JPH03245548A - Soldering inspecting device - Google Patents

Soldering inspecting device

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JPH03245548A
JPH03245548A JP4324090A JP4324090A JPH03245548A JP H03245548 A JPH03245548 A JP H03245548A JP 4324090 A JP4324090 A JP 4324090A JP 4324090 A JP4324090 A JP 4324090A JP H03245548 A JPH03245548 A JP H03245548A
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JP
Japan
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printed circuit
circuit board
soldering
inspection
slit
Prior art date
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Pending
Application number
JP4324090A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Nobuaki Kakimori
伸明 柿森
Yuichi Yamamoto
裕一 山本
Makoto Kishimoto
真 岸本
Sachikuni Takahashi
高橋 祐邦
Toshihiro Harada
原田 登志太
Yutaka Iwata
裕 岩田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
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Publication of JPH03245548A publication Critical patent/JPH03245548A/en
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Abstract

PURPOSE:To inspect correctly a soldered state without being affected by the installation positions of mounting components by a method wherein the installation positions of the electronic components are detected from the discontinuous parts of slit patterns, which are irradiated by a slit light source, on a printed board and the position of an inspection window is corrected. CONSTITUTION:A pair of slit light sources 6 are controlled by a slit light source controller 8 to emit light in an installation position inspecting mode, and slit patterns 13x and 13y in X and Y axial directions are formed on a printed board 1. These patterns seen from directly over the patterns are discontinuous. A CPU 10 reads out image data stored in an image memory 11, detects discontinuous parts of the patterns 13x and 13y in respect to the X and Y axial directions, finds the forms of the outer contours of electronic components 2 from the result of the detection and detects the installation positions of the components 2 from the central positions of the forms. The CPU reads out data on the installation positions, which is used as a reference on the components 2, from a CAD database 12 and compares the data with reference data. The CPU corrects the positions of the components 2 on the basis of information on the positional deviation of the components 2 and a soldered state is inspected.

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、プリント基板上に実装された電子部品の半田
付は状態を検査する半田付は検査装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION <Industrial Application Field> The present invention relates to a soldering inspection device for inspecting the soldering condition of electronic components mounted on a printed circuit board.

〈従来の技術〉 IC、コンデンサ、抵抗等の電子部品を各種の電子機器
に組み込む場合、その組み込みは、通常は配線が施され
たプリント基板に電子部品を実装することにより行われ
る。電子部品の組み込まれれた電子機器が正常に動作す
るためには、電子機器に組み込まれた電子部品が良品で
なければならないことは勿論であるが、たとえ各電子部
品が良品であっても、それらがプリント基板上の所定位
置に正しく搭載され、なおかっ、半田付は後は、半田が
適正箇所に付着されていることが必要である。そのため
、プリント基板上に実装された電子部品に対しては、装
着位置の検査と、半田付は状態の検査とが実施される。
<Prior Art> When electronic components such as ICs, capacitors, and resistors are incorporated into various electronic devices, the incorporation is usually performed by mounting the electronic components on a printed circuit board provided with wiring. It goes without saying that in order for an electronic device with built-in electronic components to operate properly, the electronic components built into the electronic device must be of good quality, but even if each electronic component is of good quality, It is necessary that the solder is correctly mounted on the printed circuit board at a predetermined position, and that the solder is attached to the proper location after soldering. Therefore, electronic components mounted on printed circuit boards are inspected for their mounting positions and soldering conditions.

プリント基板上に実装された電子部品の装着位置および
半田付は状態を検査する方法として、従来は、検査員に
よる目視検査、検査装置を用いた自動検査の2種類が採
用されていた。しかるに、検査員による目視検査では、
疲労による見落としや検査ミスを生じるばかりでなく、
個人差による検査精度のばらつきが避けられず、何より
も検査員の負担が大きい非能率作業であるという基本的
問題がある。そのため、最近は検査装置を用いた自動検
査の導入が盛んに進められており、その検査装置は、プ
リント基板上の電子部品なりその半田接合部なりに検査
ウィンドウを設定して検査を行うようになっている。
Conventionally, two methods have been used to inspect the mounting position and soldering condition of electronic components mounted on a printed circuit board: visual inspection by an inspector and automatic inspection using an inspection device. However, during visual inspection by inspectors,
Not only can oversights and inspection errors occur due to fatigue, but
The basic problem is that variations in inspection accuracy due to individual differences are unavoidable, and above all, it is inefficient work that places a heavy burden on inspectors. Therefore, the introduction of automatic inspection using inspection equipment has recently been actively promoted, and the inspection equipment can set inspection windows for electronic components on printed circuit boards and their solder joints. It has become.

