JPH0458107A - 構造物のレベル計測装置 - Google Patents
構造物のレベル計測装置Info
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- JPH0458107A JPH0458107A JP16945990A JP16945990A JPH0458107A JP H0458107 A JPH0458107 A JP H0458107A JP 16945990 A JP16945990 A JP 16945990A JP 16945990 A JP16945990 A JP 16945990A JP H0458107 A JPH0458107 A JP H0458107A
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- laser
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 27
- 230000003028 elevating effect Effects 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は構造物の多数点のレベルを計測する装置の改良
に関する。
に関する。
(従来の技術)
構造物の不同沈下の計測など構造物の多数点のレベル変
化を知する方法として、最近、レーザ光線の発光器と受
光器を用いて計測を行う電子計測方法が多く採用されて
いる。
化を知する方法として、最近、レーザ光線の発光器と受
光器を用いて計測を行う電子計測方法が多く採用されて
いる。
例えば特開昭60−25413号公報には、レーザ光線
の発光器を基準点に設置し、被測定部位に受光器を取付
け、上下方向に多数の受光素子を配設した受光器にレー
ザ光線を照射することにより、受光した素子の位置から
その測定部位のレベルを判断するものが提案されている
。
の発光器を基準点に設置し、被測定部位に受光器を取付
け、上下方向に多数の受光素子を配設した受光器にレー
ザ光線を照射することにより、受光した素子の位置から
その測定部位のレベルを判断するものが提案されている
。
構造物の不同沈下の測定のように測定点が多数にわたり
、しかも定期的な計測を必要とする場合は、受光器をそ
の位置にセットしておき、その出力をコンピュータに入
力させることにより、能率のよい測定を実施することが
できる。
、しかも定期的な計測を必要とする場合は、受光器をそ
の位置にセットしておき、その出力をコンピュータに入
力させることにより、能率のよい測定を実施することが
できる。
(発明が解決しようとする課題)
ところがこの場合、レベル測定の精度(分解能)を高め
るには受光器に上下方向に配列する受光素子の配列密度
を高くする必要があるが、測定点が多数にわたるときは
、受光器の設置個数が増えることもあって、このような
素子密度の高い受光器を多数準備しなければならないこ
とは、計測システムを非常に高価なものにしてしまう。
るには受光器に上下方向に配列する受光素子の配列密度
を高くする必要があるが、測定点が多数にわたるときは
、受光器の設置個数が増えることもあって、このような
素子密度の高い受光器を多数準備しなければならないこ
とは、計測システムを非常に高価なものにしてしまう。
本発明はこのような問題を解決することを目的とする。
(課題を解決するための手段〉
そこで本発明は、構造物の各測定点に設置されるレーザ
光線の受光器と、レーザ光線を水平に照射すると共に水
平面で旋回するレーザ照射器と、このレーザ照射器を上
下させる昇降装置と、レーザ照射器の上下位置を検出す
る手段と、受光器がレーザ光線を受光したときのレーザ
照射器の上下位置から各測定点のレベルを判定する手段
とを備える。
光線の受光器と、レーザ光線を水平に照射すると共に水
平面で旋回するレーザ照射器と、このレーザ照射器を上
下させる昇降装置と、レーザ照射器の上下位置を検出す
る手段と、受光器がレーザ光線を受光したときのレーザ
照射器の上下位置から各測定点のレベルを判定する手段
とを備える。
(作用)
レベル測定を行うときは、レーザ照射器を水平に旋回し
て受光器に向けた後、レーザ光線を照射する。そして、
昇降装置によりレーザ照射器を緩やかに上下させる。測
定点に設置した受光器がレーザ光線を検出したときのレ
ーザ照射器の上下位置を検出することにより、測定点の
レベルを判定する。
て受光器に向けた後、レーザ光線を照射する。そして、
昇降装置によりレーザ照射器を緩やかに上下させる。測
定点に設置した受光器がレーザ光線を検出したときのレ
ーザ照射器の上下位置を検出することにより、測定点の
レベルを判定する。
(実施例)
