JPH0474963A - ガス分析計 - Google Patents
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- JPH0474963A JPH0474963A JP2188254A JP18825490A JPH0474963A JP H0474963 A JPH0474963 A JP H0474963A JP 2188254 A JP2188254 A JP 2188254A JP 18825490 A JP18825490 A JP 18825490A JP H0474963 A JPH0474963 A JP H0474963A
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- CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N Ozone Chemical compound [O-][O+]=O CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 18
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/0004—Gaseous mixtures, e.g. polluted air
- G01N33/0009—General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment
- G01N33/0027—General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment concerning the detector
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- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02A—TECHNOLOGIES FOR ADAPTATION TO CLIMATE CHANGE
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、サンプルガスに含まれる複数成分の濃度を同
時に測定したり、また、複数のサンプルガスラインをそ
れぞれ流れるサンプルガスに含まれる同一成分の濃度を
同時に測定できるガス分析計に関する。
時に測定したり、また、複数のサンプルガスラインをそ
れぞれ流れるサンプルガスに含まれる同一成分の濃度を
同時に測定できるガス分析計に関する。
［従来の技術］
例えば大気中のＮＯ，を測定する場合、−酸化窒素（以
下、ＮＯと表す）、二酸化窒素（以下、ＮＯ２と表す）
およびＮＯ８についてそれぞれの濃度を同時に出力する
ことが要求される。
下、ＮＯと表す）、二酸化窒素（以下、ＮＯ２と表す）
およびＮＯ８についてそれぞれの濃度を同時に出力する
ことが要求される。
そこで、従来は第８図に示すような構成によって前記同
時出力を行うようにしていた。すなわち、この図におい
て、１はＶ外のサンプルガス源からのサンプルガスＧ（
このサンプルガスＧ中には、Ｎｏ Ｎｏ、およびＮＯ
，を始めとして複数の成分が含まれているものとする）
がそのままの状態で流れる第１サンプルガスラインであ
る。２は第１サンプルガスライン１から分岐すると共に
、サンプルガスＧ中のＮＯ□をＮｏに変換するコンバー
タ３を備え、サンプルガスＧに何らかの処理を施してな
るサンプルガスＧ′が流れる第２サンプルガスラインで
ある。そして、両ガスライン１，２の下流側には、化学
発光式ガス分析計（Ｃｈｅｍｉｌｕｍ３ｎｅｓｃｅｎｃ
ｅ Ｄｅｔｅｃｔｏｒ 、以下、ＣＬＤと云う）の分
析部４，５がそれぞれ設けられている。６．７は両分折
部４，５にオゾンをそれぞれ供給するオゾンラインで、
図外のオゾン発生器に接続されている。８．９は分析部
４，５からの出力をそれぞれ増幅するアンプ、１０は両
アンプ８，９をそれぞれ経由した分析部４．５の出力信
号Ｓ４．Ｓｓの差をとる減算器、ＩＬ １２．１３は出
力端子である。
時出力を行うようにしていた。すなわち、この図におい
て、１はＶ外のサンプルガス源からのサンプルガスＧ（
このサンプルガスＧ中には、Ｎｏ Ｎｏ、およびＮＯ
，を始めとして複数の成分が含まれているものとする）
がそのままの状態で流れる第１サンプルガスラインであ
る。２は第１サンプルガスライン１から分岐すると共に
、サンプルガスＧ中のＮＯ□をＮｏに変換するコンバー
タ３を備え、サンプルガスＧに何らかの処理を施してな
るサンプルガスＧ′が流れる第２サンプルガスラインで
ある。そして、両ガスライン１，２の下流側には、化学
発光式ガス分析計（Ｃｈｅｍｉｌｕｍ３ｎｅｓｃｅｎｃ
ｅ Ｄｅｔｅｃｔｏｒ 、以下、ＣＬＤと云う）の分
析部４，５がそれぞれ設けられている。６．７は両分折
部４，５にオゾンをそれぞれ供給するオゾンラインで、
図外のオゾン発生器に接続されている。８．９は分析部
４，５からの出力をそれぞれ増幅するアンプ、１０は両
アンプ８，９をそれぞれ経由した分析部４．５の出力信
号Ｓ４．Ｓｓの差をとる減算器、ＩＬ １２．１３は出
力端子である。
而して、上記構成のＣＬＤにおいては、分析部４５にサ
ンプルガスＧ Ｇ′およびオゾンを供給したとき、オゾ
ンと反応するのはサンプルガスｃ、ｃ′中のＮＯだけで
あるから、一方の分析部４によってＮｏの濃度が測定さ
れ、その濃度に対応した信号Ｓ４が出力端子１１に出力
される。また、他方の分析部５によってＮＯ，の濃度が
測定され、その濃度に対応した信号Ｓ、が出力端子１２
