JPH05215829A - 核磁気共鳴装置のプローブ - Google Patents
核磁気共鳴装置のプローブInfo
- Publication number
- JPH05215829A JPH05215829A JP4046063A JP4606392A JPH05215829A JP H05215829 A JPH05215829 A JP H05215829A JP 4046063 A JP4046063 A JP 4046063A JP 4606392 A JP4606392 A JP 4606392A JP H05215829 A JPH05215829 A JP H05215829A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- probe
- detection coil
- temperature
- matching circuit
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 検出コイルとマッチング回路用電子部品が試
料温度制御手段の影響を受けないようにする。 【構成】 検出コイル８とマッチング回路用電子部品１
６は、試料２の側方を取り囲むデューア瓶２４ａ中に封
入され、検出コイル８はデューア瓶２４ａ内に設けられ
たボビン１２に保持されている。デューア瓶２４ａ内は
排気されて外部と断熱されており、電子部品１６に接続
される同軸線路１４はシール部材３０を経てデューア瓶
２４ａ内に導かれている。
料温度制御手段の影響を受けないようにする。 【構成】 検出コイル８とマッチング回路用電子部品１
６は、試料２の側方を取り囲むデューア瓶２４ａ中に封
入され、検出コイル８はデューア瓶２４ａ内に設けられ
たボビン１２に保持されている。デューア瓶２４ａ内は
排気されて外部と断熱されており、電子部品１６に接続
される同軸線路１４はシール部材３０を経てデューア瓶
２４ａ内に導かれている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はＮＭＲ（核磁気共鳴）装
置において、磁場中に置かれた試料による核磁気共鳴信
号を検出するプローブに関するものである。
置において、磁場中に置かれた試料による核磁気共鳴信
号を検出するプローブに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】ＮＭＲのプローブの一例を図２に示す。
試料によるＮＭＲ信号を検出するために、シールド管１
０で囲まれた円筒状プローブ６の中心部にＮＭＲ信号検
出コイル８が設けられており、試料２は試料管４に入れ
られて検出コイル８の内側に挿入され、磁場の作用を受
ける。検出コイル８は銅箔をパターン化して形成したも
のであり、石英ガラス製のボビン１２に保持されてい
る。検出コイル８のインピーダンスを５０Ωに変換し５
０Ωの同軸線路１４と接続するためのＬＣマッチング回
路を構成する電子部品１６が、検出コイル８の近傍に配
置されている。
試料によるＮＭＲ信号を検出するために、シールド管１
０で囲まれた円筒状プローブ６の中心部にＮＭＲ信号検
出コイル８が設けられており、試料２は試料管４に入れ
られて検出コイル８の内側に挿入され、磁場の作用を受
ける。検出コイル８は銅箔をパターン化して形成したも
のであり、石英ガラス製のボビン１２に保持されてい
る。検出コイル８のインピーダンスを５０Ωに変換し５
０Ωの同軸線路１４と接続するためのＬＣマッチング回
路を構成する電子部品１６が、検出コイル８の近傍に配
置されている。
【０００３】試料２を加熱したり冷却したりするため
に、プローブの中心軸上で試料２の下方から空気が供給
され、その空気の流路にはヒータ１８とその空気の温度
を検出する熱電対２０が配置されている。試料２の周囲
を断熱して所定の温度に制御するために、試料の側方で
検出コイル８の外側にはデューア瓶２４が配置され、試
料の下方で試料温度制御用空気が送られる流路もデュー
ア瓶２６で囲まれている。ボビン１２には温度制御用空
気が出る穴２８が開けられている。試料２の下方から送
られてきた温度制御用空気は、矢印で示されるように、
試料管４に当たった後、ボビンの穴２８から出て、ボビ
ン１２とデューア瓶２４の間を通ってマッチング回路用
電子部品１６のすき間から下方に排出される。試料を加
熱するときはヒータ１８により空気が加熱され、試料を
冷却するときは外部で寒剤などによって冷却された空気
が試料へ送られる。
に、プローブの中心軸上で試料２の下方から空気が供給
され、その空気の流路にはヒータ１８とその空気の温度
を検出する熱電対２０が配置されている。試料２の周囲
を断熱して所定の温度に制御するために、試料の側方で
検出コイル８の外側にはデューア瓶２４が配置され、試
料の下方で試料温度制御用空気が送られる流路もデュー
ア瓶２６で囲まれている。ボビン１２には温度制御用空
気が出る穴２８が開けられている。試料２の下方から送
られてきた温度制御用空気は、矢印で示されるように、
試料管４に当たった後、ボビンの穴２８から出て、ボビ
ン１２とデューア瓶２４の間を通ってマッチング回路用
電子部品１６のすき間から下方に排出される。試料を加
熱するときはヒータ１８により空気が加熱され、試料を
