JPH04184208A - Thickness measuring apparatus - Google Patents

Thickness measuring apparatus

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Publication number
JPH04184208A
JPH04184208A JP31484690A JP31484690A JPH04184208A JP H04184208 A JPH04184208 A JP H04184208A JP 31484690 A JP31484690 A JP 31484690A JP 31484690 A JP31484690 A JP 31484690A JP H04184208 A JPH04184208 A JP H04184208A
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JP
Japan
Prior art keywords
axis
moving device
axis moving
attached
measuring
Prior art date
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Pending
Application number
JP31484690A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoshinori Hasegawa
可賀 長谷川
Masahiko Ando
正彦 安藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Takeda Tokyo Process Service Co Ltd
Original Assignee
Tokyo Process Service Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Process Service Co Ltd filed Critical Tokyo Process Service Co Ltd
Priority to JP31484690A priority Critical patent/JPH04184208A/en
Publication of JPH04184208A publication Critical patent/JPH04184208A/en
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Abstract

PURPOSE:To prevent damage to an object to be measured by non-contact measurement by detecting a focusing point taking in an image of a measuring microscope with a CCD camera to read a Z axis linear scale at a focused position. CONSTITUTION:A Z axis moving device Z is made up of an upright Z axis fixing rail with a lower end of an X axis body fixed thereon, a Z shaft 70 which moves sliding vertically along the Z axis fixing rail and a Z axis linear scale 71 to measure a moving value of the Z shaft 70. A thickness measuring device 75 detects a focusing point utilizing a value (contrast) of a high frequency component contained in a video signal of an object to be measured taken in with a CCD color camera 23 through a measuring microscope 22 varies with the quantity of light in focus and a zero resetting is made on the scale 71 of the device Z at a focused position. Then, the scale 71 is read at the focused position obtained by refocusing made after the movement of at least one or both of a Y axis moving device Y and the X axis moving device X.

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 本発明はプリント基板のパターン等の厚みを非接触で測
定する厚み測定装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION "Field of Industrial Application" The present invention relates to a thickness measuring device that non-contactly measures the thickness of a pattern or the like on a printed circuit board.

「従来の技術」 従来、プリント基板のパターン等の厚みの測定は、接触
子をパターンに当接させるダイヤルゲージ等を用いて行
なっている。
"Prior Art" Conventionally, the thickness of a pattern on a printed circuit board has been measured using a dial gauge or the like that brings a contact into contact with the pattern.

「本発明が解決しようとする課題J 従来のダイヤルゲージ等を用いての厚みの測定ではパタ
ーン等に接触子が接触し、パターン等にキズを付けたり
、損傷させたりするという欠点があった。
``Problem to be Solved by the Present Invention J'' Conventional thickness measurement using a dial gauge or the like had the drawback that the contact came into contact with the pattern, etc., causing scratches or damage to the pattern, etc.

本発明は以上のような従来の欠点に鑑み、測定物に接触
することなく厚みを測定して、測定物にキズを付けたり
、損傷させたりするのを確実に防止することのできる厚
み測定装置を提供することを目的としている。
In view of the above-mentioned conventional drawbacks, the present invention provides a thickness measuring device that can measure the thickness without touching the object to be measured and reliably prevent scratches or damage to the object to be measured. is intended to provide.

「課題を達成するための手段」 上記目的を達成するために、本発明は機枠に取付けられ
た測定物が支持されるテーブルと、このテーブル上を前
後方向に移動するX軸移動装置と、このX軸移動装置に
取付けられた前記テーブル上を左右方向に移動するX軸
移動装置と、このX軸移動装置に取付けられた前記テー
ブル上を上下方向に移動するZ軸リニアスケールを備え
るZ軸移動装置と、このZ軸移動装置に取付けられた前
記テーブル上の測定物を測定することのできる測定顕微
鏡と、この測定顕微鏡に取付けられた該測定顕微鏡の画
像を取込むCCDカメラと、このCCDカメラで取込ん
だ映像信号に含まれている高周波成分の聞がフォーカス
の光量に応じて変化することを利用して合焦点を検出し
、焦点の合った位置で前記2軸移動装置のZ軸リニアス
ケールのゼロリセットを行ない、前記Y軸移動装置、X
軸移動装置の少なくとも一方あるいは両方の移動後の再
度の焦点合わせによって焦点の合った位置で前記Z軸リ
ニアスケールを読取る厚み測定器とで厚み測定装置を構
成している。
"Means for Achieving the Object" In order to achieve the above object, the present invention includes a table on which a measurement object attached to a machine frame is supported, an X-axis moving device that moves on the table in the front and back direction, A Z-axis comprising: an X-axis moving device that moves horizontally on the table attached to the X-axis moving device; and a Z-axis linear scale that moves vertically on the table attached to the X-axis moving device. a moving device; a measuring microscope attached to the Z-axis moving device capable of measuring the object to be measured on the table; a CCD camera attached to the measuring microscope that captures an image of the measuring microscope; The in-focus point is detected by utilizing the fact that the frequency of high-frequency components contained in the video signal captured by the camera changes depending on the amount of light at the focus, and the Z-axis of the two-axis moving device is detected at the in-focus position. Perform zero reset of the linear scale, move the Y-axis moving device,
A thickness measuring device is constituted by a thickness measuring device that reads the Z-axis linear scale at a focused position by refocusing after moving at least one or both of the axis moving devices.

「作 用」 上記のように構成された厚み測定装置は、テーブル上に
支持させた測定物の測定したい厚みの一方の位置を測定
できるように測定顕微鏡を位置させ、CCDカメラで焦
点を合わせると、Z軸移動装置のZ軸リニアスケールの
ゼロリセットが行なわれる。
``Function'' The thickness measuring device configured as described above positions the measuring microscope so that it can measure one position of the thickness of the object to be measured supported on the table, and focuses it with the CCD camera. , the Z-axis linear scale of the Z-axis moving device is reset to zero.

