JPH0460525B2

JPH0460525B2 -

Info

Publication number: JPH0460525B2
Application number: JP61221902A
Authority: JP
Inventors: Yoichi Takagi; Toshio Usui; Masao Takato
Original assignee: Agency of Industrial Science and Technology
Current assignee: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Priority date: 1986-09-22
Filing date: 1986-09-22
Publication date: 1992-09-28
Also published as: JPS6378006A

Description

【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕本発明は縫製部品の寸法を計測する方法及びそ
の装置に係り、特に、縫製部品の外形寸法を自動
的に正確かつ迅速に測定するのに好適な寸法計測
方法及びその装置に関するものである。

〔従来の技術〕

織布を検反処理する方法としては、例えば特開
昭58−46169号公報に記載されているように、製
造中に発生したトラブルの内容を記録しておき、
その記録内容を参照して検反を行うものである。

かかる検反処理方法によれば、すべてのトラブ
ルを検反前に知ることができ、かつトラブルのあ
つた箇所だけ必要に応じて調べるだけでよいの
で、検反作業の短縮化が図れるという利点があ
る。

〔発明が解決しようとする問題点〕

しかしながら、上記検反方法は、単に、トラブ
ルの内容を記憶し、これに基づいて検反を行うと
いうものであり、トラブルを検出するものであつ
て縫製部品の物理的な寸法計測を行うものではな
かつた。

このような物品の寸法計測、特に縫製部品のご
とく柔らかい物品の物理的な寸法計測は甚だしく
困難であるという問題点があつた。

本発明の目的は、上記問題点を解決し、柔らか
な縫製部品の寸法を正確にかつ迅速に測定できる
縫製部品の寸法計測方法及びその装置を提供する
ことにある。

〔問題点を解決するための手段〕

上記問題点を解決する本発明の特徴は、教示処
理と寸法計測処理とからなる縫製部品の寸法計測
方法において、上記教示処理は、標準パーツであ
る縫製部品の画像を取り込む処理、上記画像を２
値化し２値化画像とする処理、上記２値化画像に
対し定められる主軸と所定の基準線との傾斜角を
計測する処理、上記標準パーツの画像内に定めら
れた複数個の特徴点周辺のパターンをテンプレー
トパターンとして設定する処理、及び上記縫製部
品上での計測位置を示す濃度が互いに異なる複数
の線分を上記画像上で設定する処理を含み、上記
寸法計測処理は、被計測物である縫製部品の画像
を取り込む処理、上記主軸の傾斜角を計測する処
理、画像回転及びテンプレートパターンマツチン
グにより被計測物の画像位置を標準パーツの標準
画像位置に一致させる処理、上記画像上の計測す
べき線分を抽出する処理、及び上記抽出された線
分について、その寸法を計算する処理を含むこと
である。

上記問題点を解決する本発明の他の特徴は、縫
製部品の寸法計測装置において、縫製部品の画像
を取り込む画像入力装置と、上記計算処理に必要
な画像情報内の複数個の特徴点周辺のパターンを
テンプレートパターンとして入力し、かつ計測位
置の情報を濃度が互いに異なる複数の線分とし
て、上記計算処理装置に入力する入力装置と、上
記画像入力装置からの画像情報を取り込み、上記
画像の主軸の傾斜角の計測、画像回転及びテンプ
レートパターンマツチングを含む処理を行ない、
予め与えられていた縫製部品の特徴点のパターン
及び計測位置を示す濃度が互いに異なる複数の線
分により与えられる計測位置の情報に基づき、縫
製部品の寸法を計算処理する計算処理装置と、該
計算処理装置からの計算処理結果を出力する出力
装置と、上記テンプレートパターン及び計測位置
を示す濃度が互いに異なる複数の線分を表示する
表示装置とからなることである。

〔作用〕

複数個の特徴点周辺のパターンをテンプレート
として、テンプレートマツチングすることによ
り、縫製部品の位置ぎめを行なうので、主軸の傾
斜角の情報の精度が低くても、位置合わせでき
る。したがつて、主軸の傾斜角の計測誤差が生じ
やすい縫製部品のように柔らかく変形しやすい素
材でも、位置合わせが容易にでき、寸法計測が可
能となる寸法計測方法及び寸法計測装置低を提供
できる。

また、計測位置を示す濃度が互いに異なる複数
の線分を使うので、容易に計測位置を示す線分を
抽出でき、計測位置の把握と設定操作が容易とな
る寸法計測方法及び寸法計測装置を提供できる。

〔実施例〕

以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細に
説明する。

第１図Ａ，Ｂは本発明に係る寸法計測方法及び
その装置を示す図であり、第１図Ａは同実施例の
装置を示すブロツク図、第１図Ｂ同実施例の方法
を示すフローチヤートである。第１図Ａにおい
て、１は寸法計測装置本体、２はコンソール
CRT、３は画像表示のためのモニタテレビジヨ
ン受像機（TV）、４はコンソールCRT表示内容
をハードコピーするためのタイプライター、５は
画面上のカーソルを操作するためのマウス、６は
被計測物の画像を取り込むためのITVカメラで
ある。被計測物が静止の状態で画像入力可能な場
合には、通常のITV白黒カメラで被計測物がラ
インテーブル上に移動している状態で画像入力す
る場合には、電子シヤツターカメラを適用するも
のとする。７はITVカメラのインターフエース
である。８は被計測物であり、本実施例において
は、縫製パーツ等の縫製工程での中間製品等を想
定している。９はITVカメラの視野領域、１０
は被計測物の搬送テーブルである。第１図Ｂにお
いて、１１は寸法計測の教示ステツプであり、標
準画像を入力し、かつ前処理をし（ステツプＡ）、
２値化等を行い計測位置をマンマシンで決定する
（ステツプＢ）機能を有する。１２は寸法計測処
理ステツプであり、対象画像を取込み、かつ前処
理をし（ステツプＣ）、２値化を行い、画像位置
を標準画像に一致させる処理を行つた（ステツプ
Ｄ）後、寸法計測処理を行う（ステツプＥ）。

第２図はハードウエア構成を示し、寸法計測装
置本体１は、CPU１３、システムバス１４、バ
スコントローラ１５、主メモリ１６、CPU内バ
ス１７、フロツピーデイスク１８、シリアル転送
機構１９、イメージプロセツサ２０、画像メモリ
２１から構成されている。マウス５は、シリアル
転送機構１９を介して装置本体１に接続されてい
る。ITVカメラ６は、IMP２０に接続されてい
る。コンソールCRT２とキーボード７１は、
CPU１３に接続されている。ソフトウエア１１，
１２は、フロツピーデイスク１８から取り込ま
れ、主メモリ１６に格納されて実行される。イメ
ージプロセツサ２０は、ITVカメラ６から画像
入力したり、各種処理（２値画像処理、濃淡画像
処理、特徴量抽出処理等）を実行することができ
る。

ITVカメラ６からの画像は、画像メモリ２１
に格納したり、モニタTV３に直接に表示したり
できるようになつている。また、イメージプロセ
ツサ２０は、ITVカメラ６からの入力画像及び
画像メモリ２１からの画像を入力画像とし、その
処理結果を再び画像メモリ２１に格納すると共に
モニタTV３に表示することができるようになつ
ている。

このようなハードウエア構成になつているの
で、本発明の装置では、被計測物８の画像を入力
し、イメージプロセツサ２０で画像処理し、寸法
計測処理を行い結果をコンソールCRT２及びハ
ードコピー４に出力することができる。必要に応
じて結果をデイジタル出力やシリアルデータとし
て出力することが可能である。

第３図は、本発明の実施例を説明するために示
す説明図である。この説明は、「教示処理手順」
と、「寸法計測手段」とに大別されるので、以下
その分類にしたがつて説明する。

＜教示手順＞まず教示処理手順について説明する。標準のパ
ーツ２２につきITVカメラ６を介してその画像
を寸法計測装置１に取り込み、ここで前処理をし
た上、２値化画像を作成する（ステツプ110）。こ
こで、前処理とは、入力画像に含まれているノイ
ズの除去や電子系、光学系にシエーデイングを除
去するための画像処理である。この処理について
は本発明に直接関係しないのでその詳細なる説明
を省略してある。