〈発明が解決しようとする課題〉 ところが、従来の自動検査装置は、電子部品の装着位置
を検査する部品位置検査装置と、半田付は状態を検査す
る半田付は検査装置とに分かれているものが多く、半田
付は検査装置に電子部品の装着位置を検査する機能はな
い。また、両者が合体した装置も、部品位置検査と半田
付は検査とを別々の処理で実施するようになっている。
<Problems to be Solved by the Invention> However, conventional automatic inspection devices are divided into a component position inspection device that inspects the mounting position of electronic components, and a soldering inspection device that inspects the soldering condition. For soldering, inspection equipment does not have a function to inspect the mounting position of electronic components. Further, even in a device in which both are combined, component position inspection and soldering inspection are carried out in separate processes.

そのため、従来の自動検査装置で半田付は状態を検査す
ると、検査対象電子部品がプリント基板上の正規の位置
に装着されている場合には、検査ウィンドウが電子部品
の半田接合部に正しくかがるため判定に問題はない。し
かし、検査対象電子部品に位置ずれが生じている場合に
は、検査ウィンドウが半田接合部に正確にががらないた
めに、半田付は状態を正しく判定できないという問題が
あった。特に最近は、電子部品の小型化、実装の高密度
化、QFP等のファインピッチ化が進み、従来の自動検
査装置では対応が困難になってきているのが実情である
Therefore, when inspecting the state of soldering with conventional automatic inspection equipment, if the electronic component to be inspected is mounted in the correct position on the printed circuit board, the inspection window will be correctly placed over the solder joint of the electronic component. There is no problem with the judgment. However, if there is a positional shift in the electronic component to be inspected, there is a problem in that the inspection window does not fit into the solder joint accurately, making it impossible to accurately determine the soldering condition. Particularly in recent years, electronic components have become smaller, their packaging has become more dense, and QFPs have become finer pitched, making it difficult for conventional automatic inspection equipment to cope with the trend.

本発明は、かかる実情に鑑みて創案されたものであり、
その目的は、プリント基板上の実装部品の装着位置によ
る影響を受けずに、その半田付は状態を正確に検査でき
る半田付は検査装置を提供することにある。
The present invention was created in view of such circumstances,
The purpose is to provide a soldering inspection device that can accurately inspect the soldering condition without being affected by the mounting position of the mounted component on the printed circuit board.

〈課題を解決するための手段〉 本発明にかかる半田付は検査装置は、プリント基板上に
実装された電子部品の半田接合部に検査ウィンドウを設
定して半田付は状態を検査する半田付は状態検査装置で
あって、スリット光を斜め上方からプリント基板へ照射
するスリット光源と、前記プリント基板を真上から落射
照明する落射照明光源と、これらの光源により照明され
るプリント基板のパターン像を撮像する撮像手段と、該
撮像手段が出力するパターン像についての画像信号を処
理し、スリット光源駆動時のパターン像より検出したプ
リント基板上の実装部品の装着位置データに基づいて前
記検査ウィンドウを位置修正し、位置修正された検査ウ
ィンドウにおいて、落射照明光源駆動時のパターン像の
明暗から半田付は状態を検出する画像処理手段とを具備
している。
<Means for Solving the Problems> A soldering inspection apparatus according to the present invention sets an inspection window at a solder joint of an electronic component mounted on a printed circuit board to inspect the soldering condition. The condition inspection device includes a slit light source that irradiates a printed circuit board with slit light from diagonally above, an epi-illumination light source that illuminates the printed circuit board from directly above, and a pattern image of the printed circuit board that is illuminated by these light sources. Processes the image signal of the image pickup means to take an image and the pattern image outputted by the image pickup means, and positions the inspection window based on the mounting position data of the mounted component on the printed circuit board detected from the pattern image when the slit light source is driven. The inspection window whose position has been corrected is equipped with image processing means for detecting the state of soldering from the brightness and darkness of the pattern image when the epi-illumination light source is driven.

