JPH04321320A - Buffer circuit - Google Patents

Buffer circuit

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JPH04321320A
JPH04321320A JP3088923A JP8892391A JPH04321320A JP H04321320 A JPH04321320 A JP H04321320A JP 3088923 A JP3088923 A JP 3088923A JP 8892391 A JP8892391 A JP 8892391A JP H04321320 A JPH04321320 A JP H04321320A
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JP
Japan
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channel mos
buffer circuit
terminal
output terminal
circuit
Prior art date
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Pending
Application number
JP3088923A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kenichi Uchiumi
賢一 内海
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Engineering Ltd
Original Assignee
NEC Engineering Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Engineering Ltd filed Critical NEC Engineering Ltd
Priority to JP3088923A priority Critical patent/JPH04321320A/en
Publication of JPH04321320A publication Critical patent/JPH04321320A/en
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Abstract

PURPOSE:To optionally adjust the duty of a pulse and the delay time of an input signal. CONSTITUTION:The buffer circuit is provided with rewritable ROMs 10, 11 for many number of times electrically or optically provided in one and the same chip of a semiconductor integrated circuit, and the equivalent conductance of plural P-channel MOS transistors(TRs) 8 inserted between a power supply terminal 1. An output terminal 3 and the equivalent conductance of plural N- channel MOS TRs 9 inserted between a ground terminal and the output terminal 3 are changed optionally by a preset output signal from the ROMs 10, 11.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】0001

【産業上の利用分野】本発明は半導体集積回路内に設け
られる入力バッファ,出力バッファ等のバッファ回路に
関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to buffer circuits such as input buffers and output buffers provided in semiconductor integrated circuits.

【0002】0002

【従来の技術】従来この種のバッファ回路は、トランジ
スタサイズが固定、つまり駆動能力が固定である為、与
えられた負荷条件つまり負荷ゲート数や配線長に対し、
一定の遅延時間及び一定の立ち上がり時間,立ち下がり
時間を有していた。
[Prior Art] Conventionally, in this type of buffer circuit, the transistor size is fixed, that is, the driving capacity is fixed.
It had a fixed delay time and fixed rise and fall times.

【0003】又、トランジスタサイズを可変、つまり駆
動能力を可変にするためには駆動能力制御用外部端子を
必要としていた。
Furthermore, in order to make the transistor size variable, that is, the driving ability variable, an external terminal for controlling the driving ability is required.

【0004】0004

【発明が解決しようとする課題】上述した従来のバッフ
ァ回路は、半導体集積回路の評価時等に遅延時間等の特
性を変更する必要が生じた場合、再設計,再製造を行な
わなければならないという欠点を有していた。
[Problem to be Solved by the Invention] The conventional buffer circuit described above requires redesign and remanufacturing when it becomes necessary to change characteristics such as delay time during evaluation of semiconductor integrated circuits. It had drawbacks.

【0005】特に、入力信号間の位相差、内部クロック
のデューティ、出力信号間の位相差、出力信号の絶対遅
延時間、出力クロックデューティ等は半導体集積回路の
外部回路とインターフェイス及び最高動作周波数を決め
る大きな要因で有るため、評価後調整し最適化を計りた
いとの要求が強かった。
In particular, the phase difference between input signals, the duty of the internal clock, the phase difference between output signals, the absolute delay time of the output signal, the output clock duty, etc. determine the interface with external circuits and the maximum operating frequency of the semiconductor integrated circuit. Since this is a major factor, there was a strong demand for adjustments and optimization after the evaluation.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明のバッファ回路は
、電気的又は光学的に何度でも書き換え可能なROMを
同一チップ内に設けた半導体集積回路において、電源端
子と出力端子の間に挿入された複数のPチャンネルMO
Sトランジスタの等価的なコンダクタンス及び接地端子
と前記出力端子との間に挿入された複数のNチャンネル
MOSトランジスタの等価的なコンダクタンスを予め設
定された前記ROMからの出力信号により任意に変化さ
せることを特徴とする。
[Means for Solving the Problems] The buffer circuit of the present invention is inserted between a power supply terminal and an output terminal in a semiconductor integrated circuit in which a ROM that can be electrically or optically rewritten any number of times is provided in the same chip. Multiple P-channel MO
The equivalent conductance of the S transistor and the equivalent conductance of the plurality of N channel MOS transistors inserted between the ground terminal and the output terminal are arbitrarily changed by a preset output signal from the ROM. Features.

【0007】[0007]

【実施例】次に本発明について図面を参照して説明する
。図1は本発明の第1の実施例のブロック図である。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, the present invention will be explained with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram of a first embodiment of the present invention.