得られた２値画像２３を使つて対象物を楕円に
おきかえた時の主軸の傾斜角を計測し、かつその
計測結果（主軸傾斜角θ₀27）を保存する（ステツ
プ111）。次に、２個の特徴点Ａ，Ｂをマンマシン
操作により決定し、この特徴点Ａ，Ｂの周辺から
パターンマツチング用のテンプレートを作成（特
徴点パターン２８，２９）し、これを保存する
（ステツプ112）。次に計測すべき位置をマンマシ
ン操作により決定する（ステツプ113）。計測点は
線分P₁−P₁、P₂−P₂等により定義される。線分
P₁−P₁、P₂−P₂、P₃−P₃等の情報は濃淡画像２
６上に格納する。各々の線分を分離できるように
例えば、線分P₁−P₁は、濃度値１で、線分P₂−
P₂は、濃度値２で、線分P₃−P₃は、濃度値３で、
濃淡画像２６上に書き込む。これにより任意の線
分を容易に抽出することが可能となることが理解
できる。

＜寸法計測処理手順＞次に実際の寸法計測手段手順について述べる。
まず、被計測物（縫製パーツ）８をITVカメラ
６から寸法計測装置１に画像入力し、その入力画
像を前処理によりノイズ除去やシエーデイング補
正を行つた後に、２値化画像３０を作成する（ス
テツプ120）。この２値化画像を使つて物体の画像
を楕円におきかえた時の主軸の傾斜角を計測する
（ステツプ121）。計測結果（主軸傾斜角θ′34）は、
画像姿勢を標準画像２３に合致させるために使用
する。標準画像と向きを合致させるには次式に示
す角度だけ画像回転すればよい。

すなわち、 Δθ＝θ₀−θ′ ……(1) 画像３０をΔθだけ画像回転して画像３１とし
て画像メモリ２１に格納する。画像３１は、標準
画像２３と向きは同じになつたが、原点は一致し
ていない。回転後の画像３１に対して、特徴点パ
ターン２８及び２９を用いてテンプレートマツチ
ングを行うと、標準画像のＡ，Ｂ点に相当する位
置が得られる。

上記回転処理とテンプレートマツチングとはス
テツプ122で実行される。得られた座標を（x₁′、
y₁′）、（x₂′、y₂′）とする。標準画像のＡ，Ｂの位
置（x₁、y₁）、（x₂、y₂）は、保存されているの
で、これらの座標値を使つて原点を一致させるの
に必要な画像シフト量が次式から得られる。

ΔX₁＝x₁−x₁′ ……(2) ΔY₁＝y₁−y₁′ ……(3) 又は、 ΔX₂＝x₂−x₂′ ……(4) ΔY₂＝y₂−y₂′ ……(5) 上記の２組のΔX、ΔYは、原理的には一致す
るが、主軸の傾斜角の計測誤差があるので必ずし
も一致しない。２組の誤差量は次式で計算され
る。

ε_x＝ΔX₁−ΔX₂ ……(6) ε_y2＝ΔY₁−ΔY₂ ……(7) ε_x、ε_yは一定以上大きい場合には、寸法計測結
果に悪影響を与えることが考えられるので画像姿
勢の再調整処理を行う。今回の画像回転量Δαは、
次式から計算される。

α₁＝tan−₁y₂−y₁／x₂−x₁ ……(8) α₂＝tan−₁y₂′−y₁′／x₂′−x₁′ ……(9) Δα＝α₁−α₂ ……(10) 画像３１をΔαだけ画像回転して再び画像３１
として画像メモリ２１に格納する。画像３１につ
いて再びパターン２８，２９を使つてテンプレー
トマツチングを行う。得られたＡ，Ｂ点座標値を
（x₁″、y₁″）、（y₂″、y₂″）とする。原点を一致さ
せ
るに必要な画像シフト量が次式から得られるので
これを計算する。

ΔX₁＝x₁−x₁″ ……(11) ΔY₁＝y₁−y₁″ ……(12) 又は、 ΔX₂＝x₂−x₂″ ……(13) ΔY₂＝y₂−y₂″ ……(14) 再び上記の誤差量を計算する。

ε_x＝ΔX₁−ΔX₂ ……(15) ε_y＝ΔY₁−ΔY₂ ……(15) ε_x、ε_yは一定値以下ならば標準画像２３と回転
修正後の画像３１は向きが一致していることを意
味する。ε_x、ε_yがまだ一定値以上ならば再び上記
の補正処理くり返し要求精度になるまでくり返
す。画像の向きが正確に一致した場合、次に画像
をシフトして標準画像２３と被計画像の原点の一
致化処理を行う。シフト量は、すでに、11式12式
又は、13式14式まで計算済である。いずれを使つ
てもかまわない。画像３１をΔX₁、ΔY₁だけシフ
トして画像３２として画像メモリ２１に格納する
（ステツプ123）。画像３２は、標準画像と向き完
全に一致していると考えてさしつかえない。

次に、ステツプ124の計測ステツプの抽出処理
について述べる。被計測物の姿勢、位置調整後の
２値画像３２と計測位置パターン画像２６（濃淡
画像）の２個の画像について画像間演算を行う。
２値画像３２をマスクとして濃淡画像２６を濃淡
画像３３として画像転送するのである。その結
果、画像３３には、P₁−P₁、P₂−P₂、P₃−P₃線
分は、画像３２の２値画像がONの所だけが、転
送され、OFFの所は転送されない。従つて、線
分のうち画像３３には、計測に必要な部分だけが
書き込まれたことになる。最後に抽出された計測
データを使つて寸法計算する（ステツプ125）。

＜教示処理手順の詳細説明＞次に、第４図〜第９図を用いて教示処理の具体
例をステツプのソフト処理１１について詳述す
る。

第４図は、教示ステツプの手順を流れ図にて示
したものである。

標準パーツ２２の画像を入力する（ステツプ
110A）。入力画像に対してノイズ除去やシエーデ
イング補正を行い（ステツプ110B）、２値化画像
を作成する（ステツプ110C）。得られた２値画像
２３を使つて、物体の画像を楕円におきかえた時
の主軸の傾斜角を計測する（ステツプ111）。計測
結果は、主軸傾斜角θ₀として保存する。次に、マ
ウスを使つたマンマシン操作により第１の特徴点
Ａを決定し（ステツプ112A）、同じく第２の特徴
点Ｂを決定する（ステツプ112B）。最後に計測位
置を定義する（ステツプ113）。

第５図は、第３図及び第４図の画像入力及び前
処理（ステツプ110）。を説明するためのもので、
入力画像３５から２値化画像３６を得る過程を図
で示している。標準パーツ６０は、２値画像３６
内では画像６１に相当する。

第６図は、第３図および第４の主軸傾斜角計測
処理（ステツプ111）を説明するためのもので、
主軸傾斜角θの計測についての図である。画像６
１は、楕円７２に近似できる。この楕円の主軸７
３は、物体６１の方向を示すと考えてよい。主軸
の傾斜角θを計測することにより標準画像と被計
測画像の姿勢の一致化が可能である。

第７図は、第３図及び第４図の特徴点Ａの決定
処理（ステツプ112）を説明するためのもので、
第１特徴点Ａの位置決定を示す図である。画像３
６上にクロスカーソル４２を表示させ、マウス５
の操作により特徴点Ａにクロスカーソルが一致す
るようにする。クロスカーソルが特徴点Ａに一致
するとＡ点周辺の領域にBOXウインド４０を作
成する。このウインド４０内のデータを採取して
テンプレートテーブル３８上にテンプレートのパ
ターンを作成する。この時のＡ点の座標（x₁、
y₁）は、テンプレートテーブル３８と共に保存す
る。

第８図は、第３図及び第４図の特徴点Ｂの決定
処理（ステツプ112）を説明するためのもので、
第２の特徴点Ｂの位置決定を示す図である。テン
プレートのパターンはテンプレートテーブル３９
に格納し、Ｂ点の座標値（x₂、y₂）と共に保存す
る。詳細な説明は、第７図と同じであり、ここで
は省略する。