〈作用〉 スリット光源の駆動により、スリット光がプリント基板
上に斜め上方から投影されて、プリント基板上にスリッ
トパターンが形成される。プリント基板上では、電子部
品が立体形状を呈しているので、撮像手段が撮像するス
リットパターン像は、電子部品とプリント基板との境界
で不連続になる。
<Operation> By driving the slit light source, slit light is projected onto the printed circuit board from diagonally above, thereby forming a slit pattern on the printed circuit board. Since the electronic component has a three-dimensional shape on the printed circuit board, the slit pattern image captured by the imaging means becomes discontinuous at the boundary between the electronic component and the printed circuit board.

従って、スリット光源により照明されたプリント基板上
のスリットパターンの不連続から、電子部品の装着位置
が検出される。電子部品の装着位置についてのデータは
、検査ウィンド′つの位置修正に用いられる。
Therefore, the mounting position of the electronic component is detected from the discontinuity of the slit pattern on the printed circuit board illuminated by the slit light source. Data regarding the mounting position of the electronic component is used to correct the position of the inspection window.

落射照明光源の駆動時には、プリント基板が垂直下向き
の光束により照明される。電子部品の表面およびプリン
ト基板の表面では、光束は元来た方向に反射されるのに
対し、電子部品の半田接合部では、半田層の表面が傾斜
しているために、光束は元来た以外の方向に反射される
。そのため、撮像手段が撮像する半田接合部についての
パターン像は暗くなり、その部分に半田が存在しなけれ
ば明るくなる。従って、そのパターン像の明暗からはん
だの有無が検出される。
When the epi-illumination light source is driven, the printed circuit board is illuminated by a vertically downward light beam. On the surface of electronic components and on the surface of printed circuit boards, the light flux is reflected back to its original direction, whereas at the solder joints of electronic components, the surface of the solder layer is inclined, so the light flux is reflected back to its original direction. reflected in other directions. Therefore, the pattern image of the solder joint portion imaged by the imaging means becomes dark, and becomes bright if there is no solder in that portion. Therefore, the presence or absence of solder can be detected from the brightness and darkness of the pattern image.

〈実施例〉 以下、図面を参照して本発明にががる半田付は検査装置
の一実施例を説明する。第1図は半田付は検査装置の概
略構成図、第2図はプリント基板上におけるスリット光
の投影状態を示す平面図、第3図および第4図はプリン
ト基板上における検査ウィンドウの設定状態を示す平面
図、第5図および第6図は落射照明による半田付は検査
原理を説明するための側面図である。
<Embodiment> Hereinafter, an embodiment of the soldering inspection apparatus according to the present invention will be described with reference to the drawings. Figure 1 is a schematic configuration diagram of the soldering inspection equipment, Figure 2 is a plan view showing the projection state of the slit light on the printed circuit board, and Figures 3 and 4 are the settings of the inspection window on the printed circuit board. The plan view and FIGS. 5 and 6 are side views for explaining the principle of inspecting soldering using epi-illumination.

半田付は検査装置は、第1図に示すように、プリント基
板1のパターン像を撮像する撮像手段たるCCDカメラ
3を備えている。CCDカメラ3は、XYステージ4上
に載置されたプリント基板1を真上から撮像するように
なっている。XYステージ4は、CPUl0の指示によ
りステージコントローラ5を通じて制御される。プリン
ト基板1上には、多数個の電子部品2が実装され、その
装着位置や半田付は状態が検査の対象になる。
As shown in FIG. 1, the soldering inspection apparatus is equipped with a CCD camera 3 serving as an image capturing means for capturing a pattern image of a printed circuit board 1. The CCD camera 3 is configured to image the printed circuit board 1 placed on the XY stage 4 from directly above. The XY stage 4 is controlled through the stage controller 5 according to instructions from the CPU10. A large number of electronic components 2 are mounted on the printed circuit board 1, and their mounting positions and soldering conditions are subject to inspection.

CCDカメラ3の周囲には、−組のスリット光源6およ
び6が配設されている。また、CCDカメラ3のレンズ
部周囲には、環状の落射照明光源7が配設されている。
A pair of slit light sources 6 and 6 are arranged around the CCD camera 3. Further, an annular epi-illumination light source 7 is arranged around the lens portion of the CCD camera 3.

スリット光源6および6は、CPtJloの指示により
スリット光源コントローラ8を通じて制御され、プリン
ト基板1上に斜め上方から複数本の平行なX軸方向およ
びY軸方向のスリット光をそれぞれ投影させる。落射照
明光源8は、cpuioの指示により落射照明光源コン
トローラ9を通して制御され、プリント基板1を真上か
ら垂直下向きの光束により落射照明する構成になってい
る。CCDカメラ3は、これらの光源の駆動によりプリ
ント基板l上に形成されるパターン像を撮像する。
The slit light sources 6 and 6 are controlled by the slit light source controller 8 according to instructions from CPtJlo, and project a plurality of parallel slit lights in the X-axis direction and the Y-axis direction onto the printed circuit board 1 from diagonally above. The epi-illumination light source 8 is controlled by the epi-illumination light source controller 9 according to instructions from the cpuio, and is configured to epi-illuminate the printed circuit board 1 with a vertically downward beam of light from directly above. The CCD camera 3 captures a pattern image formed on the printed circuit board 1 by driving these light sources.

CCDカメラ3が撮像したプリント基板lのパターン像
は、画像メモ1月1に一旦格納される。CPUl0は、
上述した光源制御を行う他、画像処理手段を構成してい
て、ここで、画像メモリ11が保持する画像データおよ
びCADデータベース12に記憶されているデータに基
づいて、プリント基板1上に実装された電子部品2の装
着位置、半田有無の検出・判定を実行するようになって
いる。CADデータベース12が記憶するデータは、検
査の標準となるプリント基板1の設計データ、すなわち
電子部品2の装着位置や半田付は位置等についてのデー
タである。
The pattern image of the printed circuit board l captured by the CCD camera 3 is temporarily stored in the image memo January 1. CPU10 is
In addition to performing the above-mentioned light source control, it constitutes an image processing means, and here, based on the image data held in the image memory 11 and the data stored in the CAD database 12, the The mounting position of the electronic component 2 and the presence or absence of soldering are detected and determined. The data stored in the CAD database 12 is design data of the printed circuit board 1 that serves as a standard for inspection, that is, data regarding the mounting position of the electronic component 2, the soldering position, etc.

上記半田付は検査装置は、プリント基板1上に実装され
た電子部品2の装着位置を検査した後、その検査結果に
基づいて検査ウィンドウを適宜位置修正し、しかる後に
半田付は状態の検査を実行する。その手順を以下に説明
する。
The soldering inspection device inspects the mounting position of the electronic component 2 mounted on the printed circuit board 1, adjusts the position of the inspection window appropriately based on the inspection result, and then inspects the soldering condition. Execute. The procedure will be explained below.

(1)装着位置検査 図外のコンソールで装着位置検査モードが選択されると
、スリット光源コントローラ8の制御によってスリット
光源6および6が発光し、プリント基板l上には、第2
図に示すように、X軸方向およびY軸方向のスリットパ
ターン13xおよび13yが形成される。プリント基板
1上に実装された電子部品2は立体形状を呈し、プリン
ト基板l上には、ライン状のスリット光が斜め方向から
投影される。そのために、電子部品2の外郭部における
電子部品2とプリント基板1との境界では、真上方向か
ら見たスリットパターン13xおよび13yが不連続に
なる。CPUl0は、画像メモリ11に格納された画像
データを読み出して、スリットパターン13xおよび1
3yの不連続部分をX軸方向およびY軸方向について検
出し、その結果から電子部品2の外郭形状を求め、その
中心位置より電子部品2の装着位置を検出する。
(1) Mounting position inspection When the mounting position inspection mode is selected on a console outside the diagram, the slit light sources 6 and 6 emit light under the control of the slit light source controller 8, and the second
As shown in the figure, slit patterns 13x and 13y in the X-axis direction and the Y-axis direction are formed. The electronic component 2 mounted on the printed circuit board 1 has a three-dimensional shape, and a line-shaped slit light is projected onto the printed circuit board l from an oblique direction. Therefore, at the boundary between the electronic component 2 and the printed circuit board 1 in the outer part of the electronic component 2, the slit patterns 13x and 13y become discontinuous when viewed from directly above. CPU10 reads out the image data stored in the image memory 11 and creates slit patterns 13x and 1.
3y discontinuous portions are detected in the X-axis direction and the Y-axis direction, the outer shape of the electronic component 2 is determined from the results, and the mounting position of the electronic component 2 is detected from the center position.

以上の方法により、電子部品2の装着位置が検出される
と、CPUl0は、その電子部品2についての標準とな
る装着位置のデータをCADデータヘース12から読み
出し、その標準データと検出データとを比較する。電子
部品2が正規の位置に装着されている場合には、第3図
に示すように、半田付は状態の検査に際して、その検査
ウィンドウWが電子部品2の半田接合部に正確にががる
。従って、検査ウィンドウWは、この位置のままで半田
付は状態の検査に備える。
When the mounting position of the electronic component 2 is detected by the above method, the CPU 10 reads the standard mounting position data for the electronic component 2 from the CAD data base 12, and compares the standard data with the detected data. . When the electronic component 2 is installed in the correct position, as shown in FIG. . Therefore, the inspection window W remains in this position in preparation for inspection of the soldering condition.

電子部品2が正規の位置に装着されていない場合には、
第4図に示すように、電子部品2の半田接合部に検査ウ
ィンドウWが正確にががらない。
If the electronic component 2 is not installed in the correct position,
As shown in FIG. 4, the inspection window W does not fit into the solder joint of the electronic component 2 accurately.

そこで、CPUl0は、正規の位置に装着されていない
電子部品2の標準位置からの位置ずれ情報に基づいて、
電子部品2の半田接合部に検査ウィンドウWが正確にか
がるようにその位置を修正して、半田付は状態の検査に
備える。
Therefore, based on the positional deviation information from the standard position of the electronic component 2 that is not installed in the normal position, the CPU10
The position of the inspection window W is corrected so that it accurately covers the solder joint of the electronic component 2, and the soldering state is prepared for inspection.

(2)半田付は状態検査 図外のコンソール上で半田付は状態の検査モードが選択
されると、CPUl0の指示に基づく落射照明光源コン
トローラ9の制御によって落射照明光源8が作動する。
(2) Soldering Status Inspection When the soldering status inspection mode is selected on the console outside the diagram, the epi-illumination light source 8 is activated under the control of the epi-illumination light source controller 9 based on instructions from the CPU10.

これにより、垂直下向きの光束によりプリント基板1が
照明される。プリント基板1が落射照明されると、プリ
ント基板l上の電子部品2が半田で正しく接合されてい
る場合には、第5図に示すように、半田接合部2aの表
面が傾斜しているために、光は元来た方向には反射しな
い。従って、CCDカメラ3が撮像した半田接合部2a
の真上からのパターン像は暗くなる。
As a result, the printed circuit board 1 is illuminated by a vertically downward light beam. When the printed circuit board 1 is epi-illuminated, if the electronic components 2 on the printed circuit board l are properly soldered, the surface of the solder joint 2a will be inclined, as shown in FIG. In other words, the light is not reflected back to its original direction. Therefore, the solder joint 2a imaged by the CCD camera 3
The pattern image viewed from directly above becomes dark.

半田が付着すべき部分に半田がない場合には、第6図に
示すように、その部分で光は元来た方向に反射する。従
って、CCDカメラ3が撮像したその部分の真上からの
パターン像は明るくなる。
If there is no solder in the area where solder should be attached, the light will be reflected back to the original direction at that area, as shown in FIG. Therefore, the pattern image taken by the CCD camera 3 from directly above that portion becomes brighter.

CPUl0は、各検査ウィンドウWに対して明度測定を
行い、測定明度が所定値以下の場合に「はんだ有り(良
)」と判定し、そうでない場合に「はんだ無しく不良)
」と判定する。
CPUl0 measures the brightness of each inspection window W, and if the measured brightness is below a predetermined value, it is determined as "solder present (good)", otherwise it is determined as "defective without solder".
”.

以上の手順により、プリント基板上に実装された電子部
品の装着位置および半田付は状態について、自動検査が
可能になる。しかも、装着位置検査で得た電子部品の装
着位置情報に基づいて、半田付は状態の検査における検
査ウィンドウの位置を修正するので、電子部品の小型化
、実装の高密度化、QFP等のファインピッチ化が進む
昨今にあっても、信顧性の高い検査を高速で行うことが
できる。
The above procedure enables automatic inspection of the mounting position and soldering condition of electronic components mounted on a printed circuit board. Moreover, soldering corrects the position of the inspection window during condition inspection based on the mounting position information of the electronic components obtained from the mounting position inspection. Even in today's world where the number of pitches is increasing, highly reliable inspections can be performed at high speed.

〈発明の効果〉 以上に説明したように、本発明にかかる半田付は検査装
置による場合には、プリント基板上に実装された電子部
品の半田付は状態が自動で高速に検査される。しかも、
その検査に際しては、スリット光による装着位置検査で
得た電子部品の装着位置情報に基づいて、検査ウィンド
ウの位置が修正されるので、電子部品の小型化、実装の
高密度化、QFP等のファインピッチ化が進む昨今にあ
っても、信顧性の高い検査を行うことができる。
<Effects of the Invention> As described above, when the soldering inspection apparatus according to the present invention is used, the condition of the soldering of electronic components mounted on a printed circuit board can be inspected automatically and at high speed. Moreover,
During the inspection, the position of the inspection window is corrected based on the mounting position information of the electronic components obtained from the mounting position inspection using slit light. Even in these days when pitching is becoming more common, we are able to conduct highly reliable inspections.

更に、スリット光源、落射照明光源のいずれにも一般照
明を用いることができるので、高精度な割に装置価格が
安く、また、その照射範囲が広いので、同−視野内に複
数の検査ウィンドウが設定でき、この面からも検査の高
速化が図られる。
Furthermore, since general lighting can be used as both the slit light source and the epi-illumination light source, the equipment price is low despite its high precision, and its wide irradiation range makes it possible to use multiple inspection windows within the same field of view. This aspect also helps speed up the inspection.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図から第6図にかけては本発明にかかる半田付は検
査装置の一実施例を説明するための図面で、第1図は半
田付は検査装置の概略構成′図、第2図はプリント基板
上におけるスリット光の投影状態を示す平面図、第3図
および第4図はプリント基板上における検査ウィンドウ
の設定状態を示す平面図、第5図および第6図は落射照
明による半田付は検査原理を説明するための側面図であ
る。 ・・プリント基板 ・・電子部品 ・・半田接合部 ・・撮像手段 ・・スリット光源 ・・落射照明光源 第11!l 第2図 2 第4図 第5図
1 to 6 are drawings for explaining an embodiment of the soldering inspection device according to the present invention, and FIG. 1 is a schematic diagram of the soldering inspection device, and FIG. 2 is a printout. A plan view showing the projection state of the slit light on the board, Figures 3 and 4 are plan views showing the setting state of the inspection window on the printed circuit board, and Figures 5 and 6 show the inspection of soldering using epi-illumination. FIG. 3 is a side view for explaining the principle. ...Printed circuit board, electronic component, solder joint, imaging means, slit light source, epi-illumination light source No. 11! l Figure 2 Figure 2 Figure 4 Figure 5

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)プリント基板上に実装された電子部品の半田接合
部に検査ウィンドウを設定して半田付け状態を検査する
半田付け状態検査装置であって、スリット光を斜め上方
からプリント基板へ照射するスリット光源と、前記プリ
ント基板を真上から落射照明する落射照明光源と、これ
らの光源により照明されるプリント基板のパターン像を
撮像する撮像手段と、当該撮像手段が出力するパターン
像についての画像信号を処理し、スリット光源駆動時の
パターン像より検出したプリント基板上の実装部品の装
着位置データに基づいて前記検査ウィンドウを位置修正
し、位置修正された検査ウィンドウにおいて、落射照明
光源駆動時のパターン像の明暗から半田付け状態を検出
する画像処理手段とを具備することを特徴とする半田付
け検査装置。
(1) A soldering condition inspection device that inspects the soldering condition by setting an inspection window on the soldered joints of electronic components mounted on a printed circuit board, with a slit that irradiates the printed circuit board with slit light from diagonally above. a light source, an epi-illumination light source that epi-illuminates the printed circuit board from directly above, an imaging means for capturing a pattern image of the printed circuit board illuminated by these light sources, and an image signal regarding the pattern image output by the imaging means. The position of the inspection window is corrected based on the mounting position data of the mounted components on the printed circuit board detected from the pattern image when the slit light source is activated. 1. A soldering inspection device comprising: an image processing means for detecting a soldering state from brightness and darkness of the soldering inspection device.
JP4324090A 1990-02-23 1990-02-23 Soldering inspecting device Pending JPH03245548A (en)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20010108632A (en) * 2000-05-30 2001-12-08 한종훈 Apparatus and Method for Inspecting Solder Ball of Semiconductor Device
WO2013077325A1 (en) 2011-11-24 2013-05-30 三菱商事株式会社 Negative-electrode material for nonaqueous electrolyte secondary battery, and method for producing same

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