次にX軸移動装置、X軸移動装置の少なくともいずれか
一方を作動させて移動させ、測定したい厚みの他方の位
置を測定できるように測定顕微鏡を位置させ、CCDカ
メラで焦点が合った位置で2軸リニアスケールを読取る
ことにより、厚8寸法が測定できる。
Next, operate and move at least one of the X-axis moving device and the X-axis moving device, position the measuring microscope so that it can measure the other position of the thickness you want to measure, and place it at the position where the CCD camera focuses. By reading the two-axis linear scale, eight thickness dimensions can be measured.

「本発明の実施例」 以下、図面に示す実施例により、本発明の詳細な説明す
る。
"Embodiments of the present invention" The present invention will be described in detail below with reference to embodiments shown in the drawings.

第1図ないし第18図の実施例において、1は底面四隅
部にキャスター2.2.2.2およびレベル調整用ジヤ
ツキ3.3.3.3が取付けられた機枠である。
In the embodiment shown in FIGS. 1 to 18, reference numeral 1 denotes a machine frame to which casters 2.2.2.2 and level adjustment jacks 3.3.3.3 are attached to the four corners of the bottom surface.

4.5は前記機枠1の両端部の上部に固定されたテーブ
ルで、このテーブル4.5間にはライトテーブル式透過
照明を内蔵した側面ガラステーブル6が取付けられてい
る。
Reference numerals 4.5 are tables fixed to the upper portions of both ends of the machine frame 1, and a side glass table 6 having built-in light table-type transmitted illumination is installed between the tables 4.5.

Yは前記ガラステーブル6上を前後方向に移動するX軸
移動装置で、このX軸移動装置はYは前記テーブル4上
に固定された高精度Y軸メイン固定レール7と、前記テ
ーブル5上に固定されたY軸リブ固定レール8と、前記
Y軸メイン固定レール7に沿って前後方向にスライド移
動するY軸9と、このY軸9の移動量を測定するY軸リ
ニアスケール67とから構成されている。
Y is an X-axis moving device that moves back and forth on the glass table 6; Y is a high-precision Y-axis main fixed rail 7 fixed on the table 4; Consisting of a fixed Y-axis rib fixing rail 8, a Y-axis 9 that slides in the front-rear direction along the Y-axis main fixing rail 7, and a Y-axis linear scale 67 that measures the amount of movement of this Y-axis 9. has been done.

前記Y軸9は第4図および第5図に示すように前記Y軸
メイン固定レール7に沿って前後方向にスライド移動す
るY軸本体10と、前記Y軸メイン固定レール7の一端
部に固定されたY軸サーボモーター11と、このY軸サ
ーボモーター11の正逆回転によって前記Y軸本体10
を前後方向にスライド移動させるY軸ボール軸12とで
構成されている。
As shown in FIGS. 4 and 5, the Y-axis 9 has a Y-axis main body 10 that slides in the front-rear direction along the Y-axis main fixed rail 7, and is fixed to one end of the Y-axis main fixed rail 7. The Y-axis servo motor 11 and the Y-axis main body 10 are rotated in forward and reverse directions.
and a Y-axis ball shaft 12 that slides in the front-back direction.

Xは前記Y軸移動装置Yに取付けられた前記ガラステー
ブル6上を左右方向に移動するX軸移動装置で、このX
軸移動装fiXは前記Y軸9に一端部が固定され、他端
部が前記Y軸すブ固定レール8にスライド可能に取付け
られた高粘度X軸固定レール13と、前記X軸固定レー
ル13に沿って左右方向にスライド移動するX軸14と
、このX軸14の移動量を測定するX軸リニアスケール
68とから構成されている。
X is an X-axis moving device that moves in the left-right direction on the glass table 6 attached to the Y-axis moving device Y;
The axis moving device fiX includes a high-viscosity X-axis fixed rail 13 whose one end is fixed to the Y-axis 9 and whose other end is slidably attached to the Y-axis sub-fixed rail 8, and the X-axis fixed rail 13. It consists of an X-axis 14 that slides in the left-right direction along the X-axis, and an X-axis linear scale 68 that measures the amount of movement of the X-axis 14.

前記X軸14は第6図および第7図に示すように前記X
軸固定レール13に沿って左右方向にスライド移動する
X軸本体15と、前&l!X軸固定レール13の一端部
に固定されたX軸サーボモーター16と、このX軸サー
ボモーター16の正逆回転によって前記X軸本体15を
左右方向にスライド移動させるX輪ボール軸17とから
構成されている。
As shown in FIGS. 6 and 7, the X axis 14 is
The X-axis main body 15 slides left and right along the shaft fixing rail 13, and the front &l! Consists of an X-axis servo motor 16 fixed to one end of the X-axis fixed rail 13, and an X-wheel ball shaft 17 that slides the X-axis main body 15 in the left and right direction by forward and reverse rotation of the X-axis servo motor 16. has been done.

Zは前記X軸移動装置Xに取付けられた前記ガラステー
ブル6上を上下方向に移動するZ軸移動装置で、このZ
軸移動装置Zは前記X軸本体15に下端部が固定された
立設状のZ軸固定レール69と、このZ軸固定レール6
9に沿って上下方向にスライド移動するZ軸70と、こ
の2軸70の移動量を測定するZ軸リニアスケール71
とから構成されている。
Z is a Z-axis moving device that moves vertically on the glass table 6 attached to the X-axis moving device
The axis moving device Z includes an upright Z-axis fixed rail 69 whose lower end is fixed to the X-axis main body 15, and this Z-axis fixed rail 6.
9, and a Z-axis linear scale 71 that measures the amount of movement of these two axes 70.
It is composed of.