第９図は、第３図及び第４図の計測点決定処理
（ステツプ113）を説明するもので、計測位置の教
示と計測位置パターンについて説明するために示
す図である。まず、第１図の計測位置部位４５の
設定方法について説明する。計測しようとしてい
る寸法は、パーツ上のST間の距離である。そこ
で、STを通過する線分４５をマンマシンで定義
することを以下示す。まず画像４３上のクロスカ
ーソル４２を表示し、クロスカーソルの交点Ｐ
が、線分４５の下端Ｘ１の位置に移動し、Ｘ１点
を決定する。次に同様にして、線分４５の上端Ｘ
２の位置にクロスカーソル交点Ｐを移動し、Ｘ２
点を定義する。濃淡画像４４上に、Ｘ１，Ｘ２間
の濃度１で直線を作成する。第１部位に対する計
測位置の定義を終了した。画像４４上のＸ１−Ｘ
２は計測位置パターンである。次に線分４６，４
７についても同様にして定義する。線分４６の場
合にはＹ１，Ｙ２を定義して、濃淡画像４４上に
Ｙ１，Ｙ２、間を結ぶ直線を作成するときに濃度
２の直線を作成する。また線分４７のときは濃度
３の直線を作成する。このように３本の線分は、
濃度をそれぞれ変えてあるので、各線分を分離し
て容易にとり出し得るのである。

＜寸法計測ステツプの詳細説明＞第１０図〜第２を使つて寸法計測ステツプのソ
フトウエア１２について詳述する。

第１０図は、寸法計測処理ステツプの手順を流
れ図で示す。まず、被計測物８の画像をITVカ
メラ６から入力する（ステツプ120）。入力画像に
対して前処理を行いノイズ除去やシエーデイング
補正を行う（ステツプ120）。次に２値化処理を行
い２値化画像を作成する（ステツプ120）。２値化
画像を使つて楕円におき直した場合の主軸の傾斜
角を計測する（ステツプ121）。標準画像の主軸の
傾斜角θ₀といま求めた主軸の傾斜角θを使つて姿
勢調整を行う（ステツプ122A）。姿勢調整を行つ
た画像に対してテンプレートマツチングを行い対
象物の位置計測を行う（ステツプ122B）。その結
果を利用して画像シフトを行い原点調整を行い
（ステツプ123）、計測データを抽出し（ステツプ
124）、各部寸法計測処理を行う（ステツプ125）。

第１１図は、第３図及び第１０図における画像
入力及び前処理（ステツプ120）を説明するため
のもので、前処理、２値画像処理について示して
いる。入力画像４８は、前処理よりノイズ除去や
シエーデイング補正処理を行い２値化処理により
２値化画像を作成する。入力画像（濃淡）４８中
の対象物６２は、２値画像４９中では、６３であ
る。

第１２図は、第３図及び第１０図における主軸
角度計測処理（ステツプ121）を説明するもので、
２値画像５０を使つて、主軸傾斜角の計測処理を
示す。対象物６３の画像を楕円７４におきかえた
時の主軸７５の傾斜角θ′を計測する計測結果θ′と
第６図の説明部分にて記述したθから画像の姿勢
調整を行う。

第１３図は、第３図及び第１０図における回転
処理（ステツプ122、122A）を説明するもので、
標準画像の向きに被計測画像を合致させる処理に
ついて示している。画像４９を(1)式にて示す角度
だけ画像回転することにより標準画像の向きに調
整できる。回転後の画像は画像５１に格納する。
回転前の画像６３は、回転後は６４である。

第１４図は、第３図及び第１０図におけるテン
プレートマツチング処理（ステツプ122、122B）
を、説明するもので、回転後の画像５１を平行移
動して原点を標準画像に合致させる処理を示して
いる。画像５１に対して、テンプレート３８，３
９でテンプレートマツチングを行い、標準画像上
のＡ，Ｂ点に相当する特徴点A′，B′を求める。
５２は、テンプレートマツチングの一致度を示す
画像である。

第１５図は、第３図及び第１０図におけるシフ
ト処理（ステツプ123）を説明するもので、標準
画像と被計測画像の原点の一致化処理を示してい
る。シフト量は、(2)式〜(3)式又は、(4)〜(5)式に示
す通りである。この画像シフトにより標準画像と
被計測画像の原点は、一致化される。

第１６図は、第３図及び第１０図における計測
データの抽出処理（ステツプ124）を説明するも
ので、計測データ抽出処理について詳細に示して
いる。被計測画像の姿勢及び位置調整後の２値画
像５３と計測位置パターン（濃淡画像）の２個の
画像について画像間演算を行う。２値画像５３を
マスクとして、濃淡画像４４を画像４４に転送す
る。濃淡画像上の線分４５，４６，４７は、２値
画像５３上の対応画素がオン（ON）の時のみデ
ータ転送され、オフ（OFF）の時は転送されな
い。従つて、画像５４上に転送された線分５５，
５６，５７は、被計測物の計測すべき長さを示し
ていることになる。画像５４は、濃淡画像であ
り、線分５５は濃度１、線分５６は濃度２、線分
５７は濃度３としてある。これは各線分をそれぞ
れ別別に分離できるようにするためである。

第１７図は、第３図及び第１０図における寸法
計測処理（ステツプ125）を説明するもので、計
測データ抽出画像５４から各線分をひとつずつ抽
出する処理を示している。線分５５だけを抽出し
た画像が５８、線分５６だけを抽出した画像が５
９である。この特定の線分を抽出する処理は、固
定２値化処理という画像処理機能のひとつを使用
して実現する。すなわち、線分５５だけを抽出し
たい時は、画像５４に対して画素値ｆが０＜ｆ≦
１の時のみ１とし、それ以外は零となるような２
値化を行えばよい。また線分５６を抽出したい時
は、画像５４に対して画素値ｆが１＜ｆ≦２のと
きのみ１として、それ以外は零となるような２値
化を行えばよい。

それでは、第１７図の寸法ａ，ｂの測定手順を
第１８図及び第１９図を参照しながら説明する。

第１８図は、第１７図の寸法ａの寸法計測手順
の１実施例を示している。計画データ抽出画像５
４を２値化し、２値画像を画像５８に格納する。
この時、寸法ａは、画像５４では、濃度が、１で
あるから、画素データｆが０＜ｆ≦１の時のみ
１、それ以外は零となるような２値化処理とする
ことにより寸法ａのデータのみを画像５８上に抽
出することができる（ステツプ125A）。このよう
にして得られた画像５８中の画像について、画像
のXY方向の最大、最小座標値を求める（ステツ
プ125A₂）。計測結果をＸ軸最大値：XMAX Ｘ軸最小値：XMIX Ｙ軸最大値：YMAX Ｙ軸最小値：YMIX ……(17) とすると、寸法ａは次式で計算できる（ステツプ
125A₃）。

ａ＝（XMAX−XMIN）² ＋（YMAX−YMIN）² ……(18) 第１９図は、第１７図の寸法ｂの計算手順を示
している。説明内容は、第１８図寸法のａの計測
の場合とほとんど同じで、ステツプ125B₁、ステ
ツプ125A₁、ステツプ125B₂がステツプ125A₂、
ステツプ125B₃にそれぞれ相当する。

第２０図は、計算位置を定義する時のもうひと
つの方式について説明するために示す図である。
いまでは、１本の線分で計測位置を定義できる場
合であつたが、計測位置が複雑になつてくると１
本の線分だけでは定義できない。複数の線分をう
まく使うことにより、かなり複雑な部位の寸法計
測が可能である。ここでは、図のような、寸法ｄ
を計測することを考える。この場合にももちろん
１本の線分では計測位置を定義できない。

第２１図に寸法ｄの教示方法について示す。第
２０図の寸法ｄは、第２１図（）に示すように
線分６６及び線分６７の２本の線分により定義で
きる。計測位置パターンは、第２１図に示すよ
うに画像４４上に作り込まれるが、ここでは、線
分６６は、濃度４で、線分６７は濃度で書き込
む。

第２２図は、画像５３と計測位置パターン画像
４４とを画像間演算することにより画像５４を得
る。ここの画像間演算では２値画像５３をマスク
として濃淡画像４４を画像５４に転送することと
するので、画像５４上の線分６８の左端と線分６
９の左端のＸ座標を注目することにより寸法ｄが
得られることが理解できる。

第２３図は、画像５４を使つて寸法ｄを計測す
る手順をフローチヤートにて示している。計測デ
ータ抽出画像５４から線分６８のみを抽出するた
め２値化する。画像５４には、線分６８は濃度４
で格納されているから、画素データ値ｆが３＜ｆ
≦４の時１、それ以外の時０となるような２値化
処理をすれば線分６８のみを抽出できる。２値化
後画像５８に格納する（ステツプ300）。２値化画
像５８中の画像についてＸ軸最小値を計測する。
結果をＸ軸最小値：XMIN1 ……(19) とする（ステツプ301）。計測データ抽出画像５４
から線分６９のみを抽出するため２値化処理を行
う。線分６９は、画像５４中に濃度５で格納され
ているから、画像データ値ｆが４＜ｆ≦５の時
１、それ以外の時０となるような２値化処理をす
れば線分６９のみを抽出できる。２値化後は、画
像５８に格納する（ステツプ303）。２値画像５８
中の画像についてＸ軸最小座標値を計測する。計
測結果をＸ軸最小値：XMIN2 ……(20) とする（ステツプ304）。寸法ｄは次式から与えら
れる（ステツプ305）。

