JPH03284705A - 偏光ビームスプリッタ - Google Patents

偏光ビームスプリッタ

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JPH03284705A
JPH03284705A JP8673490A JP8673490A JPH03284705A JP H03284705 A JPH03284705 A JP H03284705A JP 8673490 A JP8673490 A JP 8673490A JP 8673490 A JP8673490 A JP 8673490A JP H03284705 A JPH03284705 A JP H03284705A
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JP
Japan
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light
dielectric multilayer
transmitting substrate
multilayer film
beam splitter
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JP8673490A
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English (en)
Inventor
Sadaji Inoue
井上 貞二
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Hoya Corp
Original Assignee
Hoya Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、偏光ビームスプリッタに関し、特に広帯域に
亘って優れた分離比を有する偏光ビームスプリッタに関
する。
(従来の技術) P波を透過し、S波を反射することによって、P波とS
波を分離する偏光ビームスプリッタとして第6図に示す
ものが知られている。
この従来の偏光ビームスプリッタbsは、一対の三角柱
形状のガラス基体101.102を接着剤107を介し
て立方体状に接着するとともに、一方のガラス基体10
1の接着面に誘電体釜EH104を積層して構成される
前配誘電体多l膜104、高屈折率材料(H)からなる
層と低屈折率材料(L)からなる層とを交互に積層した
ものが用いられる。例えば、高屈折率材料として二酸化
ジルコン(n=1.85)、低屈折率材料として二酸化
ケイ素(N=1.46>を4分の1波長層の膜厚で(H
,L)78積層してなる誘電体多層膜104を前記一方
のガラス基体101に蒸着した従来の偏光ビームスプリ
ツタbsの分光反射率曲線を第7図に示した。
第7図に示す分光反射率曲線によれば偏光ビームスプリ
ッタは、P波を透過し、S波を反射する実用上使用可能
な波長範囲Xが170nm (約1280nm〜約14
50nm)程度しかなく、またP波とS波の分離比が一
25dB程度しか得られなかった。
そこで、使用可能な波長範囲Xを広げるとともに、分離
比を向上せしめるために、誘電体多層膜の屈折率差を拡
大することが行われている。即ち、高屈折率材料として
硫化亜鉛(n=2.35)、低屈折率材料としてクリオ
ライト(n=1.35)を用いて、前述したと同様な膜
構成の偏光ビームスプリッタによる計算分光反射率曲線
を第8図に示した。
(発明が解決しようとする課題) しかしながら、第8図に示す如く、屈折率差を拡大して
も実用上使用可能な波長範囲×が約25Qnm(約12
70nm〜約1520nm)Lか得ることが出来ず、1
つの偏光ビームスプリッタで500nm以上の広帯域を
カバーすることが出来ず、汎用性に劣るという不具合が
あった。
そこで本発明の目的は広帯域に亘って使用することが出
来、汎用性の高い偏光ビームスプリッタを提供するにあ
る。
(課題を解決するための手段) 上記目的を達成すべく本発明の偏光ビームスプリッタは
、第1透光性基体と、この第1透光性基体に接着される
第2透光性基体との間の接着部に誘電体多層膜を介在さ
せてなる偏光ビームスプリッタにおいて、前記誘電体多
層膜は、第1透光性基体側に付着した第1透光性基体側
誘電体多層膜と、第2透光性基体側に付着した第2透光
性基体側誘電体多層膜とからなり、前記第1透光性基体
側誘電体多層膜及び第2透光性基体側誘電体多層膜は各
々高屈折率層、中屈折率層及び低屈折率層を備えてなり
、前記第1透光性基体側誘電体多層膜の蒸着時の中心波
