JPH0513583B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0513583B2
JPH0513583B2 JP62046957A JP4695787A JPH0513583B2 JP H0513583 B2 JPH0513583 B2 JP H0513583B2 JP 62046957 A JP62046957 A JP 62046957A JP 4695787 A JP4695787 A JP 4695787A JP H0513583 B2 JPH0513583 B2 JP H0513583B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
switch
command signal
signal
output
detector
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP62046957A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS63212876A (ja
Inventor
Shinji Ito
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Engineering Ltd
Original Assignee
NEC Engineering Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Engineering Ltd filed Critical NEC Engineering Ltd
Priority to JP62046957A priority Critical patent/JPS63212876A/ja
Publication of JPS63212876A publication Critical patent/JPS63212876A/ja
Publication of JPH0513583B2 publication Critical patent/JPH0513583B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Control Of Amplification And Gain Control (AREA)
  • Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、検出器の動作確認装置に係り、特に
検出信号レベルが区々である検出器が複数ある場
合の各検出器の動作確認の自動化技術に関する。
(従来の技術) 例えば、プラントや工場等では各所の検出端に
所定の検出器を設け、各検出器の検出信号を1箇
所に集中して監視することが行われているが、こ
のような検出器が正常に動作し得る状態にあるか
否かを確認する目的で、従来は例えば第2図に示
すような動作確認装置が用いられている。この動
作確認装置は、複数の検出器S1〜So個々の動作確
認を行うもので、検出回路19と試験装置20と
からなる。
検出器S1〜同Soは、各種の物理量を検出するも
のであるが、その検出対象には発光ダイオードや
ランプの如き光源、ブザーやベルの如き音源も含
まれ、各検出器の検出信号レベルは区々としてい
る。
従つて、検出回路19は、増幅回路A1〜同Ao
と比較回路C1〜同Coのn組A1,Co…Ao,Coをn
個の検出器S1〜同Soのそれぞれと1対1に対応付
けて設け、増幅回路A1〜同Aoそれぞれの増幅率
は対応する検出器の検出信号レベルに応じて予め
調整設定してある。
比較回路C1〜同Coは基準レベルと対応する増
幅回路の出力レベルとの大小関係を比較しその比
較結果信号を試験装置20へ出力する。
試験装置20は、コンピユータを主体に構成さ
れ、検出器S1〜同Soの動作確認をするためのプロ
グラムに従つて例えば一定の周期で検出器S1〜同
Soを動作させることを行う。その動作結果が比較
回路C1〜同Coから与えられるので、これにより
検出器S1〜同So個々の状態が把握できるようにな
つている。
(発明が解決しようとする問題点) しかし、前述した従来の検出器の動作確認装置
にあつては、次の如き種々の問題点がある。
まず、検出回路には、検出器ごとに増幅回路と
比較回路の組を設けるので、検出器数の増加に伴
い検出回路の回路規模が増大する。
また、増幅回路の出力レベルが適正であるか否
か、即ち増幅回路の増幅率の調整は、作業者が実
際に電圧計等の計測器を用いて行つているので、
非能率的であり、また誤調整による誤検出の可能
性が高くなる。
さらに、周知のように、高検出器や音検出器等
は製品にばらつきがあるので、これらのものを交
