JPH04277613A - フォトレジスト現像装置 - Google Patents

フォトレジスト現像装置

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Publication number
JPH04277613A
JPH04277613A JP3966791A JP3966791A JPH04277613A JP H04277613 A JPH04277613 A JP H04277613A JP 3966791 A JP3966791 A JP 3966791A JP 3966791 A JP3966791 A JP 3966791A JP H04277613 A JPH04277613 A JP H04277613A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
photoresist
cup
chuck
semiconductor substrate
Prior art date
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Pending
Application number
JP3966791A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshiro Itani
俊郎 井谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP3966791A priority Critical patent/JPH04277613A/ja
Publication of JPH04277613A publication Critical patent/JPH04277613A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Landscapes

  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体集積回路装置の
製造における露光された半導体基板(以下ウェハーと呼
ぶ)上のフォトレジストを現像するフォトレジスト現像
装置に関する。
【0002】
【従来の技術】図2は従来のフォトレジスト現像装置の
一例における概略を示す図である。
【0003】従来、この種のフォトレジスト現像装置は
、図2に示すように、ウェーハ7を保持するチャック4
と、チャック4を回転するスピンモータ5と、ウェーハ
7に現像液を滴下するノズル8と、ウェーハ7の周囲を
囲む側壁が底部より伸びるカップ1aとで構成されてい
る。またカップ1aには、その底部には排液を排出する
排液孔6と現像時に発生するガスを排気する排気孔3が
設けられている。
【0004】次に、このフォトレジスト現像装置の動作
を説明する。まず、ウェーハ7をチャック4に載置する
。次に、スピンモータ5によりチャック4を回転させる
。次に、回転しているウェーハ7にノズル8より現像液
を滴下する。滴下された現像液は遠心力に、ウェーハ7
面内に均一に行き渡る。このことによりウェーハ面のフ
ォトレジストは現像され、パターンとして形成される。 一方、現像時に発生する排液は排液光6より、発生ガス
は排気孔6により装置外に排出されていた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のフォト
レジスト現像装置は、そのカップ内の排気を行う排気孔
をカップ底面に有していたため、フォトレジストを塗布
し、露光されたウェーハに対して現像液を吐出する際に
、カップ内の排気効率が悪く、特にウェーハ表面近傍の
排気が弱くなり、余剰な現像液がミスト状になりカップ
内に充満し、ウェーハ上に付着するという欠点がある。 ウェーハ上に付着したミストはパターン形成時に欠陥と
なり、特に微細パターン形成に対しては致命的である。
【0006】本発の目的は、かかる問題を解消するフォ
トレジスト現像装置を提供することである。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明のフォトレジスト
現像装置は、半導体基板にフォトレジストを塗布し、所
定の設計パターンを描いたマスクまたはレチクルを通し
て露光し、前記フォトレジストを現像するフォトレジス
ト現像装置おいて、前記半導体基板を保持し、回転する
チャックと、このチャックに載置される前記半導体基板
の周囲を囲う側壁を有するとともにその側壁に前記半導
体基板面に対して垂直に排気孔が形成されるカップとを
備えている。
【0008】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。
【0009】図1は本発明の一実施例におけるフォトレ
ジスト現像装置の概略を示す図である。このフォトレジ
スト現像装置は、図1に示すように、ウェーハ7の周囲
を囲むカップの側壁2aにウェーハ7面に対して排気孔
2を設けたことである。それ以外は従来と同じである。
【0010】このフォトレジスト現像装置を用いて、フ
ォトレジストに現像液を吐出し現像した場合、そのカッ
プ1内の排気を行う排気孔2がカップ1側面、すなわち
ウェーハ7の側近に配置されているため、回転によって
飛散する排液及びガスを直接吸引し、カップ1内の排気
孔率が良く、特にウェーハ7表面近傍の排気を強くする
ことができ、余剰な現像液がミスト状になりカップ内に
充満しウェーハ上に付着するということはなくなる。
【0011】また、図面には示さないが、排気孔2とは
別に排気孔をカップ1の底部に設ければ、さらに排気孔
率が良くなる。
【0012】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、そのカッ
プ内の排気を行う排気孔をウェーハ面に対して垂直方向
に伸びるカップ側面に設けることによって現像液を吐出
し現像する際に発生する排気余剰な現像液がミスト状に
なりカップ内に充満するガスを排気抵抗を受けずに効率
良く排気出来るので、ミストによるパターン形成時の欠
陥もなくなり、微細パターンを再現性よく形成すること
ができる、フォトレジスト現像装置が得られるという効
果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のフォトレジスト現像装置の一実施例に
おける概略を示ず図である。
【図2】従来のフォトレジスト現像装置の一例における
概略を示す図である。
【符号の説明】
1,1a    カップ 2,3    排気孔 2a    側壁 4    チャック 5    スピンモータ 6    排気孔 7    ウェーハ 8    ノズル

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  半導体基板にフォトレジストを塗布し
    、所定の設計パターンを描いたマスクまたはレチクルを
    通して露光し、前記フォトレジストを現像するフォトレ
    ジスト現像装置おいて、前記半導体基板を保持し、回転
    するチャックと、このチャックに載置される前記半導体
    基板の周囲を囲う側壁を有するとともにその側壁に前記
    半導体基板面に対して垂直に排気孔が形成されるカップ
    とを備えることを特徴とするフォトレジスト現像装置。
JP3966791A 1991-03-06 1991-03-06 フォトレジスト現像装置 Pending JPH04277613A (ja)

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JPH04277613A true JPH04277613A (ja) 1992-10-02

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