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Evaluating method for measured value

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JPH0510751A
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JP
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measured
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JP18924591A
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Inventor
Kozo Ariga
Soichi Kadowaki
Takako Kubota
孝子 久保田
幸三 有我
聰一 門脇
Original Assignee
Mitsutoyo Corp
株式会社ミツトヨ
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Abstract

PURPOSE:To enable always correct evaluation of three-dimensionally measured values by removing the effect of errors in the installation of works on checking with design values even if such errors occur during measurement or machining. CONSTITUTION:The positional relationship of a design coordinate system (second coordinate system)G2 to an evaluation coordinate system (first coordinate system)G1 is found by the non-linear method of least squares using as an evaluation function (f) the shortest distance between a free curved surface S and each design point Q, the distance being specified by a measured coordinate value. The deviation of the design coordinate system G2 from the evaluation coordinate system G1 is corrected according to the found positional relationship and the measured value is checked with a design value.

Description

【発明の詳細な説明】 DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】 [0001]

【産業上の利用分野】本発明は、例えば三次元測定機等で測定された被測定自由曲面の三次元測定データが設計値通りの値になっているかどうかを評価するための測定値評価方式に関し、特に測定値照合処理の前処理に関する。 The present invention relates, for example, measurements for the three-dimensional measurement data of the measured free-form surface that is measured by the coordinate measuring machine or the like to evaluate whether it is the value of the design value evaluation method relates, more particularly, pre-processing of the measurement value comparison processing.

【0002】 [0002]

【従来の技術】近年、CAD/CAM(Computer Aided In recent years, CAD / CAM (Computer Aided
Design /Computer Aided Manufacturing)システムによる設計・加工効率の向上及びNC工作機械の高性能化等に伴い、複雑な形状の製品を高精度に加工することが可能になってきた。 Design / Computer Aided Manufacturing) As the performance such as improved and NC machine tool design and processing efficiency of the system, it has become possible to process the product of complicated shape with high precision. このため、製品評価の測定工程においても、自由曲面を含む複雑な三次元形状の測定を高精度に行えることが要求され、そのための高精度な三次元測定機が開発されるようになってきた。 Therefore, even in the measurement process of the product evaluation, is required to perform the measurement of the complex three-dimensional shape including a free-form surface with high precision, high accuracy coordinate measuring machine therefor have come to be developed .

【0003】 [0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、長さ、 THE INVENTION Problems to be Solved] However, the length,
厚さ、半径等の一次元座標系における測定値を設計値と照合させて製品評価を行うことは比較的簡単であるが、 The thickness, the measurements at one-dimensional coordinate system radius such to match the design value by performing product assessment is relatively simple,
三次元座標系の座標値として求められる測定値が設計公差範囲内に含まれているかどうかの評価はきわめて難しい。 And assessing whether it is very difficult to be included in the measurement values ​​design tolerances required as a coordinate value of the three-dimensional coordinate system. これは、測定時や加工時に発生するワークの取り付け誤差等に起因して、測定値の座標系自体が評価すべき座標系からずれてしまうからである。 This is due to the mounting error of the workpiece or the like generated at the time of measurement or during processing, because the coordinate system itself measurements deviate from the coordinate system to be evaluated. このため、従来は、三次元座標値として求められる測定値と設計値とを正しく照合することができず、正しい評価が行えないという問題点があった。 Therefore, conventionally, it is impossible to match the design value and the measured value obtained as the three-dimensional coordinate values ​​correctly, there is a problem that correct evaluation can not be performed.

【0004】本発明は、このような点に鑑みなされたもので、測定時や加工時にワークの取り付け誤差が発生しても、これによる設計値照合への影響を取り除くことが可能であり、常に正しい測定値の評価を行うことが可能な設計値評価方式を提供することを目的とする。 [0004] The present invention has been made in view of the above problems, even if the mounting error of the workpiece occurs during the measurement or during processing, it is possible to remove the influence of the design value matching by this, always and to provide a design value evaluation method capable of performing evaluation of the correct measurement value.

【0005】 [0005]

【課題を解決するための手段】本発明に係る設計値評価方式は、既知形状の自由曲面を測定することによって得られた測定座標値と設計座標値との間の誤差を評価する測定値評価方式において、前記測定座標値によって特定される自由曲面と前記設計座標値との間の最短距離を評価関数とし、この評価関数が最小値に収束する測定座標値の第1座標系と設計座標値の第2座標系との間の相対位置関係を求め、得られた両座標系の間の相対位置関係に基づいて前記両座標系のうちの一方に対して他方を整合させる座標変換処理を行なったのち、前記測定座標値と設計座標値との間の誤差を評価することを特徴とする。 Design value evaluation method according to the present invention SUMMARY OF] is the measured value evaluation for evaluating the error between the measured coordinate values ​​and the design coordinate values ​​obtained by measuring the free-form surface of known shape in scheme, the the evaluation function the shortest distance between the design coordinate values ​​and free-form surface that is identified by the measured coordinate values, the first coordinate system and the design coordinate values ​​of the measurement coordinate value evaluation function converges to a minimum value the second obtains the relative positional relationship between the coordinate system, performing coordinate conversion processing for matching the other to one of said two coordinate systems based on the relative positional relationship between the two coordinate systems obtained in and then, and evaluating the error between the measured coordinate values ​​and the design coordinate values.

【0006】 [0006]

【作用】本発明によれば、測定座標値によって特定される自由曲面と設計座標値との間の最短距離を評価関数とし、この評価関数が最小値に収束するような測定座標系(第1座標系)と設計座標系(第2座標系)との間の相対位置関係が求められる。 According to the present invention, the evaluation function the shortest distance between the free-form surface and the design coordinate values ​​specified by the measurement coordinate values, measurement coordinate system as the evaluation function converges to a minimum value (first the relative positional relationship between the coordinate system) and the design coordinate system (second coordinate system) is determined. そして、求められた両座標系の相対位置関係に基づいて、一方の座標系に他方の座標系が一致するように両座標値の座標変換が行われる。 Then, based on the relative positional relationship between the two coordinate systems obtained, coordinate transformation of the both coordinates as the other coordinate system matching is performed in one coordinate system. この結果、本発明によれば、測定時や加工時のワークの取り付け誤差等による影響が排除され、正しい測定値の評価を行うことが可能になる。 As a result, according to the present invention, influence of mounting error of the measurement time and the processing time of the workpiece is eliminated and it becomes possible to evaluate the correct measurement value.

【0007】なお、測定座標値によって特定される自由曲面を順次小さいパッチに絞り込んでいきながら、設計座標値に最も近いパッチを選択していく、或いは更に選択されたパッチの内部に複数の点を発生させ、設計座標値に近い点の選択処理と、選択された点の周囲に更に複数の点を発生させる処理とを繰り返す等の処理を行うようにすると、処理すべきデータ量を大幅に削減することができ、処理速度を高めることができる。 [0007] Incidentally, while we narrowed down sequentially small patches form surface specified by the measurement coordinate values, will select the nearest patch in the design coordinate values, or even a plurality of points within the selected patches Raises the selection process point close to the design coordinate values ​​and to perform the processing such as repeating the process for generating a further plurality of points around a selected point, significantly reduce the amount of data to be processed it can be, it is possible to increase the processing speed.

【0008】 [0008]

【実施例】以下、添付の図面を参照して本発明の実施例を説明する。 EXAMPLES Hereinafter, an embodiment of the present invention with reference to the accompanying drawings. 図1は、本発明の一実施例に係る測定値評価方式において、特に設計値との照合に先立つ評価座標系(測定座標系;第1座標系)と設計座標系(第2座標系)との間の座標系整合処理の部分を示すフローチャートである。 Figure 1 is the measured value evaluation method according to an embodiment of the present invention, particularly prior to match the design value evaluation coordinate system (coordinate system for measurement; first coordinate system) and the design coordinate system (second coordinate system) it is a flowchart showing a part of the coordinate system matching processing between. ここでの座標系整合処理は、具体的には、図2に示すように、与えられた各設計点Qと自由曲面Sとの最短距離を計算し、例えばその二乗和が最小になる評価座標系G1に対する設計座標系G2の位置関係を求め、その位置関係に基づいて設計点Qを座標変換する処理である。 Coordinate system matching processing here, specifically, as shown in FIG. 2, the shortest distance of each design point given Q and a free-form surface S is calculated, for example, evaluation coordinates the sum of squares is minimized It obtains the positional relationship between the design coordinate system G2 for system G1, a process of coordinate conversion design point Q on the basis of the positional relationship.

