JPH0283456A - 光変流器 - Google Patents

光変流器

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JPH0283456A
JPH0283456A JP63234765A JP23476588A JPH0283456A JP H0283456 A JPH0283456 A JP H0283456A JP 63234765 A JP63234765 A JP 63234765A JP 23476588 A JP23476588 A JP 23476588A JP H0283456 A JPH0283456 A JP H0283456A
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JP
Japan
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linearly polarized
beam splitter
light
light source
polarized light
Prior art date
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Pending
Application number
JP63234765A
Other languages
English (en)
Inventor
Takashi Nakajima
高 中嶋
Toru Uenishi
徹 上西
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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Publication of JPH0283456A publication Critical patent/JPH0283456A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明はファラデー効果を利用した光変流器に関する。
(従来の技術) 従来ガス絶縁開閉装!i!(以下GIS)における大電
流測定装置としては鉄心に二次巻線を巻き、−次巻線で
あるGIS導体に貫通させるいわゆる貫通形変流器が使
用されていた。しかるに本構成であるとGISが高電圧
化した場合、GIS導体と貫通形変流器の間に相当才力
の絶縁距離が必要となり、貫通形変流塁は大形化し、こ
れにともないGIS全体も大きくなる欠点があった。ま
た。
GIS導体に事故電流等の過電流が流れた場合。
ぼ通路変流器が磁気飽和し波形歪を生じることも問題で
あった。
そこで近年ファラデー効果を利用し光学的に電流を測定
する方法が注目されている。このような光変流器は小型
で絶縁性に優れ、過電流も忠実に測定でき、耐誘導性に
も優れる。
第5図は特願昭59−273901で提案の位相検出方
式光質流電の構成図である。!!S5図において、28
゜2b、2cは単一モード直線偏光半導体レーザよりな
る3相発光源で、第6図に示すように0@の直線偏光工
。、601の直線偏光I、、、 120”の直線偏光■
tssを発し、これらの直線偏光がファラデーローテー
タ3および検光子4を通り、検光子4の主軸方向成分(
本例の場合はX軸を主軸とする)だけがフォトダイオー
ド5に合成されて入射する。
今ファラデーローテータ3に前記工。、工。。、11.
。。
を入射し、磁界Hを加えるとファラデー効果により出射
側の直線偏光は磁界の強さに比例し、第6図に示すよう
にθだけ回転した直線偏光工。、■、。。
11□。どなる。
したがって、発光源2a、 2b、 2cの光強度を各
々I、、I、。t L。とし、検光子4の各出射波の光
強度を工。t Is。、■0.とすれば次のω式が成立
する。
フォトダイオード5はこれら光Is v Lo t I
tzaを合成し、その合成光に比例した電気信号に変換
する。したがってフォトダイオード5の合成入射光強度
Isは■式となる。
1、=I、 +1.、 +11.。
・・・ ■ 一方、工。? I、。、工、3゜は第7図に示すように
工。
はωt=0〜πの範囲で光強度Aの発光をし、ωt=π
−2πの範囲で光強度をOにするときを繰り返す、I6
゜、工□2゜については、各々工。より120@240
’位相遅れで0N−OFFする。この0N−OFFのタ
イミングは駆動回路1で制御することになる。
