JPH0519876A - 半導体集積回路装置 - Google Patents

半導体集積回路装置

Info

Publication number
JPH0519876A
JPH0519876A JP17014791A JP17014791A JPH0519876A JP H0519876 A JPH0519876 A JP H0519876A JP 17014791 A JP17014791 A JP 17014791A JP 17014791 A JP17014791 A JP 17014791A JP H0519876 A JPH0519876 A JP H0519876A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
power supply
source voltage
current
supply voltage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP17014791A
Other languages
English (en)
Inventor
Haruo Konishi
春男 小西
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Instruments Inc
Original Assignee
Seiko Instruments Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Instruments Inc filed Critical Seiko Instruments Inc
Priority to JP17014791A priority Critical patent/JPH0519876A/ja
Publication of JPH0519876A publication Critical patent/JPH0519876A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Continuous-Control Power Sources That Use Transistors (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 待機時に消費電流の少ない電源電圧降下回路
を有した半導体集積回路装置を得る。 【構成】 定電圧回路30とNチャネルMOSトランジ
スタ40とから成る第1の電源電圧降下回路100と、
飽和接続したNチャネルMOSトランジスタからなる第
2の電源電圧降下回路200とで構成される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、外部より印加される電
源電圧より低い電源電圧を必要とする半導体集積回路装
置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の電源電圧降下回路は、図2に示す
ように電源電圧検出回路20を有し、電源電圧検出回路
20の出力信号S1により、ある電源電圧(例えば3.
3V)以上では電源電圧降下回路100を動作させて内
部に電源を供給する。この時、PチャネルMOSトラン
ジスタ2は、非導通状態となる。また、ある電源電圧以
下では、出力信号S1により、電源電圧降下回路100
を構成している比較信号発生回路10と差動増幅回路1
1を非動作させることによりPチャネルMOSトランジ
スタ1を非導通状態とし、また出力信号S1によりPチ
ャネルMOSトランジスタ2を導通状態とすることによ
り、PチャネルMOSトランジスタ2によって内部に電
源を供給する電源電圧降下回路が知られていた。
【0003】なお、VCCEXT は外部電源端子である。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の電源電
圧降下回路は、電源電圧検出回路を内蔵しているため、
待機時においても電流を消費してしまうという欠点があ
った。そこで、本発明は従来のこのような欠点を解決す
るために、電源電圧検出回路を内蔵しない、待機時にお
ける消費電流の少ない電源電圧降下回路を提供すること
を目的としている。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明は消費電流の少ない定電圧回路とこの定電圧
回路の出力を受けて内部に電源を供給するNチャネルM
OSトランジスタと、飽和接続したMOSトランジスタ
とで電源電圧降下回路を構成するようにした。
【0006】
【作用】上記のように構成された電源降下回路において
は、電流が消費するのは、定電圧回路だけであり、電源
電圧降下回路全体で消費する電流は、非常に少なくな
る。また、外部電源投入時、外部電源電圧の立上がりが
早く定電圧回路の出力の立上がりが遅れた場合、飽和接
続されたMOSトランジスタによって内部に電源が供給
される。
【0007】
【実施例】以下に、本発明の半導体集積回路装置の実施
例を図面に基づいて詳細に説明する。図1において、第
1の電源電圧降下回路100は、定電圧回路30とNチ
ャネルMOSトランジスタ40からなり、第2の電源電
圧降下回路200は、飽和接続されたNチャネルMOS
トランジスタで構成される。
【0008】次に動作を説明する。まず、外部電源が外
部電源端子VCCEXT に供給されている時、定電圧回路3
0が動作しNチャネルMOSトランジスタ40のゲート
にある一定電圧(例えば3.5V)が印加される。Nチ
ャネルMOSトランジスタ40のドレインは外部電源端
子VCCEXT に接続され、ソースは内部電源端子VCCIN
接続されているので基板効果を考慮するとソース電位
は、ゲート電位よりやや低くなるが(例えば0.2
V)、内部電源端子VCCINの電圧は一定電圧(例えば
3.3V)となり、安定した電源電圧を供給できる。
【0009】また、電源投入時において外部電源の立上
がりが非常に速い場合、定電圧回路30の出力は、外部
電源の立上がりに比べて遅れて立上がることになり、N
チャネルMOSトランジスタ40による内部電源端子V
CCINへの供給も遅れることになる。しかし、第2の電源
電圧降下回路200を構成している飽和接続されたNチ
ャネルMOSトランジスタは、それ自身で電流を消費す
ることはないので、速い外部電源の立上がりに対しても
充分な電流供給能力が得られるように設計することがで
きる。
【0010】第2の電源電圧降下回路200は3つのN
チャネルMOSトランジスタを直列に接続しているが、
これは、NチャネルMOSトランジスタを飽和接続した
場合、約0.8V電圧が降下するので、3つの直列接続
することにより、約2.4V電圧が降下するようにし、
最大動作電源電圧印加時(例えば、5.5V)でも、定
常状態においては、第1の電源電圧降下回路100によ
って内部電源端子VCC INに電圧が供給されるようにする
ためである。
【0011】よって、定常状態、つまり外部電源が外部
電源端子VCCEXT に供給されている時は、第1の電源電
圧降下回路100により内部電源端子VCCINに電圧が供
給され、電源投入時において外部電源の立上がりが速い
場合には、第2の電源電圧降下回路200により内部電
源端子VCCINに電圧が供給されるようになる。
【0012】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように、大きな
電流を消費する電源電圧検出回路を必要とせず、外部電
源が供給されているときには少ない消費電流で安定した
電圧を内部に供給することができる電源電圧降下回路
と、速い電源の立上がりに遅れることなく内部に電圧を
供給することができるそれ自身では全く電流を消費しな
い電源電圧降下回路を設けたので、低消費電力化に効果
的であり、特に待機時の低消費電力化に効果的である。
また、電源電圧検出回路を内蔵していないので、広動作
電源電圧化にも効果的である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の電源電圧降下回路の回路図である。
【図2】従来の電源電圧降下回路の回路図である。
【符号の説明】
30 定電圧回路 100 第1の電源電圧降下回路 200 第2の電源電圧降下回路

