて、セラミツクは誘電体損
が小さいため、ガラスによりサイドマージンを形
成する場合に比べて、コンデンサとしての誘電体
損が小さくなる。
Further, since ceramic has a smaller dielectric loss than glass, the dielectric loss as a capacitor is smaller than when the side margin is formed of glass.

また、サイドマージンを形成するセラミツク材
料は、セラミツク積層体の未焼成段階において付
加され、この付加の後で、セラミツク積層体がサ
イドマージンの部分を含めて一体に焼成されるた
め、セラミツクの焼成後にグレーズを焼付ける場
合に比べて、生産性が向上する。また、グレーズ
の焼付の場合のように、互いの溶着を考慮する必
要がないことも、生産性の向上につながる。
In addition, the ceramic material forming the side margin is added to the ceramic laminate at an unfired stage, and after this addition, the ceramic laminate including the side margin part is fired as a whole, so that after the ceramic is fired, Productivity is improved compared to baking the glaze. Further, unlike in the case of glaze baking, there is no need to consider mutual welding, which also leads to improved productivity.

[実施例] 第1図には、この発明の一実施例の積層セラミ
ツクコンデンサ26の外観が斜視図で示されてい
る。この積層セラミツクコンデンサ26の構成を
明らかにするため、第2図ないし第7図を参照し
て、当該積層セラミツクコンデンサ26の製造方
法について説明する。
[Embodiment] FIG. 1 is a perspective view showing the appearance of a multilayer ceramic capacitor 26 according to an embodiment of the present invention. In order to clarify the structure of this multilayer ceramic capacitor 26, a method of manufacturing the multilayer ceramic capacitor 26 will be explained with reference to FIGS. 2 to 7.

まず、セラミツク誘電体層となる、第2図に示
すようなセラミツクグリーンシート11が複数枚
用意される。各セラミツクグリーンシート11に
は、内部電極となるべき複数の導電膜12が、
各々ギヤツプ13を介して互いに離隔された状態
で横方向に並んで、たとえば印刷により形成さ
れ、その後乾燥される。この実施例では、後で述
べる説明から明らかなように、多数の積層セラミ
ツクコンデンサを同時に得るため、各導電膜12
は、縦方向に帯状に延びる状態で形成されてい
る。
First, a plurality of ceramic green sheets 11 as shown in FIG. 2, which will become ceramic dielectric layers, are prepared. Each ceramic green sheet 11 has a plurality of conductive films 12 to serve as internal electrodes.
They are formed by, for example, printing, arranged in a horizontal direction and spaced apart from each other via gaps 13, and then dried. In this embodiment, each conductive film 12 is
is formed in a strip-like state extending in the vertical direction.

印刷された導電膜12を乾燥した後、第3図に
示すような位置関係をもつて、複数のセミツクグ
リーンシート11が積層される。この実施例で
は、同じパターンをもつて形成された導電膜12
を有する同じセラミツクグリーンシート11を交
互に水平面内において180度回転させることに
より向きを変えながら、所定枚数積重ねられる。
この積重ね状態において、或るセラミツクグリー
ンシート11上のギヤツプ13と他のセラミツク
グリーンシート11上の導電膜12(この例では
導電膜12のほぼ中央部)とが積層方向に整列す
るようになる。さらに、このように積層されたセ
ラミツクグリーンシート11の上側および下側
に、必要に応じて、導電膜が形成されていないセ
ラミツクグリーンシートが所定枚数積重ねられ
る。
After drying the printed conductive film 12, a plurality of semi-conductive green sheets 11 are stacked in a positional relationship as shown in FIG. In this embodiment, conductive films 12 formed with the same pattern are used.
A predetermined number of ceramic green sheets 11 having the same shape are stacked while changing their orientation by alternately rotating them by 180 degrees in a horizontal plane.
In this stacked state, the gap 13 on one ceramic green sheet 11 and the conductive film 12 on another ceramic green sheet 11 (approximately the center of the conductive film 12 in this example) are aligned in the stacking direction. Furthermore, a predetermined number of ceramic green sheets on which no conductive film is formed are stacked on the upper and lower sides of the ceramic green sheets 11 stacked in this manner, if necessary.

積重ねられたセラミツクグリーンシート11
は、プレスして互いに圧着されたとき、第4図に
示すような積層体14を構成する。この積層体1
4内には、それぞれの導電膜12およびギヤツプ
13の位置関係が図解的に示されている。
Stacked ceramic green sheets 11
When pressed together, they constitute a laminate 14 as shown in FIG. This laminate 1
4, the positional relationship between each conductive film 12 and gap 13 is schematically shown.

第4図に示す積層体14は、次に、第2図に示
した横方向に向く切断線15によつて厚さ方向に
切断され、それによつて、第5図に示すような長
手の積層体ブロツク16が形成される。この積層
体ブロツク16の側面をなす切断線15に沿う切
断面17には、導電膜12が露出している。
The laminate 14 shown in FIG. 4 is then cut through its thickness by the laterally oriented cutting line 15 shown in FIG. 2, thereby producing a longitudinal laminate as shown in FIG. A body block 16 is formed. The conductive film 12 is exposed at a cut surface 17 along the cutting line 15 forming the side surface of the laminate block 16.

