JPH03253355A - Recorder - Google Patents

Recorder

Info

Publication number
JPH03253355A
JPH03253355A JP5319090A JP5319090A JPH03253355A JP H03253355 A JPH03253355 A JP H03253355A JP 5319090 A JP5319090 A JP 5319090A JP 5319090 A JP5319090 A JP 5319090A JP H03253355 A JPH03253355 A JP H03253355A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
elements
image data
line
correction
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP5319090A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hidekazu Sasaki
英一 佐々木
Keiichi Seya
瀬谷 啓一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
Priority to JP5319090A priority Critical patent/JPH03253355A/en
Publication of JPH03253355A publication Critical patent/JPH03253355A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Electronic Switches (AREA)

Abstract

PURPOSE:To remove variation in recording density by heat accumulation of an element or the like by a method wherein a relation between an image data and recording pixel density by the element is corrected successively by a calculation result of a thermal influence calculation means, a stored data of a memory means, and a calculation result of a simultaneously driving element number calculating means. CONSTITUTION:A first and last transient correction part 12 corrects a pulse number data from an adjacent history correcting part 11 by a mean value of the pulse number data to a noticed element and elements around that in order to correct influences on the noticed element of heat accumulation temperature of a thermal head base due to heating by past tens lines content image data of the noticed element and due to heating of tens elements around the noticed element. The pulse number data from this first and last transient correction part 12 is corrected by a resistant value data independently measured of each element of the thermal head preliminarily stored in the memory with a resistance correcting part 13, is converted to a pulse form data suitable for the thermal head 15 with a head driving part 14, and is transmitted to the thermal head 15.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はサーマルヘッド、通電記録ヘッド等のヘッドを
用いて画像の熱的記録を行う記録装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a recording apparatus that thermally records an image using a head such as a thermal head or an energized recording head.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来、この種の記録装置には一列に配列された複数個の
発熱抵抗体からなるエレメントを有するサーマルヘッド
を2値のイメージデータにより駆動する記録装置におい
て、前記エレメントの個々の蓄熱状態を、第29図に示
すようにそのエレメント(以下注目エレメントという)
により記録した画素(以下注目画素という)Doの周囲
における複数個の画素D1〜D2□、つまり注目画素り
。を含むラインLlからそれより5ライン前のラインL
6までの範囲における注目画素り、の周囲の各画素D1
〜D21のデータに各画素D工〜D21の位置に応じた
重み付けをして加算することにより求め、その結果で注
目画素のイメージデータを補正することによりエレメン
トの蓄熱状態による注目画素の濃度への影響を補正する
ようにしたものが特開昭60−131262号公報によ
り知られている。
Conventionally, in this type of recording apparatus, in a recording apparatus in which a thermal head having an element consisting of a plurality of heating resistors arranged in a line is driven by binary image data, the heat storage state of each of the elements is As shown in Figure 29, the element (hereinafter referred to as the attention element)
A plurality of pixels D1 to D2□ around the pixel Do recorded by (hereinafter referred to as the pixel of interest) Do, that is, the pixel of interest. From line Ll containing
Each pixel D1 around the pixel of interest in the range up to 6
~D21 is calculated by weighting and adding data according to the position of each pixel D~D21, and by correcting the image data of the pixel of interest with the result, the density of the pixel of interest due to the heat storage state of the element is calculated. A method for correcting the influence is known from Japanese Patent Laid-Open No. 131262/1983.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

上記記録装置では注目エレメントの個々の蓄熱状態を注
目画素D0の周囲の各画素D工〜D21のイメージデー
タに各画素D□〜D21の位置に応じた重み付けをして
加算することにより求めるので。
In the recording apparatus described above, the heat storage state of each element of interest is determined by adding the image data of each of the pixels D to D21 surrounding the pixel of interest D0 with weighting according to the position of each pixel D□ to D21.

イメージデータが2値のデータである場合には画素D1
〜D21のイメージデータの情報量が少なくてエレメン
トの蓄熱状態を演算することができるが、イメージデー
タが多値であって多階調の画像を記録する場合には画素
D2〜D2□のイメージデータたけでなく更にラインL
6よりも前側の画素のイメージデータが注目画素の濃度
に影響することによりそれらのイメージデータからエレ
メントの蓄熱状態を演算することが必要となり、その情
報量がかなり多くなって装置が大型化し、はとんど実施
が不可能である。
If the image data is binary data, pixel D1
The amount of information in the image data of ~D21 is small and the heat storage state of the element can be calculated, but if the image data is multi-valued and a multi-gradation image is to be recorded, the image data of pixels D2-D2□ Not only that but also line L
Since the image data of pixels in front of 6 affects the density of the pixel of interest, it becomes necessary to calculate the heat storage state of the element from these image data, and the amount of information increases considerably, making the device larger and more expensive. It is almost impossible to implement.

本発明は上記欠点を改善し、簡単な構成で各エレメント
の蓄熱等による記録濃度変動がなく多階調の画像記録を
行うことができる記録装置を提供することを目的とする
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to improve the above-mentioned drawbacks and to provide a recording apparatus that has a simple configuration and is capable of recording multi-tone images without fluctuations in recording density due to heat accumulation in each element.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

上記目的を達成するため、本発明は一列に配列された複
数個のエレメントを有するヘッドにおける前記複数個の
エレメントを2値のイメージデータに応じて発熱させて
画素の記録を1ライン分づつ行なわせる記録装置におい
て、前記複数個のエレメントのうち画素の記録を行うエ
レメントに対する周囲のエレメントの熱的影響と2画素
の記録を行うエレメントの蓄熱とによる記録画素濃度へ
の影響を演算する熱的影響演算手段と、前記複数個のエ
レメントの個々の測定した抵抗値のデータ若しくは前記
複数個のエレメントの傭々の位置に対応した各記録位置
の記録濃度補正データを記憶する記憶手段と、前記イメ
ージデータより前記複数個のエレメントにおける同時に
駆動されるエレメントの数を演算する同時駆動エレメン
ト数演算手段と、前記イメージデータと前記エレメント
による記録画素濃度との関係を順次に前記熱的影響演算
手段の演算結果、前記記憶手段の記憶データ。
To achieve the above object, the present invention makes the plurality of elements in a head having a plurality of elements arranged in a line generate heat in accordance with binary image data to record pixels line by line. In the recording device, a thermal influence calculation for calculating the influence on the recording pixel density due to the thermal influence of surrounding elements on the element that records a pixel among the plurality of elements and the heat accumulation of the element that records two pixels. storage means for storing data of the measured resistance values of each of the plurality of elements or recording density correction data of each recording position corresponding to the random positions of the plurality of elements; a simultaneously driven element number calculation means for calculating the number of simultaneously driven elements in the plurality of elements; and a calculation result of the thermal influence calculation means that sequentially calculates the relationship between the image data and the recorded pixel density by the elements; Stored data in the storage means.

前記同時駆動エレメント数演算手段の演算結果で補正す
る補正手段とを備えたものである。
and a correction means for correcting based on the calculation result of the simultaneously driven element number calculation means.

〔作 用〕[For production]

複数個のエレメントのうち画素の記録を行うエレメント
に対する周囲のエレメントの熱的影響と。
Thermal influence of surrounding elements on the element that records pixels among multiple elements.

画素の記録を行うエレメントの蓄熱とによる記録画素濃
度への影響が熱的影響演算手段により演算され、複数個
のエレメントの個々の測定した抵抗値のデータ若しくは
複数個のエレメントの個々の位置に対応した各記録位置
の記録濃度補正データが記憶手段により記憶される。同
時駆動エレメント数演算手段がイメージデータより複数
個のエレメントにおける同時に駆動されるエレメントの
数を演算し、補正手段がイメージデータとエレメントに
よる記録画素濃度との関係を順次に熱的影響演算手段の
演算結果、記憶手段の記憶データ、同時駆動エレメント
数演算手段の演算結果で補正する。
The influence on the recorded pixel density due to the heat accumulation of the element that records the pixels is calculated by the thermal influence calculation means, and corresponds to the data of the individual measured resistance values of the plurality of elements or the individual positions of the plurality of elements. The recording density correction data for each recording position is stored in the storage means. The simultaneously driven element number calculation means calculates the number of simultaneously driven elements in a plurality of elements from the image data, and the correction means sequentially calculates the relationship between the image data and the recorded pixel density by the elements by the thermal influence calculation means. The result is corrected using the data stored in the storage means and the calculation result of the simultaneously driven element number calculation means.

〔実施例〕〔Example〕

第1図は本発明の一実施例を示す。 FIG. 1 shows an embodiment of the invention.

この実施例は一列に配列された複数個の発熱抵抗体から
なるエレメントを有するサーマルヘッドヘッドにおける
上記複数個のエレメントを多値のイメージデータに応じ
て発熱させて画素の記録を1ライン分づつ行なわせる記
録装置である。多値のイメージデータが送られてくると
、隣接履歴補正部11は注目エレメント(画素の記録を
行うエレメント)に対する周囲の近接した複数個のエレ
メントの熱的影響と、注目エレメントにおける過去の複
数ライン分のイメージデータによる蓄熱とによる記録画
素濃度への影響を演算し、この演算結果でイメージデー
タを補正してパルス数データ(パルス数が画素濃度に比
例したデータ)に変換する0次に、立上り立下り補正部
12は注目エレメントの過去の数十ライン分のイメージ
データによる発熱と、注目エレメントの周囲の数十個の
エレメントの発熱とによるサーマルヘッドのベースの蓄
熱温度の注目エレメントへの影響を補正するため、注目
エレメント及びその周囲のエレメントに対するパルス数
データの平均値により隣接履歴補正部11からのパルス
数データを補正する。この立上り立下り補正部12から
のパルス数データは抵抗補正部13において、メモリに
予め記憶されているサーマルヘッドの各エレメントの個
々の測定した抵抗値のデータにより補正され、ヘッド駆
動部14でサーマルヘッド15に適したパルス形態のデ
ータDATAに変換されてサーマルヘッド15へ転送さ
れる。また、エレメント数補正部16は抵抗補正部13
からのパルス数データよりサーマルヘッドの同時に駆動
されるエレメントの数を演算し、この演算結果によりス
トローブ回路17がらサーマルヘッド15へのストロー
ブパルスSTHの幅を変化させる。
In this embodiment, pixels are recorded one line at a time by heating the plurality of elements in a thermal head head having elements made up of a plurality of heating resistors arranged in a line in accordance with multivalued image data. It is a recording device that can be used to record images. When multivalued image data is sent, the adjacent history correction unit 11 calculates the thermal influence of a plurality of nearby elements surrounding the element of interest (the element that records pixels) and the past lines of the element of interest. Calculate the effect on the recorded pixel density due to heat accumulation due to the image data of The fall correction unit 12 calculates the influence of the heat storage temperature at the base of the thermal head on the element of interest due to the heat generated by the past several dozen lines of image data of the element of interest and the heat generation of several dozen elements surrounding the element of interest. In order to perform the correction, the pulse number data from the adjacent history correction unit 11 is corrected using the average value of the pulse number data for the element of interest and its surrounding elements. This pulse number data from the rising/falling correction section 12 is corrected in the resistance correction section 13 using the data of the individually measured resistance value of each element of the thermal head, which is stored in advance in the memory. The data is converted into pulse-form data DATA suitable for the head 15 and transferred to the thermal head 15. In addition, the element number correction section 16 is connected to the resistance correction section 13.
The number of elements of the thermal head that are simultaneously driven is calculated from the pulse number data from , and the width of the strobe pulse STH from the strobe circuit 17 to the thermal head 15 is changed based on the calculation result.