冷却するときは外部で寒剤などによって冷却された空気
が試料へ送られる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】図２に示されるプロー
ブでは、試料を加熱したり冷却したときに、検出コイル
８とマッチング回路用電子部品１６も試料温度制御用の
空気に触れて温度変化を受ける。そのため、プローブ自
身も温度特性をもち、試料の温度をかえることによりプ
ローブの検出周波数（ＬＣの共振周波数）も変わるの
で、試料温度を変える場合にはマッチング回路のチュー
ニングを調整しなければならない。この温度特性を改良
するために、検出コイル８とマッチング回路とで温度特
性の極性を異ならせることが行なわれているが、完全に
温度特性をなくすことはできない。
ブでは、試料を加熱したり冷却したときに、検出コイル
８とマッチング回路用電子部品１６も試料温度制御用の
空気に触れて温度変化を受ける。そのため、プローブ自
身も温度特性をもち、試料の温度をかえることによりプ
ローブの検出周波数（ＬＣの共振周波数）も変わるの
で、試料温度を変える場合にはマッチング回路のチュー
ニングを調整しなければならない。この温度特性を改良
するために、検出コイル８とマッチング回路とで温度特
性の極性を異ならせることが行なわれているが、完全に
温度特性をなくすことはできない。
【０００５】このようにプローブが温度特性をもつため
に、自動測定を行なうことができず、また、共振回路も
温度制御用空気に触れることになるので、共振回路のバ
リアブルコンデンサなどの耐久性が低下する問題もあ
る。本発明は検出コイルとマッチング回路用電子部品が
試料温度制御手段の影響を受けないようにすることによ
って上記の問題を解決することを目的とするものであ
る。
に、自動測定を行なうことができず、また、共振回路も
温度制御用空気に触れることになるので、共振回路のバ
リアブルコンデンサなどの耐久性が低下する問題もあ
る。本発明は検出コイルとマッチング回路用電子部品が
試料温度制御手段の影響を受けないようにすることによ
って上記の問題を解決することを目的とするものであ
る。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明では検出コイルと
マッチング回路用電子部品を排気されたガラス管中に封
入して試料温度制御用気体から断熱する。
マッチング回路用電子部品を排気されたガラス管中に封
入して試料温度制御用気体から断熱する。
【０００７】
【実施例】図１は一実施例を表わす。図２と同一部分に
は同一の符号を用いる。試料管４に入れられた試料２の
温度制御を行なうために、プローブ６ａの中心軸上で試
料２の下方から温度制御用空気が供給され、その空気流
路にその空気を加熱するヒータ１８とその空気温度を検
出する熱電対２０が配置されている点、及びその温度制
御用空気流路がデューア瓶２６と２４ａで囲まれてプロ
ーブの外部と断熱されている点は図２のものと同じであ
る。
は同一の符号を用いる。試料管４に入れられた試料２の
温度制御を行なうために、プローブ６ａの中心軸上で試
料２の下方から温度制御用空気が供給され、その空気流
路にその空気を加熱するヒータ１８とその空気温度を検
出する熱電対２０が配置されている点、及びその温度制
御用空気流路がデューア瓶２６と２４ａで囲まれてプロ
ーブの外部と断熱されている点は図２のものと同じであ
る。
【０００８】銅箔にてなる検出コイル８と、検出コイル
８のインピーダンスを５０Ωに変換し５０Ωの同軸線路
１４と接続するためのＬＣマッチング回路を構成する電
子部品１６は、試料２の側方を取り囲むデューア瓶２４
ａ中に封入され、検出コイル８はデューア瓶２４ａ内に
設けられたボビン１２に保持されている。ボビン１２は
デューア瓶２４ａの試料側壁面と接しない位置に固定さ
れている。デューア瓶２４ａ内は排気されて外部と断熱
されており、電子部品１６に接続される同軸線路１４は
シール部材３０を経てデューア瓶２４ａ内に導かれてい
る。
８のインピーダンスを５０Ωに変換し５０Ωの同軸線路
１４と接続するためのＬＣマッチング回路を構成する電
子部品１６は、試料２の側方を取り囲むデューア瓶２４
ａ中に封入され、検出コイル８はデューア瓶２４ａ内に
設けられたボビン１２に保持されている。ボビン１２は
デューア瓶２４ａの試料側壁面と接しない位置に固定さ
れている。デューア瓶２４ａ内は排気されて外部と断熱
されており、電子部品１６に接続される同軸線路１４は
シール部材３０を経てデューア瓶２４ａ内に導かれてい
る。
【０００９】温度制御用空気は試料２の下方から供給さ
れて試料管４に当り、試料管４の側方を通って上部へ排
出される。試料を加熱するときはヒータ１８により空気
が加熱され、試料を冷却するときは外部で寒剤などによ
って冷却された空気が試料へ送られる。矢印はその空気
の流れを表わしている。温度制御手段である空気の流路
やヒータ１８の位置などは実施例の形状に限定されるも
のではなく、適宜変形することができる。
れて試料管４に当り、試料管４の側方を通って上部へ排
出される。試料を加熱するときはヒータ１８により空気
が加熱され、試料を冷却するときは外部で寒剤などによ
って冷却された空気が試料へ送られる。矢印はその空気