前記2軸10は第8図および第9図に示すように前記Z
軸固定レール69に沿って上下方向にスライド移動する
Z軸本体72と、前記Z軸本体72に固定されたZ軸サ
ーボモーター73と、このZ軸サーボモーター73の正
逆回転によって前記Z軸本体72を上下方向にスライド
移動させるZ軸ボール軸74とから構成されている。
The two axes 10 are connected to the Z axis as shown in FIGS. 8 and 9.
A Z-axis main body 72 that slides vertically along a shaft fixing rail 69, a Z-axis servo motor 73 fixed to the Z-axis main body 72, and a Z-axis main body 72 that rotates in the forward and reverse directions of the Z-axis servo motor 73. 72 and a Z-axis ball shaft 74 that slides the shaft 72 in the vertical direction.

22は前記Z軸移動装eZの7軸本体72の上部に取付
けら・れた高解像測定顕微鏡あるいは高倍率ズーム顕微
鏡等の測定顕微鏡である。
Reference numeral 22 denotes a measuring microscope such as a high-resolution measuring microscope or a high-magnification zoom microscope attached to the upper part of the 7-axis main body 72 of the Z-axis moving device eZ.

23は前記測定顕微#R22に取付けられた該測定顕微
ti22の画像を取込むCCDカメラである。
23 is a CCD camera that captures an image of the measurement microscope ti22 attached to the measurement microscope #R22.

18は前記機枠1の後方側に配置された自立型モニター
台で、この自立型モニター台18上にはカラーモニター
テレビ19と、Y軸の移動量、X軸の移動量、Z軸の移
動量を表示することのできるデジタルカウンター20.
20A、20Bが備えられたデイスプレー21が配置さ
れている。
Reference numeral 18 denotes a free-standing monitor stand placed on the rear side of the machine frame 1. On this stand-alone monitor stand 18, there is a color monitor television 19, and the amount of movement on the Y axis, the amount of movement on the X axis, and the movement on the Z axis. Digital counter that can display the amount 20.
A display 21 equipped with 20A and 20B is arranged.

75は厚み測定器で、この厚み測定器75は前記測定顕
微鏡22を介してCCDカメラ23で取込んだ映像信号
に含まれている高周波成分の量(コントラスト)がフォ
ーカスの光量に応じて変化することを利用して合焦点を
検出し、焦点の合った位置で前記Z軸移動装置iZのZ
軸リニアスケール71のゼロリセットを行ない、前記Y
軸移動装置Y、X軸移動@Mxの少なくとも一方あるい
は両方の移動後の再度の焦点合わせによって焦点の合っ
た位置で前記Z軸リニアスケール71を読取るものであ
る。
Reference numeral 75 denotes a thickness measuring device, and in this thickness measuring device 75, the amount of high frequency components (contrast) included in the video signal captured by the CCD camera 23 via the measuring microscope 22 changes depending on the amount of light in focus. The in-focus point is detected by utilizing this fact, and the Z axis of the Z-axis moving device iZ is moved at the in-focus position.
The axis linear scale 71 is reset to zero, and the Y
The Z-axis linear scale 71 is read at the focused position by refocusing after the movement of at least one or both of the axis moving device Y and the X-axis movement @Mx.

24は前記測定ガラステーブル6より前方に突出するよ
うに前記機枠1に固定された操作盤で、この操作124
にはオートホワイトバランスが内蔵された前記CCDカ
ラーカメラ23のコントローラー25と、メイン電源の
ON、OFF、前記測定ガラステーブル6のライトコン
トロール26、前記測定順111122のピントや倍率
の調整を行なう本体操作パネル27と、二重内および井
ゲタの実、点線を前記カラーモニターテレビ19に映し
出すデジタル式電子ラインのコントローラー28と、前
記デジタルカウンター20からの機械座標値を受けてア
ライメント設定や各種のデータを処理する三次元データ
処理袋u29と、はぼ中央部の左右部位にそれぞれ正逆
回転されるX軸粗動ノブ30およびY軸粗動ノブ31と
、このX軸粗動ノブ30およびY軸粗動ノブ31の中心
部にそれぞれ回転可能に取付けられたX軸微動ノブ32
およびY軸微動ノブ33とが設置されている。
24 is an operation panel fixed to the machine frame 1 so as to protrude forward from the measurement glass table 6;
includes a controller 25 for the CCD color camera 23 with built-in auto white balance, a main unit operation for turning the main power on and off, a light control 26 for the measurement glass table 6, and adjusting the focus and magnification of the measurement order 111122. A panel 27, a digital electronic line controller 28 that displays the dotted lines on the color monitor TV 19, and a digital electronic line controller 28 that receives mechanical coordinate values from the digital counter 20 to perform alignment settings and various data. The three-dimensional data processing bag u29 to be processed, the X-axis coarse movement knob 30 and the Y-axis coarse movement knob 31 that are rotated forward and backward, respectively, on the left and right parts of the center of the body, and the X-axis coarse movement knob 30 and Y-axis coarse movement knob 31 X-axis fine adjustment knobs 32 rotatably attached to the center of each adjustment knob 31
and a Y-axis fine adjustment knob 33 are installed.

