JPH03278460A - Semiconductor light emitting device - Google Patents

Semiconductor light emitting device

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JPH03278460A
JPH03278460A JP2249549A JP24954990A JPH03278460A JP H03278460 A JPH03278460 A JP H03278460A JP 2249549 A JP2249549 A JP 2249549A JP 24954990 A JP24954990 A JP 24954990A JP H03278460 A JPH03278460 A JP H03278460A
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crystal layer
light
semiconductor
incoherent
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Etsuo Noguchi
野口 悦男
Hiroshi Yasaka
洋 八坂
Osamu Mikami
修 三上
Katsuaki Kiyoku
克明 曲
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Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Abstract

PURPOSE:To remarkably reduce size of a device by selectively obtaining incoherent light and laser light to the outside from the same light radiating surface for incoherent light and laser light. CONSTITUTION:Light traveling toward an end surface 11b of a stacked material 10 is trapped within semiconductor crystal layers 2, 4 and 5 for propagation toward the end surface 11b of the stacked material 10, the almost all light is absorbed within a semiconductor crystal layer 3B for laser light and does not reach the end surface 11b. However, light traveling toward an end surface 11a of the stacked material 10 forming a light radiating surface 12 for incoherent light and laser light is little absorbed by a semiconductor crystal layer 3A for incoherent light, trapped in the crystal layers 2, 4 and 5 and is then propagated. Thereafter this light reaches the light radiating surface 12 for incoherent light and laser light. Thereby, the light generated by a crystal part M1 is selectively radiated, as the incoherent light, to the outside from the light radiating surface 12 for incoherent light and laser light.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention] 【産業上の利用分野] 本発明は、インコヒーレント光とレーザ光とを選択的に得ることができる半導体発光装置に関する。 【従来の技術】[Industrial application field] The present invention relates to a semiconductor light emitting device that can selectively obtain incoherent light and laser light. [Conventional technology]

従来、インコヒーレント光を得ることができるインコヒ
ーレント光用半導体発光素子と、レーデ光を得ることが
できるレーザ光用半導体発光素子とを各別に用意し、そ
して、それらインコヒーレント光用半導体発光素子とレ
ーザ光用半導体発光素子とを選択することによって、イ
ンコヒーレント光とレーザ光とを選択的に得るようにし
た半導体発光装置が、測定用光源装置に用いられている
Conventionally, a semiconductor light emitting device for incoherent light that can obtain incoherent light and a semiconductor light emitting device for laser light that can obtain laser light are separately prepared, and then these semiconductor light emitting devices for incoherent light and A semiconductor light emitting device that selectively obtains incoherent light and laser light by selecting a semiconductor light emitting element for laser light is used as a light source device for measurement.

【発明が解決しようとする課題】[Problem to be solved by the invention]

しかしながら、上述した従来の半導体発光装置の場合、
インコヒーレント光を得ることができるインコヒーレン
ト光用半導体発光素子と、レーザ光を得ることができる
レーザ光用半導体発光素子との2つの半導体発光素子を
各別に用意する必要があり、このため、半導体発光@置
が大型化する、という欠点を有していた。 また、上述した従来の半導体発光装置の場合、インコヒ
ーシン1〜光とレーザ光とをそれらに共通の光学系に供
給する場合、インコヒーレント光用半導体発光素子と光
学系との間に延長しCいるインコヒーレント光用伝送路
と、レーザ光用半導体発光素子と光学系との間に延長し
ているレーザ光用伝送路との2つの伝送路を各別に用意
しなければ、インコヒーレント光とレーザ光とを、それ
らに共通の光学系に、選択的に供給させることができず
、従って、インコヒーレント光とレーザ光とをそれらに
共通の光学系に供給する場合、その供給手段が、複雑大
型化する、という欠点を有していた。
However, in the case of the conventional semiconductor light emitting device described above,
It is necessary to separately prepare two semiconductor light emitting devices: a semiconductor light emitting device for incoherent light that can obtain incoherent light, and a semiconductor light emitting device for laser light that can obtain laser light. This has the disadvantage that the light emitting device becomes large. In addition, in the case of the conventional semiconductor light emitting device described above, when incohesin 1 to supply light and laser light to a common optical system, a C Unless two separate transmission paths are prepared: an incoherent light transmission path extending between the laser light semiconductor light emitting device and the optical system, incoherent light and laser light transmission paths must be prepared separately. Therefore, when incoherent light and laser light are supplied to a common optical system, the supply means is complicated and large. It had the disadvantage of becoming

【本発明の目的】[Object of the present invention]

よって、本発明は、上述した欠点のない、新規な半導体
発光装置を提案せんとするものである。 [:l1題を解決するための手段] 本願第1番目の発明〜本願第3番目の発明による半導体
発光装置は、■第1の導電型を与える不純物または第1
の導電型とは逆の第2の導電をを与える不純物のいずれ
も意図的に導入させていないか導入させているとしても
十分低い濃度しか導入させていない第1の半導体結晶層
と、その第1の半導体結晶層の相対向する第1及び第2
の主面上にそれらとそれぞれ接して形成され且つともに
上記第1の半導体結晶層に比し広いエネルギバンドギャ
ップと低い屈折率とを有するとともに、第1及び第2の
導電型をそれぞれ有する第2及び第3の半導体結晶層と
を有し、且つ相対向しているフアブリペローの反射面で
なる第1及び第2の端面を有する半導体積層体を有し、
そして、■上記半導体積層体の相対向する第1及び第2
の主面上に、第1及び第2の電極層が相対向してそれぞ
れ配され、また、■上記第1の半導体結晶層が、上記半
導体積層体の上記第1の端面側におけるインコヒーレン
ト光用半導体結晶層と、上記半導体積層体の上記第2の
端面側におけるレーザ光用半導体結晶層とを有し、さら
に、■上記インコヒーレント光用半導体結晶層が、上記
レーザ光用半導体結晶層側とは反対側から上記レーザ光
用半導体結晶層側に順次配列されているn個(ただし、
nは1以上の整数)の第1、第2・・・・・・・・・第
nの半導体結晶層部を有し、上記インコと一しント光用
半導体結晶層の第1、第2・・・・・・・・・第nの半
導体結晶層部がそれらの順に順次小さな第1、第2・・
・・・・・・・第nのエネルギバンドギャップをそれぞ
れ有し、また、■上記レーザ光用半導体結晶層が、上記
インコヒーレント光用半導体結晶層の第nの半導体結晶
層部に比し小さなエネルギバンドギャップを有し、さら
に、■上記第1の電極層が、上記インコヒーレント光用
半導体結晶層と対向しているインコヒーレント光用電極
層と、上記レーザ光用半導体結晶層と対向しているレー
ザ光用電極層とを有し、また、■上記単導体a履体の上
記第7の端面をインコヒーレント光用及びレーザ光用光
放射面としている。 この場合、上記第1の電極層のインコヒーレント光用電
極層を、上記インコヒーレント光用半導体結晶層の第1
、第2・・・・・・・・・第nの半導体結晶層部にそれ
ぞれ対向している第1、第2・・・・・・・・・第nの
電極層部を有するものとし得る。 また、上記インコヒーレント光用半導体結晶層の第1、
第2・・・・・・・・・第nの半導体結晶層部の第1、
第2・・・・・・・・・第nのエネルギバンドギャップ
に、第1及び第2の半導体結晶層部でそれぞれ発光する
光の帯域、第2及び第3の半導体結晶層部でそれぞれ発
光する光の帯域・・・・・・・・・第(n−1)及び第
nの半導体結晶層部でそれぞれ発光する光帯域がそれぞ
れ互に一部重複して得られる値をそれぞれ有せしめ得る
。 また、本願第4番目の発明〜本願第6番目の発明による
半導体発光装置は、■(i)第1の導電型を与える不純
物または第1の1lli型とは逆の第2の導電型を与え
る不純物のいずれも意図的に導入させていないか導入さ
せているとしても十分低い濃度でしか導入させていない
複数n個の第1、第2・・・・・・・・・第nのインコ
ヒーレント光用半導体結晶層と、第1の導電型を与える
不純物または第1の導電型とは逆の第2の導電型を与え
る不純物のいずれも意図的に導入させていないか導入さ
せているとしても十分低い濃度でしか導入させていない
レーザ光用半導体結晶層とを有し、(ii)上記第1の
インコヒーレント光用半導体結晶層が、第1の半導体層
上にそれと接して積層して形成され、(iii)上記第
2、第3・・・・・・・・・第nのインコヒーレント光
用半導体結晶層が、上記第1、第2・・・・・・・・・
第(n−1)のインコヒーレント光用半導体結晶層上に
、それらの一部を上方からみて順次配列されている第1
、第2・・・・・・・・・第(n−1)の半導体結晶層
部としてそれぞれ残している状態に第2、第3・・・・
・・・・・第nの半導体層をそれぞれ介して積層して形
成され、(1v)上記レーザ光用半導体結晶層が、上記
第nのインコヒーレント光用半導体結晶層上に、その一
部を第nの半導体結晶層部として残している状態に第(
n+1)の半導体層を介して積層して形成され、(V)
上記第1、第2・・・・・・・・・第nの半導体結晶層
部及び上記レーザ光用半導体結晶層上に、第(n+2)
の半導体層が連続延長して形成されている構成を有し、
(vi)且つ相対向しているファブリペロ−の反射面で
なり且つ上記第1のインコヒーレント光用半導体結晶層
の第1の半導体結晶一部側の端面及びそれとは反対側の
端面をそれぞれ形成している第1及び第2の端面を有す
る半導体積層体を有し、そして、■上記半導体積層体の
相対向する第1及び第2の主面上に、第1及び第2の電
極層が相対向してそれぞれ配され、また、■上記第1、
第2・・・・・・・・・第nのインコヒーレント光用半
導体結晶層がそれらの順に順次小さな第1、第2・・・
・・・・・・第nのエネルギバンドギャップをそれぞれ
有し、さらに、■上記レーザ光用半導体結晶層が、上記
第nのインコヒーレント光用半導体結晶層に比し小さな
エネルギバンドギャップを有し、また、■(i)上記第
1の半導体層が、上記第1のインコヒーレント光用半導
体結晶層に比し広いエネルギバンドギャップと低い屈折
率とを有するとともに第1のS電型を有し、(ii)上
記第2、第3・・・・・・・・・第nの半導体層が、上
記第1及び第2、上記第2及び第3・・・・・・・・・
上記第(n−1)及び第nのインコヒーレント光用半導
体結晶層に比し広いエネルギバンドギャップと低い屈折
率とをそれぞれ有するとともに第1の導電型を与える不
純物または第1の導電型とは逆の第2の導電型を与える
不純物のいずれも意図的に導入させていないか第1の導
電型を有し、(iii)上記第(n+1)の半導体層が
、上記第nのインコヒーレント光用半導体結晶層及びレ
ーザ光用半導体結晶層に比し広いエネルギバンドギャッ
プと低い屈折率とを有するとともに第1の導電型を与え
る不純物または第1の導電型とは逆の第2の導電型を与
える不純物のいずれも意図的に導入させていないか第1
の導電型を有し、(iv)上記第(n+2)の半導体層
が、上記第1〜第nのインコヒーレント光用半導体結晶
層及び上記レーザ光用半導体結晶層に比し広いエネルギ
バンドギャップと低い屈折率とを有するとともに第2の
導電型を有し、さらに、■上記第1の電極層が、上記第
1〜第nのインコヒーレント光用半導体結晶層と対向し
ているインコヒーレント光用電極層と、上記レーザ光用
半導体結晶層と対向しているし〜ザ光用電極層とを有し
、また、■上記半導体積層体の上記第1の端面をインコ
ヒーレント光用及びレーザ光用光放射面としている。 この場合、上記第1の電極層のインコヒーレント光用電
極層を、上記第1、第2・・・・・・・・・第nのイン
コヒーレント光用半導体結晶層の第1、第2・・・・・
・・・・第nの半導体結晶層部にそれぞれ対向している
第1、第2・・・・・・・・・第nの電極層部を有する
ものとし得る。 また、上記第1、第2・・・・・・・・・第nのインコ
ヒーレント光用半導体結晶層の第1、第2・・・・・・
・・・第nのエネルギバンドギャップに、第1及び第2
の半導体結晶層部でそれぞれ発光する光の帯域、第2及
び第3の半導体結晶層部でそれぞれ発光する光の帯域・
・・・・・・・・第(n−1)及び第nの半導体結晶層
部でそれぞれ発光する光帯域がそれぞれ互に一部重複し
て得られる値をそれぞれ右せしめ智る。
Therefore, the present invention aims to propose a novel semiconductor light emitting device that does not have the above-mentioned drawbacks. [:Means for Solving Problem 1] The semiconductor light emitting device according to the first invention to the third invention of the present application is characterized in that:
A first semiconductor crystal layer in which no impurity that imparts a second conductivity opposite to that of the conductivity type is intentionally introduced, or even if it is introduced, it is introduced only at a sufficiently low concentration; first and second semiconductor crystal layers facing each other in one semiconductor crystal layer;
A second semiconductor crystal layer is formed on the main surface of and in contact with the first semiconductor crystal layer, and has a wider energy band gap and a lower refractive index than the first semiconductor crystal layer, and has a first conductivity type and a second conductivity type, respectively. and a third semiconductor crystal layer, and has first and second end faces made of opposing Fabry-Perot reflective surfaces,
and (1) the first and second opposing surfaces of the semiconductor laminate.
(1) first and second electrode layers are disposed facing each other on the main surface of the semiconductor stack; and a semiconductor crystal layer for laser light on the second end face side of the semiconductor laminate; n pieces arranged sequentially from the side opposite to the above semiconductor crystal layer for laser light (however,
(n is an integer greater than or equal to 1)), the first and second semiconductor crystal layers of the above-mentioned parakeet and one-shot light semiconductor crystal layers are ......The n-th semiconductor crystal layer portion is successively smaller in order of the first, second, etc.
. . . each has an n-th energy band gap, and (1) the semiconductor crystal layer for laser light is smaller than the n-th semiconductor crystal layer portion of the semiconductor crystal layer for incoherent light. (1) the first electrode layer has an incoherent light electrode layer facing the incoherent light semiconductor crystal layer, and an incoherent light semiconductor crystal layer facing the laser light semiconductor crystal layer; (1) The seventh end surface of the single conductor (a) is used as a light emitting surface for incoherent light and laser light. In this case, the incoherent light electrode layer of the first electrode layer is replaced with the first incoherent light semiconductor crystal layer of the incoherent light semiconductor crystal layer.
, the second . . . n th semiconductor crystal layer portion may have first and second . . Further, the first of the semiconductor crystal layer for incoherent light,
Second......The first of the nth semiconductor crystal layer section,
2nd... In the n-th energy band gap, a band of light emitted by the first and second semiconductor crystal layer parts, and a band of light emitted by the second and third semiconductor crystal layer parts, respectively. The light bands emitted by the (n-1)th and nth semiconductor crystal layer portions may each have values obtained by partially overlapping with each other. . Further, the semiconductor light emitting device according to the fourth invention to the sixth invention of the present application is characterized in that: (i) an impurity imparting a first conductivity type or a second conductivity type opposite to the first 1lli type; A plurality of n first, second, etc. n-th incoherent impurities in which none of the impurities are intentionally introduced, or if they are, they are introduced only at sufficiently low concentrations. Neither an impurity that imparts a first conductivity type nor an impurity that imparts a second conductivity type opposite to the first conductivity type is intentionally introduced into the optical semiconductor crystal layer, or even if it is introduced. (ii) the first semiconductor crystal layer for incoherent light is formed on the first semiconductor layer in contact with the first semiconductor layer; (iii) the second, third...... n-th semiconductor crystal layer for incoherent light is the first, second......
On the (n-1)th incoherent optical semiconductor crystal layer, the first
, second...... The second, third...... are left as the (n-1)th semiconductor crystal layer portions, respectively.
. . . is formed by stacking the n-th semiconductor layers through each other, and (1v) the semiconductor crystal layer for laser light has a part thereof on the n-th semiconductor crystal layer for incoherent light. The n-th (
(V)
The (n+2)th semiconductor crystal layer section and the semiconductor crystal layer for laser light
It has a structure in which semiconductor layers are formed in a continuous manner,
(vi) and are formed of opposing Fabry-Perot reflecting surfaces, and form an end face on one side of the first semiconductor crystal of the first semiconductor crystal layer for incoherent light and an end face on the opposite side, respectively. a semiconductor stacked body having first and second end faces facing each other; ■The above first,
Second......The n-th incoherent optical semiconductor crystal layer is sequentially smaller than the first, second...
. . . each has an n-th energy band gap, and further, (1) the semiconductor crystal layer for laser light has a smaller energy band gap than the n-th semiconductor crystal layer for incoherent light; , (i) the first semiconductor layer has a wider energy bandgap and lower refractive index than the first incoherent optical semiconductor crystal layer, and has a first S-electrode type; , (ii) the second, third, etc. n-th semiconductor layer is the first and second semiconductor layer, the second and third semiconductor layer, etc.
What is an impurity or a first conductivity type that has a wider energy band gap and a lower refractive index than the (n-1)th and nth incoherent optical semiconductor crystal layers, respectively, and provides a first conductivity type? (iii) the (n+1)th semiconductor layer is not intentionally introduced with any impurity giving the opposite second conductivity type, or has the first conductivity type, and (iii) the (n+1)th semiconductor layer The impurity has a wider energy band gap and lower refractive index than the semiconductor crystal layer for use and the semiconductor crystal layer for laser light, and also provides a first conductivity type or a second conductivity type opposite to the first conductivity type. The first thing to check is whether any of the impurities given are intentionally introduced.
(iv) the (n+2)th semiconductor layer has a wider energy band gap than the first to nth semiconductor crystal layers for incoherent light and the semiconductor crystal layer for laser light; a semiconductor crystal layer for incoherent light, which has a low refractive index and a second conductivity type; an electrode layer, and an electrode layer for laser light, which faces the semiconductor crystal layer for laser light; It is a light emitting surface. In this case, the incoherent light electrode layer of the first electrode layer is replaced with the first, second, .・・・・・・
. . . may have first, second, . . . nth electrode layer portions facing the nth semiconductor crystal layer portion, respectively. In addition, the first, second, etc. of the above-mentioned first, second, etc., n-th incoherent light semiconductor crystal layer.
. . . in the n-th energy band gap, the first and second
The band of light emitted by each of the second and third semiconductor crystal layer parts, the band of light emitted by each of the second and third semiconductor crystal layer parts.
. . . Determine the values obtained when the light bands emitted from the (n-1)th and nth semiconductor crystal layer portions partially overlap with each other.

【作用・効果】[Action/effect]

本願第1番目の発明〜本願第3番目の発明による半導体
発光装置によれば、第1の電極層のインコヒーレント光
用電極層と第2の電極層との間に所要のインコヒーレン
ト光用電源を接続すれば、そのインコヒーレント光用電
源から、電流が、半導体積層体に、第1の半導体結晶層
のインコヒーレント光用半導体結晶層の第1、第2・・
・・−・・・・第nの半導体結晶層部を通って流れるこ
とから、そのインコヒーレント光用半導体結晶層の第1
、第2・・・・・・・・・第nの半導体結晶層部におい
て、それら第1、第2・・・・・・・・・第nの半導体
結晶層部のエネルギバンドギャップに応じた波長をそれ
ぞれ中心とする帯域を有する光がそれぞれ発生する。 そして、それら第1、第2・・・・・・・・・第nの半
導体結晶層部でそれぞれ発生した光は、第1、第2・・
・・・・・・・第nの半導体結晶層部がそれらの順にイ
ンコヒーレント光用及びレーザ光用光放射面を形成して
いる半導体積層体の第1の端面側から順次配列され且つ
その配列順に順次小さな第1、第2・・・・・・・・・
第nのエネルギバンドギャップを有し、また、レーザ光
用半導体結晶層が半導体積層体の第2の端面側に配され
且つインコヒーレント光用半導体結晶層の第nの半導体
結晶層部に比し小さなエネルギバンドギャップを有する
ので、半導体積層体の第2の端面側に向う光分について
は、第1の半導体結晶層を、第2及び第3の半導体結晶
層によって閉じ込められて半導体積層体の第2の端面側
に伝播せんとするが、第1の半導体結晶層の第2〜第n
の半導体結晶層部及びレーザ光用半導体結晶層、第3〜
第nの半導体結晶層部及びレーザ光用半導体結晶層・・
・・・・・・・レーザ光用半導体結晶層内でそれぞれほ
とんど吸収され、第2の端面にほとんど達しない。しか
しながら、インコヒーレント光用及びレーザ光用光放射
面を形成している半導体積層体の第1の端面側に向う光
分については、インコヒーレント光用半導体結晶層を、
そのインコヒーレント光用半導体結晶層においてほとん
ど吸収されずに、第2及び第3の半導体結晶層によって
閉じ込められて伝播し、インコヒーレント光用及びレー
ザ光用光放射面に達する。 このため、インコヒーレント光用半導体結晶層の第1、
第2・・・・・・・・・第nの半導体結晶層部でそれぞ
れ発生する光が、インコヒーレント光として、インコヒ
ーレント光用及びレーザ光用光放射面から、外部に放射
して得られる。 また、この場合、半導体積層体に、イ
ンコヒーレント光用電源からの電流を継続して流せば、
インコヒーレント光用及びレーザ光用光放射面から外部
に放射されるインコヒーレント光が、第1の半導体結晶
層のインコヒーレント光用半導体結晶層に流れる電流に
応じて、比較的高い輝度で得られる。 さらに、インコヒーレント光用及びレーザ光用光放射面
から外部に放射して得られるインコヒーレント光が、イ
ンコヒーレント光用及びレーザ光用光放射面上における
インコヒーシン1〜光用半導体結晶層の第1の半導体結
晶層部の端面という局部的な領域から外部に放射される
光であるので、インコヒーレント光用及びレーザ光用光
放射面から外部に放射して得られるインコヒーレント光
が、インコヒーレント光用半導体結晶層の第1の半導体
結晶層部の厚さに応じて、比較的狭い放射角で放射され
る。 よって、本願第1番目の発明〜本願第3番目の発明によ
る半導体発光装置によれば、インコヒーレント光を、イ
ンコヒーレント光用及びレーザ光用光放射面から、外部
に、比較的高い強度で且つ比較的狭い放射角で得ること
ができる。 また、この場合、インコヒーレント光用電極層を、イン
コヒーレント光用半導体結晶層の第1、第2・・・・・
・・・・第nの半導体結晶層部にそれぞれ対向している
第1、第2・・・・・・・・・第nの電極層部を有する
ものとすれば、それら第1、第2・・・・・・・・・第
nの電極層部のそれぞれと第2の電極層との間に第1、
第2・・・・・・・・・第nのインコヒーレント光用電
源を接続することができるので、第1、第2・・・・・
・・・・第nの半導体結晶層部でそれぞれ発光する光の
強度を各別に調整することができ、よって、インコヒー
レント光用及びレーザ光用光tl111面から放射する
インコヒーレント光の波長に対する強度分布を調整する
ことができる。 さらに、第1、第2・・・・・・−・・第nの半導体結
晶層部のそれぞれの第1、第2・・・・・・・・・第n
のエネルギバンドギャップを、第1及び第2の半導体結
晶層部でそれぞれ発生する光の帯域、第2及び第3の半
導体結晶層部でそれぞれ発生する光の帯域、・・・・・
・・・・第(n−1)及び第nの半導体結晶層部でそれ
ぞれ発生する光の帯域がそれぞれ互に一部重複して得ら
れる範囲で、第1及び第2のエネルギバンドギャップ間
、第2及び第3のエネルギバンドギャップ間、・・・・
・・・・・第(n−1)及び第nのエネルギバンドギャ
ップ間にそれぞれ大きな差が得られる値に予め選定して
おけば、インコヒーレント光用及びレーザ光用光放射面
から外部に放射して得られるインコヒーレント光を、広
い帯域幅を有する1つの帯域を有するものとして得るこ
とができる。 また、本願第1番目の発明〜本願第3番目の発明による
半導体発光装置によれば、第1の電極層のレーザ光用電
極層と第2の電極層との間に所要のレーザ光用電源を接
続すれば、そのレーザ光用電源から、電流が、半導体積
層体に、第1の半導体結晶層のレーザ光用半導体結晶層
を通って流れることから、そのレーザ光用半導体結晶層
において、そのエネルギバンドギャップに応じた波長を
中心とする帯域を有する光が発生する。 そして、そのレーザ光用半導体結晶層で発生した光は、
半導体積層体の第1の端面側に配されているインコヒー
レント光用半導体結晶層の第1、第2・・・・・・・・
・第nの半導体結晶局部が半導体積層体の第2の端面側
に配されるレーザ光用半導体結晶層に比し広いエネルギ
バンドギャップを有するので、インコヒーレント光用及
びレーザ光用光放射面を形成している半導体積層体の第
1の端面側に向う光分について、レーザ光用半導体結晶
層及びインコヒーレント光用半導体結晶層を、それらレ
ーザ光用半導体結晶層及びインコヒーレント光用半導体
結晶層においてほとんど吸収されず(、第2及び第3の
半導体結晶層によって閉じ込められて半導体積層体の第
1の端面側に伝播し、次で、その第1の端面で反射して
、レーザ光用半導体結晶層側に向い、また、半導体積層
体の第2の端面側に向う光分について、レーザ光用半導
体結晶層を、そこにおいてほとんど吸収されずに、第2
及び第3の半導体結晶層によって閉じ込められて半導体
積層体の第2の端面側に伝播し、次で、その第2の端面
で反射して、インコヒーレント光用半導体結晶層側に向
う。 このため、半導体積層体に、レーザ光用電源からの電流
を継続して流せば、レーザ発振が生じ、そして、それに
もとずくレーザ光が、インコヒーレント光用及びレーザ
光用光放射面から外部に放射される。 よって、本願第1番目の発明〜本願第3′I8目の発明
による半導体発光装置によれば、レーザ光を、インコヒ
ーレント光用及びレーザ光用光放射面から、外部に得る
ことができる。 以上のことから、本願第1番目の発明〜本願第3番目の
発明による半導体発光装置によれば、1つの素子構成で
、インコヒーレント光とレーザ光とを、同じインコヒー
レント光用及びレーザ光用光放射面から外部に冑ること
ができる。 このため、半導体発光装置を前述した従来の半導体発光
装置の場合に比し、格段的に小型化することができる。 また、インコヒーレント光とレーザ光とをそれらに共通
の光学系に供給する場合、それらインコヒーレント光及
びレーザ光に対して共通の伝送路を用いることができる
ので、インコヒーレント光とレーザ光とをそれらに共通
の光学系に供給する手段を、前述した従来の半導体発光
装置の場合に比し格段的に簡易、小型化さゼることがで
きる。 本願第4番目の発明〜本願第6番目の発明による4!導
体発光装置によれば、第1の電IN!層のインコヒーレ
ント光用電極層と第2の電極層との間に所要のインコヒ
ーレント光用電源を接続すれば、そのインコヒーレント
光用電源から、電流が、半導体積層体に、第1のインコ
ヒーレント光用半導体結晶層の第1の半導体結晶層部、
第2のインコヒーレント光用半導体結晶層の第2の半導
体結晶層部及び第1のインコヒーレント光用半導体結晶
層及び第2の半導体結晶層の第2の半導体結晶層部下の
領域、第3のインコヒーレント光用半導体結晶層の第3
の半導体結晶局部及び第2、第1のインコヒーレント光
用半導体結晶層及び第3、第2の半導体結晶層の第3の
半導体結晶層部下の領域、・・・・・・・・・第nのイ
ンコヒーレント光用半導体結晶層の第nの半導体結晶層
部及び第(n−1)、第(n−2>・・・・・・・・・
第1のインコヒーレント光用半導体結晶層及び第n、第
(n−1)・・・・・・・・・第2の半導体結晶層の第
nの半導体結晶層部下の領域を通って流れ、そして、こ
の場合、第1、第2・・・・・・・・・第nのインコヒ
ーレント光用半導体結晶層のエネルギバンドギャップが
それらの順に小さいエネルギバンドギャップを有し且つ
第2、第3・・・・・・・・・第nの半導体結晶層が第
1及び第2、第2及び第3・・・・・・・・・第(n−
1)及び大口のインコヒーレント光用半導体結晶層に比
し広いエネルギバンドギャップを有しているとから、実
質的に、第1、第2・・・・・・・・・第nのインコヒ
ーレント光用半導体結晶層の第1、第2・・・・・・・
・・第nの半導体結晶層部において、それら第1、第2
・・・・・・・・・第nのインコヒーレント光用半導体
結晶層のエネルギバンドギャップに応じた波長をそれぞ
れ中心とする帯域を有する光がそれぞれ発生する。 そして、第1のインコヒーレント光用半導体結晶層の第
1の半導体結晶層部で発生した光は、第1、第2・・・
・・・・・・第nのインコヒーレント光用半導体結晶層
の第1、第2・・・・・・−・・第nの半導体結晶層部
がそれらの順にインコヒーシン1〜光用及びレーザ光用
光放射面を形成している半導体積層体の第1の端面側か
ら順次配列され且つその配列順に順次率さな第1、第2
・・・・・・・・・第nのエネルギバンドギャップを有
し、また、レーザ光用半導体結晶層が、第nのインコヒ
ーシン1−光用半導体結晶層の第nの半導体結晶層部よ
りも半導体積層体の第2の端面側に配され且つ第nのイ
ンコヒーレント光用半導体結晶層の第nの半導体結晶層
部に比し小さなエネルギバンドギャップを有し、さらに
、第1、第2・・・・・・・・・第(n−1)のインコ
ヒーレント光用半導体結晶層が第2、第3・・・・・・
・・・第nの半導体結晶層を介して第2、第3・・・・
・・・・・第nのインコヒーレント光用半導体結晶層に
光学的にそれぞれ結合し、また、第nのインコヒーレン
ト光用半導体結晶層が第(n+1)の半導体結晶層を介
してレーザ光用半導体結晶層に光学的に結合しているの
で、半導体積層体の第2の端面側に向う光分については
、第1のインコヒーレント光用半導体結晶層を、第2及
び第3の半導体結晶層によって閉じ込められて半導体積
層体の第2の端面側に伝播せんとするが、第2〜第nの
インコヒーレント光用半導体結晶層及びレーザ光用半導
体結晶層内でほとんど吸収され、第2の端面にほとんど
達しない。 しかしながら、第1のインコヒーレント光用半導体結晶
層の第1の半導体結晶層部で発生した光の、半導体積層
体の第1の端面側に向う光分については、第1の半導体
結晶層部を、そこにおいてほとんど吸収されずに、第1
及び第(n+2)の半導体結晶層によって閉じ込められ
て伝播し、インコヒーレント光用及びレーザ光用光放射
面に達する。また、第2、第3、第4・・・・・・・・
・第nのインコヒーレント光用半導体結晶層の第2、第
3・・・−・・・・・第nの半導体結晶層部で発生した
光は、半導体積層体の第2の端面側に向う分について、
上述したのに準じた理由から、上;ホしたのに準じて、
第3〜第nのインコヒーレント光用半導体結晶層及びレ
ーザ光用半導体結晶層、!′!4〜第nのインコヒーレ
ント光用半導体結晶か及びレーザ光用半導体結晶層・・
・・・・・・・レーザ光用半導体結晶層内でそれぞれほ
とんど吸収され、第2の端面にはほとんど達しない。 しかしながら、第1の端面側に向う光分については、第
1のインコヒーシン1−光用半導体結晶層、第1及び第
2のインコヒーレント光用半導体結晶層、第1〜第3の
インコヒーレント光用半導体結晶層・・・・・・・・・
第1〜第(n−1)のインコヒーレント光用半導体結晶
図をそれぞれ通って、はとんど吸収されずに、第1及び
第(n+2)の半導体結晶層によって閉じ込められて伝
播し、インコヒーレント光用及びレーザ光用光放射面に
達する。 このため、第1、第2・・・・・・・・・第nのインコ
ヒーレント光用半導体結晶層の第1、第2・・・・・・
・・・第nの半導体結晶層部でそれぞれ発生する光が、
本願第1番目の発明〜本願第3番目の発明による半導体
発光装置の場合と同様に、インコヒーレント光として、
インコヒーレント光用及びレーザ光用光放射面から、外
部に放射して得られる。 また、この場合、半導体積層体に、インコヒーレント光
用電源からの電流を継続して流せば、インコヒーレント
光用及びレーザ光用光放射面から外部に放射されるイン
コヒーレント光が、本願第1番目の発明〜本願第3番目
の発明による半導体発光装置の場合に準じて、第1、第
2・・・・・・・・・第nのインコヒーレント光用半導
体結晶層の第1、第2・・・・・・・・・第nの半導体
結晶層部に流れる電流に応じて、比較的高い輝度で得ら
れる。 さらに、インコヒーレント光用及びレーザ光用光放射面
から外部に放射して得られるインコヒーレント光が、本
願第1番目の発明〜本願第3番目の発明による半導体発
光装置の場合に準じて、インコヒーレント光用及びレー
ザ光用光放射面上における第1のインコヒーレント光用
半導体結晶層の第1の半導体結晶層部の端面という局部
的な領域から外部に放射される光であるので、インコヒ
ーレント光用及びレーザ光用光放射面から外部に放射し
て得られるインコヒーレント光が、本願第1番目の発明
〜本願第3番目の発明による半導体発光装置の場合に準
じて、第1のインコヒーレント光用半導体結晶層の第1
の半導体結晶層部の厚さに応じて、比較的狭い放射角で
放射される。 よって、本願第4番目の発明〜本願第6番目の発明によ
る半導体発光装置による場合も、本願第1番目の発明〜
本願第3番目の発明による半導体発光装置の場合と同様
に、インコヒーレント光を、インコヒーレント光用及び
レーザ光用光放射面から、外部に、比較的高い強度で■
つ比較的狭い放射角で得ることができる。 また、この場合、インコヒーレント光用電極層を、本願
第1番目の発明〜本願第3番目の発明による半導体発光
装置の場合に準じて、第1、第2・・・・・・・・・第
nのインコヒーレント光用半導体結晶層の第1、第2・
・・・・・・・・第nの半導体結晶層部にそれぞれ対向
している第1、第2・・・・・・・・・第nの電極層部
を有するものとすれば、本願第1番目の発明〜本願第3
番目の発明による半導体発光装置の場合と同様に、それ
ら第1、第2・・・・・・・・・第nの電極層部のそれ
ぞれと第2の電極層との間に第1、第2・・・・・・・
・・第nのインコヒーレント光用電源を接続することが
できるので、第1、第2・・・・・・・・・第nの半導
体結晶層部でそれぞれ発光する光の強度を各別に調整す
ることができ、よって、本願第1番目の発明〜本願第3
番目の発明による半導体発光装置の場合と同様に、イン
コヒーレント光用及びレーザ光用光放射面から放射する
インコヒーレント光の波長に対する強度分布を調整する
ことができる。 さらに、第1、第2・・・・・−・・・第nの半導体結
晶層部をそれぞれ有する第1、第2・・・・・・・・・
第nのインコヒーレント光用半導体結晶層の第1、第2
・・・・・・・・・第nのエネルギバンドギャップを、
本願第1番目の発明〜本願第3番目の発明による半導体
発光装置の場合に準じて、第1及び第2の半導体結晶層
部でそれぞれ発生する光の帯域、第2及び第3の半導体
結晶層部でそれぞれ発生する光の帯域、・・・・・・・
・・第(n−1)及び第nの半導体結晶層部でそれぞれ
発生する光の帯域がそれぞれ互に一部重複して得られる
範囲で、第1及び第2のエネルギバンドギャップ間、第
2及び第3のエネルギバンドギャップ間、・・・・・・
・・・第<n−1)及び第nのエネルギバンドギャップ
間にそれぞれ大きな差が得られる値に予め選定しておけ
ば、本願第1番目の発明〜本願第3番目の発明による半
導体発光装置の場合と同様に、インコヒーレント光用及
びレーザ光用光放射面から外部に放射して得られるイン
コヒーレント光を、広い帯域幅を有する1つの帯域を有
するものとして得ることができる。 また、本願第4番目の発明〜本願第6番目の発明による
半導体発光装置による場合、第1の電極層のレーザ光用
電極層と第2の電極層との間に、本願第1番目の発明〜
本願第6番目の発明による半導体発光装置の場合と同様
に、所要のレーザ光用電源を接続すれば、そのレーザ光
用電源から、電流が、半導体積層体に、レーザ光用半導
体結晶層、第(n+1)の半導体結晶層、第n、第(n
−1)・・・・・・・・・第2の半導体結晶層及び第n
、第(n−1)・・・・・・・・・第1のインコヒーレ
ント光用半導体結晶層のレーザ光用半導体結晶層下の領
域を通って流れ、そして、この場合、レーザ光用半導体
結晶層が、第1〜第nのインコヒーレント光用半導体結
晶層及び第2〜第(n+1 >の半導体結晶層に比し小
さいエネルギバンドギャップを有していることから、実
質的に、レーザ光用半導体結晶層において、そのエネル
ギバンドギャップに応じた波長を中心とする帯域を有す
る光が発生する。 そして、そのレーザ光用半導体結晶層で発生した光は、
第1、第2・・・・・・・・・第nのインコヒーレント
光用半導体結晶層が、レーザ光用半導体結晶層に比し広
いエネルギバンドギャップを右し且つそれらの順に広い
エネルギバンドギャップを有し、また、上述したように
第1、第2・・・・・−・・・1(n−1)のインコヒ
ーレント光用半導体結晶層が第2、第3・・・・・・・
・・第nの半導体層を介して第2、第3・・・・・・・
・・第nのインコヒーレント光用半導体結晶層に光学的
にそれぞれ結合し、また第nのインコヒーレント光用半
導体結晶層が第(n+1)の半導体結晶層を介してレー
ザ光用半導体結晶層に光学的に結合しているので、半導
体積層体の第1の端面側に向う光分について、レーザ光
用半導体結晶層及び第1〜第nのインコヒーレント光用
半導体結晶層を、はとんど吸収されずに、第1及び第(
n+2)の半導体結晶層によって閉じ込められて、最終
的に第1のインコヒーレント光用半導体結晶層を通って
半導体積層体の第1の端面側に伝播し、次で、その第1
の端面で反射して、第2の端面側に、第1のインコヒー
レント光用半導体結晶層を通って向い、また、半導体積
層体の第2の端面側に向う光分について、上述したのに
準じた理由で、上述したのに準じて、レーザ光用半導体
結晶層及び第1〜第nのインコヒーレント光用半導体結
晶層を、はとんど吸収されずに、第1及び第(n+2)
の半導体結晶層によって閉じ込められて、最終的に第1
のインコヒーレント光用半導体結晶層を通って半導体積
層体の第2の端面側に伝播し、次で、その第2の端面で
反射して、第1の端面側に、第1のインコヒーレント光
用半導体結晶層を通って向う。 このため、半導体積層体に、レーザ光用電源からの電流
を継続して流せば、本願第1番目の発明〜本願第3番目
の発明にょる半導体発光装置の場合と同様にレーザ発振
が生じ、そして、それにもとずくレーザ光が、インコヒ
ーレント光用及びレーザ光用光放射面から外部に放射さ
れる。 よって、本願第4番目の発明〜本願第6番目の発明によ
る半導体発光装置による場合も、レーザ光を、本願第1
番目の発明〜本願第3番目の発明による半導体発光装置
の場合と同様に、インコヒーレント光用及びレーザ光用
光放射面から、外部に得ることができる。 以上のことから、本願第4番目の発明・〜本願第6番目
の発明による半導体発光装置による場合も、本願第1番
目の発明〜本願第3番目の発明による半導体発光装置の
場合と同様に、1つの素子構成で、インコヒーレント光
とレーザ光とを、同じインコヒーレント光用及びレーザ
光用光放射面から外部に得ることができる。このため、
本願第1番目の発明〜本願第3番目の発明による半導体
発光装置の場合と同様に、半導体発光装置を前述した従
来の半導体発光装置の場合に比し、格段的に小型化する
ことができる。 また、インコヒーレント光とレーザ光とをそれらに共通
の光学系に供給する場合、本願第1番目の発明〜本願第
3番目の発明による半導体発光装置の場合と同様に、そ
れらインコヒーレント光及びレーザ光に対して共通の伝
送路を用いることができるので、インコヒーレント光と
レーザ光とをそれに共通の光学系に供給する手段を、本
願第1番目の発明〜本願第3番目の発明による半導体発
光装置の場合と同様に、前述した従来の半導体発光装置
の場合に比し格段的に簡易、小型化させることができる
According to the semiconductor light emitting device according to the first invention to the third invention of the present application, a necessary power supply for incoherent light is provided between the electrode layer for incoherent light of the first electrode layer and the second electrode layer. When the incoherent light source is connected to the incoherent light power source, a current flows from the incoherent light power supply to the first, second, . . . of the incoherent light semiconductor crystal layer of the first semiconductor crystal layer.
......Since it flows through the n-th semiconductor crystal layer, the first of the incoherent light semiconductor crystal layers
, in the second......nth semiconductor crystal layer section, according to the energy band gap of the first, second......nth semiconductor crystal layer section. Light having bands centered on each wavelength is generated. The light generated in the first, second, etc. nth semiconductor crystal layer portions is transmitted to the first, second, and so on.
......The n-th semiconductor crystal layer portions are sequentially arranged from the first end surface side of the semiconductor stack forming the light emitting surfaces for incoherent light and laser light in that order, and the arrangement The first and second smaller ones in order...
The semiconductor crystal layer for laser light has an n-th energy band gap, and the semiconductor crystal layer for laser light is disposed on the second end face side of the semiconductor stack, and is larger than the n-th semiconductor crystal layer portion of the semiconductor crystal layer for incoherent light. Since it has a small energy band gap, the light component directed toward the second end face side of the semiconductor stack is confined by the second and third semiconductor crystal layers and is transmitted to the second end face of the semiconductor stack. 2, but the second to nth semiconductor crystal layers of the first semiconductor crystal layer
Semiconductor crystal layer portion and semiconductor crystal layer for laser light, third to
n-th semiconductor crystal layer portion and semiconductor crystal layer for laser light...
. . . Almost all of them are absorbed within the semiconductor crystal layer for laser light, and almost none of them reach the second end facet. However, for the light component directed toward the first end surface side of the semiconductor stack forming the light emitting surface for incoherent light and laser light, the semiconductor crystal layer for incoherent light is
The light is hardly absorbed in the semiconductor crystal layer for incoherent light, and propagates while being confined by the second and third semiconductor crystal layers, reaching the light emitting surface for incoherent light and laser light. For this reason, the first layer of the semiconductor crystal layer for incoherent light,
2nd...The light generated in the n-th semiconductor crystal layer section is obtained by being emitted as incoherent light to the outside from the light emitting surfaces for incoherent light and laser light. . In addition, in this case, if the current from the incoherent optical power source is continuously passed through the semiconductor stack,
Incoherent light emitted to the outside from the light emitting surface for incoherent light and laser light can be obtained with relatively high brightness depending on the current flowing through the semiconductor crystal layer for incoherent light of the first semiconductor crystal layer. . Furthermore, the incoherent light obtained by being radiated to the outside from the light emitting surface for incoherent light and laser light is transmitted to the incohesin 1 to the semiconductor crystal layer for light on the light emitting surface for incoherent light and laser light. Since the light is emitted to the outside from a local region called the end face of the semiconductor crystal layer section 1, the incoherent light obtained by being emitted to the outside from the light emitting surface for incoherent light and laser light is incoherent. The radiation is emitted at a relatively narrow radiation angle depending on the thickness of the first semiconductor crystal layer portion of the optical semiconductor crystal layer. Therefore, according to the semiconductor light emitting devices according to the first invention to the third invention of the present application, incoherent light is transmitted from the light emitting surface for incoherent light and laser light to the outside at a relatively high intensity. can be obtained with a relatively narrow radiation angle. In this case, the incoherent light electrode layer is the first, second, etc. of the incoherent light semiconductor crystal layer.
. . . First and second electrode layer portions facing the n-th semiconductor crystal layer portion, respectively. . . . Between each of the n-th electrode layer parts and the second electrode layer, the first,
2nd...... Since the n-th incoherent light power source can be connected, the 1st, 2nd...
...The intensity of the light emitted from each of the n-th semiconductor crystal layer parts can be adjusted separately, so that the intensity of the incoherent light emitted from the light tl111 plane for incoherent light and laser light can be adjusted with respect to the wavelength. Distribution can be adjusted. Further, each of the first, second,..., nth semiconductor crystal layer portions of the first, second,..., nth semiconductor crystal layer portions
The energy band gap of is defined as the band of light generated in the first and second semiconductor crystal layer sections, the band of light generated in the second and third semiconductor crystal layer sections, respectively,...
Between the first and second energy band gaps, within the range where the bands of light generated in the (n-1)th and nth semiconductor crystal layer portions partially overlap with each other, Between the second and third energy band gaps...
...If the values are selected in advance so that a large difference can be obtained between the (n-1)th and nth energy band gaps, the radiation from the light emitting surface for incoherent light and laser light to the outside will be reduced. The resulting incoherent light can be obtained as having one band with a wide bandwidth. Further, according to the semiconductor light emitting device according to the first invention to the third invention of the present application, a necessary laser light power source is provided between the laser light electrode layer of the first electrode layer and the second electrode layer. When connected, current flows from the laser light power supply to the semiconductor stack through the laser light semiconductor crystal layer of the first semiconductor crystal layer. Light having a band centered on a wavelength corresponding to the energy bandgap is generated. The light generated in the semiconductor crystal layer for laser light is
The first and second semiconductor crystal layers for incoherent light disposed on the first end surface side of the semiconductor stacked body...
・Since the n-th semiconductor crystal local region has a wider energy band gap than the semiconductor crystal layer for laser light disposed on the second end surface side of the semiconductor stack, the light emitting surface for incoherent light and laser light can be For the light component directed toward the first end surface side of the semiconductor stack that is being formed, the semiconductor crystal layer for laser light and the semiconductor crystal layer for incoherent light are separated. (, it is confined by the second and third semiconductor crystal layers and propagates to the first end face side of the semiconductor stack, and is then reflected at the first end face to form a laser beam semiconductor. For the light component directed toward the crystal layer side and toward the second end surface side of the semiconductor stack, the semiconductor crystal layer for laser light is hardly absorbed therein, and the second
