JPH03141195A - ダイヤモンド膜の被覆方法 - Google Patents

ダイヤモンド膜の被覆方法

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JPH03141195A
JPH03141195A JP27759789A JP27759789A JPH03141195A JP H03141195 A JPH03141195 A JP H03141195A JP 27759789 A JP27759789 A JP 27759789A JP 27759789 A JP27759789 A JP 27759789A JP H03141195 A JPH03141195 A JP H03141195A
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Kazuaki Kurihara
和明 栗原
Kenichi Sasaki
謙一 佐々木
Akitomo Tejima
手島 章友
Motonobu Kawarada
河原田 元信
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Fujitsu Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 被処理基板へのダイヤモンド膜の被覆方法に関し、 優れた密着強度をもたせることを目的とし、耐熱性をも
つ被処理基板上に、該基板との接着性の優れた高融点金
属の粉末よりなる厚膜ペーストを塗布する工程と、該基
板を不活性ガス雰囲気中で焼成し、該基板上に多孔質の
高融点金属層を形成する工程と、該基板をDCプラズマ
ジェット気相成長装置に装着し、炭素化合物ガスを含む
水素ガスを供給し、前記金属層上にダイヤモンドの気相
成長を行わせる工程とを含むことを特徴としてダイヤモ
ンド膜の被覆方法を構成する。
[産業上の利用分野] 本発明は優れた密着強度をもつダイヤモンド膜の被覆方
法に関する。
ダイヤモンドは炭素(C)の同素体であり、所謂るダイ
ヤモンド構造を示し、モース(Mohs)硬度は10と
大きく、また熱伝導度は2000W/rmKと他の材料
に較べて格段に優れており、またバルクを伝播する音速
は18,000 ta/sと他の材料に較べて格段に速
いなどの特徴をもっている。
そのため、この性質を利用して各種の用途が検討されて
いる。
すなわち、硬度の高いのを利用してドリルの刃やバイト
への使用が検討されているが、ダイヤモンド膜としては
硬度が高いのを利用して耐摩耗性コーティング、熱伝導
度の高いのを利用して半導体素子のヒートシンク(He
a t−s 1nk)の構成材、また音速が速いことを
利用してスピーカーの振動板などへの実用化が進められ
ている。
〔従来の技術〕
ダイヤモンドの合成法としては高圧合成法と低圧合成法
とがある。
こ\で、高圧合成法は比較的サイズの大きな単結晶を育
成するのに適した方法であるが、装置が大掛かりであり
、成長速度が著しく遅(、そのためコストが高くつくと
云う問題がある。
これに対し、低圧合成法にはマイクロ波プラズマ気相成
長法(略してマイクロ波プラズマCVD法)があり、被
処理基板上に微結晶の形で製膜できる点に特徴がある。
然し、気相成長法(CVD法)で成長させたダイヤモン
ド膜はどの基板を用いた場合でも密着力は捲めて小さい
ことが問題がある。
そこで、この対策として、 ■ 被処理基板の上にタングステン・カーバイト(WC
)やモリブデン・カーバイト(MoC)などの炭化物か
らなる中間層を設け、物理化学的な方法により密着力を
向上する方法。
■ 被処理基板面を凹凸にし、この窪みにダイヤモンド
膜を引っ掛けるアンカー効果により機械的に密着力を向
上する方法。
などが試みられている。
然し、■については良い結果が得られていない。
また■の方法についても、従来のマイクロ波プラズマC
VD法では核発生密度と製膜速度が共に低く、そのため
ダイヤモンド膜が被処理基板の凹凸を埋めて充分なアン
カー効果を発揮する程の厚さまでに成長させることは困
難であり、そのため成功していない。
一方、発明者等はDCプラズマジェッ) CVD法を開
発し、新しいダイヤモンドの合成方法を提供している。
(特願昭62−083318.特開平1−33096)
そして、この方法を使用すれば、製膜速度が200μt
a /Hと大きく、然も核発生密度が高いために微細な
凹凸を伴う表面上に均一なダイヤモンド膜を高速に被覆
することができる。
第3図はDCプラズマジェットCVD装置の構成を示す
もので、構成と操作を述べると次のようになる。
反応室1の上部にはプラズマジェット2を形成するため
の陽極3と陰極4があり、この間を通って原料ガス5が
供給されている。
また、陽極3と陰極4を繋いで直流電源7があり、反応
室1の下部には排気口8がある。
また、被処理基板9は冷却水10によって水冷されてい
るit台11の上にセットされている。
さて、ダイヤモンドのCVD成長を行うには、陽極3と
陰極4の間から水素(H2)と炭化水素、例えばメタン
(CH4)との混合ガスを原料ガスとして反応室1の中
に供給すると共に、排気系を動作して排気口8より排気
し、反応室lの中を低真空に保持した状態で陽陰極間に
アーク放電12を生じさせ、この熱により原料ガス5を
分解させてプラズマ化させると、炭素プラズマを含むプ
ラズマジェット2は被処理基板9に当たり、微結晶から
なるダイヤモンド膜13が被処理基板9の上に成長する
〔発明が解決しようとする課題〕
先に記したようにダイヤモンド膜には各種の用途が考え
られているが、基板との密着性が不充分なため、実用化
が進んでいない。
そこで、密着性を向上することが課題である。
〔課題を解決するための手段〕 上記の課題は耐熱性をもつ被処理基板上に、基板との接
着性の優れた高融点金属の粉末よりなる厚膜ペーストを
塗布する工程と、この基板を不活性ガス雰囲気中で焼成
し、基板上に多孔質の高融点金属層を形成する工程と、
この基板をDCプラズマジェットCνD装置に装着し、
炭素化合物ガスを含有するHtガスを供給し、金属層上
にダイヤモンドの気相成長を行わせる工程とを含むこと
を特徴としてダイヤモンド膜の被覆方法を構成すること
により解決することができる。
〔作用〕
本発明は発明者らが提案しているDCプラズマジェッ!
−CVD装置を用いればダイヤモンド膜を厚く成長する
ことができることから、従来不可能であったアンカー効
果を発揮させ、これにより被処理基板との密着性を向上
するものである。
こ−で、アンカー効果を発揮させるには被処理基板の表
面に多数の引っ掛かりを設けることが必要であるが、本
発明はこれを多孔質体により実現するものである。
そして、この多孔質体を被処理基板と密着性のよい金属
からなる焼結体で構成するものである。
第1図は本発明の原理図であって、被処理基板15の上
に、接着性のよい金属の焼結体からなる多孔質の金属層
16を設け、この上にDCプラズマジェットCVO法に
よりダイヤモンド膜17を形成するもので、アンカー効
果により密着性のよいダイヤモンド膜を作るものである
〔実施例] 被処理基板15として20mm角で厚さが5ffIIn
のタングステン(W)板を用いた。
次に、平均粒径が4μmのW粉末を有機バインダとして
ポリビニルブチラール(略称PVB)を、また溶剤とし
てアセトンを用いて混練してペーストを作り、このペー
ストを被処理基板15の上にスクリーン印刷して厚さが
20μmのW厚膜層18を形成した。(以上第2図A) 次に、乾燥処理後、この被処理基板15を加熱炉中に置
き、窒素(N2)雰囲気中で2000”Cで1時間に亙
って焼成することにより、Wの焼結体からなる多孔質層
19を形成した。(以上同図B)次に、この被処理基板
15をDCプラズマジェットCVD装置の載置台の上に
位置決めし、原料ガスとしてCI+4濃度が3%のH2
ガスを用い、反応室内の真空度を50 torrとし、
出力I KWでアーク放電を行わせ、多孔質層19の上
に厚さが50μmのダイヤモンド膜17を形成した。(
以上同図C)次に、この試料についてダイヤモンド膜1
7の密着強度の測定を行ったところ、約100kg#+
m”以上でダイヤモンド膜の表面につけた測定治具が!
11がれてしまい、正しい値を得が得られなかった。
一方、W板に直接にダイヤモンド膜杏被覆した試料の密
着力は0.1kg/mm”以下であった。
〔発明の効果〕
以上記したように本発明の実施により充分な密着力をも
つダイヤモンド膜を作ることができ、これによりドリル
の刃やバイトなどのコーティングや各種の耐摩耗性コー
ティングなどの実用化が可能となる。 ネギ9月の原エヱ図 第 1 図 ’C) ネギ帆の芙柘遣を示す?面回 DCプラズマジェ、7トGVD鏝1のt2 ’月図第 
3 図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 耐熱性を有する被処理基板上に、該基板との接着性の優
    れた高融点金属の粉末よりなる厚膜ペーストを塗布する
    工程と、 該基板を不活性ガス雰囲気中で焼成し、該基板上に多孔
    質の高融点金属層を形成する工程と、該基板をDCプラ
    ズマジェット気相成長装置に装着し、炭化化合物ガスを
    含む水素ガスを供給して前記金属層上にダイヤモンドの
    気相成長を行わせる工程と、 を含むことを特徴とするダイヤモンド膜の被覆方法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010092742A (ja) * 2008-10-08 2010-04-22 Panasonic Electric Works Co Ltd レセプタクルコネクタ

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