JPH0316377A - 2値画像の縮小方法及び装置 - Google Patents
2値画像の縮小方法及び装置Info
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- JPH0316377A JPH0316377A JP1149411A JP14941189A JPH0316377A JP H0316377 A JPH0316377 A JP H0316377A JP 1149411 A JP1149411 A JP 1149411A JP 14941189 A JP14941189 A JP 14941189A JP H0316377 A JPH0316377 A JP H0316377A
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 38
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 5
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 abstract description 3
- 230000004044 response Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 13
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 12
- 238000004321 preservation Methods 0.000 description 6
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 5
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 4
- 240000005528 Arctium lappa Species 0.000 description 1
- 235000014121 butter Nutrition 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000011946 reduction process Methods 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T3/00—Geometric image transformations in the plane of the image
- G06T3/40—Scaling of whole images or parts thereof, e.g. expanding or contracting
- G06T3/4007—Scaling of whole images or parts thereof, e.g. expanding or contracting based on interpolation, e.g. bilinear interpolation
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(発明の技術分野)
本発明は2値画像の縮小画像の作戒処理に関する。
(従来技術と発明が解決しようとする従来技術の問題点
) 現在のG4ファクシミリでは紙サイズとしてISo
A4、130 B4、130 A3の各サイズの解
像度として200pp i (Pe Is/inch)
、240pp i,300pp i、400pPiが標
準化されている。このように種々の紙サイズ、種々の解
像度の画像がファクシミリでは利用されており、紙サイ
ズ、解像度の異なる画像の相互通信を可能とするために
解像度変換(画像縮小方式)が必須の技術となっている
。従来より種々の画像縮小方式が検討されている。代表
的な方式として以下のような方式がある。
) 現在のG4ファクシミリでは紙サイズとしてISo
A4、130 B4、130 A3の各サイズの解
像度として200pp i (Pe Is/inch)
、240pp i,300pp i、400pPiが標
準化されている。このように種々の紙サイズ、種々の解
像度の画像がファクシミリでは利用されており、紙サイ
ズ、解像度の異なる画像の相互通信を可能とするために
解像度変換(画像縮小方式)が必須の技術となっている
。従来より種々の画像縮小方式が検討されている。代表
的な方式として以下のような方式がある。
■SPC法(午坊、桐原:ファクシミリ線密度変換の一
方式、画電会学会全大、第7巻、第1号、(昭和53)
) 縮小画像面の画素に最も近い原画像上の画素の値で代表
させる方式である。
方式、画電会学会全大、第7巻、第1号、(昭和53)
) 縮小画像面の画素に最も近い原画像上の画素の値で代表