次に、積層体ブロツク16の両切断面17に
は、第6図に示すように、セラミツクスラリ18
が塗布される。このセラミツクスラリ18の厚み
は、後の焼成後において、50〜200μm程度とな
るように選ばれ、特に50μm程度が好ましい。な
お、セラミツクスラリ18の厚みは、印刷法やス
プレー法で精度良くコントロールすることができ
る。
Next, as shown in FIG. 6, ceramic slurry 18 is applied to both cut surfaces 17 of the laminate block 16.
is applied. The thickness of this ceramic slurry 18 is selected to be about 50 to 200 μm after the subsequent firing, and particularly preferably about 50 μm. Note that the thickness of the ceramic slurry 18 can be precisely controlled by a printing method or a spray method.

上移したセラミツクスラリ18は、セラミツク
グリーンシート11を構成するのと同じセラミツ
ク材料、すなわち共素地のスラリから構成され
る。このように、セラミツクグリーンシート11
とセラミツクスラリ18とが同じセラミツク材料
から構成されていれば、後で述べる焼成工程にお
いて、同一条件で両者を焼成することができると
ともに、セラミツクグリーンシート11とセラミ
ツクスラリ18との境界で異常な反応が起こらな
い。
The transferred ceramic slurry 18 is composed of the same ceramic material that constitutes the ceramic green sheet 11, ie, a co-base slurry. In this way, the ceramic green sheet 11
If the ceramic green sheet 11 and the ceramic slurry 18 are made of the same ceramic material, both can be fired under the same conditions in the firing process described later, and an abnormal reaction at the boundary between the ceramic green sheet 11 and the ceramic slurry 18 can be avoided. does not occur.

なお、セラミツクスラリ18に含まれる結合
剤、溶媒および添加剤ならびにそれらの配合割合
は、これを塗布する方式に応じて選択すればよ
い。また、セラミツクスラリ18に含まれる結合
剤は、セラミツクグリーンシート11で用いられ
た結合剤との関係で、有機溶剤系または水溶性の
いずれかの結合剤に特定する方が好ましい。すな
わち、セラミツクグリーンシート11にポリビニ
ルアルコール、ポリビニルブチラールなどの有機
溶剤系の結合剤を用いていれば、セラミツクスラ
リ18に用いる結合剤としては、ポリビニルアセ
テートなどの水溶性の結合剤を用い、逆に、セラ
ミツクグリーンシート11に水溶性の結合剤を用
いていれば、セラミツクスラリ18には有機溶剤
系の結合剤を用いる方が好ましい。なぜなら、セ
ラミツクスラリ18の結合剤がセラミツクグリー
ンシート11の結合剤を溶解しないようにするた
めである。
Note that the binder, solvent, and additives contained in the ceramic slurry 18 and their blending ratio may be selected depending on the method of applying the same. Further, the binder contained in the ceramic slurry 18 is preferably specified as either an organic solvent-based binder or a water-soluble binder in relation to the binder used in the ceramic green sheet 11. That is, if an organic solvent-based binder such as polyvinyl alcohol or polyvinyl butyral is used for the ceramic green sheet 11, a water-soluble binder such as polyvinyl acetate is used as the binder for the ceramic slurry 18; If a water-soluble binder is used for the ceramic green sheet 11, it is preferable to use an organic solvent-based binder for the ceramic slurry 18. This is to prevent the binder of the ceramic slurry 18 from dissolving the binder of the ceramic green sheet 11.

次に、第6図に示した積層体ブロツク16は、
第2図および第4図に示した縦方向に向く切断線
19によつて、ギヤツプ13を通る位置において
厚さ方向に切断される。それによつて、第7図に
拡大して示すような積層体チツプ20が得られ
る。この積層体チツプ20の両端面をなす切断面
21の各々には、内部電極となるべき導電膜12
が露出する。なお、2つの切断面21のそれぞれ
には、異なる導電膜12が露出している。
Next, the laminate block 16 shown in FIG.
A cut is made in the thickness direction at a position passing through the gap 13 by a longitudinally oriented cutting line 19 shown in FIGS. 2 and 4. As a result, a laminate chip 20 as shown enlarged in FIG. 7 is obtained. On each of the cut surfaces 21 forming both end surfaces of the multilayer chip 20, a conductive film 12 to be an internal electrode is provided.
is exposed. Note that different conductive films 12 are exposed on each of the two cut surfaces 21.

