JPH03141195A - ダイヤモンド膜の被覆方法 - Google Patents
ダイヤモンド膜の被覆方法Info
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- JPH03141195A JPH03141195A JP27759789A JP27759789A JPH03141195A JP H03141195 A JPH03141195 A JP H03141195A JP 27759789 A JP27759789 A JP 27759789A JP 27759789 A JP27759789 A JP 27759789A JP H03141195 A JPH03141195 A JP H03141195A
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
被処理基板へのダイヤモンド膜の被覆方法に関し、
優れた密着強度をもたせることを目的とし、耐熱性をも
つ被処理基板上に、該基板との接着性の優れた高融点金
属の粉末よりなる厚膜ペーストを塗布する工程と、該基
板を不活性ガス雰囲気中で焼成し、該基板上に多孔質の
高融点金属層を形成する工程と、該基板をDCプラズマ
ジェット気相成長装置に装着し、炭素化合物ガスを含む
水素ガスを供給し、前記金属層上にダイヤモンドの気相
成長を行わせる工程とを含むことを特徴としてダイヤモ
ンド膜の被覆方法を構成する。
つ被処理基板上に、該基板との接着性の優れた高融点金
属の粉末よりなる厚膜ペーストを塗布する工程と、該基
板を不活性ガス雰囲気中で焼成し、該基板上に多孔質の
高融点金属層を形成する工程と、該基板をDCプラズマ
ジェット気相成長装置に装着し、炭素化合物ガスを含む
水素ガスを供給し、前記金属層上にダイヤモンドの気相
成長を行わせる工程とを含むことを特徴としてダイヤモ
ンド膜の被覆方法を構成する。
[産業上の利用分野]
本発明は優れた密着強度をもつダイヤモンド膜の被覆方
法に関する。
法に関する。
ダイヤモンドは炭素(C)の同素体であり、所謂るダイ
ヤモンド構造を示し、モース(Mohs)硬度は10と
大きく、また熱伝導度は2000W/rmKと他の材料
に較べて格段に優れており、またバルクを伝播する音速
は18,000 ta/sと他の材料に較べて格段に速
いなどの特徴をもっている。
ヤモンド構造を示し、モース(Mohs)硬度は10と
大きく、また熱伝導度は2000W/rmKと他の材料
に較べて格段に優れており、またバルクを伝播する音速
は18,000 ta/sと他の材料に較べて格段に速
いなどの特徴をもっている。
そのため、この性質を利用して各種の用途が検討されて
いる。
いる。
すなわち、硬度の高いのを利用してドリルの刃やバイト
への使用が検討されているが、ダイヤモンド膜としては
硬度が高いのを利用して耐摩耗性コーティング、熱伝導
度の高いのを利用して半導体素子のヒートシンク(He
a t−s 1nk)の構成材、また音速が速いことを
利用してスピーカーの振動板などへの実用化が進められ
ている。
への使用が検討されているが、ダイヤモンド膜としては
硬度が高いのを利用して耐摩耗性コーティング、熱伝導
度の高いのを利用して半導体素子のヒートシンク(He
a t−s 1nk)の構成材、また音速が速いことを
利用してスピーカーの振動板などへの実用化が進められ
ている。
ダイヤモンドの合成法としては高圧合成法と低圧合成法
とがある。
とがある。
こ\で、高圧合成法は比較的サイズの大きな単結晶を育
成するのに適した方法であるが、装置が大掛かりであり
、成長速度が著しく遅(、そのためコストが高くつくと
云う問題がある。
成するのに適した方法であるが、装置が大掛かりであり
、成長速度が著しく遅(、そのためコストが高くつくと
云う問題がある。
これに対し、低圧合成法にはマイクロ波プラズマ気相成
長法(略してマイクロ波プラズマCVD法)があり、被
処理基板上に微結晶の形で製膜できる点に特徴がある。
長法(略してマイクロ波プラズマCVD法)があり、被
処理基板上に微結晶の形で製膜できる点に特徴がある。
然し、気相成長法(CVD法)で成長させたダイヤモン
ド膜はどの基板を用いた場合でも密着力は捲めて小さい
ことが問題がある。
ド膜はどの基板を用いた場合でも密着力は捲めて小さい
ことが問題がある。
そこで、この対策として、
■ 被処理基板の上にタングステン・カーバイト(WC
)やモリブデン・カーバイト(MoC)などの炭化物か
らなる中間層を設け、物理化学的な方法により密着力を
向上する方法。
)やモリブデン・カーバイト(MoC)などの炭化物か
らなる中間層を設け、物理化学的な方法により密着力を
向上する方法。
■ 被処理基板面を凹凸にし、この窪みにダイヤモンド
膜を引っ掛けるアンカー効果により機械的に密着力を向
上する方法。
膜を引っ掛けるアンカー効果により機械的に密着力を向
上する方法。
などが試みられている。
然し、■については良い結果が得られていない。
また■の方法についても、従来のマイクロ波プラズマC
VD法では核発生密度と製膜速度が共に低く、そのため
ダイヤモンド膜が被処理基板の凹凸を埋めて充分なアン
カー効果を発揮する程の厚さまでに成長させることは困
難であり、そのため成功していない。
VD法では核発生密度と製膜速度が共に低く、そのため
ダイヤモンド膜が被処理基板の凹凸を埋めて充分なアン
カー効果を発揮する程の厚さまでに成長させることは困
難であり、そのため成功していない。
一方、発明者等はDCプラズマジェッ) CVD法を開
発し、新しいダイヤモンドの合成方法を提供している。
発し、新しいダイヤモンドの合成方法を提供している。
(特願昭62−083318.特開平1−33096)
そして、この方法を使用すれば、製膜速度が200μt
a /Hと大きく、然も核発生密度が高いために微細な
凹凸を伴う表面上に均一なダイヤモンド膜を高速に被覆
することができる。
そして、この方法を使用すれば、製膜速度が200μt
a /Hと大きく、然も核発生密度が高いために微細な
凹凸を伴う表面上に均一なダイヤモンド膜を高速に被覆
することができる。
第3図はDCプラズマジェットCVD装置の構成を示す
もので、構成と操作を述べると次のようになる。
もので、構成と操作を述べると次のようになる。
反応室1の上部にはプラズマジェット2を形成するため
の陽極3と陰極4があり、この間を通って原料ガス5が
供給されている。
の陽極3と陰極4があり、この間を通って原料ガス5が
供給されている。
また、陽極3と陰極4を繋いで直流電源7があり、反応
室1の下部には排気口8がある。
室1の下部には排気口8がある。
また、被処理基板9は冷却水10によって水冷されてい
るit台11の上にセットされている。
るit台11の上にセットされている。
さて、ダイヤモンドのCVD成長を行うには、陽極3と
陰極4の間から水素(H2)と炭化水素、例えばメタン
(CH4)との混合ガスを原料ガスとして反応室1の中
に供給すると共に、排気系を動作して排気口8より排気
し、反応室lの中を低真空に保持した状態で陽陰極間に
アーク放電12を生じさせ、この熱により原料ガス5を
分解させてプラズマ化させると、炭素プラズマを含むプ
ラズマジェット2は被処理基板9に当たり、微結晶から
なるダイヤモンド膜13が被処理基板9の上に成長する
。
陰極4の間から水素(H2)と炭化水素、例えばメタン
(CH4)との混合ガスを原料ガスとして反応室1の中
に供給すると共に、排気系を動作して排気口8より排気
し、反応室lの中を低真空に保持した状態で陽陰極間に
アーク放電12を生じさせ、この熱により原料ガス5を
分解させてプラズマ化させると、炭素プラズマを含むプ
ラズマジェット2は被処理基板9に当たり、微結晶から
なるダイヤモンド膜13が被処理基板9の上に成長する
。
先に記したようにダイヤモンド膜には各種の用途が考え
られているが、基板との密着性が不充分なため、実用化
が進んでいない。
られているが、基板との密着性が不充分なため、実用化
が進んでいない。
そこで、密着性を向上することが課題である。
〔課題を解決するための手段〕
上記の課題は耐熱性をもつ被処理基板上に、基板との接
着性の優れた高融点金属の粉末よりなる厚膜ペーストを
塗布する工程と、この基板を不活性ガス雰囲気中で焼成
し、基板上に多孔質の高融点金属層を形成する工程と、
この基板をDCプラズマジェットCνD装置に装着し、
炭素化合物ガスを含有するHtガスを供給し、金属層上
にダイヤモンドの気相成長を行わせる工程とを含むこと
を特徴としてダイヤモンド膜の被覆方法を構成すること
により解決することができる。
着性の優れた高融点金属の粉末よりなる厚膜ペーストを
塗布する工程と、この基板を不活性ガス雰囲気中で焼成
し、基板上に多孔質の高融点金属層を形成する工程と、
この基板をDCプラズマジェットCνD装置に装着し、
炭素化合物ガスを含有するHtガスを供給し、金属層上
にダイヤモンドの気相成長を行わせる工程とを含むこと
を特徴としてダイヤモンド膜の被覆方法を構成すること
により解決することができる。
本発明は発明者らが提案しているDCプラズマジェッ!
−CVD装置を用いればダイヤモンド膜を厚く成長する
ことができることから、従来不可能であったアンカー効
果を発揮させ、これにより被処理基板との密着性を向上
するものである。
−CVD装置を用いればダイヤモンド膜を厚く成長する
ことができることから、従来不可能であったアンカー効
果を発揮させ、これにより被処理基板との密着性を向上
するものである。
こ−で、アンカー効果を発揮させるには被処理基板の表
面に多数の引っ掛かりを設けることが必要であるが、本
発明はこれを多孔質体により実現するものである。
面に多数の引っ掛かりを設けることが必要であるが、本
発明はこれを多孔質体により実現するものである。
そして、この多孔質体を被処理基板と密着性のよい金属
からなる焼結体で構成するものである。
からなる焼結体で構成するものである。
第1図は本発明の原理図であって、被処理基板15の上
に、接着性のよい金属の焼結体からなる多孔質の金属層
16を設け、この上にDCプラズマジェットCVO法に
よりダイヤモンド膜17を形成するもので、アンカー効
果により密着性のよいダイヤモンド膜を作るものである
。
に、接着性のよい金属の焼結体からなる多孔質の金属層
16を設け、この上にDCプラズマジェットCVO法に
よりダイヤモンド膜17を形成するもので、アンカー効
果により密着性のよいダイヤモンド膜を作るものである
。
〔実施例]
被処理基板15として20mm角で厚さが5ffIIn
のタングステン(W)板を用いた。
のタングステン(W)板を用いた。
次に、平均粒径が4μmのW粉末を有機バインダとして
ポリビニルブチラール(略称PVB)を、また溶剤とし
てアセトンを用いて混練してペーストを作り、このペー
ストを被処理基板15の上にスクリーン印刷して厚さが
20μmのW厚膜層18を形成した。(以上第2図A) 次に、乾燥処理後、この被処理基板15を加熱炉中に置
き、窒素(N2)雰囲気中で2000”Cで1時間に亙
って焼成することにより、Wの焼結体からなる多孔質層
19を形成した。(以上同図B)次に、この被処理基板
15をDCプラズマジェットCVD装置の載置台の上に
位置決めし、原料ガスとしてCI+4濃度が3%のH2
ガスを用い、反応室内の真空度を50 torrとし、
出力I KWでアーク放電を行わせ、多孔質層19の上
に厚さが50μmのダイヤモンド膜17を形成した。(
以上同図C)次に、この試料についてダイヤモンド膜1
7の密着強度の測定を行ったところ、約100kg#+
m”以上でダイヤモンド膜の表面につけた測定治具が!
11がれてしまい、正しい値を得が得られなかった。
ポリビニルブチラール(略称PVB)を、また溶剤とし
てアセトンを用いて混練してペーストを作り、このペー
ストを被処理基板15の上にスクリーン印刷して厚さが
20μmのW厚膜層18を形成した。(以上第2図A) 次に、乾燥処理後、この被処理基板15を加熱炉中に置
き、窒素(N2)雰囲気中で2000”Cで1時間に亙
って焼成することにより、Wの焼結体からなる多孔質層
19を形成した。(以上同図B)次に、この被処理基板
15をDCプラズマジェットCVD装置の載置台の上に
位置決めし、原料ガスとしてCI+4濃度が3%のH2
ガスを用い、反応室内の真空度を50 torrとし、
出力I KWでアーク放電を行わせ、多孔質層19の上
に厚さが50μmのダイヤモンド膜17を形成した。(
以上同図C)次に、この試料についてダイヤモンド膜1
7の密着強度の測定を行ったところ、約100kg#+
m”以上でダイヤモンド膜の表面につけた測定治具が!
11がれてしまい、正しい値を得が得られなかった。
一方、W板に直接にダイヤモンド膜杏被覆した試料の密
着力は0.1kg/mm”以下であった。
着力は0.1kg/mm”以下であった。
以上記したように本発明の実施により充分な密着力をも
つダイヤモンド膜を作ることができ、これによりドリル
の刃やバイトなどのコーティングや各種の耐摩耗性コー
ティングなどの実用化が可能となる。 ネギ9月の原エヱ図 第 1 図 ’C) ネギ帆の芙柘遣を示す?面回 DCプラズマジェ、7トGVD鏝1のt2 ’月図第
3 図
つダイヤモンド膜を作ることができ、これによりドリル
の刃やバイトなどのコーティングや各種の耐摩耗性コー
ティングなどの実用化が可能となる。 ネギ9月の原エヱ図 第 1 図 ’C) ネギ帆の芙柘遣を示す?面回 DCプラズマジェ、7トGVD鏝1のt2 ’月図第
3 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 耐熱性を有する被処理基板上に、該基板との接着性の優
れた高融点金属の粉末よりなる厚膜ペーストを塗布する
工程と、 該基板を不活性ガス雰囲気中で焼成し、該基板上に多孔
質の高融点金属層を形成する工程と、該基板をDCプラ
ズマジェット気相成長装置に装着し、炭化化合物ガスを
含む水素ガスを供給して前記金属層上にダイヤモンドの
気相成長を行わせる工程と、 を含むことを特徴とするダイヤモンド膜の被覆方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27759789A JP2722726B2 (ja) | 1989-10-25 | 1989-10-25 | ダイヤモンド膜の被覆方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27759789A JP2722726B2 (ja) | 1989-10-25 | 1989-10-25 | ダイヤモンド膜の被覆方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03141195A true JPH03141195A (ja) | 1991-06-17 |
JP2722726B2 JP2722726B2 (ja) | 1998-03-09 |
Family
ID=17585666
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP27759789A Expired - Fee Related JP2722726B2 (ja) | 1989-10-25 | 1989-10-25 | ダイヤモンド膜の被覆方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2722726B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010092742A (ja) * | 2008-10-08 | 2010-04-22 | Panasonic Electric Works Co Ltd | レセプタクルコネクタ |
-
1989
- 1989-10-25 JP JP27759789A patent/JP2722726B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010092742A (ja) * | 2008-10-08 | 2010-04-22 | Panasonic Electric Works Co Ltd | レセプタクルコネクタ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2722726B2 (ja) | 1998-03-09 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |