JPH05188592A - Photosensitive resin composition for forming circuit pattern - Google Patents

Photosensitive resin composition for forming circuit pattern

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JPH05188592A
JPH05188592A JP1936192A JP1936192A JPH05188592A JP H05188592 A JPH05188592 A JP H05188592A JP 1936192 A JP1936192 A JP 1936192A JP 1936192 A JP1936192 A JP 1936192A JP H05188592 A JPH05188592 A JP H05188592A
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JP
Japan
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circuit pattern
meth
parts
etching
acrylate
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JP1936192A
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Japanese (ja)
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Shigeru Matsumoto
シゲル 松本
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Taiyo Holdings Co Ltd
Original Assignee
Taiyo Ink Mfg Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To obtain the photosensitive resin compsn. for forming circuit patterns of an aq. alkaline soln. peeling type without having undercuts and without requiring a surface roughening treatment after peeling and removing of an etching resist film. CONSTITUTION:This compsn. is constituted by compounding a nonfunctional resin at 10 to 200 parts with 100 parts UV curing type etching resist ink consisting of a high acid value polymer having at least >=2 pieces of carboxylic acid group in one molecule, a photopolymerizable monomer having at least one piece of carboxylic (meth)acryloyl groups (signifying an acryloyl group and a methacryloyl group) and at least one piece of carboxylic acid groups in one molecule and a photopolymerizable monomer.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、回路パターン形成用感
光性樹脂組成物に関し、さらに詳しくは、エッチングに
よる回路パターンの形成と同時に、エッチングレジスト
下の金属表面の研磨いわゆる粗面化処理を行うためのア
ルカリ水溶液剥離性の回路パターン形成用感光性樹脂組
成物に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a photosensitive resin composition for forming a circuit pattern, and more specifically, it simultaneously performs formation of a circuit pattern by etching and polishing of a metal surface under an etching resist, so-called roughening treatment. The present invention relates to a photosensitive resin composition for peeling an alkaline aqueous solution for forming a circuit pattern.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来から、プリント配線板の回路パター
ンの形成方法には、大きく分けてメッキにより基材上に
回路パターンを析出形成する方法と、先ず、基材上の金
属面に回路パターン状のエッチングレジスト膜を形成
し、回路部以外の不要の金属部分をエッチング除去し
て、回路パターンを形成する方法の二種類の方法があ
る。これらの方法は、一長一短はあるが、いずれも良く
使用されている方法である。なかでも、エッチングによ
るものは、回路パターンとプリント基板との密着性が高
いので現在でも多用されている。
2. Description of the Related Art Conventionally, a method of forming a circuit pattern on a printed wiring board is roughly divided into a method of depositing and forming a circuit pattern on a substrate by plating, and a method of forming a circuit pattern on a metal surface of the substrate. There are two types of methods of forming a circuit pattern by forming an etching resist film of, and etching away unnecessary metal portions other than the circuit portion. Although these methods have advantages and disadvantages, all of them are well used. Among them, etching is still widely used because of its high adhesion between the circuit pattern and the printed circuit board.

【0003】エッチングを利用してプリント回路を形成
する方法には、更に、スクリーン印刷法でエッチングレ
ジストインキを回路パターン状に印刷し、エッチングレ
ジスト膜を形成後、エッチングするもの、更には、エッ
チングレジストインキを基材上の金属全面に塗布したも
のに、写真法で回路パターン状にエッチングレジスト膜
を形成し、エッチングするものがある。しかしながら、
この様にして、回路パターン状エッチングレジスト膜を
形成した場合には、いずれにおいても、良く知られてい
るようにエッチング液による浸蝕が、エッチングが進行
するにしたがい、基材に対して垂直方向からだけでな
く、水平方向に対しても行われるため、エッチングレジ
スト膜の下部におよぶエッチング、いわゆるアンダーカ
ットがみられるという欠点がある。即ち、図2は、その
状態を示すものであって、(a)のように基材1上の銅
箔2にエッチングレジスト膜3を形成したために、エッ
チングアンダーカットが生じ、(d)に示すように上部
薄片部6の形成された回路パターンが形成される。
The method of forming a printed circuit using etching further includes a method of printing an etching resist ink in a circuit pattern shape by a screen printing method to form an etching resist film and then etching, and further an etching resist. There is a method in which an ink is applied to the entire surface of a metal on a base material and an etching resist film is formed in a circuit pattern shape by a photographic method and then etched. However,
In this manner, when the circuit pattern etching resist film is formed in this manner, as is well known, the erosion by the etching solution is changed from the direction perpendicular to the base material as the etching progresses. Not only this, but also in the horizontal direction, there is a drawback that etching, that is, undercut, is observed in the lower part of the etching resist film. That is, FIG. 2 shows the state, and etching undercut occurs due to the etching resist film 3 formed on the copper foil 2 on the base material 1 as shown in FIG. Thus, the circuit pattern having the upper thin piece portion 6 is formed.