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 【請求項1】 定電圧回路とNチャネルMOSトランジ
    スタとからなる第1の電源電圧降下回路と、少なくとも
    1つ以上の飽和接続されたNチャネルMOSトランジス
    タとからなる第2の電源電圧降下回路を有することを特
    徴とする半導体集積回路装置。
JP17014791A 1991-07-10 1991-07-10 半導体集積回路装置 Pending JPH0519876A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17014791A JPH0519876A (ja) 1991-07-10 1991-07-10 半導体集積回路装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17014791A JPH0519876A (ja) 1991-07-10 1991-07-10 半導体集積回路装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0519876A true JPH0519876A (ja) 1993-01-29

Family

ID=15899547

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP17014791A Pending JPH0519876A (ja) 1991-07-10 1991-07-10 半導体集積回路装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0519876A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003029854A (ja) * 2001-07-13 2003-01-31 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電圧降圧回路
JP2006074993A (ja) * 2004-09-02 2006-03-16 Samsung Electronics Co Ltd リップル−フリー内部電圧を発生する半導体装置
KR101116412B1 (ko) * 2004-01-24 2012-04-12 에스티 에릭슨 에스에이 광트랜지스터, 이미징 장치 및 광트랜지스터 동작 방법

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003029854A (ja) * 2001-07-13 2003-01-31 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電圧降圧回路
JP4627932B2 (ja) * 2001-07-13 2011-02-09 パナソニック株式会社 電圧降圧回路
KR101116412B1 (ko) * 2004-01-24 2012-04-12 에스티 에릭슨 에스에이 광트랜지스터, 이미징 장치 및 광트랜지스터 동작 방법
JP2006074993A (ja) * 2004-09-02 2006-03-16 Samsung Electronics Co Ltd リップル−フリー内部電圧を発生する半導体装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7397296B1 (en) Power supply detection circuit biased by multiple power supply voltages for controlling a signal driver circuit
US7042245B2 (en) Low power consumption MIS semiconductor device
US10536139B2 (en) Charge-saving power-gate apparatus and method
US6097243A (en) Device and method to reduce power consumption in integrated semiconductor devices using a low power groggy mode
US5973552A (en) Power savings technique in solid state integrated circuits
US4948995A (en) Disenabling circuit for power-on event
US6297670B1 (en) Single-ended sense amplifier with adjustable noise margin and power down control
US5120993A (en) Substrate bias voltage detection circuit
US5703825A (en) Semiconductor integrated circuit device having a leakage current reduction means
KR20010049689A (ko) 대기 모드를 갖는 데이타 처리 회로
US6759701B2 (en) Transistor circuit
US8362827B2 (en) Semiconductor device including transistors that exercise control to reduce standby current
KR0142967B1 (ko) 반도체 메모리장치의 기판 전압 제어회로
JP3105512B2 (ja) Mos型半導体集積回路
US5610544A (en) Semiconductor integrated circuit free from through current due to source-voltage drop
JP2004201268A (ja) パワーゲーティング回路およびそれを動作させる方法
US20040008075A1 (en) Semiconductor integrated circuit with stabilizing capacity
JPH0519876A (ja) 半導体集積回路装置
US20050024096A1 (en) Clock enable buffer for entry of self-refresh mode
US8111561B2 (en) Bulk bias voltage generating device and semiconductor memory apparatus including the same
US6914844B2 (en) Deep power down switch for memory device
KR20020078971A (ko) 반도체 소자의 내부 전원 발생기
US6650152B2 (en) Intermediate voltage control circuit having reduced power consumption
US6335650B1 (en) Method and apparatus for adjusting time delays in circuits with multiple operating supply voltages
KR100216435B1 (ko) 기판 바이어스 전압 검출 회로