に出力される。そして、減算器１０によって減算を行う
ことにより、Ｎｏ、−Ｎｏの濃度、つまり、ＮＯ。
ンプルガスＧ Ｇ′およびオゾンを供給したとき、オゾ
ンと反応するのはサンプルガスｃ、ｃ′中のＮＯだけで
あるから、一方の分析部４によってＮｏの濃度が測定さ
れ、その濃度に対応した信号Ｓ４が出力端子１１に出力
される。また、他方の分析部５によってＮＯ，の濃度が
測定され、その濃度に対応した信号Ｓ、が出力端子１２
に出力される。そして、減算器１０によって減算を行う
ことにより、Ｎｏ、−Ｎｏの濃度、つまり、ＮＯ。
の濃度に対応する信号Ｓ、−Ｓ、が出力端子１３に出力
され、サンプルガスＧ中のＮＯ，ＮＯ，およびＮＯ，の
４度を同時に得ることができる。
され、サンプルガスＧ中のＮＯ，ＮＯ，およびＮＯ，の
４度を同時に得ることができる。
〔発明が解決しようとする課題］
しかしながら、上記構成によれば、分析部が２つ必要で
ありコストアップとなると共に、厳密な測定を要求され
る場合には使用する２つの分析部４．５の感度変化や応
答性などの測定特性を揃える必要があるが、このような
ことは極めて困難であり、従って、ＮＯ８の測定精度が
低下するといった大きな問題点がある。
ありコストアップとなると共に、厳密な測定を要求され
る場合には使用する２つの分析部４．５の感度変化や応
答性などの測定特性を揃える必要があるが、このような
ことは極めて困難であり、従って、ＮＯ８の測定精度が
低下するといった大きな問題点がある。
このような問題は、上記ＣＬＤのみならず、ＦＩＤ（水
素炎イオン化検出器； Ｆｌａｍｅ Ｉｏｎｉｚａｔｉ
ｏｎＤｅｔｅｃｔｏｒ ）を用いて全炭化水素濃度、メ
タン濃度および非メタン濃度を同時に測定する場合や、
赤外線ガス分析計などにおいても生じているところであ
る。
素炎イオン化検出器； Ｆｌａｍｅ Ｉｏｎｉｚａｔｉ
ｏｎＤｅｔｅｃｔｏｒ ）を用いて全炭化水素濃度、メ
タン濃度および非メタン濃度を同時に測定する場合や、
赤外線ガス分析計などにおいても生じているところであ
る。
また、互いに独立した２つのサンプルガスラインをそれ
ぞれ流れるサンプルガスに含まれる同一の成分について
同時に測定するような場合にも、上記従来例と同様に分
析部が２つ必要であり、従って、この場合も上述の問題
点があることは同様である。
ぞれ流れるサンプルガスに含まれる同一の成分について
同時に測定するような場合にも、上記従来例と同様に分
析部が２つ必要であり、従って、この場合も上述の問題
点があることは同様である。
本発明は、上述の事柄に留意してなされたもので、その
一つの目的は、サンプルガスに含まれる複数成分の濃度
を同時に測定することができる安価で測定精度が高いガ
ス分析計を提供することにあり、また、他の目的は、複
数のサンプルガスラインをそれぞれ流れるサンプルガス
に含まれる同一成分の濃度を同時に測定することができ
る安価で測定精度が高いガス分析計を折倒することにあ
る。
一つの目的は、サンプルガスに含まれる複数成分の濃度
を同時に測定することができる安価で測定精度が高いガ
ス分析計を提供することにあり、また、他の目的は、複
数のサンプルガスラインをそれぞれ流れるサンプルガス
に含まれる同一成分の濃度を同時に測定することができ
る安価で測定精度が高いガス分析計を折倒することにあ
る。
上述の目的を達成するため、第１発明に係るガス分析計
は、単一の分析部に対して、サンプルガスがそのままの
状態で流れる第１サンプルガスラインと、この第１サン
プルガスラインから分岐すると共に、前記サンプルガス
中の特定成分を処理する処理部を備えた第２サンプルガ
スラインと、ゼロガスが流れるゼロガスラインとを互い
に並列に接続すると共に、ガス制ａｌ１機構によって前
記第１サンプルガスラインを流れるサンプルガスと前記
第２サンプルガスラインを流れる処理後のサンプルガス
とを前記ゼロガスを介して交互に前記分析部に一定周期
で切換え導入し、そのときの分析部からの出力を前記切
換え１期に関連した互いに異なる複数の変調周波数に基
づく信号にそれぞれ分離し、これらの信号を加算および
減算することにより前記サンプルガス中に含まれる成分
の濃度を検出するようにした点に特徴がある。
は、単一の分析部に対して、サンプルガスがそのままの
状態で流れる第１サンプルガスラインと、この第１サン
プルガスラインから分岐すると共に、前記サンプルガス
中の特定成分を処理する処理部を備えた第２サンプルガ
スラインと、ゼロガスが流れるゼロガスラインとを互い
に並列に接続すると共に、ガス制ａｌ１機構によって前
記第１サンプルガスラインを流れるサンプルガスと前記
第２サンプルガスラインを流れる処理後のサンプルガス
とを前記ゼロガスを介して交互に前記分析部に一定周期
で切換え導入し、そのときの分析部からの出力を前記切
換え１期に関連した互いに異なる複数の変調周波数に基
づく信号にそれぞれ分離し、これらの信号を加算および
減算することにより前記サンプルガス中に含まれる成分
の濃度を検出するようにした点に特徴がある。
また、第２発明に係るガス分析計は、単一の分析部に対
して、互いに独立し、互いに異なったサンプルガスが流
れる第１サンプルガスラインおよび第２サンプルガスラ
インと、ゼロガスが流れるゼロガスラインとを互いに並
列に接続すると共に、ガス制御機構によって前記第１サ
ンプルガスラインを流れるサンプルガスと前記第２サン
プルガスラインを流れるサンプルガスとを前記ゼロガス
を介して交互に前記分析部に一定周期で切換え導入し、
そのときの分析部からの出力を前記切換え周期に関連し
た互いに異なる複数の変調周波数に基づく信号にそれぞ
れ分離し、これらの信号を加算および減算することによ
り前記各サンプルガス中にそれぞれ含まれる同一成分の
濃度を検出するようにした点に特徴がある。
して、互いに独立し、互いに異なったサンプルガスが流
れる第１サンプルガスラインおよび第２サンプルガスラ
インと、ゼロガスが流れるゼロガスラインとを互いに並
列に接続すると共に、ガス制御機構によって前記第１サ
ンプルガスラインを流れるサンプルガスと前記第２サン
プルガスラインを流れるサンプルガスとを前記ゼロガス
を介して交互に前記分析部に一定周期で切換え導入し、
そのときの分析部からの出力を前記切換え周期に関連し
た互いに異なる複数の変調周波数に基づく信号にそれぞ
れ分離し、これらの信号を加算および減算することによ
り前記各サンプルガス中にそれぞれ含まれる同一成分の
濃度を検出するようにした点に特徴がある。
〔作用］
上記構成よりなる第１発明によれば、サンプルガスの分
析を行うために使用される分析部は唯一つであり、この
分析部からの出力を、分析部に供給されるサンプルガス
およびゼロガスの切換え周期に関連した互いに異なる複
数の変調周波数に基づく信号にそれぞれ分離した後、加
算および減算を行うだけで複数成分の濃度に関する信号
を得ることができるから、コストダウンが図れると共に
、精度の高い測定を行うことができる。
析を行うために使用される分析部は唯一つであり、この
分析部からの出力を、分析部に供給されるサンプルガス
およびゼロガスの切換え周期に関連した互いに異なる複
数の変調周波数に基づく信号にそれぞれ分離した後、加
算および減算を行うだけで複数成分の濃度に関する信号
を得ることができるから、コストダウンが図れると共に
、精度の高い測定を行うことができる。
また、上記構成よりなる第２発明においても、第１発明
と同しように分析部は唯一つでよく、この場合は、各サ
ンプルガスにそれぞれ含まれる同一成分の濃度を同時に
検出することができる。
と同しように分析部は唯一つでよく、この場合は、各サ
ンプルガスにそれぞれ含まれる同一成分の濃度を同時に
検出することができる。
以下、本発明の実施例を図面を参照しながら説明する。
以下の説明において、第８図に示した符号と同一符号は
同一物または相当物を示す。
同一物または相当物を示す。
第１図〜第４図は第１発明に係る一実施例を示し、先ず
、第１図は本発明に係るガス分析計としてのＣＬＤの概
略的な構成を示す。この図において、１４は分析部で、
この分析部１４には、図外のサンプルガス源のサンプル
ガスＧがそのままの状態で流れる第１サンプルガスライ
ン１と、この第１サンプルガスライン１から分岐すると
共に、前記サンプルガスＧ中の特定成分を処理する処理
部３（この処理部３としては、例えばサンプルガスＧ中
のＮＯ，をＮｏに変換するコンバータ）を備えてなる処
理後のサンプルガスＧ′が流れる第２サンプルガスライ
ン２と、図外のゼロガス源からのゼロガスＺが流れるゼ
ロガスライン１５とが互いに並列に接続されていると共
に、図外のオゾン発生源から供給されるオゾンを導入す
るためのオゾンライン１６が接続されている。
、第１図は本発明に係るガス分析計としてのＣＬＤの概
略的な構成を示す。この図において、１４は分析部で、
この分析部１４には、図外のサンプルガス源のサンプル
ガスＧがそのままの状態で流れる第１サンプルガスライ
ン１と、この第１サンプルガスライン１から分岐すると
共に、前記サンプルガスＧ中の特定成分を処理する処理
部３（この処理部３としては、例えばサンプルガスＧ中
のＮＯ，をＮｏに変換するコンバータ）を備えてなる処
理後のサンプルガスＧ′が流れる第２サンプルガスライ
ン２と、図外のゼロガス源からのゼロガスＺが流れるゼ
ロガスライン１５とが互いに並列に接続されていると共
に、図外のオゾン発生源から供給されるオゾンを導入す
るためのオゾンライン１６が接続されている。
そして、１７は前記ガスｃ、ｃ’ｚを一定周期で前記分
析部１４に順次導入するガス制御機構で、例えばガスラ
イン１，２．１５にそれぞれ介装され、図外の制御装置
によって開閉制御される電磁弁１８１９、２０とからな
り、電磁弁１９はコンバータ３の下流側に、また、電磁
弁２０はゼロガスＺを精製するスクラバー２１の下流側
にそれぞれ設けられている。
析部１４に順次導入するガス制御機構で、例えばガスラ
イン１，２．１５にそれぞれ介装され、図外の制御装置
によって開閉制御される電磁弁１８１９、２０とからな
り、電磁弁１９はコンバータ３の下流側に、また、電磁
弁２０はゼロガスＺを精製するスクラバー２１の下流側
にそれぞれ設けられている。
２２は分析部１４からのガス中に残存するオゾンを分解
するオゾン分解器、２３は吸引ポンプである。
するオゾン分解器、２３は吸引ポンプである。
そして、上記構成のＣＬＤにおいては、オゾンを分析部
１４に供給している状態において、電磁弁１８、１９．
２０を一定周期で切換え制御して開閉することにより、
第１サンプルガスラインｌを流れるサンプルガスＧと第
２サンプルガスライン２を流れるサンプルガスＧ′とが
ゼロガスＺを介して交互に分析部１４に一定周期で導入
されるようにしである。すなわち、第２図に示すように
、Ｔ４Ｎ弁１８電磁弁２０−［Ｔ６１弁１９−を磁弁２
０・・・というように、電磁弁１Ｂ、 １９．２０を一
定時間（例えば０．５秒）ずつ開いて、サンプルガスＧ
、Ｇ’が必ずゼロガスＺを介して分析部１４に供給され
るようにしである。
１４に供給している状態において、電磁弁１８、１９．
２０を一定周期で切換え制御して開閉することにより、
第１サンプルガスラインｌを流れるサンプルガスＧと第
２サンプルガスライン２を流れるサンプルガスＧ′とが
ゼロガスＺを介して交互に分析部１４に一定周期で導入
されるようにしである。すなわち、第２図に示すように