【0009】先ず、本実施例の処理の説明に先立ち、三次元測定機の測定データから自由曲面(プローブ中心曲面)を生成する方法について簡単に説明する。 [0009] Prior to the description of the processing of this embodiment will be briefly described a method for generating a free curved surface (probe center curved) from the measurement data of the coordinate measuring machine.

【0010】即ち、三次元測定機を使用した測定工程では、図3に示すように、各測定断面MS毎にプローブ中心点群データ(以下、「測定点群データ」と呼ぶ)Dを求める。 [0010] That is, in the measurement process using the coordinate measuring machine, as shown in FIG. 3, the measuring section MS probe center point group data for each (hereinafter, referred to as "measurement point cloud data") is obtained D. このとき、測定ピッチ及び測定点数は任意で良い。 In this case, the measurement pitch and number of measurement points may be arbitrary. 従って、三次元測定機から得られた測定点群データDは、まちまちの間隔となっている。 Therefore, the measurement point cloud data D obtained from the coordinate measuring machine has a mixed intervals.

【0011】この測定点群データDに対し、次に第1の自由曲線C 1の当てはめ処理を行う。 [0011] For this measurement point cloud data D, then performs the first free curve C 1 fitting process. この第1の自由曲線C 1の当てはめ処理は、各測定断面の測定点列毎に行われる。 The first fitting process of free curve C 1 in is performed for each measurement point sequence for each measurement cross-section. この第1の自由曲線C 1は、図4に示すように、測定点間を微小値εの範囲をはみださないような複数の曲線からなり、隣り合う曲線は、その接続点において接線が共通であるように決定する。 The first free curve C 1, as shown in FIG. 4, it between measuring points from a plurality of curves that do not protrude from the scope of the minute value epsilon, the adjacent curves tangent at the connection point it is determined to be common.

【0012】次に、求められた各測定点列に対応する第1の自由曲線C 1を、例えば弦長を基準として各々n等分(nは任意の整数)した後、得られた等分点を滑らかに通るように第1の自由曲線を再び算出する。 [0012] Next, the first free curve C 1 corresponding to each measurement point sequence obtained, for example, after each n equal parts (n is an arbitrary integer) the chord length as a reference, resulting equally again calculates a first free curve to pass smoothly the point. ここで、 here,
第j番目の測定点列におけるi番目((iは0〜n)の分割点のベクトルデータをP ijとする。 The i-th ((i in the j-th measurement point sequence for the vector data of the division points of 0 to n) and P ij.

【0013】次に、図5に示すように、iを共通とする分割点を通る自由曲線、即ち、上記の処理で求められた第1の自由曲線C 1 (この第1の自由曲線C 1の方向を以下u方向とする)と交差する第2の自由曲線C 2 (この第2の自由曲線C 2の方向を以下v方向とする)を決定する。 [0013] Next, as shown in FIG. 5, the free curve passing through subdividing points for the i common, i.e., the first free curve C 1 obtained by the above process (the first free curve C 1 determining the a u direction following the direction) second free curve intersects the C 2 (the second direction of free curve C 2 or less v direction). この第2の自由曲線C 2は、通過点P ijを通り、通過点P ijにおける接線が共通になることを条件として決定される。 The second free curve C 2 is passed through the pass point P ij, tangent in the pass point P ij is determined as a condition to become in common. この自由曲線の決定アルゴリズムとしては、例えばC 1級接続又はC 2級接続の3次ベジェ曲線の生成アルゴリズムを使用することができる。 This free The curve determination algorithm may be used to generate algorithms cubic Bezier curve, for example C 1 primary connection or C 2 grade connections.