【0008】図1において、1は電源端子、2はバッフ
ァ回路の入力端子、3は出力端子である。8はPチャン
ネルMOSトランジスタ、9はNチャンネルMOSトラ
ンジスタでありインバータタイプのバッファ回路を構成
している。
In FIG. 1, 1 is a power supply terminal, 2 is an input terminal of a buffer circuit, and 3 is an output terminal. 8 is a P-channel MOS transistor, and 9 is an N-channel MOS transistor, which constitute an inverter type buffer circuit.

【0009】セレクタ6は、同一チップ上のROM10
の出力端子4の制御により、入力端子2からの入力信号
または電源端子1からの電源電圧のいずれかを選択し、
それぞれのPチャンネルMOSトランジスタ8のゲート
端子に導かれる為、電源電圧が印加されたトランジスタ
は遮断状態となり、入力信号が印加されたトランジスタ
は入力信号により制御され、かつ入力信号が印加された
トランジスタが複数個ある場合は電気的に並列に接続さ
れる。
[0009] The selector 6 is a ROM 10 on the same chip.
Select either the input signal from the input terminal 2 or the power supply voltage from the power supply terminal 1 by controlling the output terminal 4 of the
Since it is led to the gate terminal of each P-channel MOS transistor 8, the transistor to which the power supply voltage is applied is in a cut-off state, the transistor to which the input signal is applied is controlled by the input signal, and the transistor to which the input signal is applied is in a cut-off state. If there is more than one, they are electrically connected in parallel.

【0010】同様にセレクタ7は、同一チップ上にある
ROM11の出力端子5の制御により、入力端子2から
の入力信号または接地電圧のいずれかを選択し、それぞ
れのNチャンネルMOSトランジスタ9のゲート端子に
導かれる為、接地電圧が印加されたトランジスタは遮断
状態となり、入力信号が印加されたトランジスタは入力
信号により制御され、かつ入力信号が印加されたトラン
ジスタが複数個ある場合は電気的に並列に接続される。
Similarly, the selector 7 selects either the input signal from the input terminal 2 or the ground voltage by controlling the output terminal 5 of the ROM 11 on the same chip, and selects either the input signal from the input terminal 2 or the ground voltage to the gate terminal of each N-channel MOS transistor 9. Therefore, the transistor to which the ground voltage is applied is cut off, and the transistor to which the input signal is applied is controlled by the input signal, and if there are multiple transistors to which the input signal is applied, they are electrically connected in parallel. Connected.

【0011】この様に、同一チップ上のROM10,1
1の出力端子4,5の制御によりバッファ回路を構成す
る複数のPチャンネルMOSトランジスタ又はNチャン
ネルMOSトランジスタを任意の個数だけ電気的に並列
に接続することにより、バッファ回路のPチャンネルM
OSトランジスタ8及びNチャンネルMOSトランジス
タ9の等価的なコンダクタンスを変化させる事が可能で
ある。
In this way, ROM10,1 on the same chip
By electrically connecting an arbitrary number of P-channel MOS transistors or N-channel MOS transistors constituting the buffer circuit in parallel under the control of the output terminals 4 and 5 of 1, the P-channel M of the buffer circuit can be
It is possible to change the equivalent conductance of OS transistor 8 and N-channel MOS transistor 9.

【0012】図2は本発明の第2の実施例のブロック図
である。図2において1は電源端子、2はバッファ回路
の入力端子、3は出力端子である。PチャンネルMOS
トランジスタ8aと、NチャンネルMOSトランジスタ
9aは、インバータタイプのバッファ回路を構成してい
る。同一チップ上のROM10aの出力端子4が接続さ
れた複数のPチャンネルMOSトランジスタ8aのゲー
ト電圧を任意に高電圧又は低電圧に設定する事が可能と
なる。その結果高電圧を印加されたトランジスタは遮断
状態となり、低電圧を印加されたトランジスタは導通状
態となり、かつ導通状態のトランジスタが複数個あれば
電気的に並列に接続される。
FIG. 2 is a block diagram of a second embodiment of the invention. In FIG. 2, 1 is a power supply terminal, 2 is an input terminal of the buffer circuit, and 3 is an output terminal. P channel MOS
Transistor 8a and N-channel MOS transistor 9a constitute an inverter type buffer circuit. It becomes possible to arbitrarily set the gate voltage of a plurality of P-channel MOS transistors 8a connected to the output terminal 4 of the ROM 10a on the same chip to a high voltage or a low voltage. As a result, the transistors to which a high voltage is applied are turned off, and the transistors to which a low voltage is applied are turned on, and if a plurality of transistors are turned on, they are electrically connected in parallel.