第2図は上記隣接履歴補正部11の構成を示す。FIG. 2 shows the configuration of the adjacent history correction section 11.

隣接補正部18はシフトレジスタ19、補正量ROM2
0、隣接補正ROM21及びγ補正ROM22により構
成され、履歴補正部23は蓄熱演算部24及び履歴補正
ROM25により構成されている。
The adjacent correction unit 18 includes a shift register 19 and a correction amount ROM2.
0, an adjacent correction ROM 21 and a γ correction ROM 22, and the history correction section 23 consists of a heat storage calculation section 24 and a history correction ROM 25.

隣接補正部18は外部より同期クロックCLKに同期し
て多値のイメージデータが入力され、このイメージデー
タをシフトレジスタ19の第一段にラッチする。次の多
階調のイメージデータが入力されると、シフトレジスタ
19は第一段にラッチされていたイメージデータを第二
段にシフトし、外部がらのイメージデータを第一段にラ
ッチする。以下同様に外部から多階調のイメージデータ
が入力される度に、そのイメージデータがシフトレジス
タ19の第一段にラッチされ、シフトレジスタ19の第
一段にラッチされていたイメージデータがシフトレジス
タ19の第二段にシフトされ、シフトレジスタ19の第
二段にラッチされていたイメージデータがシフトレジス
タ19の第三段にシフトされ、シフトレジスタ19の第
三段にラッチされていたイメージデータがシフトレジス
タ19の第四段にシフトされ、シフトレジスタ19の第
四段にラッチされていたイメージデータがシフトレジス
タ19の第五段にシフトされる。
The adjacent correction unit 18 receives multivalued image data from the outside in synchronization with the synchronization clock CLK, and latches this image data into the first stage of the shift register 19. When the next multi-gradation image data is input, the shift register 19 shifts the image data latched in the first stage to the second stage, and latches the external image data in the first stage. Similarly, each time multi-gradation image data is input from the outside, the image data is latched into the first stage of the shift register 19, and the image data latched into the first stage of the shift register 19 is transferred to the shift register. The image data latched in the second stage of the shift register 19 is shifted to the third stage of the shift register 19, and the image data latched in the third stage of the shift register 19 is shifted to the second stage of the shift register 19. The image data is shifted to the fourth stage of the shift register 19, and the image data latched in the fourth stage of the shift register 19 is shifted to the fifth stage of the shift register 19.

シフトレジスタ19の第三段にラッチされたイメージデ
ータXはγ補正ROM22によりその濃度レベルをパル
ス数として示すパルス数データPに変換される。
The image data X latched in the third stage of the shift register 19 is converted by the γ correction ROM 22 into pulse number data P indicating the density level as the number of pulses.

シフトレジスタ19の第一段、第二段、第四段。The first stage, second stage, and fourth stage of the shift register 19.

第五段にラッチされたイメージデータ、つまりシフトレ
ジスタ19の第三段にラッチされたイメージデータXの
前後各2つづつのイメージデータは演算手段を構成する
補正量ROM20にて注目エレメントに対するその前後
2つづつのエレメントによる熱的影響量のデータHに変
換される、γ補正ROM22からのパルス数データPは
補正手段を構成する隣接補正ROM21にて補正量RO
M20からの熱的影響量データHの大きさにより補正さ
れ、注目エレメントに対するその前後2つづつのエレメ
ントによる熱的影響が無くなるような適正なパルス数デ
ータRに変換される。
The image data latched in the fifth stage, that is, two image data before and after the image data X latched in the third stage of the shift register 19, are stored in the correction amount ROM 20 constituting the calculation means, and the two before and after the image data X latched in the third stage of the shift register 19 are stored in the correction amount ROM 20 constituting the calculation means. The pulse number data P from the γ correction ROM 22, which is converted into data H of the amount of thermal influence by each element, is converted into correction amount RO by the adjacent correction ROM 21 constituting the correction means.
It is corrected by the magnitude of the thermal influence amount data H from M20, and converted into appropriate pulse number data R such that the thermal influence of the two elements before and after the element of interest is eliminated.

蓄熱演算部24は隣接補正ROM21からのパルス数デ
ータRより注目エレメント及びその前後のエレメントの
蓄熱量のデータを補正用データとして演算する。補正手
段を構成する履歴補正ROM25はあらかじめ注目エレ
メント及びその前後のエレメントの蓄熱量に対する適正
なパルス数データがテーブルとして書き込まれており、
隣接補正ROM21からのパルス数データRが履歴補正
ROM25にて蓄熱演算部24からの補正用データによ
り補正されて注目エレメントに対する注目エレメント及
びその前後のエレメントの蓄熱量による熱的影響が無く
なるような適正なパルス数データに補正(変換)される
The heat storage calculation unit 24 calculates data on the amount of heat storage of the element of interest and the elements before and after it as correction data from the pulse number data R from the adjacent correction ROM 21. In the history correction ROM 25 constituting the correction means, appropriate pulse number data for the heat storage amount of the element of interest and the elements before and after it is written in advance as a table.
The pulse number data R from the adjacent correction ROM 21 is corrected in the history correction ROM 25 by the correction data from the heat storage calculation unit 24, so that the thermal influence of the heat storage amount of the element of interest and the elements before and after it on the element of interest is eliminated. corrected (converted) to pulse number data.

第3図は上記蓄熱演算部24の構成を示す。FIG. 3 shows the configuration of the heat storage calculation section 24.

隣接補正ROM21からのパルス数データRは1ライン
分づつ遅延手段を構成するラインメモリ26゜27に交
互に書き込まれる。ラインメモリ26,27は1ライン
分毎にトグル動作を行なって書き込み動作と読み出し動
作とが入れ換わり、一方が書き込み動作を行なっている
時には他方が読み出し動作を行なっている。ラインメモ
リ26.27は読み出し動作では1ライン前の注目画素
のパルス数データXjと、その前後3画素づつのパルス
数データXj−3〜Xj−1,Xj+1〜Xj+3を読
み出し、これらのパルス数データは演算部28にて重み
の係数a−3〜a+3がそれぞれ掛けられて加算される
。ここに、a。は1ライン前の注目画素のパルス数デー
タに対する重みの係数、a−3〜a−1は1ライン前の
注目画素より3乃至1だけ前の画素のパルス数データに
対する重みの係数、al”a3はlライン前の注目画素
より1乃至3だけ後の画素のパルス数データに対する重
みの係数であり、 Σ ai=1 1ニー3 である。演算部28からのデータADはAD=Σ ai
XXj+i i;−3 となり、注目エレメント及びその前後3つづつのエレメ
ントに対する1ライン前のパルス数データによる蓄熱量
のデータとなる。このデータADは演算手段を構成する
加算器29にて減衰ROM30からのデータGDとの和
が演算され、遅延手段を構成するラインメモリ31.3
2に1ライン分づつ交互に書き込まれる。ラインメモリ
31,32は1ライン分毎にトグル動作を行なって書き
込み動作と読み出し動作とが入れ換わり、一方が書き込
み動作を行なっている時には他方が読み出し動作を行な
っている。ラインメモリ31.32は読み出し動作では
1ライン前の演算データX j+i’と、その前後1つ
づつの演算データXj+i’−1,Xj+i’+1を読
み出し、これらの演算データは演算部33にて重みの係
数a−1′〜al’がそれぞれ掛けられて加算される。
The pulse number data R from the adjacent correction ROM 21 is alternately written line by line into the line memories 26 and 27 constituting the delay means. The line memories 26 and 27 perform a toggle operation for each line, so that write operations and read operations are switched, and when one is performing a write operation, the other is performing a read operation. In the read operation, the line memories 26 and 27 read out the pulse number data Xj of the pixel of interest one line before, and the pulse number data Xj-3 to Xj-1, Xj+1 to Xj+3 of three pixels before and after that, and these pulse number data are respectively multiplied by weighting coefficients a-3 to a+3 in the calculation unit 28 and added. Here, a. is a weighting coefficient for the pulse number data of the pixel of interest one line before, a-3 to a-1 is a weighting coefficient for the pulse number data of a pixel 3 to 1 before the pixel of interest one line before, al"a3 is the weighting coefficient for the pulse number data of the pixel 1 to 3 after the pixel of interest l lines before, and is Σ ai = 1 1 knee 3. The data AD from the calculation unit 28 is AD = Σ ai
XXj+i i;-3, which is the heat storage amount data based on the pulse number data of one line before for the element of interest and three elements before and after it. This data AD is summed with the data GD from the attenuation ROM 30 in an adder 29 which constitutes a calculation means, and the line memory 31.3 which constitutes a delay means.
2, one line at a time is written alternately. The line memories 31 and 32 perform a toggle operation for each line, so that write operations and read operations are switched, and when one is performing a write operation, the other is performing a read operation. In the read operation, the line memories 31 and 32 read out the calculation data Xj+i' of one line before and the calculation data Xj+i'-1 and Xj+i'+1 before and after it, and these calculation data are weighted in the calculation unit 33. The coefficients a-1' to al' are respectively multiplied and added.