【0004】このアンダーカットは、ソルダーレジスト
インキやメッキレジストインキを印刷する際、インキの
入り込みを悪くするため、印刷速度の低下を招くと共
に、空隙による半田付け時のフクレやメッキ処理時の液
の潜り込み等の原因となり、ソルダー、めっきレジスト
の性能の低下をきたす原因となっていた。また、アンダ
ーカットにより生じた回路パターンの上部薄片部分は、
ソルダーレジスト膜やメッキレジスト膜の形成前の回路
パターン表面上の粗面化処理よってヒゲと呼ばれる細い
金属片となり、この金属片が回路間にわたった場合、短
絡を引き起こし、これまた、プリント配線板の性能を低
下させる原因となっていた。
This undercut deteriorates the penetration of the ink when printing the solder resist ink or the plating resist ink, resulting in a decrease in the printing speed, and the blister during soldering due to the voids and the liquid during the plating treatment. This has caused diving and the like, and has caused deterioration of the performance of the solder and plating resist. Also, the upper thin section of the circuit pattern caused by undercut is
Roughening treatment on the surface of the circuit pattern before formation of the solder resist film or plating resist film results in a thin metal piece called a beard, and if this metal piece extends between circuits, it causes a short circuit, and also the printed wiring board. Was causing the performance of the.

【0005】このように、従来のエッチングによるプリ
ント回路を形成する方法は、高信頼性のプリント配線板
を得る方法としては、必ずしも満足できる方法といえな
かった。 更に、従来のエッチングによるプリント回路
を形成する方法は、回路パターン形成後、エッチングの
保護膜を完全に除去するために、またレジストの密着性
をよくするために、メッキレジスト膜やソルダーレジス
ト膜を形成する前に、必ず回路パターンの粗面化処理が
行われており、このため、設備面はもちろんのこと作業
効率、ランニングコスト等経済的にも問題があった。
As described above, the conventional method of forming a printed circuit by etching has not always been a satisfactory method for obtaining a highly reliable printed wiring board. Further, in the conventional method of forming a printed circuit by etching, a plating resist film or a solder resist film is used after the circuit pattern is formed in order to completely remove the etching protection film and to improve the adhesiveness of the resist. Before forming the circuit pattern, the circuit pattern is always roughened, so that not only equipment but also work efficiency and running cost are economically problematic.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、従来技術の
上記のような実情に鑑み、その問題点を解消するために
なされたものである。即ち、本発明の目的は、アンダー
カットのない、また、エッチングレジスト膜剥離除去後
に表面の粗面化処理を必要としない、アルカリ水溶液剥
離型の回路パターン形成用感光性樹脂組成物を提供する
ことにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in order to solve the above problems in the prior art. That is, an object of the present invention is to provide an alkaline aqueous solution peeling type photosensitive resin composition for circuit pattern formation, which has no undercut, and does not require surface roughening treatment after peeling and removing the etching resist film. It is in.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明者は、種々検討を
重ねた結果、塗膜にした際、その塗膜をエッチング液
が、浸み込むことのできるエッチングレジストインキを
使用し、エッチングを行えば、上記目的を達成すること
ができることを見出だし、本発明を完成するに至った。
即ち、本発明の特徴は、1分子中に少なくとも2個以上
のカルボン酸基を有する高酸価ポリマー、1分子中に少
なくとも1個の(メタ)アクリロイル基(アクリロイル
基およびメタクリロイル基を意味する)と少なくとも1
個のカルボン酸基を有する光重合性単量体、および光重
合性モノマーからなる紫外線硬化型エッチングレジスト
インキ100部に対して、非官能性樹脂を10〜200
部、配合してなる回路パターン形成用感光性樹脂組成物
にある。
Means for Solving the Problems As a result of various studies, the present inventor conducted etching by using an etching resist ink which allows an etching solution to penetrate the coating film when the coating film is formed. It was found that the above object can be achieved by carrying out the invention, and the present invention has been completed.
That is, the feature of the present invention is a high acid value polymer having at least two or more carboxylic acid groups in one molecule, and at least one (meth) acryloyl group in one molecule (meaning an acryloyl group and a methacryloyl group). And at least 1
10 to 200 parts of a non-functional resin with respect to 100 parts of a UV-curable etching resist ink composed of a photopolymerizable monomer having one carboxylic acid group and a photopolymerizable monomer.
Parts of the photosensitive resin composition for forming a circuit pattern.

【0008】以下、本発明を詳細に説明する。本発明に
おいて使用される高酸価ポリマ−は、スチレン−マレイ
ン酸樹脂、インデン−マレイン酸樹脂、ブタジエン−マ
レイン酸樹脂、ビニルエーテル−マレイン酸樹脂等の無
水マレイン酸共重合物およびその変性物、もしくはスチ
レン−アクリル酸樹脂等のカルボン酸樹脂があげられ
る。マレイン酸共重合体の変性物としては、例えば、2
−ヒドロキシエチルアクリレートのような一分子中に少
なくとも一個の(メタ)アクリロイル基と少なくとも一
個のヒドロキシル基を有する単量体を付加させて得られ
るアクリレート化物があげられる。
The present invention will be described in detail below. The high acid value polymer used in the present invention is a styrene-maleic acid resin, an indene-maleic acid resin, a butadiene-maleic acid resin, a vinyl ether-maleic acid resin or the like maleic anhydride copolymer and a modified product thereof, or Examples thereof include carboxylic acid resins such as styrene-acrylic acid resins. As the modified product of the maleic acid copolymer, for example, 2
Examples thereof include an acrylate compound obtained by adding a monomer having at least one (meth) acryloyl group and at least one hydroxyl group in one molecule such as hydroxyethyl acrylate.

【0009】変性に用いる単量体としては、上記2−ヒ
ドロキシエチルアクリレートのほかに、2−ヒドロキシ
エチルメタクリレート、2−ヒドロキシプロピル(メ
タ)アクリレート(以下、(メタ)アクリレートは、ア
クリレートおよびメタクリレートを意味する)、2−ヒ
ドロキシブチル(メタ)アクリレート、ポリエチレング
リコールモノ(メタ)アクリレート、ポリプロピレング
リコールモノ(メタ)アクリレート、ポリカプロラクト
ンモノ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパン
モノ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパンジ
(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メ
タ)アクリレート、ネオペンチルグリコールモノ(メ
タ)アクリレート、1,6−ヘキサンジオールモノ(メ
タ)アクリレート、グリセロールモノ(メタ)アクリレ
ート、グリセロールジ(メタ)アクリレート、ジエチレ
ングリコールモノ(メタ)アクリレート、エチレングリ
コールモノ(メタ)アクリレート、2−フェノキシ−2
−ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート等があげら
れる。
As the monomer used for modification, in addition to the above-mentioned 2-hydroxyethyl acrylate, 2-hydroxyethyl methacrylate and 2-hydroxypropyl (meth) acrylate (hereinafter (meth) acrylate means acrylate and methacrylate). ), 2-hydroxybutyl (meth) acrylate, polyethylene glycol mono (meth) acrylate, polypropylene glycol mono (meth) acrylate, polycaprolactone mono (meth) acrylate, trimethylolpropane mono (meth) acrylate, trimethylolpropane di ( (Meth) acrylate, pentaerythritol tri (meth) acrylate, neopentyl glycol mono (meth) acrylate, 1,6-hexanediol mono (meth) acrylate, Serorumono (meth) acrylate, glycerol di (meth) acrylate, diethylene glycol mono (meth) acrylate, ethylene glycol mono (meth) acrylate, 2-phenoxy -2
-Hydroxypropyl (meth) acrylate and the like can be mentioned.

【0010】また、カルボン酸樹脂としては、(メタ)
アクリル酸(以下、(メタ)アクリル酸は、アクリル酸
とメタクリル酸を意味する)共重合物、例えば、メタク
リル酸メチル−メタクリル酸の共重合物のような二元共
重合物や、スチレン−2−エチルヘキシルアクリレート
−アクリル酸の共重合物のような三元共重合物等任意の
(メタ)アクリロイル基含有単量体の組み合わせによっ
て得られる共重合物があげられる。
Further, as the carboxylic acid resin, (meth)
Acrylic acid (hereinafter (meth) acrylic acid means acrylic acid and methacrylic acid) copolymers, for example, binary copolymers such as methyl methacrylate-methacrylic acid copolymers, and styrene-2. Examples thereof include copolymers obtained by combining arbitrary (meth) acryloyl group-containing monomers such as terpolymers such as -ethylhexyl acrylate-acrylic acid copolymers.

【0011】また、前述のヒドロキシル基含有(メタ)
アクリレートをマレイン酸、フタル酸、イタコン酸、テ
トラヒドロフタル酸、(メチル)ヘキサヒドロフタル酸
((メチル)ヘキサヒドロフタル酸は、ヘキサヒドロフ
タル酸およびメチルヘキサヒドロフタル酸を意味す
る)、クロレンド酸等の二塩基性酸の無水物に反応する
ことによって得られるカルボン酸基含有の(メタ)アク
リレートと任意の(メタ)アクリロイル基含有単量体と
の共重合物があげられる。
Further, the above-mentioned hydroxyl group-containing (meth)
Acrylates such as maleic acid, phthalic acid, itaconic acid, tetrahydrophthalic acid, (methyl) hexahydrophthalic acid ((methyl) hexahydrophthalic acid means hexahydrophthalic acid and methylhexahydrophthalic acid), chlorendic acid, etc. And a copolymer of a carboxylic acid group-containing (meth) acrylate obtained by reacting with the dibasic acid anhydride and an arbitrary (meth) acryloyl group-containing monomer.

【0012】本発明における光重合性単量体としては、
(メタ)アクリル酸、クロトン酸等のモノカルボン酸お
よびマレイン酸、フマル酸、イタコン酸等のジカルボン
酸、やマレイン酸、フタル酸、イタコン酸、クロレンド
酸、テトラヒドロフタル酸、(メチル)ヘキサヒドロフ
タル酸等の酸無水物のハーフエステル化合物があげられ
る。ハーフエステル化合物は、上記の酸無水物に前述の
ヒドロキシル基含有の(メタ)アクリレートを反応させ
ることによって得ることができる。
The photopolymerizable monomer in the present invention includes
Monocarboxylic acids such as (meth) acrylic acid and crotonic acid and dicarboxylic acids such as maleic acid, fumaric acid and itaconic acid, maleic acid, phthalic acid, itaconic acid, chlorendic acid, tetrahydrophthalic acid and (methyl) hexahydrophthalic acid Examples thereof include half ester compounds of acid anhydrides such as acids. The half ester compound can be obtained by reacting the above acid anhydride with the above-mentioned hydroxyl group-containing (meth) acrylate.

【0013】また、光重合性モノマーとしては、前述の
ヒドロキシル基含有(メタ)アクリレートのほか、ペン
タエリスリトールテトラアクリレート、ジペンタエリス
リトールペンタアクリレート、ジペンタエリスリトール
ヘキサアクリレート、トリメチロールプロパントリアク
リレート、ジエチレングリコールジ(メタ)アクリレー
ト、モノエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、
プロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、ポリエ
チレングリコールジ(メタ)アクリレート、ポリプロピ
レングリコールジ(メタ)アクリレート等のアルコール
変性(メタ)アクリレートおよびフェニルグリシジルエ
ーテル(メタ)アクリレート化物、グリシジル(メタ)
アクリレート変性物、ブチルグリシジルエーテル(メ
タ)アクリレート化物等のグリシジル変性エーテル(メ
タ)アクリレートのほか、2−エチルヘキシル(メタ)
アクリレート、メチル(メタ)アクリレート、エチル
(メタ)アクリレート、ブチル(メタ)アクリレート等
の(メタ)アクリル酸エステル等があげられる。
As the photopolymerizable monomer, in addition to the above-mentioned hydroxyl group-containing (meth) acrylate, pentaerythritol tetraacrylate, dipentaerythritol pentaacrylate, dipentaerythritol hexaacrylate, trimethylolpropane triacrylate, diethylene glycol di ( (Meth) acrylate, monoethylene glycol di (meth) acrylate,
Alcohol-modified (meth) acrylates such as propylene glycol di (meth) acrylate, polyethylene glycol di (meth) acrylate, polypropylene glycol di (meth) acrylate and phenyl glycidyl ether (meth) acrylate compounds, glycidyl (meth)
2-ethylhexyl (meth) in addition to glycidyl-modified ether (meth) acrylates such as acrylate-modified products and butyl glycidyl ether (meth) acrylate compounds
Examples thereof include (meth) acrylic acid esters such as acrylate, methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate and butyl (meth) acrylate.

【0014】本発明における非官能性樹脂(光硬化性を
有しない、即ち感光基をもたない樹脂のことである。)
としては、酢酸ビニルの重合体および共重合体、例え
ば、ポリ酢酸ビニル、酢酸ビニル−クロトン酸共重合
体、酢酸ビニル−塩化ビニル共重合体、酢酸ビニル−マ
レイン酸共重合体等があげられる。具体的には、酢酸ビ
ニル樹脂:ゴーセニールNZ−2(日本合成化学(株)
製)、酢酸ビニル樹脂:ゴーセニールNZ−3(日本合
成化学(株)製)等があげられる。
The non-functional resin in the present invention (which does not have photocurability, that is, has no photosensitive group)
Examples thereof include vinyl acetate polymers and copolymers such as polyvinyl acetate, vinyl acetate-crotonic acid copolymers, vinyl acetate-vinyl chloride copolymers and vinyl acetate-maleic acid copolymers. Specifically, vinyl acetate resin: Gohsenil NZ-2 (Nippon Gosei Kagaku Co., Ltd.)
And vinyl acetate resin: Gohsenil NZ-3 (manufactured by Nippon Synthetic Chemical Industry Co., Ltd.) and the like.

【0015】本発明の感光性樹脂組成物において、非官
能性樹脂の配合割合は、紫外線硬化型エッチングレジス
トインキ、即ち、1分子中に少なくとも2個以上のカル
ボン酸基を有する高酸価ポリマー、1分子中に少なくと
も1個の(メタ)アクリロイル基と少なくとも1個のカ
ルボン酸基を有する光重合性単量体、および光重合性モ
ノマーからなるもの100部に対して、10〜200部
の範囲に設定されるが、特に、15〜50部に設定する
ことが好ましい。その理由は、紫外線硬化型エッチング
レジストインキ100部に対して、非官能性樹脂が20
0部より多いとピンホールの発生をみたり、剥離不能と
なり、また、10部より少ないと保護膜下の粗面化がで
きなくなる。
In the photosensitive resin composition of the present invention, the proportion of the non-functional resin is such that the ultraviolet curable etching resist ink, that is, a high acid value polymer having at least two carboxylic acid groups in one molecule, Range of 10 to 200 parts per 100 parts of photopolymerizable monomer having at least one (meth) acryloyl group and at least one carboxylic acid group in one molecule, and photopolymerizable monomer However, it is particularly preferable to set it to 15 to 50 parts. The reason is that 20 parts of the non-functional resin is added to 100 parts of the ultraviolet curable etching resist ink.
If it is more than 0 parts, pinholes may be generated or peeling may not be possible, and if it is less than 10 parts, the surface under the protective film may not be roughened.

【0016】また、上記成分よりなる組成物には、光重
合開始剤、例えば、ベンゾフェノン、ミヒラーケトン等
のベンゾフェノン類;ベンゾイン、ベンゾインプロピル
エーテル、ベンゾインイソプロピルエーテル等のベンゾ
インアルキルエーテル類;2,2−ジメトキシ−2−フ
ェニルアセトフェノン、2,2−ジエトキシアセトフェ
ノン、2,2−ジクロロ−4−フェノキシアセトフェノ
ン等のアセトフェノン類;2−ヒドロキシ−2−メチル
プロピオフェノン、4−イソプロピル−2−ヒドロキシ
−2−メチルプロピオフェノン等のプロピオフェノン
類;2−エチルアントラキノン、2−t−ブチルアント
ラキノン、2−クロルアントラキノン等のアントラキノ
ン類;ジエチルチオキサントン、ジイソプロピルチオキ
サントン、クロルチオキサントン等のチオキサントン
類;その他、ベンジル、1−ヒドロキシシクロヘキシル
フェニルケトン、2−メチル−[4−(メチルチオ)]
−2−モルホリノ−1−プロパノン、p−ジメチルアミ
ノ安息香酸エチルエステル、p−ジメチルアミノ安息香
酸イソアミル等を加えることができる。この様な光重合
開始剤を添加すると、硬化速度の速い組成物が得られ
る。
The composition comprising the above components includes a photopolymerization initiator, for example, benzophenones such as benzophenone and Michler's ketone; benzoin alkyl ethers such as benzoin, benzoin propyl ether and benzoin isopropyl ether; 2,2-dimethoxy. Acetophenones such as 2-phenylacetophenone, 2,2-diethoxyacetophenone and 2,2-dichloro-4-phenoxyacetophenone; 2-hydroxy-2-methylpropiophenone, 4-isopropyl-2-hydroxy-2- Propiophenones such as methylpropiophenone; Anthraquinones such as 2-ethylanthraquinone, 2-t-butylanthraquinone, 2-chloroanthraquinone; Diethylthioxanthone, Diisopropylthioxanthone, Chlorti Thioxanthones such as xanthone and the like; benzyl, 1-hydroxycyclohexyl phenyl ketone, 2-methyl - [4- (methylthio)]
2-morpholino-1-propanone, p-dimethylaminobenzoic acid ethyl ester, p-dimethylaminobenzoic acid isoamyl and the like can be added. By adding such a photopolymerization initiator, a composition having a high curing rate can be obtained.

【0017】更に、これらの組成物には必要に応じて、
貯蔵安定性を向上させるために熱重合禁止剤、例えば、
p−メトキシフェノール、フェノチアジン、N−ニトロ
ソフェニルヒドロキシルアミン・アルミニウム塩(和光
純薬工業(株)製、Q−1301)等、密着性を向上さ
せるために密着性向上剤、例えば、ベンゾトリアゾール
等、印刷を改善するためのチキソ性付与剤、シリコン等
の消泡剤、レベリング剤等のほか、無機顔料、有機顔
料、染料等の着色剤、およびシリカ、タルク、硫酸バリ
ウム等の無機充填剤等を添加することができる。
Further, these compositions may optionally contain
Thermal polymerization inhibitors to improve storage stability, for example,
p-methoxyphenol, phenothiazine, N-nitrosophenylhydroxylamine aluminum salt (manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd., Q-1301) and the like, an adhesion improver for improving the adhesion, such as benzotriazole. In addition to thixotropic agents for improving printing, defoaming agents such as silicon, leveling agents, etc., inorganic pigments, organic pigments, coloring agents such as dyes, and inorganic fillers such as silica, talc, barium sulfate, etc. It can be added.

【0018】更にまた、組成物を塗布しやすい適当な粘
度に調整するために溶剤、例えば、エチルセロソルブ、
ブチルセロソルブ等のセロソルブ系;カルビトールアセ
テート、ブチルカルビトールアセテート等のカルビトー
ル系;ジエチレングリコールジエチルエーテル等のエー
テル系の高・中沸点溶剤を加えることができる。
Furthermore, in order to adjust the composition to a suitable viscosity that is easy to apply, a solvent such as ethyl cellosolve,
It is possible to add a cellosolve solvent such as butyl cellosolve; a carbitol solvent such as carbitol acetate or butyl carbitol acetate; and an ether solvent having a high or medium boiling point such as diethylene glycol diethyl ether.

【0019】[0019]

【作用】図1は、本発明の回路パターン形成用感光樹脂
組成物を使用して回路パターンを形成する場合を説明す
るものであって、図1(a)に示すように、基板1上の
銅箔2の上にエッチングレジスト膜3を形成した場合、
このエッチングレジスト膜は、エッチング液に対して十
分な耐性を示しながら、エッチング液を浸み込ませる性
質があるため、図1(b)に示すように、エッチング
時、このエッチングレジスト膜3により、回路パターン
は、垂直方向からのエッチング液に直接侵されることが
ないので、銅箔の回路パターン部は、エッチング液に対
して、十分に保護される。また、一方、浸み込んだエッ
チング液により、エッチングレジスト膜との界面の銅箔
が緩やかにエッチングされる。したがって、本発明の感
光性樹脂組成物を使用し、エッチングレジスト膜を形成
することにより、図1(c)および図1(d)に示すよ
うに、アンダーカットのない回路パターンが形成される
共に、回路パターンの表面の粗面化も同時に行われて粗
面化部5が形成され、回路パターンの表面上部の薄片部
もエッチングされ、表面上部から側部にかけてなだらか
な傾斜を有する回路パターンを形成できるという、好ま
しい結果が生れる。
FIG. 1 illustrates a case where a circuit pattern is formed using the photosensitive resin composition for forming a circuit pattern of the present invention. As shown in FIG. When the etching resist film 3 is formed on the copper foil 2,
Since this etching resist film has a property of allowing the etching liquid to soak while exhibiting sufficient resistance to the etching liquid, as shown in FIG. Since the circuit pattern is not directly attacked by the etching liquid from the vertical direction, the circuit pattern portion of the copper foil is sufficiently protected against the etching liquid. On the other hand, the impregnated etching solution gently etches the copper foil at the interface with the etching resist film. Therefore, by using the photosensitive resin composition of the present invention and forming an etching resist film, a circuit pattern without undercut is formed as shown in FIGS. 1 (c) and 1 (d). , The surface of the circuit pattern is also roughened at the same time to form the roughened portion 5, and the thin piece portion on the upper surface of the circuit pattern is also etched to form a circuit pattern having a gentle slope from the upper surface to the side portion. It is possible to produce favorable results.

【0020】[0020]

【実施例】以下、実施例により本発明を具体的に説明す
る。なお、「部」および「%」は、特に断りがない限り
重量基準で表したものである。
EXAMPLES The present invention will be specifically described below with reference to examples. In addition, "part" and "%" are expressed on a weight basis unless otherwise specified.

【0021】本発明の試験を行うに当たり、以下の原料
を調製した。 スチレン−マレイン酸共重合物の不飽和二重結合含有ハ
ーフエステルの合成(原料A) 4ツ口丸底フラスコに還流冷却器、攪拌機、ガラス栓お
よび温度計を取り付け、スチレン−マレイン酸共重合体
(平均分子量1600、ARCO Chemical
Asia Pacific Ltd製)116.9部と
2−ヒドロキシエチルメタクリレート192部を配合
し、攪拌、混合後、p−メトキシフェノール0.02部
と2−メチルイミダゾール0.3部を加え、60℃にて
8時間反応を続けて、粘度285ポイズのスチレン−マ
レイン酸共重合体の不飽和二重結合含有部分ハーフエス
テル58.5%モノマー溶液を得た。得られた反応生成
物は、赤外線分光硬度計により、酸無水物に基づく吸収
の消失と水酸基に基づく吸収の減少が確認された。
In carrying out the test of the present invention, the following raw materials were prepared. Synthesis of Unsaturated Double Bond-Containing Half Ester of Styrene-Maleic Acid Copolymer (Raw Material A) A styrene-maleic acid copolymer equipped with a 4-neck round bottom flask equipped with a reflux condenser, stirrer, glass stopper and thermometer. (Average molecular weight 1600, ARCO Chemical
116.9 parts of (Asia Pacific Ltd) and 192 parts of 2-hydroxyethyl methacrylate are mixed, stirred and mixed, 0.02 parts of p-methoxyphenol and 0.3 parts of 2-methylimidazole are added, and the mixture is added at 60 ° C. The reaction was continued for 8 hours to obtain a 58.5% monomer solution of an unsaturated double bond-containing partial half ester of a styrene-maleic acid copolymer having a viscosity of 285 poise. The infrared spectrophotometer confirmed the disappearance of the absorption due to the acid anhydride and the decrease of the absorption due to the hydroxyl groups in the obtained reaction product.

【0022】カルボキシル基含有光重合性モノマーの合
成(原料B) 4ツ口丸底フラスコに還流冷却器、攪拌機、ガラス栓お
よび温度計を取り付け、無水フタル酸148部、2−ヒ
ドロキシメタクリレート130部およびp−メトキシフ
ェノール0.06部を計り取り、攪拌しながら、90℃
で10時間反応を続け、粘度41ポイズの無色透明のカ
ルボキシル基含有光重合性モノマーの粘稠物を得た。
Synthesis of Photopolymerizable Monomer Containing Carboxyl Group (Raw Material B) A 4-neck round bottom flask was equipped with a reflux condenser, stirrer, glass stopper and thermometer, and 148 parts of phthalic anhydride, 130 parts of 2-hydroxymethacrylate and Weigh out 0.06 parts of p-methoxyphenol and, while stirring, at 90 ° C.
The reaction was continued for 10 hours to obtain a colorless transparent viscous material of a carboxyl group-containing photopolymerizable monomer having a viscosity of 41 poise.

【0023】酢酸ビニル樹脂の不飽和二重結合含有モノ
マーによる溶解(原料C) 3ツ口丸底フラスコに還流冷却器、攪拌機、および温度
計を取り付け、酢酸ビニル樹脂(ゴーセニールNZ−
2、日本合成化学(株)製)200部、2−ヒドロキシ
エチルメタクリレート100部を計り取り、50℃で6
時間攪拌し、粘度335ポイズの酢酸ビニル樹脂の不飽
和二重結合含有モノマーの50%溶液を得た。以上原料
A、原料Bおよび原料Cを用いて以下の処方にて本発明
の感光性樹脂組成物を調製した。
Dissolution of Vinyl Acetate Resin with Monomer Containing Unsaturated Double Bond (Raw Material C) A three-necked round bottom flask was equipped with a reflux condenser, a stirrer and a thermometer, and vinyl acetate resin (Goshenil NZ-
2. 200 parts of Nippon Synthetic Chemical Industry Co., Ltd. and 100 parts of 2-hydroxyethyl methacrylate were weighed and 6 at 50 ° C.
After stirring for a time, a 50% solution of the unsaturated double bond-containing monomer of vinyl acetate resin having a viscosity of 335 poise was obtained. The photosensitive resin composition of the present invention was prepared using the above raw materials A, B and C by the following formulation.