第1図〜第3図において、1はレーザ光線を照射するレ
ーザ照射器、2a、2b、2c・・・はレーザ光線を受
光する受光器である。
ーザ照射器、2a、2b、2c・・・はレーザ光線を受
光する受光器である。
受光器2a、2b、2c・・・は、各測定部位に取付け
られるもので、レーザ光線を受光したときに電気的な出
力を発生する単一の受光素子を備えている。
られるもので、レーザ光線を受光したときに電気的な出
力を発生する単一の受光素子を備えている。
レーザ照射器1は、第1図、第3図に示すように、照射
器本体3が水平調整装置4を介して上下動させる昇降装
置15に載置される。
器本体3が水平調整装置4を介して上下動させる昇降装
置15に載置される。
照射器本体3はレーザ光線を水平に発光すると共に、水
平面において360゛旋回するようになっている。
平面において360゛旋回するようになっている。
水平調整装W4はレーザ照射器1を常に水平に維持する
もので、照射器本体3を支持する支持プレート6が、軸
Xを中心にフレーム5に回転自在に支持され、また、フ
レーム5は軸Xと直交する軸Yを中心に台座13に回転
自在に支持される。
もので、照射器本体3を支持する支持プレート6が、軸
Xを中心にフレーム5に回転自在に支持され、また、フ
レーム5は軸Xと直交する軸Yを中心に台座13に回転
自在に支持される。
支持プレート6の一部には、各軸X、Yの方向について
傾斜角度を検出する傾斜センサ7.8が取付けられると
共に、この傾斜センサ7.8の出力に基づいて、支持プ
レート6が水平になるように各回転軸X、Yの回りに駆
動モータ10と11によって回転角度が制御される6 なお、この水平制御は後述する制御装置20によって行
なわれる。
傾斜角度を検出する傾斜センサ7.8が取付けられると
共に、この傾斜センサ7.8の出力に基づいて、支持プ
レート6が水平になるように各回転軸X、Yの回りに駆
動モータ10と11によって回転角度が制御される6 なお、この水平制御は後述する制御装置20によって行
なわれる。
前記昇降装置15は基盤16に垂直に取付けられ、この
昇降ロッド17の先端に前記水平調整装置4の台座13
が据え付けられる。なお、昇降装置15は例えばモータ
の回転により送りがかかるねじ機構等によって構成する
が、油圧シリンダ等を用いることもできる。
昇降ロッド17の先端に前記水平調整装置4の台座13
が据え付けられる。なお、昇降装置15は例えばモータ
の回転により送りがかかるねじ機構等によって構成する
が、油圧シリンダ等を用いることもできる。
また、この昇降装置15と並列に上下位置検出器19が
設けられ、レーザ照射器1の高さ位置を検出するように
なっている。
設けられ、レーザ照射器1の高さ位置を検出するように
なっている。
制御袋W20には、前述した傾斜センサ7.8からの角
度信号θ×とθyと、上下位置検出器19からの高さ信
号Hが入力し、さらに、前記した受光器2 a、 2
b、 2 c−からの受光信号D 、、D iD 3・
・・が入力する一方、同時に昇降装置15に昇降駆動信
号を出力しながら、これらに基づいて後述するようにし
て各測定部位のレベルを判定する。
度信号θ×とθyと、上下位置検出器19からの高さ信
号Hが入力し、さらに、前記した受光器2 a、 2
b、 2 c−からの受光信号D 、、D iD 3・
・・が入力する一方、同時に昇降装置15に昇降駆動信
号を出力しながら、これらに基づいて後述するようにし
て各測定部位のレベルを判定する。
次に作用について説明する。
第2図にも示すように、まず予め昇降装置15を最収縮
または最伸長状態に保持しておき、レーザ照射器Iを所
定の受光器、例えば受光器2aに向けて水平に旋回する
。
または最伸長状態に保持しておき、レーザ照射器Iを所
定の受光器、例えば受光器2aに向けて水平に旋回する
。
なおこのとき、制御装置20はレーザ照射器1が水平状
態にあるかどうかを、傾斜センサ7.8の出力から判断
し、もし水平でないときは、軸X。
態にあるかどうかを、傾斜センサ7.8の出力から判断
し、もし水平でないときは、軸X。
Yについて、それぞれ水平になるまで駆動モータ10と
11を駆動して姿勢の修正を行う。
11を駆動して姿勢の修正を行う。
昇降装置15が最収縮している場合、制御装置20から
の駆動信号により緩やかに昇降装置15を伸ばしていく
、昇降装置15の伸長動作によりレーザ照射器1も上昇
していき、レーザ光線の発光部位が受光器2aと同一レ
ベルに達すると、受光器2aがレーザ光線を受光して、
制御装置20に出力する。
の駆動信号により緩やかに昇降装置15を伸ばしていく
、昇降装置15の伸長動作によりレーザ照射器1も上昇
していき、レーザ光線の発光部位が受光器2aと同一レ
ベルに達すると、受光器2aがレーザ光線を受光して、
制御装置20に出力する。
一方、このとき制御装置20には同時に上下位置検出器
19からの高さ位置信号も入力しているので、制御装置
20は受光器2aが出力したときの上下位置検出器1つ
の位置信号により、受光器2aを取付けた測定部位のレ
ベルを判断する。
19からの高さ位置信号も入力しているので、制御装置
20は受光器2aが出力したときの上下位置検出器1つ
の位置信号により、受光器2aを取付けた測定部位のレ
ベルを判断する。
このようにして受光器2aの取付部位のレベルを判定し
たら、上記したのと同じ操作により、次の受光器2bに
向けて再びレーザ光線を発光しながらレベルの判定を行
うと共にこの結果を記憶し、順次これらの操作を繰り返
すことにより、各測定部位のレベルを判定していく。
たら、上記したのと同じ操作により、次の受光器2bに
向けて再びレーザ光線を発光しながらレベルの判定を行
うと共にこの結果を記憶し、順次これらの操作を繰り返
すことにより、各測定部位のレベルを判定していく。
この場合、各測定部位のレベルは、互いに相対的な変位
として算出したり、あるいは絶対値として算出すること
ができる。なお、この測定結果は、表示器に表示したり
、あるいはプリンタによって印刷することもできる。
として算出したり、あるいは絶対値として算出すること
ができる。なお、この測定結果は、表示器に表示したり
、あるいはプリンタによって印刷することもできる。
(発明の効果)
以上のように本発明によれば、レーザ照射器を昇降装置
により上下させるようにしなので、各測定部位に取付け
る受光器は単一の受光素子を備えるだけでよく、したが
ってとくに測定点が多数にわたるときは、測定システム
としての全体のコストを大幅に低減することができ、か
つ能率のよいレベル測定が可能となる。
により上下させるようにしなので、各測定部位に取付け
る受光器は単一の受光素子を備えるだけでよく、したが
ってとくに測定点が多数にわたるときは、測定システム
としての全体のコストを大幅に低減することができ、か
つ能率のよいレベル測定が可能となる。
第1図は本発明の実施例を示す正面図、第2図は平面的
な説明図、第3図は水平調整装置の分解斜視図である。 1・・レーザ照射器、2 a、 2 b、 2 c・・
・受光器、3・・・照射器本体、4・・・水平調整装置
、15・・・昇降装置、1つ・・上下位置検出器、20
・・・制御装置。 特許出願人 カヤバエ業株式会社
な説明図、第3図は水平調整装置の分解斜視図である。 1・・レーザ照射器、2 a、 2 b、 2 c・・
・受光器、3・・・照射器本体、4・・・水平調整装置
、15・・・昇降装置、1つ・・上下位置検出器、20
・・・制御装置。 特許出願人 カヤバエ業株式会社
Claims (1)
- 1、構造物の各測定点に設置されるレーザ光線の受光器
と、レーザ光線を水平に照射すると共に水平面で旋回す
るレーザ照射器と、このレーザ照射器を上下させる昇降
装置と、レーザ照射器の上下位置を検出する手段と、受
光器がレーザ光線を受光したときのレーザ照射器の上下
位置から各測定点のレベルを判定する手段とを備えたこ
とを特徴とする構造物のレベル計測装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16945990A JPH0458107A (ja) | 1990-06-27 | 1990-06-27 | 構造物のレベル計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16945990A JPH0458107A (ja) | 1990-06-27 | 1990-06-27 | 構造物のレベル計測装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0458107A true JPH0458107A (ja) | 1992-02-25 |
Family
ID=15886977
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16945990A Pending JPH0458107A (ja) | 1990-06-27 | 1990-06-27 | 構造物のレベル計測装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0458107A (ja) |
-
1990
- 1990-06-27 JP JP16945990A patent/JPH0458107A/ja active Pending
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