、Ｔ４Ｎ弁１８電磁弁２０−［Ｔ６１弁１９−を磁弁２
０・・・というように、電磁弁１Ｂ、 １９．２０を一
定時間（例えば０．５秒）ずつ開いて、サンプルガスＧ
、Ｇ’が必ずゼロガスＺを介して分析部１４に供給され
るようにしである。
このようにしてガスＧ、Ｇ’Ｚを分析部１４に供給した
場合、分析部１４からは第２図に示すように、ＮＯゼロ
ガス、Ｎｏ、にそれぞれ対応した出力が得られる。
場合、分析部１４からは第２図に示すように、ＮＯゼロ
ガス、Ｎｏ、にそれぞれ対応した出力が得られる。
第３図は前記分析部１４からの出力を処理する回路の構
成例を示し、この図において、２４は分析部１４からの
出力Ｓ＋４を適宜増幅するプリアンプである。そして、
このプリアンプ２４の出力側には、前記出力Ｓ １４を
電磁弁１Ｂ、 １９．２０の切換え周期に関連した互い
に異なる複数の変調周波数に基づく信号にそれぞれ分離
するための、２つの処理ライン２５、２６が設けられて
いる。すなわち、一方の処理ライン２５には例えばｌＨ
ｚの信号のみを通過させるバンドパスフィルタ２７と、
このバンドパスフィルタ２７の出力ａをＩＨｚで同期整
流する同期検波回路２８と、ゲイン調整回路２９とが直
列に接続しである。
成例を示し、この図において、２４は分析部１４からの
出力Ｓ＋４を適宜増幅するプリアンプである。そして、
このプリアンプ２４の出力側には、前記出力Ｓ １４を
電磁弁１Ｂ、 １９．２０の切換え周期に関連した互い
に異なる複数の変調周波数に基づく信号にそれぞれ分離
するための、２つの処理ライン２５、２６が設けられて
いる。すなわち、一方の処理ライン２５には例えばｌＨ
ｚの信号のみを通過させるバンドパスフィルタ２７と、
このバンドパスフィルタ２７の出力ａをＩＨｚで同期整
流する同期検波回路２８と、ゲイン調整回路２９とが直
列に接続しである。
また、他方の処理ライン２６には例えば０．５七の信号
のみを通過させるバンドパスフィルタ３０と、このバン
ドパスフィルタ３０の出力すを０ 、５ Ｈｚで同期整
流する同期検波回路３１と、ゲイン調整回路３２とが直
列に接続しである。
のみを通過させるバンドパスフィルタ３０と、このバン
ドパスフィルタ３０の出力すを０ 、５ Ｈｚで同期整
流する同期検波回路３１と、ゲイン調整回路３２とが直
列に接続しである。
そして、これらの処理ライン２５．２６の出力側には、
一方の処理ライン２５の出力から他方の処理ライン２６
の出力を減算する減算器３３と、前記画処理ライン２５
．２６の出力同士を加算する加算器３４と、加算器３４
の出力から減算器３３の出力を減算する減算器３５と、
減算器３３．３５の出力同士を加算する加算器３６とか
らなる演算回路３７が設けてあり、さらに、この演算回
路３７の出力側に、減算器３３の出力をそのまま出力す
る出力端子３８と、加算器３６の出力側に接続された出
力端子３９と、減算器３５の出力をそのまま出力する出
力端子４０とが設けられている。
一方の処理ライン２５の出力から他方の処理ライン２６
の出力を減算する減算器３３と、前記画処理ライン２５
．２６の出力同士を加算する加算器３４と、加算器３４
の出力から減算器３３の出力を減算する減算器３５と、
減算器３３．３５の出力同士を加算する加算器３６とか
らなる演算回路３７が設けてあり、さらに、この演算回
路３７の出力側に、減算器３３の出力をそのまま出力す
る出力端子３８と、加算器３６の出力側に接続された出
力端子３９と、減算器３５の出力をそのまま出力する出
力端子４０とが設けられている。
次に、このように構成されたＣＬＤの動作について、第
４図をも参照しながら説明すると、分析部１４にオゾン
を供給している状態において、を磁弁１Ｂ、 １９．２
０の開時間が０．５秒になるように切換え制御して分析
部１４に対して第１サンプルガスライン１を流れるサン
プルガスＧと、第２サンプルガスライン２を流れるサン
プルガスＧ′とを、ゼロガスライン１５を流れるゼロガ
スＺを介して分析部１４に供給すると、第３図および第
４図（Ａ）に示すような出力Ｓ １４が分析部１４から
出力される。この出力Ｓ １４はプリアンプ２４におい
て適宜増幅された後、２つの処理ライン２５．２６にそ
れぞれ入力される。
４図をも参照しながら説明すると、分析部１４にオゾン
を供給している状態において、を磁弁１Ｂ、 １９．２
０の開時間が０．５秒になるように切換え制御して分析
部１４に対して第１サンプルガスライン１を流れるサン
プルガスＧと、第２サンプルガスライン２を流れるサン
プルガスＧ′とを、ゼロガスライン１５を流れるゼロガ
スＺを介して分析部１４に供給すると、第３図および第
４図（Ａ）に示すような出力Ｓ １４が分析部１４から
出力される。この出力Ｓ １４はプリアンプ２４におい
て適宜増幅された後、２つの処理ライン２５．２６にそ
れぞれ入力される。
一方の処理ライン２５において、前記出力Ｓ １４が１
七のバンドパスフィルタ２７に入力すると、同図（Ｃ）
において実線で示すような信号となるが、このとき、同
期信号は同図（Ｂ）において正負の符号（−、＋）で示
すようになっているから、結局はハンチングで示したよ
うな信号ａが出力される。そして、この信号ａを同期検
波回路２８において１セで同期整流すると、同図（Ｄ）
において実線Ｃで示すような出力が得られ、この出力Ｃ
は、同図（Ｄ）においてｄ、ｅでそれぞれ示すＮＯｘの
濃度信号とＮｏの濃度信号との加算平均（（Ｎｏ、＋Ｎ
Ｏ）／２）に等しい。前記出力Ｃはゲイン調整回路２９
を経て演算回路３７に入力される。
七のバンドパスフィルタ２７に入力すると、同図（Ｃ）
において実線で示すような信号となるが、このとき、同
期信号は同図（Ｂ）において正負の符号（−、＋）で示