【0024】実施例1 配合例 原料A 170.9部 原料B 30.0部 原料C 10.0部 ベンゾインイソプロピルエーテル 5.0部 硫酸バリウム 40.0部 ロイコクリスタルバイオレット 0.4部Example 1 Formulation Example Raw material A 170.9 parts Raw material B 30.0 parts Raw material C 10.0 parts Benzoin isopropyl ether 5.0 parts Barium sulfate 40.0 parts Leuco crystal violet 0.4 parts

【0025】上記実施例1の配合例における原料Cを、
30部、50部、75部、100部、300部、400
部、500部と変えて、各々実施例2〜8とする。比較
例として、上記実施例1の配合例から原料Cを使用しな
いものを比較例1、原料AおよびBを使用しないものを
比較例2とした。
The raw material C in the formulation example of Example 1 was
30, 50, 75, 100, 300, 400
Parts and 500 parts, respectively, to be Examples 2 to 8. As comparative examples, those not using the raw material C from the formulation examples of the above-mentioned Example 1 were designated as comparative example 1, and those not using the raw materials A and B were designated as comparative example 2.

【0026】インキの調製 上記各実施例および比較例の組成のものを撹拌混合した
後、3本ロールにて3回練り、インキを得た。
Preparation of Inks The compositions of the above Examples and Comparative Examples were mixed by stirring and then kneaded three times with a three-roll mill to obtain inks.

【0027】試験基板作製 厚さ35μmの銅張り積層板を通常行われている方法に
て、酸処理、粗面化処理したものに150メッシュのテ
トロン製のバイアスのスクリーンを用いて上記のインキ
を印刷し、80W、三灯の超高圧水銀灯を光源とする露
光機を用いて硬化させ、各々の試験用基板を作成した。
Preparation of Test Substrate A copper-clad laminate having a thickness of 35 μm was subjected to acid treatment and surface roughening treatment by a commonly used method, and the above ink was applied to a 150 mesh Tetoron bias screen. Printing was performed and curing was performed using an exposure device having an ultra-high pressure mercury lamp of 80 W and three lamps as a light source, and each test substrate was prepared.

【0028】エッチング 塩化第二銅酸性エッチング液を用いて液温40℃、スプ
レーによる加圧で、35μm厚の銅が完全にエッチング
される条件で行った。
Etching The etching was carried out under the conditions that the copper having a thickness of 35 μm was completely etched by using a cupric chloride acidic etching solution at a liquid temperature of 40 ° C. and applying pressure by spraying.

【0029】硬化エッチングレジスト膜の剥離除去 4%水酸化ナトリウム水溶液を用いて、液温40℃、ス
プレー圧1.5Kg/cm2 の条件で硬化エッチングレ
ジスト膜の剥離を行い、剥離除去時間30秒、60秒に
おける剥離の様子を観察、評価した。
Peeling Removal of Hardened Etching Resist Film The hardened etching resist film was peeled off using a 4% aqueous sodium hydroxide solution at a liquid temperature of 40 ° C. and a spray pressure of 1.5 Kg / cm 2 , and the peeling removal time was 30 seconds. The state of peeling at 60 seconds was observed and evaluated.

【0030】インキの紫外線硬化性 硬化エッチングレジスト膜の硬度および密着性について
評価した。評価方法は、JIS K 5400 6.1
4(鉛筆引っ掻き試験)およびJIS K 5400
6.15(碁盤目試験)JIS D 0202 4.1
5(碁盤目付着性試験方法)に準じて行った。
UV Curability of Ink The hardness and adhesion of the cured etching resist film were evaluated. The evaluation method is JIS K 5400 6.1.
4 (pencil scratch test) and JIS K 5400
6.15 (cross-cut test) JIS D 0202 4.1
5 (cross-cut adhesion test method).

【0031】エッチングの特異性の評価 エッチング後、回路パターンのエッチング断面および2
00μmの硬化エッチングレジスト膜の残り状態を光学
顕微鏡にて観察した。さらに、硬化エッチングレジスト
膜を剥離除去し、エッチングレジスト膜下の銅表面の状
態(形状、ピンホールの有無)を観察すると共に、表面
粗さ試験機(小坂製作所製DR100×11)にて残り
銅厚を測定し、エッチングによる銅厚の減少を、エッチ
ング前の銅厚との残り銅厚の差で表示した。以上の評価
試験結果を表1に示す。
Evaluation of etching specificity After etching, the etching cross section of the circuit pattern and 2
The remaining state of the cured etching resist film of 00 μm was observed with an optical microscope. Further, the cured etching resist film is peeled and removed, and the state of the copper surface (shape, presence or absence of pinholes) under the etching resist film is observed, and residual copper is measured by a surface roughness tester (DR100 × 11, Kosaka Seisakusho). The thickness was measured, and the decrease in copper thickness due to etching was indicated by the difference between the copper thickness before etching and the remaining copper thickness. Table 1 shows the above evaluation test results.

【0032】[0032]

【表1】 上記表1のピンホールにおける○は、ピンホールなし、
×は、ピンホールあり。剥離性おける○は、剥離可、△
は、一部剥離残りあり、×は、剥離不可を示す。
[Table 1] ○ in the pinholes in Table 1 above means no pinholes,
× indicates a pinhole. In peelability, ○ means peelable, △
Indicates that some peeling remains, and x indicates that peeling is not possible.