前記X軸粗動ノブ30は第10図ないし第14図に示す
ように前記操作盤24のパネル24aに回動可能に取付
けられた筒状のX軸粗動ノブ本体34と、このX軸粗動
ノブ本体34の下面に複数本のボルト35で固定された
右側に右側カム36、左側に左側カム37が形成された
カム38と、このカム38を常時0点位置に付勢する一
端が該カム38に取付けられ、他端が前記パネル24a
に固定された付勢スプリング39と、前記X軸粗動ノブ
本体34を約30°石側に回動させるとON状態となり
、前記X軸サーボモーター16にX軸パルス発信器40
より1秒間に1万パルスの信号を出し、前記X軸本体1
5を右側に10m移動させる右低速マイクロスイッチ4
1と、前記X軸粗動ノブ本体34を約50°右側に回動
させるとON状態となり、前記X軸サーボモーター16
にX軸パルス発信器40より1秒間に5万パルスの信号
を出し、前記X軸本体15を右側に50厘移動させる右
中速マイクロスイッチ42と、前記X軸粗動ノブ本体3
4を約70’右側に回動させるとON状態となり、前記
X軸す、−ホモ−ター16にX軸パルス発信器40より
1秒間に10万パルスの信号を出し、前記X軸本体15
を右側に100jlII移動させる右高速マイクロスイ
ッチ43と、前記X軸粗動ノブ本体34を約30゜左側
に回動させるとON状態となり、前記X軸サーボモータ
ー16にX軸パルス発信器40より1秒間に1万パルス
の信号を出し、前記X軸本体15を左側に10履移動さ
せる左低速マイクロスイッチ44と、前記X軸粗動ノブ
本体34を約50’左側に回動させるとON状態となり
、前記X軸サーボモーター16にX軸パルス発信器40
より1秒間に5万パルスの信号を出し、前記X軸本体1
5を左側に50.移動させる左中速マイクロスイッチ4
5と、前記X軸粗動ノブ本体34を約70°左側に回動
させるとON状態となり、前記X軸サーボモーター16
にX軸パルス発信器40より1秒間に10万パルスの信
号を出し、前記X軸本体15を左側に100 #I移動
させる左高速マイクロスイッチ46とから構成されてい
る。
As shown in FIGS. 10 to 14, the X-axis coarse adjustment knob 30 includes a cylindrical X-axis coarse adjustment knob body 34 rotatably attached to the panel 24a of the operation panel 24, and a A cam 38 is fixed to the lower surface of the moving knob body 34 with a plurality of bolts 35 and has a right cam 36 on the right side and a left cam 37 on the left side, and one end that always urges the cam 38 to the zero point position is attached. It is attached to the cam 38, and the other end is attached to the panel 24a.
When the biasing spring 39 fixed to the X-axis coarse adjustment knob body 34 is rotated approximately 30 degrees toward the stone side, the ON state is established, and the X-axis pulse transmitter 40 is connected to the X-axis servo motor 16.
A signal of 10,000 pulses per second is output from the X-axis main body 1.
Right low speed micro switch 4 that moves 5 10m to the right side
1, when the X-axis coarse adjustment knob body 34 is turned to the right by approximately 50 degrees, it becomes ON, and the X-axis servo motor 16 is turned on.
a right medium-speed microswitch 42 that outputs a signal of 50,000 pulses per second from an X-axis pulse transmitter 40 and moves the X-axis main body 15 to the right by 50 degrees; and the X-axis coarse adjustment knob main body 3.
4 to the right about 70', it becomes ON, and the X-axis pulse transmitter 40 outputs a signal of 100,000 pulses per second to the X-axis homotor 16, and the X-axis main body 15
When the right high-speed microswitch 43 is moved to the right by 100 degrees and the X-axis rough adjustment knob body 34 is turned to the left by about 30 degrees, it becomes ON, and the X-axis pulse transmitter 40 causes the X-axis servo motor 16 to The left low-speed micro switch 44 outputs a signal of 10,000 pulses per second and moves the X-axis main body 15 to the left by 10 feet, and when the X-axis coarse movement knob main body 34 is rotated about 50' to the left, it becomes ON. , an X-axis pulse transmitter 40 is connected to the X-axis servo motor 16.
A signal of 50,000 pulses per second is output from the X-axis main body 1.
5 on the left side 50. Left medium speed micro switch to be moved 4
5, when the X-axis coarse adjustment knob main body 34 is turned to the left by about 70 degrees, it is turned on, and the X-axis servo motor 16 is turned on.
The X-axis pulse transmitter 40 outputs a signal of 100,000 pulses per second to move the X-axis main body 15 to the left by 100 #I.

前記X軸微動ノブ32は前記X軸粗動ノブ30のX軸粗
動ノブ本体34内に回転可能に取付けられたX軸回転摘
み47と、このX軸回転摘み47の右側への1回転で前
記X軸パルス発信器40が1000パルスの信号を出し
、前記X軸本体15を右側に11IR移動させることが
でき、左側への1回転で前記X軸パルス発信器40が1
000パルスの信号を出し、前記X軸本体15を左側に
1履移動させることができるように制御するX軸制御器
48とから構成されている。
The X-axis fine adjustment knob 32 has an X-axis rotation knob 47 rotatably attached to the X-axis coarse adjustment knob main body 34 of the X-axis coarse adjustment knob 30, and a rotation of the X-axis rotation knob 47 to the right. The X-axis pulse transmitter 40 outputs a signal of 1000 pulses, and the X-axis main body 15 can be moved to the right by 11IR, and one rotation to the left causes the X-axis pulse transmitter 40 to move 11IR.
The X-axis controller 48 outputs a signal of 000 pulses and controls the X-axis main body 15 so that it can be moved one foot to the left.