第7図に示すような直方体状の積層体チツプ2
0は、焼成される。そして。焼成された積層体チ
ツプ20の各端面には、第1図に示すように、外
部電極22,23が形成される。外部電極22,
23は、金属を含むペーストを塗布してから焼付
ける方法、あるいはめつきなどにより形成するこ
とができる。このように外部電極22,23が形
成されたとき、積層体チツプ20の内部に形成さ
れている導電膜12をもつて与えられた内部電極
の第1グループのものが第1の外部電極22に接
続され、同じく第2グループのものが第2の外部
電極23に接続されて、積層セラミツクコンデン
サ26が構成される。また、前述したセラミツク
スラリ18の層は、焼成後において、これら内部
電極に対してサイドマージンを与えるセラミツク
層18aとなる。
Rectangular parallelepiped-shaped laminate chip 2 as shown in FIG.
0 is fired. and. As shown in FIG. 1, external electrodes 22 and 23 are formed on each end face of the fired laminate chip 20. As shown in FIG. external electrode 22,
23 can be formed by applying a metal-containing paste and then baking it, or by plating. When the external electrodes 22 and 23 are formed in this way, the first group of internal electrodes provided with the conductive film 12 formed inside the multilayer chip 20 are replaced by the first external electrodes 22. Similarly, the second group of capacitors are connected to the second external electrode 23 to form a multilayer ceramic capacitor 26. Further, the layer of ceramic slurry 18 described above becomes a ceramic layer 18a that provides side margins for these internal electrodes after firing.

以上のようにして得られた積層セラミツクコン
デンサの特性を、従来のものと比較して、第8図
および第9図を参照しながら、より具体的に説明
する。
The characteristics of the multilayer ceramic capacitor obtained as described above will be explained in more detail in comparison with conventional capacitors with reference to FIGS. 8 and 9.

第8図および第9図は、共に、セラミツク部分
24と内部電極25との大きさの関係を平面的に
示したもので、同じ外形寸法を有する積層セラミ
ツクコンデンサでの比較を明確にするために、セ
ラミツク部分24における平面形状の寸法は同一
に表わされている。内部電極25が形成されてい
る領域は、ハツチングで示され、セラミツク部分
24の内部に隠れる内部電極25は点線で示され
ている。なお、第8図および第9図に記入した寸
法を表わす数字の単位は[mm]であり、第8図に
示すものが従来例であり、第9図に示すものがこ
の発明によるものである。
8 and 9 are two-dimensional diagrams showing the relationship in size between the ceramic portion 24 and the internal electrode 25, in order to clarify the comparison between multilayer ceramic capacitors having the same external dimensions. , the planar dimensions of the ceramic portion 24 are shown to be the same. The region where the internal electrode 25 is formed is shown by hatching, and the internal electrode 25 hidden inside the ceramic portion 24 is shown by a dotted line. Note that the units of numbers representing the dimensions entered in Fig. 8 and Fig. 9 are [mm], and the one shown in Fig. 8 is the conventional example, and the one shown in Fig. 9 is according to the present invention. .

外形の平面形状での寸法が1.5×0.8mmといつた
小形の積層セラミツクコンデンサを得ようとする
場合、従来においては、第8図に示すように、印
刷精度および切断精度の点から、サイドマージン
およびエンドマージンとして0.25mmを見込んで製
造していた。したがつて、セラミツク部分24の
全面積に対する内部電極25の重なり部分の面積
の比は、 (1.0×0.3)/(1.5×0.8)=0.25 すなわち、25%にしか達することがなかつた。
これに、セラミツクグリーンシートの積重ね時の
誤差によつて生じる内部電極25の重なりのずれ
を考慮すると、実質22〜23%にしか前述の比が達
していないのが現状であつた。
When trying to obtain a small multilayer ceramic capacitor with external planar dimensions of 1.5 x 0.8 mm, conventionally, as shown in Figure 8, side margins have been set from the viewpoint of printing accuracy and cutting accuracy. It was manufactured with an end margin of 0.25mm in mind. Therefore, the ratio of the area of the overlapping portion of the internal electrode 25 to the total area of the ceramic portion 24 was (1.0×0.3)/(1.5×0.8)=0.25, that is, only reached 25%.
In addition, considering the deviation in the overlap of the internal electrodes 25 caused by errors in stacking the ceramic green sheets, the above-mentioned ratio has actually reached only 22 to 23%.

これに対して、第9図では、セラミツク層18
aの厚みを50μmとすると、この厚みに相当する
0.05mmしかサイドマージンに相当する部分が存在
せず、前述の比は、 (1.0×0.7)/(1.5×0.8)=0.58 となり、一挙に2.5倍の静電容量を取得すること
ができる。
In contrast, in FIG. 9, the ceramic layer 18
If the thickness of a is 50 μm, it corresponds to this thickness.
There is only a 0.05mm portion corresponding to the side margin, and the aforementioned ratio is (1.0 x 0.7)/(1.5 x 0.8) = 0.58, making it possible to obtain 2.5 times the capacitance at once.

また、静電容量のばらつきについても、3CVに
おいて、従来30%であつたのが、7〜8%にまで
少なくすることができる。
Furthermore, the variation in capacitance can be reduced from 30% in the past to 7 to 8% at 3CV.

