JPH0324671A - 欠陥検査装置 - Google Patents
欠陥検査装置Info
- Publication number
- JPH0324671A JPH0324671A JP1159036A JP15903689A JPH0324671A JP H0324671 A JPH0324671 A JP H0324671A JP 1159036 A JP1159036 A JP 1159036A JP 15903689 A JP15903689 A JP 15903689A JP H0324671 A JPH0324671 A JP H0324671A
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- Pending
Links
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- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 17
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 9
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Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は、ラインCODカメラなどのセンサで並列に
高速に移動する複数の錠剤などの検査対象物の欠け、異
物、汚れ、傷、シミなどの欠陥を検出する欠陥検査装置
に関する. [従来の技術] 従来、インライン検査装置は、ラインあるいはエリアの
CODカメラにより、並列に高速に移動する複数の錠剤
などの対象全体または一部を走査して撮像し、得られた
入力信号をA/D変換あるいは二値化処理し、その入力
デジタル信号をそのまま、若しくは記録媒体に保存した
のち、逐次的に画像処理して錠剤などの検査対象物の欠
け、異物、汚れ、傷、シミなどの欠陥を検出している. この場合、二列に並んだ対象物の流れの横断方向に走査
し、その列の個々の対象物を識別して個々の欠陥検出の
処理を行なう. [発明が解決しようとする課H] 流れる対象物が一列では、その様な逐次処理でも高速に
対応できるが、しかし、ライン上に対象物が複数列状に
高速に移動している場合、個々の識別処理のためにかな
りの処理ステップを要し、高速化されたラインでは処理
されないという不都合がある.この発明は上述の背景に
基づ5なされたものであり、その目的とするところは、
複数列に並んで高速に流れる対象物の欠陥を、効率的に
処理することができる欠陥検査装置を提供することであ
る.[課題を解決するための手段] 発明者らは、上記課題解決のために種々の研究開発を行
なった結果、分割された入力信号を逐次処理するのでは
なく、個別に並列処理すれば、この発明の目的達成に有
効であることを見いだし、この発明を完成するに至った
. すなわち、この発明による欠陥検査装置は、所定の間隔
をおいて並列に位置しかつ高速に移動する錠剤などの対
象物を、横断方向に走査して画像信号を読み込むセンサ
と、 読み込まれて入力された画像信号から基準位置を検出す
る基準検出回路と, 検知された基準位置より、該対象物毎に該入力画像信号
を分割する分割手段と、 分割された入力画像信号毎に平行に画像処理する処理手
段とからなることを特徴とするものである.[作 用] 上述の構成からなるこの発明では、以下のように動作す
る. センサにより被検査対象の画面を走査して、画像を1次
元線状の正方格子上の標本点の濃度値(「1」と「O」
)の1次元配置として表現する.この様にして、「1」
または「0」の画素からなる2値化画像信号が得られる
. この発明による装置では、第1図の構成図に例示すよう
に、基準検出回路2において、センサ1から読み込まれ
て入力された画像信号から基準位置を検出し、更に、分
割手段3で、検知された基準位置より、対象物毎に入力
画像信号を分割する.ついで、画像処理千段4で、分割
された入力画像信号毎に並列に爾像処理する.従って、
個々の検査対象物を識別する操作は行なわれない.ここ
で、得られた入力信号から被検査対象に欠陥があるか否
かの判断は、例えば、各被検査対象別に入力信号を分割
し、分割した信号中に有意画素(「1』の画素〉の数を
カウントしその数から判断して行なうことができる. [実施例] 以下に、この発明を実施例に基づき具体的に説明するが
、この発明はその要旨を超えない限り以下の例に限定さ