すようになっているから、結局はハンチングで示したよ
うな信号ａが出力される。そして、この信号ａを同期検
波回路２８において１セで同期整流すると、同図（Ｄ）
において実線Ｃで示すような出力が得られ、この出力Ｃ
は、同図（Ｄ）においてｄ、ｅでそれぞれ示すＮＯｘの
濃度信号とＮｏの濃度信号との加算平均（（Ｎｏ、＋Ｎ
Ｏ）／２）に等しい。前記出力Ｃはゲイン調整回路２９
を経て演算回路３７に入力される。
また、他方の処理ライン２６において、前記出力Ｓ １
４が０ 、５ Ｈｚのバンドパスフィルタ３０に入力す
ると、同図（Ｆ）において実線で示すような信号となる
が、このとき、同期信号は同図（Ｅ）において正負の符
号（−、＋）で示すようになっているから、結局はハ・
７チングで示したような信号すが出力される。そして、
この信号すを同期検波回路３１において０ 、５ Ｈｚ
で同期整流すると、同図（Ｇ）において実線ｆで示すよ
うな出力が得られ、この出力ｆは、ＮＯ８の濃度信号と
ＮＯの濃度信号との差の半分［（ＮＯ，−Ｎｏ）／２＋
に等しい。前記出力ｆはゲイン調整回路３２を経て演算
回路３７に入力される。
４が０ 、５ Ｈｚのバンドパスフィルタ３０に入力す
ると、同図（Ｆ）において実線で示すような信号となる
が、このとき、同期信号は同図（Ｅ）において正負の符
号（−、＋）で示すようになっているから、結局はハ・
７チングで示したような信号すが出力される。そして、
この信号すを同期検波回路３１において０ 、５ Ｈｚ
で同期整流すると、同図（Ｇ）において実線ｆで示すよ
うな出力が得られ、この出力ｆは、ＮＯ８の濃度信号と
ＮＯの濃度信号との差の半分［（ＮＯ，−Ｎｏ）／２＋
に等しい。前記出力ｆはゲイン調整回路３２を経て演算
回路３７に入力される。
従って、演算回路３７において前記出力ｃ、ｆを減算器
３３に入力して所定の減算を行う＋ （Ｎｏ。
３３に入力して所定の減算を行う＋ （Ｎｏ。
＋ＮＯ）／２−（Ｎｏ、−Ｎｏ）／２１とＮｏの濃度信
号が得られ、これが出力端子３８に出力される。
号が得られ、これが出力端子３８に出力される。
一方、前記出力ｃ、ｆを加算器３４に入力して加算する
（（Ｎｏｘ＋ＮＯ）／２−（ＮＯ，−Ｎｏ）／２１と、
Ｎｏ、の濃度信号が得られる。そして、この実施例では
、減算器３５において加算器３４の出力から減算器３３
の出力を減算することによりＮ Ｏｘの濃度信号を求め
てこれを出力端子４０に出力させると共に、加算器３６
において減算器３３の出力と減算器３５の出力とを加算
してＮＯ，の濃度信号を出力端子３９に出力させている
ので、サンプルガスＧ中のＮＯ，ＮＯ２およびＮＯヶの
濃度を同時番こ得ることができる。
（（Ｎｏｘ＋ＮＯ）／２−（ＮＯ，−Ｎｏ）／２１と、
Ｎｏ、の濃度信号が得られる。そして、この実施例では
、減算器３５において加算器３４の出力から減算器３３
の出力を減算することによりＮ Ｏｘの濃度信号を求め
てこれを出力端子４０に出力させると共に、加算器３６
において減算器３３の出力と減算器３５の出力とを加算
してＮＯ，の濃度信号を出力端子３９に出力させている
ので、サンプルガスＧ中のＮＯ，ＮＯ２およびＮＯヶの
濃度を同時番こ得ることができる。
なお、演算回路３７の構成は種々に変形が可能であり、
この実施例に限られるものではない。
この実施例に限られるものではない。
上記実施例においては、分析部１４の下流側にオゾン分
解器２２を設けであるので、分析部１４からのガス中に
オゾンが残留していても分解される。従って、このオゾ
ン分解器２２を経たガスはゼロガスとして用いることが
できる。そこで、第５図に示すように、オゾン分解器２
２と吸引ポンプ２３との間の点４１と電磁弁２０の上流
側を配管４２で直結して、これをゼロガスラインとして
もよく、このようにすれば、ゼロガス源が不要になる。
解器２２を設けであるので、分析部１４からのガス中に
オゾンが残留していても分解される。従って、このオゾ
ン分解器２２を経たガスはゼロガスとして用いることが
できる。そこで、第５図に示すように、オゾン分解器２
２と吸引ポンプ２３との間の点４１と電磁弁２０の上流
側を配管４２で直結して、これをゼロガスラインとして
もよく、このようにすれば、ゼロガス源が不要になる。
また、第６図は煙道内のアンモニア（以下、ＮＨ５と表
す）を測定する場合におけるＣＬＤの構成を概略的に示
し、この圓において、４３は脱硝触媒４４を備えた反応
管４５（上記処理部３に相当する）と脱硝触媒を備えて
ない比較管４６とからなるプローブで、図外の煙道内に
設けられている。反応管４５および比較管４６には、Ｎ
ＯｘおよびＮＨ，をそれぞれＮＯに変換するコンバータ
４７と吸引ポンプ４８とを直列に介装してなるガスライ
ン４９．５０がそれぞれ接続され、これらのガスライン
４９．５０はｔ子冷却器５１を通過するように構成され
ている。つまり、ガスライン４９．５０がそれぞれ前記
第１図における第１サンプルガスライン１．第２サンプ
ルガスライン２に相当するように構成しである。５２は
図外のゼロガス源に接続されたゼロガスラインである。
す）を測定する場合におけるＣＬＤの構成を概略的に示
し、この圓において、４３は脱硝触媒４４を備えた反応
管４５（上記処理部３に相当する）と脱硝触媒を備えて
ない比較管４６とからなるプローブで、図外の煙道内に
設けられている。反応管４５および比較管４６には、Ｎ
ＯｘおよびＮＨ，をそれぞれＮＯに変換するコンバータ
４７と吸引ポンプ４８とを直列に介装してなるガスライ
ン４９．５０がそれぞれ接続され、これらのガスライン
４９．５０はｔ子冷却器５１を通過するように構成され
ている。つまり、ガスライン４９．５０がそれぞれ前記