【0013】同様に同一チップ上のROM11aの出力
端子5が接続された複数のNチャンネルMOSトランジ
スタ9aのゲート電圧を任意に高電圧又は低電圧に設定
することが可能になる。その結果低電圧を印加されたト
ランジスタは遮断状態となり、高電圧を印加されたトラ
ンジスタは導通状態となり、かつ導通状態のトランジス
タが複数個あれば電気的に並列に接続される。
Similarly, the gate voltages of the plurality of N-channel MOS transistors 9a connected to the output terminal 5 of the ROM 11a on the same chip can be arbitrarily set to a high voltage or a low voltage. As a result, the transistors to which a low voltage is applied are turned off, and the transistors to which a high voltage is applied are turned on, and if a plurality of transistors are turned on, they are electrically connected in parallel.

【0014】この様に、同一チップ上のROM10a,
11aの出力端子4,5の制御によりバッファ回路を構
成するPチャンネルMOSトランジスタ8a及びNチャ
ンネルMOSトランジスタ9aの等価的なコンダクタン
スを変化させる事が第1の実施例と同様に可能である。
In this way, the ROM 10a on the same chip,
As in the first embodiment, it is possible to change the equivalent conductance of the P-channel MOS transistor 8a and the N-channel MOS transistor 9a constituting the buffer circuit by controlling the output terminals 4 and 5 of the buffer circuit 11a.

【0015】このようにすると本実施例のバッファ回路
は、PチャンネルMOSトランジスタ部及びNチャンネ
ルMOSトランジスタ部のコンダクタンスつまり駆動能
力を半導体集積回路内のROMにより制御する事が可能
となり、入力端子2からの信号を任意に遅延させて出力
端子3に供給することができる。
In this way, the buffer circuit of this embodiment can control the conductance, that is, the driving ability, of the P-channel MOS transistor section and the N-channel MOS transistor section by the ROM in the semiconductor integrated circuit, and The signal can be arbitrarily delayed and supplied to the output terminal 3.

【0016】又、本実施例のバッファ回路は、Pチャン
ネルMOSトランジスタのコンダクタンス又はNチャン
ネルMOSトランジスタのコンダクタンスを別々に変化
させる事が可能な為、入力しきい値電圧及び出力立ち上
がり時間,立ち下がり時間を制御することにより、入力
パルスのデューティ調整回路として使用することができ
る。
Furthermore, since the buffer circuit of this embodiment can change the conductance of the P-channel MOS transistor or the conductance of the N-channel MOS transistor separately, the input threshold voltage and the output rise time and fall time can be changed separately. By controlling this, it can be used as an input pulse duty adjustment circuit.

【0017】以下に本実施例のバッファ回路をデューテ
ィ調整回路として使用した場合の例を示す。一般にゲー
ト回路の出力波形の立ち上がり時間と立ち下がり時間を
等しくする事は困難であり時間差を有している。その為
ゲートを何段か通ると立ち上がり,立ち下がり時間の差
によりデューティが変化する。図3は本実施例のバッフ
ァ回路を使用したデューティ調整回路12であり、13
はインバータタイプのバッファ回路である。図4は図3
の各部の波形である。波形15は入力端子2への入力信
号であり本来50%のデューティであるべきものが変化
している。ここでバッファ回路12においてPチャンネ
ルMOSトランジスタの等価コンダクタンスにより、N
チャンネルMOSトランジスタの等価コンダクタンスの
方が大きく制御しているものとする。その結果、出力端
子3aの出力波形は信号16の様に立ち上がり時間より
立ち下がり時間の方が小さくなる。この信号16をイン
バータタイプのバッファ回路13により整形するとデュ
ーティ50%の出力波形17の信号を得ることが出来る
An example in which the buffer circuit of this embodiment is used as a duty adjustment circuit will be shown below. Generally, it is difficult to equalize the rise time and fall time of the output waveform of a gate circuit, and there is a time difference. Therefore, the duty changes depending on the difference in the rise and fall times after passing through several gates. FIG. 3 shows a duty adjustment circuit 12 using the buffer circuit of this embodiment, and 13
is an inverter type buffer circuit. Figure 4 is Figure 3
These are the waveforms of each part of . Waveform 15 is an input signal to input terminal 2, and what should originally be a 50% duty has changed. Here, in the buffer circuit 12, due to the equivalent conductance of the P-channel MOS transistor, N
It is assumed that the equivalent conductance of the channel MOS transistor is controlled to a greater extent. As a result, the output waveform of the output terminal 3a has a fall time shorter than a rise time, as in the signal 16. When this signal 16 is shaped by an inverter type buffer circuit 13, a signal having an output waveform 17 with a duty of 50% can be obtained.