The light is confined by the third semiconductor crystal layer and propagates toward the second end surface of the semiconductor stack, and then is reflected from the second end surface and travels toward the semiconductor crystal layer for incoherent light. Therefore, if current from the laser light power supply continues to flow through the semiconductor stack, laser oscillation will occur, and the resulting laser light will be emitted from the incoherent light and laser light emitting surfaces to the outside. is radiated to. Therefore, according to the semiconductor light-emitting devices according to the first to third and eighth inventions of the present application, laser light can be obtained to the outside from the light emitting surfaces for incoherent light and laser light. From the above, according to the semiconductor light emitting devices according to the first invention to the third invention of the present application, incoherent light and laser light can be transmitted in the same device for incoherent light and laser light with one element configuration. It can be emitted from the light emitting surface to the outside. Therefore, the semiconductor light emitting device can be made much smaller than the conventional semiconductor light emitting device described above. Furthermore, when incoherent light and laser light are supplied to a common optical system, a common transmission path can be used for the incoherent light and laser light. The means for supplying these to the common optical system can be made much simpler and smaller than in the case of the conventional semiconductor light emitting device described above. 4 according to the fourth invention of the present application to the sixth invention of the present application! According to the conductor light emitting device, the first electric current IN! If a required power supply for incoherent light is connected between the electrode layer for incoherent light and the second electrode layer of the layer, a current flows from the power supply for incoherent light to the semiconductor stacked body, and the first incoherent light a first semiconductor crystal layer portion of a semiconductor crystal layer for coherent light;
The second semiconductor crystal layer portion of the second semiconductor crystal layer for incoherent light, the region under the second semiconductor crystal layer of the first semiconductor crystal layer for incoherent light and the second semiconductor crystal layer, and the third Third layer of semiconductor crystal layer for incoherent light
, the second and first semiconductor crystal layers for incoherent light, and the third and second semiconductor crystal layers under the third semiconductor crystal layer, . . . The n-th semiconductor crystal layer portion of the incoherent light semiconductor crystal layer, and the (n-1)th and (n-2>...
Flowing through the first semiconductor crystal layer for incoherent light and the region under the n-th semiconductor crystal layer of the n-th, (n-1)... second semiconductor crystal layer, In this case, the energy band gaps of the first, second, . ......The n-th semiconductor crystal layer is the first and second, the second and third...
1) and has a wider energy bandgap than a large-sized incoherent optical semiconductor crystal layer, so that substantially the first, second,..., n-th incoherent First and second optical semiconductor crystal layers...
...In the n-th semiconductor crystal layer section, those first and second
. . . Light having bands each having a wavelength corresponding to the energy band gap of the n-th incoherent light semiconductor crystal layer is generated. The light generated in the first semiconductor crystal layer portion of the first semiconductor crystal layer for incoherent light is transmitted to the first, second, . . .
. . . The first and second semiconductor crystal layers of the n-th semiconductor crystal layer for incoherent light are incoherent 1 to light and laser in that order. First and second elements are arranged in sequence from the first end surface side of the semiconductor stack forming the light emitting surface for light, and are arranged sequentially in the order of arrangement.
・・・・・・・・・The semiconductor crystal layer for laser light has an n-th energy band gap, and the semiconductor crystal layer for laser light has an is disposed on the second end surface side of the semiconductor stack, and has a smaller energy band gap than the n-th semiconductor crystal layer portion of the n-th semiconductor crystal layer for incoherent light; ......The (n-1)th incoherent light semiconductor crystal layer is the second, third...
. . . second, third . . . via the n-th semiconductor crystal layer.
... optically coupled to the n-th semiconductor crystal layer for incoherent light, and the n-th semiconductor crystal layer for incoherent light is connected to the semiconductor crystal layer for laser light via the (n+1)th semiconductor crystal layer. Since it is optically coupled to the semiconductor crystal layer, for the light component directed toward the second end surface side of the semiconductor stack, the first incoherent light semiconductor crystal layer is connected to the second and third semiconductor crystal layers. However, most of it is absorbed within the second to n-th semiconductor crystal layers for incoherent light and semiconductor crystal layers for laser light, and the light propagates toward the second end surface of the semiconductor stack. hardly reached. However, for the light component of the light generated in the first semiconductor crystal layer of the first semiconductor crystal layer for incoherent light, which is directed toward the first end surface side of the semiconductor stack, the first semiconductor crystal layer is , where the first
The light is confined and propagated by the (n+2)th semiconductor crystal layer and reaches the light emitting surface for incoherent light and laser light. Also, the second, third, fourth...
・The light generated in the second and third semiconductor crystal layer portions of the n-th incoherent light semiconductor crystal layer is directed toward the second end surface side of the semiconductor stack. About the minute,
For the same reasons as mentioned above, according to the above,
Third to nth semiconductor crystal layers for incoherent light and semiconductor crystal layers for laser light,! ′! 4th to n-th semiconductor crystal for incoherent light and semiconductor crystal layer for laser light...
. . . Almost all of them are absorbed within the laser beam semiconductor crystal layer, and almost none of them reach the second end facet. However, for the light component directed toward the first end surface side, the first incohesin 1 - semiconductor crystal layer for light, the first and second semiconductor crystal layers for incoherent light, the first to third incoherent light Semiconductor crystal layer for...
Through each of the first to (n-1)th semiconductor crystal diagrams for incoherent light, the light propagates while being confined by the first and (n+2)th semiconductor crystal layers without being absorbed. It reaches the light emitting surface for coherent light and laser light. For this reason, the first, second...... nth semiconductor crystal layer for incoherent light is
...The light generated in each n-th semiconductor crystal layer section is
As in the case of the semiconductor light emitting devices according to the first invention to the third invention of the present application, as incoherent light,
It is obtained by emitting light to the outside from a light emitting surface for incoherent light and laser light. Furthermore, in this case, if the current from the incoherent light power source is continuously passed through the semiconductor stack, the incoherent light emitted to the outside from the incoherent light and laser light emitting surfaces is According to the case of the semiconductor light emitting device according to the invention of the present invention to the third invention of the present application, the first, the second......the first and second semiconductor crystal layers for incoherent light of the n-th . . . Relatively high brightness can be obtained depending on the current flowing through the n-th semiconductor crystal layer portion. Further, the incoherent light obtained by being emitted to the outside from the light emitting surface for incoherent light and laser light is Since the light is emitted to the outside from a local area called the end face of the first semiconductor crystal layer of the first semiconductor crystal layer for incoherent light on the light emitting surface for coherent light and laser light, it is incoherent. In the case of the semiconductor light emitting devices according to the first to third inventions of the present application, the incoherent light obtained by radiating outward from the light emitting surface for light and laser light is the first incoherent light. First optical semiconductor crystal layer
The radiation is emitted at a relatively narrow radiation angle depending on the thickness of the semiconductor crystal layer. Therefore, even in the case of a semiconductor light emitting device according to the fourth invention to the sixth invention of the present application, the first invention to the sixth invention of the present application
As in the case of the semiconductor light emitting device according to the third invention of the present application, incoherent light is emitted from the light emitting surface for incoherent light and laser light to the outside at a relatively high intensity.
can be obtained with a relatively narrow radiation angle. In this case, the incoherent light electrode layer is formed into the first, second, etc. according to the semiconductor light emitting devices according to the first to third inventions of the present application. The first, second and second layers of the n-th incoherent light semiconductor crystal layer
. . . If the n-th semiconductor crystal layer portion has first and second electrode layer portions facing each other, the present application 1st invention ~ Claim 3
As in the case of the semiconductor light emitting device according to the second invention, first and second electrode layers are provided between each of the first, second, . . . , nth electrode layer portions and the second electrode layer. 2・・・・・・・・・
...Since the n-th incoherent light power source can be connected, the intensity of the light emitted by the first, second, etc. n-th semiconductor crystal layer sections can be adjusted individually. Therefore, the first invention to the third invention of the present application can be
As in the case of the semiconductor light emitting device according to the second aspect of the invention, the intensity distribution with respect to the wavelength of the incoherent light emitted from the light emitting surface for incoherent light and laser light can be adjusted. Further, the first and second . . . . . . . . . .
The first and second of the n-th incoherent optical semiconductor crystal layer
......The n-th energy band gap is
According to the semiconductor light emitting devices according to the first invention to the third invention of the present application, the bands of light generated in the first and second semiconductor crystal layer portions, the second and third semiconductor crystal layers, respectively. The band of light generated in each area,...
...between the first and second energy band gaps, within the range where the bands of light generated in the (n-1) and n-th semiconductor crystal layer portions partially overlap with each other. and the third energy band gap,...
. . . If values are selected in advance so that a large difference can be obtained between the energy band gaps of <n-1) and the n-th energy band gaps, semiconductor light emitting devices according to the first invention to the third invention of the present application can be achieved. Similarly to the above case, the incoherent light obtained by radiating outward from the light emitting surface for incoherent light and laser light can be obtained as having one band having a wide bandwidth. In addition, in the case of a semiconductor light emitting device according to the fourth invention to the sixth invention of the present application, the first invention of the present application is provided between the laser beam electrode layer of the first electrode layer and the second electrode layer. ~
As in the case of the semiconductor light emitting device according to the sixth invention of the present application, when a required power source for laser light is connected, a current is supplied from the power source for laser light to the semiconductor stack, the semiconductor crystal layer for laser light, and the semiconductor layer. (n+1) semiconductor crystal layer, n-th, (n-th
-1)......Second semiconductor crystal layer and n-th
, (n-1)th......flows through the region under the laser beam semiconductor crystal layer of the first incoherent light semiconductor crystal layer, and in this case, the laser beam semiconductor Since the crystal layer has a smaller energy band gap than the first to n-th semiconductor crystal layers for incoherent light and the second to (n+1>> semiconductor crystal layers), the laser beam In the semiconductor crystal layer for laser light, light having a band centered on a wavelength corresponding to its energy bandgap is generated.The light generated in the semiconductor crystal layer for laser light is
The first, second, etc. n-th semiconductor crystal layer for incoherent light has a wider energy band gap than the semiconductor crystal layer for laser light, and the energy band gap is wider in that order. Further, as described above, the first, second...-1 (n-1) incoherent light semiconductor crystal layers have second, third...・
...Second and third through the n-th semiconductor layer...
... are optically coupled to the n-th semiconductor crystal layer for incoherent light, and the n-th semiconductor crystal layer for incoherent light is connected to the semiconductor crystal layer for laser light via the (n+1)th semiconductor crystal layer. Since they are optically coupled, the laser beam semiconductor crystal layer and the first to n-th incoherent light semiconductor crystal layers are almost always connected to each other for light components directed toward the first end surface side of the semiconductor stack. without being absorbed, the first and the first (
n+2) semiconductor crystal layer, and finally propagates to the first end surface side of the semiconductor stack through the first incoherent light semiconductor crystal layer, and then the first
As described above, the light component is reflected at the end face of the semiconductor layer, passes through the first semiconductor crystal layer for incoherent light, and is directed toward the second end face side of the semiconductor stack. For the same reason as described above, the semiconductor crystal layer for laser light and the first to n-th semiconductor crystal layers for incoherent light are not absorbed and the first and (n+2)
is confined by the semiconductor crystal layer, and finally the first
The first incoherent light propagates through the semiconductor crystal layer for incoherent light to the second end face side of the semiconductor stack, and is then reflected at the second end face to the first end face side. through the semiconductor crystal layer. Therefore, if a current from a laser light power source is continuously applied to the semiconductor stack, laser oscillation occurs as in the semiconductor light emitting devices according to the first to third inventions of the present application. Laser light based thereon is then radiated to the outside from the light emitting surfaces for incoherent light and laser light. Therefore, also in the case of the semiconductor light emitting device according to the fourth invention to the sixth invention of the present application, the laser beam is
As in the case of the semiconductor light emitting devices according to the third invention to the third invention of the present application, the light can be obtained externally from the light emitting surface for incoherent light and laser light. From the above, in the case of the semiconductor light emitting device according to the fourth invention to the sixth invention of the present application, as in the case of the semiconductor light emitting device according to the first invention to the third invention of the present application, With one element configuration, incoherent light and laser light can be externally obtained from the same light emitting surface for incoherent light and laser light. For this reason,
As in the case of the semiconductor light emitting devices according to the first to third inventions of the present application, the semiconductor light emitting device can be significantly miniaturized compared to the conventional semiconductor light emitting device described above. Furthermore, when incoherent light and laser light are supplied to a common optical system, the incoherent light and laser light Since a common transmission path can be used for light, the means for supplying incoherent light and laser light to a common optical system can be provided by the semiconductor light emitting devices according to the first to third inventions of the present application. As in the case of the device, it can be made much simpler and smaller than the conventional semiconductor light emitting device described above.

