JPH0434342A - 赤外線水分計 - Google Patents

赤外線水分計

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Publication number
JPH0434342A
JPH0434342A JP2141179A JP14117990A JPH0434342A JP H0434342 A JPH0434342 A JP H0434342A JP 2141179 A JP2141179 A JP 2141179A JP 14117990 A JP14117990 A JP 14117990A JP H0434342 A JPH0434342 A JP H0434342A
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JP
Japan
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paper
light
reflected
infrared
shielding plate
Prior art date
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Pending
Application number
JP2141179A
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English (en)
Inventor
Takashi Chiba
隆司 千葉
Hitoshi Hara
仁 原
Tomoyuki Yamada
知行 山田
Kenji Isozaki
磯崎 健二
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Yokogawa Electric Corp filed Critical Yokogawa Electric Corp
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Publication of JPH0434342A publication Critical patent/JPH0434342A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N21/3554Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for determining moisture content
    • G01N21/3559Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for determining moisture content in sheets, e.g. in paper
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
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    • G01N2201/065Integrating spheres

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明はシート状物体(以下、単に紙という)の水分率
を赤外線を用いて測定する赤外線水分計に間する。
〈従来の技術〉 第2図は特公昭61−10773号によって開示されて
いる赤外線水分計の従来例を示す、1および2は凹部が
鏡面加工された半球状の凹面反射体で、これらは紙3を
挟んで対向配置され1紙3の幅方向に往復走行される。
4は赤外線源で、白色光源ランプ4aと一対のフィルタ
ーが取付けられたチョッパー円板4bを有し、凹面反射
体1は赤外線源4からの赤外線を紙3に投射する光管5
を有している。一方、鏡面の凹面反射体2には赤外線検
出器(以下、単に検出器という)6が取付けられている
凹面反射体1と2とは球状のキャビティを形成し、光管
5はこのキャビティの中心Oに向は赤外線を投射する。
検出器6は光管5の光軸に対しφずらされて配置されて
いる。7.8は凹面反射体が紙粉で汚れるのを防止する
為のガラスである。
このような構成で、赤外線源4のチョッパー円板4bを
回転させると、この円板に設けた一対のフィルターによ
って紙3の水分によって吸収を受ける測定光と水分によ
って吸収を受けない比較光とを交互に発生する。
これらの光は光管5を通し前記キャビティ内に導かれ紙
3上にスポットを投射する。検出器6は紙3を透過した
赤外線と、凹面反射体1,2で反射され紙3を繰返し透
過した赤外線の両方を検出する0本図では図示されてい
ないが検出器6で検出された測定光信号Mと比較光信号
Rとはそれぞれ別々に検出され、これらの比R/Mが演
算され水分率を表わす信号として出力される。
このような装置の場合、中心0に投射された赤外線が紙
3によって散乱するが凹面反射体1.2によって反射さ
れ再び中心Oに集められるため測定を効率よく行える利
点がある。
更に、検出器6の取付角度φを変えることによって紙3
を透過して直接検出器6に達する赤外線成分と、凹面反
射体1.2で反射され検出器6に達する赤外線成分との
割合を変えることが出来る。
角度φを小さくすれば前者の成分が増大し、角度φを大
きくすれば後者の成分が増大する。このため、ティッシ
ュベーパーのような薄い紙の場合。
水分による赤外線吸収量が少なく検出感度は低下するが
、このような場合に検出器6の取付角度φを大きくし紙
3を緑返し透過した赤外線成分が多く入射されるように
して検出感度を上げる。
〈発明が解決しようとする課題〉 しかしながら、このような装!においては紙を1回透過
した光が一番強く、凹面反射体2で反射し再び紙を透過
して凹面反射体1で反射し、さらに紙3を透過した光は
感度は高いが光量の減衰度が著しい、そのため、上記従
来例では検出器6を光軸に対して所定の取付角度φを有
して取付けることにより一回透過光の光強度を弱め複数
透過光との光強度の差を少なくなるようにしている。し
かしティシュベーパのような薄紙においては取付角φを
大きくしても一回透過光の光強度が圧倒的に強いので実
質上は一回透過の光で測定していることになる。その結
果、感度の高いものが得られないという問題があった。
本発明は上記従来技術の課題を解決するために成された
もので、水分との会合回数の多い光のみを利用すること
