JPH0324671A - 欠陥検査装置 - Google Patents

欠陥検査装置

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Publication number
JPH0324671A
JPH0324671A JP1159036A JP15903689A JPH0324671A JP H0324671 A JPH0324671 A JP H0324671A JP 1159036 A JP1159036 A JP 1159036A JP 15903689 A JP15903689 A JP 15903689A JP H0324671 A JPH0324671 A JP H0324671A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
objects
image signal
parallel
input image
sensor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1159036A
Other languages
English (en)
Inventor
Masatoshi Toda
正利 戸田
Hiroaki Kimura
木村 宏晃
Chiaki Suematsu
末松 千秋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Rayon Co Ltd
Original Assignee
Mitsubishi Rayon Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Rayon Co Ltd filed Critical Mitsubishi Rayon Co Ltd
Priority to JP1159036A priority Critical patent/JPH0324671A/ja
Publication of JPH0324671A publication Critical patent/JPH0324671A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Image Processing (AREA)
  • Image Analysis (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、ラインCODカメラなどのセンサで並列に
高速に移動する複数の錠剤などの検査対象物の欠け、異
物、汚れ、傷、シミなどの欠陥を検出する欠陥検査装置
に関する. [従来の技術] 従来、インライン検査装置は、ラインあるいはエリアの
CODカメラにより、並列に高速に移動する複数の錠剤
などの対象全体または一部を走査して撮像し、得られた
入力信号をA/D変換あるいは二値化処理し、その入力
デジタル信号をそのまま、若しくは記録媒体に保存した
のち、逐次的に画像処理して錠剤などの検査対象物の欠
け、異物、汚れ、傷、シミなどの欠陥を検出している. この場合、二列に並んだ対象物の流れの横断方向に走査
し、その列の個々の対象物を識別して個々の欠陥検出の
処理を行なう. [発明が解決しようとする課H] 流れる対象物が一列では、その様な逐次処理でも高速に
対応できるが、しかし、ライン上に対象物が複数列状に
高速に移動している場合、個々の識別処理のためにかな
りの処理ステップを要し、高速化されたラインでは処理
されないという不都合がある.この発明は上述の背景に
基づ5なされたものであり、その目的とするところは、
複数列に並んで高速に流れる対象物の欠陥を、効率的に
処理することができる欠陥検査装置を提供することであ
る.[課題を解決するための手段] 発明者らは、上記課題解決のために種々の研究開発を行
なった結果、分割された入力信号を逐次処理するのでは
なく、個別に並列処理すれば、この発明の目的達成に有
効であることを見いだし、この発明を完成するに至った
. すなわち、この発明による欠陥検査装置は、所定の間隔
をおいて並列に位置しかつ高速に移動する錠剤などの対
象物を、横断方向に走査して画像信号を読み込むセンサ
と、 読み込まれて入力された画像信号から基準位置を検出す
る基準検出回路と, 検知された基準位置より、該対象物毎に該入力画像信号
を分割する分割手段と、 分割された入力画像信号毎に平行に画像処理する処理手
段とからなることを特徴とするものである.[作 用] 上述の構成からなるこの発明では、以下のように動作す
る. センサにより被検査対象の画面を走査して、画像を1次
元線状の正方格子上の標本点の濃度値(「1」と「O」
)の1次元配置として表現する.この様にして、「1」
または「0」の画素からなる2値化画像信号が得られる
. この発明による装置では、第1図の構成図に例示すよう
に、基準検出回路2において、センサ1から読み込まれ
て入力された画像信号から基準位置を検出し、更に、分
割手段3で、検知された基準位置より、対象物毎に入力
画像信号を分割する.ついで、画像処理千段4で、分割
された入力画像信号毎に並列に爾像処理する.従って、
個々の検査対象物を識別する操作は行なわれない.ここ
で、得られた入力信号から被検査対象に欠陥があるか否
かの判断は、例えば、各被検査対象別に入力信号を分割
し、分割した信号中に有意画素(「1』の画素〉の数を
カウントしその数から判断して行なうことができる. [実施例] 以下に、この発明を実施例に基づき具体的に説明するが
、この発明はその要旨を超えない限り以下の例に限定さ
れるものではない. この発明による検査装置の一実施例を、第2図に示すブ
ロック図を用いて説明する.この例は、第3図に示すよ
うな1ラインに3個づつの並んでFTP包装された錠剤
が高速で移動するものが、被検査対象である場合である
. この実施例の態様では、3つの錠剤が包装されたパッケ
ージの左隅、すなわちエッジの位置が、分割の始点とな
る基準位置として検出され、錠剤の間隔毎に分割される
.この錠剤間隔は、予めの測定により、マニュアルによ
る設定若しくは自動設定により行なうことができる. 3個の錠剤が包装されたパッケージ毎に、そのエッジの
位置が変動するので、この態様では、予め標準位置を定
めておく.この標準位置設定は、例えば、マニュアルに
より、若しくは、事前の試験走査により行なうことがで
きる.例えば、第3図に示すように、この欅準位置を設
定し、この標準位置からの実際位置のズレΔXを、標準