【実施例1】 次に、第1図〜第4図を伴って本発明による半導体発光
装置の第1の実施例を述べよう。 第1図〜第4図に示す本発明による半導体発光装置は、
次に述べる構成を有する。 すなわち、例えばn型を有する半導体結晶基板1と、そ
の半導体結晶基板1上にそれと接して形成され且つ半導
体結晶基板1と同じn型を有する半導体結晶層2と、n
型を与える不純物またはp型を与える不純物のいずれも
意図的に導入させていないか導入させているとしても十
分低い濃度でしか導入させていない半導体結晶層3と、
半導体結晶層2とは逆のp型を右する半導体結晶層4と
、半導体結晶層4上にそれと接して形成され且つ半導体
結晶層4と同じp型を有する半導体結晶層5と、半導体
結晶Ii5上にそれと接して形成され且つ半導体結晶[
15と同じp型を有する半導体結晶層6とを有する半導
体積層体10を有する。 この場合、半導体積層体10は、とくに第3図に示すよ
うに、半導体積層体10の長手方向(第2図において、
紙面と平行な方向、第3図において、紙面と垂直方向)
と直交する面上の断面でみて、半導体結晶層2または半
導体結晶基板1から立上っている(図においては、半導
体結晶層2から立上っている)メサ状の形状を有し、ま
た、そのメサの左右両側面上に、半導体結晶層2または
半導体結晶基板1側において、半導体結晶層2及び3と
半導体結晶114の下半部とにまたは半導体結晶層2.
3及び4と半導体結晶層5の下半部とに接してそれぞれ
形成され(図においては、半導体結晶層2.3及び4と
半導体結晶層5の下半部とに接してそれぞれ形成されて
いる)且つp型を有するとともに例えばInPでなる半
導体結晶層6L及び6Rをそれぞれ有するとともに、そ
れら半導体結晶層6L及び6R上において、半導体結晶
層4の上半部と半導体結晶層5及び6とにまたは半導体
結晶層5の上半部と半導体結晶層6とに接してそれぞれ
形成され(図においては、半導体結晶層5の上半部と半
導体結晶層6とに接してそれぞれ形成されている)且つ
n型を有するとともに例えばrnPでなる半導体結晶層
7L及び7Rをそれぞれ有する。 また、半導体積層体1oは、半導体積層体10の厚さ方
向に垂直に延長している相対向する端面11a及び11
bを有し、そして、その−方の端面1ゴaをインコヒー
レント光用及びレーザ光用光放射面12として有し、一
方、そのインコヒーレント光用及びレーザ光用光放射面
12上に、反射防止膜13が付されている。 また、上述した半導体積層体10において、その半導体
結晶基板1が、(100)面でなる主面を有し、且つ例
えばInPでなる。 さらに、半導体結晶層2.3.4.5及び6が、そのよ
うな半導体結晶基板1の主面上に、ともに液相エピタキ
シャル成長法、気相エピタキシャル成長法、分子線ビー
ムエピタキシャル成長法などによって形成され、そして
、半導体結晶層3が、例えばInGaAsp系でなり、
また、半導体結晶JI2.4及び5が、半導体結晶層3
に比し広いエネルギバンドギャップと低い屈折率とを有
し、例えばInPでなり、さらに、半導体結晶層6が、
例えばInGaASP系でなる。 この場合、半導体積層体1oを構成している半導体結晶
層3が、インコヒーレント光用及びレーザ光用光放射面
12を形成している半導体積層体10の端面11a側の
インコヒーレント光用半導体結晶層3Aと、半導体積層
体10の他の端面11b側のレーザ光用半導体結晶層3
Bとを有し、そして、インコヒーレント光用半導体結晶
層3Aが1つの半導体結晶層部M1を有し、また、レー
ザ光用半導体結晶層3Bが半導体結晶層部M1と連接し
且つ半導体結晶層部M のエネルギバンドギャップE 
 に比し小i              17H1さ
なエネルギバンドギャップE、Bを有する。 また、半導体積層体10を構成している半導体結晶層4
が、インコヒーレント光用半導体結晶層3A及びレーザ
光用半導体結晶層3Bにそれぞれ対応してそれら上にそ
れぞれ形成されている互に連接している半導体結晶1i
4A及び4Bを有し、そして、半導体結晶層4Aが半導
体結晶1i3Aの半導体結晶層部M1に対応してその上
に形成されている1つの半導体結晶層部W1を有する。 なお、半導体結晶層4は、原理的には、1つの半導体結
晶層でなるものでよく、従って、半導体結晶層4A及び
4Bを有するとしなくてもよいが、半導体結晶層3A及
び3Bを後述するようにして形成することから、半導体
結晶1ii4A及び4Bを有するとされているものであ
る。 さらに、半導体積層体10を構成している半導体結晶層
6が、インコヒーレント光用半導体結晶層4A及びレー
ザ光用半導体結晶層4Bにそれぞれ対応してそれら上に
それぞれ形成されている、互に分離されている半導体結
晶層6A及び6Bを有し、そして、半導体結晶M6Aが
半導体結晶@3Aの半導体結晶層部M1に対応してその
上に形成されている1つの半導体層部Q1を有する。 また、上述した半導体積層体10の一方の主面10a上
、従って半導体結晶層6の上面上に、半導体結晶層7L
及び7R上にも延長している電極層15が、オーミック
に付されて配されている。この場合、電極層15は、イ
ンコヒーレント光用半導体結晶1i3Aと対向している
インコヒーレント光用電極1115Aと、レーザ光用半
導体結晶層3Bと対向しているレーザ光用電極層15B
とを有し、そして、インコヒーレント光用電極層15A
がインコヒーレント光用半導体結晶層3Aの1つの半導
体結晶層部M1に対応して1つの電極層部E1を有する
。 また、上述した半導体積層体10の上述した主面10a
と対向している他方の主面10b上、従って半導体結晶
基板1の半導体結晶I2側とは反対側の面上に、他の電
極116が、半導体積層体10の主面10a上の電極1
15と対向してオーミックに付されて配されている。 なお、上述した構成は、図示詳細説明は省略するが、次
のようにして製造し得る。 すなわち、半導体結晶基板1上に、半導体結晶層2にな
る半導体結晶層と、インコヒーレント光用半導体結晶層
3Aになる半導体結晶層と、インコヒーレント光用半導
体結晶層部4Aになる半導体結晶層とをそれらの順に積
層して形成し、次に、インコヒーレント光用」′導体結
晶層3Aになる半導体結晶層とインコヒーレント光用半
導体結晶層部4Aになる半導体結晶層とを一部エッチン
グによって除去し、次に、その除去によって露呈してい
る半導体結晶層2になる半導体結晶層上にレーザ光用半
導体結晶層3Bになる半導体結晶層と、レーザ光用半導
体結晶層部4Bになる半導体結晶層とをそれらの順に積
層して形成し、次に、半導体結晶層部4A及び4Bにな
る半導体結晶層上に、半導体結晶層5になる半導体結晶
層と半導体結晶層6になる半導体結晶層とをそれらの順
に形成し、次に、いままで形成された半導体結晶層によ
る半導体積層体に対してメサエッチングを施し、次に、
半導体結晶116L及び6R17[及び7Rになる半導
体結晶層を形成し、次に、半導体結晶層6になる半導体
結晶層に対するエツチングによって半導体結晶層部6A
及び6Bを形成し、次に、電極層15A、15B及び1
6を形成し、次に、半導体積層体をへき関することによ
って得ることができる。 以上が、本発明による半導体発光装置の第1の実施例の
構成である。 このような構成を有する本発明による半導体発光装置に
よれば、電極層15のインコヒーレント光用電極層15
Aの電極層部E1と電極層16との間に所要のインコヒ
ーレント光用電源を接続すれば、そのインコヒーレント
光用電源から、電流が、半導体積層体10に、半導体結
晶層3のインコヒーレント光用半導体結晶層3Aの半導
体結晶層部M1を通って流れることから、そのインコヒ
ーレント光用半導体結晶層3Aの半導体結晶層部M1に
おいて、その半導体結晶層部M1のエネルギバンドギャ
ップEg旧に応じた波長を中心とする帯域を有する光が
発生する。 そして、その半導体結晶層部M1で発生した光は、レー
ザ光用半導体結晶WJ3Bが半導体積層体10の端面1
1b側に配され且つインコヒーレント光用半導体結晶層
3Aの半導体結晶層部M1に比し小さなエネルギバンド
ギャップを有するので、半導体積層体10の端面11b
側に向う光分については、半導体結晶層3を、半導体結
晶層2.4及び5によって閉じ込められて半導体積層体
10の端面11b側に伝播せんとするが、半導体結晶1
t3のレーザ光用半導体結晶層3B内でほとんど吸収さ
れ、端面11bにほとんど達しないが、インコヒーレン
ト光用及びレーザ光用光放射面12を形成している半導
体積層体10の端面11a側に向う光分については、イ
ンコヒーレント光用半導体結晶WJ3Aを、そのインコ
ヒーレント光用半導体結晶層3Aにおいてほとんど吸収
されずに、半導体結晶@2.4及び5によって閉じ込め
られて伝播し、インコヒーレント光用及びレーザ光用光
放射面12に達する。 このため、半導体結晶層部M1で発生する光が、第5図
に示す波長に対する強度を有するインコヒーレント光と
して、インコヒーレント光用及びレーザ光用光放射面1
2から、外部に放射して得られる。 また、この場合、半導体積層体10に、インコヒーレン
ト光用電源からの電流を継続して流せば、インコヒーレ
ント光用及びレーザ光用光放射面12から外部に放射さ
れるインコヒーレント光が、半導体結晶層3のインコヒ
ーレント光用半導体結晶1i3Aに流れる′R流に応じ
て、比較的高い輝度で得られる。 さらに、インコヒーレント光用及びレーザ光用光放射面
12から外部に放射して得られるインコヒーレント光が
、インコヒーレント光用及びレーザ光用光放射面12上
におけるインコヒーレント光用半導体結晶層3Aの半導
体結晶層部M1の端面という局部的な領域から外部に放
射される光であるので、インコヒーレント光用及びレー
ザ光用光放射面12から外部に放射して得られるインコ
ヒーレント光が、インコヒーレント光用半導体結晶層3
Aの半導体結晶層部M1の厚さに応じて、比較的狭い放
射角で放射される。 よって、第1図〜第4図に示す本発明による半導体発光
装置によれば、インコヒーレント光を、インコヒーレン
ト光用及びレーザ光用光放射面12から、外部に、比較
的高い強度で且つ比較的狭い放射角で得ることができる
。 また、第1図〜第4図に示す本発明による゛r導体発光
1i1によれば、電極層15のレーザ光用電極層15B
と電極層16との間に所要のレーザ光用電源を接続すれ
ば、そのレーザ光用電源から、電流が、半導体積層体1
0に、半導体結晶N3のレーザ光用半導体結晶層3Bを
通って流れることから、そのレーザ光用半導体結晶11
3Bにおいて、そのエネルギバンドギャップに応じた波
長を中心とする帯域を有する光が発生する。 そして、そのレーザ光用半導体結晶層3Bで発生した光
は、半導体積層体10の端面11a側に配されているイ
ンコヒーレント光用半導体結晶層3Aの半導体結晶層部
M1が半導体積層体10の端面11b側に配されるレー
ザ光用半導体結晶層3Bに比し広いエネルギバンドギャ
ップを有するので、インコヒーレント光用及びレーザ光
用光放射面12を形成している半導体積層体10の端面
11a側に向う光分について、レーザ光用半導体結晶層
3B及びインコヒーシン1−光用半導体結晶層3Aを、
それらレーザ光用半導体結晶層3B及びインコヒーレン
ト光用半導体結晶層3Aにおいてほとんど吸収されずに
、半導体結晶層2.4及び5によって閉じ込められてイ
ンコヒーレント光用及びレーザ光用光放射面12側に伝
播し、次で、そのインコヒーレント光用及びレーザ光用
光放射面12で反射して、インコヒーレント光用半導体
結晶層3B側に向い、また、半導体積層体10の端面1
1b側に向う光分については、レーザ光用半導体結晶層
3Bを、そこにおいてほとんど吸収されずに、半導体結
晶M2.4及び5によって閉じ込められて半導体W4層
体10の端面1ib側に伝播し、次で、その端面11b
で反射する。 このため、半導体積層体10に、レーザ光用電源からの
電流を継続して流せば、レーザ発振が生じ、そして、そ
れにもとずく第6図に示すような波長に対する強度を右
するレーザ光が、インコヒーレント光用及びレーザ光月
光放射面12から外部に放射される。 よって、第1図〜第4図に示す本発明による半導体発光
装置によれば、レーザ光を、インコヒーレント光用及び
レーザ光月光放射面12から、外部に得ることができる
。 以上のことから、第1図〜第4図に示す本発明による半
導体発光装置によれば、1つの素子構成で、インコヒー
レント光とレーザ光とを、同じインコヒーレント光用及
びレーザ光用光放射面12から外部に得ることができる
。このため、半導体発光装置を前述した従来の半導体発
光装置の場合に比し、格段的に小型化することができる
。 また、インコヒーレント光とレーザ光とをそれらに共通
の光学系に供給する場合、それらインコヒーシン1〜光
及びレーザ光に対して共通の伝送路を用いることができ
るので、インコヒーレント光とレーザ光とをそれらに共
通の光学系に供給する手段を、前述した従来の半導体発
光装置の場合に比し格段的に簡易、小型化させることが
できる。
Embodiment 1 Next, a first embodiment of the semiconductor light emitting device according to the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 4. The semiconductor light emitting device according to the present invention shown in FIGS. 1 to 4 is
It has the following configuration. That is, for example, a semiconductor crystal substrate 1 having an n-type, a semiconductor crystal layer 2 formed on the semiconductor crystal substrate 1 in contact with it and having the same n-type as the semiconductor crystal substrate 1,
A semiconductor crystal layer 3 in which neither type-giving impurities nor p-type impurities are intentionally introduced, or even if they are introduced, they are only introduced at a sufficiently low concentration;
A semiconductor crystal layer 4 having a p-type opposite to that of the semiconductor crystal layer 2, a semiconductor crystal layer 5 formed on and in contact with the semiconductor crystal layer 4 and having the same p-type as the semiconductor crystal layer 4, and a semiconductor crystal Ii5. A semiconductor crystal [
A semiconductor stack 10 has a semiconductor crystal layer 6 having the same p-type as 15. In this case, as shown in FIG. 3, the semiconductor stack 10 is arranged in the longitudinal direction of the semiconductor stack 10 (in FIG. 2).
(direction parallel to the page, perpendicular to the page in Figure 3)
It has a mesa-like shape rising from the semiconductor crystal layer 2 or the semiconductor crystal substrate 1 (in the figure, rising from the semiconductor crystal layer 2) when viewed in a cross section on a plane perpendicular to the , on both the left and right sides of the mesa, on the semiconductor crystal layer 2 or semiconductor crystal substrate 1 side, the semiconductor crystal layers 2 and 3 and the lower half of the semiconductor crystal 114 or the semiconductor crystal layer 2 .
3 and 4 and the lower half of the semiconductor crystal layer 5 (in the figure, the semiconductor crystal layers 2 and 4 are respectively formed in contact with the lower half of the semiconductor crystal layer 5). ) and has p-type semiconductor crystal layers 6L and 6R made of, for example, InP, respectively, and on these semiconductor crystal layers 6L and 6R, the upper half of the semiconductor crystal layer 4 and the semiconductor crystal layers 5 and 6 or are formed in contact with the upper half of the semiconductor crystal layer 5 and the semiconductor crystal layer 6 (in the figure, they are respectively formed in contact with the upper half of the semiconductor crystal layer 5 and the semiconductor crystal layer 6), and n It has semiconductor crystal layers 7L and 7R, each of which has a type and is made of, for example, rnP. Further, the semiconductor stack 1o has opposing end surfaces 11a and 11 extending perpendicularly to the thickness direction of the semiconductor stack 10.
b, and has its - side end face 1goa as a light emitting surface 12 for incoherent light and laser light, and on the other hand, on the light emitting surface 12 for incoherent light and laser light, An antireflection film 13 is attached. Further, in the semiconductor stacked body 10 described above, the semiconductor crystal substrate 1 has a main surface formed of a (100) plane and is made of, for example, InP. Furthermore, semiconductor crystal layers 2.3.4.5 and 6 are both formed on the main surface of such semiconductor crystal substrate 1 by liquid phase epitaxial growth, vapor phase epitaxial growth, molecular beam epitaxial growth, etc. The semiconductor crystal layer 3 is made of, for example, InGaAsp,
In addition, semiconductor crystals JI2.4 and 5 are semiconductor crystal layer 3
The semiconductor crystal layer 6 has a wider energy band gap and lower refractive index than the semiconductor crystal layer 6, and is made of, for example, InP.
For example, it is made of InGaASP type. In this case, the semiconductor crystal layer 3 constituting the semiconductor stack 1o is the semiconductor crystal for incoherent light on the end face 11a side of the semiconductor stack 10 forming the light emitting surface 12 for incoherent light and laser light. Layer 3A and the semiconductor crystal layer 3 for laser light on the other end face 11b side of the semiconductor stack 10
B, and the semiconductor crystal layer 3A for incoherent light has one semiconductor crystal layer section M1, and the semiconductor crystal layer 3B for laser light is connected to the semiconductor crystal layer section M1, and the semiconductor crystal layer 3A has one semiconductor crystal layer section M1. Energy bandgap E of part M
It has a small energy bandgap E, B compared to i17H1. Further, the semiconductor crystal layer 4 constituting the semiconductor stack 10
The interconnected semiconductor crystals 1i are formed on the incoherent light semiconductor crystal layer 3A and the laser light semiconductor crystal layer 3B, respectively.
4A and 4B, and the semiconductor crystal layer 4A has one semiconductor crystal layer portion W1 formed thereon corresponding to the semiconductor crystal layer portion M1 of the semiconductor crystal 1i3A. Note that the semiconductor crystal layer 4 may in principle consist of one semiconductor crystal layer, and therefore does not need to have the semiconductor crystal layers 4A and 4B, but the semiconductor crystal layers 3A and 3B will be described later. Since it is formed in this manner, it is said to have semiconductor crystals 1ii4A and 4B. Furthermore, the semiconductor crystal layers 6 constituting the semiconductor stack 10 are formed on the incoherent light semiconductor crystal layer 4A and the laser light semiconductor crystal layer 4B, respectively, and are separated from each other. The semiconductor crystal M6A has one semiconductor layer portion Q1 formed thereon corresponding to the semiconductor crystal layer portion M1 of the semiconductor crystal @3A. Further, a semiconductor crystal layer 7L is provided on one main surface 10a of the semiconductor stacked body 10 described above, that is, on the top surface of the semiconductor crystal layer 6.
An electrode layer 15 extending also over 7R is arranged in an ohmic manner. In this case, the electrode layer 15 includes an incoherent light electrode 1115A facing the incoherent light semiconductor crystal 1i3A, and a laser light electrode layer 15B facing the laser light semiconductor crystal layer 3B.
and an electrode layer 15A for incoherent light.
has one electrode layer portion E1 corresponding to one semiconductor crystal layer portion M1 of the incoherent light semiconductor crystal layer 3A. Moreover, the above-mentioned main surface 10a of the above-mentioned semiconductor stack 10
Another electrode 116 is provided on the other main surface 10b facing the main surface 10b of the semiconductor laminate 10, that is, on the surface of the semiconductor crystal substrate 1 opposite to the semiconductor crystal I2 side.
15 and is arranged in an ohmic manner. Note that the above-mentioned configuration can be manufactured as follows, although illustration and detailed explanation will be omitted. That is, on the semiconductor crystal substrate 1, there are formed a semiconductor crystal layer that will become the semiconductor crystal layer 2, a semiconductor crystal layer that will become the semiconductor crystal layer for incoherent light 3A, and a semiconductor crystal layer that will become the semiconductor crystal layer section for incoherent light 4A. are formed by laminating them in that order, and then the semiconductor crystal layer that will become the conductor crystal layer 3A for incoherent light and the semiconductor crystal layer that will become the semiconductor crystal layer section 4A for incoherent light are partially removed by etching. Then, on the semiconductor crystal layer that becomes the semiconductor crystal layer 2 exposed by the removal, a semiconductor crystal layer that becomes the semiconductor crystal layer for laser light 3B and a semiconductor crystal layer that becomes the semiconductor crystal layer section 4B for laser light are added. are laminated in that order, and then a semiconductor crystal layer that will become the semiconductor crystal layer 5 and a semiconductor crystal layer that will become the semiconductor crystal layer 6 are formed on the semiconductor crystal layer that will become the semiconductor crystal layer parts 4A and 4B. These are formed in that order, and then mesa etching is performed on the semiconductor stack made of the semiconductor crystal layers formed so far, and then,
A semiconductor crystal layer 116L, 6R17 [and 7R is formed, and then the semiconductor crystal layer 6A is etched to become the semiconductor crystal layer 6A.
and 6B, and then electrode layers 15A, 15B and 1
6 and then separating the semiconductor stack. The above is the configuration of the first embodiment of the semiconductor light emitting device according to the present invention. According to the semiconductor light emitting device according to the present invention having such a configuration, the incoherent light electrode layer 15 of the electrode layer 15
If a required power source for incoherent light is connected between the electrode layer portion E1 of A and the electrode layer 16, a current is supplied from the power source for incoherent light to the semiconductor stack 10 to reduce the incoherence of the semiconductor crystal layer 3. Since it flows through the semiconductor crystal layer portion M1 of the optical semiconductor crystal layer 3A, in the semiconductor crystal layer portion M1 of the incoherent optical semiconductor crystal layer 3A, the energy band gap Eg of the semiconductor crystal layer portion M1 is Light having a band centered around the wavelength is generated. The light generated in the semiconductor crystal layer portion M1 is transmitted to the end face 1 of the semiconductor stack 10 by the laser beam semiconductor crystal WJ3B.
1b side and has a smaller energy band gap than the semiconductor crystal layer portion M1 of the incoherent optical semiconductor crystal layer 3A, the end face 11b of the semiconductor stack 10
Regarding the light component directed to the side, it is assumed that the semiconductor crystal layer 3 is confined by the semiconductor crystal layers 2.4 and 5 and does not propagate toward the end surface 11b side of the semiconductor stack 10.
It is almost absorbed within the semiconductor crystal layer 3B for laser light at t3, and although it hardly reaches the end face 11b, it goes toward the end face 11a side of the semiconductor stack 10 forming the light emitting surface 12 for incoherent light and laser light. Regarding the light component, it propagates through the incoherent light semiconductor crystal WJ3A with almost no absorption in the incoherent light semiconductor crystal layer 3A, is confined by the semiconductor crystals @2.4 and 5, and is propagated through the incoherent light semiconductor crystal WJ3A. It reaches the light emitting surface 12 for laser light. Therefore, the light generated in the semiconductor crystal layer portion M1 is treated as incoherent light having an intensity with respect to the wavelength shown in FIG.
2, it can be obtained by radiating to the outside. In this case, if the current from the incoherent light power source continues to flow through the semiconductor stack 10, the incoherent light radiated to the outside from the incoherent light and laser light emitting surface 12 will be A relatively high brightness can be obtained depending on the 'R flow flowing through the incoherent light semiconductor crystal 1i3A of the crystal layer 3. Furthermore, the incoherent light obtained by being radiated to the outside from the light emitting surface 12 for incoherent light and laser light is transmitted to the semiconductor crystal layer 3A for incoherent light on the light emitting surface 12 for incoherent light and laser light. Since the light is emitted to the outside from a local region called the end face of the semiconductor crystal layer portion M1, the incoherent light obtained by being emitted to the outside from the light emitting surface 12 for incoherent light and laser light is incoherent. Optical semiconductor crystal layer 3
The radiation is emitted at a relatively narrow radiation angle depending on the thickness of the semiconductor crystal layer portion M1 of A. Therefore, according to the semiconductor light emitting device according to the present invention shown in FIGS. 1 to 4, incoherent light is transmitted from the light emitting surface 12 for incoherent light and laser light to the outside at a comparatively high intensity. can be obtained with a narrow radiation angle. Further, according to the conductor light emitting device 1i1 according to the present invention shown in FIGS. 1 to 4, the electrode layer 15B for laser light of the electrode layer 15 is
If a required power source for laser light is connected between the electrode layer 16 and the electrode layer 16, a current flows from the power source for laser light to the semiconductor stack 1.
0, the laser beam semiconductor crystal 11 flows through the laser beam semiconductor crystal layer 3B of the semiconductor crystal N3.
3B, light having a band centered on a wavelength corresponding to the energy bandgap is generated. The light generated in the laser beam semiconductor crystal layer 3B is transmitted to the semiconductor crystal layer portion M1 of the incoherent light semiconductor crystal layer 3A disposed on the end surface 11a side of the semiconductor stack 10. Since it has a wider energy bandgap than the semiconductor crystal layer 3B for laser light disposed on the side 11b, the layer 3B is placed on the end face 11a side of the semiconductor stack 10 forming the light emitting surface 12 for incoherent light and laser light. For the oncoming light component, the laser beam semiconductor crystal layer 3B and the incohesin 1-light semiconductor crystal layer 3A,
It is hardly absorbed in the semiconductor crystal layer 3B for laser light and the semiconductor crystal layer 3A for incoherent light, and is confined by the semiconductor crystal layers 2.4 and 5 to the light emitting surface 12 side for incoherent light and laser light. It propagates and is then reflected by the light emitting surface 12 for incoherent light and laser light, facing toward the semiconductor crystal layer 3B for incoherent light, and also toward the end face 1 of the semiconductor stack 10.
The light component heading toward the semiconductor W4 layer body 10 is propagated toward the end surface 1ib side of the semiconductor W4 layered body 10, being confined by the semiconductor crystals M2.4 and M2.5 without being absorbed in the semiconductor crystal layer 3B for laser light. Next, the end surface 11b
reflect. Therefore, if a current from the laser light power source is continuously passed through the semiconductor stack 10, laser oscillation will occur, and based on this, the laser light whose intensity depends on the wavelength as shown in FIG. 6 will be generated. , for incoherent light and laser light is emitted from the moonlight emitting surface 12 to the outside. Therefore, according to the semiconductor light emitting device according to the present invention shown in FIGS. 1 to 4, laser light can be obtained externally from the incoherent light and laser light moonlight emission surfaces 12. From the above, according to the semiconductor light emitting device according to the present invention shown in FIGS. 1 to 4, incoherent light and laser light can be emitted in the same incoherent light and laser light with one element configuration. It can be obtained externally from surface 12. Therefore, the semiconductor light emitting device can be made much smaller than the conventional semiconductor light emitting device described above. Furthermore, when incoherent light and laser light are supplied to a common optical system, a common transmission path can be used for the incoherent light and the laser light. The means for supplying these to a common optical system can be made much simpler and smaller than in the case of the conventional semiconductor light emitting device described above.