第10図には、この発明の他の実施例の積層セ
ラミツクコンデンサ127が斜視図で示されてい
る。この積層セラミツクコンデンサ17の構成を
明らかにするため、第11図ないし第18図を参
照しながら、その製造方法について説明する。
FIG. 10 shows a perspective view of a multilayer ceramic capacitor 127 according to another embodiment of the invention. In order to clarify the structure of this multilayer ceramic capacitor 17, a manufacturing method thereof will be explained with reference to FIGS. 11 to 18.

まず、第11図および第12図に示すように、
内部電極となるべき導電膜111がそれぞれ形成
された複数の未焼成のセラミツク誘電体層112
が用意される。導電膜111は、この実施例で
も、帯状に延びて複数列に形成されている。
First, as shown in FIGS. 11 and 12,
A plurality of unfired ceramic dielectric layers 112 each having a conductive film 111 to become an internal electrode formed thereon.
will be prepared. In this embodiment as well, the conductive film 111 extends in a strip shape and is formed in a plurality of rows.

第11図および第12図のそれぞれにおいて、
上に示したセラミツク誘電体層112と下に示し
たセラミツク誘電体層112とは互いに同一であ
るが、上のもと下のものとは互いにセラミツク誘
電体層112の面方向に180度回転されている。
すなわち、次の工程として、複数のセラミツク誘
電体層112は、上に示したものと下に示したも
のとが交互に積重ねられる。
In each of FIGS. 11 and 12,
The ceramic dielectric layer 112 shown above and the ceramic dielectric layer 112 shown below are identical to each other, but the upper and lower layers are rotated 180 degrees in the plane direction of the ceramic dielectric layer 112. ing.
That is, as a next step, a plurality of ceramic dielectric layers 112 are stacked alternately, one shown above and one shown below.

上述のような積重ね工程は、第13図および第
14図に示すように、作業台113上で実施され
る。セラミツク誘電体層112の積重ね後プレス
によつて、各セラミツク誘電体層112は互いに
圧着される。この状態において、導電膜111
は、セラミツク誘電体層112を挾んで互いに対
向する状態となる。なお、第12図ないし第14
図からわかるように、或るセラミツク誘電体層1
12上に形成された複数の導電膜111間の間隙
の部分は、次にセラミツク誘電体層112上に形
成された特定の導電膜111のほぼ中央部に対向
するように位置決めされている。
The stacking process as described above is performed on the workbench 113, as shown in FIGS. 13 and 14. After stacking the ceramic dielectric layers 112, the ceramic dielectric layers 112 are pressed together by pressing. In this state, the conductive film 111
are opposed to each other with the ceramic dielectric layer 112 in between. In addition, Figures 12 to 14
As can be seen, a certain ceramic dielectric layer 1
The gap between the plurality of conductive films 111 formed on the ceramic dielectric layer 112 is positioned so as to face approximately the center of a particular conductive film 111 formed on the ceramic dielectric layer 112.

前述したように積重ねられ圧着されたセラミツ
ク誘電体層112積層構造物114は、以下に述
べる工程を進めるにあたつて、第14図に示すよ
うに、作業台113にしつかりと固定される。こ
の固定の手段として、たとえば、ワツクスが用い
られる。
The laminated structure 114 of the ceramic dielectric layers 112 stacked and crimped as described above is firmly fixed on a workbench 113 as shown in FIG. 14 in proceeding with the steps described below. For example, wax is used as this fixing means.

次に、第15図に一部を示すように、作業台1
13(図示せず)に保持されたまま、積層物構造
物114に対して、平行な複数の切込115が形
成される。これら切込115は、第13図におい
て示した複数の切断線116に沿つて、たとえば
300μm程度の厚みのブレードで切断することに
より形成されたものである。これによつて複数個
の棒状のブロツク117が得られる。第13図に
示した切断線116は、導電膜111を切断する
位置にあるので、得られた各ブロツク117の各
切断面上には、導電膜111が露出する。この露
出した導電膜111の端縁は、得ようとする積層
セラミツクコンデンサ127(第10図)の内部
電極のサイドマージンと隣接すべき端縁に相当し
ている。
Next, as partially shown in FIG.
13 (not shown), a plurality of parallel cuts 115 are formed in the laminate structure 114. These cuts 115 are made along the plurality of cutting lines 116 shown in FIG. 13, for example.
It is formed by cutting with a blade approximately 300 μm thick. As a result, a plurality of rod-shaped blocks 117 are obtained. Since the cutting line 116 shown in FIG. 13 is at a position where the conductive film 111 is cut, the conductive film 111 is exposed on each cut surface of each block 117 obtained. The exposed edge of the conductive film 111 corresponds to the edge that should be adjacent to the side margin of the internal electrode of the multilayer ceramic capacitor 127 (FIG. 10) to be obtained.