ここに、a 01は1ライン前の演算データに対する重
みの係数、a−1’、a◆1′は1ライン前の演算デー
タより1つだけ前後の演算データに対する重みの係数で
あり、 Σ ai’=1 i=−1 である、演算部33からのデータは Σ a i’ X Xj+i’ 1=−1 となり、減衰ROM30により減衰係数r(0<r〈1
)が乗算されて加算器29に入力される。演算部28か
らのデータADは注目エレメント及びその前後3つづつ
のエレメントに対するlライン前のパルス数データによ
る蓄熱量のデータであり、このデータADが加算器29
を通りラインバッファ31又はラインバッファ32、演
算部33を通して減衰ROM30に入力されることによ
って減衰ROM30から注目エレメント及びその前後4
つづつのエレメントに対する2ライン前のパルス数デー
タによる蓄熱量のデータが得られる。さらに、このデー
タが加算器29を通りラインバッファ31又はラインバ
ッファ32、演算部33を通して減衰ROM30に入力
されることによって減衰ROM30から注目エレメント
及びその前後5つづつのエレメントに対する3ライン前
のパルス数データによる蓄熱量のデータとなり、以下同
様に減衰ROM30からのデータが加算器29、ライン
バッファ31又はラインバッファ32、演算部33、減
衰ROM30を循環することによって各エレメントに対
する以前のパルス数データによる蓄熱量のデータが得ら
れる。この結果、加算器29からのデータが補正用デー
タとして履歴補正ROM25に入力されて隣接補正RO
M21からのパルス数データRが各エレメントに対する
以前のパルス数データによる蓄熱量により補正され、注
目エレメントは自己の蓄熱及び他のエレメントの蓄熱に
影響されずに画素を記録することになる。この場合注目
エレメントは他のエレメントの蓄熱に影響されなくなる
が、その他のエレメントの蓄熱は1ライン前になる毎に
他のエレメントが2つづつ広がることになり、かつ無限
的に以前の蓄熱まで含まれることになる。
Here, a01 is a weighting coefficient for the calculation data one line before, a-1', a◆1' is a weighting coefficient for the calculation data one line before and after the calculation data one line before, and Σ ai '=1 i=-1, the data from the calculation unit 33 becomes Σ a i'
) is multiplied and input to the adder 29. The data AD from the calculation unit 28 is the heat storage amount data based on the pulse number data of the l line before for the element of interest and three elements before and after it.
is inputted to the attenuation ROM 30 through the line buffer 31 or line buffer 32 and the arithmetic unit 33.
Data on the amount of heat storage can be obtained based on the pulse number data of two lines before each element. Furthermore, this data passes through the adder 29 and is input to the attenuation ROM 30 through the line buffer 31 or line buffer 32 and the arithmetic unit 33, so that the attenuation ROM 30 receives pulse number data three lines before for the element of interest and five elements before and after it. Similarly, the data from the attenuation ROM 30 circulates through the adder 29, line buffer 31 or line buffer 32, arithmetic unit 33, and attenuation ROM 30, thereby determining the amount of heat stored according to the previous pulse number data for each element. data is obtained. As a result, the data from the adder 29 is input to the history correction ROM 25 as correction data, and the adjacent correction RO
The pulse number data R from M21 is corrected by the amount of heat storage according to the previous pulse number data for each element, and the element of interest records pixels without being affected by its own heat storage and heat storage of other elements. In this case, the element of interest will no longer be affected by the heat storage of other elements, but the heat storage of other elements will expand by two each time the previous line is reached, and the previous heat storage will be included infinitely. It will be.

第4図は上記立上り立下り補正部12の構成を示す。FIG. 4 shows the configuration of the rising/falling correction section 12.

隣接履歴補正部11からのパルス数データDはA−1倍
回路34からの演算データD′と加算器35で加算され
、1/A演算用ROM36により1/Aに除算される。
The pulse number data D from the adjacent history correction section 11 is added to the calculation data D' from the A-1 multiplication circuit 34 by an adder 35, and divided by 1/A by a 1/A calculation ROM 36.

ここに、Aは所定の係数である。1/A演算用ROM3
6からのデータAVは減算部37により隣接履歴補正部
11からのパルス数データDより減算されてC=D−A
Vとなり、隣接履歴補圧部11からのパルス数データD
が減算部37からのデータCにより立上り立下り補正用
ROM38により補正されて適正なパルス数データEと
なる。この立上り立下り補正用ROM3gはあらがじめ
減算部37からのデータCに対する適正なパルス数デー
タがテーブルとして書き込まれており、隣接履歴補正部
11からのパルス数データDを例えばE=D−F−Cな
るデータに変換する。ここに、Fは所定の係数である。
Here, A is a predetermined coefficient. ROM3 for 1/A calculation
The data AV from 6 is subtracted by the subtraction unit 37 from the pulse number data D from the adjacent history correction unit 11, resulting in C=D−A.
V, and the pulse number data D from the adjacent history compensator 11
is corrected by the rising/falling correction ROM 38 using the data C from the subtractor 37, and becomes appropriate pulse number data E. In this rising/falling correction ROM 3g, appropriate pulse number data for the data C from the subtraction section 37 is written in advance as a table, and the pulse number data D from the adjacent history correction section 11 is stored in the form of a table, for example, E=D- Convert to F-C data. Here, F is a predetermined coefficient.

ラインメモリ39.40は1/A演算用ROM36から
のデータAVが1ライン分毎に交互に書き込まれ、かつ
一方が書き込み動作中であれば他方が読み出し動作中に
なってパルス数データDより1ライン前のデータYj及
びその前後の隣合うデータYj−1,Yj+1を交互に
読み出す。このラインメモリ39.40から交互に読み
出されるデータYJ−LYj+Yj+1は加算回路41
にてそれぞれ重み係数b−2゜bO+b+、が掛ケラレ
テ加算され、X b 1−xj+iトなる。但し、Σb
i=1である。加算回路41からのデータはA−1倍回
路34によりA−1倍されて演算データD′となる。
In the line memories 39 and 40, the data AV from the 1/A operation ROM 36 is written alternately for each line, and if one is in the writing operation, the other is in the reading operation, and the pulse number data D becomes 1. The data Yj before the line and the adjacent data Yj-1 and Yj+1 before and after it are read out alternately. The data YJ-LYj+Yj+1 alternately read from the line memories 39 and 40 is sent to the adder circuit 41.
Then, the weighting coefficient b-2°bO+b+ is multiplied by vignetting and added, resulting in X b 1-xj+i. However, Σb
i=1. The data from the adder circuit 41 is multiplied by A-1 by the A-1 multiplier circuit 34 to become calculation data D'.

したがって、減算部37からのデータCはパルス数デー
タDを平滑したようなデータとなり、立上り立下り補正
用ROM38からのデータEは例えばベタ部の場合立上
り部が正の大きな値より減少するように補正されて立下
り部がO又は小さな値より増加するように補正される。
Therefore, the data C from the subtractor 37 is data obtained by smoothing the pulse number data D, and the data E from the rising/falling correction ROM 38 is such that, for example, in the case of a solid part, the rising part is reduced from a large positive value. It is corrected so that the falling part increases by more than O or a small value.

このため、パルス数データDは数十〜数百ライン程度が
補正され、百ライン程度の濃度変動に対する補正が可能
になる。この結果、サーマルヘッド15で記録されるベ
タ部は初めから適正な濃度が出ることになり、また濃度
立下り部分でも濃度の尾引き現象が起きなくなって画質
が向上する。
Therefore, the pulse number data D is corrected for tens to hundreds of lines, making it possible to correct density fluctuations of about a hundred lines. As a result, the solid portion recorded by the thermal head 15 will have an appropriate density from the beginning, and the trailing phenomenon of density will not occur even in the falling density portion, improving image quality.

第5図は上記抵抗補正部13の構成を示す。FIG. 5 shows the configuration of the resistance correction section 13.

抵抗補正部13は抵抗値検出部42、アナログ/ディジ
タル(A/D)変換部43、メモリ44、データ補正部
45により構成されている。電源立ち上げ時にはサーマ
ルヘッド15の各エレメントの抵抗値が抵抗値検出部4
2により測定されてA/D変換部43によりA/D変換
され、メモリ44に記憶される。このデータはメモリ4
4より立上り立下り補正部12からのパルス数データに
対応して読み出され、立上り立下り補正部12からのパ
ルス数データはデータ補正部45にてメモリ44がらの
データにより補正されることで、サーマルヘッド15に
おける各エレメントの抵抗値のばらつきによる記録画素
濃度の変動が無くなるように補正される。
The resistance correction section 13 includes a resistance value detection section 42, an analog/digital (A/D) conversion section 43, a memory 44, and a data correction section 45. When the power is turned on, the resistance value of each element of the thermal head 15 is detected by the resistance value detection unit 4.
2, is A/D converted by the A/D converter 43, and is stored in the memory 44. This data is in memory 4
4 is read out corresponding to the pulse number data from the rising/falling correction section 12, and the pulse number data from the rising/falling correction section 12 is corrected by the data correcting section 45 using the data from the memory 44. , correction is made so that fluctuations in recorded pixel density due to variations in resistance values of each element in the thermal head 15 are eliminated.

第19図は上記サーマルヘッド15の回路構成を示す。FIG. 19 shows the circuit configuration of the thermal head 15.

サーマルヘッド15は2560個のエレメントR1〜R
2560が一列に配列されていてこのエレメントR1〜
R2560により画像記録をlライン分づつ行う。
The thermal head 15 has 2560 elements R1 to R.
2560 are arranged in a row, and this element R1~
Image recording is performed one line at a time using R2560.

DフリップフロップFFI〜FF2560からなるシフ
トレジスタは画像データを1ライン分づつ転送りロック
により取り込み、ラッチ回路RTI〜RT2560はラ
ッチ信号によりシフトレジスタFFI〜FF2560内
の画像データを1ライン分づつ順次にラッチする。
The shift register consisting of D flip-flops FFI to FF2560 transfers image data one line at a time and captures it by lock, and the latch circuit RTI to RT2560 sequentially latches the image data in shift registers FFI to FF2560 one line at a time by a latch signal. do.