【実施例2ゴ 次に、第7図〜第11図を伴って本発明による半導体発
光装置の第2の実施例を述べよう。 第7図〜第11図において、第1図〜第4図との対応部
分には同一符号を付し、詳細説明を省略する。 第7図〜第11図に示す本発明による半導体発光装置は
、次の事項を除いて、第1図〜第4図で上述した本発明
による半導体発光装置と同様の構成を有する。 すなわち、半導体結晶層3のインコヒーレント光用半導
体結晶層3Aが、1つの半導体結晶層部M1を有する第
1図〜第4図の場合に代え、レーザ光用半導体結晶層3
B側とは反対側からレーザ光用半導体結晶層3B側に順
次連接して配列されている2つの半導体結晶層部M1及
びM2を有し、これに応じC1半導体結晶層4Aが半導
体結晶層部M1及びM2にそれぞれ対応してそれら上に
形成されている2つの半導体結晶層部W 及びW2を有
し、また半導体結晶層6Aが半導体結晶層部W1及びW
2にそれぞれ対応し且つ互に分離されている2つの半導
体結晶層部Q 及びC2を有し、さらに、レーザ光電極
層15Aが、半導体結晶層部Q1及びC2にそれぞれ対
応してそれら上にそれぞれ付された電極層部E1及びE
2を有する。 この場合、半導体結晶1i3Aの半導体結晶層部M1及
びM2は、ともに半導体結晶層3Bに比し大きなエネル
ギバンドギャップを有するが、それらの順に小さなエネ
ルギバンドギャップE。Hl及びEQH2を有する。 なお、半導体結晶層4Aは、原理的に1つの半導体結晶
層部でなるものでよく、従って、半導体結晶層部W1及
びW2を有するとしなくてもよいが、インコヒーレント
光用半導体結晶層3Aの半導体結晶層部M1及びM2を
、半導体結晶層3A及び3Bを前述した場合に準じて形
成するのと同様に形成することがら、半導体結晶層部W
1及びW2でなるものとしているものである。 以上が、本発明による半導体発光装置の第2の実施例の
構成である。 このような構成を有する本発明による半導体発光装置に
よれば、第1図〜第4図で前述した本発明による半導体
発光装置の場合に準じて、電極層15のインコヒーレン
ト光用電極層15Aの電極層部E1 (またはE2)と
電極116との間に所要のインコヒーレント光用電源を
接続すれば、そのインコヒーレント光用電源から、電流
が、半導体積層体10に、半導体結晶層3のインコヒー
レント光用半導体結晶113Aの半導体結晶層部M1 
(またはM2)を通って流れることから、そのインコヒ
ーレント光用半導体結晶I!3Aの半導体結晶層部M1
 (またはM2)において、その4′導体結晶層部M1
 (またはM2)のエネルギバンドギャップE  (ま
たは(781 E  )に応じた波長を中心とする帯域を有すH2 る光が発生する。 そして、その半導体結晶層部M、(またはM2)で発生
した光は、半導体結晶層部M2及びレーザ光用半導体結
晶層3B(またはレーザ光用半導体結晶層3B)が半導
体積層体10の端面11b側に配され且つインコヒーレ
ント光用半導体結晶層3Aの半導体結晶層部M1に比し
小さなエネルギバンドギャップを有するので、半導体積
層体10の端面11b側に向う光分については、半導体
結晶層3を、半導体結晶層2.4及び5によって閉じ込
められて半導体積層体10の端面11b側に伝播せんと
するが、半導体結晶層3の半導体結晶層部M2及びレー
ザ光用半導体結晶層3B(またはレーザ光用半導体結晶
層3B)内でほとんど吸収され、端面11bにほとんど
達しないが、インコヒーレント光用及びL/−ザ光用光
放射面12を形成している半導体積層体10の端面11
a側に向う光分については、インコヒーレント光用半導
体結晶層3Aの半導体結晶層部M1 (または半導体結
晶層部M1及びM2)を、そのインコヒーレント光用半
導体結晶層3Aの半導体結晶層部M1(″または半導体
結晶層部M1及びM2)においてほとんど吸収されずに
、半導体結晶層2.4及び5によって閉じ込められて伝
播し、インコヒーレント光用及びレーザ光用光放射面1
2に達する。 このため、半導体結晶層部M1 (またはM2)で発生
7する光が、インコヒーレント光として、インコヒーレ
ント光用及びレーザ光用光放射面12から、外部に放射
して得られる。 また、電極層15のレーザ光用電極1i −158と電
極層16との間に所要のレーザ光用電源を接続すれば、
第1図〜第4図で前述した本発明による半導体発光装置
の場合と同様に、そのレーザ光用電源から、電流が、半
導体積層体10に、半導体結晶H3のレーザ光用半導体
結晶層3Bを通って流れることから、そのレーザ光用半
導体結晶層3Bにおいて、そのエネルギバンドギャップ
に応じた波長を中心とする帯域を右する光が発生する。 そして、そのレーザ光用半導体結晶層3Bで発生した光
は、半導体積層体10の端面11a側に配されているイ
ンコヒーレント光用半導体結晶層3Aの半導体結晶層部
M 及びM2が半導体積層体10の端面11b側に配さ
れるレーザ光用半導体結晶層3Bに比し広いエネルギバ
ンドギャップを有するので、インコヒーレント光用及び
レーザ光用光放射面12を形成している半導体積層体1
0の端面11a側に向う光分について、レーザ光用半導
体結晶層3B及びインコヒーレント光用半導体結晶層3
Aを、それらレーザ光用半導体結晶層3B及びインコヒ
ーレント光用半導体結晶層3Aにおいてほとんど吸収さ
れずに、半導体結晶層2.4及び5によって閉じ込めら
れてインコヒーレント光用及びレーザ光用光放射面12
側に伝播し、次で、そのインコヒーレント光用及びレー
ザ光用光放射面12で反射して、インコヒーレント光用
半導体結晶層3B側に向い、また、半導体積層体10の
端面11b側に向う光分については、レーザ光用半導体
結晶層3Bを、そこにおいてほとんど吸収されずに、半
導体結晶層2.4及び5によって閉じ込められて半導体
積層体10の端面11b側に伝播し、次で、その端面1
1bで反射する。 このため、半導体積層体10に、レーザ光用電源からの
電流を継続して流せば、レーザ発振が生じ、そして、そ
れにもとずくレーザ光が、インコヒーレント光用及びレ
ーザ光用光放射面12から外部に放射される。 よって、第7図〜第11図に示す本発明による半導体発
光装置の場合も、第1図〜第4図で前述した本発明によ
る半導体発光装置の場合と同様に、レーザ光を、インコ
ヒーレント光用及びレーザ光用光放射面12から、外部
に得ることができる。 以上のことから、第7図〜第11図に示す本発明による
半導体発光装置の場合も、第1図〜第4図で前述した本
発明による半導体発光@置の場合と同様に、1つの素子
構成で、インコヒーレント光とレーザ光とを、同゛じイ
ンコヒーレント光用及びレーザ光用光放射面12から外
部に得ることができる。このため、半導体発光装置を前
述した従来の半導体発光装置の場合に比し、格段的に小
型化することができる。 また、インコヒーレント光とレーザ光とをそれらに共通
の光学系に供給する場合、それらインコヒーレント光及
びレーザ光に対して共通の伝送路を用いることができる
ので、インコヒーレント光とレーザ光とをそれに共通の
光学系に供給する手段を、前述した従来の半導体発光装
置の場合に比し格段的に簡易、小型化させることができ
る。 また、第7図〜第11図に示す本発明による半導体発光
装置によれば、インコヒーレント光用電極層15Aの電
極層部E 及びE2のそれぞれと電極層16との間に各
別のインコヒーレント光用電源を接続することによって
、インコヒーレント光用半導体層3の半導体結晶層部M
1及びM2でそれぞれ発光する光を得ることができ、よ
って、インコヒーレント光用及びレーザ光用放射面12
から互に異なる波長中心を有する2つのインコヒーレン
ト光を外部に同時に放射して得ることができるとともに
、半導体結晶層部M 及びM2でそれぞれ発光する光の
強度を各別に調整することができ、よって、インコヒー
レント光用及びレーザ光用光放射面から放射するインコ
ヒーレント光の波長に対する強度分布を調整することが
できる。 さらに、インコヒーレント光用半導体結晶層3Aの半導
体結晶層部M1及びM2のそれぞれのエネルギバンドギ
ャップE  及びE  を、g81     gM2 半導体結晶層部M1及びM2でそれぞれ発生する光の帯
域が互に一部重複して得られる範囲で、エネルギバンド
ギャップE  及びE  間にQHl     gH2 大きな差が得られる値に予め選定しておけば、インコヒ
ーレント光用及びレーザ光用光放射面12から外部に放
射して得られるインコヒーレント光を、第12図に示す
ように、広い化域幅を有する1つの帯域を有するものと
して冑ることができる。 【実施例3】 次に、第13図及び第14図を伴って本発明による半導
体発光装置の第3の実施例を述べよう。 第13図及び第14図において、第1図〜第4図との対
応部分に同一符号を付して詳細説明を省略する。 第13図及び第14図に示す本発明による半導体発光装
置は、詳細説明は省略するが、第1図〜第4図で上述し
た構成において、その半導体積屠体10に、インコヒー
レント光用及びレーザ光用光放射面12としての端面1
1a側とは反対側において、レーザ光用電極層15B1
半導体結晶層6.5.4及び3を横切って半導体結晶層
2内に達する溝17が形成され、その満17の端面11
a側の内面を、第1図〜第4図で上述した半導体発光i
置における半導体積層体10の端面11bとし、また、
溝17を隔てた、半導体積層体10の端面11a側とは
反対側の部(レーザ光用電極層15B、半導体結晶層6
.5.4及び3との対応部分には、ダッシュの付された
同一符号が付されている)をインコヒーレント光用及び
レーザ光用光放射面12からレーザ光が放射される場合
において、そのレーザ光を溝17の端面11a側の内面
でなる端面11bから得られるレーザ光を利用してモニ
タできるフォトダイオード18としていることを除いて
、第1図〜第4図の場合と同様の構成を有する。 以上が、本発明による半導体発光装置の第3の実施例の
構成である。 このような構成を有する本発明による半導体発光装置に
よれば、第1図〜第4図で前述した本発明による半導体
発光装置の場合と同様の作用効果を以て、インコヒーレ
ント光用及びレーザ光用光放射面12からインコヒーレ
ント光及びレーザ光を選択的に外部に放射して得ること
ができるとともに、レーザ光を外部に放射している場合
において、そのレーザ光をフォトダイオード18によっ
てモニタづることができる。 従って、第13図及び第14図に示す本発明による半導
体発光装置によれば、1つの素子構成T−、インコヒー
レント光及びレーザ光ヲ選択的に得ることができるとと
もに、レーザ光を外部に放射している場合において、そ
のレーザ光のモニタを行わせることができる。
[Embodiment 2] Next, a second embodiment of the semiconductor light emitting device according to the present invention will be described with reference to FIGS. 7 to 11. In FIGS. 7 to 11, parts corresponding to those in FIGS. 1 to 4 are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted. The semiconductor light emitting device according to the present invention shown in FIGS. 7 to 11 has the same structure as the semiconductor light emitting device according to the present invention described above in FIGS. 1 to 4, except for the following matters. That is, instead of the case of FIGS. 1 to 4 in which the semiconductor crystal layer 3A for incoherent light of the semiconductor crystal layer 3 has one semiconductor crystal layer portion M1, the semiconductor crystal layer 3A for laser light
It has two semiconductor crystal layer parts M1 and M2 which are successively arranged in series from the side opposite to the B side to the laser beam semiconductor crystal layer 3B side, and the C1 semiconductor crystal layer 4A corresponds to the semiconductor crystal layer part M1 and M2. The semiconductor crystal layer 6A has two semiconductor crystal layer portions W1 and W2 formed thereon corresponding to M1 and M2, respectively.
The laser photoelectrode layer 15A has two semiconductor crystal layer portions Q1 and C2 which correspond to the semiconductor crystal layer portions Q1 and C2 and are separated from each other. Attached electrode layer parts E1 and E
It has 2. In this case, the semiconductor crystal layer portions M1 and M2 of the semiconductor crystal 1i3A both have a larger energy band gap than the semiconductor crystal layer 3B, but the energy band gap E is smaller in that order. It has H1 and EQH2. Note that the semiconductor crystal layer 4A may in principle consist of one semiconductor crystal layer portion, and therefore does not need to have the semiconductor crystal layer portions W1 and W2, but the semiconductor crystal layer 3A for incoherent light Since the semiconductor crystal layer portions M1 and M2 are formed in the same manner as the semiconductor crystal layers 3A and 3B are formed according to the above-described case, the semiconductor crystal layer portion W
1 and W2. The above is the configuration of the second embodiment of the semiconductor light emitting device according to the present invention. According to the semiconductor light emitting device according to the present invention having such a configuration, in accordance with the case of the semiconductor light emitting device according to the present invention described above in FIGS. 1 to 4, the incoherent light electrode layer 15A of the electrode layer 15 is If a required incoherent light power source is connected between the electrode layer portion E1 (or E2) and the electrode 116, a current is applied to the semiconductor stack 10 from the incoherent light power source to the semiconductor crystal layer 3. Semiconductor crystal layer portion M1 of coherent light semiconductor crystal 113A
(or M2), the incoherent optical semiconductor crystal I! 3A semiconductor crystal layer portion M1
(or M2), its 4' conductor crystal layer portion M1
H2 light having a band centered on the wavelength corresponding to the energy bandgap E (or (781 E) of (or M2) is generated. Then, the light generated in the semiconductor crystal layer M, (or M2) The light is transmitted to the semiconductor crystal layer M2 and the semiconductor crystal layer for laser light 3B (or the semiconductor crystal layer for laser light 3B) which are arranged on the end surface 11b side of the semiconductor stack 10 and the semiconductor crystal layer of the semiconductor crystal layer for incoherent light 3A. Since it has a smaller energy bandgap than the layer portion M1, the light component directed toward the end surface 11b of the semiconductor stack 10 is confined by the semiconductor crystal layers 2, 4 and 5, and the semiconductor layer 3 is confined by the semiconductor crystal layers 2.4 and 5. 10, but most of it is absorbed within the semiconductor crystal layer portion M2 of the semiconductor crystal layer 3 and the semiconductor crystal layer 3B for laser light (or the semiconductor crystal layer 3B for laser light), and most of it is propagated to the end surface 11b. Although not reaching the end face 11 of the semiconductor stack 10 forming the light emitting surface 12 for incoherent light and L/-the light
For the light component directed toward the a side, the semiconductor crystal layer portion M1 (or the semiconductor crystal layer portions M1 and M2) of the semiconductor crystal layer for incoherent light 3A is replaced with the semiconductor crystal layer portion M1 of the semiconductor crystal layer for incoherent light 3A. The light emitting surface 1 for incoherent light and laser light propagates while being confined by the semiconductor crystal layers 2.4 and 5 without being almost absorbed in the semiconductor crystal layer portions M1 and M2 (or the semiconductor crystal layer portions M1 and M2).
Reach 2. Therefore, the light generated in the semiconductor crystal layer portion M1 (or M2) is emitted as incoherent light to the outside from the light emitting surface 12 for incoherent light and laser light. Furthermore, if a required laser beam power source is connected between the laser beam electrode 1i-158 of the electrode layer 15 and the electrode layer 16,
As in the case of the semiconductor light emitting device according to the present invention described above with reference to FIGS. 1 to 4, a current flows from the laser light power supply to the semiconductor stack 10 to form the laser light semiconductor crystal layer 3B of the semiconductor crystal H3. Since the laser beam flows through the laser beam semiconductor crystal layer 3B, light having a band centered on a wavelength corresponding to the energy band gap is generated in the laser beam semiconductor crystal layer 3B. The light generated in the semiconductor crystal layer 3B for laser light is transmitted to the semiconductor crystal layer portions M and M2 of the semiconductor crystal layer 3A for incoherent light disposed on the end surface 11a side of the semiconductor stack 10. The semiconductor laminate 1 forming the light emitting surface 12 for incoherent light and laser light has a wider energy band gap than the semiconductor crystal layer 3B for laser light disposed on the end surface 11b side of the semiconductor layer 1.
Regarding the light component directed toward the end surface 11a side of 0, the semiconductor crystal layer 3B for laser light and the semiconductor crystal layer 3 for incoherent light
A is hardly absorbed in the semiconductor crystal layer 3B for laser light and the semiconductor crystal layer 3A for incoherent light, and is confined by the semiconductor crystal layers 2.4 and 5, resulting in a light emitting surface for incoherent light and laser light. 12
The light propagates to the side, and then is reflected by the light emitting surface 12 for incoherent light and laser light, and is directed toward the semiconductor crystal layer 3B for incoherent light, and also toward the end surface 11b of the semiconductor stack 10. The light component propagates through the laser beam semiconductor crystal layer 3B to the end surface 11b side of the semiconductor stack 10 while being confined by the semiconductor crystal layers 2.4 and 5 without being absorbed therein. End face 1
It is reflected by 1b. Therefore, if the current from the laser light power supply continues to flow through the semiconductor stack 10, laser oscillation will occur, and the laser light based on this will be transmitted to the incoherent light and laser light emitting surfaces 12. radiated to the outside. Therefore, in the case of the semiconductor light emitting device according to the present invention shown in FIGS. 7 to 11, similarly to the case of the semiconductor light emitting device according to the present invention described above in FIGS. The light emitting surface 12 for laser light and laser light can be obtained externally. From the above, in the case of the semiconductor light emitting device according to the present invention shown in FIGS. 7 to 11, as well as in the case of the semiconductor light emitting device according to the present invention described above in FIGS. With this configuration, incoherent light and laser light can be obtained to the outside from the same light emitting surface 12 for incoherent light and laser light. Therefore, the semiconductor light emitting device can be made much smaller than the conventional semiconductor light emitting device described above. Furthermore, when incoherent light and laser light are supplied to a common optical system, a common transmission path can be used for the incoherent light and laser light. The means for supplying the light to the common optical system can be made much simpler and smaller than in the case of the conventional semiconductor light emitting device described above. Further, according to the semiconductor light emitting device according to the present invention shown in FIGS. 7 to 11, different incoherent light is provided between each of the electrode layer portions E and E2 of the incoherent light electrode layer 15A and the electrode layer 16. By connecting the optical power source, the semiconductor crystal layer portion M of the incoherent optical semiconductor layer 3
1 and M2, respectively, and therefore, the radiation surface 12 for incoherent light and for laser light can be obtained.
can be obtained by simultaneously emitting two incoherent lights having different wavelength centers to the outside, and the intensity of the light emitted from each of the semiconductor crystal layer parts M and M2 can be adjusted separately. It is possible to adjust the intensity distribution with respect to the wavelength of the incoherent light emitted from the light emitting surface for incoherent light and laser light. Furthermore, the energy band gaps E and E of the semiconductor crystal layer portions M1 and M2 of the semiconductor crystal layer for incoherent light 3A are determined by g81 gM2. If the value is selected in advance so that a large difference QHl gH2 can be obtained between the energy band gaps E and E within the range where they can be obtained overlappingly, then the light emitting surface 12 for incoherent light and laser light can be emitted to the outside. The resulting incoherent light can be treated as having one band with a widened bandwidth, as shown in FIG. Embodiment 3 Next, a third embodiment of the semiconductor light emitting device according to the present invention will be described with reference to FIGS. 13 and 14. In FIGS. 13 and 14, parts corresponding to those in FIGS. 1 to 4 are designated by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted. The semiconductor light emitting device according to the present invention shown in FIGS. 13 and 14 has the configuration described above in FIGS. End face 1 as light emitting surface 12 for laser light
On the side opposite to the 1a side, a laser beam electrode layer 15B1
A groove 17 is formed across the semiconductor crystal layers 6.5.4 and 3 and reaches into the semiconductor crystal layer 2, and the end face 11 of the full 17
The inner surface of the a side is the semiconductor light emitting i described above in FIGS. 1 to 4.
The end face 11b of the semiconductor stack 10 in the position, and
The part on the side opposite to the end surface 11a side of the semiconductor stacked body 10 across the groove 17 (the laser beam electrode layer 15B, the semiconductor crystal layer 6
.. 5. Corresponding parts to 4 and 3 are given the same symbols with dashes) when laser light is emitted from the light emitting surface 12 for incoherent light and laser light. It has the same configuration as that shown in FIGS. 1 to 4, except that the photodiode 18 is used to monitor light by using laser light obtained from the end surface 11b, which is the inner surface of the groove 17 on the end surface 11a side. . The above is the configuration of the third embodiment of the semiconductor light emitting device according to the present invention. According to the semiconductor light emitting device according to the present invention having such a configuration, the light for incoherent light and laser light can be produced with the same effect as the semiconductor light emitting device according to the present invention described above in FIGS. 1 to 4. It can be obtained by selectively emitting incoherent light and laser light to the outside from the radiation surface 12, and when the laser light is being emitted to the outside, the laser light can be monitored by the photodiode 18. . Therefore, according to the semiconductor light emitting device according to the present invention shown in FIGS. 13 and 14, it is possible to selectively obtain incoherent light and laser light in one element configuration T-, and also to emit laser light to the outside. The laser beam can be monitored if the

