JPH05136193A - 半導体デバイスのパツケージ構造 - Google Patents

半導体デバイスのパツケージ構造

Info

Publication number
JPH05136193A
JPH05136193A JP29539791A JP29539791A JPH05136193A JP H05136193 A JPH05136193 A JP H05136193A JP 29539791 A JP29539791 A JP 29539791A JP 29539791 A JP29539791 A JP 29539791A JP H05136193 A JPH05136193 A JP H05136193A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor chip
leads
wire
package
bonded
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP29539791A
Other languages
English (en)
Inventor
Shigero Hayashi
茂郎 林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Electric Industries Ltd
Original Assignee
Sumitomo Electric Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Electric Industries Ltd filed Critical Sumitomo Electric Industries Ltd
Priority to JP29539791A priority Critical patent/JPH05136193A/ja
Publication of JPH05136193A publication Critical patent/JPH05136193A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4912Layout
    • H01L2224/49171Fan-out arrangements

Landscapes

  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 デバイス全体の嵩に対し回路部分が占める割
合を多くして、回路部分の実装密度を高める。 【構成】 半導体チップ1は一方の列のリード4bとの
みワイヤボンディングされており、他方の列のリード4
aとはワイヤボンディングされていない。半導体チップ
1とリード4bとの間にはワイヤ5を張るため広いスペ
ースを要するが、半導体チップ1とリード4aとの間の
スペースは、ワイヤを張る必要がなく、狭くできるので
その分だけパッケージ17が小さくできる。よって相対
的に半導体チップ1が占める割合が増えて、回路部分の
実装密度が高まる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体デバイスのパッケ
ージ構造に関し、デバイス全体の嵩に対し回路部分の割
合を多くするよう工夫したものである。
【0002】
【従来の技術】半導体デバイスの一例として、デュアル
インライン パッケージ(DIP)形のデバイスの構
成及びアセンブリ工程を、図5〜図7を参照して説明す
る。まず半導体チップ1は、リードフレーム2のアイラ
ンド3にダイボンディングされる。次にワイヤボンディ
ング技術により、半導体チップ2内の配線に接続された
ボンディングパットと、リード4とが、ワイヤ5により
接続される。その後、樹脂モールドによりパッケージ
(プラスチックパッケージ)7が施こされ、更にフォー
ミング工程においてタイバー6等が切除されたりリード
4が曲げられて、DIP形の半導体デバイス8が完成す
る。
【0003】近年では半導体チップ1に多くの機能素子
を搭載しており、特にハイブリッドICではこの傾向が
強く、半導体チップ1の面積が広いものがある。このよ
うな半導体チップ1では、多機能ではあるが、入出力す
る信号はさほど多くはなく、図6に示すように、半導体
チップ1は、多数(図6では8本)のリード4のうち、
一部のもの(図6では4本のリード)とのみ接続される
だけである。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来では図6に示すよ
うに半導体チップ1は、図中上側の列(A側列)のリー
ド4にも、図中下側の列(B側列)のリード4にも、ワ
イヤ5により接続している。ワイヤボンディングをする
ときには、ワイヤ5を張るスペースが必要であるため、
A側にもB側にも広いスペースをとってあり、パッケー
ジ7は大きいものとなっていた。したがってパッケージ
7の面積(M×N)に対し、半導体チップ1の面積(P
×Q)が相対的に狭くなり、実質的な回路部分の実装密
度が低くかった。
【0005】本発明は、上記従来技術に鑑み、実質的な
回路部分の実装密度の高い半導体デバイスのパッケージ
構造を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決する本発
明の構造は、半導体チップを、特定の列のリードとワイ
ヤボンディングし、他の列のリードとは接続せず、半導
体チップと他の列のリードとの間のスペースを狭めたこ
とを特徴とする。
【0007】
【作用】ワイヤボンディングされない列のリードと半導
体チップとの間には、ワイヤを張るためのスペースが不
要であるためスペースを狭くでき、パッケージを小さく
きる。よって、デバイス全体の大きさに対し半導体チッ
プが占める割合が多くなり、実質的な回路部分の実装密
度が高くなる。
【0008】
【実施例】以下に本発明の実施例を図面に基づき詳細に
説明する。なお従来技術と同一機能をはたす部分には同
一符号を付す。図1は本発明の第1実施例を示す。モノ
リシックICである半導体チップ1はアイランド3にダ
イボンディングされている。半導体チップ1は、B側列
のリード4bに対しワイヤ5にてワイヤボンディングさ
れているが、A側列のリード4aには接続されていな
い。なお2本のワイヤ5aは、半導体チップ1とアイラ
ンド3とを接続して、半導体チップ1を電源につなげる
役割をしている。またリード4aはアイランド3に接続
している。
【0009】本実施例のパッケージ17では、半導体チ
ップ1とリード4bとの間に、ワイヤ5を張るための広
いスペースをとっているが、半導体チップ1とリード4
aとの間のスペースは、ワイヤを張る必要がないため狭
くなっている。ちょうど半導体チップ1がリード4a側
に寄って搭載された構成となっている。したがって従来
と同じ大きさの半導体チップ1を搭載していても、パッ
ケージ17の広さ(M×O)は従来のパッケージ7の広
さ(M×N)よりも小さくなる(なぜならO<Nとなっ
ているから)。このため半導体デバイス18の嵩が小さ
くなるとともに、全体の嵩に対して半導体チップ1が占
める割合が多くなり、実質的な回路部分の実装密度が高
くなる。
【0010】なお図2に示す半導体チップ1は、多くの
機能素子を有して広い面積を有しているが、入出力する
信号が少ないので、片側の列のリード4bに接続するだ
けで、全ての信号が入出力できる。また半導体チップ1
がハイブリッドICであっても、図2と同様な構成とし
て、実質的な回路部分の実装密度を高くすることができ
る。
【0011】図3は本発明の第2実施例を示す。この実
施例では、リード4aのうち、右端のものだけがアイラ
ンド3に接続されており、残りの3本はタイバ−6によ
り右端のものに接続している。つまり、モールド後のフ
ォーミング工程において、図示部分のタイバー6は切除
せずにそのまま残しておくのである。したがって左側の
3本のリード4aの位置が保持できる。他の部分は、第
1実施例と同じ構成となっている。
【0012】図4は本発明の第3実施例を示す。この実
施例は、パッケージ27の4つの列A,B,C,Dから
リード24a,24b,24c,24dを取り出したQ
FP(quad flat package)形の半導体デバイス28であ
る。モノリシックICまたはハイブリッドICでなる半
導体チップ21は、アイランド23にダイボンディング
されており、ワイヤ25によりリード24a,24b,
24cにワイヤボンディングされている。リード24d
は半導体チップ21にワイヤボンディングされておら
ず、リード24dと半導体チップ21との間は、ワイヤ
を張る必要がないので狭くなっている。このようにリー
ド24dと半導体チップ21との間のスペースを狭くで
きるので、全体の嵩に対して半導体チップ21が占める
割合が多くなり、実質的な回路部分の実装密度が高くな
る。
【0013】図4の例では3本のリード24dがすべて
アイランド23に接続されていたが、リード24dのう
ちの1本のみをアイランド23に接続し、残りの2本は
タイバーにより、アイランド23に接続されている1本
のものに、接続するようにしてもよい。
【0014】更に、QFP形において、2つの列のピン
にワイヤボンディングすれば足りる場合は、残りの2つ
の列と半導体チップとの間のスペースを狹めるよう構成
することもできる。
【0015】
【発明の効果】以上説明したように本発明では、リード
の列のうち特定の列のリードはワイヤボンディングせ
ず、ワイヤボンディングしていないリードと半導体チッ
プとの間のスペースを狹めるようなパッケージ構造とし
たため、全体の嵩に対して半導体チップが占める割合が
多くなり、実質的な回路部分の実装密度が高くなる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例を示す斜視図。
【図2】第1実施例を示す断面図。
【図3】第2実施例を示す断面図。
【図4】第3実施例を示す断面図。
【図5】従来技術に係る半導体デバイスを示す斜視図。
【図6】従来技術を示す断面図。
【図7】リードフレームを示す平面図。
【符号の説明】
1,21 半導体チップ 2 リードフレーム 3,23 アイランド 4,4a,4b,24a,24b,24c,24d リ
ード 5,25 ワイヤ 6 タイバー 7,17,27 パッケージ 8,18,28 半導体デバイス