したがって、第7図に示した矩形波は、0式の如くフー
リエ級数展開される。
■式に■式を代入すると。
となり、上記に)式に比例した電気信号がフォトダイオ
ード4の出力として得られる。
この出力からフィルタ6により周波数ωの成分のみ抽出
すると、そのフィルタ6の出方は3!−Jinπ (ωt−20)に比例した信号となる。したがって磁界
Hが変化してθが変化すると、2θで位相変調された波
形となる6位相検出器7はその位相ex波形と駆動回路
1の基準位相を比校してθに比例した出力信号を得る。
したがって本方−式の如く位相e調力式であると大重流
が流れファラデー回転角Oが大きくなっても、ft線性
よく測定できることが長所であった。
(発明が解決しようとす、る課題) しかるに第5図の構成では次の間頑点があった。
すなわち3本の直線偏光波の光軸が各々別売路のため振
動等により光軸ずれが生じ、例えばファラデーローテー
タ3で特定の直線偏光波の−・部が欠けると、3光の光
強度がアンバランスとなり、出力誤差を生ずることとな
る。
本発明の目的は振動に対し十分安定に高精度で電流を測
定できる光変流器を提供するにある。
〔発明の構成〕
(課題を解決するための手段) 本発明は60°ずっ偏波面が異なる3本の直線偏光波を
発生する光源と、この光源を一定の周期で励起する駆動
回路と、各々の直線偏光波が通るファラデーローテータ
および検光子と、この検光子を通過した光を電気信号に
変換するフォトダイオードとこのフォトダイオードの出
力信号より得られる位相変調波の位相を検出する位相検
出器よりなる光変流器において、光源より発せられた3
本の直線偏光波の光軸を2ケの無偏光ビームスプリッタ
を使い一本化したのち、ファラデーローテータに入射す
るようにしたものである。
(作  用) 本発明によれば3ケの光源より発せられた3本の直線偏
光波は無偏光ビームスプリッタにより一本化されるので
、振動等により光軸がずれ、光ビームのうち一部が欠け
たとしても、3本の光強度比は変動せず、従って安定に
電流を測定できる。
(実 施 例) 本発明の一実施例を第1図において説明する。
第1図において第5図と同一部分に同一符号を付してい
る。第1図において、8a、 8b、 8cは単一モー
ド直線偏光半導体レーザまたはLEDと偏光子の組み合
せよりなる光源で、第6図に示す如く60°ずつ偏波面
が異なる直線偏光波であり、10゜11は第1.第2の
無偏光ビームスプリッタであり、以上により発光部12
を形成する。光源8aより発せられた第1の直線偏光波
は光路Oaをたどり第1の無偏光ビームスプリッタlO
に入射したのち透過しその後光路9bをたどり第2の無
偏光ビームスプリッタ11に入射したのち第2の無偏光
ビームスプリッタの反射面11aで直角に反射され光路
Ocに至る。
光@8bより発せられた第2の直線偏光波は光路9dを
たどり第1の無偏光ビームスプリッタ10に入射したの
ち第1の無偏光ビームスプリッタの反射面10aで直角
に反射されその後は第1の直線偏光波と同一の光路9b
、 Daをたどるよう調整する。
光源8cより発せられた第3の直線偏光波は光路9eを
たどり第2の無偏光ビームスプリッタ11に入射したの
ち透過しその後は第1.第2の直線偏光波と同一の光路
9cをたどるようIll整する。
以上により第2の無偏光ビームスプリッタ11よす出射
される3本の直線偏光波は一本化され、この−本化され
た直線偏光波が、ファラデーローテータ3および検光子
4を通り検光子4の主軸成分だけがフォトダイオード5
に合成されて入射する。
以下第5図に示した従来例と同じで、位相検出方式によ
り電流を測定できることになる。なお第1図中の破線は
3本の直線偏光波が空間あるいは光学部品中をたどる光
路を示している。
以上の構成によれば3ケの光源より発せられた3本の直
線偏光波は2ケの無偏光ビームスプリッタにより一本化
されるので、振動等により光軸がずれ、光ビームのうち
一部が欠けたとしても、3光の光強度比は変動しない。
すなわち−本化された光ビームの一部が欠けたというこ
とは、第7図のIll j l1lll l Lsoの
光強度が八からA、、(A、 < A )に変化したと
いうことであり、従って(へ)式中の八がA、に変るこ
とになる。しかしながら本光変流器は電流を位相差で検
出する方式のため、光強度が一率に低下しても問題とは
ならない。
以Eのように本発明によれば3本の直線偏光波が一本化