分割点xi.x2およびX3に加算して分割すべき位置
を演算する.第2図に示す装置例では、所定の間隔を置
いて並列に位置しかつ高速に移動する包装された3個の
錠剤を、横断方向に走査してその画像信号を読,み込む
センサ1と、読み込まれた入力信号を2値化する2値化
回路20と、デジタル入力信号からパッケージエッジを
検出しその実際の位置と標準位置とのズレから分割アド
レスを演算するためにCPU21に信号を送出するパッ
ケージエッジ検出回路22と、実際のエッジ位置および
分割点のデータを記録する分割アドレスI〜■と、画素
アドレスをカウントする画素アドレスカウンタ23から
の画素アドレス信号と分割アドレスとを比較し、一致す
ると入力画像信号が分割され各々が画像処理されるよう
にする一致検出回路24と、分割された入力信号毎に並
列に画像処理する面積演算回路25とを備える.ついで
、この例の装置の作用・動作を説明する.先ず、走査す
るセンサ1から、3つの錠剤が包装され、高速に移動す
るパッケージの画像信号が読み込まれる.読み込まれた
データは、2値化回路20で、「1」または「0」の画
素からなる2値化画像信号に変換される. 2値化された画像入力信号は、パッケージエッジ検出回
路22に送入され、適当なji像処理によりパッケージ
のエッジの左隅、すなわち基準位置が検出される.パッ
ケージのエッジが検出されるとその位置はCPU2 1
によってアクセスされ、予め設定されている標準位置の
分割点、第3図に例示するxO、xi, x2、x3お
よびX4と実際位置とのズレΔXが演算され、分割アド
レス■〜■に新たな実際のデ−タ値(xf+Δx.x2
+Δx,x3+ΔXおよびX4+ΔX)が決定され、ラ
ッチされる.この分割アドレスIには、第1の分割点の
アドレス値xi+ΔXがラッチされ、また分割アドレス
■には、第2の分割点x2+ΔXが割り当てられる.こ
の第1のアドレス値は、画素アドレスカウンタ23から
の位置データと対比されて、これと一致するとセレクタ
により分割された入力信号が面積演算回路Iに入力され
、ついで画素アドレスカウンタ23からの位置データと
分割アドレス■のデータと対比され、一致すると以後は
、分割された入力信号が面積演算回路■に送入される. 各々の面積演算回路で、分割された入力信号に所定の画
像処理がなされる. 同様に、以後、分割アドレス■〜■のデータ値(x3+
ΔXおよびx4+ΔX)により、入力信号が分割され、
分割された入力信号毎に、各々の面積演算回路で並列に
画像処理がなされる. 得られた入力信号から被検査対象に欠陥があるか否かの
判断は、例えば、各被検査対象別に入力信号を分割し、
分割した信号中に有意画素(「1』の画素)の数をカウ
ントしその数から判断して行なうことができる. この発明は、上記の例に限定されず、更に種々の変形態
様が可能である.例えば、上記の実施例では、パッケー
ジエッジを基準位置として利用したが、錠剤などの被対
象物のエッジを基準位置として利用することもできる. 対象物のエッジの位置が対象物の形状により異なり、エ
ッジとして検出することがむずかしい場合、また、蛇行
するように対象物が複数列に移動する場合、本発明によ
る検査装置に更に、数ライン分のメモリを設け、分割ア
ドレスが決定できる情報が揃った状態で入力信号の分割
を開始するようにすること、若しくは、通過し記録され
た対象位置より予測して入力信号の分割を開始するよう
にすることもできる.この発明による検査装置により、
複数列に並んで高速に流れる対象物の欠陥を、効率的に
、インラインで検査処理することができる.
【図面の簡単な説明】
第1図は、この発明の欠陥検査装置の構成図、第2図は
、実施例のブロック図、第3図は、分割点の説明図であ
る. 1・・・センサ、2..,基準検出回路、3・・・分割
手段、4...¥i像処理手段、20・・・2値化回路
、2 1 ...Cpu、22...パッケージエッジ
検出回路、2 3 ...画素アドレスカウンタ、24
...一致検出回路、25...面積演算回路.

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、所定の間隔をおいて並列に位置しかつ高速に移動す
    る複数列の対象物を、横断方向に走査して画像信号を読
    み込むセンサと、 読み込まれた画像信号から基準位置を検出する基準検出
    回路と、 検知された基準位置より、該対象物毎に該画像信号を分
    割する分割手段と、 分割された画像信号毎に並列に画像処理する処理手段と
    からなることを特徴とする欠陥検査装置。
JP1159036A 1989-06-21 1989-06-21 欠陥検査装置 Pending JPH0324671A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1159036A JPH0324671A (ja) 1989-06-21 1989-06-21 欠陥検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1159036A JPH0324671A (ja) 1989-06-21 1989-06-21 欠陥検査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0324671A true JPH0324671A (ja) 1991-02-01

Family

ID=15684847

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1159036A Pending JPH0324671A (ja) 1989-06-21 1989-06-21 欠陥検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0324671A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011002263A (ja) * 2009-06-16 2011-01-06 Toyo Glass Co Ltd ガラス製品のゴブ検査装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2011002263A (ja) * 2009-06-16 2011-01-06 Toyo Glass Co Ltd ガラス製品のゴブ検査装置

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