前記Y軸粗動ノブ31は第10図、第15図ないし第1
7図に示すように前記操作盤24のパネル24aに回動
可能に取付けられた筒状のY軸粗動ノブ本体49と、こ
のY軸粗動ノブ本体49の下面に複数本のボルト50で
固定された右側に右側カム51、左側に左側カム52が
形成されたカム53と、このカム53を常時O点位置に
付勢する一端が該カム53に取付けられ、他端が前記パ
ネル24aに固定された付勢スプリング54と、前記Y
軸粗動ノブ本体49を約30°右側に回動させるとON
状態となり、前記Y軸サーボモーター11にY軸パルス
発信器55より1秒間に1万パルスの信号を出し、前記
Y軸本体10を右側に10Im移動させる右低速マイク
ロスイッチ56と、前記Y軸粗動ノブ本体49を約50
°右側に回動させるとON状態となり、前記Y軸サーボ
モーター11にY軸パルス発信器55より1秒間に5万
パルスの信号を出し、前記Y軸本体10を右側に50a
m移動させる右中速マイクロスイッチ57と、前記Y軸
粗動ノブ本体49を約10°右側に回動させるとON状
態となり、前記Y軸サーボモーター11にY軸パルス発
信器55より1秒間に10万パルスの信号を出し、前記
Y軸本体10を右側に100 m移動させる右高速マイ
クロスイッチ58と、前記Y軸粗動ノブ本体49を約3
0°左側に回動させるとON状態となり、前記Y軸サー
ボモーター11にY軸パルス発信器55より1秒間に1
万パルスの信号を出し、前記Y軸本体10を左側に10
m+移動させる左低速マイクロスイッチ59と、前記Y
軸粗動ノブ本体49を約50°左側に回動させるとON
状態となり、前記Y軸サーボモーター11にY軸パルス
発信器55より1秒間に5万パルスの信号を出し、前記
Y軸本体10を左側に50m移動させる左中速マイクロ
スイッチ60と、前記Y軸粗動ノブ本体49を約70°
左側に回動させるとON状態となり、前記Y軸サーボモ
ーター11にY軸パルス発信器55より1秒間に10万
パルスの信号を出し、前記Y軸本体10を左側に100
 m移動させる左高速マイクロスイッチ61とから構成
されている。
The Y-axis coarse movement knob 31 is shown in FIGS.
As shown in FIG. 7, there is a cylindrical Y-axis coarse adjustment knob body 49 rotatably attached to the panel 24a of the operation panel 24, and a plurality of bolts 50 are attached to the lower surface of this Y-axis coarse adjustment knob body 49. A cam 53 having a fixed right side cam 51 and a left side cam 52 formed on the left side, one end that always urges this cam 53 to the O point position is attached to the cam 53, and the other end is attached to the panel 24a. The fixed biasing spring 54 and the Y
Turns on by rotating the shaft coarse adjustment knob body 49 approximately 30 degrees to the right.
state, the Y-axis pulse transmitter 55 outputs a signal of 10,000 pulses per second to the Y-axis servo motor 11, and the right low-speed microswitch 56 moves the Y-axis main body 10 to the right by 10 Im, and the Y-axis rough The moving knob body 49 is about 50
°When turned to the right, it becomes ON, and the Y-axis pulse transmitter 55 outputs a signal of 50,000 pulses per second to the Y-axis servo motor 11, causing the Y-axis main body 10 to move 50a to the right.
When the right medium-speed micro switch 57 is moved by m and the Y-axis rough adjustment knob body 49 is turned to the right by about 10 degrees, it becomes ON, and the Y-axis pulse generator 55 sends a signal to the Y-axis servo motor 11 for one second. A right high-speed microswitch 58 outputs a signal of 100,000 pulses and moves the Y-axis main body 10 to the right by 100 m, and the Y-axis coarse adjustment knob main body 49 is moved by about 300 m.
When it is rotated to the left by 0 degrees, it becomes ON, and the Y-axis pulse transmitter 55 outputs 1 pulse per second to the Y-axis servo motor 11.
A signal of 10,000 pulses is output, and the Y-axis main body 10 is moved to the left by 10,000 pulses.
m+ the left low-speed microswitch 59 to be moved, and the Y
Turns on by rotating the shaft coarse adjustment knob body 49 approximately 50 degrees to the left.
state, the Y-axis pulse transmitter 55 outputs a signal of 50,000 pulses per second to the Y-axis servo motor 11, and the left medium-speed microswitch 60 moves the Y-axis main body 10 to the left by 50 m. Coarse movement knob body 49 approximately 70°
When turned to the left, it becomes ON, and the Y-axis pulse transmitter 55 outputs a signal of 100,000 pulses per second to the Y-axis servo motor 11, causing the Y-axis main body 10 to move 100,000 pulses to the left.
It consists of a left high-speed microswitch 61 that moves m.

前&!Y軸微動ノブ33は前記Y軸粗動ノブ31のY軸
粗動ノブ本体49内に回転可能に取付けられたY軸回転
摘み62と、このY軸回転摘み62の右側への1回転で
前記Y軸パルス発信器55が1000パルスの信号を出
し、前記Y軸本体10を右側に1jwI移動させるごと
ができ、左側への1回転で前記Y軸パルス発信器55が
1000パルスの信号を出し、前記Y軸本体10を左側
に11m移動させることができるように制御するY軸制
御器63とから構成されている。
Before&! The Y-axis fine adjustment knob 33 has a Y-axis rotation knob 62 rotatably attached to the Y-axis coarse adjustment knob main body 49 of the Y-axis coarse adjustment knob 31, and one rotation of the Y-axis rotation knob 62 to the right. The Y-axis pulse transmitter 55 outputs a signal of 1000 pulses, and the Y-axis main body 10 can be moved 1jwI to the right every time, and the Y-axis pulse transmitter 55 outputs a signal of 1000 pulses for each rotation to the left. The Y-axis controller 63 controls the Y-axis main body 10 so that it can be moved 11 meters to the left.

上記構成のデジタル精密測長機は、X軸粗動ノブ30の
X軸粗動ノブ本体34を左右方向へ回動させることによ
り、X軸14を左右方向へ粗動させることができる。
The digital precision length measuring machine having the above configuration can coarsely move the X-axis 14 in the left-right direction by rotating the X-axis coarse-movement knob main body 34 of the X-axis coarse-movement knob 30 in the left-right direction.

また、X軸粗動ノブ本体34を回動する手を離すことに
より、付勢スプリング39によって自動的にX軸粗動ノ
ブ本体34が0点位置へ戻る。
Furthermore, by releasing the hand rotating the X-axis coarse adjustment knob body 34, the biasing spring 39 automatically returns the X-axis coarse adjustment knob body 34 to the zero point position.

また、X軸微動ノブ32の操作もX軸粗動ノブ本体34
を摘まんでいた指先で、該指先を目で確認することなく
、X軸微動ノブ32を摘まんで左右方向に回転させてX
軸14を左右方向に微動させることができる。
In addition, the X-axis fine adjustment knob 32 can also be operated using the X-axis coarse adjustment knob body 34.
With the fingertips that were pinching the
The shaft 14 can be moved slightly in the left and right direction.

また、Y軸相動ノブ本体49を回動させる手を離すこと
により、付勢スプリング54によって自動的にY軸粗動
ノブ本体49が0点位置へ戻る。
Furthermore, by releasing the hand that rotates the Y-axis relative movement knob body 49, the Y-axis coarse movement knob body 49 automatically returns to the zero point position by the biasing spring 54.

また、Y軸微動ノブ33の操作もY軸粗動ノブ本体49
を摘まんでいた指先で、該指先を目で確認することなく
Y軸微動ノブ33を摘まんで左右方向に回転させてY軸
9を前後方向に微動させることができる。
In addition, the Y-axis fine adjustment knob 33 can also be operated using the Y-axis coarse adjustment knob body 49.
The Y-axis fine movement knob 33 can be pinched and rotated in the left-right direction to slightly move the Y-axis 9 in the front-back direction without visually confirming the fingertip.

次に、測定ガラステーブル6上に支持させた測定物の厚
さ寸法を測定する場合、厚みの一方の位置を測定できる
ように測定顕微R22を位置させ、CCDカメラ23で
焦点を合わせると、Z軸移動装置ZのZ軸リニアスケー
ル67のゼロリセットが行なわれる。
Next, when measuring the thickness of the object supported on the measurement glass table 6, the measurement microscope R22 is positioned so that one position of the thickness can be measured, and the CCD camera 23 is focused. The Z-axis linear scale 67 of the axis moving device Z is reset to zero.

次にY軸移動装置Y、X軸移動vtmxの少なくともい
ずれか一方を作動させて移動させ、測定したい厚みの他
方の位置を測定できるように測定顕微M22を位置させ
、CCDカメラ23で焦点が合った位置でZ軸リニアス
ケール67を読取ることにより、厚さ寸法が測定できる
Next, operate and move at least one of the Y-axis moving device Y and the X-axis moving device VTMX, position the measuring microscope M22 so that it can measure the other position of the thickness to be measured, and focus it with the CCD camera 23. By reading the Z-axis linear scale 67 at this position, the thickness dimension can be measured.

なお、前記本発明の実施例ではY軸粗動ノブ本体49の
カム53を付勢スプリング54で常時0点位置に付勢す
るものについて説明したが、本発明はこれに限らず、第
18図に示すようにカム53に平坦部64を形成し、該
平坦部64に常時付勢スプリング−65・で付勢された
押し圧板66を設けてY軸粗動ノブ本体49を操作した
状態から離すと自動的にO点位置に停止できる構造を採
用してもよい。
In the embodiment of the present invention, the cam 53 of the Y-axis coarse adjustment knob body 49 is always urged to the 0-point position by the urging spring 54, but the present invention is not limited to this. As shown in the figure, a flat portion 64 is formed on the cam 53, and a pressing plate 66 that is constantly biased by a biasing spring 65 is provided on the flat portion 64 to release the Y-axis coarse adjustment knob body 49 from the operated state. A structure that can automatically stop at the O point position may also be adopted.

当然、X軸粗動ノブ本体34にも同様に上記構造が採用
できる。
Naturally, the above structure can be similarly adopted for the X-axis coarse movement knob main body 34.

「本発明の効果」 以上の説明から明らかなように、本発明にあっては次に
列挙する効果が得られる。
"Effects of the Present Invention" As is clear from the above description, the present invention provides the following effects.

(1)機枠に取付けられた測定物が支持されるテーブル
と、このテーブル上を前後方向に移動するY軸移動装置
と、このY軸移動装置に取付けられた前記テーブル上を
左右方向に移動するX軸移動装置と、このX軸移動装置
に取付けられた前記テーブル上を上下方向に移動する2
軸リニアスケールを備えるZ軸移動装置と、このZ軸移
動装置に取付けられた前記テーブル上の測定物を測定す
ることのできる測定顕微鏡と、この測定顕微鏡に取付け
られた該測定顕微鏡の画像を取込むCCDカメラと、こ
のCCDカメラで取込んだ映像信号に含まれている高周
波成分の量がフォーカスの光量に応じて変化することを
利用して合焦点を検出し、焦点の合った位置で前記Z軸
移動装置の2軸リニアスケールのゼロリセットを行ない
、前記Y軸郭!lJ装置、X軸移動装置の少なくとも一
方あるいは両方の移動後の再度の焦点合わせによって焦
点の合った位置で前記Z軸リニアスケールを読取る厚み
測定器とで構成されているので、プリント基板パターン
等の厚みを非接触で測定することができる。
(1) A table attached to the machine frame on which the object to be measured is supported, a Y-axis moving device that moves back and forth on this table, and a Y-axis moving device that moves left and right on the table attached to this Y-axis moving device. an X-axis moving device that moves in the vertical direction on the table attached to the X-axis moving device;
A Z-axis moving device equipped with an axis linear scale, a measuring microscope attached to the Z-axis moving device capable of measuring the object to be measured on the table, and an image of the measuring microscope attached to the measuring microscope. The in-focus point is detected by using a CCD camera that focuses on the camera and the amount of high-frequency components contained in the video signal captured by this CCD camera changes depending on the amount of light at the focus. Zero-reset the two-axis linear scale of the Z-axis moving device, and adjust the Y-axis! It consists of a thickness measuring device that reads the Z-axis linear scale at the focused position by refocusing after moving at least one or both of the LJ device and the Thickness can be measured without contact.

したがって、プリント基板パターン等を従来のように接
触子でキズを付けたり、a傷させたりするのを確実に防
止することができる。
Therefore, it is possible to reliably prevent printed circuit board patterns and the like from being scratched or scratched by contacts as in the conventional case.

(2)前記(1)によって、測定顕微鏡のピント合わせ
による焦点合わせを基準点と測定点とで行なうだけでよ
いので、容易に行なうことができる。
(2) According to (1) above, it is only necessary to focus the measuring microscope at the reference point and the measuring point, so it can be easily carried out.

(3)前記(1)によって、焦点を合わせる作業だけで
厚みを測定することができるので、熟練者でなくても正
確に厚みを測定することができる。
(3) According to (1) above, the thickness can be measured simply by focusing, so even non-experts can accurately measure the thickness.

(4)請求項2も前記(1)〜(3)と同様な効果が得
られる。
(4) Claim 2 also provides the same effects as in (1) to (3) above.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図および第2図は本発明の一実施例を示す正面図お
よび側面図、第3図は本発明の一実施例の概略ブロック
図、第4図および第5図はY軸の説明図、第6図および
第7図はX軸の説明図、第8図および第9図はZ軸の説
明図、第10図はX軸、Y軸の動作を示すブロック図、
第11図ないし第14図はX軸粗動ノブとX軸微動ノブ
との説明図、第15図ないし第17図はY軸粗動ノブと
Y軸微動ノブとの説明図、第18図はカムの異なる付勢
状態の説明図である。 1:機枠、      2:キャスター、3ニレベル調
整用ジヤツキ、 4:テーブル、    5:テーブル、6:測定ガラス
テーブル、 Y:Y軸移動装置、 7:Y軸メイン固定レール、 8:Y軸リブ固定レール、 9:Y軸、      10:Y軸本体、11:Y軸サ
ーボモーター、 12:Y軸ボール軸、  x:X軸移動装置、13:X
軸固定レール、 14:x軸、       15:X軸本体、16:x
軸サーボモーター、 17:x軸ボール軸、  18:自立型モニター台、1
9:モニターテレビ、 20:デシタルカウンター、2
1:デイスプレー、  22:測定顕微鏡、23:CC
Dカラーカメラ、 24:操作盤、     25:コントローラ、26:
ライトコントロール、 27:本体操作パネル、 28:コントローラ、29:
二次元データ処理装買、 30:’XX軸移動装置  31:Y軸粗動ノブ、32
:x軸微動ノブ、  33:Y軸微動ノブ、34:x軸
粗動ノブ本体、35:ボルト、36:右側カム、   
 37:左側カム、38:カム、      39:付
勢スプリング、40:x軸パルス発信器、 41:右低速マイクロスイッチ、 42:も中速マイクロスイッチ、 43:右高速マイクロスイッチ、 44:左低速マイクロスイッチ、 45:左中速マイクロスイッチ、 46:左高速マイクロスイッチ、 47:x軸回転績み、  48:x軸制御器、49:Y
軸粗動ノブ本体、50:ボルト、51:右側カム、  
  52:左側カム、53:カム、      54:
付勢スプリング、55:Y軸パルス発信器、 56:右低速マイクロスイッチ、 57:右中速マイクロスイッチ、 58:右高速マイクロスイッチ、 59:左低速マイクロスイッチ、 60:左中速マイクロスイッチ、 61:左高速マイクロスイッチ、 62:Y軸口転摘み、  63:Y軸制御器、64:平
坦部、     65:付勢スプリング、66:押し圧
板、    67:Y軸リニアスケール、68:X軸リ
ニアスケール、 Z:Z軸移動装置、  69:Z軸固定レール、70:
Z軸、      71:Z軸リニアスケール、72:
Z軸本体、    73:Z軸サーボモーター、74:
Z軸ボール軸、  75:厚み測定器。 特  許  出  願  人 東京プロセスサービス株式会社 第  4  図 す 第51il!! 第 6  図 −〇 鞍
1 and 2 are front and side views showing one embodiment of the present invention, FIG. 3 is a schematic block diagram of one embodiment of the present invention, and FIGS. 4 and 5 are Y-axis explanatory diagrams. , FIGS. 6 and 7 are explanatory diagrams of the X axis, FIGS. 8 and 9 are explanatory diagrams of the Z axis, and FIG. 10 is a block diagram showing the operations of the X and Y axes.
Figures 11 to 14 are explanatory diagrams of the X-axis coarse adjustment knob and the X-axis fine adjustment knob, Figures 15 to 17 are explanatory diagrams of the Y-axis coarse adjustment knob and the Y-axis fine adjustment knob, and Figure 18 is an explanatory diagram of the Y-axis coarse adjustment knob and the Y-axis fine adjustment knob. FIG. 6 is an explanatory diagram of different biasing states of the cam. 1: Machine frame, 2: Casters, 3 Double-level adjustment jacks, 4: Table, 5: Table, 6: Measuring glass table, Y: Y-axis moving device, 7: Y-axis main fixing rail, 8: Y-axis rib fixation Rail, 9: Y-axis, 10: Y-axis main body, 11: Y-axis servo motor, 12: Y-axis ball axis, x: X-axis moving device, 13: X
Axis fixing rail, 14: x-axis, 15: X-axis body, 16: x
Axis servo motor, 17: x-axis ball axis, 18: Freestanding monitor stand, 1
9: Monitor TV, 20: Digital counter, 2
1: Display, 22: Measuring microscope, 23: CC
D color camera, 24: Operation panel, 25: Controller, 26:
Light control, 27: Main unit operation panel, 28: Controller, 29:
Two-dimensional data processing equipment, 30: 'XX-axis moving device 31: Y-axis coarse movement knob, 32
: x-axis fine adjustment knob, 33: Y-axis fine adjustment knob, 34: x-axis coarse adjustment knob body, 35: bolt, 36: right cam,
37: Left cam, 38: Cam, 39: Biasing spring, 40: x-axis pulse transmitter, 41: Right low speed micro switch, 42: Medium speed micro switch, 43: Right high speed micro switch, 44: Left low speed micro switch Switch, 45: Left medium speed microswitch, 46: Left high speed microswitch, 47: x-axis rotation, 48: x-axis controller, 49: Y
Shaft coarse adjustment knob body, 50: Bolt, 51: Right cam,
52: Left cam, 53: Cam, 54:
Biasing spring, 55: Y-axis pulse transmitter, 56: Right low-speed microswitch, 57: Right medium-speed microswitch, 58: Right high-speed microswitch, 59: Left low-speed microswitch, 60: Left medium-speed microswitch, 61 : Left high-speed micro switch, 62: Y-axis rotation knob, 63: Y-axis controller, 64: Flat part, 65: Biasing spring, 66: Pressing plate, 67: Y-axis linear scale, 68: X-axis linear scale , Z: Z-axis moving device, 69: Z-axis fixed rail, 70:
Z axis, 71: Z axis linear scale, 72:
Z-axis main body, 73: Z-axis servo motor, 74:
Z-axis ball axis, 75: Thickness measuring device. Patent application: Tokyo Process Service Co., Ltd. No. 4, No. 51! ! Figure 6 – Saddle

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1)機枠に取付けられた測定物が支持されるテーブルと
、このテーブル上を前後方向に移動するY軸移動装置と
、このY軸移動装置に取付けられた前記テーブル上を左
右方向に移動するX軸移動装置と、このX軸移動装置に
取付けられた前記テーブル上を上下方向に移動するZ軸
リニアスケールを備えるZ軸移動装置と、このZ軸移動
装置に取付けられた前記テーブル上の測定物を測定する
ことのできる測定顕微鏡と、この測定顕微鏡に取付けら
れた該測定顕微鏡の画像を取込むCCDカメラと、この
CCDカメラで取込んだ映像信号に含まれている高周波
成分の量がフォーカスの光量に応じて変化することを利
用して合焦点を検出し、焦点の合った位置で前記Z軸移
動装置のZ軸リニアスケールのゼロリセットを行ない、
前記Y軸移動装置、X軸移動装置の少なくとも一方ある
いは両方の移動後の再度の焦点合わせによって焦点の合
った位置で前記Z軸リニアスケールを読取る厚み測定器
とを備えることを特徴とする厚み測定装置。 2)機枠に取付けられた測定物が支持されるテーブルと
、このテーブル上を前後方向に移動するY軸リニアスケ
ールを備えるY軸移動装置と、このY軸移動装置に取付
けられた前記テーブル上を左右方向に移動するX軸リニ
アスケールを備えるX軸移動装置と、このX軸移動装置
に取付けられた前記テーブル上を上下方向に移動するZ
軸リニアスケールを備えるZ軸移動装置と、このZ軸移
動装置に取付けられた前記テーブル上の測定物を測定す
ることのできる測定顕微鏡と、この測定顕微鏡に取付け
られた該測定顕微鏡の画像を取込むCCDカメラと、こ
のCCDカメラで取込んだ映像信号に含まれている高周
波成分の量がフォーカスの光量に応じて変化することを
利用して合焦点を検出し、焦点の合った位置で前記Z軸
移動装置のZ軸スケールのゼロリセットを行ない、前記
Y軸移動装置、X軸移動装置の少なくとも一方あるいは
両方の移動後の再度の焦点合わせによって焦点の合った
位置で前記Z軸スケールを読取る厚み測定器とを備える
ことを特徴とする厚み測定装置。
[Scope of Claims] 1) A table on which a measured object is supported, which is attached to a machine frame, a Y-axis moving device that moves back and forth on this table, and a top of the table attached to this Y-axis moving device. an X-axis moving device that moves the table in the left-right direction; a Z-axis moving device that includes a Z-axis linear scale that moves vertically on the table that is attached to the X-axis moving device; A measuring microscope capable of measuring the object on the table, a CCD camera attached to the measuring microscope that captures the image of the measuring microscope, and a video signal included in the image signal captured by the CCD camera. Detecting a focused point using the fact that the amount of high frequency components changes depending on the amount of light at the focus, and zero-resetting the Z-axis linear scale of the Z-axis moving device at the focused position;
A thickness measuring device that reads the Z-axis linear scale at a focused position by refocusing after moving at least one or both of the Y-axis moving device and the X-axis moving device. Device. 2) A table attached to the machine frame on which the object to be measured is supported, a Y-axis moving device including a Y-axis linear scale that moves back and forth on this table, and a top of the table attached to this Y-axis moving device. an X-axis moving device equipped with an X-axis linear scale that moves the scale horizontally, and a Z-axis moving device that moves vertically on the table attached to the X-axis moving device.
A Z-axis moving device equipped with an axis linear scale, a measuring microscope attached to the Z-axis moving device capable of measuring the object to be measured on the table, and an image of the measuring microscope attached to the measuring microscope. The in-focus point is detected by using a CCD camera that focuses on the camera and the amount of high-frequency components contained in the video signal captured by this CCD camera changes depending on the amount of light at the focus. The Z-axis scale of the Z-axis moving device is reset to zero, and the Z-axis scale is read at the focused position by refocusing after moving at least one or both of the Y-axis moving device and the X-axis moving device. A thickness measuring device comprising: a thickness measuring device.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6914643B1 (en) 1999-08-31 2005-07-05 Fujitsu Display Technologies Corporation Liquid crystal display

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6914643B1 (en) 1999-08-31 2005-07-05 Fujitsu Display Technologies Corporation Liquid crystal display

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