第１図における第１サンプルガスライン１．第２サンプ
ルガスライン２に相当するように構成しである。５２は
図外のゼロガス源に接続されたゼロガスラインである。
そして、前記ガスライン４９．５０およびゼロガスライ
ン５２はそれぞれ電磁弁５３．５４．５５ （これらの
１ｉ磁弁５３．５４．５５は上述の電磁弁１８．１９．
２０と同しくガス制御機構５６を構成している）を介し
て分析部５７に対して互いに並列に接続されている。ま
た、５８はオゾンライン、５９はオゾン分解器である。
ン５２はそれぞれ電磁弁５３．５４．５５ （これらの
１ｉ磁弁５３．５４．５５は上述の電磁弁１８．１９．
２０と同しくガス制御機構５６を構成している）を介し
て分析部５７に対して互いに並列に接続されている。ま
た、５８はオゾンライン、５９はオゾン分解器である。
而して、このように構成されたＣＬＤにおいては、ｉｉ
ｍ弁５３．５４．５５を上述の実施例と同様に開閉制御
することにより、分析部５７からＮ０１ｌの濃度からＮ
Ｈ，の濃度を減した濃度に相当する信号（以下、信号Ａ
と云う）と、ＮＯｘの濃度に相当する信号（以下、信号
Ｂと云う）が得られる。
ｍ弁５３．５４．５５を上述の実施例と同様に開閉制御
することにより、分析部５７からＮ０１ｌの濃度からＮ
Ｈ，の濃度を減した濃度に相当する信号（以下、信号Ａ
と云う）と、ＮＯｘの濃度に相当する信号（以下、信号
Ｂと云う）が得られる。
そして、演算回路は図示してないが、これら両信号Ａ、
Ｂを減算することによりＮＨ３の濃度が得られ、また、
両信号Ａ、Ｂを加算したものから信号Ａを減算した結果
に１７２を乗するとＮＯ８の濃度が得られる。
Ｂを減算することによりＮＨ３の濃度が得られ、また、
両信号Ａ、Ｂを加算したものから信号Ａを減算した結果
に１７２を乗するとＮＯ８の濃度が得られる。
第７図は第２発明に係るＣＬＤを示し、この図において
、６１．６２は互いに独立し、互いに異なったサンプル
ガスＧ、、Ｇ、がそれぞれ流れる第１サンプルガスライ
ンおよび第２サンプルガスラインで、例えば並列的に配
置された２つの炉（図外）にそれぞれ接続され、分析部
１４に対して互いに並列に接続されている。また、６３
は図外のゼロガス源からのゼロガスＺが流れるゼロガス
ライン１５で、前記分析部１４に対して前記サンプルガ
スライン６１゜６２と互いに並列になるように接続され
ている。そして、６４は前記ガスＣ，，Ｃ２，Ｚを一定
周期で前記分析部１４に順次導入するガス制御機構で、
例えばガスライン６１．、６２．６３にそれぞれ介装さ
れ、図外の制御装置によって開閉制御される１を磁弁６
５゜６６、６７とからなる。なお、この図において、第
１図における符号と同一符号は同一物を示す。
、６１．６２は互いに独立し、互いに異なったサンプル
ガスＧ、、Ｇ、がそれぞれ流れる第１サンプルガスライ
ンおよび第２サンプルガスラインで、例えば並列的に配
置された２つの炉（図外）にそれぞれ接続され、分析部
１４に対して互いに並列に接続されている。また、６３
は図外のゼロガス源からのゼロガスＺが流れるゼロガス
ライン１５で、前記分析部１４に対して前記サンプルガ
スライン６１゜６２と互いに並列になるように接続され
ている。そして、６４は前記ガスＣ，，Ｃ２，Ｚを一定
周期で前記分析部１４に順次導入するガス制御機構で、
例えばガスライン６１．、６２．６３にそれぞれ介装さ
れ、図外の制御装置によって開閉制御される１を磁弁６
５゜６６、６７とからなる。なお、この図において、第
１図における符号と同一符号は同一物を示す。
このように構成したＣＬＤにおいては、上記第１図に示
したＣＬＤと同様の原理により、第１サンプルガスライ
ン６１および第２サンプルガスライン６２をそれぞれ流
れるサンプルガスＧ、、Ｇ、にそれぞれ含まれる同一成
分、例えばＮＯの濃度を同時に検出することができる。
したＣＬＤと同様の原理により、第１サンプルガスライ
ン６１および第２サンプルガスライン６２をそれぞれ流
れるサンプルガスＧ、、Ｇ、にそれぞれ含まれる同一成
分、例えばＮＯの濃度を同時に検出することができる。
上述の実施例はいずれもＣＬＤであったが、本発明はこ
れに限られるものではなく、ＦＩＤや赤外線ガス分析針
にも適用することができ、例えば全炭化水素濃度、メタ
ン濃度および非メタン濃度を同時に測定する場合、処理
部３としてはメタンを燃焼させる酸化器を用いるように
すればよい。
れに限られるものではなく、ＦＩＤや赤外線ガス分析針
にも適用することができ、例えば全炭化水素濃度、メタ
ン濃度および非メタン濃度を同時に測定する場合、処理
部３としてはメタンを燃焼させる酸化器を用いるように
すればよい。
また、ガス制御機構は上記Ｎ磁弁以外の機器を用いても
よいことは云うまでもない。
よいことは云うまでもない。
〔発明の効果］
４゜
以上説明したように、請求項（１）によれば、サンプル
ガスに含まれる複数成分の濃度を同時に測定することが
できる。また、請求項（２）によれば、複数のサンプル
ガスラインをそれぞれ流れるサンプルガスに含まれる同
一成分の濃度を同時に測定することができる。
ガスに含まれる複数成分の濃度を同時に測定することが
できる。また、請求項（２）によれば、複数のサンプル
ガスラインをそれぞれ流れるサンプルガスに含まれる同
一成分の濃度を同時に測定することができる。
そして、上記請求項（１）および（２）のいずれによっ
ても、ガス分析計の構成が簡単になり、それだけ安価に
なると共に、精度の高い測定を行うことができる。
ても、ガス分析計の構成が簡単になり、それだけ安価に
なると共に、精度の高い測定を行うことができる。
第１図〜第６図は第１発明に係る実施例を示し、第１図
は本発明を適用したＣＬＤの概略構成図、第２図は制御