ゲートG 1− G 2560はストローブ回路17が
らのストローブパルスによりラッチ回路RTI〜RT2
560からの画像データを1ライン分づつ奇数番目のド
ツトデータ、偶数番目のドツトデータという順序で通過
させ、トランジスタTll 〜T12560.T21〜
T22560はエレメントR1〜R2560を奇数番目
と偶数番目の2つのブロックに分けてこれらをゲート0
1〜02560からの画像データにより順次に通電させ
ることにより画像記録を行わせる。この場合第18図に
示すように第ルベルの画像データがシフトレジスタFF
I〜FF2560に転送されてラッチ回路RTl−RT
2560でラッチされた後に、奇数番目のゲートGl、
 G3・・・・・G 2559に対するストローブ回路
17からのストローブパルスがアクティブとなって奇数
番目のゲートGl、 G3・・・・・G 2559が開
き、ストローブパルスのオフで奇数番目のゲートGl。
Gates G1-G2560 are connected to latch circuits RTI to RT2 by strobe pulses from strobe circuit 17.
The image data from 560 is passed one line at a time in the order of odd-numbered dot data and even-numbered dot data, and is passed through transistors Tll to T12560. T21~
T22560 divides elements R1 to R2560 into two blocks, odd and even blocks, and connects them to gate 0.
Image recording is performed by sequentially energizing with image data from 1 to 02560. In this case, as shown in FIG.
Transferred to I~FF2560 and latch circuit RTl-RT
After being latched at 2560, the odd-numbered gate Gl,
When the strobe pulse from the strobe circuit 17 for G3...G 2559 becomes active, the odd-numbered gate Gl opens, and when the strobe pulse turns off, the odd-numbered gate Gl opens.

G3・・・・・G 2559が閉じる。次に偶数番目の
ゲートG2. G4・・・・・G 2560に対するス
トローブ回路17からのストローブパルスがアクティブ
となって偶数番目のゲートG2. G4・・・・・G 
2560が開き、ストローブパルスのオフで偶数番百の
ゲートG2゜G4・・・・・G 2560が閉じる0次
に第2レベルのH像データがシフトレジスタFFI〜F
F2560に転送されてラッチ回路RTI〜RT256
0でラッチされた後に、奇数番目のゲートG1.G3・
・・・・G 2559に対するストローブ回路17から
のストローブパルスがアクティブとなって奇数番目のゲ
ートGl、 G3・・・・・G 2559が開き、スト
ローブパルスのオフで奇数番目のゲートGl、 G3・
・・・・G 2559が閉じる。次に偶数番目のゲート
G2. G4・・・・・G 2560に対するストロー
ブ回路17からのストローブパルスがアクティブとなっ
て偶数番目のゲートG2. G4・・・・・G 256
0が開き、ストローブパルスのオフで偶数番目のゲート
G2. G4・・・・・G 2560が閉じる。以下同
様な動作が第3レベルの画像データから第255レベル
の画像データまで繰り返して行われる。
G3...G 2559 closes. Next, even-numbered gate G2. G4...G The strobe pulse from the strobe circuit 17 for G2560 becomes active and the even-numbered gate G2. G4...G
2560 opens, and when the strobe pulse turns off, the even numbered gate G2゜G4...G 2560 closes 0 Next, the second level H image data is transferred to the shift register FFI~F
Transferred to F2560 and latch circuit RTI~RT256
After being latched at 0, the odd numbered gates G1 . G3・
When the strobe pulse from the strobe circuit 17 to G2559 becomes active, the odd-numbered gates Gl, G3...G2559 open, and when the strobe pulse turns off, the odd-numbered gates Gl, G3.
...G 2559 closes. Next, even-numbered gate G2. G4...G The strobe pulse from the strobe circuit 17 for G2560 becomes active and the even-numbered gate G2. G4...G256
0 opens, and with the strobe pulse off, even-numbered gates G2. G4...G 2560 closes. Thereafter, similar operations are repeated from the third level image data to the 255th level image data.

第6図は上記抵抗値検出部の構成を示し、第8図はその
基準電圧設定モードのタイミングを示し、第9図は通常
のサーマルヘッド駆動タイミングを示す。
FIG. 6 shows the configuration of the resistance value detection section, FIG. 8 shows the timing of its reference voltage setting mode, and FIG. 9 shows the normal thermal head drive timing.

電源立ち上げ又は再測定スイッチのオンで図示しないマ
イクロコンピュータ(CP U)はサーマルヘッド15
における複数個のエレメントR1〜R2560が1つづ
つ順次に駆動されるように画像データ、ラッチ信号、ス
トローブパルスをシフトレジスタFFl−FF2560
、ラッチ回路RTI−RT2560、ゲート回路01〜
G 2560へ与える。エレメントR1〜R2560は
抵抗46を介して電源に接続されており、1つのエレメ
ントのみが駆動されることによりその駆動電圧Vxが演
算増幅器47及び抵抗48〜51からなる差動増幅器5
2にて基準電圧Vrefと比較されてその差の電圧が増
幅される。ここに、基準電圧Vrefは上記CPUから
のリファレンスデータがディジタル/アナログ(D/A
)変換器53によりD/A変換されてトランジスタ54
及び抵抗55からなる増幅器56により増幅されたもの
であり、また差動増幅器52の増幅率はエレメントR1
〜R2560の抵抗値の最大値と最小値で差動増幅器5
2の出力電圧Voutが測定可能範囲を越えないように
設定されている。差動増幅器52の出力電圧Voutは
アナログ/ディジタル変換器によりアナログ/ディジタ
ル変換されて上記CPUに入力される。CPUはまず、
第10図に示すように画像データの入力により第1のエ
レメントR1のみが駆動されるようにセットし、その時
の差動増幅器52の出力電圧VoutがIVになるよう
に上記リファレンスデータを可変することにより基準電
圧V refを可変する。そしてCPUは差動増幅器5
2の出力電圧VoutがIVになったら、この時のリフ
ァレンスデータからエレメントR1が切れていないかど
うか、その抵抗値が異常抵抗値であるかどうかを判定し
、エレメントR1が切れていたりその抵抗値が異常抵抗
値であったりすれば表示部に異常表示を行わせる。
When the power is turned on or the re-measurement switch is turned on, the microcomputer (CPU) (not shown) starts the thermal head 15.
Image data, latch signals, and strobe pulses are transferred to shift registers FF1 to FF2560 so that a plurality of elements R1 to R2560 are sequentially driven one by one.
, latch circuit RTI-RT2560, gate circuit 01~
Give to G 2560. Elements R1 to R2 560 are connected to a power supply via a resistor 46, and when only one element is driven, its driving voltage Vx is applied to a differential amplifier 5 consisting of an operational amplifier 47 and resistors 48 to 51.
At step 2, the voltage is compared with the reference voltage Vref, and the difference voltage is amplified. Here, the reference voltage Vref is the reference data from the CPU that is digital/analog (D/A
) D/A converted by the converter 53 and transferred to the transistor 54
and a resistor 55, and the amplification factor of the differential amplifier 52 is equal to the element R1.
~Differential amplifier 5 with the maximum and minimum resistance values of R2560
The output voltage Vout of No. 2 is set so as not to exceed the measurable range. The output voltage Vout of the differential amplifier 52 is converted from analog to digital by an analog/digital converter and input to the CPU. First of all, the CPU
As shown in FIG. 10, set so that only the first element R1 is driven by the input of image data, and vary the reference data so that the output voltage Vout of the differential amplifier 52 at that time becomes IV. The reference voltage V ref is varied by. And the CPU is a differential amplifier 5
When the output voltage Vout of 2 becomes IV, it is determined from the reference data at this time whether or not element R1 is disconnected and whether its resistance value is an abnormal resistance value. If the resistance value is abnormal, the display section displays an abnormality.

エレメントR1が正常であればCPUはリファレンスデ
ータが最小値かどうかを判定し、以上の動作をエレメン
トR1〜R2560の全てについて順次に行う。但し、
プリントマージンとしてサーマルヘッド15の両端数ド
ツト部を駆動しないようにしている場合には実プリント
範囲で以上の動作を各エレメントについて順次に行えば
よい、CPUは以上の動作で求められたリファレンスデ
ータの最小値より、第12図に示すようにエレメント印
加パルスの始端から多階調記録の第ルベル発色までの時
間tlと、第2・・・・・第64レベルの各発色までの
各時間の変化分及び残りの時間t2をあらかじめ実験で
求められている関係により演算して設定する。
If element R1 is normal, the CPU determines whether the reference data is the minimum value, and sequentially performs the above operations for all elements R1 to R2560. however,
If the dot portions on both ends of the thermal head 15 are not driven as a print margin, the above operations can be performed sequentially for each element within the actual printing range.The CPU will then process the reference data obtained through the above operations. From the minimum value, as shown in FIG. 12, the time tl from the start of the element application pulse to the color development of the 1st level in multi-gradation recording, and the change in each time to the development of each color at the 2nd...64th level. The minutes and the remaining time t2 are calculated and set based on the relationship determined in advance through experiments.

次にCPUは第7図及び第11図に示すようにリファレ
ンスデータを上記動作で求められた最小値に設定して第
1のエレメントR1を駆動し、その時の差動増幅器52
の出力電圧Vout(= (Vx −Vref)XA)
をアナログ/ディジタル変換器でアナログ/ディジタル
変換したものをエレメントR1の抵抗値データとして取
り込んでメモリに記憶する。
Next, as shown in FIGS. 7 and 11, the CPU sets the reference data to the minimum value obtained in the above operation and drives the first element R1, and then the differential amplifier 52
Output voltage Vout (= (Vx −Vref)XA)
is converted into analog/digital data by an analog/digital converter, which is taken in as resistance value data of element R1 and stored in memory.

CPUはこのような動作を全てのエレメントについて順
次に行う。
The CPU sequentially performs such operations on all elements.

第13図は上記エレメント数補正部16の構成を示す。FIG. 13 shows the configuration of the element number correction section 16.

レベル度数カウンタ57は抵抗補正部13からのパルス
数信号のレベル度数を1ライン毎にカウントすることに
より、つまりパルス数信号が各レベルにどのように分布
しているかを1ライン毎にカウントすることにより各ラ
インのレベル度数をカウントする。エレメント数演算部
58はレベル度数カウンタ57によってカウントされた
レベル度数に基づいて各階調レベルでの稼動エレメント
数(同時に駆動されるエレメントの数)を演算し、パル
ス幅制御部59はエレメント数演算部58によって演算
された各−階調レベルでの稼動エレメント数を蓄積して
この各階調レベルでの稼動エレメント数に基づいてサー
マルヘッド15へのエネルギー印加時間を変化させるこ
とにより、記録濃度が同時稼動エレメント数に影響され
ずに一定になるように制御する。
The level frequency counter 57 counts the level frequency of the pulse number signal from the resistance correction unit 13 line by line, that is, how the pulse number signal is distributed at each level is counted line by line. Count the level frequency of each line. The element number calculation section 58 calculates the number of operating elements (the number of elements driven simultaneously) at each gradation level based on the level frequency counted by the level frequency counter 57, and the pulse width control section 59 calculates the number of operating elements (the number of elements driven simultaneously) at each gradation level. By accumulating the number of operating elements at each gradation level calculated by 58 and changing the energy application time to the thermal head 15 based on the number of operating elements at each gradation level, the recording density can be simultaneously operated. Control to be constant without being affected by the number of elements.