次に、作業台113上に保持された状態を保ち
ながら、第16図に示すように、切込115内
に、後でサイドマージンを形成すべきセラミツク
スラリ118が充填される。このセラミツクスラ
リ118は、セラミツク誘電体層112を構成す
るのと同じセラミツク材料からなるものである。
なお、セラミツクスラリ118を充填する際、切
込115内に空気が入り込まないように配慮する
必要がある。そのため、たとえば負圧を与えなが
らセラミツクスラリを流し込むこと、あるいは風
を吹付けながら、その風の方向にセラミツクスラ
リを流すことなどが有利な方法として採用される
ことができる。さらに、その表面にセラミツクス
ラリを付着させたブレードを切込115内に走ら
せることも考えられる。
Next, while being held on the workbench 113, as shown in FIG. 16, the notch 115 is filled with a ceramic slurry 118 that will later form a side margin. This ceramic slurry 118 is made of the same ceramic material that makes up the ceramic dielectric layer 112.
Note that when filling the ceramic slurry 118, care must be taken to prevent air from entering the notch 115. Therefore, for example, it may be advantageous to pour the ceramic slurry while applying a negative pressure, or to flow the ceramic slurry in the direction of the wind while blowing the wind. Furthermore, it is also conceivable to run a blade, the surface of which is coated with ceramic slurry, into the notch 115.

次に、作業台113になおも保持されたままの
状態で、第17図に示すように、切込115内に
充填されたセラミツクスラリ118を2分割する
ように再び切断される。このとき得られた切断線
は「119」で示されている。この2回目の切断
は、前に切込115を形成したブレードより薄
い、たとえば150〜200μm程度の厚みのブレード
で実施される。このようにして、セラミツクスラ
リ118は分割され、さらにその厚みが薄くされ
る。分割されたセラミツクスラリ118の各部分
は、ブロツク117の両側面に付着した状態とな
つている。
Next, while still being held on the workbench 113, the ceramic slurry 118 filled in the notch 115 is again cut into two, as shown in FIG. The cutting line obtained at this time is indicated by "119". This second cutting is performed with a blade that is thinner than the blade that previously formed the cut 115, for example, about 150 to 200 μm thick. In this way, the ceramic slurry 118 is divided and its thickness is further reduced. Each portion of the divided ceramic slurry 118 is attached to both sides of the block 117.

次に、方向を90度変えて切断が実施される。す
なわち、第12図、第13図および第14図に示
した切断線120に沿う切断が行なわれる。この
切断により得られた未焼成のセラミツク積層体1
21が、拡大されて第18図に示されている。セ
ラミツク積層体121は、第7図に示した積層体
チツプ20と同様、上面、下面、相対向する両側
面および相対向する両端面を有する直方体状をな
している。第18図においては、上面112、一
方の側面123および一方の端面124が図示さ
れている。側面123は、前述した切断線119
の結果として生じたものである。また、端面12
4は、前述した切断線120に沿う切断により形
成されたものである。第18図において、端面1
24には、導電膜111の特定のものが露出して
おり、図示しないが、他方の端面にも、残る導電
膜が露出している。このようなセラミツク積層体
121の内部に残された導電膜111は、内部電
極となるものである。
The cut is then performed with a 90 degree change in direction. That is, cutting is performed along the cutting line 120 shown in FIGS. 12, 13, and 14. Unfired ceramic laminate 1 obtained by this cutting
21 is shown enlarged in FIG. The ceramic laminate 121, like the laminate chip 20 shown in FIG. 7, has a rectangular parallelepiped shape having an upper surface, a lower surface, opposing side surfaces, and opposing end surfaces. In FIG. 18, the top surface 112, one side surface 123, and one end surface 124 are illustrated. The side surface 123 is located along the above-mentioned cutting line 119.
This occurred as a result of. In addition, the end surface 12
4 is formed by cutting along the cutting line 120 described above. In Fig. 18, end face 1
24, a specific part of the conductive film 111 is exposed, and although not shown, the remaining conductive film is also exposed on the other end face. The conductive film 111 left inside the ceramic laminate 121 serves as an internal electrode.

未焼成のセラミツク積層体121は、次に、焼
成される。そして、第10図に示すように、焼成
されたセラミツク積層体121の両端面には、外
部電極125,126が形成される、外部電極1
25,126は、前述した実施例と同様の方法に
より形成されることができる。
The green ceramic laminate 121 is then fired. As shown in FIG. 10, external electrodes 125 and 126 are formed on both end surfaces of the fired ceramic laminate 121.
25 and 126 can be formed by the same method as in the embodiment described above.

第10図に示すように得られた積層セラミツク
コンデンサ127は、チツプ状をなしている。こ
こで、前述したセラミツクスラリ118は、セラ
ミツク積層体121の両側面に沿つて延びるセラ
ミツク層118aとなつてセラミツク積層体12
0の一部として一体に焼結される。そして、第1
8図に示した導電膜111(内部電極)のための
サイドマージンを構成している。
As shown in FIG. 10, the obtained multilayer ceramic capacitor 127 has a chip shape. Here, the ceramic slurry 118 described above becomes ceramic layers 118a extending along both side surfaces of the ceramic laminate 121, and the ceramic slurry 118
Sintered together as part of 0. And the first
This constitutes a side margin for the conductive film 111 (internal electrode) shown in FIG.