の流れを表わしている。温度制御手段である空気の流路
やヒータ１８の位置などは実施例の形状に限定されるも
のではなく、適宜変形することができる。
【００１０】
【発明の効果】本発明ではＮＭＲ信号検出コイルとマッ
チング回路用の電子部品をデューア瓶２４ａなどの排気
されたガラス管中に封入し、試料温度を制御するための
試料温度制御手段の加熱空気や冷却空気から断熱させた
ので、プローブ自身が温度特性をもたなくなる。そのた
め、試料温度を変化させて行なう実験を正確に、かつ定
量的に行なうことができるようになる。また、試料温度
を変更してもプローブの検出周波数が変化しないため、
自動測定が可能となる。マッチング回路のバリアブルコ
ンデンサを調整する回数が減るため、プローブの寿命が
長くなる。マッチング回路は比較的狭い領域に収納され
ているため、図２の構造では高周波パルスを送るとコイ
ルやコンデンサとシールド管の間で放電を起こすことが
あったが、本発明によりコイルやコンデンサをデューア
瓶などの真空中に保持するため、放電を起こさなくなる
利点もある。
チング回路用の電子部品をデューア瓶２４ａなどの排気
されたガラス管中に封入し、試料温度を制御するための
試料温度制御手段の加熱空気や冷却空気から断熱させた
ので、プローブ自身が温度特性をもたなくなる。そのた
め、試料温度を変化させて行なう実験を正確に、かつ定
量的に行なうことができるようになる。また、試料温度
を変更してもプローブの検出周波数が変化しないため、
自動測定が可能となる。マッチング回路のバリアブルコ
ンデンサを調整する回数が減るため、プローブの寿命が
長くなる。マッチング回路は比較的狭い領域に収納され
ているため、図２の構造では高周波パルスを送るとコイ
ルやコンデンサとシールド管の間で放電を起こすことが
あったが、本発明によりコイルやコンデンサをデューア
瓶などの真空中に保持するため、放電を起こさなくなる
利点もある。
【図１】一実施例を示す垂直端面図である。
【図２】従来のプローブを示す垂直端面図である。
２ 試料 ４ 試料管 ６ａ プローブ ８ 検出コイル １６ マッチング回路用電子部品 １８ ヒータ ２０ 熱電対 ２４ａ，２６ デューア瓶 ３０ シール部材
Claims (1)
- 【請求項１】 磁場中に置かれた試料の周囲側方に核磁
気共鳴信号検出コイルが配置され、その検出コイルの近
傍にその検出コイルのインピーダンスを所定の値に変換
するマッチング回路用電子部品が配置され、かつ、温度
調節された気体により試料温度を制御する試料温度制御
手段が設けられている核磁気共鳴装置のプローブにおい
て、前記検出コイルと前記マッチング回路用電子部品が
排気されたガラス管中に封入されて前記温度制御用気体
から断熱されていることを特徴とするプローブ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4046063A JPH05215829A (ja) | 1992-01-31 | 1992-01-31 | 核磁気共鳴装置のプローブ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4046063A JPH05215829A (ja) | 1992-01-31 | 1992-01-31 | 核磁気共鳴装置のプローブ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05215829A true JPH05215829A (ja) | 1993-08-27 |
Family
ID=12736556
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4046063A Pending JPH05215829A (ja) | 1992-01-31 | 1992-01-31 | 核磁気共鳴装置のプローブ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05215829A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014089178A (ja) * | 2012-09-27 | 2014-05-15 | Bruker Biospin Ag | 試料バイアルのための温度制御素子を備えたｎｍｒ測定装置 |
-
1992
- 1992-01-31 JP JP4046063A patent/JPH05215829A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014089178A (ja) * | 2012-09-27 | 2014-05-15 | Bruker Biospin Ag | 試料バイアルのための温度制御素子を備えたｎｍｒ測定装置 |
| US9482729B2 (en) | 2012-09-27 | 2016-11-01 | Bruker Biospin Ag | NMR measuring configuration with temperature control device for a sample vial |
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