【実施例4】 次に、第15図〜第18図を伴って本発明による半導体
発光装置の第4の実施例を述べよう。 第15図〜第18図において、第1図〜第4図との対応
部分には同一符号を付して詳細説明を省略する。 第15図〜第18図に示す本発明による半導体発光装置
は、次に述べる構成を有する。 すなわち、第1図〜第4図で前述した半導体結晶基板1
と同様の例えばn型を有する半導体結晶基板1と、半導
体結晶基板1上にそれと接して形成され且つ半導体結晶
基板1と同じn型を有する、第1図〜第4図で前述した
半導体結晶層2と同様の半導体結晶層2と、半導体結晶
層2上にそれと接して形成され且つn型を与える不純物
またはp型を与える不純物のいずれも意図的に導入させ
ていないか導入させているとしても十分低い濃度でしか
導入させていない、第1図〜第4図で前述した半導体結
晶113のインコヒーレント光用半導体結晶層3Aと同
様のインコヒーレント光用半導体結晶層3Aとを有する
。 また、半導体結晶13A上に形成された、半導体結晶層
2に対応している半導体結晶層2′を有する。この半導
体結晶層2′は、インコヒーレント光用半導体結晶層3
A及び次に述べるレーザ光用半導体結晶層3Bに比し広
いエネルギバンドギャップを有し且つ比較的薄い厚さを
有し、また、レーザ光用才導体結晶層3B下の領域にお
ける、n型を与える不純物またはp型を与える不純物の
いずれも意図的に導入させていないかn型を有する半導
体結晶層20’ とそれ以外の領域におけるn型を与え
る不純物またはp型を与える不純物のいずれも意図的に
導入させていないかp型を有する半導体結晶層2Dとを
有する。なお、図においては半導体結晶層2C’がn型
を有し、また、」−聯体結晶層2D′がp型を有するも
のとして示されている。 さらに、インコヒーレント光用半導体結晶層3A上に、
第1図〜第4図で前述したインコヒーシン1−光用半導
体結晶層3Aの半導体結晶層部M1に対応している半導
体結晶層部M1を後述する半導体積層体10の端面11
a側の半導体結晶層部M1として残している状態に、上
述した半導体結晶層部2′の半導体結晶1t2c’を介
して積層して形成されている、第1図〜第4図で前述し
たレーザ光用半導体結晶層3Bと同様のレーザ光用半導
体結晶層3Bを有する。 また、レーザ光用半導体結晶層3B上に形成されている
上述した半導体結晶層3Aに比し広いエネルギバンドギ
ャップを有し且つp型を有する半導体結晶層20を有す
る。 さらに、半導体結晶基板1と、半導体結晶層2と、イン
コヒーレント光用半導体結晶113Aと、半導体結晶層
2′と、レーザ光用半導体結晶層3Bと、半導体結晶1
i520とを有する半導体積層体に、第17図及び第1
8図を春照して明らかなように、上方から、後述する半
導体積層体10の端面11a及び11b間に延長し且つ
半導体結晶層2内または半導体結晶基板1内に終絡する
(図においては半導体結晶層2内に終絡する)深さを有
する溝21L及び21Rが形成されている。 また、満211内、及び半導体層20の溝21Lからみ
て溝21R側とは反対側の面上に延長して形成されてい
るp型を有する半導体結晶層6Lと、溝2IR内、及び
半導体層20の満21Rからみてみぞ21L側とは反対
がわの面上に延長して形成されているp型を有する半導
体結晶層6Rと、半導体層6L及び6R上にぞれぞれ延
長して形成されているn型を有する半導体層7L及び7
Rとを有する。 また、半導体結晶層20のf121 L及び21R間の
領域上において、インコヒーレント光用半導体結晶層3
Aの半導体結晶層部M1上、及びレーザ光用半導体結晶
層3B上に、半導体結晶層2D’及び20をそれぞれ介
して連続延長し且つ上述した半導体結晶層7L及び7R
上にも連続延長して形成されている、第1図〜第4図で
前述した半導体結晶層4と同様の半導体結晶層4を有す
る。 さらに、半導体結晶層4上に形成されている、第1図〜
第4図で前述した半導体結晶層6の半導体結晶層6A及
び6Bと同様の半導体結晶層6の半導体結晶116A及
び6Bを有する。 また、半導体結晶層6A及び6B上にそれぞれ形成され
ている、第1図〜第4図で前述したと同様の電極層15
のインコヒーレント光用電極1i15A及びレーザ光用
電極層15Bを有する。 さらに、半導体結晶基板1の半導体結晶II2側とは反
対側の面上に形成されている、第1図〜第4図で前述し
たと同様の電極116を有する。 また、上述した半導体結晶基板1、半導体結晶層2、イ
ンコヒーレント光用半導体結晶層3A、レーザ光用半導
体結晶層3B、半導体結晶層6L、6R,7m及び7R
1及び半導体結晶層4.6A及び6Bを有する第1図〜
第4図で前述した半導体積層体10に対応している半導
体積層体10が、第1図〜第4図で前述したと同様の端
面11a及び11bを有し、そして、端面11a上に、
第1図〜第4図で前述したと同様に、それをインコヒー
レント光用及びレーザ光用放射面12とすべく、反射防
止膜13が形成されている。 以上が、本発明による半導体発光装置の第4の実施例の
構成である。 このような構成を有する本発明による半導体発光装置は
、第19図〜第38図を伴って次に述べるように製造す
ることができる。 すなわち、第19図〜第22図に示すように、上述した
半導体結晶基板1上に、上述した半導体結晶層2と、上
述したインコヒーシン1〜光用半導体結晶層3Aと、上
述した半導体結晶層2になる半導体結晶層2X’ と、
上述したレーザ光用半導体結晶層3Bになる半導体結晶
層3BXと、上述した半導体結晶層20になる半導体結
晶層20Xとをそれらの順にエピタキシャル成長法によ
って積層して形成する。 次に、半導体結晶!20X及び3BXに対するマスクを
用いたそれ自体は公知のエツチング処理によって、第2
3図〜第26図に示すように、半導体結晶層20X及び
3BXから、上述した半導体結晶層20及びレーザ光用
半導体結晶層3Bをそれぞれ形成する。 次に、半導体結晶基板1と、半導体結晶層2と、インコ
ヒーレント光用半導体結晶113Aと、半導体結晶層2
X’ と、レーザ光用半導体結晶層3Bと、半導体結晶
層20とを有する半導体積層体に対し、その上面側から
、第27図〜第30図に示すように、互に平行に延長し
ている満211及び21Rを形成する。 次に、半導体結晶基板1と、半導体結晶層2と、インコ
ヒーレント光用半導体結晶層3Aと、半導体結晶層2X
’ と、レーザ光用半導体結晶層3Bと、半導体結晶層
20とを有する半導体積層体上に、満211及び21R
を埋めるように、半導体結晶層6L及び6Rと、半導体
結晶層7L及び7Rとを、それらの順にエピタキシャル
成長法によって形成させる工程をとらせる。 しかるときは、半導体結晶層6L及び6R1及び7L及
び7Rは、半導体結晶層2X’及び20の1I21L及
び21R間の領域上にはそれらの面積が狭いことによっ
て成長しないが、半導体結晶112X’及び20の溝2
1Lからみて溝21R側とは反対側の領域及び溝21R
からみて溝21R側とは反対側の領域上にはそれらの面
積が広いことによって成長することから、半導体結晶層
6L及び6R1及び7L及び7Rを、満211及び21
R内と半導体結晶層2X’及び20の溝21Lからみて
21R側とは反対側の領域上述及び溝21Rからみて満
21L側とは反対側の領域上に延長しているものとして
形成さる。 続いて、第31図〜第34図に示すように、半導体結晶
層7L及び7R,及び半導体結晶層20X及び20の溝
211及び21R間の領域上に、上述した半導体結晶層
4と、上述した半導体結晶層6A及び6Bを有する半導
体層6になる半導体結晶層6xとをそれらの順にエピタ
キシャル成長法によって積層して形成する。この場合、
半導体結晶W!12X’ の半導体結晶層4と接してい
る領域が、その中に半導体結晶N4からのp型不純物が
導入されることによってp型化し、よって、半導体結晶
層2X’から上述した半導体結晶層2C’及び2D’を
有する半導体結晶層2′が形成される。 次に、第35図及び第36図に示すように、半導体結晶
層6X上に、上述したインコヒーレント光用電極層15
A及びレーザ光用電極!15Bを形成し、次にまたはそ
の前に、第37図及び第38図に示すように、半導体結
晶層6Xに対づるエツチング処理によって、半導体結晶
―6Xから、上述した半導体結晶層6A及び6Bを形成
する。 次に、図示しないが、半導体結晶基板1の半導体結晶層
2側とは反対側の面上に電極層16を形成し、次で、半
導体結晶基板1と半導体結晶層2と、インコヒーレント
光用半導体結晶層3Aと、半導体結晶1i4と、レーザ
光用半導体結晶It!3Bと、半導体結晶層20.4.
6A及び6Bと、インコヒーレント光用電極1115A
及びレーザ光用電極層15B、及び電8i層16とを有
する積層体をへき開して、相対向する端面11a及び1
1bを形成し、その一方の端面11a上に反射防止躾1
3を形成する。 以上が、第15図〜第18図で上述した本発明による半
導体発光装置の製法の実施例である。 以上で、第15図〜第18図に示す本発明による半導体
発光装置が明らかとなったが、このような構成を有する
第15図〜第18図に示す本発明による半導体発光装置
の第4の実施例によれば、電極1ii15のインコヒー
レント光用電極層15Aと電極層16との間に、所要の
インコヒーレント光用電源を接続すれば、そのインコヒ
ーレント光用電源から、電流が、半導体積層体10に、
インコヒーレント光用半導体結晶層3Aの半導体結晶層
部M1を通って流れることから、そのインコヒーレント
光用半導体結晶層3Aの半導体結晶層部M1において、
インコヒーレント光用半導体結晶層3Aのエネルギバン
ドギャップE  に応じた波長を中心とするH1 帯域を有する光が発生する。 そして、そのインコヒーレント光用半導体結晶層3Aの
半導体結晶層部M1で発生した光は、レーザ光用半導体
結晶層3Bが、インコヒーレント光用半導体結晶113
Aの半導体結晶層部M1よりも半導体積層体10の端面
11b側に配され且つインコヒーレント光用半導体結晶
層3Aの半導体結晶層部M1に比し小さなエネルギバン
ドギャップを有し、また、インコヒーレント光用半導体
結晶層3Aが半導体結晶層2′の半導体結晶層2G’を
介してレーザ光用半導体結晶層3Bに光学的に結合して
いるので、半導体積層体10の端面11b側に向う光分
について、インコヒーレント光用半導体結晶層3Aを、
半導体結晶層2及び4によって閉じ込められて半導体積
層体10の端面11 billに伝播せんとするが、レ
ーザ光用半導体結晶層3B内でほとんど吸収され、端面
11bにほとんど達しない。 しかしながら、レーザ光用半導体結晶層3Aの半導体結
晶層部M1で発生した光の、半導体積層体10の端面1
1a側に向う光分については、インコヒーレント光用半
導体結晶層3Aの半導体結晶層部M1を、そこにおいて
ほとんど吸収されずに、半導体結晶H2及び4によって
閉じ込められて伝播し、インコヒーレント光用及びレー
ザ光用光放射面12に達する。 このため、インコヒーレント光用半導体結晶層3Aの半
導体結晶層部M1で発生する光が、インコヒーレント光
として、インコヒーレント光用及びレーザ光用光放射面
12から、外部に放射して得られる。 そして、この場合、第1図〜第4図で前1本した本願第
1番目の発明による半導体発光装置の場合と同様に、イ
ンコヒーシン1〜光用電源からの電流を継続して流せば
、インコヒーレント光用及びレーザ光用光放射面12か
ら外部に放射されるインコヒーレント光が、インコヒー
レント光用半導体結晶層3Aの半導体結晶層部M1に流
れる電流に応じて、比較的高い輝度で得られる。 さらに、インコヒーレント光用及びレーザ光用光放射面
12から外部に放射して得られるインコヒーレント光が
、インコヒーレント光用及びレーザ光用光放射面12上
におけるインコヒーレント光用半導体結晶層3Aの半導
体結晶層部M1の端面という局部的な領域から外部に放
射される光であるので、インコヒーレント光用及びレー
ザ光用光放射面12から外部に放射して得られるインコ
ヒーレント光が、インコヒーレント光用半導体結晶層3
Aの半導体結晶層部M1の厚さに応じて、比較的狭い放
射角で放射される。 よって、第15図〜第18図に示す本発明による半導体
発光装置による場合も、第1図〜第4図で前述した本願
第1番目の発明による半導体発光装置の場合と同様に、
インコヒーレント光を、インコヒーレント光用及びレー
ザ光用光放射面12から、外部に、比較的高い強度で且
つ比較的狭い放射角で得ることができる。 また、第15図〜第18図に示す本発明による半導体発
光装置による場合、第1図〜第4図で前述した本願第1
番目の発明による半導体発光装置の場合と同様に、電極
層15のレーザ光用電極層15Bと電4f!層16との
間に所要のレーザ光用電源を接続すれば、そのレーザ光
用電源から、電流が、半導体積層体10に、レーザ光用
半導体結晶層3B、半導体結晶層2′のレーザ光用半導
体結晶層3B下の半導体結晶層20′、及びインコヒー
シン1−光用半導体結晶層3Aのレーザ光用半導体結晶
層3B下の領域を通って流れ、そして、この場合、レー
ザ光用半導体結晶層3Bが、インコヒーレント光用半導
体結晶層3B及び半導体結晶w?′J2’ に比し小さ
いエネルギバンドギャップを有していることから、実質
的に、レーザ光用半導体結晶FF13Bにおいて、その
エネルギバンドギャップに応じた波長を中心とする帯域
を有する光が発生する。 そして、そのレーザ光用半導体結晶層3Bで発生した光
は、インコヒーレント光用半導体結晶層3Aが、レーザ
光用半導体結晶JFi3Bに比し広いエネルギバンドギ
ャップを有し且つ半導体結晶層2′の半導体結晶112
c’を介してレーザ光用半導体結晶層3Bに結合してい
るので、インコヒーレント光用及びレーザ光用光放射面
12を形成している半導体積層体10の端面11a側に
向う光分について、レーザ光用半導体結晶層3B及びイ
ンコヒーレント光用半導体結晶層3Aを、はとんど吸収
されずに、半導体結晶層2及び4によって閉じ込められ
てR終的にインコヒーレント光用半導体結晶層3Aを通
って半導体積層体10の端面11a側に伝播し、次で、
その端面11aで反射して、端面11b側に、インコヒ
ーレント光用半導体結晶1i3Aを通って向い、また、
端面11b側に向う光分については、上述したのに準じ
た理由で、上述したのに準じて、レーザ光用半導体結晶
層3B及びインコヒーレント光用半導体結晶層3Aを、
はとんど吸収されずに、半導体結晶層2及び4によって
閉じ込められて、最終的にインコヒーレント光用半導体
結晶層3Aを通って端面11b側に伝播し、次で、その
端面11bで反射して、端面11a側に、インコヒーレ
ント光用半導体結晶層3Aを通って向う。 このため、レーザ光用電源からの電流を継続して流せば
、第1図〜第4図で前述した本発明による半導体発光装
置の場合と同様に、レーザ発振が生じ、そして、それに
もとずく第6図で上述したような波長に対する強度を有
するレーザ光が、インコヒーレント光用及びレーザ光用
光放射面12から外部に放射される。 よって、第15図〜第18図に示す本発明による半導体
発光装置による場合も、第1図〜第4図で前述した本発
明による半導体発光VR置の場合と同様に、レーザ光を
、インコヒーレント光用及びレーザ光用光放射面12か
ら、外部に得ることができる。 以上のことから、第15図〜第18図に示す本発明によ
る半導体発光装置による場合も、第1図〜第4図で前述
した本発明による半導体発光装置の場合と同様に、1つ
の素子構成で、インコヒーレント光とレーザ光とを、同
じインコヒーレント光用及びレーザ光用光放射面12か
ら外部に得ることができる。このため、第1図〜第4図
で前述した本発明による半導体発光装置の場合と同様に
、半導体発光装置を前述した従来の半導体発光装置の場
合に比し、格段的に小型化することができる。 また、インコヒーレント光とレーザ光とをそれらに共通
の光学系に供給する場合、第1図〜第4図で前述した本
発明による半導体発光装置の場合と同様に、それらイン
コヒーレント光及びレーザ光に対して共通の伝送路を用
いることができるので、インコヒーレント光とレーザ光
とをそれらに共通の光学系に供給する手段を、第1図〜
第4図で前述した本発明による半導体発光装置の場合と
同様に、前述した従来の半導体発光装置の場合に比し格
段的に簡易、小型化させることができる。
Embodiment 4 Next, a fourth embodiment of the semiconductor light emitting device according to the present invention will be described with reference to FIGS. 15 to 18. In FIGS. 15 to 18, parts corresponding to those in FIGS. 1 to 4 are designated by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted. The semiconductor light emitting device according to the present invention shown in FIGS. 15 to 18 has the following configuration. That is, the semiconductor crystal substrate 1 described above in FIGS. 1 to 4
A semiconductor crystal substrate 1 having, for example, an n-type similar to that, and a semiconductor crystal layer described above in FIGS. 1 to 4, which is formed on the semiconductor crystal substrate 1 in contact with it and has the same n-type as the semiconductor crystal substrate 1. A semiconductor crystal layer 2 similar to 2, and an impurity formed on the semiconductor crystal layer 2 in contact with it, and neither an n-type impurity nor a p-type impurity is intentionally introduced, or even if it is introduced. It has an incoherent light semiconductor crystal layer 3A similar to the incoherent light semiconductor crystal layer 3A of the semiconductor crystal 113 described above in FIGS. 1 to 4, which is introduced only at a sufficiently low concentration. It also has a semiconductor crystal layer 2' corresponding to the semiconductor crystal layer 2 formed on the semiconductor crystal 13A. This semiconductor crystal layer 2' is a semiconductor crystal layer 3 for incoherent light.
It has a wider energy bandgap and a relatively thinner thickness than A and the semiconductor crystal layer 3B for laser light described below, and also has an n-type in the region under the semiconductor crystal layer 3B for laser light. Either the impurity giving the n-type or the impurity giving the p-type is not intentionally introduced into the semiconductor crystal layer 20' having the n-type and the impurity giving the p-type or the impurity giving the p-type. A semiconductor crystal layer 2D having p-type conductivity or not introduced into the semiconductor crystal layer 2D. In the figure, the semiconductor crystal layer 2C' is shown as having n-type, and the solid crystal layer 2D' is shown as having p-type. Furthermore, on the incoherent light semiconductor crystal layer 3A,
The end surface 11 of the semiconductor stack 10, which will be described later, corresponds to the semiconductor crystal layer portion M1 of the incohesin 1-optical semiconductor crystal layer 3A described above in FIGS. 1 to 4.
The laser described above in FIGS. 1 to 4 is formed by stacking the semiconductor crystal 1t2c' of the semiconductor crystal layer 2' on the semiconductor crystal layer 1t2c' of the semiconductor crystal layer 2' which is left on the a side. It has a laser beam semiconductor crystal layer 3B similar to the optical semiconductor crystal layer 3B. Moreover, it has a semiconductor crystal layer 20 which has a wider energy band gap than the above-mentioned semiconductor crystal layer 3A formed on the semiconductor crystal layer 3B for laser light and is p-type. Furthermore, the semiconductor crystal substrate 1, the semiconductor crystal layer 2, the semiconductor crystal for incoherent light 113A, the semiconductor crystal layer 2', the semiconductor crystal layer for laser light 3B, and the semiconductor crystal 1
17 and 1.
As is clear from the perspective of FIG. Grooves 21L and 21R having a depth (terminating in the crystal layer 2) are formed. In addition, a p-type semiconductor crystal layer 6L, which is formed to extend within the groove 211 and on the surface opposite to the groove 21R side when viewed from the groove 21L of the semiconductor layer 20, and a semiconductor crystal layer 6L, which is formed inside the groove 2IR and extends on the surface opposite to the groove 21R side when viewed from the groove 21L of the semiconductor layer 20. A semiconductor crystal layer 6R having p-type is formed to extend on the side opposite to the groove 21L side when viewed from the full 21R of 20, and a semiconductor crystal layer 6R having p-type is formed to extend on the semiconductor layers 6L and 6R, respectively. Semiconductor layers 7L and 7 having n-type
It has R. In addition, on the region between f121L and 21R of the semiconductor crystal layer 20, the semiconductor crystal layer 3 for incoherent light is
On the semiconductor crystal layer portion M1 of A and on the semiconductor crystal layer 3B for laser light, the semiconductor crystal layers 7L and 7R are continuously extended via the semiconductor crystal layers 2D' and 20, respectively, and are described above.
A semiconductor crystal layer 4 similar to the semiconductor crystal layer 4 described above with reference to FIGS. 1 to 4 is formed continuously and extended on the top. Furthermore, FIGS.
It has semiconductor crystals 116A and 6B of the semiconductor crystal layer 6 similar to the semiconductor crystal layers 6A and 6B of the semiconductor crystal layer 6 described above in FIG. Further, electrode layers 15 similar to those described above in FIGS. 1 to 4 are formed on the semiconductor crystal layers 6A and 6B, respectively.
It has an incoherent light electrode 1i15A and a laser light electrode layer 15B. Further, it has an electrode 116 similar to that described above in FIGS. 1 to 4, which is formed on the surface of the semiconductor crystal substrate 1 opposite to the semiconductor crystal II2 side. In addition, the above-mentioned semiconductor crystal substrate 1, semiconductor crystal layer 2, semiconductor crystal layer for incoherent light 3A, semiconductor crystal layer for laser light 3B, semiconductor crystal layers 6L, 6R, 7m and 7R
1 and semiconductor crystal layers 4.6A and 6B.
The semiconductor stack 10 corresponding to the semiconductor stack 10 described above in FIG. 4 has end surfaces 11a and 11b similar to those described above in FIGS. 1 to 4, and on the end surface 11a,
As described above with reference to FIGS. 1 to 4, an antireflection film 13 is formed to serve as the radiation surface 12 for incoherent light and laser light. The above is the configuration of the fourth embodiment of the semiconductor light emitting device according to the present invention. The semiconductor light emitting device according to the present invention having such a configuration can be manufactured as described below with reference to FIGS. 19 to 38. That is, as shown in FIGS. 19 to 22, the above-described semiconductor crystal layer 2, the above-described incohesin 1 to the optical semiconductor crystal layer 3A, and the above-described semiconductor crystal layer are placed on the above-described semiconductor crystal substrate 1. A semiconductor crystal layer 2X' which becomes 2,
The semiconductor crystal layer 3BX, which will become the semiconductor crystal layer 3B for laser light described above, and the semiconductor crystal layer 20X, which will become the semiconductor crystal layer 20 described above, are laminated in that order by an epitaxial growth method. Next, semiconductor crystals! By means of an etching process known per se, using masks for 20X and 3BX, the second
As shown in FIGS. 3 to 26, the above-described semiconductor crystal layer 20 and laser beam semiconductor crystal layer 3B are formed from the semiconductor crystal layers 20X and 3BX, respectively. Next, the semiconductor crystal substrate 1, the semiconductor crystal layer 2, the semiconductor crystal for incoherent light 113A, and the semiconductor crystal layer 2
X', a semiconductor crystal layer 3B for laser light, and a semiconductor crystal layer 20, extending in parallel to each other from the upper surface side as shown in FIGS. 27 to 30. 211 and 21R are formed. Next, the semiconductor crystal substrate 1, the semiconductor crystal layer 2, the semiconductor crystal layer 3A for incoherent light, and the semiconductor crystal layer 2X
' 211 and 21R on the semiconductor stack having the laser beam semiconductor crystal layer 3B and the semiconductor crystal layer 20.
A step is performed in which semiconductor crystal layers 6L and 6R and semiconductor crystal layers 7L and 7R are formed in that order by epitaxial growth so as to fill the space. In this case, the semiconductor crystal layers 6L and 6R1 and 7L and 7R do not grow on the region between 1I21L and 21R of the semiconductor crystal layers 2X' and 20 due to their narrow area, but the semiconductor crystal layers 112X' and 20 Groove 2
The area opposite to the groove 21R side when viewed from 1L and the groove 21R
Since the semiconductor crystal layers 6L and 6R1 and 7L and 7R are grown on the region opposite to the trench 21R side when viewed from the top because of their large area,
It is formed so as to extend within R and over the region of the semiconductor crystal layers 2X' and 20 on the side opposite to the 21R side when viewed from the groove 21L, and on the area opposite to the full 21L side when viewed from the groove 21R. Subsequently, as shown in FIGS. 31 to 34, the above-mentioned semiconductor crystal layer 4 and the above-mentioned semiconductor crystal layer 4 are placed on the regions between the grooves 211 and 21R of the semiconductor crystal layers 7L and 7R and the semiconductor crystal layers 20X and 20. A semiconductor crystal layer 6x that will become the semiconductor layer 6 having semiconductor crystal layers 6A and 6B is formed by stacking them in that order by an epitaxial growth method. in this case,
Semiconductor crystal W! The region in contact with the semiconductor crystal layer 4 of 12X' becomes p-type by introducing the p-type impurity from the semiconductor crystal N4 into it, and therefore, the region from the semiconductor crystal layer 2X' to the semiconductor crystal layer 2C' mentioned above becomes p-type. and 2D' is formed. Next, as shown in FIGS. 35 and 36, the above-described incoherent light electrode layer 15 is placed on the semiconductor crystal layer 6X.
A and laser beam electrode! 15B, and then or before that, as shown in FIGS. 37 and 38, the above-mentioned semiconductor crystal layers 6A and 6B are etched from the semiconductor crystal 6X by etching the semiconductor crystal layer 6X. Form. Next, although not shown, an electrode layer 16 is formed on the surface of the semiconductor crystal substrate 1 opposite to the semiconductor crystal layer 2 side. Semiconductor crystal layer 3A, semiconductor crystal 1i4, and semiconductor crystal It! for laser light! 3B and the semiconductor crystal layer 20.4.
6A and 6B and incoherent light electrode 1115A
The laminated body having the laser beam electrode layer 15B and the electrode layer 16 is cleaved to form opposite end surfaces 11a and 1.
1b, and an anti-reflection layer 1 is formed on one end surface 11a.
form 3. The above is an embodiment of the method for manufacturing the semiconductor light emitting device according to the present invention described above with reference to FIGS. 15 to 18. As described above, the semiconductor light emitting device according to the present invention shown in FIGS. 15 to 18 has been clarified, but the fourth aspect of the semiconductor light emitting device according to the present invention shown in FIGS. 15 to 18 having such a configuration is as follows. According to the embodiment, if a required power source for incoherent light is connected between the electrode layer 15A for incoherent light and the electrode layer 16 of the electrode 1ii15, a current flows from the power source for incoherent light to the semiconductor laminated layer. to the body 10,
Since it flows through the semiconductor crystal layer portion M1 of the semiconductor crystal layer for incoherent light 3A, in the semiconductor crystal layer portion M1 of the semiconductor crystal layer for incoherent light 3A,
Light having an H1 band centered on a wavelength corresponding to the energy bandgap E of the semiconductor crystal layer 3A for incoherent light is generated. The light generated in the semiconductor crystal layer portion M1 of the semiconductor crystal layer for incoherent light 3A is transferred to the semiconductor crystal layer for incoherent light 113 by the semiconductor crystal layer for laser light 3B.
It is disposed closer to the end surface 11b of the semiconductor stack 10 than the semiconductor crystal layer portion M1 of A, and has a smaller energy band gap than the semiconductor crystal layer portion M1 of the incoherent light semiconductor crystal layer 3A, and also has an incoherent Since the optical semiconductor crystal layer 3A is optically coupled to the laser beam semiconductor crystal layer 3B via the semiconductor crystal layer 2G' of the semiconductor crystal layer 2', light components directed toward the end surface 11b side of the semiconductor stack 10 are Regarding the incoherent light semiconductor crystal layer 3A,
Although it is confined by the semiconductor crystal layers 2 and 4 and tries to propagate to the end face 11bill of the semiconductor stacked body 10, it is almost absorbed within the semiconductor crystal layer 3B for laser light and hardly reaches the end face 11b. However, the light generated in the semiconductor crystal layer portion M1 of the semiconductor crystal layer 3A for laser light is transmitted to the end surface 1 of the semiconductor stack 10.
The light component heading toward 1a side propagates through the semiconductor crystal layer portion M1 of the incoherent light semiconductor crystal layer 3A without being absorbed therein, being confined by the semiconductor crystals H2 and 4, and propagates into the incoherent light and semiconductor crystal layer portions M1. It reaches the light emitting surface 12 for laser light. Therefore, the light generated in the semiconductor crystal layer portion M1 of the semiconductor crystal layer 3A for incoherent light is obtained by being radiated to the outside from the light emitting surface 12 for incoherent light and laser light as incoherent light. In this case, as in the case of the semiconductor light emitting device according to the first invention of the present application shown in FIGS. The incoherent light emitted to the outside from the light emitting surface 12 for incoherent light and laser light can be obtained with relatively high brightness depending on the current flowing through the semiconductor crystal layer portion M1 of the semiconductor crystal layer 3A for incoherent light. It will be done. Furthermore, the incoherent light obtained by being radiated to the outside from the light emitting surface 12 for incoherent light and laser light is transmitted to the semiconductor crystal layer 3A for incoherent light on the light emitting surface 12 for incoherent light and laser light. Since the light is emitted to the outside from a local region called the end face of the semiconductor crystal layer portion M1, the incoherent light obtained by being emitted to the outside from the light emitting surface 12 for incoherent light and laser light is incoherent. Optical semiconductor crystal layer 3
The radiation is emitted at a relatively narrow radiation angle depending on the thickness of the semiconductor crystal layer portion M1 of A. Therefore, in the case of the semiconductor light emitting device according to the present invention shown in FIGS. 15 to 18, as in the case of the semiconductor light emitting device according to the first invention of the present application described above in FIGS. 1 to 4,
Incoherent light can be obtained externally from the light emitting surface 12 for incoherent light and laser light with a relatively high intensity and with a relatively narrow emission angle. Furthermore, in the case of the semiconductor light emitting device according to the present invention shown in FIGS. 15 to 18, the first
As in the case of the semiconductor light emitting device according to the second invention, the laser beam electrode layer 15B of the electrode layer 15 and the electrode 4f! If a required power supply for laser light is connected between the layer 16 and the power supply for laser light, a current is supplied from the power supply for laser light to the semiconductor stack 10 to the semiconductor crystal layer 3B for laser light and the semiconductor crystal layer 2' for laser light. It flows through the semiconductor crystal layer 20' under the semiconductor crystal layer 3B and the region under the laser light semiconductor crystal layer 3B of the incohesin 1-light semiconductor crystal layer 3A, and in this case, the laser light semiconductor crystal layer 20' 3B is a semiconductor crystal layer 3B for incoherent light and a semiconductor crystal w? Since it has a smaller energy bandgap than 'J2', the semiconductor crystal FF 13B for laser light actually generates light having a band centered on a wavelength corresponding to the energy bandgap. Then, the light generated in the semiconductor crystal layer 3B for laser light is transmitted to the incoherent light semiconductor crystal layer 3A, which has a wider energy band gap than the semiconductor crystal JFi 3B and the semiconductor crystal layer 2'. crystal 112
Since it is coupled to the semiconductor crystal layer 3B for laser light through c', the light component directed toward the end surface 11a side of the semiconductor stack 10 forming the light emitting surface 12 for incoherent light and laser light. The semiconductor crystal layer 3B for laser light and the semiconductor crystal layer 3A for incoherent light are confined by the semiconductor crystal layers 2 and 4 without being absorbed, and finally the semiconductor crystal layer 3A for incoherent light is and propagates to the end surface 11a side of the semiconductor stack 10, and then,
It is reflected by the end surface 11a, passes through the incoherent light semiconductor crystal 1i3A toward the end surface 11b, and
Regarding the light component directed toward the end surface 11b, for the same reason as described above, the semiconductor crystal layer 3B for laser light and the semiconductor crystal layer 3A for incoherent light are
The light is hardly absorbed, is confined by the semiconductor crystal layers 2 and 4, and finally propagates through the semiconductor crystal layer 3A for incoherent light toward the end surface 11b, and is then reflected at the end surface 11b. Then, it passes through the incoherent light semiconductor crystal layer 3A toward the end surface 11a side. Therefore, if the current from the laser light power supply continues to flow, laser oscillation will occur, as in the case of the semiconductor light emitting device according to the present invention described above in FIGS. 1 to 4, and based on this, Laser light having the intensity for the wavelength as described above in FIG. 6 is radiated to the outside from the light emitting surface 12 for incoherent light and laser light. Therefore, in the case of the semiconductor light emitting device according to the present invention shown in FIGS. 15 to 18, similarly to the case of the semiconductor light emitting VR device according to the present invention described above in FIGS. From the light emitting surface 12 for light and laser light can be obtained externally. From the above, in the case of the semiconductor light-emitting device according to the present invention shown in FIGS. In this way, incoherent light and laser light can be obtained to the outside from the same light emitting surface 12 for incoherent light and laser light. Therefore, as in the case of the semiconductor light emitting device according to the present invention described above with reference to FIGS. 1 to 4, it is possible to significantly reduce the size of the semiconductor light emitting device compared to the case of the conventional semiconductor light emitting device described above. can. Furthermore, when incoherent light and laser light are supplied to a common optical system, as in the case of the semiconductor light emitting device according to the present invention described above with reference to FIGS. Since a common transmission path can be used for both, a means for supplying incoherent light and laser light to a common optical system is shown in FIGS.
Similar to the semiconductor light emitting device according to the present invention described above with reference to FIG. 4, it can be made much simpler and smaller than the conventional semiconductor light emitting device described above.