れるものではない. この発明による検査装置の一実施例を、第2図に示すブ
ロック図を用いて説明する.この例は、第3図に示すよ
うな1ラインに3個づつの並んでFTP包装された錠剤
が高速で移動するものが、被検査対象である場合である
. この実施例の態様では、3つの錠剤が包装されたパッケ
ージの左隅、すなわちエッジの位置が、分割の始点とな
る基準位置として検出され、錠剤の間隔毎に分割される
.この錠剤間隔は、予めの測定により、マニュアルによ
る設定若しくは自動設定により行なうことができる. 3個の錠剤が包装されたパッケージ毎に、そのエッジの
位置が変動するので、この態様では、予め標準位置を定
めておく.この標準位置設定は、例えば、マニュアルに
より、若しくは、事前の試験走査により行なうことがで
きる.例えば、第3図に示すように、この欅準位置を設
定し、この標準位置からの実際位置のズレΔXを、標準
分割点xi.x2およびX3に加算して分割すべき位置
を演算する.第2図に示す装置例では、所定の間隔を置
いて並列に位置しかつ高速に移動する包装された3個の
錠剤を、横断方向に走査してその画像信号を読,み込む
センサ1と、読み込まれた入力信号を2値化する2値化
回路20と、デジタル入力信号からパッケージエッジを
検出しその実際の位置と標準位置とのズレから分割アド
レスを演算するためにCPU21に信号を送出するパッ
ケージエッジ検出回路22と、実際のエッジ位置および
分割点のデータを記録する分割アドレスI〜■と、画素
アドレスをカウントする画素アドレスカウンタ23から
の画素アドレス信号と分割アドレスとを比較し、一致す
ると入力画像信号が分割され各々が画像処理されるよう
にする一致検出回路24と、分割された入力信号毎に並
列に画像処理する面積演算回路25とを備える.ついで
、この例の装置の作用・動作を説明する.先ず、走査す
るセンサ1から、3つの錠剤が包装され、高速に移動す
るパッケージの画像信号が読み込まれる.読み込まれた
データは、2値化回路20で、「1」または「0」の画
素からなる2値化画像信号に変換される. 2値化された画像入力信号は、パッケージエッジ検出回
路22に送入され、適当なji像処理によりパッケージ
のエッジの左隅、すなわち基準位置が検出される.パッ
ケージのエッジが検出されるとその位置はCPU2 1
によってアクセスされ、予め設定されている標準位置の
分割点、第3図に例示するxO、xi, x2、x3お
よびX4と実際位置とのズレΔXが演算され、分割アド
レス■〜■に新たな実際のデ−タ値(xf+Δx.x2
+Δx,x3+ΔXおよびX4+ΔX)が決定され、ラ
ッチされる.この分割アドレスIには、第1の分割点の
アドレス値xi+ΔXがラッチされ、また分割アドレス
■には、第2の分割点x2+ΔXが割り当てられる.こ
の第1のアドレス値は、画素アドレスカウンタ23から
の位置データと対比されて、これと一致するとセレクタ
により分割された入力信号が面積演算回路Iに入力され
、ついで画素アドレスカウンタ23からの位置データと
分割アドレス■のデータと対比され、一致すると以後は
、分割された入力信号が面積演算回路■に送入される. 各々の面積演算回路で、分割された入力信号に所定の画
像処理がなされる. 同様に、以後、分割アドレス■〜■のデータ値(x3+
ΔXおよびx4+ΔX)により、入力信号が分割され、
分割された入力信号毎に、各々の面積演算回路で並列に
画像処理がなされる. 得られた入力信号から被検査対象に欠陥があるか否かの
判断は、例えば、各被検査対象別に入力信号を分割し、
分割した信号中に有意画素(「1』の画素)の数をカウ
ントしその数から判断して行なうことができる. この発明は、上記の例に限定されず、更に種々の変形態
様が可能である.例えば、上記の実施例では、パッケー
ジエッジを基準位置として利用したが、錠剤などの被対
象物のエッジを基準位置として利用することもできる. 対象物のエッジの位置が対象物の形状により異なり、エ
ッジとして検出することがむずかしい場合、また、蛇行
するように対象物が複数列に移動する場合、本発明によ
る検査装置に更に、数ライン分のメモリを設け、分割ア
ドレスが決定できる情報が揃った状態で入力信号の分割
を開始するようにすること、若しくは、通過し記録され
た対象位置より予測して入力信号の分割を開始するよう
にすることもできる.この発明による検査装置により、
複数列に並んで高速に流れる対象物の欠陥を、効率的に
、インラインで検査処理することができる.