第14図は上記レベル度数カウンタ11の構成を示す。FIG. 14 shows the structure of the level frequency counter 11.

256bite X 2の容量をそれぞれ持ったランダ
ムアクセスメモリ(RAM)60.61は度数RAM6
2を構成していて1ライン分のパルス数信号のレベル度
数計測毎に交互に用いられ、パルス数信号と。
Random access memory (RAM) 60.61 has a capacity of 256 bits x 2 each as a frequency RAM6
2 and is used alternately for each level frequency measurement of the pulse number signal for one line, and is used alternately with the pulse number signal.

エレメントの奇数番目と偶数番目とを選択するセレクト
信号がアドレス線に入力される。そしてRAM60.6
1はセレクト信号がアドレス線の最上位ビットに入力さ
れることにより第15図に示すように1ライン分の奇数
番目のドツトのパルス数信号によりレベル度数のカウン
トを行う奇数カウント部分E venと、1ライン分の
偶数番目のドツトのパルス数信号によりレベル度数のカ
ウントを行う偶数カウント部分Oddとが、各ドツトの
パルス数信号が入力される度に切り換えられて用いられ
る。
A select signal for selecting odd-numbered and even-numbered elements is input to the address line. And RAM60.6
1 is an odd count part E ven which counts the level frequency by the pulse number signal of odd numbered dots for one line as shown in FIG. 15 by inputting the select signal to the most significant bit of the address line; The even count portion Odd, in which the level frequency is counted based on the pulse number signal of the even numbered dots for one line, is switched and used each time the pulse number signal of each dot is input.

これはサーマルヘッド15における複数個のエレメント
を駆動する際に複数個のエレメントを奇数番目と偶数番
目の2つのブロックに分けて異なるタイミングで駆動す
るためである。またR A M60.61は各ドツトの
パルス数信号がアドレス線に入力されることによりその
パルス数信号に対応したアドレスの内容に1が加算手段
63により加算されてそのアドレスにセーブされる。R
A M60.61の内容はあらかじめゼロにしておくこ
とはいうまでもない。RA M60.61は第15図に
示すようなアドレス構成になっていてパルス数信号とア
ドレスが対応しており、各階調レベルの度数をカウント
した値が各アドレスの内容となる。この2つのRAM6
0.61が1″ラインのパルス数信号の入力毎にトグル
動作をし、一方が1ライン分のレベル度数をカウントし
ているときに他方がそのカウントデータを次のエレメン
ト数演算部58へ奇数番目のエレメントに対する多階調
のOレベルから254レベルまで転送してその後で偶数
番目のエレメントに対する多階調のOレベルから254
レベルまで転送する。
This is because when driving a plurality of elements in the thermal head 15, the plurality of elements are divided into two blocks, odd-numbered blocks and even-numbered blocks, and driven at different timings. Further, in the RAM 60.61, when the pulse number signal of each dot is input to the address line, 1 is added to the content of the address corresponding to the pulse number signal by the adding means 63 and saved at that address. R
It goes without saying that the contents of AM60.61 should be set to zero in advance. The RAM 60.61 has an address structure as shown in FIG. 15, in which the pulse number signal and the address correspond to each other, and the value obtained by counting the frequency of each gradation level becomes the content of each address. These two RAM6
0.61 toggles every time a 1″ line pulse number signal is input, and while one side is counting the level frequency for one line, the other side sends the count data to the next element number calculation unit 58 to an odd number. Transfer from the multi-gradation O level to the 254 level for the element, and then transfer from the multi-gradation O level to the 254 level for the even-numbered element.
Transfer to level.

第16図は上記エレメント数演算部58の構成を示す。FIG. 16 shows the configuration of the element number calculation section 58.

第ルベルイネーブル信号によりゲート64が開いてレベ
ル度数カウンタ57からのOレベル(第1の階調レベル
)のデータA0が減算器65において同時エネルギー印
加最大エレメント数の1280より減算され、その結果
が次のパルス幅制御部59へ転送される。ここで、同時
エネルギー印加最大エレメント数の1280よりOレベ
ルのデータA0が減算されることにより、第ルベルで同
時に駆動される奇数番目のエレメントの数が求められる
。ラッチ回路66は第ルベルイネーブル信号がインバー
タ67を介して加えられ、第ルベルイネーブル信号がオ
フすることにより動作する。減算器65の減算結果はラ
ッチ回路66によりラッチされ、また第ルベルイネーブ
ル信号がオフすることによりゲート64が閉じる。レベ
ル度数カウンタ57からのルベルのデータA1は減算器
65においてラッチ回路66の値より減算され、第2レ
ベル(第2の階調レベル)で同時に駆動される奇数番目
のエレメントの数として次のパルス幅制御部59へ転送
されると共にラッチ回路66によりラッチされる。以下
、同様に第2レベル乃至第254レベル(第2乃至第2
54の階調レベル)で同時に駆動される奇数番目のエレ
メントの数が求められてパルス幅制御部59へ転送され
、偶数番目のエレメントについても同様に各階調レベル
で同時に駆動される奇数番目のエレメントの数が求めら
れてパルス幅制御部59へ転送される。
The gate 64 is opened by the first level enable signal, and the O level (first gradation level) data A0 from the level frequency counter 57 is subtracted from 1280, which is the maximum number of elements to which energy can be simultaneously applied, in the subtracter 65, and the result is The signal is transferred to the pulse width control section 59 of. Here, by subtracting O level data A0 from 1280, which is the maximum number of elements to which energy can be simultaneously applied, the number of odd-numbered elements to be simultaneously driven in the 1st level is determined. The latch circuit 66 operates when the first rubel enable signal is applied via the inverter 67 and the second rubel enable signal is turned off. The subtraction result of the subtracter 65 is latched by a latch circuit 66, and the gate 64 is closed when the first rubel enable signal is turned off. Lebel's data A1 from the level frequency counter 57 is subtracted from the value of the latch circuit 66 in a subtracter 65, and the number of odd-numbered elements simultaneously driven at the second level (second gradation level) is calculated by the next pulse. The signal is transferred to the width control section 59 and latched by the latch circuit 66 . Thereafter, the second level to the 254th level (second to second level)
The number of odd-numbered elements that are simultaneously driven at each gradation level (54 gradation levels) is determined and transferred to the pulse width control unit 59, and the number of odd-numbered elements that are simultaneously driven at each gradation level is similarly calculated for even-numbered elements. The number of pulse width controllers 59 is determined and transferred to the pulse width controller 59.

第17図は上記パルス幅制御部59の構成を示す。FIG. 17 shows the configuration of the pulse width control section 59.

エレメント数演算部58より転送されてきたデータはパ
ルス幅用RAM68に記憶される。パルス幅用RAM6
8は2つのRA M69.70からなり、1うイン分の
データが入力される毎にトグル動作をする。このRA 
M69.70は一方がエレメント数演算部58より転送
されてきたデータを記憶するときには他方がストローブ
信号に同期して記憶データを奇数番目のエレメントに対
する第ルベルのデータ、偶数番目のエレメントに対する
第ルベルのデータ、奇数番目のエレメントに対する第2
レベルのデータ、偶数番目のエレメントに対する第2レ
ベルのデータ、・・・・・、奇数番目のエレメントに対
する第255レベルのデータ、偶数番目のエレメントに
対する第255レベルのデータという順序でパルス幅変
換用リードオンリーメモリ(ROM)71へ出力する。
The data transferred from the element number calculation section 58 is stored in the pulse width RAM 68. RAM6 for pulse width
8 consists of two RAMs 69.70, and toggles every time one extra inch of data is input. This R.A.
In the M69.70, when one side stores the data transferred from the element number calculating section 58, the other side stores the stored data in synchronization with the strobe signal, the data of the 1st level for odd-numbered elements, and the 1st level of data for even-numbered elements. data, second for odd elements
Lead for pulse width conversion in the following order: level data, second level data for even numbered elements, 255th level data for odd numbered elements, 255th level data for even numbered elements. Output to only memory (ROM) 71.

パルス幅変換用ROM68はその入力データがアドレス
信号として入力されてデータを読み出すことにより入力
データをエレメントの同時駆動数による記録濃度変動が
なくなるようなタイマ値に変換する。タイマ72及びス
トローブ発生装置73は上記ストローブ回路17を構成
するものであり、タイマ72は奇数番目のエレメントと
、偶数番目のエレメントが各階調レベルで駆動されると
きにパルス幅変換用ROM71からのタイマ値がセット
されてタイマ始動信号によりトリガされる。
The pulse width conversion ROM 68 receives the input data as an address signal, reads out the data, and converts the input data into a timer value that eliminates recording density fluctuations due to the number of simultaneously driven elements. The timer 72 and the strobe generator 73 constitute the strobe circuit 17, and the timer 72 generates a timer from the pulse width conversion ROM 71 when odd-numbered elements and even-numbered elements are driven at each gradation level. The value is set and triggered by the timer start signal.

ストローブパルス発生装置73は上記タイマ始動信号が
入力されてからタイマ72がタイムアツプするまでスト
ローブパルスを発生してサーマルヘッド15へ印加する
The strobe pulse generator 73 generates strobe pulses and applies them to the thermal head 15 after the timer start signal is input until the timer 72 times up.

第20図は上記ヘッド駆動部14の構成を示す。FIG. 20 shows the configuration of the head driving section 14.

ヘッド駆動部14はラインバッファ74及びデータ変換
部75により構成されている。ラインバッファ74はラ
インメモリ76及びカウンタ77 、78が用いられ、
ラインメモリ76は4にバイトづつ2領域76A。
The head driving section 14 includes a line buffer 74 and a data converting section 75. The line buffer 74 uses a line memory 76 and counters 77 and 78.
The line memory 76 has 2 areas 76A each having 4 bytes.

