JPH0290525A - 超音波洗浄装置 - Google Patents
超音波洗浄装置Info
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- JPH0290525A JPH0290525A JP24075888A JP24075888A JPH0290525A JP H0290525 A JPH0290525 A JP H0290525A JP 24075888 A JP24075888 A JP 24075888A JP 24075888 A JP24075888 A JP 24075888A JP H0290525 A JPH0290525 A JP H0290525A
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- liquid
- bottom wall
- inner vessel
- vessel
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- Pending
Links
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Landscapes
- Cleaning By Liquid Or Steam (AREA)
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
<1ff−業−1−の利用分野〉
この発明はキャリアに保持したシリコンウェハなどを超
音波により超クリーンに洗浄するための超t′f波洗浄
装置′;!Iに関する。
音波により超クリーンに洗浄するための超t′f波洗浄
装置′;!Iに関する。
〈従来の技術〉
超音波洗浄装置として、洗浄液を内部に容れて被洗浄物
を洗flIlするための内槽と、1−記内槽を、上端部
を残して内部に収容すると共に、城壁外面に超音波振動
子を取付け、内部に容れた液でに記超音波振動子か発生
する超音波を前記内槽に伝達する外槽とからなる二重4
6型、ないし間接型のものは従来から公知である。
を洗flIlするための内槽と、1−記内槽を、上端部
を残して内部に収容すると共に、城壁外面に超音波振動
子を取付け、内部に容れた液でに記超音波振動子か発生
する超音波を前記内槽に伝達する外槽とからなる二重4
6型、ないし間接型のものは従来から公知である。
この二重種型超音波洗浄装置は、連続して使用する場合
にItfl音波振動子の周波数変化か無く、安定したパ
ワーを入力できることから汎〈使用されて居り、特に内
槽中の洗顔液に温水を用いるとその効果が大きい。
にItfl音波振動子の周波数変化か無く、安定したパ
ワーを入力できることから汎〈使用されて居り、特に内
槽中の洗顔液に温水を用いるとその効果が大きい。
〈発明が解決しようとする課題〉
しかし、この二重種型超音波洗浄装置では超音波照射時
に外槽中の液に気泡が発生して内槽の底壁下面に付着し
、内槽中の洗浄液に浸漬した被洗浄物に到達するパワー
を気泡が減衰する。従って、結果的にパワーを過大にし
、長い時間をかけて洗浄する必要かある。
に外槽中の液に気泡が発生して内槽の底壁下面に付着し
、内槽中の洗浄液に浸漬した被洗浄物に到達するパワー
を気泡が減衰する。従って、結果的にパワーを過大にし
、長い時間をかけて洗浄する必要かある。
〈課題を解決するための手段〉
そこで本発明の超音波洗浄装置は、被洗浄物を洗浄する
ための内槽の底壁な傾斜させると共に、外槽内には上記
内槽の底壁の傾斜の下側から上側に向って液を噴射する
噴射管を設けたことを特徴とする。
ための内槽の底壁な傾斜させると共に、外槽内には上記
内槽の底壁の傾斜の下側から上側に向って液を噴射する
噴射管を設けたことを特徴とする。
〈実 施 例〉
図示の実施例において、lは洗浄液2を内部に容れた内
槽、3は上記内槽を、」一端部を残して内部に収容する
外槽で、内槽の周囲壁と、底壁との間に保った空間には
液たとえば水4を容れ、自身の底壁下面には超音波振動
子5を取付け、該振動子が発生する超音波を上記液で内
槽に伝達し、内槽の洗浄液2中に浸漬した被洗浄物、例
えばキャリア6に保持したシリコンウェハ7を洗浄する
。
槽、3は上記内槽を、」一端部を残して内部に収容する
外槽で、内槽の周囲壁と、底壁との間に保った空間には
液たとえば水4を容れ、自身の底壁下面には超音波振動
子5を取付け、該振動子が発生する超音波を上記液で内
槽に伝達し、内槽の洗浄液2中に浸漬した被洗浄物、例
えばキャリア6に保持したシリコンウェハ7を洗浄する
。
さて、本発明に則り内槽lの底壁l′は第1図で右上り
に傾斜し、外槽3の内部には内槽の上記底壁1′の傾斜
の下側から上側に向かって液を噴射する噴射管8が設け
である。尚、噴射する液は外槽中に容れた液と同質のも
のを用いる。
に傾斜し、外槽3の内部には内槽の上記底壁1′の傾斜
の下側から上側に向かって液を噴射する噴射管8が設け
である。尚、噴射する液は外槽中に容れた液と同質のも
のを用いる。
従って、超音波振動子5を作動し、内槽中の被洗fir
物に超音波を照射して洗浄を行っている間、噴射管8か
ら液を噴射すると、外槽中で発生して内槽の底壁1′の
下面に付着しようとする気泡は噴射管8か噴射する液な
いしはその液により生しる流れによって内槽の底壁l′
の傾斜の上側に向かって吹掃され、内槽と外槽の間の空
間なL)1して外槽の液面に浮」−シ、消失する。
物に超音波を照射して洗浄を行っている間、噴射管8か
ら液を噴射すると、外槽中で発生して内槽の底壁1′の
下面に付着しようとする気泡は噴射管8か噴射する液な
いしはその液により生しる流れによって内槽の底壁l′
の傾斜の上側に向かって吹掃され、内槽と外槽の間の空
間なL)1して外槽の液面に浮」−シ、消失する。
このため、外槽内に発生する気泡の′、#響を殆ど受け
ることなく超音波で内槽中の被洗?71物の洗浄が行え
る。
ることなく超音波で内槽中の被洗?71物の洗浄が行え
る。
効果を確認するため図示の実施例の洗浄装置と、内槽の
底が水平て、噴射管を有さない従来の洗浄装置を使用し
1粒径0.2μmのポリスチレンラテックスを付着し、
強制的に汚染したシリコンウェハを同条件で洗浄し、汚
染粒子の除去率を比較した従来装置での除去率は30%
であるのに対し、実施例の装置による除去率は911%
てあった。
底が水平て、噴射管を有さない従来の洗浄装置を使用し
1粒径0.2μmのポリスチレンラテックスを付着し、
強制的に汚染したシリコンウェハを同条件で洗浄し、汚
染粒子の除去率を比較した従来装置での除去率は30%
であるのに対し、実施例の装置による除去率は911%
てあった。
尚、洗浄条件は1周波数400〜800に11Z、水温
73°C1超音波照射時間12分、超音波入力300W
、洗浄水量9!;L/1nである。尚、従来装置で汚染
粒子の除去を90%にするには、超音波照射時間は30
分を要した。又、照射時間12分程度で除去率90%と
するには超音波入力を600w以上にしなければならな
かった。
73°C1超音波照射時間12分、超音波入力300W
、洗浄水量9!;L/1nである。尚、従来装置で汚染
粒子の除去を90%にするには、超音波照射時間は30
分を要した。又、照射時間12分程度で除去率90%と
するには超音波入力を600w以上にしなければならな
かった。
〈発明の効果〉
本発明によれば外槽中て発生ずる気泡の影響を・殆ど受
けることかないので、超音波の照射効率か高まり、短時
間で洗浄を行え、洗?ffl処理能力が向上する。更に
パワーの減衰がない分、大パワーを必要としなくなるた
め、パワーアンプをコンパクトにすることかでき、省ス
ペース、省エネルギー化か図れる。
けることかないので、超音波の照射効率か高まり、短時
間で洗浄を行え、洗?ffl処理能力が向上する。更に
パワーの減衰がない分、大パワーを必要としなくなるた
め、パワーアンプをコンパクトにすることかでき、省ス
ペース、省エネルギー化か図れる。
第1図は本発明の洗浄装置の一実施例を示す模式縦段側
面図である。 図中、lは内槽、1′は底壁、2は洗浄液、3は外槽、
4は液、5は超音波振動子、7は被洗浄物(シリコンウ
ェハ)、8は噴射管を示す。
面図である。 図中、lは内槽、1′は底壁、2は洗浄液、3は外槽、
4は液、5は超音波振動子、7は被洗浄物(シリコンウ
ェハ)、8は噴射管を示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 洗浄液を内部に容れて被洗浄物を洗浄するための内槽と
、上記内槽を、上端部を残して内部に収容すると共に、
底壁外面に超音波振動子を取付け、内部に容れた液で上
記超音波振動子が発生する超音波を前記内槽に伝達する
外槽とからなる超音波洗浄装置において、 前記内槽の底壁を傾斜させると共に、外槽内には上記内
槽の底壁の傾斜の下側から上側に向って液を噴射する噴
射管を設けたことを特徴とする超音波洗浄装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24075888A JPH0290525A (ja) | 1988-09-28 | 1988-09-28 | 超音波洗浄装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24075888A JPH0290525A (ja) | 1988-09-28 | 1988-09-28 | 超音波洗浄装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0290525A true JPH0290525A (ja) | 1990-03-30 |
Family
ID=17064279
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP24075888A Pending JPH0290525A (ja) | 1988-09-28 | 1988-09-28 | 超音波洗浄装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0290525A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03222419A (ja) * | 1990-01-29 | 1991-10-01 | Kokusai Denki Erutetsuku:Kk | 超音波洗浄装置 |
JPH0556285U (ja) * | 1992-01-07 | 1993-07-27 | 株式会社カイジョー | 超音波洗浄装置 |
JPH0731182U (ja) * | 1993-11-09 | 1995-06-13 | 株式会社カイジョー | 間接照射型超音波洗浄機 |
JPH07232142A (ja) * | 1994-02-22 | 1995-09-05 | Kimura Chem Plants Co Ltd | 超音波振動洗浄装置 |
JP2008243342A (ja) * | 2007-03-29 | 2008-10-09 | Hoya Corp | 磁気ディスク用ガラス基板の超音波洗浄装置および超音波洗浄方法、磁気ディスク製造方法ならびに磁気ディスク |
KR20180060059A (ko) * | 2016-11-28 | 2018-06-07 | 에스케이실트론 주식회사 | 웨이퍼 세정 장치 |
-
1988
- 1988-09-28 JP JP24075888A patent/JPH0290525A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03222419A (ja) * | 1990-01-29 | 1991-10-01 | Kokusai Denki Erutetsuku:Kk | 超音波洗浄装置 |
JPH0556285U (ja) * | 1992-01-07 | 1993-07-27 | 株式会社カイジョー | 超音波洗浄装置 |
JPH0731182U (ja) * | 1993-11-09 | 1995-06-13 | 株式会社カイジョー | 間接照射型超音波洗浄機 |
JPH07232142A (ja) * | 1994-02-22 | 1995-09-05 | Kimura Chem Plants Co Ltd | 超音波振動洗浄装置 |
JP2008243342A (ja) * | 2007-03-29 | 2008-10-09 | Hoya Corp | 磁気ディスク用ガラス基板の超音波洗浄装置および超音波洗浄方法、磁気ディスク製造方法ならびに磁気ディスク |
KR20180060059A (ko) * | 2016-11-28 | 2018-06-07 | 에스케이실트론 주식회사 | 웨이퍼 세정 장치 |
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