JPH0342719B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は電子部品の組立体の製造の分野に属
し、組立体における電子部品の組み付け位置を表
示し、該位置における電子部品の組み付け漏れを
検出して知覚させる電子部品の組立体の監視方法
とその監視要素に関する。

（従来の技術） 従来、プリント基板に電子部品を組み付ける際
には要素個所に組み付ける電子部品の脚端面に光
フアイバーの先端を対設し、光エネルギーを脚端
面に反射させてその反射光の有無を検出して電子
部品の組み付け個所への有無を監視し、見落とし
防止に努めていたものである。

（発明が解決しようとする問題点） 上記の従来技術によると、プリント基板に取り
付ける電子部品の脚が揺動するため、検出むらが
出て確認作業に手間取り効率的な監視ができない
欠陥があつた。本発明はこの点を改善して電子部
品のプリント基板への組み付け作業と確認作業を
能率化できる電子部品の組立体の監視方法とその
方法の実施に使用する監視要素を提供することを
技術的課題とする。

（問題点を解決するための手段） 第１の発明の電子部品の組立体の監視方法は基
板上に組み付けられる電子部品の基板を貫通して
垂下する部品リードにより、水平に横断する光線
路が遮断されたか連通したかにより、基板上にお
ける電子部品の有無を検出する方法において、前
記光線路に直交して部品リードの挿入孔の軸心に
光線を照射して基板上での電子部品の組み付け位
置からの光線を有無を検出して電子部品の組み付
け位置を知覚させるとともに電子部品の組み付け
漏れを監視する方法である。第２の発明の監視要
素は柱状ブロツクの中央に貫通孔を貫設し、該貫
通孔の所要部に交角90゜の末広がり状の円錐空間
を形成し、該円錐空間の上部より上端に向けて前
記貫通孔を所要の勾配で広径とし、貫通孔を挟ん
で柱状ブロツクの下端対称位置より小孔を掘設し
て前記円錐空間に連通し、該小孔と貫通孔の下部
よりそれぞれ所要高さまで光フアイバーを埋設し
て成るものである。

（作用） 所要に配列された柱状ブロツクの挿入孔は電子
部品の組み付け位置の挿入孔において照明表示さ
れ、該挿入孔における電子部品の有無は電子部品
の脚が小孔の一方の光フアイバーから入力される
光エネルギーの屈折反射を確実に制限する。

（実施例） 本発明を実施例により具体的に説明すると、第
１図に示すように電子部品の組立体のベースとな
るプリント基板１は所定の位置決めピン２により
センサー盤３の上部に係載される。センサー盤３
に所要に配列される監視要素ａはその中心に配設
した光フアイバー１５をプリント基板１に所要に
貫設した電子部品のリード線４を挿入組み付けす
るための組み付け孔５に位相を等しくのぞかせて
いる。すなわち、監視要素ａは第２図に示すよう
に柱状ブロツク６と光フアイバーから成り、柱状
ブロツク６は下部ブロツク７と上部ブロツク８と
に分割され、下部ブロツク７はその上部の凸部９
の上面中央より下面に貫通孔１０を貫設し、貫通
孔１０を挟んで対称に凸部９の上面より下面にそ
れぞれ小孔１１を貫設して成り、上部ブロツク８
はその下部に凸部９を係合する凹部１２を掘設
し、凹部１２の上周縁より該周縁を90゜の交角で
上方へ向けて狭径とする円錐空間１３に形成し、
円錐空間１３の上部より上端まで貫通孔１４（挿
入孔）を貫設すると共に上端に向けて所要の勾配
で広径として成り、前記した下部ブロツク７はそ
の凸部９において上部ブロツク８の凹部１２に嵌
入係合されて上部ブロツク８と一体化されてい
る。このようにして成る柱状ブロツク６には下部
ブロツク７において中央の貫通孔１０に所要高さ
まで光フアイバー１５を挿入し、両小孔１１に凸
部９の上面までそれぞれ光フアイバー１６，１
６′を挿通している。かくてプリント基板１の電
子部品の組み付け孔５に位相を等しくしてセンサ
ー盤３に配列された監視要素ａは、所要個所にお
いて中央部の光フアイバー１５が組み付け孔５を
照明すると共に、小孔１１に挿通した一方の光フ
アイバー１６から入力される光エネルギーは鉛直
方向と45゜の角度を成す円錐面１７に反射して貫
通孔１０を横断し、対向する円錐面１７′で同様
に反射して他方の光フアイバー１６′に伝達され、
監視盤（図外）等の監視手段により電子部品の組
み付け位置における電子部品の有無を表示する。
したがつて、電子部品をプリント基板１に組み付
ける場合は組み付け個所が照明指示されるので、
作業者はその個所に電子部品を挿入組み付けすれ
ばよく、しかもこのとき、電子部品のリード線４
が貫通孔１４より安定的に挿入され、円錐空間１
３において一方の光フアイバー１６から入力され
る光エネルギーを遮断することになり、監視手段
の初期設定（開孔状態の表示設定）が変化するの
でその変化を確認し、検出むらなく電子部品の組
み付け漏れの有無を監視できるものである。な
お、開孔状態の表示設定とは開孔状態、すなわ
ち、プリント基板１に所要に貫設された組み付け
孔５にリード線４が挿入されていない状態では監
視手段の表示灯を点灯し、点灯により電子部品の
組み付け漏れを表示する等である。

（発明の効果） 以上のように本発明によれば、監視要素ａから
の照明指示による組み付け作業の能率化と安定的
検出により確認作業の能率化に貢献できるほか、
監視要素ａがコンパクトであるのでプリント基板
１の縮小化或いは一定プリント基板上での多機能
化を実現できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明を施したセンサー盤の概略図、
第２図は監視要素ａの拡大縦断面図である。 図中、６は柱状ブロツク、７は下部ブロツク、
８は上部ブロツク、９は凸部、１０は貫通孔、１
１は小孔、１２は凹部、１３は円錐空間、１４は
貫通孔、１５，１６は光フアイバー、１７は円錐
面、ａは監視要素。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 基板上に組み付けられる電子部品の基板を貫
   通して垂下する部品リードにより水平に横断する
   光線路が遮断されたか連通したかにより基板上に
   おける電子部品の有無を検出する方法において、
   前記光線路に直交して部品リードの挿入孔の軸心
   に光線を照射して基板上での電子部品の組み付け
   装置からの光線を検出して電子部品の組み付け位
   置を知覚させるとともに電子部品の組み付け漏れ
   を監視する電子部品の組立体の監視方法。 ２ 柱状ブロツクの中央に貫通孔を貫設し、該貫
   通孔の軸心上の所面位置に交角90゜の末広がり状
   の円錐空間を形成し、該円錐空間の上部より柱状
   ブロツクの上端に向けて前記貫通孔を広径に拡大
   し、貫通孔を挟んで柱状ブロツクの下端対称位置
   より前記円錐空間に小孔を貫設し、該小孔と貫通
   孔に下部よりそれぞれ所要の高さまで光フアイバ
   ーを埋設し、貫通孔への電子部品挿入による貫通
   孔開閉を検出する監視盤を小孔の光フアイバーに
   付設して成る電子部品組立体の監視要素。