弁の開閉順序と分析部の出力の関係を示す図、第３図は
信号処理部の構成例を示す図、第４図は信号処理部にお
ける処理内容を説明するための波形図である。第５図は
第１発明の他の実施例に係るＣＬＤの概略構成図であり
、第６図は第１発明のさらに他の実施例に係るＣＬＤの
概略構成図である。 第７図ば第２発明に係る実施例を示す概略構成図である
。 第８図は従来例を示す構成図である。 １、４９．６１・・・第１サンプルガスライン、２５０
６２・・・第２サンプルガスライン、３．４５・・・処
理部、１４、５７・・・分析部、１５．４２．５２．６
３・・・ゼロガスライン、１７．５６．６４・・・ガス
制御機構、３３＋ ３５・・・減算器、３４、３６・・
・加算器、Ｇ、Ｇ、、Ｇ、・・・サンプルガス、Ｇ′・
・・処理後のサンプルガス、Ｚ・・・ゼロガス。
は本発明を適用したＣＬＤの概略構成図、第２図は制御
弁の開閉順序と分析部の出力の関係を示す図、第３図は
信号処理部の構成例を示す図、第４図は信号処理部にお
ける処理内容を説明するための波形図である。第５図は
第１発明の他の実施例に係るＣＬＤの概略構成図であり
、第６図は第１発明のさらに他の実施例に係るＣＬＤの
概略構成図である。 第７図ば第２発明に係る実施例を示す概略構成図である
。 第８図は従来例を示す構成図である。 １、４９．６１・・・第１サンプルガスライン、２５０
６２・・・第２サンプルガスライン、３．４５・・・処
理部、１４、５７・・・分析部、１５．４２．５２．６
３・・・ゼロガスライン、１７．５６．６４・・・ガス
制御機構、３３＋ ３５・・・減算器、３４、３６・・
・加算器、Ｇ、Ｇ、、Ｇ、・・・サンプルガス、Ｇ′・
・・処理後のサンプルガス、Ｚ・・・ゼロガス。
Claims (2)
- （１）単一の分析部に対して、サンプルガスがそのまま
の状態で流れる第１サンプルガスラインと、この第１サ
ンプルガスラインから分岐すると共に、前記サンプルガ
ス中の特定成分を処理する処理部を備えた第２サンプル
ガスラインと、ゼロガスが流れるゼロガスラインとを互
いに並列に接続すると共に、ガス制御機構によって前記
第１サンプルガスラインを流れるサンプルガスと前記第
２サンプルガスラインを流れる処理後のサンプルガスと
を前記ゼロガスを介して交互に前記分析部に一定周期で
切換え導入し、そのときの分析部からの出力を前記切換
え周期に関連した互いに異なる複数の変調周波数に基づ
く信号にそれぞれ分離し、これらの信号を加算および減
算することにより前記サンプルガス中に含まれる複数成
分の濃度を検出するようにしたことを特徴とするガス分
析計。 - （２）単一の分析部に対して、互いに独立し、互いに異
なったサンプルガスが流れる第１サンプルガスラインお
よび第２サンプルガスラインと、ゼロガスが流れるゼロ
ガスラインとを互いに並列に接続すると共に、ガス制御
機構によって前記第１サンプルガスラインを流れるサン
プルガスと前記第２サンプルガスラインを流れるサンプ
ルガスとを前記ゼロガスを介して交互に前記分析部に一
定周期で切換え導入し、そのときの分析部からの出力を
前記切換え周期に関連した互いに異なる複数の変調周波
数に基づく信号にそれぞれ分離し、これらの信号を加算
および減算することにより前記各サンプルガス中にそれ
ぞれ含まれる同一成分の濃度を検出するようにしたこと
を特徴とするガス分析計。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2188254A JPH0810216B2 (ja) | 1990-07-17 | 1990-07-17 | ガス分析計 |
| EP91111870A EP0467307B1 (en) | 1990-07-17 | 1991-07-16 | Gas analyzer |
| AT91111870T ATE144047T1 (de) | 1990-07-17 | 1991-07-16 | Gasanalysator |
| DE69122564T DE69122564T2 (de) | 1990-07-17 | 1991-07-16 | Gasanalysator |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2188254A JPH0810216B2 (ja) | 1990-07-17 | 1990-07-17 | ガス分析計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0474963A true JPH0474963A (ja) | 1992-03-10 |
| JPH0810216B2 JPH0810216B2 (ja) | 1996-01-31 |
Family
ID=16220473
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2188254A Expired - Fee Related JPH0810216B2 (ja) | 1990-07-17 | 1990-07-17 | ガス分析計 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0467307B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0810216B2 (ja) |
| AT (1) | ATE144047T1 (ja) |
| DE (1) | DE69122564T2 (ja) |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5115666A (en) * | 1990-02-08 | 1992-05-26 | Sentech Corporation | Method of detecting halogen gas in a liquid |