高速に移動する複数の錠剤などの検査対象物の欠け、異
物、汚れ、傷、シミなどの欠陥を検出する欠陥検査装置
に関する. [従来の技術] 従来、インライン検査装置は、ラインあるいはエリアの
CODカメラにより、並列に高速に移動する複数の錠剤
などの対象全体または一部を走査して撮像し、得られた
入力信号をA/D変換あるいは二値化処理し、その入力
デジタル信号をそのまま、若しくは記録媒体に保存した
のち、逐次的に画像処理して錠剤などの検査対象物の欠
け、異物、汚れ、傷、シミなどの欠陥を検出している. この場合、二列に並んだ対象物の流れの横断方向に走査
し、その列の個々の対象物を識別して個々の欠陥検出の
処理を行なう. [発明が解決しようとする課H] 流れる対象物が一列では、その様な逐次処理でも高速に
対応できるが、しかし、ライン上に対象物が複数列状に
高速に移動している場合、個々の識別処理のためにかな
りの処理ステップを要し、高速化されたラインでは処理
されないという不都合がある.この発明は上述の背景に
基づ5なされたものであり、その目的とするところは、
複数列に並んで高速に流れる対象物の欠陥を、効率的に
処理することができる欠陥検査装置を提供することであ
る.[課題を解決するための手段] 発明者らは、上記課題解決のために種々の研究開発を行
なった結果、分割された入力信号を逐次処理するのでは
なく、個別に並列処理すれば、この発明の目的達成に有
効であることを見いだし、この発明を完成するに至った
. すなわち、この発明による欠陥検査装置は、所定の間隔
をおいて並列に位置しかつ高速に移動する錠剤などの対
象物を、横断方向に走査して画像信号を読み込むセンサ
と、 読み込まれて入力された画像信号から基準位置を検出す
る基準検出回路と, 検知された基準位置より、該対象物毎に該入力画像信号
を分割する分割手段と、 分割された入力画像信号毎に平行に画像処理する処理手
段とからなることを特徴とするものである.[作 用] 上述の構成からなるこの発明では、以下のように動作す
る. センサにより被検査対象の画面を走査して、画像を1次
元線状の正方格子上の標本点の濃度値(「1」と「O」
)の1次元配置として表現する.この様にして、「1」
または「0」の画素からなる2値化画像信号が得られる
. この発明による装置では、第1図の構成図に例示すよう
に、基準検出回路2において、センサ1から読み込まれ
て入力された画像信号から基準位置を検出し、更に、分
割手段3で、検知された基準位置より、対象物毎に入力
画像信号を分割する.ついで、画像処理千段4で、分割
された入力画像信号毎に並列に爾像処理する.従って、
個々の検査対象物を識別する操作は行なわれない.ここ
で、得られた入力信号から被検査対象に欠陥があるか否
かの判断は、例えば、各被検査対象別に入力信号を分割
し、分割した信号中に有意画素(「1』の画素〉の数を
カウントしその数から判断して行なうことができる. [実施例] 以下に、この発明を実施例に基づき具体的に説明するが
、この発明はその要旨を超えない限り以下の例に限定さ
れるものではない. この発明による検査装置の一実施例を、第2図に示すブ
ロック図を用いて説明する.この例は、第3図に示すよ
うな1ラインに3個づつの並んでFTP包装された錠剤
が高速で移動するものが、被検査対象である場合である
. この実施例の態様では、3つの錠剤が包装されたパッケ
ージの左隅、すなわちエッジの位置が、分割の始点とな
る基準位置として検出され、錠剤の間隔毎に分割される
.この錠剤間隔は、予めの測定により、マニュアルによ
る設定若しくは自動設定により行なうことができる. 3個の錠剤が包装されたパッケージ毎に、そのエッジの
位置が変動するので、この態様では、予め標準位置を定
めておく.この標準位置設定は、例えば、マニュアルに
より、若しくは、事前の試験走査により行なうことがで
きる.例えば、第3図に示すように、この欅準位置を設
定し、この標準位置からの実際位置のズレΔXを、標準
分割点xi.x2およびX3に加算して分割すべき位置
を演算する.第2図に示す装置例では、所定の間隔を置
いて並列に位置しかつ高速に移動する包装された3個の
錠剤を、横断方向に走査してその画像信号を読,み込む
センサ1と、読み込まれた入力信号を2値化する2値化
回路20と、デジタル入力信号からパッケージエッジを
検出しその実際の位置と標準位置とのズレから分割アド
レスを演算するためにCPU21に信号を送出するパッ
ケージエッジ検出回路22と、実際のエッジ位置および
分割点のデータを記録する分割アドレスI〜■と、画素
アドレスをカウントする画素アドレスカウンタ23から
の画素アドレス信号と分割アドレスとを比較し、一致す
ると入力画像信号が分割され各々が画像処理されるよう
にする一致検出回路24と、分割された入力信号毎に並
列に画像処理する面積演算回路25とを備える.ついで
、この例の装置の作用・動作を説明する.先ず、走査す
るセンサ1から、3つの錠剤が包装され、高速に移動す
るパッケージの画像信号が読み込まれる.読み込まれた
データは、2値化回路20で、「1」または「0」の画
素からなる2値化画像信号に変換される. 2値化された画像入力信号は、パッケージエッジ検出回
路22に送入され、適当なji像処理によりパッケージ
のエッジの左隅、すなわち基準位置が検出される.パッ
ケージのエッジが検出されるとその位置はCPU2 1
によってアクセスされ、予め設定されている標準位置の
分割点、第3図に例示するxO、xi, x2、x3お
よびX4と実際位置とのズレΔXが演算され、分割アド
レス■〜■に新たな実際のデ−タ値(xf+Δx.x2
+Δx,x3+ΔXおよびX4+ΔX)が決定され、ラ
ッチされる.この分割アドレスIには、第1の分割点の
アドレス値xi+ΔXがラッチされ、また分割アドレス
■には、第2の分割点x2+ΔXが割り当てられる.こ
の第1のアドレス値は、画素アドレスカウンタ23から
の位置データと対比されて、これと一致するとセレクタ
により分割された入力信号が面積演算回路Iに入力され
、ついで画素アドレスカウンタ23からの位置データと
分割アドレス■のデータと対比され、一致すると以後は
、分割された入力信号が面積演算回路■に送入される. 各々の面積演算回路で、分割された入力信号に所定の画
像処理がなされる. 同様に、以後、分割アドレス■〜■のデータ値(x3+
ΔXおよびx4+ΔX)により、入力信号が分割され、
分割された入力信号毎に、各々の面積演算回路で並列に
画像処理がなされる. 得られた入力信号から被検査対象に欠陥があるか否かの
判断は、例えば、各被検査対象別に入力信号を分割し、
分割した信号中に有意画素(「1』の画素)の数をカウ
ントしその数から判断して行なうことができる. この発明は、上記の例に限定されず、更に種々の変形態
様が可能である.例えば、上記の実施例では、パッケー
ジエッジを基準位置として利用したが、錠剤などの被対
象物のエッジを基準位置として利用することもできる. 対象物のエッジの位置が対象物の形状により異なり、エ
ッジとして検出することがむずかしい場合、また、蛇行
するように対象物が複数列に移動する場合、本発明によ
る検査装置に更に、数ライン分のメモリを設け、分割ア
ドレスが決定できる情報が揃った状態で入力信号の分割
を開始するようにすること、若しくは、通過し記録され
た対象位置より予測して入力信号の分割を開始するよう
にすることもできる.この発明による検査装置により、
複数列に並んで高速に流れる対象物の欠陥を、効率的に
、インラインで検査処理することができる.
第1図は、この発明の欠陥検査装置の構成図、第2図は
、実施例のブロック図、第3図は、分割点の説明図であ
る. 1・・・センサ、2..,基準検出回路、3・・・分割
手段、4...¥i像処理手段、20・・・2値化回路
、2 1 ...Cpu、22...パッケージエッジ
検出回路、2 3 ...画素アドレスカウンタ、24
...一致検出回路、25...面積演算回路.
、実施例のブロック図、第3図は、分割点の説明図であ
る. 1・・・センサ、2..,基準検出回路、3・・・分割
手段、4...¥i像処理手段、20・・・2値化回路
、2 1 ...Cpu、22...パッケージエッジ
検出回路、2 3 ...画素アドレスカウンタ、24
...一致検出回路、25...面積演算回路.
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、所定の間隔をおいて並列に位置しかつ高速に移動す
る複数列の対象物を、横断方向に走査して画像信号を読
み込むセンサと、 読み込まれた画像信号から基準位置を検出する基準検出
回路と、 検知された基準位置より、該対象物毎に該画像信号を分
割する分割手段と、 分割された画像信号毎に並列に画像処理する処理手段と
からなることを特徴とする欠陥検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1159036A JPH0324671A (ja) | 1989-06-21 | 1989-06-21 | 欠陥検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1159036A JPH0324671A (ja) | 1989-06-21 | 1989-06-21 | 欠陥検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0324671A true JPH0324671A (ja) | 1991-02-01 |
Family
ID=15684847
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1159036A Pending JPH0324671A (ja) | 1989-06-21 | 1989-06-21 | 欠陥検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0324671A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011002263A (ja) * | 2009-06-16 | 2011-01-06 | Toyo Glass Co Ltd | ガラス製品のゴブ検査装置 |
-
1989
- 1989-06-21 JP JP1159036A patent/JPH0324671A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011002263A (ja) * | 2009-06-16 | 2011-01-06 | Toyo Glass Co Ltd | ガラス製品のゴブ検査装置 |
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