ｄ＝XMIN2−XMINI1 ……（21）第２１図での寸法ｄの教示の際、線分６６で線
分６７を画像４４に格納する際、同じ濃度で格納
することを考える。この場合には、線分６６及び
線分６７は、濃度４で書き込むものと仮定する。
このような場合には、第２４図のような寸法で２
個の線分を分離する必要がある。第２５図のステ
ツプ400において、画像５４の中の線分６８，６
９は、濃度４で格納されているから、まず、線分
６８，６９のみを含む２値画像５８を作成する。
次に、第２５図のステツプ４０１において、２値
画像５８をラベリングを行い、線分６８，６９を
番号づけをする。ラベリング結果画像を７０に格
納する。画像７０は濃淡画像であり、線分６８
は、濃度１が、線分６９は濃度２が割り付けられ
ているはずである。

第２６図は、ラベリング結果画像７０から寸法
ｄを計測する手順を示している。ラベリング結果
画像７０から線分６８のみを抽出するために２値
化処理を行う。線分６８は、画像７０中で濃度１
が割り付けられているので画素データ値ｆが、０
＜ｆ≦１の時１、それ以外の時０とするような２
値化処理を行うものとする。２値化処理の結果
は、画像５８に格納する（ステツプ500）。画像５
８中の画像についてＸ軸の最小座標値を計測す
る。計測結果をＸ軸最小値：XMIN1 ……（22）とする（ステツプ501）。ラベリング結果画像７０
から線分６９のみを抽出するため同じ２値化処理
を行う。線分６９は、画像７０中で、濃度２が割
り当てられて入るから、画素データ値ｆが１＜ｆ
≦２の時１、それ以外のとき０となるように２値
化処理を行えばよい。２値化結果は画像５８に格
納する（ステツプ502）。２値画像５８中の画像に
ついてＸ軸最小座標値を計測する。計測結果をＸ軸最小値：XMIN2 ……（23）とする（ステツプ503）。

寸法ｄは、次式により計算する（ステツプ
504）。

ｄ＝XMIN2−XMIN1 ……（24）以上によりやや複雑な寸法ｄについても線分２
本を使つてきちつと定義でき寸法計測できること
を説明した。ここでは全てのケースについて記述
できないが、複数本の線分を用いることにより相
当複雑な寸法に対しても寸法計測位置を定義でき
る。このように本発明の装置を使えば、標準手順
で、全ゆるケースの計測位置を定義でき、標準化
ソフトウエアで各種寸法形状の縫製パーツの寸法
計測できることがわかる。

〔発明の効果〕

複数個の特徴点周辺のパターンをテンプレート
として、テンプレートマツチングすることによ
り、縫製部品の位置ぎめを行なうので、主軸の傾
斜角の情報の精度が低くても、位置合わせでき
る。したがつて、主軸の傾斜角の計測誤差が生じ
やすい縫製部品のように柔らかく変形しやすい素
材でも、位置合わせが容易にでき、寸法計測が可
能となる寸法計測方法及び寸法計測装置を提供で
きる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の縫製パーツの計測結果全体構
成を示す説明図、第２図は同計測装置ハードウエ
ア構成を示すブロツク図、第３図は本発明の実施
例の作用を説明するために示すフローチヤート、
第４図は教示処理の手順を示すフローチヤート、
第５図〜第９図は、教示処理ステツプの処理内容
を示す図であつて、第５図は前処理及び２値化処
理を説明するために示す説明図、第６図は主軸傾
斜角計測処理を説明するために示す図、第７図は
第１特徴点の決定処理を説明するために示す図、
第８図は第２特徴点の決定処理を説明するために
示す図、第９図は計測位置の教示と計測位置パタ
ーンを示す図、第１０図は寸法計測処理ステツプ
を示すフローチヤート、第１１図〜第１７図は寸
法計測処理ステツプの処理内容を示す図であつ
て、第１１図は画像入力、前処理及び２値化処理
を示す図、第１２図は主軸傾斜角計測処理を示す
図、第１３図は画像処理による被計測入力画像の
姿勢調整を示す図、第１４図は姿勢調整後の画像
に対してテンプレートマツチングにより第１特徴
点、第２特徴点の位置を得る方式を示す図、第１
５図は被計測画像の位置を標準画像の位置に合わ
せるための画像シフトを示す図、第１６図は計測
位置パターンと被計測画像から計測位置だけのデ
ータを得るための方法を示す図、第１７図は上記
処理画像から各計測位置毎のデータを抽出する方
法の一実施例を示す図、第１８図は寸法ａの計測
手順を示すフローチヤート、第１９図は寸法ｂの
計測手順を示すフローチヤート、第２０図は複数
の線分で計測位置を定義する場合の例（寸法ｄの
計測）を示す図、第２１図は寸法ｄの教示方法を
示す図、第２２図は寸法ｄの寸法計測処理ステツ
プの内容を示す図、第２３図は寸法ｄの計測手順
を示すフローチヤート、第２４図〜第２６図は寸
法ｄの寸法計測のもうひとつの実施例を示す説明
図であつて、第２４図は計測データの分離方法を
示す図、第２５図は同じく分離手順を示すフロー
チヤート、第２６図は寸法ｄの計測手順を示すフ
ローチヤートである。１……寸法計測装置本体、２……コンソール
CRT、３……モニタテレビ、４……ハードコピ
ー用タイプライター、５……マウス、６……
ITVカメラ、７……ITVカメラインターフエー
ス、８……被計測物（縫製パーツ）、９……ITV
カメラの視野、１０……被計測物の搬送テーブ
ル、１１……教示ステツプ、１２……寸法計測処
理ステツプ、１３……CPU、１４……システム
（マルチバス）、１５……バスコントローラ、１６
……主メモリ、１７……CPU内バス、１８……
フロツピーデイスク、１９……シリアル転送機構
（UPif）、２０……イメージプロセツサ（IMP）、
２１……画像メモリ、２２……標準のパーツ。

Claims

【特許請求の範囲】１教示処理と寸法計測処理とからなる縫製部品
の寸法計測方法において、上記教示処理は、標準パーツである縫製部品の
画像を取り込む処理、上記画像を２値化し２値化
画像とする処理、上記２値化画像に対し定められ
る主軸と所定の基準線との傾斜角を計測する処
理、上記標準パーツの画像内に定められた複数個
の特徴点周辺のパターンをテンプレートパターン
として設定する処理、及び上記縫製部品上での計
測位置を示す濃度が互いに異なる複数の線分を上
記画像上で設定する処理を含み、上記寸法計測処理は、被計測物である縫製部品
の画像を取り込む処理、上記主軸の傾斜角を計測
する処理、画像回転及びテンプレートパターンマ
ツチングにより被計測物の画像位置を標準パーツ
の標準画像位置に一致させる処理、上記画像上の
計測すべき線分を抽出する処理、及び上記抽出さ
れた線分について、その寸法を計算する処理を含
むことを特徴とする縫製部品の寸法計測方法。２縫製部品の画像を取り込む画像入力装置と、
上記計算処理に必要な画像情報内の複数個の特徴
点周辺のパターンをテンプレートパターンとして
入力し、かつ計測位置の情報を濃度が互いに異な
る複数の線分として、上記計算処理装置に入力す
る入力装置と、上記画像入力装置からの画像情報を取り込み、
上記画像の主軸の傾斜角の計測、画像回転及びテ
ンプレートパターンマツチングを含む処理を行な
い、予め与えられていた縫製部品の特徴点のパタ
ーン及び計測位置を示す濃度が互いに異なる複数
の線分により与えられる計測位置の情報に基づ
き、縫製部品の寸法を計算処理する計算処理装置
と、該計算処理装置からの計算処理結果を出力する
出力装置と、上記テンプレートパターン及び計測位置を示す
濃度が互いに異なる複数の線分を表示する表示装
置とからなることを特徴とする縫製部品の寸法計
測装置。