第19図および第20図には、この発明による
積層セラミツクコンデンサ30の一例が断面図で
示されている。この積層セラミツクコンデンサ3
0は、複数の内部電極31を備え、それぞれ、サ
イドマージン32を形成している。また、第21
図には、従来の積層セラミツクコンデンサ40が
断面図で示されている。この積層セラミツクコン
デンサ40は、複数の内部電極41を備え、それ
ぞれ、サイドマージン42を形成している。
FIGS. 19 and 20 show a cross-sectional view of an example of a multilayer ceramic capacitor 30 according to the present invention. This multilayer ceramic capacitor 3
0 includes a plurality of internal electrodes 31, each forming a side margin 32. Also, the 21st
The figure shows a conventional multilayer ceramic capacitor 40 in cross-section. This multilayer ceramic capacitor 40 includes a plurality of internal electrodes 41, each forming a side margin 42.

これら積層セラミツクコンデンサ30および4
0は、共通して、それぞれのサイドマージン3
2,42が現われる断面が実質的に正方形である
という寸法的な特徴を有している。また、それぞ
れの内部電極31,41と平行に延びる最も外側
のセラミツク層33,43の各厚みを、それぞ
れ、“A”、“a”で表わす。また、サイドマージ
ン32の幅を“B”で表わし、サイドマージン4
2の幅を“b”で表わす。
These multilayer ceramic capacitors 30 and 4
0 is common, each side margin 3
It has the dimensional feature that the cross section in which 2 and 42 appear is substantially square. Further, the respective thicknesses of the outermost ceramic layers 33, 43 extending parallel to the respective internal electrodes 31, 41 are represented by "A" and "a", respectively. In addition, the width of the side margin 32 is represented by "B", and the width of the side margin 32 is expressed as "B".
The width of 2 is represented by "b".

まず、第21図に示す従来の積層セラミツクコ
ンデンサ40では、厚みaは、セラミツクグリー
ンシートの厚みや積層枚数によつて決定されるも
ので、比較的薄くすることも可能である。従来、
厚みaは、たとえば100μm以上に設定されてい
た。他方、幅bは、前述したように、それほど短
くできず、従来は、250μm以上の長さを有して
いた。
First, in the conventional multilayer ceramic capacitor 40 shown in FIG. 21, the thickness a is determined by the thickness of the ceramic green sheets and the number of laminated sheets, and can be made relatively thin. Conventionally,
The thickness a was set to, for example, 100 μm or more. On the other hand, as described above, the width b cannot be made so short, and conventionally has a length of 250 μm or more.

これに対して、第19図および第20図に示
す、この発明による積層セラミツクコンデンサ3
0においては、幅Bは、50〜200μm程度に短く
することができる。したがつて、幅Bは、厚みA
と等しい寸法にすることができ、当該セラミツク
コンデンサ30では、厚みAおよび幅Bを、共に
500〜200μmの寸法とすることができる。
In contrast, the multilayer ceramic capacitor 3 according to the present invention shown in FIGS. 19 and 20
0, the width B can be as short as about 50 to 200 μm. Therefore, the width B is the thickness A
In the ceramic capacitor 30, both the thickness A and the width B are equal to
The dimensions can be from 500 to 200 μm.

第19図および第20図には、それぞれ、プリ
ント回路基板34が極めて省略的に図示されてい
る。第19図では、積層セラミツクコンデンサ3
0が、その内部電極31を基板34と平行に向け
た状態で、基板34上に装着されている。他方、
第20図では、積層セラミツクコンデンサ30
は、その内部電極31を基板34に対して垂直方
向に向けた状態で、基板34上に装着されてい
る。前述したように、積層セラミツクコンデンサ
30の断面が実質的に正方形であり、かつ厚みA
が幅Bに等しいとき、積層セラミツクコンデンサ
30は、第19図に示す装着状態とされても、第
20図に示す装着状態とされても、基板34上の
配線導体(図示せず)と内部電極31との間に発
生する相互インダクタンスは、ほとんど変わらな
い。したがつて、第19図および第20図に示し
た寸法関係を有するように積層セラミツクコンデ
ンサ30を設計すれば、積層セラミツクコンデン
サ30は、相互インダクタンスを変化させること
なく、2種類の装着態様が可能である。
In each of FIGS. 19 and 20, the printed circuit board 34 is shown in a very simplified manner. In Figure 19, the multilayer ceramic capacitor 3
0 is mounted on the substrate 34 with its internal electrode 31 oriented parallel to the substrate 34. On the other hand,
In FIG. 20, a multilayer ceramic capacitor 30
is mounted on the substrate 34 with its internal electrode 31 oriented perpendicularly to the substrate 34. As mentioned above, the cross section of the multilayer ceramic capacitor 30 is substantially square, and the thickness is A.
is equal to the width B, the multilayer ceramic capacitor 30 is connected to the wiring conductor (not shown) on the board 34 and the inside, whether it is in the mounted state shown in FIG. 19 or in the mounted state shown in FIG. The mutual inductance generated between the electrode 31 and the electrode 31 remains almost unchanged. Therefore, if the multilayer ceramic capacitor 30 is designed to have the dimensional relationships shown in FIGS. 19 and 20, the multilayer ceramic capacitor 30 can be mounted in two ways without changing the mutual inductance. It is.