【0014】次に、このようなアルゴリズムによって生成された自由曲線で各々囲まれた範囲に接平面が共通になる自由曲面を生成する。 [0014] Next, to produce a free-form surface, each surrounded by range tangent plane at the free curves generated by such an algorithm is common. 接平面が共通であるように張ったパッチを生成するには、例えば、共通の境界曲線を有し、且つその両端点で接平面が一致する条件を満たす2枚のパッチを生成すればよい。 To generate a patch tangent plane is stretched to a common, for example, have a common boundary curve, and may generate two patches satisfies the tangent plane is coincident with the end points. この条件を満たせば、 If this condition is satisfied,
境界曲線上の全ての点で接平面が一致することになる。 Tangent plane will correspond at all points on the boundary curve.
以上の処理により、単位自由曲面が夫々生成され、これらの単位自由曲面の集合によってプローブ中心曲面を生成することができる。 By the above processing, the unit free-form surface is respectively generated, it is possible to generate a probe center curved by a set of these units free-form surface.

【0015】求められたプローブ中心曲面に対しては、 [0015] with respect to the probe center curved surface that has been asked is,
プローブ半径分のオフセット処理を行うことにより実曲面を算出することができるが、本処理で対象とする自由曲面は、実曲面でも、プローブ中心曲面でもよい。 Although it is possible to calculate the real curved surface by performing the offset process of the probe radius of the free-form surface as an object of the present process, even a real curved surface, or a probe center curved.

【0016】自由曲面が求められたら、自由曲面と各設計点との最短距離を評価関数として求めるため、先ず、 [0016] When the free-form surface is required, in order to obtain as the evaluation function the free-form surface and the shortest distance between each design point, first of all,
設計点に最も近い自由曲面上の位置Pを算する(S To calculate the position P on the nearest free curved design point (S
1)。 1). ここでは、データ量を削減して計算の高速化を図るため、図6に示すように、パッチ全体をいくつかのパッチ群にグループ分けする。 Here, in order to increase the speed of calculation by reducing the amount of data, as shown in FIG. 6, grouping the whole patch to several patch groups. 次に、図7に示すように、 Next, as shown in FIG. 7,
指定された設計点に最も近いn個のパッチ群を抽出し、 Extract the closest n-number of patch groups specified design point,
抽出されたパッチ群に含まれるパッチの中から、図8に示すように、設計点に最も近いm個のパッチを抽出する。 From the patch included in the extracted patch group, as shown in FIG. 8, it extracts the nearest m-number of patches in the design point. 次に、図9に示すように、抽出されたパッチの中に内点を発生させ、指定された設計点に最も近い点をl点だけ抽出する。 Next, as shown in FIG. 9, the interior point is generated in the extracted patch, a point closest to the specified design point extracting only l points. そして、図10に示すように、抽出された内点の周囲を更に分割して、最も近い点をk点だけ抽出する。 Then, as shown in FIG. 10, and further dividing the periphery of the extracted interior point, and extracts a point closest by k points. このk点の抽出処理をs回繰り返すことにより、設計値に最も近い1点を求める。 By repeating the process of extracting the k point s times, finding the nearest point to the design value. なお、ここで、 It should be noted that, here,
n,m,l,k,sは、チューニングパラメータであり、処理の効率と精度とを考慮して任意に設定可能である。 n, m, l, k, s is a tuning parameter, which is arbitrarily set in consideration of the efficiency and accuracy of the process.