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 パッケージ内に半導体チップを備え、パ
    ッケージの2つの列にそれぞれ複数のリードを備えたデ
    ュアル インライン パッケージ形の半導体デバイスに
    おいて、 半導体チップは一方の列のリードとのみワイヤボンディ
    ングされており、 ワイヤボンディングがされた一方の列のリードと半導体
    チップとの間に、ワイヤを張ることができる程度のスペ
    ースがあり、ワイヤボンディングがされていない他方の
    列のリードと半導体チップとの間のスペースが狭くなっ
    た状態で、パッケージが形成されていることを特徴とす
    る半導体デバイスのパッケージ構造。
  2. 【請求項2】 パッケージ内に半導体チップを備え、パ
    ッケージの4つの列にそれぞれ複数のリードを備えたク
    アッド フラット パッケージ形の半導体デバイスにお
    いて、 半導体チップは2ないし3の列のリードとのみワイヤボ
    ンディングされており、 ワイヤボンディングがされた列のリードと半導体チップ
    との間に、ワイヤを張ることができる程度のスペースが
    あり、ワイヤボンディングがされていない列のリードと
    半導体チップとの間のスペースが狭くなった状態で、パ
    ッケージが形成されていることを特徴とする半導体デバ
    イスのパッケージ構造。
  3. 【請求項3】 請求項1または請求項2において、ワイ
    ヤボンディングがされていない列のリードの少なくとも
    一部がアイランドに接続されていることを特徴とする半
    導体デバイスのパッケージ構造。
  4. 【請求項4】 請求項1または請求項2または請求項3
    において、ワイヤボンディングがされていない列のリー
    ドの少なくとも一部が、相互にタイバーで接続されたま
    まとなっていることを特徴とする半導体デバイスのパッ
    ケージ構造。
JP29539791A 1991-11-12 1991-11-12 半導体デバイスのパツケージ構造 Withdrawn JPH05136193A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP29539791A JPH05136193A (ja) 1991-11-12 1991-11-12 半導体デバイスのパツケージ構造

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP29539791A JPH05136193A (ja) 1991-11-12 1991-11-12 半導体デバイスのパツケージ構造

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH05136193A true JPH05136193A (ja) 1993-06-01

Family

ID=17820088

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP29539791A Withdrawn JPH05136193A (ja) 1991-11-12 1991-11-12 半導体デバイスのパツケージ構造

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH05136193A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5647527A (en) * 1995-02-09 1997-07-15 Nec Corporation Method of determining order of wire-bonding

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5647527A (en) * 1995-02-09 1997-07-15 Nec Corporation Method of determining order of wire-bonding

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6252299B1 (en) Stacked semiconductor device including improved lead frame arrangement
US5283717A (en) Circuit assembly having interposer lead frame
US20060060965A1 (en) Semiconductor device having a switch circuit
US5428247A (en) Down-bonded lead-on-chip type semiconductor device
JP2000133767A (ja) 積層化半導体パッケ―ジ及びその製造方法
JP2809945B2 (ja) 半導体装置
US6791166B1 (en) Stackable lead frame package using exposed internal lead traces
JP3679923B2 (ja) 半導体装置
JPH07153904A (ja) 積層形半導体装置の製造方法及びそれによる半導体パッケージ
JP2007180077A (ja) 半導体装置
JPH05136193A (ja) 半導体デバイスのパツケージ構造
JPS62158352A (ja) 樹脂封止半導体装置
JPS60234335A (ja) 半導体装置
KR100192329B1 (ko) 반도체소자 패키지 공정용 리드 프레임
JP2879787B2 (ja) 高密度表面実装用半導体パッケージ及び半導体実装基板
JP2913858B2 (ja) 混成集積回路
JPH02143449A (ja) 半導体封止容器
KR200159486Y1 (ko) 반도체 패키지
JPH04199740A (ja) 半導体集積回路のリードフレーム
KR200224864Y1 (ko) 반도체 패키지
KR100280393B1 (ko) 반도체 패키지
KR940005490Y1 (ko) 반도체장치용 리이드프레임
JPH0547995A (ja) マルチチツプモジユール
JPH053284A (ja) 樹脂封止型半導体装置
JP2003060126A (ja) 半導体装置の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 19990204