これに対して、第21図に示す積層セラミツク
コンデンサ40では、厚みaと幅bとが互いに異
なつているので、第19図に相当の装着状態と第
20図に相当の装着状態とでは、内部電極41と
プリント回路基板の配線導体との間で発生する相
互インダクタンスが変化するため、その装着にあ
たつては、積層セラミツクコンデンサ40の方向
を管理しなければならない。
On the other hand, in the multilayer ceramic capacitor 40 shown in FIG. 21, since the thickness a and the width b are different from each other, the internal Since the mutual inductance generated between the electrode 41 and the wiring conductor of the printed circuit board changes, the direction of the laminated ceramic capacitor 40 must be controlled when mounting it.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、この発明の一実施例の積層セラミツ
クコンデンサ26の外観を示す斜視図である。第
2図ないし第7図は、第1図の積層セラミツクコ
ンデンサ26を得るための製造方法に含まれる各
工程を順次示したものである。第8図および第9
図は、従来技術との対比で、第1図ないし第7図
に示した実施例の効果をより具体的に説明するた
めの、セラミツク部分24と内部電極25との大
きさの関係を示す図解図である。第10図は、こ
の発明の他の実施例の積層セラミツクコンデンサ
127の外観を示す斜視図である。第11図ない
し第18図は、第10図の積層セラミツクコンデ
ンサ127を得るための製造方法に含まれる各工
程を順次示したものである。第19図および第2
0図は、この発明にかかる積層セラミツクコンデ
ンサの装着例を示す図解的断面図である。第21
図は、第19図および第20図に対応する図であ
つて、従来の積層セラミツクコンデンサの図解的
断面図である。 図において、11はセラミツクグリーンシート
(セラミツク誘電体層)、12は内部電極となるべ
き導電膜、17は切断面(側面)、18はセラミ
ツクスラリ、18aはセラミツク層、21は切断
面(端面)、22,23は外部電極、26は積層
セラミツクコンデンサ、30は積層セラミツクコ
ンデンサ、31は内部電極、32はサイドマージ
ン、111は内部電極となるべき導電膜、112
はセラミツク誘電体層、118はセラミツクスラ
リ、118aはセラミツク層、121はセラミツ
ク積層体、122は上面、123は側面、124
は端面、125,126は外部電極、127は積
層セラミツクコンデンサである。
FIG. 1 is a perspective view showing the appearance of a multilayer ceramic capacitor 26 according to an embodiment of the present invention. 2 to 7 sequentially show each step included in the manufacturing method for obtaining the multilayer ceramic capacitor 26 of FIG. 1. Figures 8 and 9
The figure is a diagram showing the relationship in size between the ceramic portion 24 and the internal electrode 25 in order to more specifically explain the effects of the embodiments shown in FIGS. 1 to 7 in comparison with the prior art. It is a diagram. FIG. 10 is a perspective view showing the appearance of a multilayer ceramic capacitor 127 according to another embodiment of the present invention. 11 to 18 sequentially show each step included in the manufacturing method for obtaining the multilayer ceramic capacitor 127 shown in FIG. 10. Figure 19 and 2
FIG. 0 is a schematic cross-sectional view showing an example of mounting a multilayer ceramic capacitor according to the present invention. 21st
This figure corresponds to FIGS. 19 and 20, and is a schematic cross-sectional view of a conventional multilayer ceramic capacitor. In the figure, 11 is a ceramic green sheet (ceramic dielectric layer), 12 is a conductive film to be an internal electrode, 17 is a cut surface (side surface), 18 is ceramic slurry, 18a is a ceramic layer, and 21 is a cut surface (end surface). , 22 and 23 are external electrodes, 26 is a multilayer ceramic capacitor, 30 is a multilayer ceramic capacitor, 31 is an internal electrode, 32 is a side margin, 111 is a conductive film to be an internal electrode, 112
118 is a ceramic dielectric layer, 118 is a ceramic slurry, 118a is a ceramic layer, 121 is a ceramic laminate, 122 is a top surface, 123 is a side surface, 124
125 and 126 are external electrodes, and 127 is a multilayer ceramic capacitor.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 複数のセラミツク誘電体層が積層されてな
り、上面、下面、相対向する両側面および相対向
する両端面を有する直方体状のセラミツク積層体
と、セラミツク積層体の各端面にそれぞれ形成さ
れた外部電極と、セラミツク積層体の内部にあつ
てセラミツク誘電体層を挾んで互いに対向するよ
うにセラミツク誘電体層間に形成されるとともに
いずれか一方の外部電極に接続されるようにセラ
ミツク積層体の当該外部電極が形成された端面に
まで達する状態で形成された複数の内部電極とを
備え、各内部電極は、当該内部電極と接続されな
い外部電極が形成された端面に対してはエンドマ
ージンを残し、かつセラミツク積層体の各側面に
対してはそれぞれサイドマージンを残すように、
形成された、積層セラミツクコンデンサにおい
て、 前記セラミツク積層体の前記サイドマージンを
形成する部分は、当該セラミツク積層体の未焼成
段階において、前記セラミツク積層体の前記サイ
ドマージン部分を除く部分に、前記セラミツク誘
電体層を構成するのと同じセラミツク材料のスラ
リが付加され、その状態で前記セラミツク積層体
が一体に焼成されたときに得られたものであり、
その層の厚みは200μm以下であることを特徴と
する、積層セラミツクコンデンサ。
[Scope of Claims] 1. A rectangular parallelepiped-shaped ceramic laminate formed by laminating a plurality of ceramic dielectric layers and having an upper surface, a lower surface, opposing side surfaces, and opposing end surfaces, and each end surface of the ceramic laminate. and external electrodes formed inside the ceramic laminate between the ceramic dielectric layers so as to sandwich the ceramic dielectric layers so as to face each other and to be connected to one of the external electrodes. A plurality of internal electrodes are formed to reach the end face of the ceramic laminate on which the external electrode is formed, and each internal electrode has a plurality of internal electrodes formed on the end face where the external electrode is not connected to the internal electrode. Leave an end margin, and leave side margins on each side of the ceramic laminate.
In the formed multilayer ceramic capacitor, the portion forming the side margin of the ceramic laminate is formed by applying the ceramic dielectric to the portion of the ceramic laminate other than the side margin portion in the unfired stage of the ceramic laminate. A slurry of the same ceramic material as that constituting the body layer is added, and the ceramic laminate is integrally fired in that state,
A multilayer ceramic capacitor characterized by a layer thickness of 200 μm or less.
JP61081546A 1986-04-08 1986-04-08 Laminated ceramic capacitor Granted JPS62237714A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61081546A JPS62237714A (en) 1986-04-08 1986-04-08 Laminated ceramic capacitor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61081546A JPS62237714A (en) 1986-04-08 1986-04-08 Laminated ceramic capacitor

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS62237714A JPS62237714A (en) 1987-10-17
JPH0563007B2 true JPH0563007B2 (en) 1993-09-09

Family

ID=13749287

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61081546A Granted JPS62237714A (en) 1986-04-08 1986-04-08 Laminated ceramic capacitor

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS62237714A (en)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03108306A (en) * 1989-09-21 1991-05-08 Murata Mfg Co Ltd Manufacture of multilayer capacitor
KR101141369B1 (en) * 2010-12-13 2012-05-03 삼성전기주식회사 A multi-layerd ceramic condenser and fabricating method using thereof
JP2017204560A (en) 2016-05-11 2017-11-16 株式会社村田製作所 Multilayer ceramic capacitor and method for manufacturing the same
JP7150437B2 (en) * 2018-01-17 2022-10-11 太陽誘電株式会社 Manufacturing method of multilayer ceramic capacitor
JP7116520B2 (en) * 2018-03-23 2022-08-10 太陽誘電株式会社 Manufacturing method for multilayer ceramic electronic component
JP2022170162A (en) 2021-04-28 2022-11-10 Tdk株式会社 Electronic component

Also Published As

Publication number Publication date
JPS62237714A (en) 1987-10-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101812475B1 (en) Multilayer ceramic capacitor
JPH047574B2 (en)
JP2000348964A (en) Laminated ceramic electronic component
JPH1167554A (en) Laminated coil component and its manufacture
JPH09153433A (en) Manufacture of laminated electronic component
JPH0563007B2 (en)
JP2000340448A (en) Laminated ceramic capacitor
JP2000277382A (en) Multi-laminated ceramic capacitor and manufacturing method of the same
JP3264037B2 (en) Capacitor array
JP2010103184A (en) Method for manufacturing multilayer capacitor
JPH09260187A (en) Manufacture of ceramic electronic part
JP2000150289A (en) Layered ceramic capacitor
JP2000106320A (en) Laminated ceramic capacitor
JP3882718B2 (en) Manufacturing method of thin film laminated electronic component
JP2000106322A (en) Laminated ceramic capacitor
JPH05190373A (en) Manufacture of laminated ceramic capacitor
JP2766085B2 (en) Manufacturing method of laminate
JP2000164451A (en) Laminated ceramic capacitor
JP2001044059A (en) Multilayer ceramic capacitor
JPS6246260Y2 (en)
JPH05135902A (en) Rectangular type chip resistor and manufacture thereof
JPH0945830A (en) Chip electronic component
JP2000252160A (en) Manufacture of laminated component
JPH11340082A (en) Multilayer chip component and its manufacture
JP2003151850A (en) Laminated ceramic capacitor and its capacity adjustment method

Legal Events

Date Code Title Description
EXPY Cancellation because of completion of term