されるため、振動等により光軸ずれが発生し、光ビーム
の一部が欠けたとしても、光変流器の出力に変動はなく
従って安定に高精度で電流を測定できることになる。
第2図から第4図は3本の直線偏光波を2ケの無偏光ビ
ームスプリッタを使って一本化する他の実施例を示す発
光部の構成図であり、第1図の相違点は次のとうりであ
る。
第2図は2ケの無偏光ビームスプリッタto、 itの
各々の反射面10a、 llaが直角となるよう配置し
たものである。
第3図は2ケの無偏光ビームスプリッタ10.11の各
々の反射面10a、 llaが平行となるよう配置し、
かつ第3の光g8cより出射された第3の直線偏光波が
第2の無偏光ビームスプリッタ11の反射面11aで直
角に反射された成分が作る光路をファラデーローテータ
3に至る光11Ocに選んだものである。
第4図は2ケの!!偏光ビームスプリッタ10.11の
各々の反射面1013. Ilaが、直角となるよう配
置し、かつ第3の光源8cより出射された第3の直線偏
光波が第2の無偏光ビームスプリッタ11の反射面11
8で直角に反射された成分が作る光路をファラデーロー
テータ3に至る光路9Cに選んだものである。
第2図、!tS3図、第4図いずれの構成でも3本の直
線偏光波を2ケの無偏光ビームスプリッタを使って一本
化でき、従って振W+等により光軸ずれが発生し、光ビ
ームの一部が欠けたとしても、光変流器の出力に変動は
なく軸って安定に高精度で電流を測定できる。
以−Hの構成で振動等による光軸ずれに影響されない光
変流器を実現できるが、更に2ケの無偏光ビームスプリ
ッタの透過率と反射率の比を以下とするとより高精度な
光変流器を得ることができる。
すなわち第1図、第2図に示した発光部の形態の場合第
1の無偏光ビームスプリッタlOの透過率と反射率の比
を1対1とし、第2の無偏光ビームスプリッタ11の透
過率と反射率の比を1対2とすることである。また第3
図、144図に示した発光部の形態の場合第1の無偏光
ビームスプリッタ10の透過率と反射率の比を1対1と
し、第2の無偏光ビームスプリッタ11の透過率と反射
率の比を2対1とすることである。以下に作用を説明す
る。
まず第1図、第2図に示した光源と無偏光ビームスプリ
ッタの配置の場合について説明する。
令弟1の無偏光ビームスプリッタ10の透過率を12%
、反射率をR,= 100−71%、第2の無偏光ビー
ムスプリッタ11の透過率をT2%1反射率をR2=1
00− T、%とし、8a、 8b、 8cはそれぞれ
同一光量かつ最大光量すなわちPmaXの光量をはなっ
ているものとする。
従って8a、 8b、 8cより発せられた各々の直線
偏光波の光路9c上での光量Pay Pbp pcは次
式となる。
P、=P、axXT1X(100−T、)XIO−’ 
     ・・・  ■Pb==P、axX(100−
T1)X(100−T、)XIO−’  ・−・  ■
p、=plIlaxxr、)xxo−”       
      ”’  (7)ところで光路9c上では各
直線偏光波の光量が第7図に示すごとく同一光量Aとす
る必要がある。
従って0式が成立する。
P、=pb=P、= A ・・・ (へ) 0式から0式を使いT、、T、を求めるとT、=50%
スプリッタ10のW過半と反射率の比をT、:R,=1
:1に、第2の無偏光ビームスプリッタ11の透過率と
反射率の比をTa:R1=1:2にすれば、3ケの光源
を各々最大光量で使うことができ、従ってファラデーロ
ーテータ3に入射する光路9c)、03本の直線偏光波
の合成波の光量が最大となる。
次に第3図、第4図に示した光源と、V偏光ビームスプ
リッタの配置の場合について説明する。8a。
8b、 8cより発せられた各々のiff、線傷光波の
光路9c上での光JtPa* Pbn peは次式とな
る。
Pa=P、axXT、XT、Xl0−’       
    ・  ei))Pb=Psax X (100
−T、) XT、 X 10−’       ”・(
10)P、=P□、 X (100−T□)XIO−”
         ・・・(11)(へ)式から(11
)式を使いT1.T、を求めると、T、=ビームスプリ
ッタ10の透過率と反射率の比をT、:R,=1:1に
、第2の無偏光ビームスプリッタ11の透過率と反射率
の比をT、:R,=2:1にすれば、3ケの光源を各々
最大光量で使え、光路9c上の3本の直線偏光波の合成
波の光量が最大となる。