させる方式である。
■投影法(例えば、森田、小町、安田:投影法に基づく
高速画素密度変換方式、画電会学会誌、第11巻、第2
号、(昭和57)) 縮小画像面上の画素に投影される原画素の平均濃度を求
め、その値を闇値処理し画素の値を求める方式である。
高速画素密度変換方式、画電会学会誌、第11巻、第2
号、(昭和57)) 縮小画像面上の画素に投影される原画素の平均濃度を求
め、その値を闇値処理し画素の値を求める方式である。
一般にspc法、投影法は![1!IIAの保存性が良
くない。第1図にSPC法、投影法で細線が消滅する例
を示す。
くない。第1図にSPC法、投影法で細線が消滅する例
を示す。
また、細線保存の方式としてTP法(例えば、若林、川
西、安達:細線消去を防止した縮小変換法、信学会論文
誌D, Vol. J 7 0−D Nα4、(1
987.7))があるが、I1&’31、横線のみの保
存であり、斜め線の考慮はされていない。このように従
来の画像縮小方式は細線の保存性が悪いため画質劣化が
大きいという問題がある。
西、安達:細線消去を防止した縮小変換法、信学会論文
誌D, Vol. J 7 0−D Nα4、(1
987.7))があるが、I1&’31、横線のみの保
存であり、斜め線の考慮はされていない。このように従
来の画像縮小方式は細線の保存性が悪いため画質劣化が
大きいという問題がある。
(問題点を解決するための手段)
上述の点を考慮し、本発明は細線保存が可能な2値画像
の縮小方法及び装置を提供することを目的としている。
の縮小方法及び装置を提供することを目的としている。
この目的を達威するために、本発明の2値画像の縮小方
法及び装置は次のように構或されている。
法及び装置は次のように構或されている。
■ 所定数の画素よりなるパターンマトリックスのブロ
ックで原画像を順次区分して複数の2値画像ブロックを
抽出する第1のステップと、該複数の2値画像ブロック
のおのおのが予め設定された細線パターンに合致したと
きに該2値画像ブロックを細線ブロックとして検出する
第2のステップと、 該検出された細線ブロックを所定の縮小比率に応じた出
力画面上の位置に保存する第3のスチップと を含む2値画像の縮小方法。
ックで原画像を順次区分して複数の2値画像ブロックを
抽出する第1のステップと、該複数の2値画像ブロック
のおのおのが予め設定された細線パターンに合致したと
きに該2値画像ブロックを細線ブロックとして検出する
第2のステップと、 該検出された細線ブロックを所定の縮小比率に応じた出
力画面上の位置に保存する第3のスチップと を含む2値画像の縮小方法。
■ 所定数の画素よりなるパターンマトリックスのブロ
ックで原画像を順次区分して複数の2値画像ブロックを
抽出するブロック手段と、該複数の2値画像ブロックの
おのおのが予め設定された細線パターンに合致したとき
に該2値画像ブロックを細線ブロックとして検出する判
定手段と、 該検出された細線ブロックを所定の縮小比率に応じた出
力画面上の位置に保存する保存手段と を備えた2値画像の縮小装置。
ックで原画像を順次区分して複数の2値画像ブロックを
抽出するブロック手段と、該複数の2値画像ブロックの
おのおのが予め設定された細線パターンに合致したとき
に該2値画像ブロックを細線ブロックとして検出する判
定手段と、 該検出された細線ブロックを所定の縮小比率に応じた出
力画面上の位置に保存する保存手段と を備えた2値画像の縮小装置。
以下本発明を詳細に説明する。
第2図に示すような3×3のマスクパターンに合致する
かどうかで保存すべき細線かどうかを判断する.黒地に
白の細線パターンは第2図に示す3×3のマスクパター
ンの白黒反転パターンを用いて判断できる.簡単のため
以降は第2図のパターンのみを用いて説明する。
かどうかで保存すべき細線かどうかを判断する.黒地に
白の細線パターンは第2図に示す3×3のマスクパター
ンの白黒反転パターンを用いて判断できる.簡単のため
以降は第2図のパターンのみを用いて説明する。
鉋3図に示すように原画像と縮小画像の関係を定義する
。
。
R (M,N)(M,N=O.L 2.・・・):原画
像R(M,N)=l : 黒画素 R(M,N)−0 : 白画素 P ci,j)(i,j=0.1,2,・・・):縮小
画像P(i,j)=1: 黒画素 P(i,j)−0: 白画素 座標(M.N)は画素R (M,N)の中心に位置し、
座標(L j)は画素P(i,j)の中心に位置する
こととする。
像R(M,N)=l : 黒画素 R(M,N)−0 : 白画素 P ci,j)(i,j=0.1,2,・・・):縮小
画像P(i,j)=1: 黒画素 P(i,j)−0: 白画素 座標(M.N)は画素R (M,N)の中心に位置し、
座標(L j)は画素P(i,j)の中心に位置する
こととする。
原画像の縦横方向の画素間隔を1で正規化する。
横方向の縮小率、縦方向の縮小率はそれぞれα、βであ
ることから、縮小画像の横方向、縦方向の画素間隔は原
画像面ではα、βとなる。また、P(i,j)の縮小面
での座標をXis)’天と定義する.また、s.,t4
を以下のように定義する。
ることから、縮小画像の横方向、縦方向の画素間隔は原
画像面ではα、βとなる。また、P(i,j)の縮小面
での座標をXis)’天と定義する.また、s.,t4
を以下のように定義する。
S.ミ[χi] 一・−・・−・−・・(1)tJミ[
y,] ・・・・・・・・−・−・−(2〉[ ]は
ガウス記号 原画像面での座標(i,j)は縮小面で座標(Sl.t
j)に射影される。
y,] ・・・・・・・・−・−・−(2〉[ ]は
ガウス記号 原画像面での座標(i,j)は縮小面で座標(Sl.t
j)に射影される。
(アルゴリズム1)
アルゴリズム1の特徴を以下に示す。
■横方向の縮小率、縦方向の縮小率をそれぞれα,βと
すると、 α=M./N.(MX,N.は自然数、但し、M.−1
.・・・・N.−1) β=M,/Nア (My ,Nyは自然数、但し、M
y−1 ,・・・・N,−1)の縮小が可能である。
すると、 α=M./N.(MX,N.は自然数、但し、M.−1
.・・・・N.−1) β=M,/Nア (My ,Nyは自然数、但し、M
y−1 ,・・・・N,−1)の縮小が可能である。
■縮小画像面で細線消去することはない.■左から右、
上から下のスキャン方弐に従って原画像の画素を逐次処
理することができる。
上から下のスキャン方弐に従って原画像の画素を逐次処
理することができる。
ステップl:
縮小面R (m, n) (m, n=L 2+
3.−−−−)の全画素に0をセットする。
3.−−−−)の全画素に0をセットする。
i←1.j+1
ステップ2;
P(1.j)とその8近傍画素からなる3×3パターン
を求め第2図に示す3×3のマスクパターンと一敗する
か否かをチェックする。一致するならば R (Si .tj)←1 とする。
を求め第2図に示す3×3のマスクパターンと一敗する
か否かをチェックする。一致するならば R (Si .tj)←1 とする。
ステップ3:
i,jを更新させて次の画素のアドレスをセットする。
ステップ4:
全画素を処理したら終了する。そうでなければステップ
2へ移行する. アルゴリズム1は縮小面で細線が消去することはないが
線の幅が太くなることがある。
2へ移行する. アルゴリズム1は縮小面で細線が消去することはないが
線の幅が太くなることがある。
以下細線は縮小画像面でも細線として保存されるアルゴ
リズムを説明する。
リズムを説明する。
(アルゴリズム2)
アルゴリズム2の特徴を以下に示す。
■ 横方向の縮小率、縦方向の縮小率をそれぞれα,β
とすると、 a=Mx /Nx (Mx SNxは自然数、但し、
M.=1,・・・・ N .−1)β=M,/Ny
(My,Nyは自然数、但し、M,=1,・・・・ N
,−1)の縮小が可能である。
とすると、 a=Mx /Nx (Mx SNxは自然数、但し、
M.=1,・・・・ N .−1)β=M,/Ny
(My,Nyは自然数、但し、M,=1,・・・・ N
,−1)の縮小が可能である。
■ 縮小画像面で細線消去することはない。
■ ファクシミリで利用されている左から右、上から下
のスキャン方式に従って原画像の画素を逐次処理するこ
とができる。第4図に示すように細線判定パターンは3
種類に分類される。タイプA.,Bはそれぞれ基本的に
X, Y方向の線保存を考慮する必要がある。タイプC
はX, Y両方向の線保存を考慮する必要がある。
のスキャン方式に従って原画像の画素を逐次処理するこ
とができる。第4図に示すように細線判定パターンは3
種類に分類される。タイプA.,Bはそれぞれ基本的に
X, Y方向の線保存を考慮する必要がある。タイプC
はX, Y両方向の線保存を考慮する必要がある。
以下にアルゴリズムを説明する。
ステップ1:
縮小面R (m, n) (m.n−L 2+ 3
+・・・Jの全画素に10′をセットする。
+・・・Jの全画素に10′をセットする。
i←1.j”−1
ステップ2:
P(i.j)とその8近傍画素からなる3×3パターン
を求め、第4図に示す3×3のマスクパターンと一致す
るか否かをチュックする。一敗しなければステップ5へ
移行する。
を求め、第4図に示す3×3のマスクパターンと一致す
るか否かをチュックする。一敗しなければステップ5へ
移行する。
ステップ3:
R (Si l t.j) =1ならばステップ5へ
移行する。
移行する。
ステップ4:
以下の手順に従う。
タイプA(A−1〜A−5)の場合
R(si,tj)”l:R(Si,t=−1)=0(条
件A−a) タイプA−1,A−5の場合 R (St , tj )←1 :R (Si .
tj−1)=1かつ tj$tj+1 (条
件A−b)タイブB(B−1〜B−5)の場合 R(s▲l tJ)←1 :R (Si−1,tJ)
+R (Si +i, tj) =0 (条件B−a) タイブB−1の場合 R (Si ,tj)”−1 : R(st+1;
tj)=1かつ S1≠Si−+ (条件B−
b)タイブB−5の場合 R(s五,1j)←l :R(Si t,’、)=1
かつ S,≠S Ll1 (条件B−c)タイ
ブC−tの場合 R(st.tj)←1 : R (si 1, t
j)一〇かつ R (si .tJ 1)讃O (条件0−1a) R (Si+i+ jj )←i : R (si−1
. tJ)−0かつ R (Si .tj−1)−1 かつ tj≠1,や. (条件C−1b)R(si
,tjや,)←1:R(s五一1.tJ)−1かつ R
(si , t.j−1)冨Oかつ si −+1
=3曇。, (条件C−1c)タイプC−2の場合 R(SL.tl←1 :R (si 1,tj)+R
(s,+1.tj)−0 かつ R (si ,tj 1)=0 (条件C−2a) R ( s i。l+Lj)←1 : R (”s,+
1, tJ)−0かつ R (Si , t, −1
) =1かつ tj≠t J+I C条件C−
2 b)R (st. tJ+1 ) ←1
: R (S4 + 1, t,1 )=1かつ
R (Si ,tj 1)−0かつ Si≠Si−1
(条件C−2c)ステップ5: i.jを更新させて次の画素のアドレスをセットする。
件A−a) タイプA−1,A−5の場合 R (St , tj )←1 :R (Si .
tj−1)=1かつ tj$tj+1 (条
件A−b)タイブB(B−1〜B−5)の場合 R(s▲l tJ)←1 :R (Si−1,tJ)
+R (Si +i, tj) =0 (条件B−a) タイブB−1の場合 R (Si ,tj)”−1 : R(st+1;
tj)=1かつ S1≠Si−+ (条件B−
b)タイブB−5の場合 R(s五,1j)←l :R(Si t,’、)=1
かつ S,≠S Ll1 (条件B−c)タイ
ブC−tの場合 R(st.tj)←1 : R (si 1, t
j)一〇かつ R (si .tJ 1)讃O (条件0−1a) R (Si+i+ jj )←i : R (si−1
. tJ)−0かつ R (Si .tj−1)−1 かつ tj≠1,や. (条件C−1b)R(si
,tjや,)←1:R(s五一1.tJ)−1かつ R
(si , t.j−1)冨Oかつ si −+1
=3曇。, (条件C−1c)タイプC−2の場合 R(SL.tl←1 :R (si 1,tj)+R
(s,+1.tj)−0 かつ R (si ,tj 1)=0 (条件C−2a) R ( s i。l+Lj)←1 : R (”s,+
1, tJ)−0かつ R (Si , t, −1
) =1かつ tj≠t J+I C条件C−
2 b)R (st. tJ+1 ) ←1
: R (S4 + 1, t,1 )=1かつ
R (Si ,tj 1)−0かつ Si≠Si−1
(条件C−2c)ステップ5: i.jを更新させて次の画素のアドレスをセットする。
ステップ6:
全画素を処理したら終了する。そうでなければステップ
2へ移行する。
2へ移行する。
本アルゴリズム2において横方向の縮小率α、縦方向の
縮小率βを以下のように限定する。
縮小率βを以下のように限定する。
α=M./N. (M.,N.は自然数、但し、M
.=N./2,・・・・,N.−1)β一My /Ny
(My ,Nyは自然数、但し、M,=N,/2
,・・・・,Ny 1)この場合、第2図に示す3
×3マスクパターンに合致する場合にその中心にある画
素を細線を形戒する画素とよび、その細線を形或する画
素からなる画素列を細線と定義すれば、本アルゴリズム
2を用いることにより、細線は縮小画像でも細線として
保存される。
.=N./2,・・・・,N.−1)β一My /Ny
(My ,Nyは自然数、但し、M,=N,/2
,・・・・,Ny 1)この場合、第2図に示す3
×3マスクパターンに合致する場合にその中心にある画
素を細線を形戒する画素とよび、その細線を形或する画
素からなる画素列を細線と定義すれば、本アルゴリズム
2を用いることにより、細線は縮小画像でも細線として
保存される。
従って、縮小処理を複数回繰り返しても細線は保存され
る。よって、縮小率1/2以下の画像縮小はアルゴリズ
ム2を複数回繰り返して実現できる。
る。よって、縮小率1/2以下の画像縮小はアルゴリズ
ム2を複数回繰り返して実現できる。
従来の方式の欠点を補うために、第5図に示すように、
本アルゴリズムと融合化を図ることもできる。処理を行
う原画像上の画素が第2図に示す細線判定パターンに合
致する場合には本アルゴリズムを用い、その他の場合に
は従来の方式を用いて縮小画素を決定する。すなわちア
ルゴリズム1の場合には、第7図に示す細線保存アルゴ
リズムのブロックにステップ2の処理をアルゴリズム2
の場合にはステップ2〜4の処理を組み込めば良い
。
本アルゴリズムと融合化を図ることもできる。処理を行
う原画像上の画素が第2図に示す細線判定パターンに合
致する場合には本アルゴリズムを用い、その他の場合に
は従来の方式を用いて縮小画素を決定する。すなわちア
ルゴリズム1の場合には、第7図に示す細線保存アルゴ
リズムのブロックにステップ2の処理をアルゴリズム2
の場合にはステップ2〜4の処理を組み込めば良い
。
(実施例)
次に図を用いて発明の実施例を詳細に説明する。
第6図はアルゴリズム2を実行する回路構或のブロック
ダイヤグラムを示している。11,12,13,14.
15はそれぞれ原画像メモリ、縮小画像メモリ、アドレ
スセット回路、3×3マスクチ玉ツタ回路、画素値判定
回路を示している。まず、原画像メモリ11には処理す
べき画像がセットされる。アドレスセット回路13は、
原画像メモリ11内の処理すべき画素のアドレス、縮小
画像メモリ12内の画素のアドレスを管理している。
ダイヤグラムを示している。11,12,13,14.
15はそれぞれ原画像メモリ、縮小画像メモリ、アドレ
スセット回路、3×3マスクチ玉ツタ回路、画素値判定
回路を示している。まず、原画像メモリ11には処理す
べき画像がセットされる。アドレスセット回路13は、
原画像メモリ11内の処理すべき画素のアドレス、縮小
画像メモリ12内の画素のアドレスを管理している。
アドレスセット回路l3は原画像メモリll内の処理す
べき画素とその隣接8画素の値を3×3マスクチェック
回路14へ転送する。3×3マスクチェック回路14は
、その画素値が第2図に示すパターンに合致するかチェ
ックする。もし合致しない場合には、アドレスセット回
路13に次の画素の処理を指示する。合致する場合には
、画素値判定回路15に処理すべき画素とその隣接8画
素の値を転送する。アドレスセット回路13は、処理す
べき画素に関連する縮小画像メモリ12内の画素を読み
出し画素値判定回路15に転送する。
べき画素とその隣接8画素の値を3×3マスクチェック
回路14へ転送する。3×3マスクチェック回路14は
、その画素値が第2図に示すパターンに合致するかチェ
ックする。もし合致しない場合には、アドレスセット回
路13に次の画素の処理を指示する。合致する場合には
、画素値判定回路15に処理すべき画素とその隣接8画
素の値を転送する。アドレスセット回路13は、処理す
べき画素に関連する縮小画像メモリ12内の画素を読み
出し画素値判定回路15に転送する。
画素値判定回路15はアルゴリズム2のステップ3,4
に基づき縮小画素値を決定する。縮小画素値が1(つま
り細線保存の画素である)に決定された場合には縮小画
像メモリ12上の3×3マスクチェック回路14より受
信するアドレスにその値を書き込む。その後にアドレス
セット回路l3に次の画素の処理を指示する。縮小画素
値がO(すなわち細線保存の画素ではない)の場合には
アドレスセット回路13に次の画素の処理を指示する。
に基づき縮小画素値を決定する。縮小画素値が1(つま
り細線保存の画素である)に決定された場合には縮小画
像メモリ12上の3×3マスクチェック回路14より受
信するアドレスにその値を書き込む。その後にアドレス
セット回路l3に次の画素の処理を指示する。縮小画素
値がO(すなわち細線保存の画素ではない)の場合には
アドレスセット回路13に次の画素の処理を指示する。
第6図にはアルゴリズム2を実行するための回路構戒例
のブロックダイヤグラムを示したが、アルゴリズム1を
実行するための回路構戒例のブロックダイヤグラムは画
素値判定回路15の処理内容を変更するだけで容易に作
戒できる。
のブロックダイヤグラムを示したが、アルゴリズム1を
実行するための回路構戒例のブロックダイヤグラムは画
素値判定回路15の処理内容を変更するだけで容易に作
戒できる。
第7図はアルゴリズム2を従来方式と融合する場合の回
路構或例のブロックダイヤグラムを示している。11,
12,13,14,15.16はそれぞれ原画像メモリ
、縮小画像メモリ、アドレスセット回路、3×3マスク
チェック回路、画素値判定回路、従来の画像縮小方式回
路を示している.原画像メモリ11.縮小画像メモリ1
2.7ドレスセット回路13.画素値判定回路15は上
記第6図のそれらと同様の処理を行う。3×3マスクチ
ェック回路14は処理すべき画素とその隣接8画素の値
が第2図に示すパターンに合致するか否かをチェックす
る.合致する場合には、画素値判定回路15に処理すべ
き画素とその隣接8画素の値を転送する。もし合致しな
い場合には、従来の画像縮小方式回路16にその画素の
処理を指示する.従来の画像縮小方式回路16は必要な
画素値を原画像メモリ11,縮小画像メモリ12より読
み出し縮小画像値を決定し、縮小画像メモリ12に書き
込む。
路構或例のブロックダイヤグラムを示している。11,
12,13,14,15.16はそれぞれ原画像メモリ
、縮小画像メモリ、アドレスセット回路、3×3マスク
チェック回路、画素値判定回路、従来の画像縮小方式回
路を示している.原画像メモリ11.縮小画像メモリ1
2.7ドレスセット回路13.画素値判定回路15は上
記第6図のそれらと同様の処理を行う。3×3マスクチ
ェック回路14は処理すべき画素とその隣接8画素の値
が第2図に示すパターンに合致するか否かをチェックす
る.合致する場合には、画素値判定回路15に処理すべ
き画素とその隣接8画素の値を転送する。もし合致しな
い場合には、従来の画像縮小方式回路16にその画素の
処理を指示する.従来の画像縮小方式回路16は必要な
画素値を原画像メモリ11,縮小画像メモリ12より読
み出し縮小画像値を決定し、縮小画像メモリ12に書き
込む。
上述の説明では、第2図示す3×3のパターンを用いて
説明を行ったが、線素が判定できるパターンであれば異
なったパターンを用いることもできる。例えば第2図.
第4図のバター〉′の他に第8図に示すようなパターン
を加えることもできる,また、パターンマトリックスの
大きさも3×3でなく、3X4.4×3.4X4.5X
5などを用いることもできる。本発明では柵線保存アル
ゴリズムの簡単な例としてアルゴリズムtと厳密な例と
してアルゴリズム2を示したが、本発明は他のアルゴリ
ズムを用いることもできる。例えば、アルゴリズム2の
ステップ4の条件を以下のように変更することも可能で
ある。
説明を行ったが、線素が判定できるパターンであれば異
なったパターンを用いることもできる。例えば第2図.
第4図のバター〉′の他に第8図に示すようなパターン
を加えることもできる,また、パターンマトリックスの
大きさも3×3でなく、3X4.4×3.4X4.5X
5などを用いることもできる。本発明では柵線保存アル
ゴリズムの簡単な例としてアルゴリズムtと厳密な例と
してアルゴリズム2を示したが、本発明は他のアルゴリ
ズムを用いることもできる。例えば、アルゴリズム2の
ステップ4の条件を以下のように変更することも可能で
ある。
(例1)
ステップ4:以下の手順に従う。
タイプAの場合
R(s,,J
タイブBの場合
R(S..tj)←1
タイプC−1の場合
R(s=,t,)←l:R
かつ R(Si.ti
(si 1.ti)=0
−1)−0
(条件C−1a)
(S+ 1. tj)−0
−i) −i
(条件C−1b)
( s = 1 ,t J) −1−1)==0
)←1
R (siや.tj )←l:R
かつ R(st,J
かつ 1,≠L j+I
R (sh t.J.1 )←1 :Rかつ R(s、
.t、 かつ Si ”T’s表.,(条件C−1c)タイプC
−2の場合 R(si,tj)←1:R(si 十R(sエ+1, かつ R(st,t,4 −1,tJ ) tJ )=0 1)=O (条件C−2a) +1, t,)=0 1)=l (条件C−2b) (Sゑ十1+tJ)=1 −1)=O・ (条件C−2c) )←1 :R (Si (sI.,t4 ≠1j−昧 )←1:R (Si+ tj ≠Si−4 R(st−.t、 かつ ”R かつ 1j R (s+・ tj・1 かつ R かつ S五 (例2) ステップ4:以下の手順に従う。
.t、 かつ Si ”T’s表.,(条件C−1c)タイプC
−2の場合 R(si,tj)←1:R(si 十R(sエ+1, かつ R(st,t,4 −1,tJ ) tJ )=0 1)=O (条件C−2a) +1, t,)=0 1)=l (条件C−2b) (Sゑ十1+tJ)=1 −1)=O・ (条件C−2c) )←1 :R (Si (sI.,t4 ≠1j−昧 )←1:R (Si+ tj ≠Si−4 R(st−.t、 かつ ”R かつ 1j R (s+・ tj・1 かつ R かつ S五 (例2) ステップ4:以下の手順に従う。
タイプAの場合
R(si.t、)←1
タイブBの場合
R(s、,1j)←1
タイブC−1の場合
R (si 1ti ) ←1 :R (s4− 1.
tj)=0?つ R (St .tJ 1)=0(条
件C−1a) R (Si−t , jj) ”−1 : R (S
i 1, tj)=0かつ R (si ,F
1) =1(条件C−1b) R (Si ,tj−+ ) ←1 : R (si
1, tJ)=1かつ R (si + Lj
1 ) −0(条件C−1c) タイプC−2の場合 R (si ,t,H )←l :R (si 1
.tj)+R (sa +l,tj)=0 かつ R (Si , t3 −1) −0(条件C
−2a) R (si−+ , tj )←l : R (Si
+11 tj)一〇かつ R (Si , t4−
1)=1(条件C−2b) R (si , tJ++ ) +−1 : R (
s++1,. tj)=1かつ R(s■, tj
−1)=0 (条件C−2c) (発明の効果) 以上詳細に説明のように、本発明を用いると画像縮小時
に生じる細線の消去がなくなる。また細線のかすれも従
来方式に比べてかなり少なくなる。
tj)=0?つ R (St .tJ 1)=0(条
件C−1a) R (Si−t , jj) ”−1 : R (S
i 1, tj)=0かつ R (si ,F
1) =1(条件C−1b) R (Si ,tj−+ ) ←1 : R (si
1, tJ)=1かつ R (si + Lj
1 ) −0(条件C−1c) タイプC−2の場合 R (si ,t,H )←l :R (si 1
.tj)+R (sa +l,tj)=0 かつ R (Si , t3 −1) −0(条件C
−2a) R (si−+ , tj )←l : R (Si
+11 tj)一〇かつ R (Si , t4−
1)=1(条件C−2b) R (si , tJ++ ) +−1 : R (
s++1,. tj)=1かつ R(s■, tj
−1)=0 (条件C−2c) (発明の効果) 以上詳細に説明のように、本発明を用いると画像縮小時
に生じる細線の消去がなくなる。また細線のかすれも従
来方式に比べてかなり少なくなる。
従って、それらが原因で生じてた画像縮小時の画質劣化
を大幅に改善することができる。
を大幅に改善することができる。
第1図はSPC法および投影法で細線が消える例を示す
パターン図、第2図は細線判定パターン例図、第3図は
元画像と縮小画像の関係を示すパターン図、第4図は細
線保存パターンの分類を示すパターン図、第5図は本発
明の方式と従来の方式とを細線処理か否かにより切り分
けて使用する処理フロー図、第6図は本発明の画像縮小
処理ブロック図、第7図は本発明の画像縮小処理と従来
の画像縮小処理を細線処理か否かにより切り分けて使用
するときのブロック図、第8図は付加細線保存パターン
例図である。 11・・・原画像メモリ、 l2・・・縮小画像メモ
リ、13・・・アドレスセット回路、 14・・・3×3マスクチェック回路、15・・・画素
値判定回路、 16・・・従来の画像縮小方弐回路。 第1図 弗2図
パターン図、第2図は細線判定パターン例図、第3図は
元画像と縮小画像の関係を示すパターン図、第4図は細
線保存パターンの分類を示すパターン図、第5図は本発
明の方式と従来の方式とを細線処理か否かにより切り分
けて使用する処理フロー図、第6図は本発明の画像縮小
処理ブロック図、第7図は本発明の画像縮小処理と従来
の画像縮小処理を細線処理か否かにより切り分けて使用
するときのブロック図、第8図は付加細線保存パターン
例図である。 11・・・原画像メモリ、 l2・・・縮小画像メモ
リ、13・・・アドレスセット回路、 14・・・3×3マスクチェック回路、15・・・画素
値判定回路、 16・・・従来の画像縮小方弐回路。 第1図 弗2図
Claims (2)
- (1)所定数の画素よりなるパターンマトリックスのブ
ロックで原画像を順次区分して複数の2値画像ブロック
を抽出する第1のステップと、該複数の2値画像ブロッ
クのおのおのが予め設定された細線パターンに合致した
ときに該2値画像ブロックを細線ブロックとして検出す
る第2のステップと、 該検出された細線ブロックを所定の縮小比率に応じた出
力画面上の位置に保存する第3のステップと を含む2値画像の縮小方法。 - (2)所定数の画素よりなるパターンマトリックスのブ
ロックで原画像を順次区分して複数の2値画像ブロック
を抽出するブロック手段と、 該複数の2値画像ブロックのおのおのが予め設定された
細線パターンに合致したときに該2値画像ブロックを細
線ブロックとして検出する判定手段と、 該検出された細線ブロックを所定の縮小比率に応じた出
力画面上の位置に保存する保存手段と を備えた2値画像の縮小装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1149411A JPH0316377A (ja) | 1989-06-14 | 1989-06-14 | 2値画像の縮小方法及び装置 |
US07/739,796 US5121222A (en) | 1989-06-14 | 1991-08-01 | Method and apparatus for producing binary picture with detection and retention of plural binary picture blocks having a thin line pattern including an oblique line |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1149411A JPH0316377A (ja) | 1989-06-14 | 1989-06-14 | 2値画像の縮小方法及び装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0316377A true JPH0316377A (ja) | 1991-01-24 |
Family
ID=15474536
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1149411A Pending JPH0316377A (ja) | 1989-06-14 | 1989-06-14 | 2値画像の縮小方法及び装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5121222A (ja) |
JP (1) | JPH0316377A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03241473A (ja) * | 1990-02-20 | 1991-10-28 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 画像変換装置 |
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US8823732B2 (en) | 2010-12-17 | 2014-09-02 | Pictometry International Corp. | Systems and methods for processing images with edge detection and snap-to feature |
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US9244272B2 (en) | 2013-03-12 | 2016-01-26 | Pictometry International Corp. | Lidar system producing multiple scan paths and method of making and using same |
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US9275080B2 (en) | 2013-03-15 | 2016-03-01 | Pictometry International Corp. | System and method for early access to captured images |
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- 1989-06-14 JP JP1149411A patent/JPH0316377A/ja active Pending
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1991
- 1991-08-01 US US07/739,796 patent/US5121222A/en not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
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US5121222A (en) | 1992-06-09 |
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