JPH05264223A - 立体形状・位置・姿勢検出方法とその装置 - Google Patents

立体形状・位置・姿勢検出方法とその装置

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JPH05264223A
JPH05264223A JP5840792A JP5840792A JPH05264223A JP H05264223 A JPH05264223 A JP H05264223A JP 5840792 A JP5840792 A JP 5840792A JP 5840792 A JP5840792 A JP 5840792A JP H05264223 A JPH05264223 A JP H05264223A
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Toshifumi Honda
敏文 本田
Yuji Takagi
裕治 高木
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 検出対象についての位置等が速やかに検出す
ること。 【構成】 TVカメラ106,107各々によって、画像検出
タイミングが所定時間ΔT間隔づつずらされた状態で、
検出対象102の画像がスリット光の対象102への照射に同
期して順次検出されているものである。あるTVカメラ
で対象102の画像が検出されるタイミングでは、他のT
Vカメラは露光状態にはなく、また、そのTVカメラ対
応のスリット光プロジェクタからはスリット光が対象10
2に照射される、といった具合に、2以上のTVカメラ
によって対象102の画像が順次検出されることで、対象1
02の位置等が速やかに検出され得るものである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、スリット光が照射され
ている検出対象の画像を処理することによって、その検
出対象についての立体形状、位置および姿勢状態を検出
するための立体形状・位置・姿勢検出方法とその装置に
係わり、特に1フレーム画像周期T以内に2以上の相異
なる斜め上方向から順次スリット光を照射することによ
って、検出対象についての立体形状、位置および姿勢状
態が速やかに検出されるようにした立体形状・位置・姿
勢検出方法とその装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】これまで、3次元物体のその形状や位
置、姿勢状態を検出する際での1手法として、光切断線
法が適用可とされているが、それら形状や位置、姿勢状
態を高精度に検出するには、3次元物体には相互に交わ
るべく複数のスリット光が順次照射される必要があるも
のとなっている。例えば、特開平1ー267402号公
報には、プリント基板上に実装された電子部品各々の実
装位置を光切断法によって検出する技術が開示されたも
のとなっている。これによる場合、電子部品に対して
は、2方向からスリット光が順次照射される度に、スリ
ット光が照射されている状態での電子部品は2次元画像
検出器としてのTVカメラによって撮像された上、処理
されることで、その電子部品の実装位置が検出されるよ
うになっている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記公
報による場合には、1台のTVカメラによって必要とさ
れる枚数分の画像が全て検出されているが、1フレーム
画像周期T内では1枚の画像しか検出し得ず、したがっ
て、必要とされる画像の枚数をMとすれば、少なくとも
T×M分の時間が画像検出に要されてしまい、これがた
めに位置検出を高速に行い得ないものとなっている。
【0004】本発明の目的は、検出対象についての立体
形状、位置および姿勢状態が速やかに検出されるように
した立体形状・位置・姿勢検出方法とその装置を供する
にある。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的は、検出対象の
面上に、1フレーム画像周期T以内に2以上の相異なる
斜め上方向から順次スリット光を照射する一方、その検
出対象の面上にスリット光が照射される度に、その面上
に照射された光切断線を含む画像を上記斜め上方向とは
異なる方向から検出した上、処理することによって、そ
の検出対象の立体形状、位置および姿勢状態が検出され
るに際して、斜め上方向対応に設けられ、かつ所定時間
ΔTづつ時間遅延された垂直同期信号のうち、何れかが
固有に割当てされている2次元画像検出器各々において
は、フレーム画像終期で一定時間t(t<ΔT)のみ露
光状態におかれる一方、その露光状態に同期して、対応
する斜め上方向からはスリット光が検出対象の面上に照
