JPH0417648A - 耐熱性軟磁性薄膜 - Google Patents
耐熱性軟磁性薄膜Info
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- JPH0417648A JPH0417648A JP11865890A JP11865890A JPH0417648A JP H0417648 A JPH0417648 A JP H0417648A JP 11865890 A JP11865890 A JP 11865890A JP 11865890 A JP11865890 A JP 11865890A JP H0417648 A JPH0417648 A JP H0417648A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01F—MAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
- H01F10/00—Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure
- H01F10/08—Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure characterised by magnetic layers
- H01F10/10—Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure characterised by magnetic layers characterised by the composition
- H01F10/12—Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure characterised by magnetic layers characterised by the composition being metals or alloys
- H01F10/16—Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure characterised by magnetic layers characterised by the composition being metals or alloys containing cobalt
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Thin Magnetic Films (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は高飽和磁束密度、高透磁率、低磁歪定数を有し
、しかも優れた耐食性及び耐熱性を有するなど、優れた
特徴を有し、磁気記録用磁性材料、特に磁気ディスク装
置、VTRなどの磁気ヘッド用材料、あるいは薄膜トラ
ンス、薄膜インダクタ用の材料として好適に利用しうる
新規な耐熱性軟磁性薄膜に関するものである。
、しかも優れた耐食性及び耐熱性を有するなど、優れた
特徴を有し、磁気記録用磁性材料、特に磁気ディスク装
置、VTRなどの磁気ヘッド用材料、あるいは薄膜トラ
ンス、薄膜インダクタ用の材料として好適に利用しうる
新規な耐熱性軟磁性薄膜に関するものである。
従来の技術
近年、VTR,大容量のフロッピーディスク装置やハー
ドディスク装置などの磁気記録装置においては、記録信
号の高密度化や高周波数化や高信頼性化などが進められ
ている。これに伴い、磁気記録媒体においては、磁気波
長が短かくなることに基づく自己減磁を防ぐための高保
磁力化及びトラック幅が狭くなることに基づく出力低下
を防ぐための高飽和磁束密度化などが計られた結果、従
来の酸化物磁性体系のものに代わって、金属磁性体系の
メタルテープや蒸着テープが開発されている。
ドディスク装置などの磁気記録装置においては、記録信
号の高密度化や高周波数化や高信頼性化などが進められ
ている。これに伴い、磁気記録媒体においては、磁気波
長が短かくなることに基づく自己減磁を防ぐための高保
磁力化及びトラック幅が狭くなることに基づく出力低下
を防ぐための高飽和磁束密度化などが計られた結果、従
来の酸化物磁性体系のものに代わって、金属磁性体系の
メタルテープや蒸着テープが開発されている。
一方、この磁気記録媒体と一対になって用いられる記録
再生用磁気ヘッドに対しては、従来通り高透磁率である
ことに加えて、高保磁力化した磁気記録媒体を十分に磁
化できるように、ギャップ近傍の磁性材料の飽和磁束密
度が従来よりも大きいものが要望されるようになり、従
来のフェライトだけを用いたものに加えて、センダスト
やコバルト系非晶質合金薄膜をギャップ近傍に挿入した