ファラデーローテータ3に入射する合成波の光量が最大
であるということは、ファラデーローデータ3検光子4
を通過しフォトダイオード5で受光する光量も最大にな
ることであり、よってフォトダイオードの出力信号も大
きくなりS/Nが良くなることになる。従ってより安定
に高精度で電流を測定できる。
〔発明の効果〕
以上のように本発明によれば振動等により光軸ずれが生
じても安定で高精度に電流を測定できる。
さらに2ケの無偏光ビームスプリッタの透過率。
反射率を選ぶことによりS/Nが良くなりより高精度に
測定できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による光変流器の一実旅例紮示すブロッ
ク構成図、第2図、fR3図、第4図は本発明の光源と
無偏光ビームスプリッタよりなる発光部を示す構成図、
第5図は従来の光変流器の一例を示すブロック構成図、
第6図はファラデー効果により偏光角が回転することを
説明するベクトル図、第7図は光源の光強度のタイミン
グ図である。 ■・・・駆71jr回路     2a、2b、2c・
・・光源3・・・ファラデーローテータ 4・・・検光子      5・・・フォトダイオード
7・・・位相検出器    8a 、 8b 、 8c
・・・光源9a 、 9b 、 9c 、 9d 、 
Da−光路10・・・第1の無偏光ビームスプリッタ1
0a・・・第1の無偏光ビームスプリッタの反射面11
・・・第2の無偏光ビームスプリッタ11a・・・第2
の無偏光ビームスプリッタの反射面12・・・発光部 代理人 弁理士 則 近 憲 佑 同   第子丸 健

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 60゜ずつ偏波面が異なる3本の直線偏光波を出射する
    光源と光源よりの3本の直線偏光波を合成する2ケの無
    偏光ビームスプリッタよりなる発光部と、前記光源を励
    起する駆動回路と、各々の直線偏光波が通るファラデー
    ローテータおよび検光子と、この検光子を通過した直線
    偏光波の入射を受けて電気出力信号を発する光電変換器
    と、この光電変換器の出力より得られる位相変調波の位
    相を検出する位相検出器とを供えた光変流器において、
    前記発光部は第1の光源より出射された直線偏光波が第
    1の無偏光ビームスプリッタに入射したのち透過しその
    後第2の無偏光ビームスプリッタに入射し、第2の無偏
    光ビームスプリッタ中で直角に反射され第2の無偏光ビ
    ームスプリッタから出射したのちファラデーローテータ
    に至り、第2の光源より出射された直線偏光波が第1の
    無偏光ビームスプリッタの第1の直線偏光波が入射した
    面とは異なる面より入射し第1の無偏光ビームスプリッ
    タ中で直角に反射し第1の無偏光ビームスプリッタから
    出射したのちは第1の直線偏光波と同一光軸となってフ
    ァラデーローテータに至り、第3の光源より出射された
    直線偏光波が第2の無偏光ビームスプリッタの第1、第
    2の直線偏光波が入射した面とは異なる面より入射した
    のち透過し第2の無偏光ビームスプリッタから出射した
    のちは第1、第2の直線偏光波と同一光軸となってファ
    ラデーローテータに至るよう構成したことを特徴とする
    光変流器。
JP63234765A 1988-09-21 1988-09-21 光変流器 Pending JPH0283456A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5760806A (en) * 1993-07-20 1998-06-02 Fuji Xerox Co., Ltd. Ink supply device ink jet printer and ink supply method

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US5760806A (en) * 1993-07-20 1998-06-02 Fuji Xerox Co., Ltd. Ink supply device ink jet printer and ink supply method

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