射されることで達成される。
【0006】また、立体形状・位置・姿勢検出装置とし
ては、相異なる斜め上方向各々に配置されたスリット光
プロジェクタと、そのスリット光プロジェクタ対応に設
けられ、かつフレーム画像終期で一定時間tのみ露光状
態におかれる2次元画像検出器と、その2次元画像検出
器各々に、所定時間ΔT(t<ΔT)づつ時間遅延され
た垂直同期信号のうち、何れかを固有に割当てする同期
信号発生手段と、上記2次元画像検出器各々での露光状
態に同期して、その2次元画像検出器対応のスリット光
プロジェクタからはスリット光が検出対象の面上に照射
されるべく制御するスリット光発生照射制御手段と、上
記2次元画像検出器各々で順次検出される、光切断線を
含むフレーム画像より光切断線を抽出、処理することに
よって、上記検出対象についての立体形状、位置および
姿勢状態を検出する画像処理手段と、とを少なくとも具
備せしめることで達成される。
【0007】
【作用】要は、1フレーム画像周期T以内に、2以上配
置された、露光時間帯が相異なる2次元画像検出器各々
によって、画像検出タイミングが所定時間ΔT間隔づつ
ずらされた状態で、検出対象の画像がスリット光の検出
対象への照射に同期して順次検出されるようにしたもの
である。ある2次元画像検出器で検出対象の画像が検出
されるタイミングでは、その2次元画像検出器は露光状
態におかれているが、他の2次元画像検出器は露光状態
にはなく、また、その2次元画像検出器対応のスリット
光プロジェクタからはスリット光が検出対象に照射され
る、といった具合に、2以上の2次元画像検出器によっ
て検出対象の画像が順次検出されていることから、検出
対象の形状や位置、姿勢状態を検出するのに必要とされ
る画像が速やかに得られ、この結果として、それら形状
や位置、姿勢状態も速やかに検出され得るものである。
【0008】
【実施例】以下、本発明を図1から図8により説明す
る。先ず本発明による立体形状・位置・姿勢検出装置に
ついて説明すれば、図1はその一例での構成を示したも
のである。図示のように、本例ではプリント基板101
上にマウントされた電子部品102各々を検出対象とし
て、そのそのマウント状態を検査する場合が想定された
ものとなっている。プリント基板101はガイドレール
103,104を介しXYテーブル105上に固定され
ているが、電子部品102のマウント位置に応じてXY
テーブル105はX,Y方向に所望に移動可とされてい
るものである。これにより検出対象の電子部品102は
画像検出位置に位置決めされた状態で、ハーフミラー1
08を介し画像検出方向が直交すべく配置された2次元
画像検出器(以下、単にTVカメラと称す(具体的に
は、例えばフレーム画像周期が1/60秒の非飛び越し
走査型半導体固体TVカメラ))106,107各々に
よってその画像が同時に検出され得るものであるが、こ
の場合、TVカメラ106,107各々での垂直同期信
号間には後述のように、所定時間ΔTの時間ずれがもた
されており、しかも露光時間帯が時間的に重複されない
ように設定されたものとなっている。したがって、TV
カメラ106,107各々による画像の検出は同時には
行われなく、所定時間ΔTの時間差をおいて順次検出さ
れるものとなっている。さて、これらTVカメラ10
6,107各々に対応してはスリット光プロジェクタ1
10,109がそのスリット光照射方向が直交すべく配
置されているが、TVカメラ106によって画像が検出
される際には、TVカメラ106対応のスリット光プロ
ジェクタ110からはスリット光がガルバノミラー11
3を介し電子部品102に照射される一方、TVカメラ
107によって画像が検出される際には、TVカメラ1
07対応のスリット光プロジェクタ109からはスリッ
ト光がガルバノミラー114を介し電子部品102に照
射されるようになっているものである。図示のように、
スリット光プロジェクタ109,110各々にはストロ
ボ光源111,112がスリット光発生用光源として付
属されているが、その発光タイミングはTVカメラ10
7,106各々による画像検出に同期して発光される必
要があるものである。なお、ガルバノミラー113,1
14各々でのスリット光反射角度が画像検出の度に順次
更新せしめられる場合は、電子部品102上には位置可
変にしてスリット光が照射される結果、たとえ、2つの
スリット光プロジェクタ110,109が配置されてい
る場合であっても、3枚以上の画像が検出され得ること
になる。検出画像の枚数が多い程に、電子部品102に
ついての形状や位置、姿勢状態は高精度に検出されるも
のである。
【0009】以上のように、XYテーブル105での移
動やTVカメラ106,107各々での画像検出タイミ
ング、ストロボ光源111,112各々での発光(点
灯)タイミング、ガルバノミラー113,114各々で
のスリット光反射角度は所望に制御される必要がある一
方では、TVカメラ106,107各々で検出された画
像は所定に処理された上、電子部品102についての形
状や位置、姿勢状態が検出される必要があるが、これら
制御や処理検出は画像処理システム125によって行わ
れるものとなっている。図示のように、画像処理システ
ム125はCPU115を全体処理制御手段として、こ
れにシステムバス124を介しメモリ(ワーク用RAM
およびプログラム格納ROM)116、XYテーブル制
御回路117、ガルバノミラー制御回路118、同期信
号制御回路119、点灯制御回路120,121、画像
入出力回路122および光切断線抽出処理回路123が
収容されたものとして構成されたものとなっている。こ
れら回路各々での機能は以上の説明よりして明らかであ
るが、特に同期信号制御回路119および光切断線抽出
処理回路123について若干説明を加えれば以下のよう
である。即ち、同期信号制御回路119では、主に所定
時間ΔTの時間ずれ関係にある2種類の垂直同期信号が
発生されているが、その何れかはTVカメラ106に、
他方はTVカメラ107に供給されるようになってい
る。因みに、TVカメラ106,107各々での露光時
間はその内部で所望に設定されたものとなっている。ま
た、光切断線抽出処理回路123では、画像入出力回路
122を介し入力された、TVカメラ106,107各
々からのフレーム画像対応のビデオ信号から光切断線を
抽出した上、所定に処理することによって、電子部品1
02の形状や位置、姿勢状態が検出されているものであ
る。
【0010】ここで、図2(A)により2次元画像検出
器における垂直同期信号に対する一般的な露光時間帯
(通常)と本発明に係る露光時間帯(短縮)との関係に
ついて説明する。露光時間が制御可とされたものとし
て、CCDシャッタカメラが知られているが、垂直同期
信号が図示の如くであった場合、通常での露光時間帯
(通常)の長さT′はほぼフレーム画像周期Tとして設
定されるものとなっている。しかしながら、本発明を実
施する上での露光時間帯(短縮)はフレーム画像終期で
の一定時間tが割当てされたものとなっている。一定時
間tが小さな値に設定される程に露光不足が懸念される
が、一定時間tを適当な大きさに設定した上、その分、
ストロボ光源111,112各々での発光量を大とすれ
ば、露光不足は解消されるものとなっている。
【0011】したがって、図2(B)に示すように、同
期信号制御回路119で所定時間ΔTの時間ずれ関係に
ある2種類の垂直同期信号A,Bを発生させた上、TV
カメラ106,107に供給するようにすれば、TVカ
メラ106,107各々での露光時間帯A,Bは図示の
如くになり、露光時間帯A,Bではそれぞれストロボ光
源112,111が発光されるが、ΔT>t、T>ΔT
+tの関係が満足される限りにおいては、露光時間帯
A,Bは時間的に重複されることなくスリット光照射状
態にある電子部品102の画像が順次検出され得るもの
である。
【0012】さて、ストロボ光源111,112の発光
タイミングはそれぞれ点灯制御回路120,121によ
って制御されているが、点灯制御回路120,121は
構成同一として構成され得るものとなっている。図3は
一例でのその点灯制御回路121の回路構成を示したも
のである。これによる場合、カウンタ121ー6はTV
カメラ106での水平同期信号(これと等価な信号は画
像処理システム125内で作成可)によってカウントア
ップされる一方、TVカメラ106への垂直同期信号A
によってリセットされているが、比較回路121ー8で
はそのカウンタ121ー6からのカウント値と発光位置
設定回路121ー7からの水平走査線位置とが常時比較
されており、そのカウント値と水平走査線位置とが一致
した場合には、比較回路121ー8からは発光タイミン
グ信号(パルス幅は水平同期信号の周期に同じ)がフレ
ーム画像周期T毎に得られるものとなっている。一方、
ストロボ光源112を発光させる必要がある場合には、
CPU115からは点灯制御回路121固有のアドレス
データがアドレスバス(システムバス124の一部)1
24ー1上に出力されるものとなっている。比較回路1
21ー1ではアドレスバス124ー1上でのアドレスデ
ータとアドレス設定回路121ー2からの点灯制御回路
121固有のアドレスデータとが常時比較されている
が、その比較でアドレスデータが一致した場合には、フ
リップフロップ121ー3がセット状態におかれること
で、ストロボ光源112に対する発光制御が起動されて
いるものである。即ち、フリップフロップ121ー3が
セット状態におかれた場合には、アンドゲート121ー
4が活性化状態におかれるが、フリップフロップ121