| JP3325673B2 (ja) * | 1993-10-25 | 2002-09-17 | アークレイ株式会社 | 呼気中の成分濃度補正方法及び呼気分析装置 |
| EP0762103B1 (en) * | 1995-08-31 | 2002-09-11 | New Oji Paper Co., Ltd. | Concentration measuring apparatus |
| JPH10274630A (ja) * | 1997-03-31 | 1998-10-13 | Ngk Insulators Ltd | 低濃度ＮＯｘ計測器 |
| US6105416A (en) * | 1998-10-16 | 2000-08-22 | Geo-Centers, Inc. | Ethylene monitoring and control system |
| DE102008028682A1 (de) * | 2008-06-17 | 2010-02-25 | Airbus Deutschland Gmbh | Verfahren zum Vermessen von Gaskonzentrationen mittels eines Metalloxid-Gassensors, Sensorvorrichtung zum Durchführen des Verfahrens sowie Verwendung desselben |
| DE102009004278A1 (de) * | 2009-01-05 | 2010-07-15 | Synthesechemie Dr. Penth Gmbh | Messgerät für geringe Kohlenwasserstoffkonzentrationen |
| JP6320748B2 (ja) * | 2013-12-27 | 2018-05-09 | 株式会社堀場製作所 | ガス分析装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH027554U (ja) * | 1988-06-30 | 1990-01-18 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| NL7314801A (nl) * | 1973-10-27 | 1975-04-29 | Philips Nv | Werkwijze voor kwantitatieve analyse. |
| US4316382A (en) * | 1980-07-21 | 1982-02-23 | Hewlett-Packard Company | Detector with intermittent flow |
| US4432226A (en) * | 1982-02-05 | 1984-02-21 | Dempster Philip T | Method and apparatus for measuring gaseous oxygen |
| JPS5987361A (ja) * | 1982-11-11 | 1984-05-19 | Yamatake Honeywell Co Ltd | ガスクロマトグラフ |
| US4947339A (en) * | 1988-12-01 | 1990-08-07 | Jan Czekajewski | Method and apparatus for measuring respiration, oxidation and similar interacting between a sample and a selected component of a fluid medium |
-
1990
- 1990-07-17 JP JP2188254A patent/JPH0810216B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1991
- 1991-07-16 AT AT91111870T patent/ATE144047T1/de not_active IP Right Cessation
- 1991-07-16 EP EP91111870A patent/EP0467307B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1991-07-16 DE DE69122564T patent/DE69122564T2/de not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH027554U (ja) * | 1988-06-30 | 1990-01-18 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0467307A3 (en) | 1992-06-03 |
| ATE144047T1 (de) | 1996-10-15 |
| EP0467307B1 (en) | 1996-10-09 |
| DE69122564T2 (de) | 1997-04-17 |
| JPH0810216B2 (ja) | 1996-01-31 |
| DE69122564D1 (de) | 1996-11-14 |
| EP0467307A2 (en) | 1992-01-22 |
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