【0018】このように本実施例のバッファ回路を遅延
時間制御回路として使用した場合は半導体集積回路の入
力信号間及び出力信号間の位相調整に使用できる。又半
導体集積回路の内部で位相差を厳しく制御しなければな
らない部分があれば本バッファ回路を使用する事により
最適化が図れる。また、バッファ回路をデューティ制御
回路として使用した場合は半導体集積回路の入力端子に
、デューティの狂った信号が印加された場合でも内部で
補正が可能であり、又ある決められたデューティの信号
を出力しなければならない場合も内部で狂ったデューテ
ィを補正可能である。
As described above, when the buffer circuit of this embodiment is used as a delay time control circuit, it can be used for phase adjustment between input signals and output signals of a semiconductor integrated circuit. Furthermore, if there is a part in the semiconductor integrated circuit where the phase difference must be strictly controlled, optimization can be achieved by using this buffer circuit. In addition, when a buffer circuit is used as a duty control circuit, even if a signal with an incorrect duty is applied to the input terminal of a semiconductor integrated circuit, it can be corrected internally, and a signal with a predetermined duty can be output. Even if necessary, it is possible to correct the incorrect duty internally.

【0019】また、本実施例のバッファ回路を使用する
事により設計時と実物の差の補正、外部回路とのインタ
ーフェースの補正、製造バラツキに対する特性変化の補
正がROM書き換えのみで可能となる。
Furthermore, by using the buffer circuit of this embodiment, it becomes possible to correct the difference between the design and the actual product, the interface with an external circuit, and the change in characteristics due to manufacturing variations by simply rewriting the ROM.

【0020】[0020]

【発明の効果】以上説明したように本発明は、電源端子
と出力端子の間に挿入された複数のPチャンネルMOS
トランジスタの等価的なコンダクタンス及び接地端子と
出力端子との間に挿入された複数のNチャンネルMOS
トランジスタの等価的なコンダクタンスを半導体集積回
路の同一チップ上のROMの書き換えにより、入力信号
の遅延時間やパルスのデューティを任意に調整すること
ができる。
Effects of the Invention As explained above, the present invention provides a method for connecting a plurality of P-channel MOSs inserted between a power supply terminal and an output terminal.
Equivalent conductance of the transistor and multiple N-channel MOS inserted between the ground terminal and the output terminal
By rewriting the equivalent conductance of the transistor in the ROM on the same chip of the semiconductor integrated circuit, the delay time of the input signal and the duty of the pulse can be adjusted as desired.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

【図1】本発明の第1の実施例のブロック図である。FIG. 1 is a block diagram of a first embodiment of the invention.

【図2】本発明の第2の実施例のブロック図である。FIG. 2 is a block diagram of a second embodiment of the invention.

【図3】本実施例をデューティ調整回路として使用した
ブロック図である。
FIG. 3 is a block diagram in which the present embodiment is used as a duty adjustment circuit.

【図4】図3における各部の波形図である。FIG. 4 is a waveform diagram of each part in FIG. 3;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1    電源端子 2    入力端子 3    出力端子 4,5    ROM出力端子 6,7    セレクタ回路 8,8a    PチャンネルMOSトランジスタ9,
9a    NチャンネルMOSトランジスタ10,1
0a,11,11a…ROM 12    バッファ回路 13    インバータ回路
1 Power supply terminal 2 Input terminal 3 Output terminal 4, 5 ROM output terminal 6, 7 Selector circuit 8, 8a P channel MOS transistor 9,
9a N-channel MOS transistor 10,1
0a, 11, 11a...ROM 12 Buffer circuit 13 Inverter circuit

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】  電気的又は光学的に何度でも書き換え
可能なROMを同一チップ内に設けた半導体集積回路に
おいて、電源端子と出力端子の間に挿入された複数のP
チャンネルMOSトランジスタの等価的なコンダクタン
ス及び接地端子と前記出力端子との間に挿入された複数
のNチャンネルMOSトランジスタの等価的なコンダク
タンスを予め設定された前記ROMからの出力信号によ
り任意に変化させることを特徴とするバッファ回路。
Claim 1: In a semiconductor integrated circuit in which a ROM that can be electrically or optically rewritten any number of times is provided in the same chip, a plurality of P
Arbitrarily changing the equivalent conductance of a channel MOS transistor and the equivalent conductance of a plurality of N-channel MOS transistors inserted between a ground terminal and the output terminal by a preset output signal from the ROM. A buffer circuit featuring:
JP3088923A 1991-04-20 1991-04-20 Buffer circuit Pending JPH04321320A (en)

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JP3088923A JPH04321320A (en) 1991-04-20 1991-04-20 Buffer circuit

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JP3088923A JPH04321320A (en) 1991-04-20 1991-04-20 Buffer circuit

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JP (1) JPH04321320A (en)

Cited By (8)

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