【0033】実施例4について、更に次の評価試験を行
った。 印刷適性 既存のエッチングレジストインキを用いて作製した回路
パターン基板(イ)と本発明による樹脂組成物を用いて
作製した回路パターン基板(ロ)により、本発明による
効果を証明するため、(イ)としてUVR−150G
(太陽インキ製造(株)製)と、(ロ)として実施例4
のものを使用し、印刷機にて印刷適性を調べた。スキッ
プ試験は、サンプル100枚を取り、スキップしない枚
数を調べた。また、にじみ試験は、にじみ印刷されるま
での枚数を調べた。また、導体中央部の厚みに対するコ
ーナー部の厚みを測定し、コーナー部の厚み/導体中央
部の厚みにより、均一カバーリング性の評価を行った。
その結果を表2に示す。
For Example 4, the following evaluation test was further conducted. Printability In order to prove the effect of the present invention with the circuit pattern substrate (a) produced using the existing etching resist ink and the circuit pattern substrate (b) produced using the resin composition of the present invention, (a) As UVR-150G
(Taiyo Ink Mfg. Co., Ltd.) and (b) Example 4
The printability was examined using a printer. In the skip test, 100 samples were taken, and the number of sheets not skipped was examined. In the bleeding test, the number of sheets until bleeding printing was examined. Further, the thickness of the corner portion with respect to the thickness of the central portion of the conductor was measured, and the uniform covering property was evaluated by the thickness of the corner portion / the thickness of the central portion of the conductor.
The results are shown in Table 2.

【0034】[0034]

【表2】 [Table 2]

【0035】[0035]

【発明の効果】本発明の感光性樹脂組成物は、エッチン
グ液に対して十分な耐性を示す。また、本発明の感光性
樹脂組成物を使用することにより、ピンホールの発生も
なく、回路パターン部以外の銅箔をエッチングし、回路
パターンを形成すると同時に、エッチングレジスト膜下
の金属表面を化学的に粗面化処理することができるた
め、短絡の原因となる金属薄片の生成がなくなり、信頼
性の高い回路基板の製造が可能となる。また、回路パタ
ーンの形成と同時に、エッチングレジスト膜下の金属表
面を化学的に粗面化処理できることにより、剥離後の粗
面化処理が省けるほか、エッジ部が丸くなるので、イン
キのエッジ切れが改善され、印刷性が向上する。このこ
とは、印刷速度のアップと言うことだけでなく、エッジ
へのインキの入りが良くなるために、半田時のフクレや
メッキ時の液の浸み込みの改善もなされ、基板の信頼性
が向上する。
The photosensitive resin composition of the present invention exhibits sufficient resistance to an etching solution. Further, by using the photosensitive resin composition of the present invention, without forming pinholes, copper foil other than the circuit pattern portion is etched to form a circuit pattern, and at the same time, the metal surface under the etching resist film is chemically etched. Since the surface roughening treatment can be effectively performed, the generation of metal flakes that cause a short circuit is eliminated, and a highly reliable circuit board can be manufactured. In addition, since the metal surface under the etching resist film can be chemically roughened simultaneously with the formation of the circuit pattern, the roughening treatment after peeling can be omitted and the edge portion is rounded so that the edge of the ink is not broken. It is improved and printability is improved. Not only does this mean that the printing speed is increased, but the ink gets into the edges better, so blisters at the time of soldering and the penetration of liquid during plating are improved, and the reliability of the board is improved. improves.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の回路パターン形成用感光性樹脂組成物
を使用した回路パターンの形成法の説明図である。
FIG. 1 is an explanatory view of a method for forming a circuit pattern using the photosensitive resin composition for forming a circuit pattern of the present invention.

【図2】従来の回路パターン形成用感光性樹脂組成物を
使用した回路パターンの形成法の説明図である。
FIG. 2 is an explanatory diagram of a method for forming a circuit pattern using a conventional photosensitive resin composition for forming a circuit pattern.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基材 2 銅箔 3 エッチングレジスト膜 4 回路パターン 5 粗面化部 6 上部薄片部 1 Base Material 2 Copper Foil 3 Etching Resist Film 4 Circuit Pattern 5 Roughened Area 6 Upper Thin Section

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H05K 3/06 H 6921−4E ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 5 Identification code Office reference number FI technical display location H05K 3/06 H 6921-4E

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 1分子中に少なくとも2個以上のカルボ
ン酸基を有する高酸価ポリマー、1分子中に少なくとも
1個の(メタ)アクリロイル基と少なくとも1個のカル
ボン酸基を有する光重合性単量体、および光重合性モノ
マーからなる紫外線硬化型エッチングレジストインキ1
00部に対して、非官能性樹脂を10〜200部、配合
してなる回路パターン形成用感光性樹脂組成物。
1. A high acid value polymer having at least two or more carboxylic acid groups in one molecule, and a photopolymerizable polymer having at least one (meth) acryloyl group and at least one carboxylic acid group in one molecule. UV-curable etching resist ink 1 composed of monomer and photopolymerizable monomer
A photosensitive resin composition for circuit pattern formation, comprising 10 parts to 200 parts of a non-functional resin with respect to 00 parts.
【請求項2】 非官能性樹脂が、酢酸ビニルの重合体ま
たは共重合体であることを特徴とする請求項1記載の回
路パターン形成用感光性樹脂組成物。
2. The photosensitive resin composition for forming a circuit pattern according to claim 1, wherein the non-functional resin is a vinyl acetate polymer or copolymer.
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