により感度の高い赤外線水分計を実現することを目的と
する。
く課題を解決するための手段〉 上記目的を達成する為の本発明の構成は、シート状物体
を挟んで対向配置された一対の半球状の凹面反射体と、
この凹面反射体に入射する赤外線を前記シート状物体を
介して赤外線検出手段で受光する様にした赤外線水分計
において9両面が鏡面加工された遮蔽板を前記赤外線検
出手段に対向させ、所定の距離を保って配置したことを
特徴とするものである。
く作用〉 前記の技術手段は次のように作用する。即ち赤外源から
の光は凹面反射体の一方の側に入射して紙を照射する。
この紙を透過・散乱した光はそれぞれの凹面反射体で反
射して中央部に集められ再び紙を照射して透過・散乱を
繰返し1紙の物理的性質に関連した光が他方の側の凹面
反射体に達する。これらの光のうち一回透過光または一
回反射光は凹面反射体のいずれか一方の側に設けられた
光検出手段の上方に設けられた遮蔽板により反射して光
検出手段に入射できず1紙を複数回透過した光が他方の
凹面反射体で反射し、さらに遮蔽板で反射して光検出手
段に入射する。
〈実施例〉 以下図面に従い本発明の一実施例を説明する。
第1図は本発明実施例装置を示す構成図である。
図中、第2図における要素と同じ要素には同一符号を付
しこれらについての説明は省略する。第1図において1
0は凹面反射体1に一端が固定され他端が赤外線源4に
対向して配置された光ファイバ束である。11は凹面反
射体2に一端が固定され他端が検出器6に対向して配置
された光ファイバ束で、この光ファイバ11と検出器6
で光検出手段を構成する。12は凹面反射体2の球面と
同様の曲面を有する遮蔽板であり1両面が鏡面に加工さ
れている。そしてこの遮蔽板12は光検出子FlC図で
は光ファイバ束13の端部)から所定の距離離れた位置
で支持部材13.13−により支持されて固定されてい
る。
上記構成において赤外線源4からの赤外光は光ファイバ
束10を介して凹面反射#、1に導かれ。
キャビティの中心Oに向かって例えばイで示すように出
射し紙3を照射する。この光の一部は例えば口、八で示
すように紙3で反射して凹面反射体1で反射し、再び紙
3に向かう、また9紙3を透過した光は例えば二で示す
様に直進し遮蔽板で反射したり、ホ、へで示すように凹
面反射体で反射して紙3に向かう、これらの光はさらに
紙3を照射し透過・散乱するが、透過・散乱を繰返すう
ち反射した光が中心0からずれてくる。このずれた光が
例えば図中の点線の範囲“H”よりも広がると1例えば
ト、チの光は凹面反射体2で反射して遮蔽板12の裏側
でトー2チーの様に反射して光ファイバ束11に入射し
て光検出器6に達する。
なお、この場合遮蔽板12の位1はI!数透過光の光フ
ァイバ束11への入射量が最大となるように調整するも
のとする。この様に遮蔽板12を設けることにより紙3
を透過した光が直接光ファイバ東側に入射しないように
し1紙を複数回透過した光を光検出手段で検出するので
より感度の高い赤外線検出装置を得ることかできる。
なお7図では光ファイバ束10を介して凹面反射#1に
出射し、光ファイバ束11を介して光を受光する様にし
たが、第2図に示す従来例と同様に配置すれば光ファイ
バ束は不要である。
また1紙が薄くて透過光が多い場合は光検出手段は赤外
線が入射する側の凹面反射体1側に設けてもよい。
また1本実施例では遮蔽板を平面上の板として図示した
が遮蔽板は反射体と同様の凹面または凸面であってもよ
い。
〈発明の効果〉 以上実施例とともに具体的に説明したように本発明によ
れば、赤外線検出手段の上方に両面が鏡面加工された遮
蔽板を所定の距離を保って配置したので一回透過光の光
を排除することができる。
その結果感度の高い水分測定を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例装置を示す構成図。 第2図は従来装置の構成図である。 1.2・・・凹面反射体、3・・・シート状物体(紙)
。 4・・・赤外線源、4a・・・ランプ、4b・・・チョ
ッパー円板、6・・・赤外線検出器、7.8・・・ガラ
ス、10゜11・・・光ファイバ束、12・・・遮蔽板
、13.13第2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  シート状物体を挟んで対向配置された一対の半球状の
    凹面反射体と、この凹面反射体に入射する赤外線を前記
    シート状物体を介して赤外線検出手段で受光する様にし
    た赤外線水分計において、両面が鏡面加工された遮蔽板
    を前記赤外線検出手段に対向させ、所定の距離を保って
    配置したことを特徴とする赤外線水分計。
JP2141179A 1990-05-30 1990-05-30 赤外線水分計 Pending JPH0434342A (ja)

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JP2141179A JPH0434342A (ja) 1990-05-30 1990-05-30 赤外線水分計

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006528348A (ja) * 2003-07-23 2006-12-14 ライト−ハウス ワールドワイド ソルーションズ,インコーポレイティッド 粒子センサーシステムの改良デザイン
US8148690B2 (en) 2009-09-24 2012-04-03 ABB, Ltd. Method and apparatus for on-line web property measurement
JP2016011920A (ja) * 2014-06-30 2016-01-21 横河電機株式会社 赤外線水分計

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JP2006528348A (ja) * 2003-07-23 2006-12-14 ライト−ハウス ワールドワイド ソルーションズ,インコーポレイティッド 粒子センサーシステムの改良デザイン
US8148690B2 (en) 2009-09-24 2012-04-03 ABB, Ltd. Method and apparatus for on-line web property measurement
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