換した場合などではその都度増幅回路の調整が必
要となる。この調整作業も従来は手作業で行うこ
とになるので、非常に面倒である。
本発明は、従来のこのような問題点に鑑みなさ
れたもので、その目的は、1つの増幅回路と比較
回路の組でもつて複数の検出器に対応でき、かつ
人為的な調整作業を不要とすることができる検出
器の動作確認装置を提供することにある。
(問題点を解決するための手段) 前記目的を達成するために、本発明の検出器の
動作確認装置は次の如き構成を有する。
即ち、本発明の検出器の動作確認装置は、選択
指令信号を受けて複数の検出器の動作状態信号の
うちの1つを選択するスイツチと;このスイツチ
の選択出力を帰還抵抗と入力抵抗の比で定まる増
幅率で増幅する演算増幅器と;少なくとも前記帰
還抵抗または入力抵抗のいずれか一方を形成する
ための抵抗アレイと;設定指令信号を受けて前記
スイツチが選択出力した動作状態信号に対し適切
な増幅率となるように前記抵抗アレイにおける抵
抗の組合わせを設定する設定手段と;前記演算増
幅器の出力レベルと基準レベルとの大小関係を比
較し判定信号を送出する比較回路と;前記選択指
令信号および前記設定指令信号を形成し出力する
制御手段と;を備えたことを特徴とするものであ
る。
(作用) 次に、前記の如く構成される本発明の検出器の
動作に確認装置の作用を説明する。
制御手段は、選択指令信号および設定指令信号
を形成し、選択指令信号はスイツチへ、設定指令
信号は設定手段へそれぞれ出力する。
スイツチには複数の検出器からそれぞれの動作
状態信号が入力するようになつている。複数の検
出器は、従来と同様に、例えば一定の周期で順番
に起動される。このスイツチは、前記選択指令信
号を受けて複数の検出器の動作状態信号のうちの
1つを選択し、それを設定手段へ出力する。
抵抗アレイは、演算増幅器の例えば入力抵抗を
形成するものとして設けられているとする。
設定手段は、前記設定指令信号を受けて、前記
スイツチが選択出力した動作状態信号に対し適切
な増幅率となるように前記抵抗アレイにおける抵
抗の組合わせを設定する。
その結果、演算増幅器では、前記スイツチの選
択出力を帰還抵抗と前述の如くして設定された入
力抵抗の比で定まる増幅率で増幅することとな
る。
つまり、この演算増幅器においては、増幅率の
人為的な調整は一切不要であり、全て制御手段の
出力信号によつて自動的に行われるのである。
最後に、比較回路は、前記演算増幅器の出力レ
ベルと基準レベルとの大小関係を比較し判定信号
を送出することを安定的に行い得る。
このように、本発明の検出器の動作確認装置に
よれば、複数の検出器の動作状態信号の1つを選
択し、その選択した動作状態信号の信号レベルに
対応して演算増幅器の増幅率を設定するようにし
たので、従来のように動作状態信号ごとに回路を
設ける必要がなく、1つの回路で処理でき、回路
規模を大幅に低減できる。また、演算増幅器の増
幅率、つまり出力レベルは入力信号レベルに応じ
て適切なレベルに自動的に設定されるので、人為
的な面倒な調整作業は一切不要である。このこと
は、検出器の交換等があつた場合も同様であり、
作業能率が大幅に向上する等、種々の優れた効果
がある。
(実施例) 以下、本発明の実施例を図面を参照して説明す
る。
第1図は本発明の一実施例に係る検出器の動作
確認装置を示す。この動作確認装置は検出回路1
と2とからなる。
検出回路1は、図外の複数の検出器の動作状態
信号がそれぞれ入力する(図示例では4個の動作
状態信号が入力する)スイツチ11と、設定手段
としての設定スイツチ12と、入力抵抗R1を形
成するための抵抗アレイ13と、演算増幅器14
と、比較回路15とを基本的に備える。
スイツチ11は、試験装置2から与えられる選
択指令信号aに従つて複数の検出器の動作状態信
号のうちの1つを選択し、それを設定スイツチ1
2へ送出する。なお、選択指令信号aについては
後述する。
設定スイツチ12は、試験装置2から与えられ
る設定指令信号bに従つて、演算増幅器14と増
幅率が前記スイツチ11が選択出力した動作状態
信号に対し適切なものとなるように抵抗アレイ1
3における抵抗の組合せを設定する。
ここで設定された抵抗値が演算増幅器14の入
力抵抗R1の値となる。例えば、図示例では、設
定スイツチ12中の1個のスイツチのみが閉成す
るとR1=Rとなり、3個のスイツチが閉成する
とR1=R/3となるのである。なお、設定指令
信号bについては後述する。
演算増幅器14は、帰還抵抗R2と前述の如く
設定された入力抵抗R1の比で定まる増幅率で前
記スイツチ11が選択出力した動作状態信号を増
幅し、適宜な出力レベルにして比較回路15へ出
力する。
比較回路15では、適宜な基準レベルが設定し
てあり、この基準レベルと演算増幅器14の出力
