JPH04113622A - Heat treatment furnace apparatus - Google Patents

Heat treatment furnace apparatus

Info

Publication number
JPH04113622A
JPH04113622A JP23281290A JP23281290A JPH04113622A JP H04113622 A JPH04113622 A JP H04113622A JP 23281290 A JP23281290 A JP 23281290A JP 23281290 A JP23281290 A JP 23281290A JP H04113622 A JPH04113622 A JP H04113622A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
boat
quartz
heat treatment
stand
treatment furnace
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP23281290A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2920781B2 (en
Inventor
Hiroyuki Iwai
裕之 岩井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Electron Sagami Ltd
Original Assignee
Tokyo Electron Sagami Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Electron Sagami Ltd filed Critical Tokyo Electron Sagami Ltd
Priority to JP23281290A priority Critical patent/JP2920781B2/en
Publication of JPH04113622A publication Critical patent/JPH04113622A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2920781B2 publication Critical patent/JP2920781B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Tunnel Furnaces (AREA)
  • Furnace Charging Or Discharging (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

PURPOSE:To restrain the performance of a semiconductor wafer from being deteriorated by a method wherein all the contact parts with a wafer are brought into contact with quartz or SiC in a loading and unloading route. CONSTITUTION:At a loading operation, an empty boat made of quartz is received by a boat receiver 31, made of quartz, at a boat stand 3 and is erected. By using a single-wafer transfer machine 4, untreated wafers are transferred one by one to the empty boat from a carrier 2 in which they are housed. The boat is positioned by using positioning inplements 64A, 64B made of quartz and by using a stopper 65 made of quartz; it is supported by using boat receivers 66A, 66B, 66C made of quartz. In a transfer route where the boat is loaded inside a heat treatment furnace from the boat stand 3 and is unloaded, all the contact parts are constituted of quartz. As a result, impurities do not adhere to the boat, and the performance of the wafers is not lowered by the diffusion of metal impurities at the time of heat treatment.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention] 【産業上の利用分野】[Industrial application field]

この発明は、熱処理炉装置に関する。 The present invention relates to a heat treatment furnace apparatus.

【従来の技術】[Conventional technology]

半導体装置の製造工程には、半導体ウェーハの表面に酸
化膜を形成したり、不純物を拡散させたりする熱処理工
程があり、縦型または横型の熱処理炉が用いられる。 この熱処理工程において、ローディング時は、キャリア
ストッカからキャリア搬送装置によって複数枚の未処理
の被熱処理体としての半導体ウェハを収納する複数個の
キャリアを、所定の位置まで移動する。そして、キャリ
ア内の半導体つ工−ハを、ウェーハ移し替え装置によっ
て熱処理炉装置のボート載置台に載置された熱処理用の
空の例えば石英製ボートに移し替える。 熱処理炉装置では、ボート載置台上の、複数枚の半導体
ウェーハが搭載された移し替え完了後の石英製ボートを
、ボート搬送機構によってボートローダに受は渡し、ボ
ートローダは、そのボートを熱処理炉内にボートを挿入
して、半導体ウェーハの熱処理を行なう。 また、アンローディング時は、熱処理炉装置では、熱処
理が終了したボートをボートローダが熱処理炉から引き
出し、ボート搬送機構にそのボ−トを受は渡し、ボート
搬送機構は、そのボートをボート載置台に載置する。 そして、このボート載置台上のボートから、熱処理の終
了した半導体ウェーハを空のキャリアに移し替える。そ
して、処理終了したウェーハを収納するキャリアを、キ
ャリア搬送装置によってキャリアストッカに搬送する。
2. Description of the Related Art The manufacturing process of semiconductor devices includes a heat treatment process for forming an oxide film on the surface of a semiconductor wafer and diffusing impurities, and a vertical or horizontal heat treatment furnace is used. In this heat treatment step, during loading, a plurality of carriers containing a plurality of unprocessed semiconductor wafers as objects to be heat-treated are moved from a carrier stocker to a predetermined position by a carrier transport device. Then, the semiconductor chips in the carrier are transferred by a wafer transfer device to an empty boat made of, for example, quartz for heat treatment, which is placed on a boat mounting table of a heat treatment furnace device. In the heat treatment furnace equipment, the quartz boat loaded with multiple semiconductor wafers on the boat mounting table after transfer is transferred to the boat loader by the boat transport mechanism, and the boat loader transfers the boat to the heat treatment furnace. A boat is inserted into the chamber to perform heat treatment on semiconductor wafers. Also, during unloading, in the heat treatment furnace device, the boat loader pulls out the boat that has been heat treated from the heat treatment furnace, transfers the boat to the boat transfer mechanism, and the boat transfer mechanism transfers the boat to the boat mounting table. Place it on. Then, the semiconductor wafers that have undergone heat treatment are transferred from the boat on the boat mounting table to an empty carrier. Then, the carrier that stores the processed wafer is transported to the carrier stocker by the carrier transport device.

【発明が解決しようとする課題】[Problem to be solved by the invention]

ところで、熱処理炉装置のボート載置台、ホト搬送機構
、ボートローダの、それぞれボートと接触する部位が金
属で構成されていると、次のような欠点を生じることか
分かった。 すなわち、石英からなり、不純物の付着していないボー
トが、移送路において金属部分に接触すると、石英製ボ
ートに金属が付着する。この金属が付着したボートを熱
処理炉に挿入すると、ボートの温度が熱処理温度に上昇
するため、付着した金属不純物の拡散係数か大きくなり
、金属不純物が被熱処理体である半導体ウェーハにも入
り込み、このウェーハの性能を劣化させる恐れがある。 このことは、半導体素子の高密度化、高集積化に伴い、
大きな問題となる。 この発明は、以上の点にかんがみ、被熱処理体である半
導体ウェーハの性能の劣化を最小限に抑えることかでき
る熱処理炉装置を提供することを目的とする。
By the way, it has been found that if the parts of the boat mounting table, phototransfer mechanism, and boat loader of the heat treatment furnace apparatus that come into contact with the boat are made of metal, the following drawbacks occur. That is, when a boat made of quartz and free of impurities comes into contact with a metal portion in the transfer path, metal adheres to the quartz boat. When a boat with this metal attached is inserted into a heat treatment furnace, the temperature of the boat rises to the heat treatment temperature, so the diffusion coefficient of the attached metal impurities increases, and the metal impurities also enter the semiconductor wafer, which is the object to be heat treated. There is a risk of deteriorating the performance of the wafer. This is due to the increasing density and integration of semiconductor devices.
It becomes a big problem. In view of the above points, it is an object of the present invention to provide a heat treatment furnace apparatus that can minimize the deterioration of the performance of a semiconductor wafer, which is an object to be heat treated.

【課題を解決するための手段】[Means to solve the problem]

この発明は、ボート載置台に載置したボートと被熱処理
体の搬送具との間で被熱処理体、の移し替えを行ない、
このボート載置台から熱処理炉に未処理の被熱処理体を
搭載するボートをローディングし、熱処理炉から引き出
した処理の終了した被熱処理体を搭載するボートを前記
ボート載置台まてアンロープインクするようにする熱処
理炉装置において、 前記ローディング経路及びアンローディング経路の、ボ
ートとの接触部位のすべてを、石英またはSiCに接触
させるように構成したことを特徴とする。
This invention transfers an object to be heat treated between a boat placed on a boat mounting table and a conveyor for the object to be heat treated,
A boat carrying an untreated object to be heat treated is loaded into the heat treatment furnace from this boat mounting stand, and a boat carrying the object to be heat treated which has been pulled out from the heat treatment furnace is unroped from the boat mounting stand. The heat treatment furnace apparatus is characterized in that all of the loading path and unloading path that come in contact with the boat are configured to come into contact with quartz or SiC.

【作用】[Effect]

二の発明による熱処理炉装置においては、ボートと接触
する部位は、全て石英または同等の性能のSiCで構成
されているので、金属不純物による被熱処理体の汚染の
心配は無い。
In the heat treatment furnace apparatus according to the second invention, all parts that come into contact with the boat are made of quartz or SiC of equivalent performance, so there is no fear of contamination of the object to be heat treated with metal impurities.

【実施例】【Example】

以下、この発明による熱処理炉装置の一実施例を図を参
照しなから説明する。 第1図に示すように、キャリアステージ1には、複数個
のキャリア2が載置されている。この場合、キャリア2
は縦方向に積み重ねるように載置することもてきる。各
キャリア2には、複数枚例えば25枚の被熱処理体とし
ての半導体ウェーハWが収納されている。 ボート載置台としてのボートスタンド3には、石英製の
ボート(図示せず)が縦方向に立てられている。ボート
には、複数枚のウェーハが水平方向に、互いの主面が対
向するような状態で平行に積載される。 ボートスタンド3には、第2図及び第3図に示すように
、石英製のボート受け31が設けられると共に、ボート
載置検出用のマイクロスイッチ32のボートとの石英製
接触子33が設けられている。この接触子33は、中央
部に溝か設けられ、そして、この溝内に雄ねじの穴を設
けられ、ねじ止めにより固定されて、ねじの頭が突出し
ないように構成されている。ボートかボートスタンド3
に載置されると、その重みによって接触子33を押し、
スイッチ32かオンとなってボートが載置されたことを
検出する。ボートは、このボートスタンド3では、他の
部分には接触しない。 ウェーハの移し替え機構としての枚葉移載機4は、ウェ
ーハ移載具41を有する。このウェーハ移載具41は、
回転及び前進後退が可能で、キャリア2のウェーハの1
枚づつの取り出し、キャリア2へのウェーハの1枚づつ
の収納、また、ボートスタンド3上のボートからのウェ
ーハの1枚づつの取り出し、ボートへのウェーハの1枚
づつの収納が可能である。 図示しない熱処理炉の下方には、ボートローダとしての
ボートエレベータ−5が設けられる。このボートエレベ
ータ−5には、熱処理炉の蓋体51の上の保温筒52の
上にボート置き台53か取り付けられたものか昇降自在
に取り付けられており、ボートは、ボート置き台53上
に搭載される。 ボート置き台53は、石英で構成されている。このボー
ト置き台53の固定も上記接触子33と同様である。 ボート置き台53等は、縦型の熱処理炉の開口の真下に
置かれている。そして、ボートエレベータ−5により、
これらか昇降して、熱処理炉内にボートを挿入し、ある
いはボートを熱処理炉から引出す。 ボ・−ト搬送機構6は、ボート搬送アーム61を有し、
このボート搬送アーム61を回動支持部62を中心とし
て水平方向に回動移動させる機構である。すなわち、搬
送アーム61の上にボートを載置して、図中−点鎖線6
3で示すように回動して、ボートスタンド3−ボート置
き台53−後述するボートスライドユニット7のボート
載置台71間において、ホードを搬送する。 ボート搬送アーム61には、第4図及び第5図に示すよ
うに、120°角間隔離れて石英製の円筒状ボート受け
66A、66B、66Cが設けられると共に、ボートの
側部を押圧してボートをアーム61上で位置決めするた
めの、石英製の位置決め具64A、64Bと、石英製の
ストッパ65が設けられている。これらの固定構造も上
記接触子33と同様な構造か選択できる。位置決め具6
4A、64Bは、ローラの構成とすることかできる。ボ
ート搬送アーム上では、ボートはボート受け66A、6
6B、66C1位置決め具64A。 64B及びストッパ65以外には接触しない。 ボートスライドユニット7は、ボート受は台71を備え
、このボート受は台71は、図の上下方向にスライド移
動可能に構成されている。このホトスライドユニット7
においては、ボート搬送アーム61の回動経路中の図の
下方位置71′では、ボート搬送アーム61との間でボ
ートの受は渡しを行なう。そして、ボート受は台71は
、図のように上方にスライド移動して、退避位置に移動
可能である。ボートスライドユニット7のボート受は台
71は、ボートスタンド3と同様に構成されている。す
なわち、第6図及び第7図に示すように、石英製のボー
ト受け72が設けられると共に、ボート載置検出用のマ
イクロスイッチ73のボートとの石英製の接触子74か
設けられる。 この接触子74の固定手段も、上記接触子33と同様で
ある。 また、石英製の位置決め具75が設けられている。ボー
トは、ボートスライドユニット7ては、ボート受け72
、接触子74、位置決め具75以外の部分とは接触しな
い。 以下に、この熱処理炉装置の動作について説明する。以
下の動作は、コンピュータによって予め定められたプロ
グラム手順にしたがって自動的になされる。 ローディング時には、空のボートが、ボートスタンド3
の石英製のボート受け31によって受けられて、立てら
れている。このとき、マイクロスイッチ32の石英製接
触子33をボートの一部が押圧するので、マイクロスイ
ッチ32かオンとなり、ボートかボートスタンド3上に
載置されたことが検出される。 そして、枚葉移載機4によって、キャリアステジ1の、
未処理のウェーハを収納するキャリア2から1枚つつ未
処理のウェーハが、ボートスタンド3の空のボートに移
し替えられる。 移し替えが終了すると、ボート搬送機構6の搬送アーム
61にボートか載せられる。このとき、ボートは、搬送
アーム61の石英製位置決め具64A、64B及び石英
製のストッパ65によりアーム61上での位置決めがな
されて、3個の石英製ボート受け66A、66B、66
Cによって支持されている。そして、ボート搬送アーム
61は、ボートエレベータ−5により昇降されるボート
置き台53の上まで回動され、ボートがボート置き台5
3上に載置される。 すると、ボートエレベータ−5が駆動され、ボートが熱
処理炉(図示せず)内に挿入され、蓋体51によって熱
処理炉の開口が閉じられ、熱処理がなされる。 この場合、ボートがボートスタンド3がら熱処理炉内に
挿入されるまでのローディング時の搬送経路において、
また、後述するように、熱処理炉からボートスタンドま
でのアンローディング時の搬送経路において、ボートか
接触する部位はすべて石英で構成されているので、ボー
トに金属のような不純物が付着することはない。したが
って、従来のような熱処理の際の金属不純物の拡散によ
るウェーハの性能の低下の恐れがない。 一方、ボートスライドユニット7の受は台71には、最
初は空のボートが載置されており、また、その後は、既
に拡散処理等の熱処理の終了したボートが載置されてい
る。このとき、ボートは受は台71の石英製ボート受け
72により受けられ、石英製位置決め具75により位置
決ぬされている。 そして、ボートが受は台71に載置されたことが、石英
製接触子74をホードが押圧することによりマイクロス
イッチ73により検知されると、受は台71は上方にス
ライド移動して退避位置に移動する。 そして、熱処理炉内にボートを挿入すると、スライドユ
ニット7は、受は台71をボート搬送機構6の移動杆路
中の位置に戻す。そして、ボート搬送機構6は、ボート
スライドユニット7のボート受は台71に載置されてい
る空のあるいは熱処理の終了したウェーハを搭載するボ
ートを、ボート搬送アーム61上に載せ、これをボート
スタンド3にまで搬送し、ボートスタンド3の石英製ボ
ート受け31上に載置する。このとき、石英製接触子3
3かボートにより押圧されて、マイクロスイッチ32が
オンとなって、ボートが載置されたことが検知される。 そして、ボートが空のときは、枚葉移載機4はこのボー
トにキャリア2の未処理のウェーハを移し替える。また
、ボートスタンド3に載置されたボートに処理済みのウ
ェーハが搭載されているときは、枚葉移載機4は、熱処
理済みのウェーハを、このボートからキャリアステージ
1の空のキャリア2に移し替える。そして、その後、キ
ャリアステージ1のキャリア2から未処理のウェーハを
、ボートスタンド3の空になったボートに移し替える。 熱処理炉で熱処理が終了すると、ボートエレベータ−5
が降下して、ボートを熱処理炉がら引き出す。そして、
ボート搬送機構6の搬送アーム61にそのボートを載置
し、ボートスライドユニット7に搬送し、そのボートを
ボートスライドユニット7のボート受は台71上に載置
する。 次に、ボート搬送機構6は、搬送アーム61をボートス
タンド3に移動し、未処理のウェーハを搭載しているボ
ートを搬送アーム61上に載せ、そのボートをボート置
き台53上に搬送する。そして、ボートエレベータ−5
によりボートを上昇させて、熱処理炉内に挿入する。 次に、ボート搬送機構6は、ボートスライドユニット7
の受は台71上の処理済みのウェーハを搭載するボート
を、ボートスタンド3まで搬送して、ボート受け31上
にボートを立てる。そして、処理済みのウェーハをボー
トからキャリア2に、枚葉移載機4により移し替える。 以下、前記と同様の動作を繰り返す。 なお、以上の例では、ボートの接触部位をすべて石英で
構成するようにしたか、石英の代わりにSiCてあって
も良い。
Hereinafter, one embodiment of a heat treatment furnace apparatus according to the present invention will be described with reference to the drawings. As shown in FIG. 1, a plurality of carriers 2 are placed on a carrier stage 1. As shown in FIG. In this case, carrier 2
They can also be stacked vertically. Each carrier 2 stores a plurality of semiconductor wafers W, for example, 25 semiconductor wafers W as objects to be heat treated. A quartz boat (not shown) is vertically erected on a boat stand 3 serving as a boat mounting base. A plurality of wafers are loaded horizontally in parallel on the boat with their main surfaces facing each other. As shown in FIGS. 2 and 3, the boat stand 3 is provided with a boat holder 31 made of quartz, and is also provided with a contact 33 made of quartz for connecting a microswitch 32 with the boat for detecting the placement of a boat. ing. The contactor 33 has a groove in the center, a male screw hole in the groove, and is fixed with a screw so that the head of the screw does not protrude. boat or boat stand 3
When placed on the contactor 33, its weight pushes the contactor 33,
The switch 32 is turned on to detect that the boat has been placed. The boat does not come into contact with other parts on this boat stand 3. The single wafer transfer machine 4 as a wafer transfer mechanism has a wafer transfer tool 41 . This wafer transfer tool 41 is
It is possible to rotate and move forward and backward, and one of the wafers in carrier two
It is possible to take out the wafers one by one, to store the wafers one by one into the carrier 2, to take out the wafers one by one from the boat on the boat stand 3, and to store the wafers one by one into the boat. A boat elevator 5 as a boat loader is provided below the heat treatment furnace (not shown). This boat elevator 5 is equipped with a boat stand 53 which is attached to a heat insulating cylinder 52 on the lid 51 of the heat treatment furnace so as to be able to rise and fall freely. It will be installed. The boat stand 53 is made of quartz. The fixing of this boat stand 53 is also similar to that of the contactor 33 described above. The boat stand 53 and the like are placed directly below the opening of the vertical heat treatment furnace. Then, by boat elevator-5,
These are raised and lowered to insert the boat into the heat treatment furnace or to pull it out from the heat treatment furnace. The boat transport mechanism 6 has a boat transport arm 61,
This is a mechanism for rotating the boat transfer arm 61 in the horizontal direction about the rotation support part 62. That is, the boat is placed on the transfer arm 61, and the dotted chain line 6 in the figure
The hoard is rotated as shown by 3 to transport the hoard between the boat stand 3, the boat mount 53, and the boat mount 71 of the boat slide unit 7, which will be described later. As shown in FIGS. 4 and 5, the boat transfer arm 61 is provided with cylindrical boat supports 66A, 66B, and 66C made of quartz and spaced apart by 120 degrees, and is also provided with cylindrical boat supports 66A, 66B, and 66C that press against the side of the boat. For positioning the boat on the arm 61, positioning tools 64A and 64B made of quartz and a stopper 65 made of quartz are provided. These fixing structures can also be selected from structures similar to those of the contactor 33 described above. Positioning tool 6
4A and 64B can be configured as rollers. On the boat transfer arm, the boat is placed in the boat receivers 66A, 6
6B, 66C1 positioning tool 64A. It does not contact anything other than 64B and stopper 65. The boat slide unit 7 includes a boat support stand 71, and the boat support stand 71 is configured to be slidable in the vertical direction in the figure. This photo slide unit 7
In this case, the boat is transferred to and from the boat transfer arm 61 at a lower position 71' in the figure along the rotational path of the boat transfer arm 61. The boat support stand 71 can be moved to the retracted position by sliding upward as shown in the figure. The boat support stand 71 of the boat slide unit 7 is configured similarly to the boat stand 3. That is, as shown in FIGS. 6 and 7, a boat holder 72 made of quartz is provided, and a contactor 74 made of quartz for contacting the boat with a microswitch 73 for detecting the placement of a boat is also provided. The means for fixing this contactor 74 is also similar to that of the contactor 33 described above. Further, a positioning tool 75 made of quartz is provided. The boat has a boat slide unit 7 and a boat support 72.
, contactor 74, and positioning tool 75. The operation of this heat treatment furnace apparatus will be explained below. The following operations are automatically performed by the computer according to predetermined program procedures. When loading, the empty boat is placed on the boat stand 3.
It is supported and erected by a boat support 31 made of quartz. At this time, a part of the boat presses the quartz contact 33 of the microswitch 32, so the microswitch 32 is turned on, and it is detected that the boat is placed on the boat stand 3. Then, by the single wafer transfer machine 4, the carrier stage 1 is
Unprocessed wafers are transferred one by one from a carrier 2 that stores unprocessed wafers to an empty boat in a boat stand 3. When the transfer is completed, the boat is placed on the transfer arm 61 of the boat transfer mechanism 6. At this time, the boat is positioned on the arm 61 by the quartz positioning tools 64A, 64B and the quartz stopper 65 of the transfer arm 61, and the three quartz boat receivers 66A, 66B, 66
Supported by C. Then, the boat transfer arm 61 is rotated to the top of the boat stand 53 which is raised and lowered by the boat elevator 5, and the boat is moved onto the boat stand 53.
3. Then, the boat elevator 5 is driven, the boat is inserted into a heat treatment furnace (not shown), the opening of the heat treatment furnace is closed by the lid 51, and heat treatment is performed. In this case, in the transport path during loading until the boat is inserted into the heat treatment furnace from the boat stand 3,
Additionally, as will be explained later, all parts that come into contact with the boat during unloading from the heat treatment furnace to the boat stand are made of quartz, so impurities such as metal will not adhere to the boat. . Therefore, there is no risk of deterioration in wafer performance due to diffusion of metal impurities during heat treatment as in the conventional method. On the other hand, an empty boat is initially placed on the support stand 71 of the boat slide unit 7, and thereafter a boat that has already undergone heat treatment such as diffusion treatment is placed thereon. At this time, the boat is received by a quartz boat receiver 72 on a stand 71 and positioned by a quartz positioner 75. When the microswitch 73 detects that the boat has been placed on the pedestal 71 by pressing the quartz contact 74, the pedestal 71 slides upward to the retracted position. Move to. Then, when the boat is inserted into the heat treatment furnace, the slide unit 7 returns the support platform 71 to the position in the moving rod path of the boat transport mechanism 6. Then, the boat transfer mechanism 6 places the boat loaded with empty or heat-treated wafers placed on the stand 71 on the boat transfer arm 61, and places the boat on the boat stand. 3 and placed on the quartz boat holder 31 of the boat stand 3. At this time, the quartz contact 3
3 is pressed by the boat, the microswitch 32 is turned on, and it is detected that the boat has been placed. When the boat is empty, the single wafer transfer machine 4 transfers unprocessed wafers from the carrier 2 to this boat. Further, when processed wafers are loaded on the boat placed on the boat stand 3, the single wafer transfer machine 4 transfers the heat-treated wafers from this boat to the empty carrier 2 of the carrier stage 1. Transfer. Thereafter, unprocessed wafers are transferred from the carrier 2 of the carrier stage 1 to the empty boat of the boat stand 3. When the heat treatment is completed in the heat treatment furnace, the boat elevator-5
descends and pulls the boat out of the heat treatment furnace. and,
The boat is placed on the transfer arm 61 of the boat transfer mechanism 6 and transferred to the boat slide unit 7, and the boat is placed on the boat holder 71 of the boat slide unit 7. Next, the boat transport mechanism 6 moves the transport arm 61 to the boat stand 3, places the boat carrying unprocessed wafers on the transport arm 61, and transports the boat onto the boat stand 53. And boat elevator-5
The boat is raised and inserted into the heat treatment furnace. Next, the boat transport mechanism 6 includes a boat slide unit 7
The boat carrying the processed wafers on the table 71 is transported to the boat stand 3, and the boat is erected on the boat receiver 31. Then, the processed wafers are transferred from the boat to the carrier 2 by the single wafer transfer machine 4. Thereafter, the same operations as above are repeated. In the above example, all the contact parts of the boat are made of quartz, or they may be made of SiC instead of quartz.

【発明の効果】【Effect of the invention】

以上説明したように、この発明によれば、キャリアとの
間で被熱処理体の移し替えを行なうボート載置台から熱
処理炉へのローディング時、及び熱処理炉から前記ボー
ト載置台までのアンローディング時の、搬送経路中にボ
ートが接触する部位は、すべて石英またはSiCて構成
されているので、ボートに金属不純物か付着することは
なく、熱処理の際の金属不純物の拡散による被熱処理体
の汚染が防止できる。
As explained above, according to the present invention, the object to be heat treated is transferred to and from the carrier during loading from the boat mounting stand to the heat treatment furnace, and during unloading from the heat treatment furnace to the boat mounting stand. All parts that come into contact with the boat during the transport route are made of quartz or SiC, so no metal impurities will adhere to the boat, preventing contamination of the heat-treated object due to diffusion of metal impurities during heat treatment. can.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、この発明による熱処理炉装置の全体の構成を
示す図、第2図はボート載置台としてのボートスタンド
の一例の平面図、第3図は第2図のA−A線断面図、第
4図はボート搬送機構の搬送アームの一例の要部を示す
図、第5図は第4図の断面図、第6図はホードスライド
ユニットのホト受は台の一例の平面図、第7図は第6図
のAA線断面図である。 1 キャリアステージ 2 キャリア 3 ボートスタンド 4;枚葉移載機 5;ボートエレベータ− 6;ボート搬送機構 7;ボートスライドユニット 31、ボート受け 32:マイクロスイッチ 33;接触子 53;ボート置き台 61:ボート搬送アーム 64A、64B、位置決め具 65;位置決めストッパ 66A、66B、66C,ボート受け 71;ボート受は台 72:ボート受け 73:マイクロスイッチ 74:接触子
FIG. 1 is a diagram showing the overall configuration of a heat treatment furnace apparatus according to the present invention, FIG. 2 is a plan view of an example of a boat stand as a boat mounting platform, and FIG. 3 is a cross-sectional view taken along the line A-A in FIG. 2. , FIG. 4 is a diagram showing the essential parts of an example of the transport arm of the boat transport mechanism, FIG. 5 is a sectional view of FIG. FIG. 7 is a sectional view taken along line AA in FIG. 6. 1 Carrier stage 2 Carrier 3 Boat stand 4; Single wafer transfer machine 5; Boat elevator 6; Boat transport mechanism 7; Boat slide unit 31, boat receiver 32: Micro switch 33; Contact 53; Boat stand 61: Boat Transfer arms 64A, 64B, positioning tool 65; positioning stoppers 66A, 66B, 66C, boat receiver 71; boat receiver is stand 72: boat receiver 73: micro switch 74: contactor

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] ボート載置台に載置したボートと被熱処理体の搬送具と
の間で被熱処理体の移し替えを行ない、このボート載置
台から熱処理炉に未処理の被熱処理体を搭載するボート
をローディングし、熱処理炉から引き出した処理の終了
した被熱処理体を搭載するボートを前記ボート載置台ま
でアンローディングするようにする熱処理炉装置におい
て、前記ローディング経路及びアンローディング経路の
、ボートとの接触部位のすべてを、石英またはSiCに
接触させるように構成したことを特徴とする熱処理炉装
置。
The object to be heat treated is transferred between the boat placed on the boat mounting table and the transport tool for the object to be heat treated, and the boat carrying the untreated object to be heat treated is loaded from the boat mounting table into the heat treatment furnace. In a heat treatment furnace apparatus that unloads a boat loaded with heat-treated objects that have been pulled out of a heat treatment furnace and has been subjected to treatment, to the boat mounting table, all of the contact portions of the loading path and the unloading path with the boat are , quartz or SiC.
JP23281290A 1990-09-03 1990-09-03 Heat treatment equipment Expired - Lifetime JP2920781B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23281290A JP2920781B2 (en) 1990-09-03 1990-09-03 Heat treatment equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23281290A JP2920781B2 (en) 1990-09-03 1990-09-03 Heat treatment equipment

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH04113622A true JPH04113622A (en) 1992-04-15
JP2920781B2 JP2920781B2 (en) 1999-07-19

Family

ID=16945160

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP23281290A Expired - Lifetime JP2920781B2 (en) 1990-09-03 1990-09-03 Heat treatment equipment

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2920781B2 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011018908A (en) * 2010-07-15 2011-01-27 Hitachi Kokusai Electric Inc Substrate processing apparatus, and method of manufacturing semiconductor device

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011018908A (en) * 2010-07-15 2011-01-27 Hitachi Kokusai Electric Inc Substrate processing apparatus, and method of manufacturing semiconductor device

Also Published As

Publication number Publication date
JP2920781B2 (en) 1999-07-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6902647B2 (en) Method of processing substrates with integrated weighing steps
JPH0159352B2 (en)
JP2002520833A (en) Multi-position load lock chamber
US6158951A (en) Wafer carrier and method for handling of wafers with minimal contact
JP4342745B2 (en) Substrate processing method and semiconductor device manufacturing method
EP0302885A4 (en) Automatic wafer loading method and apparatus
JP2008526020A (en) How to sequence a board
US20050062465A1 (en) Method and system for loading substrate supports into a substrate holder
JPH10284577A (en) Method for transferring substrate to be processed
JPH081921B2 (en) Semiconductor manufacturing equipment
JPH04113622A (en) Heat treatment furnace apparatus
JPH09289173A (en) Vertical thermal treatment equipment
JP2002033378A (en) Wafer-handling device
JP4838293B2 (en) Substrate processing method, semiconductor device manufacturing method, and substrate processing apparatus
JPH10139157A (en) Substrate carrier device
US20070041812A1 (en) Semiconductor manufacturing equipment and semiconductor manufacturing method
JP2913510B2 (en) Transfer device
JPH04262555A (en) Processor
JPH07201951A (en) Processing apparatus and application thereof
KR0167305B1 (en) Loading/unloading method of semiconductor wafer
JPH0383730A (en) Method for carrying in and out plate-shaped body
JPH02139948A (en) Transfer of substrate
JP2533706B2 (en) Substrate transfer method and apparatus
JPH04278561A (en) Processor
JPH10107117A (en) Substrate treating device

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080430

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110430

Year of fee payment: 12

EXPY Cancellation because of completion of term
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110430

Year of fee payment: 12