長と、前記第2透光性基体側誘電体多層膜の蒸着時の中
心波長とを異ならせたことを特徴とする。
(作用) 誘電体多層膜を第1透光性基板側に付着した第1透光性
基体側誘電体多層膜と、第2透光性基板側に付着した第
2透光性基体a誘電体多層膜から構成するとともに、前
記第1透光性基体側誘電体多WtM及び第2透光性基体
側誘電体多l膜を各々高屈折率層、中屈折率層及び低屈
折率層から構成し、前記第1透光性基体側誘電体多層膜
の蒸着時の中心波長と、前記第2透光性基体側誘電体多
層膜の蒸着時の中心波長とを異ならせて偏光ビームスプ
リッタを構成したため、広帯域に亘ってP波とS波と分
離することが出来る。
(実施例) 以下に本発明の実施例を添付図面に基いて説明する。
第1図は実施例に係わる偏光ビームスプリッタの概略構
成を示す膜構成である。
第1図に示す如く本発明に係わる偏光ビームスプリッタ
BSは、直角三角柱プリズムからなる第1透光性基体1
と、この第1透光性基体1と同様な直角三角柱プリズム
からなる第2透光性基体2とを備えてなる。これらの第
1及び第2透光性基体1,2の斜面1S、28間には、
第1透光性基体1の斜面1Sに蒸着される第1透光性基
体側誘電体多層115と、この第1透光性基体側誘電体
多11115の蒸着時の中心波長と異なる蒸着時の中心
波長を有し、第2透光性基体2の斜面2Sに蒸着される
第2透光性基体側誘電体多層膜6とからなる誘電体長H
MAを介在させる。
そして第1及び第2透光性基体1.2の斜面IS、2S
に接着剤7を充填して立方状に接着する。
尚、この接着によって第1y、電体多層膜5と第2誘電
体多層膜6との間にも接着剤3が介在する。
前記第1及び第2透光性基体1.2は共にガラス材、本
実施例ではFD−2(HOYA株式会社商品名:n=1
.62 at 1300nm)からなり、また、前記接
着剤7は光学ボンド(3052Cスリ一ボンド商品名)
を用いた。ここで偏光ビームスプリッタBSの接合面へ
の入射角度が45°の場合に、P波が広帯域に亘って高
透過率を有し、透過変動を少なくするためには第1及び
第2透光性基体1.2の屈折率を1.61〜1.64の
範囲にすることが好ましい。
第2図は第1透光性基体側誘電体多層膜の構成を示す図
である。
図中、51及び52はそれぞれ本実施例では0H−5(
オプトライン商品名 屈折率n=2.06 at 13
00nm)からなる第1高屈折率層(以下箱1H!と記
す)及び同一材料からなる第2^屈折率!!(以下箱υ
1と記す。なお、第1H層とは膜厚が異なる。)、5C
はフッ化マグネシウム(例えばメルクArt5834商
品名 屈折率n=1.34 at 1300nm)から
なる低屈折率材料層く以下Lllと記す)、53はHI
IとL層との中間の屈折率を有する二酸化ケイ素(例え
ばメルクArt7537商品名 屈折率n=1゜45 
at 1300nm>からなる中屈折率層(以下MII
と記す。)である。
第1透光性基体1の斜面1Sに8層51を周知の真空蒸
着法により成膜する。その成膜においては、電子ビーム
加熱法を用い、蒸着時の中心波長(以下λと記す)22
50nmでλ/8の膜厚で蒸着し、次にM層53を電子
ビーム加熱を用い、λ=2250でλ/4の膜厚で蒸着
する。次に第2H層52をλ=2250nmでλ/4の
膜厚で蒸着する。これを繰り返して第2H層52とM層
53を911まで蒸着し、第1誘電体多層115Aを構
成する。次に1層5Cを抵抗加熱法あるいは電子ビーム
加熱法によってλ=2250でλ/8の膜厚で蒸着する
。次に第2H層52とM層53とをλ=2250でλ/
4の膜厚で181iまで積層する。次に第1H層51を
λ−2250nmでλ/8蒸着する。なお、第2H層5
2、Mlf53及びLII5Cも第1)−11i51と
同様に周知の真空蒸着法により成膜した。このようにし
て第2誘電体多層115Bを構成する。以上の第1誘電
体多層膜5A、中間膜であるLll’5C及び前記中間
膜5Cより、P波透過率の波長による変動を小さくする
ことが出来る。
第3図は第1透光性基体側誘電体多[1膜5の計算分光
反射率曲線を示す図である。
図中、PはP成分の反射率を示し、SはS成分の反射率
を示す。
第2透光性基体側誘電体多116は、第1透光性基体側
誘電体多層s15と同様な構成を有し、膜厚のみ異なる
。即ち、λ=1850nmで蒸着する。
第4図はす第2透光性基体側誘電体多1膜の計算分光反
射率曲線を示す図である。
図中、PはO成分の反射率を示し、SはS成分の反射率
を示す。
以上の第1透光性基体1及び第2透光性基体2は接着剤
7である光学ボンド(3041スリ一ボンド商品名)を
介して第1図に示す如く接着される。