いわゆるM I G(Metal In Gap)ヘッ
ドが開発されている。
再生用磁気ヘッドに対しては、従来通り高透磁率である
ことに加えて、高保磁力化した磁気記録媒体を十分に磁
化できるように、ギャップ近傍の磁性材料の飽和磁束密
度が従来よりも大きいものが要望されるようになり、従
来のフェライトだけを用いたものに加えて、センダスト
やコバルト系非晶質合金薄膜をギャップ近傍に挿入した
いわゆるM I G(Metal In Gap)ヘッ
ドが開発されている。
しかしながら、センダストでは飽和磁束密度は改善され
たといっても1O−11KGであり、高保磁力化した磁
気記録媒体(例えばHc= 15000eのメタルテー
プ)に対しては飽和記録することができない。
たといっても1O−11KGであり、高保磁力化した磁
気記録媒体(例えばHc= 15000eのメタルテー
プ)に対しては飽和記録することができない。
また、コバルト系非晶質合金では12KG程度の飽和磁
束密度を有するものが得られているが、熱的安定性に問
題があり、例えば磁気ヘッドに加工する時のガラスへの
溶着によるギャップ付けの工程等において制約が生じる
のを免れない。
束密度を有するものが得られているが、熱的安定性に問
題があり、例えば磁気ヘッドに加工する時のガラスへの
溶着によるギャップ付けの工程等において制約が生じる
のを免れない。
また、飽和磁束密度が15KG以上のFe−5i合金を
磁気ヘッドに用いることも提案されているが(例えば特
公昭61−8566号公報)、透磁率が低く、再生効率
が低下するなど軟磁気特性に問題があり、実用化される
には至っていない。
磁気ヘッドに用いることも提案されているが(例えば特
公昭61−8566号公報)、透磁率が低く、再生効率
が低下するなど軟磁気特性に問題があり、実用化される
には至っていない。
他方、磁気特性の良好なバランスを得るには、従来アル
ミニウムやケイ素の添加が必須とされており、例えばF
e −Co−Al2− Ge系耐熱性軟磁性薄膜も提案
されているが(特開昭62−78804号公報)、アル
ミニウム等の添加を要しないFe−Co−Ge系耐熱性
軟磁性薄膜についてはいまだ実用化されていないのが現
状である。
ミニウムやケイ素の添加が必須とされており、例えばF
e −Co−Al2− Ge系耐熱性軟磁性薄膜も提案
されているが(特開昭62−78804号公報)、アル
ミニウム等の添加を要しないFe−Co−Ge系耐熱性
軟磁性薄膜についてはいまだ実用化されていないのが現
状である。
発明が解決しようとする課題
本発明は、このような事情のもとで、高飽和磁束密度、
高透磁率を有し、磁歪定数が零付近にあり、軟磁気特性
、耐熱性に優れ、しかも耐食性に優れた耐熱性軟磁性薄
膜を提供することを目的としてなされたものである。
高透磁率を有し、磁歪定数が零付近にあり、軟磁気特性
、耐熱性に優れ、しかも耐食性に優れた耐熱性軟磁性薄
膜を提供することを目的としてなされたものである。
軟磁性薄膜を開発するために鋭意研究を重ねた結果、鉄
とコバルトとゲルマニウムとルテニウムとの所定組成の
耐熱性軟磁性薄膜がその目的に適合することを見出し、
この知見に基づいて本発明を完成するに至った。
とコバルトとゲルマニウムとルテニウムとの所定組成の
耐熱性軟磁性薄膜がその目的に適合することを見出し、
この知見に基づいて本発明を完成するに至った。
すなわち、本発明は、一般式
%式%
(式中、a、 x13’及び2は原子比を示す数であっ
て、それぞれ0.52≦a≦0.86.0.02≦X≦
0.30.0.10≦y≦0.25.0.02≦2≦0
.l01a+Z≧162、a+x+y+z=lの関係を
満たす範囲内で選ばれる) で表わされる組成を有する耐熱性軟磁性薄膜を提供する
ものである。
て、それぞれ0.52≦a≦0.86.0.02≦X≦
0.30.0.10≦y≦0.25.0.02≦2≦0
.l01a+Z≧162、a+x+y+z=lの関係を
満たす範囲内で選ばれる) で表わされる組成を有する耐熱性軟磁性薄膜を提供する
ものである。
以下、本発明の詳細な説明する。
本発明の耐熱性軟磁性薄膜における構成成分の鉄の割合
は、原子比基準で0.52ないし0.86の範囲内で選
ばれる。
は、原子比基準で0.52ないし0.86の範囲内で選
ばれる。
また、本発明の耐熱性軟磁性薄膜における他の構成成分
のうち、コバルトの割合は、原子比基準で0.02ない
し0.30の範囲内で選ばれ、ゲルマニウムの割合は、
原子比基準で0.lOないし0.25の範囲内で選ばれ
、ルテニウムの割合は原子比基準で0.02ないし0.
10の範囲内で選ばれる。
のうち、コバルトの割合は、原子比基準で0.02ない
し0.30の範囲内で選ばれ、ゲルマニウムの割合は、
原子比基準で0.lOないし0.25の範囲内で選ばれ
、ルテニウムの割合は原子比基準で0.02ないし0.
10の範囲内で選ばれる。
このような本発明の組成の範囲外では、保磁力が大きく
なり、軟磁性が得られなくなる。また、鉄とルテニウム
の合計の前記割合が0.62未満では、飽和磁束密度が
低下し、IIKG以下となるし、また、コバルトの前記
割合が0.02未満では磁歪定数が側に大きくなり、ゲ
ルマニウムの前記割合が0.10未満では磁歪定数が+
側に大きくなり、ルテニウムの前記割合が帆02未満で
は耐食性の低下と軟磁性の低下を免れない。
なり、軟磁性が得られなくなる。また、鉄とルテニウム
の合計の前記割合が0.62未満では、飽和磁束密度が
低下し、IIKG以下となるし、また、コバルトの前記
割合が0.02未満では磁歪定数が側に大きくなり、ゲ
ルマニウムの前記割合が0.10未満では磁歪定数が+
側に大きくなり、ルテニウムの前記割合が帆02未満で
は耐食性の低下と軟磁性の低下を免れない。
本発明の耐熱性軟磁性薄膜に用いられる基板については
特に制限はなく、従来磁気ヘッド用などの磁性薄膜に慣
用されているもの、例えばフェライト、結晶化ガラス、
チタン酸カルシウム系のものから成る基板を用いること
ができるし、一般のガラスから成る基板を用いることも
できる。
特に制限はなく、従来磁気ヘッド用などの磁性薄膜に慣
用されているもの、例えばフェライト、結晶化ガラス、
チタン酸カルシウム系のものから成る基板を用いること
ができるし、一般のガラスから成る基板を用いることも
できる。
本発明の耐熱性軟磁性薄膜の厚さは、使用分野に応じ適
宜選択されるが、通常経済性や作業性などの点から、0
.1〜lOμm1好ましくは0.3〜3μm1より好ま
しくは0.5〜2μmの範囲内で選ばれる。
宜選択されるが、通常経済性や作業性などの点から、0
.1〜lOμm1好ましくは0.3〜3μm1より好ま
しくは0.5〜2μmの範囲内で選ばれる。
本発明において、耐熱性軟磁性薄膜を形成させる方法に
ついては特に制限はなく、通常薄膜の形成に用いられて
いる方法、例えば真空蒸着法、スパッタリング法、イオ
ンブレーティング法、CVD法などの中から任意の方法
を選択して用いることができる。また、ゲルマニウムや
コバルトの前記割合は、例えば蒸着原料の組成、蒸着真
空度、蒸着速度などを選択することにより制御すること
ができる。
ついては特に制限はなく、通常薄膜の形成に用いられて
いる方法、例えば真空蒸着法、スパッタリング法、イオ
ンブレーティング法、CVD法などの中から任意の方法
を選択して用いることができる。また、ゲルマニウムや
コバルトの前記割合は、例えば蒸着原料の組成、蒸着真
空度、蒸着速度などを選択することにより制御すること
ができる。
本発明の耐熱性軟磁性薄膜の好適な製造法としては、前
記のような薄膜を成膜したのち、さらに好ましくは窒素
等の不活性ガス雰囲気中、あるいは真空中で500°C
1好ましくは55090以上、より好ましくは550〜
750°Cで所定時間、好ましくは0.2〜5時間熱処
理するアニーリングを行うのがよい。
記のような薄膜を成膜したのち、さらに好ましくは窒素
等の不活性ガス雰囲気中、あるいは真空中で500°C
1好ましくは55090以上、より好ましくは550〜
750°Cで所定時間、好ましくは0.2〜5時間熱処
理するアニーリングを行うのがよい。
これにより、軟磁気特性が改善され、かつ磁歪定数もほ
ぼ零にすることができる。
ぼ零にすることができる。
発明の効果
本発明の耐熱性軟磁性薄膜は、高飽和磁束密度、高透磁
率を有し、磁歪定数が零付近にあり、軟磁気特性、耐熱
安定性に優れ、しかも耐食性に優れるので、磁気記録用
磁性材料、特に磁気ディスク装置、VTRなどの磁気ヘ
ッド用材料、特にガラス溶着等の高温プロセスを必要と
する磁気ヘッド用材料として好適に用いられる。
率を有し、磁歪定数が零付近にあり、軟磁気特性、耐熱
安定性に優れ、しかも耐食性に優れるので、磁気記録用
磁性材料、特に磁気ディスク装置、VTRなどの磁気ヘ
ッド用材料、特にガラス溶着等の高温プロセスを必要と
する磁気ヘッド用材料として好適に用いられる。
実施例
次に、実施例により本発明をさらに詳細に説明するが、
本発明はこれらの例によってなんら限定されるものでは
ない。
本発明はこれらの例によってなんら限定されるものでは
ない。
実施例1〜6、比較例
純鉄ターゲット上にコバルトとゲルマニウムとルテニウ
ムのペレットを載せた複合ターゲットに対し、10hm
径のパケット型イオンガンをもつイオンビームスパッタ
装置にて、3000e(エルステッド)の磁場中でアル
ゴンイオンを加速してターゲットに当て、ターゲットか
ら所定の距離に配置された基板上に厚さ1μm程度のF
e−Co−Ge−Ru膜を形成した。この際基板として
板厚1+nmの結晶化ガラス(コーニング社製、商品名
7オトセラム)を用いた。
ムのペレットを載せた複合ターゲットに対し、10hm
径のパケット型イオンガンをもつイオンビームスパッタ
装置にて、3000e(エルステッド)の磁場中でアル
ゴンイオンを加速してターゲットに当て、ターゲットか
ら所定の距離に配置された基板上に厚さ1μm程度のF
e−Co−Ge−Ru膜を形成した。この際基板として
板厚1+nmの結晶化ガラス(コーニング社製、商品名
7オトセラム)を用いた。
また、成膜の条件は、スパッタガスにアルゴンを用いて
、基板温度300℃、加速電圧1350V、ビーム電流
135mA、成膜速度約170人/sec、到達真空度
3 X 10−’Torr以下、成膜中真空度I X
10−’Torrとした。
、基板温度300℃、加速電圧1350V、ビーム電流
135mA、成膜速度約170人/sec、到達真空度
3 X 10−’Torr以下、成膜中真空度I X
10−’Torrとした。
また、磁歪定数測定用の試料には板厚約11mmのホウ
ケイ酸ガラス(商品名:検波カバーガラス)を用いて前
述と同条件で成膜した。
ケイ酸ガラス(商品名:検波カバーガラス)を用いて前
述と同条件で成膜した。
また比較のため、複合ターゲットにルテニウムを含まな
い所定のものを用いたこと以外は実施例と同様にして成
膜した。
い所定のものを用いたこと以外は実施例と同様にして成
膜した。
このようにして得られた膜を窒素雰囲気下で、680℃
で2時間アニーリングして得た耐熱性軟磁性薄膜の特性
、すなわち膜組成、透磁率、保磁力、磁歪定数、飽和磁
束密度及び耐食性を次のようにして求め、評価した。
で2時間アニーリングして得た耐熱性軟磁性薄膜の特性
、すなわち膜組成、透磁率、保磁力、磁歪定数、飽和磁
束密度及び耐食性を次のようにして求め、評価した。
(1)膜組成
E P MA (Electron Probe Mi
cro−Analysis)法により求めた。
cro−Analysis)法により求めた。
(2)透磁率(μ1ac)
磁化困難軸方向に測定磁場が印加されるように、フェラ
イトヨークを膜面に当て、インピーダンスアナライザを
用いて3 moeの磁場及び測定周波数5 MHzでイ
ンダクタンスを測定することにより求め Iこ。
イトヨークを膜面に当て、インピーダンスアナライザを
用いて3 moeの磁場及び測定周波数5 MHzでイ
ンダクタンスを測定することにより求め Iこ。
(3)保磁力He(Oe)
薄膜ヒストロスコープを用いて測定した。
(4)磁歪定数(λS)
薄膜試料を膜面内に回転する磁場中に配置して伸縮を同
期整流方式によってレーザーを用いて検出、測定した。
期整流方式によってレーザーを用いて検出、測定した。
(5)飽和磁束密度(Bms)
試料振動式磁力計(VSM)法により測定した。
(6)耐食性
薄膜材料を室温で水道水に1週間浸漬し、膜面の表面を
以下の判定基準により観察評価した。
以下の判定基準により観察評価した。
A:変化なし
B:膜面に薄く錆が発生
C:膜面に濃く錆が発生
D:膜自体が消失する程度に錆が発生
その結果を表に示す。
ルテニク4量χζ114七ノ
次に、前記した実施例と同様にして得たFeo、 71
−*Ru*CQo、 ++Geo、 l@の組成の耐熱
性軟磁性薄膜の特性について、第1図及び第2図(アニ
リングは680°Cで2時間行った)にルテニウム割合
(ルテニウム含量)と保磁力の関係及びルテニウム割合
(ルテニウム含量)と透磁率との関係をそれぞれグラフ
で示した。
−*Ru*CQo、 ++Geo、 l@の組成の耐熱
性軟磁性薄膜の特性について、第1図及び第2図(アニ
リングは680°Cで2時間行った)にルテニウム割合
(ルテニウム含量)と保磁力の関係及びルテニウム割合
(ルテニウム含量)と透磁率との関係をそれぞれグラフ
で示した。
以上の結果より、Fe−Co−Ge3元合金にRuを添
加した4元合金より成る本発明の組成範囲内の軟磁性薄
膜においては、高温でアニーリングした後の飽和磁束密
度、保磁力、磁歪定数、透磁率に優れ、しかもRu添加
によって優れた耐食性が得られることが分る。
加した4元合金より成る本発明の組成範囲内の軟磁性薄
膜においては、高温でアニーリングした後の飽和磁束密
度、保磁力、磁歪定数、透磁率に優れ、しかもRu添加
によって優れた耐食性が得られることが分る。
第1図は、本発明の耐熱性軟磁性薄膜のルテニウム割合
(ルテニウム含量)と保磁力の関係を示すグラフ、第2
図は、本発明の耐熱性軟磁性薄膜のルテニウム割合(ル
テニウム含量)と透磁率との関係を示すグラフである。 ルテニプへ!χ C原1比λ
(ルテニウム含量)と保磁力の関係を示すグラフ、第2
図は、本発明の耐熱性軟磁性薄膜のルテニウム割合(ル
テニウム含量)と透磁率との関係を示すグラフである。 ルテニプへ!χ C原1比λ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 一般式 Fe_aCo_xGe_yRu_z (式中、a、x、y及びzは原子比を示す数であって、
それぞれ0.52≦a≦0.86、0.02≦x≦0.
30、0.10≦y≦0.25、0.02≦z≦0.1
0、a+z≧0.62、a+x+y+z=1の関係を満
たす範囲内で選ばれる) で表わされる組成を有する耐熱性軟磁性薄膜。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11865890A JPH0417648A (ja) | 1990-05-10 | 1990-05-10 | 耐熱性軟磁性薄膜 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11865890A JPH0417648A (ja) | 1990-05-10 | 1990-05-10 | 耐熱性軟磁性薄膜 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0417648A true JPH0417648A (ja) | 1992-01-22 |
Family
ID=14742018
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11865890A Pending JPH0417648A (ja) | 1990-05-10 | 1990-05-10 | 耐熱性軟磁性薄膜 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0417648A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6019720A (en) * | 1995-07-07 | 2000-02-01 | Olympus Optical Co., Ltd. | System for evulsing subcutaneous tissue |
-
1990
- 1990-05-10 JP JP11865890A patent/JPH0417648A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6019720A (en) * | 1995-07-07 | 2000-02-01 | Olympus Optical Co., Ltd. | System for evulsing subcutaneous tissue |
US6080102A (en) * | 1995-07-07 | 2000-06-27 | Olympus Optical Co., Ltd. | System for evulsing subcutaneous tissue |
EP1462060A1 (en) | 1995-07-07 | 2004-09-29 | Olympus Optical Co., Ltd. | System for evulsing subcutaneous tissue |
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