レベルとの大小関係を比較し、判定信号を試験装
置2へ送出する。
次に、試験装置2は、制御の中枢をなす中央演
算処理装置(CPU)21を備え、このCPU21
と検出回路1とは入出力インターフエース22を
介して接続される。メモリ23には、CPU21
が当該試験装置の諸機能および本発明の制御手段
の動作等を実現するに必要な各種プログラムとそ
れに関連する各種データが格納される。
CPU21は、試験装置の機能として、複数の
検出器の動作確認試験時に、例えば一定の周期で
順番に各検出器を起動させ、その動作結果を検出
回路1を介して取得する試験動作を行う他、本実
施例では、自動化の趣旨から、まず当該試験装置
の稼働初期等でのイニシヤル処理として各検出器
の動作状態信号に関する基礎データを収集するこ
とを行い、次いで通常の動作確認時に前記試験動
作と並行して本発明の制御手段の動作を行うよう
になつている。
即ち、イニシヤル処理では、個々の検出器につ
いて次の処理を行う。例えば、第1番目の検出器
を動作させるとともに、スイツチ11に選択指令
信号aを出力して対応するスイツチを閉成させ
る。
そして、設定スイツチ12に対し設定指令信号
bを出力する。このとき、比較回路15の判定出
力が「良」となるまで設定指令信号bの内容を変
更し、「良」となつたときの設定指令信号の内容
をメモリ23に格納する。この処理は検出器が交
換された場合、増設された場合等においても行
う。
勿論、検出器の動作状態信号に対する適切な入
力抵抗R1の値が既知である場合には、上記処理
に代えてメモリ23へ直接設定指令信号bの内容
を格納するようにしても良い。
次いで、通常の動作確認時では、選択指令信号
aをスイツチ11へ送出し、スイツチ11の各ス
イツチを適宜な順番で閉成させることを行う。
また、設定スイツチ12に対してはスイツチ1
1が選択出力した信号に対応する設定指令信号b
をメモリ23から読み出し、それを設定スイツチ
12へ出力するのである。
その結果、検出回路1では、前述した如き確認
動作が全ての検出器に対して行われ、その判定結
果が入出力インターフエース22を介して試験装
置2へ取り込まれることとなる。
なお、検出器の動作状態信号はアナログ信号で
あるから、スイツチ11や設定スイツチ12はリ
ードリレー等でも構成できるが、DIPパツケージ
化されたアナログスイツチが市販されており、基
板実装等を考慮するとこの市販のアナログスイツ
チを用いた方が設計が容易となる。
また、前記実施例では、演算増幅器の入力抵抗
を設定する場合を説明したが、例えば帰還抵抗を
設定するようにしても良く、また入力抵抗と帰還
抵抗の両者を設定するようにしても良いことは勿
論である。
(発明の効果) 以上詳述したように、本発明の検出器の動作確
認装置によれば、複数の検出器の動作状態信号の
1つを選択し、その選択した動作状態信号の信号
レベルに対応して演算増幅器の増幅率を設定する
ようにしたので、従来のように動作状態信号ごと
に回路を設ける必要がなく、1つの回路で処理で
き、回路規模を大幅に低減できる。また、演算増
幅器の増幅率、つまり出力レベルは入力信号レべ
ルに応じて適切なレベルに自動的に設定されるの
で、人為的な面倒な調整作業は一切不要である。
このことは、検出器の交換等があつた場合も同
様であり、作業能率が大幅に向上する等、種々の
優れた効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例に係る検出器の動作
確認装置の構成ブロツク図、第2図は従来の動作
確認装置の構成ブロツク図である。 1,19……検出回路、2,20……試験装
置、11……スイツチ、12……設定スイツチ、
13……抵抗アレイ、14……演算増幅器、15
……比較回路、21……CPU、22……入出力
インターフエース、23……メモリ、S1〜So……
検出器、A1〜Ao……増幅回路、C1〜Co……比較
回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 選択指令信号を受けて複数の検出器の動作状
    態信号のうちの1つを選択するスイツチと;この
    スイツチの選択出力を帰還抵抗と入力抵抗の比で
    定まる増幅率で増幅する演算増幅器と;少なくと
    も前記帰還抵抗または入力抵抗のいずれか一方を
    形成するための抵抗アレイと;設定指令信号を受
    けて前記スイツチが選択出力した動作状態信号に
    対し適切な増幅率となるように前記抵抗アレイに
    おける抵抗の組合わせを設定する設定手段と;前
    記演算増幅器の出力レベルと基準レベルとの大小
    関係を比較し判定信号を送出する比較回路と;前
    記選択指令信号および前記設定指令信号を形成し
    出力する制御手段と;を備えたことを特徴とする
    検出器の動作確認装置。
JP62046957A 1987-02-28 1987-02-28 検出器の動作確認装置 Granted JPS63212876A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62046957A JPS63212876A (ja) 1987-02-28 1987-02-28 検出器の動作確認装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62046957A JPS63212876A (ja) 1987-02-28 1987-02-28 検出器の動作確認装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS63212876A JPS63212876A (ja) 1988-09-05
JPH0513583B2 true JPH0513583B2 (ja) 1993-02-22

Family

ID=12761765

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62046957A Granted JPS63212876A (ja) 1987-02-28 1987-02-28 検出器の動作確認装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS63212876A (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009069421A (ja) * 2007-09-12 2009-04-02 Hitachi Displays Ltd 表示装置
CN105698827B (zh) * 2016-01-28 2017-10-31 东南大学 阻性传感器阵列读出电路及其读出方法、一种传感系统
CN105651315B (zh) * 2016-01-28 2017-10-31 东南大学 阻性传感器阵列快速读出电路及其读出方法、传感系统

Also Published As

Publication number Publication date
JPS63212876A (ja) 1988-09-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
GB2236398A (en) Self documenting patch panel
US3826909A (en) Dynamic comparison tester for go-no-go testing of digital circuit packages in normal environment
US4554662A (en) Input signal testing device for electronic copier
JPH0513583B2 (ja)
JP3241777B2 (ja) インサーキットテスタ用オープンテスト装置
JP3702605B2 (ja) トリガ機能を持つ伝送システム及びその入出力信号の時間間隔測定方法
CA2170410A1 (en) Interpretive measurement instrument
JPS58101519A (ja) アナログ・デイジタル変換器の故障検出装置
JP4619021B2 (ja) エレベータ伝送システム
JPS60135777A (ja) 制御装置の試験方式
JPH0643244A (ja) 宇宙線計測装置
JPH0755602Y2 (ja) 制御ユニツトの検査装置
HU213823B (en) Method, test circuit and apparatus for teaching purpose
JPS6078362A (ja) 自動試験装置の機能チエツク方式
JPS59140519A (ja) ロボツトの制御装置
JP2804026B2 (ja) プラントデータ表示装置
SU830405A1 (ru) Устройство дл проверки монтажа
JPH0636011B2 (ja) 多端子物の検査装置
JPH02254595A (ja) 火災警報装置
JP2001201527A (ja) 試験装置
JPS61193207A (ja) デイジタル制御装置
JPH02304376A (ja) 自己診断回路
JPS58106478A (ja) 試験方式
JPH02206845A (ja) 情報処理装置の試験装置
JPH07118039B2 (ja) 測定器のid番号設定方法

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees