JPH0374879B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0374879B2
JPH0374879B2 JP59070366A JP7036684A JPH0374879B2 JP H0374879 B2 JPH0374879 B2 JP H0374879B2 JP 59070366 A JP59070366 A JP 59070366A JP 7036684 A JP7036684 A JP 7036684A JP H0374879 B2 JPH0374879 B2 JP H0374879B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
main memory
control unit
central control
register
test program
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP59070366A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS60236597A (en
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP59070366A priority Critical patent/JPS60236597A/en
Publication of JPS60236597A publication Critical patent/JPS60236597A/en
Publication of JPH0374879B2 publication Critical patent/JPH0374879B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04MTELEPHONIC COMMUNICATION
    • H04M3/00Automatic or semi-automatic exchanges
    • H04M3/22Arrangements for supervision, monitoring or testing
    • H04M3/24Arrangements for supervision, monitoring or testing with provision for checking the normal operation
    • H04M3/241Arrangements for supervision, monitoring or testing with provision for checking the normal operation for stored program controlled exchanges

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
  • Exchange Systems With Centralized Control (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (a) 発明の技術分野 本発明は電子交換機の一重化システムの試験診
断方式に係り、特にメモリ装置内の故障を正確に
補足可能な試験診断方式に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (a) Technical Field of the Invention The present invention relates to a testing and diagnosing method for a unified electronic exchange system, and more particularly to a testing and diagnosing method that can accurately detect failures within a memory device.

(b) 従来技術と問題点 従来、電子交換機は信頼性を上げるため各装置
を二重化することが行われているが、小型の電子
交換機の場合、二重化されていないつまり一重化
システムが存在する、特に主メモリが一重化され
ている場合に、この主メモリであるランダムアク
セスメモリ内に障害が発生してパリテイチエツク
エラーが生ずると二重化されていないので救済不
可能なエラーとして中央制御装置に対してマスク
出来ない割り込み(NMi:ノンマスカブルイン
タラプト)が生ずる。
(b) Conventional technology and problems Traditionally, electronic exchanges have duplexed each device to increase reliability, but in the case of small electronic exchanges, there is a single system that is not duplexed. In particular, when the main memory is duplexed, if a failure occurs in the random access memory, which is the main memory, and a parity check error occurs, it will be reported to the central control unit as an unrecoverable error because it is not duplexed. An interrupt that cannot be masked (NMi: non-maskable interrupt) occurs.

この割り込みにより、中央制御装置で割り込み
処理が起動し、処理中のプログラムは主メモリか
らリセツトされ、フロツピーデイスク等から主メ
モリへのプログラムの再ローデイングを行うこと
で障害処理を行つていた。
This interrupt activates interrupt processing in the central control unit, resets the program being processed from the main memory, and reloads the program from a floppy disk or the like into the main memory to handle the failure.

第1図は従来のランダムアクセスメモリ内にパ
リテイチエツクエラーが出た時のシステムの動作
を説明するための概略図である。
FIG. 1 is a schematic diagram for explaining the operation of a conventional system when a parity check error occurs in a random access memory.

図中、CCは中央制御装置、RAMはランダムア
クセスメモリ、PCはパリテイチエツカ、FDはフ
ロツピーデイスク、FDCはフロツピーデイスク
コントローラである。
In the figure, CC is a central control unit, RAM is a random access memory, PC is a parity checker, FD is a floppy disk, and FDC is a floppy disk controller.

なお、以下全図を通じ同一記号は同一対象物を
表す。
Note that the same symbols represent the same objects throughout the figures below.

以下図に従つてランダムアクセスメモリRAM
の修正動作を説明する。
Random access memory RAM according to the diagram below
The corrective action will be explained.

ランダムアクセスメモリRAM内に故障が発生
すると、パリテイチエツカPCはパリテイエラー
信号を発生し、マスク出来ない割り込み(NMi)
が発生して中央制御装置CCに割り込みをかける。
When a failure occurs in the random access memory RAM, the parity checker PC generates a parity error signal and a non-maskable interrupt (NMi).
occurs and interrupts the central controller CC.

この結果図示されないリードオンリメモリ内に
格納されているプログラムが起動して、フロツピ
ーデイスクFDから正しいデータを読出し、この
データをランダムアクセスメモリRAM内のパリ
テイエラーが出た箇所に書き込み、自動的にデー
タの修正を行つていた。
As a result, a program stored in a read-only memory (not shown) is started, reads the correct data from the floppy disk FD, writes this data to the location where the parity error occurred in the random access memory RAM, and automatically The data was corrected.

従つて、このような機能を有する電子交換機の
一重化システムを試験している時にメモリから前
記パリテイエラーが出た時も同様にマスク出来な
い割り込みNMiが発生し、上記の障害処理が自
動的に行われるため試験員はメモリの故障の状態
を正確に把握できないと云う欠点があつた。
Therefore, even if the parity error occurs from the memory while testing a unified electronic exchange system with such a function, an interrupt NMi that cannot be masked will occur, and the above fault handling will be automatically performed. The drawback was that testers were unable to accurately grasp the state of memory failures because the test was conducted at a later date.

また、システムの試験時には、ランダムアクセ
スメモリRAMから前記パリテイエラーが出た時
は自動的に修正せずに、障害アドレスの検出等の
テストプログラムを実行させることがある。
Further, when testing a system, when a parity error occurs from the random access memory RAM, a test program for detecting a faulty address may be executed without automatically correcting it.

このテストプログラムも一重化されたランダム
アクセスメモリRAMの一部に格納されているた
め、この格納部分の何処かに上記とは別の障害部
分があると、テストプログラムの実行中に再びパ
リテイエラーが出ることになる。
This test program is also stored in a part of the unified random access memory RAM, so if there is a faulty part other than the above somewhere in this storage part, a parity error will occur again during the execution of the test program. will appear.

このパリテイエラーにより再びマスク出来ない
割り込みNMiが発生して、再度テストプログラ
ムを開始することになる。
Due to this parity error, an interrupt NMi that cannot be masked occurs again, and the test program must be restarted.

従つて『テストプログラムのスタートアドレス
→テストプログラムの実行→障害点に到達→パリ
テイエラーの発生→NMi割り込みの発生→テス
トプログラムのスタートアドレス』のように無限
ループに陥ることになる欠点があつた。
Therefore, there was a drawback that it would fall into an infinite loop as follows: ``Test program start address → Test program execution → Failure point reached → Parity error generated → NMi interrupt generated → Test program start address'' .

(c) 発明の目的 本発明の目的は従来技術の有する上記の欠点を
除去し、メモリの故障の状態を正確に把握出来る
と共にテストプログラムの実行中の障害によつて
も無限ループに陥ることのない試験診断方式を提
供することである。
(c) Purpose of the Invention The purpose of the present invention is to eliminate the above-mentioned drawbacks of the prior art, to make it possible to accurately grasp the state of memory failures, and to prevent falling into an infinite loop even when a failure occurs during the execution of a test program. The objective is to provide a test diagnosis method that is not available.

(d) 発明の構成 上記の目的は本発明によれば、一重化されてい
る主メモリ内からパリテイチエツクエラー信号が
出たことにより該主メモリから中央制御装置に対
しマスク出来ない割り込みが発生し、該中央制御
装置で割り込み処理が起動することにより該主メ
モリへの再ローデイングを行う機能を有する電子
交換機において、 該中央制御装置が該主メモリへの該再ローデイ
ングを行うか、あるいはテストプログラムを実行
するかを決定するレジスタを設けたことを特徴と
する試験診断方式、 及び、一重化されている主メモリ内からパリテ
イチエツクエラー信号が出たことにより該主メモ
リから中央制御装置に対しマスク出来ない割り込
みが発生し、該中央制御装置で割り込み処理が起
動することにより該主メモリへの再ローデイング
を行う機能を有する電子交換機において、 該中央制御装置が該主メモリへの該再ローデイ
ングを行うか、あるいはテストプログラムを実行
するかを決定するレジスタを設け、該レジスタが
該テストプログラムの実行の状態の場合に前記マ
スク出来ない割り込み処理が起動した場合には、
該中央制御装置は該レジスタの状態を識別した
後、該レジスタを該再ローデイングを行う状態に
反転させ、該テストプログラムを実行することを
特徴とする試験診断方式を提供することにより達
成される。
(d) Structure of the Invention According to the present invention, when a parity check error signal is output from the main memory that is unified, an interrupt that cannot be masked is generated from the main memory to the central control unit. and, in an electronic exchange having a function of reloading the main memory by activating an interrupt process in the central control unit, the central control unit performs the reloading of the main memory, or the test program A test diagnosis method characterized by providing a register for determining whether to execute a parity check, and a parity check error signal issued from a unified main memory to a central control unit from the main memory. In an electronic exchange having a function of reloading the main memory by activating the interrupt processing in the central control unit when a non-maskable interrupt occurs, the central control unit executes the reloading of the main memory. A register is provided for determining whether to execute the test program or to execute the test program, and when the non-maskable interrupt processing is activated when the register is in the execution state of the test program,
This is achieved by providing a test diagnostic method characterized in that the central controller, after identifying the state of the register, inverts the register to the state that performs the reloading and executes the test program.

即ち本発明によると一個のレジスタを設け、予
めこのレジスタをオンの状態にしてからメモリの
試験を開始し、メモリからパリテイチエツクエラ
ー信号が出てマスク出来ない割り込みが起動し自
動的に前記主メモリへの再ローデイングを行う前
に前記レジスタがオンであるか否かを調べ、もし
オンである時は再ローデイングを行わないように
することにより障害状態を正確に把握でき、しか
もテストプログラムの実行中の障害によつても無
限ループに陥ることのないと云う効果がある。
That is, according to the present invention, one register is provided, and the memory test is started after turning on this register in advance, and a parity check error signal is output from the memory, a non-maskable interrupt is activated, and the above-mentioned master is automatically activated. By checking whether the register is on or not before reloading to memory, and not reloading if it is on, it is possible to accurately understand the failure state and also to make it easier to run the test program. This has the effect of not falling into an infinite loop even if there is a failure inside.

(e) 発明の実施例 第2図は本発明による試験診断方式の一実施例
を示す概略図である。
(e) Embodiment of the Invention FIG. 2 is a schematic diagram showing an embodiment of the test/diagnosis method according to the present invention.

図中、REGnはNMi再開指示レジスタである。 In the figure, REGn is the NMi restart instruction register.

第3図は第2図の動作を説明するフローチヤー
トである。
FIG. 3 is a flowchart explaining the operation of FIG. 2.

本発明によりランダムアクセスメモリRAMの
試験を行う時は予めNMi再開指示レジスタREGn
をオンにしてから試験を開始する。
When testing the random access memory RAM according to the present invention, the NMi restart instruction register REGn is set in advance.
Turn on and start the test.

従来の場合と同じくランダムアクセスメモリ
RAM内に故障が発生すると、パリテイチエツカ
PCはパリテイエラー信号を発生し、マスク出来
ない割り込み(NMi)が発生して中央制御装置
CCに割り込みをかける。
Random access memory as before
If a failure occurs in the RAM, the parity
The PC generates a parity error signal and a non-maskable interrupt (NMi) occurs to the central controller.
Interrupt CC.

この結果図示されないリードオンリメモリ内に
格納されているプログラムが起動する。
As a result, a program stored in a read-only memory (not shown) is activated.

第3図に示すようにこのプログラムが起動する
とまずNMi再開指示レジスタREGnの状態を確認
する。
As shown in FIG. 3, when this program starts, it first checks the state of the NMi restart instruction register REGn.

もしNMi再開指示レジスタREGnがオフ、即ち
『指示ナシ』の場合には、中央制御装置CCは従来
と同じくNMi障害再処理、即ちフロツピーデイ
スクFDよりデータバスBUSを介してランダムア
クセスメモリRAMへの再ローデイングを行い自
動的に修正を行う。
If the NMi restart instruction register REGn is off, that is, "no instruction", the central controller CC performs NMi failure reprocessing as before, that is, transfers data from the floppy disk FD to the random access memory RAM via the data bus BUS. Reload and fix automatically.

一方、NMi再開指示レジスタREGnがオン即ち
「指示アリ」の場合には、先ず中央制御装置CCは
NMi再開指示レジスタREGnをオフに反転する、
つまり『再開指示取消』を行う。
On the other hand, if the NMi restart instruction register REGn is on, that is, "instruction valid", the central controller CC first
Flip the NMi restart instruction register REGn off,
In other words, ``cancellation of restart instruction'' is performed.

次に『NMi再開アドレスへジヤンプ』する。
これは障害を起こしたランダムアクセスメモリ
RAMの障害アドレスの検出等のためのテストプ
ログラムの格納箇所へジヤンプすることであり、
この場合、中央制御装置CCは上記のテストプロ
グラムを実行する。
Next, ``Jump to NMi restart address.''
This is the failed random access memory
Jumping to the storage location of a test program for detecting faulty addresses in RAM, etc.
In this case, the central controller CC executes the test program described above.

以後再度NMi再開指示レジスタREGnをオンに
するまでNMi割り込みが発生した場合は、従来
と同じくNMi障害再処理、即ちフロツピーデイ
スクFDよりランダムアクセスメモリRAMへの
再ローデイングを行い自動的に修正を行う。
From then on, if an NMi interrupt occurs until the NMi restart instruction register REGn is turned on again, the NMi fault will be reprocessed as before, that is, reloaded from the floppy disk FD to the random access memory RAM and automatically corrected. .

以上のようにNMi再開指示レジスタREGnをオ
ンにしておけばランダムアクセスメモリRAM内
にパリテイエラー信号が発生した場合、自動的に
再ローデイングを行わないので障害の検出に有効
である。
As described above, by turning on the NMi restart instruction register REGn, when a parity error signal occurs in the random access memory RAM, reloading is not automatically performed, which is effective in detecting a failure.

また、パリテイエラー信号が上記のテストプロ
グラム実行中にこのテストプログラムの格納箇所
内からも発生した場合には、NMi再開指示レジ
スタREGnがオンのままであると再びテストプロ
グラムのスタートにジヤンプし無限ループになる
が、上記のように中央制御装置CCはNMi再開指
示レジスタREGnの状態を識別した後、NMi再開
指示レジスタREGnを再ローデイングを行う状態
に反転させているので無限ループになることは防
止できる。
In addition, if a parity error signal is also generated from within the storage location of this test program while the above test program is being executed, if the NMi restart instruction register REGn remains on, the test program will jump to the start again and continue indefinitely. However, as mentioned above, after the central controller CC identifies the state of the NMi restart instruction register REGn, it inverts the NMi restart instruction register REGn to the state where reloading is performed, so an infinite loop is prevented. can.

(f) 発明の効果 以上詳細に説明したように本発明によれば、メ
モリの故障の状態を正確に把握出来ると共にテス
トプログラムの実行中の障害によつても無限ルー
プに陥ることのない試験診断方式を実現できると
云う大きい効果がある。
(f) Effects of the Invention As explained in detail above, according to the present invention, the test diagnosis can accurately grasp the state of a memory failure and will not fall into an infinite loop even if a failure occurs during the execution of a test program. This has the great effect of making it possible to implement the method.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は従来のランダムアクセスメモリ内にパ
リテイチエツクエラーが出た時のシステムの動作
を説明するための概略図、第2図は本発明による
試験診断方式の一実施例を示す概略図、第3図は
第2図の動作を説明するフローチヤートである。 図中、CCは中央制御装置、RAMはランダムア
クセスメモリ、PCはパリテイチエツカ、FDはフ
ロツピーデイスク、FDCはフロツピーデイスク
コントローラ、REGnはNMi再開指示レジスタ、
BUSはデータバスである。
FIG. 1 is a schematic diagram for explaining the operation of a conventional system when a parity check error occurs in a random access memory, and FIG. 2 is a schematic diagram showing an embodiment of a test diagnosis method according to the present invention. FIG. 3 is a flowchart explaining the operation of FIG. 2. In the figure, CC is the central control unit, RAM is the random access memory, PC is the parity checker, FD is the floppy disk, FDC is the floppy disk controller, REGn is the NMi restart instruction register,
BUS is a data bus.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 一重化されている主メモリ内からパリテイチ
エツクエラー信号が出たことにより該主メモリか
ら中央制御装置に対しマスク出来ない割り込みが
発生し、該中央制御装置で割り込み処理が起動す
ることにより該主メモリへの再ローデイングを行
う機能を有する電子交換機において、 該中央制御装置が該主メモリへの該再ローデイ
ングを行うか、あるいはテストプログラムを実行
するかを決定するレジスタを設けたことを特徴と
する試験診断方式。 2 一重化されている主メモリ内からパリテイチ
エツクエラー信号が出たことにより該主メモリか
ら中央制御装置に対しマスク出来ない割り込みが
発生し、該中央制御装置で割り込み処理が起動す
ることにより該主メモリへの再ローデイングを行
う機能を有する電子交換機において、 該中央制御装置が該主メモリへの該再ローデイ
ングを行うか、あるいはテストプログラムを実行
するかを決定するレジスタを設け、該レジスタが
該テストプログラムの実行の状態の場合に前記マ
スク出来ない割り込み処理が起動した場合には、
該中央制御装置は該レジスタの状態を識別した
後、該レジスタを該再ローデイングを行う状態に
反転させ、該テストプログラムを実行することを
特徴とする試験診断方式。
[Claims] 1. When a parity check error signal is output from the main memory which is unified, an interrupt that cannot be masked is generated from the main memory to the central control unit, and the central control unit processes the interrupt. In an electronic exchange having a function of reloading the main memory when activated, the central controller has a register that determines whether to reload the main memory or execute a test program. A test diagnosis method characterized by the following. 2 When a parity check error signal is issued from the main memory that is unified, an interrupt that cannot be masked is generated from the main memory to the central control unit, and the interrupt processing is activated in the central control unit. In an electronic exchange having a function of reloading the main memory, a register is provided for determining whether the central control unit performs the reloading of the main memory or executes a test program, and the register is configured to If the non-maskable interrupt processing starts while the test program is running,
A test diagnosis method characterized in that, after identifying the state of the register, the central control unit inverts the register to a state for performing the reloading and executes the test program.
JP59070366A 1984-04-09 1984-04-09 Test diagnostic system Granted JPS60236597A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59070366A JPS60236597A (en) 1984-04-09 1984-04-09 Test diagnostic system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59070366A JPS60236597A (en) 1984-04-09 1984-04-09 Test diagnostic system

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS60236597A JPS60236597A (en) 1985-11-25
JPH0374879B2 true JPH0374879B2 (en) 1991-11-28

Family

ID=13429365

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59070366A Granted JPS60236597A (en) 1984-04-09 1984-04-09 Test diagnostic system

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS60236597A (en)

Also Published As

Publication number Publication date
JPS60236597A (en) 1985-11-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0479230B1 (en) Recovery method and apparatus for a pipelined processing unit of a multiprocessor system
IE56792B1 (en) Method and apparatus for self-testing of floating point accelerator processors
JP2000112584A (en) Computer system provided with countermeasure against power supply fault and its driving method
JPH02294739A (en) Fault detecting system
JPH0374879B2 (en)
JP2855633B2 (en) Fault diagnosis device for dual port memory in multiprocessor system
JPS58181160A (en) Controlling system of emergency operation
JPS6146535A (en) Pseudo error setting control system
JP2786215B2 (en) Restart processing control method
JP2922981B2 (en) Task execution continuation method
JPH0546426A (en) Self-diagnostic circuit
JPH0619720B2 (en) Information processing equipment
JPS6286441A (en) Data trace system
JP2836084B2 (en) Computer inspection equipment
JPH0149975B2 (en)
JPH0644145A (en) Memory error saving system
JPS62212865A (en) Multiprocessor control system
JPS61101845A (en) Test system of information processor
JPH0664569B2 (en) Micro program loading method
JPS60195649A (en) Error reporting system of microprogram-controlled type data processor
JPS6256544B2 (en)
JPH0769846B2 (en) Error processing circuit verification device
JPH05241903A (en) Detecting system for program fault
JPH05289946A (en) Memory control system
JPH02136935A (en) Self-diagnostic system for microprogram controller