【0017】自由曲面上の位置Pが算出されたら、次に評価関数fを算出する(S2)。 [0017] When the position P on the free-form surface is calculated, then calculates an evaluation function f (S2). 評価関数fは、図11 The evaluation function f, as shown in FIG. 11
に示すように、求められた各点の位置Pから各設計点Q As shown, each design point from the position P of each point obtained Q
までの最短距離Lによって表される。 Represented by the shortest distance L. もし、自由曲面がプローブ中心曲面であれば、上記自由曲面をプローブ先端球の半径r分だけ補正すればよい。 If it free-form surface is a probe centered curved, the free-form surface may be corrected by the radius r min of the probe end ball. 図12(a)は、 FIG. 12 (a),
設計点Qがプローブ中心曲面Sに対し、実面側に存在する場合、図12(b)は、設計点Qがプローブ中心曲面Sに対し、実面とは反対側に存在する場合をそれぞれ示している。 To design point Q probe center curved S, when present in the real side, FIG. 12 (b), the design point Q with respect to the probe center curved S, shows the case the actual surface present on the opposite side, respectively ing.

【0018】続いて、非線形最小二乗法により設計基準座標系の最適位置と姿勢を求める(S3)。 [0018] Then, determine the optimal position and orientation of the design reference coordinate system by a nonlinear least-squares method (S3). 非線形最小二乗法の可変パラメータとしては、原点の平行移動パラメータ(Δx,Δy,Δz)〔図13(a)〕と、Z軸の倒れ量パラメータ(Δl,Δm)〔図13(b)〕 The variable parameter of the nonlinear least squares method, translation parameters origin (Δx, Δy, Δz) and [FIG. 13 (a)], the amount of inclination parameter of Z-axis (.DELTA.l, Delta] m) [FIG. 13 (b)]
と、Z軸の回転パラメータ(Δω)〔図13(c)〕とを使用する。 When, using the rotation parameters of the Z-axis ([Delta] [omega) [FIG. 13 (c)]. 即ち、Δl,ΔmによってZ軸,X軸及びY軸の方向は、数1のように求められる。 That, .DELTA.l, Z-axis by Delta] m, the direction of the X-axis and Y-axis is determined as the number 1.

【0019】 [0019]

【数1】 [Number 1]

Figure 000003

【0020】パラメータは、(Δx,Δy,Δz), [0020] parameters, (Δx, Δy, Δz),
(Δl,Δm),Δωの順に座標系に適用する。 (Δl, Δm), is applied to the coordinates system in order of [Delta] [omega. 但し、 However,
()内は同時に適用する。 () Are applied at the same time. 最適位置を算出するには、次の方程式を繰り返し適用する非線形最小二乗法を使用する。 To calculate the optimum position, use the non-linear least-squares method to apply repeatedly following equation.

【0021】 [0021]

【数2】 [Number 2]

Figure 000004

【0022】ここで、Δx,Δy,Δzはチューニングパラメータとする。 [0022] In this case, Δx, Δy, Δz is the tuning parameters. Δl,Δm,Δωは、設計基準座標系の原点から各設計点までの平均距離Rによって、下記数3のように設定し、L,M,Ωをチューニングパラメータとする。 .DELTA.l, Delta] m, [Delta] [omega is the average distance R from the origin of the design reference coordinate system to each design point, it sets the following equations 3 and L, M, and Ω tuning parameters.

【0023】 [0023]

【数3】Δl=L/R Δm=M/R Δω=Ω/R [Number 3] Δl = L / R Δm = M / R Δω = Ω / R

【0024】下記数2を変形Cholesky法によって解いてa1 〜a6 を求める(S4)。 [0024] solved by the following equation 2 modified Cholesky method Request a1 ~a6 (S4). 次に非線形最小二乗法の収束判定処理を行う(S5)。 Then it performs convergence determination process of the non-linear least-squares method (S5). 収束判定では、数4の3 The convergence determination, 3 of 4
つの条件のいずれか一つを使用し、これを満足したかどうかを判定する。 Using any one of One condition, it determines whether it has satisfied this.

【0025】 [0025]

【数4】 [Number 4]

Figure 000005

【0026】もし、条件が満足されたら、処理を終了し、そうでない場合には、下記数5により新しい座標系位置と姿勢とを求め、再度同様な処理を実行する(S [0026] If, when the conditions are satisfied, the process ends, and if not, ask for a new coordinate system the position and orientation by the following equation (5), to perform again the same processing (S
5)。 5).