【実施例5】 次に、第39図及び第40図を伴って、本発明による半
導体発光装置の第5の実施例を述べよう。 第39図及び第40図において、第15図〜第18図、
及び第7図〜第11図との対応部分には同一符号を付し
詳細説明を省略する。 第39図及び第40図に示す本発明による半導体発光装
置は、半導体結晶層2′とレーザ光用半導体結晶層3B
との間に、第7図〜第11図の楊白のインコヒーレント
光用半導体結晶層3Aの半導体結晶層部M2と同様のイ
ンコヒーレント光用半導体結晶HJ3A’ と半導体層
2′と同様の半導体層2″とがそれらの順に積層されて
介挿されていることを除いて、第15図〜第18図の場
合と同様の構成を有する。ただし、この場合、インコヒ
ーレント光用半導体結晶層3A’ は、インコヒーレン
ト光用半導体結晶層3A上に、その端面11a側の部を
半導体結晶層部M1として残している状態に半導体結晶
層2′の半導体結晶12G’を介して形成され、また、
レーザ光用半導体結晶層3Bは、インコヒーレント光用
半導体結晶M3A’上に、その端面11a側の部を半導
体結晶層部M2として残している状態に半導体結晶層2
″の半導体結晶層2G’ と同様の半導体結晶層2C“
を介して形成されている。 以上が、本発明による半導体発光装置の第5の実施例で
ある。 このような構成を有する本発明による半導体発光装置に
よれば、第15図〜第18図で上述した本発明による半
導体発光装置について上述したところ、及び[作用・効
果]の項で述べたところからも明らかであるので、詳細
説明は省略するが、第15図〜第18図、及び第7図〜
第8図で前述した本発明による半導体発光装置の場合に
準じた作用・効果が得られる。 なお、第1図〜第14図で上述した実施例においては、
半導体結晶層3Aが1つの半導体結晶層部M1を有する
場合と2つの半導体結晶層部M1及びM2を有する場合
とを述べたが、
Embodiment 5 Next, a fifth embodiment of the semiconductor light emitting device according to the present invention will be described with reference to FIGS. 39 and 40. In FIGS. 39 and 40, FIGS. 15 to 18,
Corresponding parts to those in FIGS. 7 to 11 are designated by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted. The semiconductor light emitting device according to the present invention shown in FIGS. 39 and 40 includes a semiconductor crystal layer 2' and a semiconductor crystal layer 3B for laser light.
In between, there is a semiconductor crystal HJ3A' for incoherent light similar to the semiconductor crystal layer portion M2 of the semiconductor crystal layer 3A for Yangbaik's incoherent light shown in FIGS. 7 to 11, and a semiconductor similar to the semiconductor layer 2'. It has the same structure as the case of FIGS. 15 to 18, except that the layer 2'' is laminated and interposed in that order. However, in this case, the semiconductor crystal layer 3A for incoherent light ' is formed on the incoherent light semiconductor crystal layer 3A through the semiconductor crystal 12G' of the semiconductor crystal layer 2', leaving the end face 11a side part as the semiconductor crystal layer part M1, and
The semiconductor crystal layer 3B for laser light is formed by forming the semiconductor crystal layer 2 on the semiconductor crystal M3A' for incoherent light, leaving a portion on the end face 11a side as a semiconductor crystal layer portion M2.
``Semiconductor crystal layer 2C'' similar to semiconductor crystal layer 2G'
is formed through. The above is the fifth embodiment of the semiconductor light emitting device according to the present invention. According to the semiconductor light emitting device according to the present invention having such a configuration, the above-described points regarding the semiconductor light emitting device according to the present invention described above in FIGS. 15 to 18 and the points described in the section [Operations and Effects] Since it is also obvious, detailed explanation will be omitted, but FIGS. 15 to 18 and FIGS.
Functions and effects similar to those of the semiconductor light emitting device according to the present invention described above with reference to FIG. 8 can be obtained. In addition, in the embodiments described above in FIGS. 1 to 14,
Although the case where the semiconductor crystal layer 3A has one semiconductor crystal layer section M1 and the case where it has two semiconductor crystal layer sections M1 and M2 have been described,