ー3がセット状態におかれた後の最初の発光タイミング
信号によってアンドゲート121ー4、信号増幅器12
1ー5を介しストロボ光源112が発光駆動せしめられ
ているものである。その際、アンドゲート121ー4か
ら出力される発光タイミング信号はそのパルス幅が適当
に小さく抑えられたものとなっている。アンドゲート1
21ー4からの発光タイミング信号は所定時間経過後に
フリップフロップ121ー3をリセットすべく作用して
いるからである。このような事情は、ストロボ光源11
1を発光制御している点灯制御回路120でも同様とな
っている。尤も、点灯制御回路120内でのカウンタ動
作は、TVカメラ107への垂直同期信号BとTVカメ
ラ107での水平同期信号にもとづいて制御されるもの
となっている。また、点灯制御回路120内でのアドレ
ス設定回路には、点灯制御回路120固有のアドレスデ
ータが設定されるが、点灯制御回路121固有のアドレ
スデータを設定するようにしてもよい。これは、ストロ
ボ光源112の発光時点から所定時間ΔT経過後にはス
トロボ光源111が連動的に発光される必要があること
から、CPU115での制御処理負担上からすれば、む
しろ同一アドレスデータを設定するのが望ましいからで
ある。なお、ガルバノミラー113,114各々でのス
リット光反射角度が画像検出の度に順次更新せしめられ
る場合は、例えばその都度CPU115からは点灯制御
回路120,121が起動されればよいものである。
【0013】図4はTVカメラ106,107各々にお
ける垂直同期信号A,Bに対する本発明に係る露光時間
帯A,Bおよび発光タイミングA,Bの関係を示したも
のである。図示のように、露光時間帯AではTVカメラ
106のみが露光状態におかれた上、その時間帯内でス
トロボ光源112が発光状態におかれることから、TV
カメラ106ではスリット光プロジェクタ110からの
スリット光が照射されている状態での電子部品102の
画像が検出されるものとなっている。また、所定時間Δ
T経過後の露光時間帯BではTVカメラ107のみが露
光状態におかれた上、その時間帯内でストロボ光源11
1が発光状態におかれることから、TVカメラ107で
はスリット光プロジェクタ109からのスリット光が照
射されている状態での電子部品102の画像が検出され
るものとなっている。
【0014】以上のように、図1に示す立体形状・位置
・姿勢検出装置では、1フレーム画像周期T内で2種類
の画像が検出されているものであるが、TVカメラやス
リット光プロジェクタを3台以上配置する場合には、3
種類以上の画像が検出されるものとなっている。図5は
4種類の画像が検出可とされた、本発明による立体形状
・位置・姿勢検出装置の他の例での構成を示したもので
ある。本例でのものは、図6に示すように、電子部品1
02上に4種類のスリット光S1〜S4各々を順次照射し
た状態での画像を検出しようというものである。したが
って、本例では4台のTVカメラ501〜504が配置
された上、TVカメラ501〜504対応にスリット光
プロジェクタ508〜511、ガルバノミラー512〜
515が配置されるようになっている。TVカメラ50
1〜504各々ではハーフミラー506,505,50
7を介し電子部品102の画像を同時に検出可とされて
いるが、先の例の場合と同様、TVカメラ501〜50
4各々での露光時間帯やスリット光プロジェクタ508
〜511各々からのスリット光照射タイミングは時間的
にずらされることによって、1フレーム画像周期T内で
4種類の画像が検出されているものである。
【0015】図7はi(i:3以上の整数)台のTVカ
メラおよびスリット光プロジェクタが配置されることに
よって、i種類の画像が検出される場合でのTVカメラ
各々での垂直同期信号と露光時間帯の関係を示したもの
である。この場合にも、ΔT>t、ΔT+(i−1)t
<Tという関係が満足される限りにおいては、1フレー
ム画像周期T内でi種類の画像を検出可能となるもので
ある。ところで、iの上限値はtの値に依存することは
勿論のこと、ストロボ光源のオン、オフの切替に要され
る時間によっても制約を受けることは明らかである。こ
こで、仮に、ストロボ光源の発光時間を3μs程度と
し、露光時間帯の大きさtがそれよりも大きい0.1m
s程度であったとすれば、iの上限値は専ら露光時間帯
の大きさtによって決定されることになるが、TVカメ
ラでの1フレーム画像周期Tを16.6ms(=1/6
0s)とすれば、iの上限値は160程度として求めら
れるものとなっている。
【0016】
【発明の効果】以上、説明したように、請求項1,2に
よる場合は、検出対象についての立体形状、位置および
姿勢状態が速やかに検出され得る立体形状・位置・姿勢
検出方法とその装置が得られるものとなっている。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、本発明による立体形状・位置・姿勢検
出装置の一例での構成を示す図
【図2】図2(A)は、2次元画像検出器における垂直
同期信号に対する一般的な露光時間帯と本発明に係る露
光時間帯との関係を、図2(B)は、2つの2次元画像
検出器各々における垂直同期信号に対する本発明に係る
露光時間帯との関係をそれぞれ示す図
【図3】図3は、ストロボ光源(スリット光発生用光
源)に対する一例での点灯制御回路構成を示す図
【図4】図4は、2つの2次元画像検出器各々における
垂直同期信号に対する本発明に係る露光時間帯および発
光タイミングの関係を示す図
【図5】図5は、本発明による立体形状・位置・姿勢検
出装置の他の例での構成を示す図
【図6】図6は、その立体形状・位置・姿勢検出装置に
おける立体形状・位置・姿勢検出対象に対するスリット
光照射状態を示す図
【図7】図7は、3以上の2次元画像検出器各々におけ
る垂直同期信号に対する本発明に係る露光時間帯との関
係をそれぞれ示す図
【符号の説明】
101…プリント基板、102…電子部品、103,1
04…ガイドレール、105…XYテーブル、106,
107、501〜504…TVカメラ、108、505
〜507…ハーフミラー、109,110、508〜5
11…スリット光プロジェクタ、111,112…スト
ロボ光源、113,114、512〜515…ガルバノ
ミラー、115…CPU、116…メモリ、117…X
Yテーブル制御回路、118…ガルバノミラー制御回
路、119…同期信号制御回路、120,121…点灯
制御回路、122…画像入出力回路、123…光切断線
抽出処理回路、124…システムバス、125…画像処
理システム

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 検出対象の面上に、1フレーム画像周期
    T以内に2以上の相異なる斜め上方向から順次スリット
    光を照射する一方、該検出対象の面上にスリット光が照
    射される度に、該面上に照射された光切断線を含む画像
    を上記斜め上方向とは異なる方向から検出した上、処理
    することによって、該検出対象の立体形状、位置および
    姿勢状態が検出されるようにした立体形状・位置・姿勢
    検出方法であって、斜め上方向対応に設けられ、かつ所
    定時間ΔTづつ時間遅延された垂直同期信号のうち、何
    れかが固有に割当てされている2次元画像検出器各々に
    おいては、フレーム画像終期で一定時間t(t<ΔT)
    のみ露光状態におかれる一方、該露光状態に同期して、
    対応する斜め上方向からはスリット光が検出対象の面上
    に照射されるようにした立体形状・位置・姿勢検出方
    法。
  2. 【請求項2】 検出対象の面上に、1フレーム画像周期
    T以内に2以上の相異なる斜め上方向から順次スリット
    光を照射する一方、該検出対象の面上にスリット光が照
    射される度に、該面上に照射された光切断線を含む画像
    を上記斜め上方向とは異なる方向から検出した上、処理
    することによって、該検出対象の立体形状、位置および
    姿勢状態が検出されるようにした立体形状・位置・姿勢
    検出装置であって、相異なる斜め上方向各々に配置され
    たスリット光プロジェクタと、該スリット光プロジェク
    タ対応に設けられ、かつフレーム画像終期で一定時間t
    のみ露光状態におかれる2次元画像検出器と、該2次元
    画像検出器各々に、所定時間ΔT(t<ΔT)づつ時間
    遅延された垂直同期信号のうち、何れかを固有に割当て
    する同期信号発生手段と、上記2次元画像検出器各々で
    の露光状態に同期して、該2次元画像検出器対応のスリ
    ット光プロジェクタからはスリット光が検出対象の面上
    に照射されるべく制御するスリット光発生照射制御手段
    と、上記2次元画像検出器各々で順次検出される、光切
    断線を含むフレーム画像より該光切断線を抽出、処理す
    ることによって、上記検出対象についての立体形状、位
    置および姿勢状態を検出する画像処理手段と、を含む構
    成の立体形状・位置・姿勢検出装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018066086A1 (ja) * 2016-10-05 2018-04-12 計測検査株式会社 覆工コンクリートの検査システム、および覆工コンクリートの検査方法

Cited By (2)

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