【0027】 [0027]

【数5】x=x+a1 y=y+a2 z=z+a3 l=l+a4 m=m+a5 ω=ω+a6 [Number 5] x = x + a1 y = y + a2 z = z + a3 l = l + a4 m = m + a5 ω = ω + a6

【0028】そして、収束するまで、この処理を繰り返すと、最終的に評価座標系を基準した設計座標系の最適位置及び姿勢を算出することができる。 [0028] Then, until convergence, when repeating this process, it is possible to calculate the optimal position and orientation of the design coordinate system relative to the final evaluation coordinate system. なお、上記実施例では、評価座標系(第1座標系)に対する設計座標系(第2座標系)の位置及び姿勢を求めるようにしたが、 In the above embodiment, although to obtain the position and orientation of the design coordinate system (second coordinate system) for the evaluation coordinate system (the first coordinate system),
設計座標系に対する評価座標系の位置及び姿勢を求め、 Obtain the position and orientation of the evaluation coordinate system with respect to the design coordinate system,
測定値を座標変換するようにしてもよい。 The measured value may be a coordinate transformation. 但し、この場合には、自由曲面に対する座標変換を行う必要があるため、先の実施例よりもややデータ処理量が増すことになる。 However, in this case, it is necessary to perform coordinate conversion for free-form surface, so that the increase slightly the amount of data processing than the previous examples.

【0029】 [0029]

【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、測定座標値によって特定される自由曲面と測定座標値との間の最短距離を評価関数とし、この評価関数が最小値に収束するような測定座標系(第1座標系)と設計座標系(第2座標系)との間の相対位置関係が求めると共に、 As described above, according to the present invention, according to the present invention, the evaluation function the shortest distance between the free-form surface and the measurement coordinate values ​​specified by the measurement coordinate values, the evaluation function converges to a minimum value relative positional relationship with seek between the measurement coordinate system as (first coordinate system) and the design coordinate system (second coordinate system),
求められた両座標系の相対位置関係に基づいて、一方の座標系に他方の座標系が一致するように両座標値の座標変換を行うようにしているので、測定時や加工時のワークの取り付け誤差等による影響が排除され、測定値を正しく評価することが可能になる。 Based on the relative positional relationship between the two coordinate systems obtained, the so other coordinate system is to perform the coordinate transformation of the both coordinate values ​​to match, during measurement or during machining of the workpiece one coordinate system influence of mounting error or the like is eliminated, it is possible to evaluate the measured values ​​correctly.

【図面の簡単な説明】 BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS

【図1】 本発明の一実施例に係る測定評価方式における座標系整合処理のフローチャートである。 1 is a flowchart of a coordinate system matching process in the measuring evaluation system according to an embodiment of the present invention.

【図2】 本実施例に係る座標系整合処理の概要を説明するための模式図である。 It is a schematic diagram for explaining the outline of the coordinate system matching processing according to FIG. 2 embodiment.

【図3】 三次元測定機から得られる測定点群データを示す模式図である。 3 is a schematic diagram showing the measurement point cloud data obtained from the coordinate measuring machine.

【図4】 測定点群データを第1の自由曲線で当てはめた様子を示す模式図である。 4 is a schematic view showing a state in which the measurement point cloud data were fit by a first free curve.

【図5】 第1の自由曲線を等分して各等分点を第2の自由曲線で滑らかに結合した様子を示す模式図である。 5 is a schematic diagram showing a smooth bound state in the first free curve to the respective equally divided points of the second equal free curve.

【図6】 設計点に最短の自由曲面上の位置を求める処理のため複数のパッチをグループ化した様子を示す模式図である。 6 is a schematic view showing a state in which groups a plurality of patches for processing to determine the position on the free-form surface of the shortest design point.

【図7】 同処理においてパッチ群を絞り込む様子を示す模式図である。 7 is a schematic diagram showing how to narrow the patch group in the process.

【図8】 同処理において最終的に絞り込まれたパッチを示す模式図である。 8 is a schematic view showing a patch narrowed eventually in the process.

【図9】 同処理において選択されたパッチに内点を発生させた様子を示す模式図である。 9 is a schematic view showing a state that caused the Uchiten patch selected in the process.

【図10】 同処理において選択された点の周囲に複数の点を発生させた様子を示す模式図である。 10 is a schematic view showing a state that caused a plurality of points around the selected points in the process.

【図11】 選択された自由曲面上の点と設計点との距離を示す模式図である。 11 is a schematic diagram showing a distance between a point and the design points on the free-form surface that is selected.

【図12】 プローブ半径分のオフセットをした場合の自由曲面上の点と設計点との距離を示す模式図である。 12 is a schematic diagram showing a distance between a point and the design points on the free-form surface in the case where the offset of the probe radius of.

【図13】 非線形最小二乗法における可変パラメータを説明するための評価座標系と設計座標系とを示す模式図である。 13 is a schematic view showing the design coordinate system and evaluation coordinate system for explaining the variable parameters in the nonlinear least-squares method.

【符号の説明】 DESCRIPTION OF SYMBOLS

MS…測定断面、D…測定点群データ、C1 …第1の自由曲線、C2 …第2の自由曲線、S…プローブ中心曲面、Q…設計点。 MS ... measurement section, D ... measurement point cloud data, C1 ... first free curve, C2 ... second free curve, S ... probe center curved, Q ... design point.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 有我 幸三 東京都文京区湯島1丁目3番4号 KTお 茶の水聖橋ビル6階 株式会社システムテ クノロジーインステイテユート内 ────────────────────────────────────────────────── ─── of the front page continued (72) inventor Kozo Aliga, Bunkyo-ku, Tokyo Yushima 1-chome No. 3 6th floor No. KT tea of ​​water Hijiribashi building 4 Corporation system Te-click Noroji Inn Stay in Te Ute

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 【請求項1】 既知形状の自由曲面を測定することによって得られた測定座標値と設計座標値との間の誤差を評価する測定値評価方式において、前記測定座標値によって特定される自由曲面と前記設計座標値との間の最短距離を評価関数とし、この評価関数が最小値に収束する測定座標値の第1座標系と設計座標値の第2座標系との間の相対位置関係を求め、得られた両座標系の間の相対位置関係に基づいて前記両座標系のうちの一方に対して他方を整合させる座標変換処理を行なったのち、前記測定座標値と設計座標値との間の誤差を評価することを特徴とする測定値評価方式。 In the measurement value evaluation method for evaluating the error between the measured coordinate values ​​and the design coordinate values ​​obtained by measuring the free-form surface of the Claims 1 Known shape, by the measured coordinate values the evaluation function the shortest distance between the design coordinate values ​​and free-form surface is identified, between the second coordinate system of the first coordinate system and the design coordinate values ​​of the measurement coordinate value evaluation function converges to a minimum value obtains the relative positional relationship, after performing coordinate conversion processing for matching the other to one of said two coordinate systems based on the relative positional relationship between the two coordinate systems obtained, and the measurement coordinate values measured value evaluation method and evaluating the error between the nominal coordinate values. 【請求項2】 前記測定座標値によって特定される自由曲面を順次小さいパッチに絞り込んでいきながら、前記設計座標値に最も近いパッチを選択していくことにより、前記評価関数を算出することを特徴とする請求項1 While wherein we narrowed down sequentially small patches form surface specified by the measurement coordinate values, by going selects the closest patch on the design coordinate values, characterized by calculating the evaluation function to claim 1
    記載の測定値評価方式。 Measurement value evaluation method described. 【請求項3】 選択されたパッチの内部に複数の点を発生させたのち、前記設計座標値に最も近い点を選択する処理と、選択された点の周囲に更に複数の点を発生させる処理とを複数回繰り返すことにより、前記評価関数を算出することを特徴とする請求項2記載の測定値評価方式。 After 3. A caused a plurality of points within the selected patches, the process of selecting a point nearest to the design coordinate values, thereby further generating a plurality of points around a selected point process by repeating several times the door, measured value evaluation method according to claim 2, wherein the calculating the evaluation function.
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