【課題を解決するための手段】の項で述
べているところからも明らかなように、3以上の半導体
結晶層部を設け、3以上のインコヒーレント光を得るよ
うにすることもでき、また、半導体結晶層3Aが複数の
半導体結晶層部を有する場合、インコヒーレント光用電
極層15Aをそれら複数の半導体結晶層部に対し共通の
1つの電極層部を有するものとすることもできる。 また、第15図〜第40図で上述した実施例においては
、インコヒーレント光用半導体結晶層が1つである場合
と2つである場合とを述べたが、
As is clear from the section "Means for Solving the Problems", three or more semiconductor crystal layer sections can be provided to obtain three or more incoherent lights, and When the semiconductor crystal layer 3A has a plurality of semiconductor crystal layer parts, the incoherent light electrode layer 15A can also have one common electrode layer part for the plurality of semiconductor crystal layer parts. Furthermore, in the embodiments described above in FIGS. 15 to 40, cases were described where there was one semiconductor crystal layer for incoherent light and cases where there were two semiconductor crystal layers.

【課題を解決するため
の手段】の項で述べているところからも明らかなように
、3以上のインコヒーレント光用半導体結晶層を設け、
3以上のインコヒーレント光を得るようにすることもで
き、また、インコヒーレント光用半導体結晶層が第1、
第2・・・・・・・・・のインコヒーレント光用半導体
結晶層と複数である場合、第1のインコヒーレント光用
半導体結晶層については、その両端面を端面11a及び
11b上にそれぞれあらしめるが、他の第2、第3・・
・・−・・・・のインコヒーレント光用半導体結晶層に
ついては、それらの両端面とも端面11a及び11b上
にあらしめなくてもよく、また、インコヒーレント光用
電極層15Aをそれら複数のインコヒーレント光用半導
体結晶層に対し共通の1つの電極層部を右するものとす
ることもでき、さらに半導体結晶層2′及び2″の半導
体結晶層2D’及び2D“を省略した構成とすることも
できる。 さらに、上述した本発明による半導体発光装置の実施例
において、「n型」を「p型」、「p型」を「n型」に
読み代えた構成とすることもでき、その他、本発明の精
神を脱することなしに、種々の変型、変更をなし得るで
あろう。
As is clear from what is stated in the section [Means for Solving the Problems], three or more semiconductor crystal layers for incoherent light are provided,
It is also possible to obtain three or more incoherent lights, and the semiconductor crystal layer for incoherent light is the first,
If there is a plurality of second semiconductor crystal layers for incoherent light, both end faces of the first semiconductor crystal layer for incoherent light are placed on end faces 11a and 11b, respectively. However, the other 2nd and 3rd...
Regarding the semiconductor crystal layers for incoherent light, both end faces thereof do not need to be arranged on the end faces 11a and 11b, and the electrode layer 15A for incoherent light does not need to be arranged on the end faces 11a and 11b. It is also possible to have one common electrode layer section for the semiconductor crystal layer for coherent light, and further omit the semiconductor crystal layers 2D' and 2D'' of the semiconductor crystal layers 2' and 2''. You can also do it. Furthermore, in the embodiments of the semiconductor light emitting device according to the present invention described above, "n type" may be read as "p type", "p type" may be read as "n type", and in other embodiments of the present invention. Various modifications and changes may be made without losing the spirit.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図、第2図、第3図及び第4図は、本発明による半
導体発光装置の第1の実施例を示す路線的平面図、その
2−2線上の断面図、3−3線上の断面図及び4−4線
上の断面図である。 第5図は、第1図〜第4図に示す本発明による半導体発
光装置の第1の実施例の説明に供する、インコヒーレン
ト光用及びレーザ光用光放射面から外部に放射して得ら
れるインコヒーレント光の波長に対する強度の関係を示
す図である。 第6図は、第1図〜第4図に示す本発明による半導体発
光装置の第1の実施例の説明に供する、インコヒーレン
ト光用及びレーザ光用光放射面から外部に放射して冑ら
れるレーザ光の波長に対する強度の関係を示す図である
。 第7図、第8図、第9図、第10図、及び第11図は、
本発明による半導体発光装置の第2の実施例を示す路線
的平面図、その8二8線上の断面図、9−9線上の断面
図、10−10線上の断面図及び11−11線上の断面
図である。 第12図は、第7図〜第11図に示す本発明による半導
体発光装置の第2の実施例の説明に供する、インコヒー
レント光用及びレーザ光用光放射面から外部に放射して
得られるインコヒーレント光の波長に対する強度の関係
を示す図である。 第13図及び第14図は、本発明による平導体発光装置
の第3の実施例を示す路線的平面図、及びその14−1
4線上の断面図である。 第15図、第16図、第17図及び第18図は、本発明
による半導体発光装置の第4の実施例を示す路線的平面
図、その16−16線上の断面図、17−17線上の断
面図及び18−18線上の断面図である。 第19図、第20図、第21図及び第22図は、第15
図〜第18図に示す本発明による半導体発光装置の製法
の実施例を示す、第1番目の工程における路線的平面図
、その20−20線上の断面図、21−21線上の断面
図及び22−22線上の断面図である。 第23図、第24図、第25図及び第26図は、第15
図〜第18図に示す本発明による半導体発光装置の製法
の実施例を示す、第2番目の工程における路線的平面図
、その24−24線上の断面図、25−25線上の断面
図及び26−26線上の断面図である。 第27図、第28図、第29図及び第30図は、第15
図〜第18図に示す本発明による半導体発光装置の製法
の実施例を示す、第3番目の工程における路線的平面図
、その28−28線上の断面図、29−29線上の断面
図及び30−30線上の断面図である。 第31図、第32図、第33図及び第34図は、第15
図〜第18図に示す本発明による半導体発光装置の製法
の実施例を示す、第4番目の工程における路線的平面図
、その32−32線上の断面図、3133線上の断面図
及び34−34線上の断面図である。 第35図、第36図、第37図及び第38図は、第15
図〜第18図に示す本発明による半導体発光装置の製法
の実施例を示す、第5番目の工程における路線的平面図
、その36−36線上の断面図、37−37線上の断面
図及び38−38線上の断面図である。 第39図及び第40図は、本発明による半導体発光装置
の第5の実施例を示す路線的平面図及びその40−40
線上の断面図である。 1・・・・・・・・・・・・・・・・・・半導体結晶基
板2、2′   2“ 、3.4、5、6・・・・・・
・・・・・・・・・・・・半導体結晶層3A・・・・・
・・・・・・・・・・インコヒーレント用光用半導体結
晶層 3B・・・・・・・・・・・・・・・レーザ光用半導体
結晶層4A、4B・・・・・・半導体結晶層 6A、6B・・・・・・半導体結晶層 6L、6R,71,7R ・・・・・・・・・・・・−・・・・・半導体結晶層0
・・・・・・・・・・・・・・・・・・半導体積層体1
a、llb・・・端面 2・・・・・・・・・・・・・・・・・・インコヒーレ
ント光用及びレーザ光用光放射面 3・・・・・・・・・・・・・・・・・・反射防止膜5
.16・・・・・・・・・電極層 5A・・・・・・・・・・・・・・・インコヒーレント
光用電極層 5B・・・・・・・・・・・・・・・レーザ光用電極層
1L、21R・・・溝 M1〜M2・・・−・・・・・インコヒーレント光用半
導体結晶層3Aの半導体 結晶層部 E1〜E2・・・・・・・・・電極層15Aの電極層部
W1、W2・・・・・・・・・半導体結晶層4Aの単導
体結晶層部 Ql、Q2・・・・・・・・・半導体結晶層6AI7)
半導体結晶層部
1, 2, 3, and 4 are a linear plan view showing a first embodiment of a semiconductor light emitting device according to the present invention, a sectional view taken along the line 2-2, and a sectional view taken along the line 3-3. They are a sectional view and a sectional view taken along line 4-4. FIG. 5 illustrates the first embodiment of the semiconductor light emitting device according to the present invention shown in FIGS. 1 to 4, which is obtained by emitting light to the outside from the light emitting surface for incoherent light and laser light. FIG. 3 is a diagram showing the relationship between intensity and wavelength of incoherent light. FIG. 6 is a diagram illustrating the first embodiment of the semiconductor light emitting device according to the present invention shown in FIGS. FIG. 3 is a diagram showing the relationship between intensity and wavelength of laser light. Figures 7, 8, 9, 10, and 11 are
A linear plan view showing a second embodiment of the semiconductor light emitting device according to the present invention, a cross-sectional view on the line 828, a cross-sectional view on the line 9-9, a cross-sectional view on the line 10-10, and a cross-section on the line 11-11. It is a diagram. FIG. 12 illustrates the second embodiment of the semiconductor light emitting device according to the present invention shown in FIGS. 7 to 11, which is obtained by emitting light to the outside from the light emitting surface for incoherent light and laser light. FIG. 3 is a diagram showing the relationship between intensity and wavelength of incoherent light. FIG. 13 and FIG. 14 are line plan views showing the third embodiment of the flat conductor light emitting device according to the present invention, and 14-1 thereof.
It is a sectional view on line 4. 15, 16, 17, and 18 are a schematic plan view showing a fourth embodiment of the semiconductor light emitting device according to the present invention, a cross-sectional view along the line 16-16, and a sectional view along the line 17-17. FIG. 2 is a cross-sectional view and a cross-sectional view taken along line 18-18. Figures 19, 20, 21 and 22 are
A linear plan view in the first step, a cross-sectional view on the line 20-20, a cross-sectional view on the line 21-21, and a cross-sectional view on the line 22 It is a sectional view on line -22. Figures 23, 24, 25 and 26 are
A linear plan view in the second step, a cross-sectional view along the line 24-24, a cross-sectional view along the line 25-25, and a cross-sectional view along the line 25-25, showing the embodiment of the method for manufacturing a semiconductor light emitting device according to the present invention shown in FIGS. It is a cross-sectional view on line -26. Figures 27, 28, 29 and 30 are
A linear plan view in the third step, a cross-sectional view on the line 28-28, a cross-sectional view on the line 29-29, and a cross-sectional view on the line 30 It is a cross-sectional view on the -30 line. Figures 31, 32, 33 and 34 are
A linear plan view in the fourth step, a cross-sectional view along the line 32-32, a cross-sectional view along the line 3133, and a cross-sectional view along the line 34-34, showing the embodiment of the method for manufacturing a semiconductor light emitting device according to the present invention shown in FIGS. It is a sectional view on a line. Figures 35, 36, 37 and 38 are
A linear plan view in the fifth step, a cross-sectional view along the line 36-36, a cross-sectional view along the line 37-37, and a cross-sectional view along the line 38 It is a cross-sectional view on line -38. 39 and 40 are line plan views showing the fifth embodiment of the semiconductor light emitting device according to the present invention, and 40-40 thereof.
It is a sectional view on a line. 1...... Semiconductor crystal substrate 2, 2'2", 3.4, 5, 6...
...... Semiconductor crystal layer 3A...
......Incoherent light semiconductor crystal layer 3B......Laser light semiconductor crystal layer 4A, 4B...Semiconductor Crystal layers 6A, 6B...Semiconductor crystal layers 6L, 6R, 71, 7R...Semiconductor crystal layer 0
・・・・・・・・・・・・・・・・・・Semiconductor laminate 1
a, llb... End surface 2... Light emitting surface 3 for incoherent light and laser light...・・・・・・Anti-reflection film 5
.. 16... Electrode layer 5A... Incoherent light electrode layer 5B... Laser light electrode layers 1L, 21R...Grooves M1-M2...Semiconductor crystal layer portions E1-E2 of the incoherent light semiconductor crystal layer 3A...Electrodes Electrode layer portions W1, W2 of layer 15A...Single conductor crystal layer portions Ql, Q2 of semiconductor crystal layer 4A...Semiconductor crystal layer 6AI7)
Semiconductor crystal layer

Claims (1)

【特許請求の範囲】 【請求項1】 第1の導電型を与える不純物または第1の導電型とは逆
の第2の導電型を与える不純物のいずれも意図的に導入
させていないか導入させているとしても十分低い濃度で
しか導入させていない第1の半導体結晶層と、その第1
の半導体結晶層の相対向する第1及び第2の主面上にそ
れらとそれぞれ接して形成され且つともに上記第1の半
導体結晶層に比し広いエネルギバンドギャップと低い屈
折率とを有するとともに、第1及び第2の導電型をそれ
ぞれ有する第2及び第3の半導体結晶層とを有し、且つ
相対向しているフアブリペローの反射面でなる第1及び
第2の端面を有する半導体積層体を有し、 上記半導体積層体の相対向する第1及び第2の主面上に
、第1及び第2の電極層が相対向してそれぞれ配され、 上記第1の半導体結晶層が、上記半導体積層体の上記第
1の端面側におけるインコヒーレント光用半導体結晶層
と、上記半導体積層体の上記第2の端面側におけるレー
ザ光用半導体結晶層とを有し、 上記インコヒーレント光用半導体結晶層が、上記レーザ
光用半導体結晶層側とは反対側から上記レーザ光用半導
体結晶層側に順次配列されているn個(ただし、nは1
以上の整数)の第1、第2・・・・・・・・・第nの半
導体結晶層部を有し、上記インコヒーレント光用半導体
結晶層の第1、第2・・・・・・・・・第nの半導体結
晶層部がそれらの順に順次小さな第1、第2・・・・・
・・・・第nのエネルギバンドギャップをそれぞれ有し
、 上記レーザ光用半導体結晶層が、上記インコヒーレント
光用半導体結晶層の第nの半導体結晶層部に比し小さな
エネルギバンドギャップを有し、 上記第1の電極層が、上記インコヒーレント光用半導体
結晶層と対向しているインコヒーレント光用電極層と、
上記レーザ光用半導体結晶層と対向しているレーザ光用
電極層とを有し、上記半導体積層体の上記第1の端面を
インコヒーレント光用及びレーザ光用光放射面としてい
ることを特徴とする半導体発光装置。 【請求項2】 【請求項1】記載の半導体発光装置において上記第1の
電極層のインコヒーレント光用電極層が、上記インコヒ
ーレント光用半導体結晶層の第1、第2・・・・・・・
・・第nの半導体結晶層部にそれぞれ対向している第1
、第2・・・・・・・・・第nの電極層部を有すること
を特徴とする半導体発光装置。 【請求項3】 【請求項1】記載の半導体発光装置において、上記イン
コヒーレント光用半導体結晶層の第1、第2・・・・・
・・・・第nの半導体結晶層部の第1、第2・・・・・
・・・・第nのエネルギバンドギャップが、第1及び第
2の半導体結晶層部でそれぞれ発光する光の帯域、第2
及び第3の半導体結晶層部でそれぞれ発光する光の帯域
・・・・・・・・・第(n−1)及び第nの半導体結晶
層部でそれぞれ発光する光帯域がそれぞれ互に一部重複
して得られる値をそれぞれ有していることを特徴とする
半導体発光装置。 【請求項4】 (i)第1の導電型を与える不純物または第1の導電型
とは逆の第2の導電型を与える不純物のいずれも意図的
に導入させていないか導入させているとしても十分低い
濃度でしか導入させていない複数n個の第1、第2・・
・・・・・・・第nのインコヒーレント光用半導体結晶
層と、第1の導電型を与える不純物または第1の導電型
とは逆の第2の導電型を与える不純物のいずれも意図的
に導入させていないか導入させているとしても十分低い
濃度でしか導入させていないレーザ光用半導体結晶層と
を有し、(ii)上記第1のインコヒーレント光用半導
体結晶層が、第1の半導体層上にそれと接して積層して
形成され、(iii)上記第2、第3・・・・・・・・
・第nのインコヒーレント光用半導体結晶層が、上記第
1、第2・・・・・・・・・第(n−1)のインコヒー
レント光用半導体結晶層上に、それらの一部を上方から
みて順次配列されている第1、第2・・・・・・・・・
第(n−1)の半導体結晶層部としてそれぞれ残してい
る状態に第2、第3・・・・・・・・・第nの半導体層
をそれぞれ介して積層して形成され、(iv)上記レー
ザ光用半導体結晶層が、上記第nのインコヒーレント光
用半導体結晶層上に、その一部を第nの半導体結晶層部
として残している状態に第(n+1)の半導体層を介し
て積層して形成され、(v)上記第1、第2・・・・・
・・・・第nの半導体結晶層部及び上記レーザ光用半導
体結晶層上に、第(n+2)の半導体層が連続延長して
形成されている構成を有し、(vi)且つ相対向してい
るフアブリペローの反射面でなり且つ上記第1のインコ
ヒーレント光用半導体結晶層の第1の半導体結晶一部側
の端面及びそれとは反対側の端面をそれぞれ形成してい
る第1及び第2の端面を有する半導体積層体を有し、 上記半導体積層体の相対向する第1及び第2の主面上に
、第1及び第2の電極層が相対向してそれぞれ配され、 上記第1、第2・・・・・・・・・第nのインコヒーレ
ント光用半導体結晶層がそれらの順に順次小さな第1、
第2・・・・・・・・・第nのエネルギバンドギャップ
をそれぞれ有し、 上記レーザ光用半導体結晶層が、上記第nのインコヒー
レント光用半導体結晶前に比し小さなエネルギバンドギ
ャップを有し、 (i)上記第1の半導体層が、上記第1のインコヒーレ
ント光用半導体結晶層に比し広いエネルギバンドギャッ
プと低い屈折率とを有するとともに第1の導電型を有し
、(ii)上記第2、第3・・・・・・・・・第nの半
導体層が、上記第1及び第2、上記第2及び第3・・・
・・・・・・上記第(n−1)及び第nのインコヒーレ
ント光用半導体結晶層に比し広いエネルギバンドギャッ
プと低い屈折率とをそれぞれ有するとともに第1の導電
型を与える不純物または第1の導電型とは逆の第2の導
電型を与える不純物のいずれも意図的に導入させていな
いか第1の導電型を有し、(iii)上記第(n+1)
の半導体層が、上記第nのインコヒーレント光用半導体
結晶層及びレーザ光用半導体結晶層に比し広いエネルギ
バンドギャップと低い屈折率とを有するとともに第1の
導電型を与える不純物または第1の導電型とは逆の第2
の導電型を与える不純物のいずれも意図的に導入させて
いないか第1の導電型を有し、(iv)上記第(n+2
)の半導体層が、上記第1〜第nのインコヒーレント光
用半導体結晶層及び上記レーザ光用半導体結晶層に比し
広いエネルギバンドギャップと低い屈折率とを有すると
ともに第2の導電型を有し、 上記第1の電極層が、上記第1〜第nのインコヒーレン
ト光用半導体結晶層と対向しているインコヒーレント光
用電極層と、上記レーザ光用半導体結晶層と対向してい
るレーザ光用電極層とを有し、 上記半導体積層体の上記第1の端面をインコヒーレント
光用及びレーザ光用光放射面としていることを特徴とす
る半導体発光装置。 【請求項5】 【請求項4】記載の半導体発光装置において、上記第1
の電極層のインコヒーレント光用電極層が、上記第1、
第2・・・・・・・・・第nのインコヒーレント光用半
導体結晶層の第1、第2・・・・・・・・・第nの半導
体結晶層部にそれぞれ対向している第1、第2・・・・
・・・・・第nの電極層部を有することを特徴とする半
導体発光装置。 【請求項6】 【請求項4】記載の半導体発光装置において、上記第1
、第2・・・・・・・・・第nのインコヒーレント光用
半導体結晶層の第1、第2・・・・・・・・・第nのエ
ネルギバンドギャップが、第1及び第2のインコヒーレ
ント光用半導体結晶層でそれぞれ発光する光の帯域、第
2及び第3のインコヒーレント光用半導体結晶層でそれ
ぞれ発光する光の帯域・・・・・・・・・第(n−1)
及び第nのインコヒーレント光用半導体結晶層でそれぞ
れ発光する光帯域がそれぞれ互に一部重複して得られる
値をそれぞれ有していることを特徴とする半導体発光装
置。
[Scope of Claims] [Claim 1] Neither an impurity that provides a first conductivity type nor an impurity that provides a second conductivity type that is opposite to the first conductivity type is intentionally introduced or is introduced. The first semiconductor crystal layer is introduced only at a sufficiently low concentration, even if it is
are formed on and in contact with the opposing first and second main surfaces of the semiconductor crystal layer, respectively, and both have a wider energy band gap and a lower refractive index than the first semiconductor crystal layer, and A semiconductor laminate including second and third semiconductor crystal layers having first and second conductivity types, respectively, and first and second end faces formed of opposing Fabry-Perot reflective surfaces. first and second electrode layers are disposed facing each other on first and second main surfaces facing each other of the semiconductor stack, and the first semiconductor crystal layer is connected to the semiconductor layer, and a semiconductor crystal layer for incoherent light on the first end face side of the laminate, and a semiconductor crystal layer for laser light on the second end face side of the semiconductor laminate, the semiconductor crystal layer for incoherent light However, n pieces are sequentially arranged from the side opposite to the semiconductor crystal layer for laser beam side to the side of the semiconductor crystal layer for laser beam (however, n is 1).
n-th semiconductor crystal layer portions of the incoherent light semiconductor crystal layer; ...The n-th semiconductor crystal layer portion is sequentially smaller in the order of the first, second, etc.
. . . each has an n-th energy band gap, and the semiconductor crystal layer for laser light has a smaller energy band gap than the n-th semiconductor crystal layer portion of the semiconductor crystal layer for incoherent light. , an electrode layer for incoherent light in which the first electrode layer faces the semiconductor crystal layer for incoherent light;
It has an electrode layer for laser light facing the semiconductor crystal layer for laser light, and the first end surface of the semiconductor laminate is used as a light emitting surface for incoherent light and for laser light. Semiconductor light emitting device. 2. In the semiconductor light emitting device according to claim 1, the incoherent light electrode layer of the first electrode layer is the first, second, etc. of the incoherent light semiconductor crystal layer.・・・
...the first semiconductor crystal layer portions facing the n-th semiconductor crystal layer portions, respectively.
, a second . . . nth electrode layer portion. 3. The semiconductor light emitting device according to claim 1, wherein the first, second, etc. of the semiconductor crystal layer for incoherent light are provided.
...First and second of the n-th semiconductor crystal layer section...
...The n-th energy band gap is the band of light emitted in the first and second semiconductor crystal layer portions, and the second
and the light bands emitted from the third semiconductor crystal layer portion, respectively. The light bands emitted from the (n-1)th and nth semiconductor crystal layer portions are partially different from each other. A semiconductor light emitting device characterized in that each of the semiconductor light emitting devices has values that can be obtained overlappingly. (i) It is assumed that neither the impurity that gives the first conductivity type nor the impurity that gives the second conductivity type opposite to the first conductivity type is intentionally introduced, or that it is introduced. A plurality of n first, second, etc. are introduced only at sufficiently low concentrations.
......The n-th incoherent optical semiconductor crystal layer and the impurity that gives the first conductivity type or the impurity that gives the second conductivity type that is opposite to the first conductivity type are intentional. (ii) the first semiconductor crystal layer for incoherent light has a first semiconductor crystal layer for incoherent light; (iii) the above-mentioned second, third...
・The n-th semiconductor crystal layer for incoherent light is formed on the first, second, etc. (n-1)th semiconductor crystal layer for incoherent light, and a part of the semiconductor crystal layer for incoherent light is The first and second arrays are arranged sequentially when viewed from above.
(iv) formed by stacking the second, third, . The semiconductor crystal layer for laser light is placed on the n-th semiconductor crystal layer for incoherent light, with a part of the semiconductor crystal layer remaining as an n-th semiconductor crystal layer through the (n+1)th semiconductor layer. (v) the first, second...
...has a configuration in which a (n+2)th semiconductor layer is formed in a continuous and extending manner on the nth semiconductor crystal layer portion and the semiconductor crystal layer for laser light, and (vi) and facing each other. first and second fabricated Fabry-Perot reflective surfaces forming an end face on one side of the first semiconductor crystal of the first semiconductor crystal layer for incoherent light and an end face on the opposite side thereof, respectively; a semiconductor laminate having end faces, first and second electrode layers are disposed facing each other on first and second main surfaces of the semiconductor laminate facing each other, the first, 2nd......The n-th incoherent optical semiconductor crystal layer is sequentially smaller than the first,
2nd... Each has an n-th energy band gap, and the semiconductor crystal layer for laser light has a smaller energy band gap than that before the n-th semiconductor crystal for incoherent light. (i) the first semiconductor layer has a wider energy band gap and lower refractive index than the first incoherent optical semiconductor crystal layer, and has a first conductivity type; ii) The second, third, .
. . . The impurity or the first conductivity type has a wider energy band gap and a lower refractive index than the (n-1)th and nth incoherent optical semiconductor crystal layers, respectively, and gives the first conductivity type. (iii) the above-mentioned (n+1)-th
The semiconductor layer has a wider energy band gap and a lower refractive index than the n-th semiconductor crystal layer for incoherent light and the semiconductor crystal layer for laser light, and also contains an impurity or a first semiconductor layer that provides a first conductivity type. The second type is opposite to the conductivity type.
(iv) the above (n+2)th impurity is not intentionally introduced or has the first conductivity type;
) has a wider energy band gap and lower refractive index than the first to n-th semiconductor crystal layers for incoherent light and the semiconductor crystal layer for laser light, and has a second conductivity type. and a laser in which the first electrode layer is an incoherent light electrode layer facing the first to n-th incoherent light semiconductor crystal layers, and a laser beam facing the laser light semiconductor crystal layer. A semiconductor light emitting device, comprising: a light electrode layer; and the first end surface of the semiconductor laminate serves as a light emitting surface for incoherent light and laser light. 5. The semiconductor light emitting device according to claim 4, wherein the first
The incoherent light electrode layer of the electrode layer is the first electrode layer,
Second......The first and second......Nth semiconductor crystal layer portions of the n-th semiconductor crystal layer for incoherent light, respectively, are opposite to each other. 1. 2nd...
... A semiconductor light emitting device characterized by having an nth electrode layer section. 6. The semiconductor light emitting device according to claim 4, wherein the first
, second......n-th energy band gaps of the first and second......n-th energy band gaps of the n-th incoherent optical semiconductor crystal layer are the same as the first and second energy band gaps. The band of light emitted by each of the semiconductor crystal layers for incoherent light, the band of light emitted by each of the second and third semiconductor crystal layers for incoherent light......(n-1th) )
and a semiconductor light emitting device characterized in that the light bands emitted by the n-th semiconductor crystal layer for incoherent light each have values obtained by partially overlapping with each other.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005038849A (en) * 2003-07-01 2005-02-10 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Light emitting device
US7812520B2 (en) 2003-07-01 2010-10-12 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Full color display based on organic light-emitting device

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JP2005038849A (en) * 2003-07-01 2005-02-10 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Light emitting device
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