76Bに分けられてライン同期信号により切り換えられ
る。カウンタ77.78は書き込み用カウンタ77と読
み出し用カウンタ78であって初期値を2559とし、
各々メモリ76の画像データの書き込み、読み出し毎に
カウントダウンして行く、カウンタ77.78がO以降
になると、メモリ76には画像データが書き込まれない
。カウンタ77.78の出力値はRead/Write
モード信号により切り換わり、カウンタ77 、78の
出力値が交互に出ている。第21図に示すようにメモリ
76への画像データの書き込みは2559゜2558、
・・・、Oというように画像データがメモリ76の1つ
づつ下のメモリアドレスに書き込まれて行き、画像デー
タの読み出しは2559,2495.・・・、63,2
558.2494.・・・62.・・・、Oというよう
にメモリ76の64個おきのメモリアドレスから画像デ
ータが読み出される。これはサーマルヘッド15の各エ
レメント駆動部が64ビツトづつの構成になっているた
めである。
76B and switched by a line synchronization signal. The counters 77 and 78 are a write counter 77 and a read counter 78, and have an initial value of 2559.
When the counters 77 and 78, which count down each time image data is written or read from the memory 76, reach O or later, no image data is written to the memory 76. The output value of counter 77.78 is Read/Write
It is switched by the mode signal, and the output values of the counters 77 and 78 are output alternately. As shown in FIG. 21, image data is written to the memory 76 at 2559°2558,
. . , O, the image data is written to the lower memory addresses one by one in the memory 76, and the image data is read out at 2559, 2495, . ..., 63,2
558.2494. ...62. . . , O, the image data is read from every 64th memory address in the memory 76. This is because each element driving section of the thermal head 15 has a 64-bit structure.

データ変換部75は第1段のラッチ回路Lll〜L14
0、第2段のラッチ回路L21〜L240、マグニチュ
ード・コンパレータからなるPNM(Pulse Nu
mber Module)回路PNMI 〜PNM40
、ヘッドメモリ旧〜M5が用いられ、■第1段のラッチ
回路Lll〜L140がまずラインメモリ76のアドレ
ス2559,2495.・・・、63から順次に読み出
された40個の画像データがラッチされる。この40個
の画像データのラッチが終ると、第1段のラッチ回路L
ll−L140の内容が同時に第2段のラッチ回路L2
1−L240にラッチされる。
The data converter 75 includes first stage latch circuits Lll to L14.
0, PNM (Pulse Nu
mber Module) circuit PNMI ~ PNM40
, head memories old to M5 are used, and the first stage latch circuits Lll to L140 first read addresses 2559, 2495 . . . , 40 image data sequentially read from 63 are latched. After latching these 40 pieces of image data, the first stage latch circuit L
The contents of ll-L140 are simultaneously transferred to the second stage latch circuit L2.
1-Latched to L240.

■第2段のラッチ回路L21−L240のデータは次段
のPNM回路PNMI〜PNM40で比較データ発生カ
ウンタ79からの比較データのO′と比較されて比較デ
ータより大きければ1′、比較データ以下ならば0′に
2値化され1次段のヘッドメモリ旧〜M5に書き込まれ
る。
■The data in the second stage latch circuits L21-L240 is compared with the comparison data O' from the comparison data generation counter 79 in the next stage PNM circuits PNMI-PNM40, and if it is larger than the comparison data, it is 1', and if it is less than the comparison data, it is 1'. If so, it is binarized to 0' and written to the primary stage head memory old to M5.

次に■第2段のラッチ回路L21〜L240のデータが
次段のPNM回路PNMI〜PNM40で比較データ発
生カウンタ79からの比較データのl′と比較されて比
較データより大きければ1′、比較データ以下ならば0
′に2値化され、次段のヘッドメモリ旧〜M5に書き込
まれる。
Next, the data in the second stage latch circuits L21 to L240 are compared with the comparison data l' from the comparison data generation counter 79 in the next stage PNM circuits PNMI to PNM40, and if it is larger than the comparison data, the comparison data is 1'; 0 if less than or equal to
' and written to the next stage head memory old to M5.

次に■第2段のラッチ回路L 21− L 240のデ
ータが次段のPNM回路PNMI−PNM40で比較デ
ータ発生カウンタ79からの比較データの2′と比較さ
れて比較データより大きければ1′、比較データ以下な
らば0′に2値化され1次段のヘッドメモリ旧〜M5に
書き込まれる。比較データ発生カウンタ79からの比較
データは順次に増加するスレッシュレベルであり、以下
同様に第2段のラッ子回路L21〜L240のデータが
次段のPNM回路PNMI−PNM40で比較データ発
生カウンタ79からの各比較データ゛3 ’、”4 ”
 5 ’、・・・、’255 ’と次々に比較されて2
値化され、その各2値データがヘッドメモリ旧〜N5に
書き込まれる。このような動作により第2段のラッチ回
路L21〜L 240のデータは256階調のデータに
変換されてヘッドメモリ阿1−M5に書き込まれること
になる。
Next, the data in the second stage latch circuit L21-L240 is compared with the comparison data 2' from the comparison data generation counter 79 in the next stage PNM circuit PNMI-PNM40, and if it is larger than the comparison data, the data is 1'; If it is less than the comparison data, it is binarized to 0' and written to the primary head memory old to M5. The comparison data from the comparison data generation counter 79 has a threshold level that increases sequentially, and similarly, the data from the second stage latch circuits L21 to L240 is sent from the comparison data generation counter 79 to the next stage PNM circuits PNMI to PNM40. Comparison data of ``3'', ``4''
5',...,'255' are compared one after another and 2
The data is converted into a value, and each of the binary data is written into the head memory old to N5. Through this operation, the data in the second stage latch circuits L21 to L240 is converted to 256-gradation data and written into the head memories A1 to M5.

ヘッドメモリ旧〜M5のアドレスは上位6ビツトがドツ
トナンバーを示し、下位8ビツトがレベルナンバー(階
調レベルのナンバー)を示す、上記■〜■ではヘッドメ
モリ旧〜M5のアドレスはドツトナンバーがO′でレベ
ルナンバーが比較データ発生カウンタ79の比較データ
(階調レベル)に応じて′0′〜’255 ’になる。
The upper 6 bits of the address of head memory old ~ M5 indicate the dot number, and the lower 8 bits indicate the level number (gradation level number). At ', the level number changes from '0' to '255' depending on the comparison data (gradation level) of the comparison data generation counter 79.

上記■〜■の作業中に、次の40個の画像データがライ
ンメモリ76のアドレス2558,2494.・・・、
62から読み出されて第工段のラッチ回路Lll−L1
40にラッチされ、待機している。
During the work in steps (1) to (2) above, the next 40 image data are stored in the line memory 76 at addresses 2558, 2494. ...,
62 and the latch circuit Lll-L1 of the first stage.
40 and is on standby.

上記■〜■の作業が終了すると、第1段のラッチ回路L
ll〜L140の内容が同時に第2段のラッチ回路L2
1〜L240にラッチされてドツトナンバーが1′とさ
れ、上記■〜■の作業が行なわれることにより第2段の
ラッチ回路L21〜L240のデータが256階調のデ
ータに変換されてヘッドメモリ旧〜M5に書き込まれる
When the above steps ■ to ■ are completed, the first stage latch circuit L
The contents of ll to L140 are simultaneously transferred to the second stage latch circuit L2.
1 to L240, and the dot number is set to 1', and by performing the operations ① to ② above, the data in the second stage latch circuits L21 to L240 is converted to 256 gradation data, and the data is stored in the old head memory. ~Written to M5.

以下同様にラインメモリ76から画像データが40個づ
つ読み出されて256階調のデータに変換され、ヘッド
メモリ旧〜M5に書き込まれる。この場合ドツトナンバ
ーが40個づつの画像データの読み出しに応じて2′か
ら63′まで切り換えられる。
Similarly, 40 pieces of image data are read out from the line memory 76 at a time, converted into 256-gradation data, and written into the head memories old to M5. In this case, the dot number is switched from 2' to 63' in response to reading of image data in increments of 40.

次に、ヘッドメモリ1〜M5からヘッドラッチ信号LD
に同期して、レベルナンバー゛O′、ドツトナンバー゛
0′〜゛63′でデータが読み出されてサーマルヘッド
15へ画像データDIとして送られ、次にレベルナンバ
ー゛1′ ドツトナンバー゛0′〜゛63′でデータが
読み出されてサーマルヘッド15へ画像データDIとし
て送られ、以下同様に各レベルナンバー′2′〜’25
5 ’でドツトナンバー〇′〜゛63′としてデータが
読み出されてサーマルヘッド15へ画像データDIとし
て送られる。
Next, the head latch signal LD is output from the head memories 1 to M5.
In synchronization with , data is read out with level number ``O'' and dot numbers ``0'' to ``63'' and sent to the thermal head 15 as image data DI, and then with level number ``1'' and dot number ``0''. ~ '63', the data is read and sent to the thermal head 15 as image data DI, and in the same way, each level number '2' ~ '25'
At step 5', data is read out as dot numbers 0' to 63' and sent to the thermal head 15 as image data DI.

ヘッドメモリ旧〜M5はそれぞれラインメモリ76と同
様に64 X 256バイトの2領域に分けられており
、この2領域がライン同期信号により切り換えられる。
Head memories old to M5 are each divided into two areas of 64 x 256 bytes like the line memory 76, and these two areas are switched by a line synchronization signal.

第22図は本発明の他の実施例における抵抗補正部の構
成を示す。
FIG. 22 shows the configuration of a resistance correction section in another embodiment of the present invention.

この実施例は上記実施例において、抵抗補正部13を第
22図に示すように構成したものであり、抵抗補正部以
外の部分が上記実施例と同様に構成されている。
In this embodiment, the resistance correction section 13 in the above embodiment is constructed as shown in FIG. 22, and the parts other than the resistance correction section are constructed in the same manner as in the above embodiment.

抵抗補正部はレンズ80、電荷結合素子(CCD)から
なる撮像素子81.CCD駆動部82、補正部83等に
より構成されている。
The resistance correction section includes a lens 80 and an image pickup device 81 . It is composed of a CCD drive section 82, a correction section 83, and the like.

ロール状昇華型インクシート84は供給ローラ85から
引き出されてサーマルヘッド15とプラテンドラム86
との間を通して巻取ローラ87により巻取られる。通常
のプリントモードでは記録紙88がインクシート84と
プラテンドラム86との間に挿入され、サーマルヘッド
15とプラテンドラム86とにより記録紙88及びイン
クシート84がはさまれた状態でプラテンドラム86が
回転することにより記録紙88及びインクシート84が
サーマルヘッド15とプラテンドラム86との間を移動
しながらサーマルヘッド15におけるエレメントR1,
R2,R3,・・・・・、 R2560のイメージデー
タに応じた発熱によりインクシート84から記録紙88
にインクが転写されて画像がプリントされる。
The rolled sublimation ink sheet 84 is pulled out from the supply roller 85 and sent to the thermal head 15 and platen drum 86.
It is wound up by a winding roller 87 through the gap between the two. In the normal print mode, the recording paper 88 is inserted between the ink sheet 84 and the platen drum 86, and the platen drum 86 is inserted with the recording paper 88 and the ink sheet 84 sandwiched between the thermal head 15 and the platen drum 86. By rotating, the recording paper 88 and the ink sheet 84 move between the thermal head 15 and the platen drum 86, while the elements R1,
R2, R3, ..., the recording paper 88 is removed from the ink sheet 84 due to the heat generated according to the image data of R2560.
The ink is transferred to and the image is printed.

エレメントR1,R2,R3,・・・・・、 R256
0の抵抗値を測定する抵抗値測定モードでは記録紙88
がインクシート84とプラテンドラム86との間に挿入
され。
Element R1, R2, R3,..., R256
In the resistance value measurement mode that measures the resistance value of 0, the recording paper 88
is inserted between the ink sheet 84 and the platen drum 86.

記録紙88に対するプリント動作が通常のプリントモー
ドにおけるプリント動作とほぼ同様に行われる。この場
合、ヘッド駆動部14はデータ発生源から供給された均
一なベタ部のデータをサーマルヘッド15に転送し、記
録紙88の記録濃度がエレメントR1,R2,R3,・
・・・・、 R2560の抵抗値のばらつき等に応じて
変化する。第23図は昇華型インクシート84を用いた
場合において、ヘッド駆動部14に入力されるパルス数
信号のパルス数と記録紙88の記緑濃度ODとの関係を
示す。記録紙88の記録濃度ODは低濃度部、高濃度部
がパルス数信号のパルス数に対して非線形に変化し、中
間の濃度部がパルス数信号のパルス数に対して線形に変
化する6例えばパルス数信号のパルス数がPa、PL、
Phであれば記録紙88の記録濃度ODがODm、OD
I。
The printing operation on the recording paper 88 is performed almost in the same way as the printing operation in the normal print mode. In this case, the head driving unit 14 transfers uniform solid data supplied from the data generation source to the thermal head 15, and the recording density of the recording paper 88 is adjusted to elements R1, R2, R3, .
..., varies depending on the variation in the resistance value of R2560, etc. FIG. 23 shows the relationship between the number of pulses of the pulse number signal input to the head drive section 14 and the recorded green density OD of the recording paper 88 when the sublimation ink sheet 84 is used. The recording density OD of the recording paper 88 changes non-linearly in the low-density part and high-density part with respect to the number of pulses of the pulse number signal, and in the middle density part changes linearly with the number of pulses in the pulse number signal6. The number of pulses of the pulse number signal is Pa, PL,
If Ph, the recording density OD of the recording paper 88 is ODm, OD
I.

ODhと変化する。そこで、抵抗値測定モードではヘッ
ド駆動部14にはデータ発生源から中間濃度部、例えば
ODI、ODhに対するパルス数Pl。
Changes to ODh. Therefore, in the resistance value measurement mode, the head drive unit 14 receives pulse numbers Pl from the data generation source for intermediate density portions, for example, ODI and ODh.

phの各パルス数信号が複数ライン分づつ供給される。Each pulse number signal of ph is supplied for a plurality of lines.

ここに、中間濃度部OD+sは記録紙88の最大記録濃
度ODmaxに対して○Dm= ODmax/ 2であ
り、Ph=Pm+ΔP、PL=P+++−ΔPである。
Here, the intermediate density portion OD+s is ○Dm=ODmax/2 with respect to the maximum recording density ODmax of the recording paper 88, Ph=Pm+ΔP, and PL=P+++−ΔP.

パルス数PL、Phは第24図に示すようにどのエレメ
ントの記録濃度もパルス数P1のパルス数信号に対して
ODa+より低くてパルス数phのパルス数信号に対し
てOD+aより高くなるようにパルス数マー ジンΔP
をとって設定されている。記録紙88の記録濃度は第2
6図に示すようにパルス数信号のパルス数PL、Phに
より2段階の濃度○Dh、ODlになるはずであるが、
第25図に示すように各エレメントR1,R2,R3,
・・・・・、 R2560の抵抗値のばらつき、各エレ
メントR1,R2,R3,・・・・・、 R2560と
記録紙88との圧力のばらつき、各エレメントR1、R
2,R3,・・・・・、 R2560の印加電圧のばら
つき、配線のばらつき等による発熱量のばらつきにより
記録濃度がパルス数phのパルス数信号に対して○Dh
、、ODh2.ODh、・・・と変動し、パルス数Pi
のパルス数信号に対してODI工、○D1□、○DI、
・・・と変動する。この記録紙88の記録濃度0Dh1
.ODh、、0Dh3・・・、○D1工、0DI2,0
DI3・・・はパルス数phと記録濃度とが線形である
から、・・・・・(1) となる。但し、iはエレメントの番号を示す。
The pulse numbers PL and Ph are set so that the recording density of any element is lower than ODa+ for a pulse number signal of pulse number P1 and higher than OD+a for a pulse number signal of pulse number ph, as shown in FIG. Number margin ΔP
It is set by taking The recording density of the recording paper 88 is the second
As shown in Figure 6, there should be two levels of concentration ○Dh and ODl depending on the number of pulses PL and Ph of the pulse number signal, but
As shown in FIG. 25, each element R1, R2, R3,
..., Variation in the resistance value of R2560, each element R1, R2, R3, ..., variation in pressure between R2560 and recording paper 88, each element R1, R
2, R3,..., Due to variations in the amount of heat generated due to variations in the applied voltage of R2560, variations in wiring, etc., the recording density becomes ○Dh for the pulse number signal of the pulse number ph.
,,ODh2. The number of pulses Pi changes as ODh,...
For the pulse number signal of ODI, ○D1□, ○DI,
...and fluctuate. The recording density of this recording paper 88 is 0Dh1
.. ODh,, 0Dh3..., ○D1 engineering, 0DI2,0
For DI3..., the number of pulses ph and the recording density are linear, so...(1) is obtained. However, i indicates the number of the element.

記録紙88はサーマルヘッド15とプラテンドラム86
との間を通過した後にインクシート84と分離されて光
源89により照明され、その反射光がレンズ80を介し
てCCD81により光電変換されて記録紙88の記録濃
度が測定される。CCD81はCCD駆動部82により
駆動され、CCD81の出力信号がCCDM動部82を
介して補正部83に送られる。この場合、CCD駆動部
82は記録濃度の測定前に記録紙88に対するCCD8
1の出力信号をシェーディング補正用データとしてメモ
リに記憶しておき、記録濃度の測定時にはCCD81の
出力信号をそのシェーディング補正用データによりシェ
ーディング補正してA/D変換した後に補正部83に送
る。
The recording paper 88 is connected to the thermal head 15 and the platen drum 86
After passing between the recording paper 88 and the ink sheet 84, the recording paper 88 is separated and illuminated by a light source 89, and the reflected light is photoelectrically converted by a CCD 81 via a lens 80, and the recording density of the recording paper 88 is measured. The CCD 81 is driven by a CCD driving section 82 , and the output signal of the CCD 81 is sent to the correction section 83 via the CCDM moving section 82 . In this case, the CCD drive unit 82 uses the CCD 8 to drive the recording paper 88 before measuring the recording density.
The output signal of CCD 81 is stored in a memory as shading correction data, and when recording density is measured, the output signal of CCD 81 is subjected to shading correction using the shading correction data, A/D converted, and then sent to correction section 83.

補正部83は第27図に示すように1ラインODメモリ
89.演算部90.ラインデータメモリ91及びデータ
変換部92により構成されている。CCD駆動部82か
らのパルス数phに応じた記録濃度0Dh1゜0Dh2
.ODh、・・・に対する濃度信号は1ラインODメモ
リ89に1ライン分だけ記憶され、演算部90はCCD
駆動部82からのパルス数P1に応じた記録濃度ODI
□、ODI□OD1.・・・に対する1ライン分の濃度
信号、lラインデーメモリ89の濃度信号、予め決めら
れているパルス数Ph、PLから各エレメント毎に上記
(1)式の演算を行ってその結果を濃度データとしてラ
インデータメモリ91に書き込む。通常のプリントモー
ドではラインデータメモリ91から1画素の記録を行う
エレメントの番号(No)情報により読み出され、デー
タ変換部92は抵抗補正部13からのイメージデータに
対してラインデータメモリ91からの濃度データを減算
することで、第28図に示すように各エレメントR1,
R2、R3,・・・・・、 R2560の抵抗値のばら
つき、各エレメントR1,R2,R3,・・・・・、 
R2560と記録紙88との圧力のばらつき、各エレメ
ントR1,R2,R3,・・・・・、R2560の印加
電圧のばらつき、配線のばらつき等による発熱量のばら
つきによる記録濃度の変動が無くなって記録濃度が均一
になるように補正してヘッド駆動部14へ出力する。
As shown in FIG. 27, the correction unit 83 has a one-line OD memory 89. Arithmetic unit 90. It is composed of a line data memory 91 and a data converter 92. Recording density 0Dh1°0Dh2 according to the number of pulses ph from the CCD drive unit 82
.. The density signals for ODh, .
Recording density ODI according to the number of pulses P1 from the drive section 82
□, ODI□OD1. The above formula (1) is calculated for each element from the density signal for one line for . It is written into the line data memory 91 as . In normal print mode, information is read from the line data memory 91 based on the number (No) information of the element that records one pixel, and the data converter 92 converts the image data from the line data memory 91 to the image data from the resistance correction unit 13. By subtracting the density data, each element R1,
R2, R3,..., variation in resistance value of R2560, each element R1, R2, R3,...
There are no fluctuations in recording density due to variations in the pressure between R2560 and the recording paper 88, variations in the voltage applied to each element R1, R2, R3, etc., R2560, variations in heat generation due to variations in wiring, etc., and recording is possible. The image is corrected so that the density is uniform and output to the head driving section 14.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上のように本発明によれば一列に配列された複数個の
エレメントを有するヘッドにおける前記複数個のエレメ
ントを多値のイメージデータに応じて発熱させて画素の
記録を1ライン分づつ行なわせる記録装置において、前
記複数個のエレメントのうち画素の記録を行うエレメン
トに対する周囲のエレメントの熱的影響と9画素の記録
を行うエレメントの蓄熱とによる記録画素濃度への影響
を演算する熱的影響演算手段と、前記複数個のエレメン
トの個々の測定した抵抗値のデータ若しくは前記複数個
のエレメントの個々の位置に対応した各記録位置の記録
濃度補正データを記憶する記憶手段と、前記イメージデ
ータより前記複数個のエレメントにおける同時に駆動さ
れるエレメントの数を演算する同時駆動エレメント数演
算手段と。
As described above, according to the present invention, in a head having a plurality of elements arranged in a line, the plurality of elements are heated in accordance with multivalued image data, and pixels are recorded one line at a time. In the apparatus, a thermal influence calculation means for calculating the influence on the recorded pixel density due to the thermal influence of surrounding elements on the element that records pixels among the plurality of elements and the heat accumulation of the element that records nine pixels. a storage means for storing data of the measured resistance values of each of the plurality of elements or recording density correction data of each recording position corresponding to each position of the plurality of elements; simultaneously driven element number calculation means for calculating the number of simultaneously driven elements in the elements;