第5図は本実施例に係わる偏光ビームスプリッタの赤外
域の分光透過率を示す図である。
図中PはP成分の透過率を示し、SはS成分の透過率を
示す。本実施例の偏光ビームスプリッタBSによれば、
1l100nから1650nmtで500nm以上の広
帯域に亘ってS成分は透過光がなく、P成分は95%以
上の透過率を得ることが出来る。
波長1300nmと1550nmのレーザ光の測定によ
ると偏光ビームスプリッタBSの特性として重視される
透過率消光比は、両波長とも一40dB以上である。
以上において、蒸着時の中心波長とは、偏光ビームスプ
リッタに構成した時に1300nm又は1550nmで
S成分が全反射する様に設計された膜厚を垂直入射の光
学モニターと干渉フィルタλnmで各々の誘電体膜を制
aする場合における干渉フィルタのλのことを言う。
尚、以上において、第1透光性基体側誘電体多層lI5
及び第2透光性基体側誘電体多11膜6をそれぞれ別ロ
フトで形成したが、真空チャンバー内の膜厚のバラツキ
を少なくするための真空蒸着装置内のシャヘイ板を取り
外し、膜厚のバラツキを生ずる如く配置すれば、同ロフ
トで蒸着時の中心波長の異なるものを作ることが出来る
。あるいは蒸発源からの一方の被蒸着物の距離を変えて
も同様に蒸着時の中心波長の異なるものを作ることがで
きる。
また、上述した実施例によれば、第1及び第28115
1.52、M層53及びL層5Cに膜応力の度合が小さ
く出来、各々の膜応力をうち消し合う構成にしたため、
接着剤7と、第1透光性基体側誘電体多層膜5及び第2
透光性基体側誘電体多誘電体躾を劣化させる湿気に強い
。従って接着剤7の吸水性を考慮する必要がなく、接着
剤7の選択の幅が広がるという利点を有する。
尚、以上において、8層にはTiO2,0H−3(オプ
トライン 商品名)等に代えることが出来る。
(考案の効果) 以上の説明から明らかな如く本発明によれば、第1透光
性基体と、この第1透光性基体に接着される第2透光性
基体との間の接着部に誘電体多層膜を介在させてなる偏
光ビームスプリッタにおいて、前記誘電体多層膜を、第
1透光性基体側に付着した第1透光性基体側誘電体多層
膜と、第2透光性基体側に付着した第2透光性基体側誘
電体多MMとから構成するとともに、前記第1透光性基
体側誘電体多層膜及び第2透光性基体側誘電体多m1l
lを各々高屈折率層、中屈折率層及び低屈折率層から構
成し、前記第1透光性基体側誘電体多層膜の蒸着時の中
心波長と、前記第2透光性基体側誘電体多層膜の蒸着時
の中心波長とを異ならせて偏光ビームスプリッタを構成
したため、広帯域に亘ってP波とS波を分離することが
出来、従って汎用性の高い偏光ビームスプリッタを提供
することが出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係わる偏光ビームスプリッタの一実施
例を示す構成図、第2図は第1透光性基体側透光性基体
側誘電体多層膜の構成図、第3図は第1透光性基体側誘
電体多層膜の計算分光反射率曲線を示す図、第4図は第
2透光性基体側誘電体多層膜の計算分光反射率曲線を示
す図、第5図は本発明の一実施例に係わる偏光ビームス
プリッタの分光透過率曲線を示す図、第6図は従来の偏
光ビームスプリッタの構成図、第7図及び第8図は従来
の偏光ビームスプリッタの分光反射率曲線を示す図であ
る。 1・・・第1透光性基体 2・・・第2透光性基体 3・・・接着剤 4・・・誘電体多層膜 5・・・第1透光性基体側誘電体多層膜6・・・第2透
光性基体側誘電体多層膜H・・・高屈折率層 し・・・低屈折率層 M・・・中屈折率層 第2図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 第1透光性基体と、この第1透光性基体に接着される第
    2透光性基体との間の接着部に誘電体多層膜を介在させ
    てなる偏光ビームスプリッタにおいて、 前記誘電体多層膜は、第1透光性基体側に付着した第1
    透光性基体側誘電体多層膜と、第2透光性基体側に付着
    した第2透光性基体側誘電体多層膜とからなり、前記第
    1透光性基体側誘電体多層膜及び第2透光性基体側誘電
    体多層膜は各々高屈折率層、中屈折率層及び低屈折率層
    を備えてなり、前記第1透光性基体側誘電体多層膜の蒸
    着時の中心波長と、前記第2透光性基体側誘電体多層膜
    の蒸着時の中心波長とを異ならせたことを特徴とする偏
    光ビームスプリッタ。
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