前記イメージデータと前記エレメントによる記録画素濃
度との関係を順次に前記熱的影響演算手段の演算結果、
前記記憶手段の記憶データ、前記同時駆動エレメント数
演算手段の演算結果で補正する補正手段とを備えたので
、簡単な構成で各エレメントの蓄熱等による記録濃度変
動が生じないように多階調の画像記録を行うことができ
る。しかも、イメージデータとエレメントによる記録画
素濃度との関係に対して熱的影響演算手段の演算結果に
よる補正、記憶手段の記憶データによる補正。
The relationship between the image data and the pixel density recorded by the element is sequentially computed by the thermal influence computing means;
Since it is equipped with a correction means that corrects the data stored in the storage means and the calculation results of the number calculation means of simultaneously driven elements, it is possible to perform multi-gradation correction with a simple configuration so that recording density fluctuations due to heat accumulation in each element, etc. do not occur. Image recording can be performed. Moreover, the relationship between the image data and the recorded pixel density by the element is corrected based on the calculation results of the thermal influence calculation means, and correction is performed using the data stored in the storage means.

同時駆動エレメント数演算手段の演算結果による補正と
いう順番で行うので、これらの補正を効率良く行うこと
ができる。
Since the corrections are performed in the order of the calculation results of the simultaneously driven element number calculation means, these corrections can be performed efficiently.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図は
同実施例における隣接履歴補正部の構成を示すブロック
図、第3図は同隣接履歴補正部における蓄熱演算部の構
成を示すブロック図、第4図は上記実施例における立上
り立下り補正部の構成を示すブロック図、第5図は上記
実施例の一部を示すブロック図、第6図は上記実施例に
おける抵抗値検出部の構成を示すブロック図、第7図乃
至第9図は同抵抗値検出部の動作を説明するためのタイ
ミングチャート、第10図及び第11図は同抵抗値検出
部におけるCPUの処理フローを示すフローチャート、
第12図は同抵抗値検出部の動作を説明するための図、
第13図は上記実施例におけるエレメント数補正部の構
成を示すブロック図、第14図は同エレメント数補正部
におけるレベル度数カウンタの構成を示すブロック図、
第15図は同レベル度数カウンタにおける度数RAMを
示すブロック図、第16図は上記エレメント数補正部に
おけるエレメント数演算部の構成を示すブロック図、第
17図は上記エレメント数補正部におけるパルス幅変換
部の構成を示すブロック図、第18図は上記実施例のタ
イミングチャート、第19図は上記実施例におけるサー
マルヘッドの回路構成を示すブロック図、第20図は上
記実施例におけるヘッド駆動部の構成を示すブロック図
、第21図は同ヘッド駆動部のタイミングチャート、第
22図(a)(b)は本発明の他の実施例の一部を示す
概略図及び正面図。 第23図は同実施例におけるパルス数信号のパルス数対
記録濃度特性を示す特性曲線図、第24図乃至第26図
は同実施例を説明するための図、第27図は同実施例に
おける補正部の構成を示すブロック図。 第28図は同実施例を説明するための図、第29図は従
来の記録装置を説明するための図である。 11・・・隣接履歴補正部、12・・・立上り立下り補
正部、 13・・・抵抗補正部、16・・・エレメント
数補正部。 処 7 ■ θV−−−−−−−− −一−−−−−−矢扶スタート θ−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−デ°−夕
   <D−−ベヱ)−−−−+うlナイ怠t    
              ”−=7クロツク Ju
ヒーー−−Jlt− 侑lθ 処16 ■ /7P)lq ■ B22図 惧) ンρ (A> F 籐27図 ライ〉力向イit
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of the adjacent history correction section in the same embodiment, and FIG. 3 is a block diagram showing the configuration of the heat storage calculation section in the adjacent history correction section. FIG. 4 is a block diagram showing the configuration of the rising/falling correction section in the above embodiment, FIG. 5 is a block diagram showing a part of the above embodiment, and FIG. 6 is a resistance value detection in the above embodiment. 7 to 9 are timing charts for explaining the operation of the resistance value detection section, and FIGS. 10 and 11 show the processing flow of the CPU in the resistance value detection section. Flowchart showing,
FIG. 12 is a diagram for explaining the operation of the resistance value detection section,
FIG. 13 is a block diagram showing the configuration of the element number correction section in the above embodiment, FIG. 14 is a block diagram showing the configuration of the level frequency counter in the element number correction section,
FIG. 15 is a block diagram showing the frequency RAM in the same level frequency counter, FIG. 16 is a block diagram showing the configuration of the element number calculation section in the element number correction section, and FIG. 17 is pulse width conversion in the element number correction section. FIG. 18 is a timing chart of the above embodiment, FIG. 19 is a block diagram showing the circuit structure of the thermal head in the above embodiment, and FIG. 20 is a structure of the head drive section in the above embodiment. FIG. 21 is a timing chart of the head driving section, and FIGS. 22(a) and 22(b) are a schematic diagram and a front view showing a part of another embodiment of the present invention. FIG. 23 is a characteristic curve diagram showing the pulse number vs. recording density characteristic of the pulse number signal in the same embodiment, FIGS. 24 to 26 are diagrams for explaining the same embodiment, and FIG. FIG. 3 is a block diagram showing the configuration of a correction section. FIG. 28 is a diagram for explaining the same embodiment, and FIG. 29 is a diagram for explaining a conventional recording apparatus. DESCRIPTION OF SYMBOLS 11... Adjacent history correction part, 12... Rising/falling correction part, 13... Resistance correction part, 16... Element number correction part. Process 7 ■ θV−−−−−−− −1−−−−−−Yafu start θ−−−−−−−−−−−−−−−−−−−−De°−Evening <D −−Bee)−−−−+I'm lazy
”-=7 clock Ju
Hee--Jlt- 䑑lθ 所16 ■ /7P)lq ■ B22Fig.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 一列に配列された複数個のエレメントを有するヘッドに
おける前記複数個のエレメントを多値のイメージデータ
に応じて発熱させて画素の記録を1ライン分づつ行なわ
せる記録装置において、前記複数個のエレメントのうち
画素の記録を行うエレメントに対する周囲のエレメント
の熱的影響と、画素の記録を行うエレメントの蓄熱とに
よる記録画素濃度への影響を演算する熱的影響演算手段
と、前記複数個のエレメントの個々の測定した抵抗値の
データ若しくは前記複数個のエレメントの個々の位置に
対応した各記録位置の記録濃度補正データを記憶する記
憶手段と、前記イメージデータより前記複数個のエレメ
ントにおける同時に駆動されるエレメントの数を演算す
る同時駆動エレメント数演算手段と、前記イメージデー
タと前記エレメントによる記録画素濃度との関係を順次
に前記熱的影響演算手段の演算結果、前記記憶手段の記
憶データ、前記同時駆動エレメント数演算手段の演算結
果で補正する補正手段とを備えたことを特徴とする記録
装置。
In a recording device that records pixels line by line by heating the plurality of elements in a head having a plurality of elements arranged in a line in accordance with multivalued image data, the plurality of elements a thermal influence calculation means for calculating the influence on the recorded pixel density due to the thermal influence of surrounding elements on the element that records the pixels and the heat accumulation of the element that records the pixels; storage means for storing resistance value data measured by the plurality of elements or recording density correction data for each recording position corresponding to the individual positions of the plurality of elements; and elements in the plurality of elements that are driven simultaneously based on the image data. a simultaneously driven element number calculation means for calculating the number of simultaneously driven elements; and a calculation result of the thermal influence calculation means, the data stored in the storage means, and the simultaneously driven elements, which sequentially calculate the relationship between the image data and the pixel density recorded by the elements. A recording device comprising: a correction means for correcting based on the calculation result of the numerical calculation means.
JP5319090A 1990-03-05 1990-03-05 Recorder Pending JPH03253355A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5319090A JPH03253355A (en) 1990-03-05 1990-03-05 Recorder

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5319090A JPH03253355A (en) 1990-03-05 1990-03-05 Recorder

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH03253355A true JPH03253355A (en) 1991-11-12

Family

ID=12935959

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5319090A Pending JPH03253355A (en) 1990-03-05 1990-03-05 Recorder

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH03253355A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5109235A (en) Recording density correcting apparatus
JP2984009B2 (en) Thermal head drive
US5038154A (en) Driving apparatus for thermal head
JPH03253355A (en) Recorder
JPH0379377A (en) Printing rate correction circuit for printer
JPS60161163A (en) Thermal accumulation correction device for thermal head
JPS6115469A (en) Thermal recorder
JP2928628B2 (en) Thermal recording device
JP3678385B2 (en) Thermal printing method and thermal printer
JPS6389359A (en) Thermal recording apparatus
JPS63159068A (en) Thermal recorder
JPS63302072A (en) Recorded density corrector
JPS61206672A (en) Thermal head driver
JPH02175264A (en) Recorder
JP4703199B2 (en) Thermal transfer printer and recording method
JPS58211472A (en) Printing temperature controller for thermal head
JP2927395B2 (en) How to apply the energizing pulse to the thermal head
JP2888576B2 (en) Temperature correction method for thermal transfer printer
JPH0679903A (en) Density gradation control type thermal printer
JPS60151074A (en) Thermal head driving circuit
JPH0639440U (en) Thermal printer equipped with resistance correction function for thermal head heating element
JPS6076362A (en) Compensating method of heat accumulation in thermal head
JPS58161573A (en) Heat-sensitive recorder
JPH05147253A (en) Thermal printer
JPH0752435A (en) Method for driving thermal printer