JPH027207B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH027207B2
JPH027207B2 JP7894180A JP7894180A JPH027207B2 JP H027207 B2 JPH027207 B2 JP H027207B2 JP 7894180 A JP7894180 A JP 7894180A JP 7894180 A JP7894180 A JP 7894180A JP H027207 B2 JPH027207 B2 JP H027207B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
transducer
surface wave
reflector
frequency
resonator
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP7894180A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS575418A (en
Inventor
Takehiko Uno
Hiromichi Jumonji
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority to JP7894180A priority Critical patent/JPS575418A/ja
Priority to GB8116284A priority patent/GB2078042B/en
Priority to US06/267,680 priority patent/US4387355A/en
Priority to FR8111388A priority patent/FR2484735A1/fr
Priority to NLAANVRAGE8102818,A priority patent/NL187091C/xx
Priority to DE19813123410 priority patent/DE3123410A1/de
Publication of JPS575418A publication Critical patent/JPS575418A/ja
Publication of JPH027207B2 publication Critical patent/JPH027207B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
    • H03H9/25Constructional features of resonators using surface acoustic waves

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Acoustics & Sound (AREA)
  • Surface Acoustic Wave Elements And Circuit Networks Thereof (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
本発明は小形にして共振尖鋭度が大きく共振抵
抗の低い表面弾性波共振器に関する。 表面弾性波共振器(以下SAW共振器と略記す
る)の構成は、一般に、第1図に示すように、伝
搬媒質1の表面上に多数の反射グレーテイング電
極により形成された2個の反射器2,3を設け、
それらの間に多数の電極対により形成された交差
指電極形トランスジユーサ4を配置し、表面弾性
波が反射器2,3の間を往復することにより得ら
れる共振を電気端子5,5′を通して電気回路と
接続する、いわゆるキヤビテイ形共振器が多く用
いられている。このようなキヤビテイ共SAW共
振器では、共振器の重要な特性の一つである共振
尖鋭度Qならびに共振抵抗R1は反射係数の最大
値|Γ|naxおよびトランスジユーサの放射コン
ダクタンスGaに大きく依存し、 Q∝1/(1−|Γ|2 nax) (1) R1=(1−|Γ|nax)/2|Γ|naxGa (2) の関係のあることが知られている。そのため、共
振抵抗が低く、実用的に十分大きなQを得るため
には、反射係数|Γ|naxを1に近づけ、また放
射コンダクタンスGaを大きくしなければならな
い。そのため実際のSAW共振器では、反射器、
トランスジユーサともにきわめて多くの電極を必
要とし、伝搬媒質に水晶を用いる場合、500〜
1000本程度の反射電極を設けるのがふつうで、共
振器の小形化にとつて一つの問題となつている。
これに対し最近では反射電極数を減らすために、
第2図に示すように媒質に周期的な溝を設けて反
射係数を向上させる方法が提案されている。 上述のようなキヤビテイ形SAW共振器におい
て、トランスジユーサと反射器の間隔は重要な設
計要因である。第1図のように反射器2とトラン
スジユーサ4の間隔をlr1、反射器3とトランス
ジユーサ4の間隔をlr2とすると、最適間隔は、 lr1+lr2=(n/2+1/4)λ (3) n:整数 λ:共振周波数における表面波長 であることが知られている。 反射係数|Γ|および放射コンダクタンスGa
は共振器の特性を決定する基本的な量であるが、
これらは互いに異なる周波数特性をもつている。
第3図は反射係数および放射コンダクタンスの周
波数依存性の一例を示し、横軸は規格化周波数
0、縦軸は反射係数|Γ|および放射コンダ
クタンスの規格化値Ga/GNである。ただし0
電極周期と表面波速度で決まる固有周波数であ
り、またGNは基板材料および電極対数で決まる
定数である。反射係数が最大となる周波数をR
放射コンダクタンスが最大となる周波数をTとす
ると、第3図から分るようにTRの関係があ
る。従来のSAW共振器では周波数Rにおいて共
振を得るよう、反射器とトランスジユーサの間隔
を式(3)により決定していた。第3図から分るよう
に周波数Rにおいてはトランスジユーサの放射コ
ンダクタンスはその最大値に比べてかなり低下し
ており、トランスジユーサの特性が十分に活かさ
れていない。そのため、共振抵抗が低くQの高い
共振器を得るためには電極数をあまり減少できず
小形化のための制約となつていた。 本発明は、トランスジユーサの放射コンダクタ
ンスの周波数特性をも活用することにより、小形
にしてQ値が高く、共振抵抗および容量比の小さ
い表面弾性波共振器を提供するもので、以下にそ
の原理、構成、効果について詳述する。 本発明の基本原理は次の2点にある。すなわち
第4図に示すように反射器の反射係数が最大と
なる周波数R(以下反射器中心周波数という)と
トランスジユーサの放射コンダクタンスが最大と
なる周波数T(以下変換器中心周波数という)を
一致させ、=R(=T)の周波数において共
振条件を満足するよう変換器と反射器の間隔を設
定することである。以下、これら2条件を満足せ
しめるための共振器の構成について具体的に説明
する。 第5図は、本発明による一端子対形共振器の一
実施例である。反射器2,3およびトランスジユ
ーサ4の構成は、いずれも斜線を施した厚さhn
の電極に加えて、リアクテイブスパツタエツチン
グなどの方法により設けた深さhgの溝を有する、
金属−溝構造を用いる。ただし電極を十分厚くす
ることにより、溝をなくすことも可能である。ト
ランスジユーサ4の電極周期LTは、反射器2,
3の電極周期LRに比べてわずかに小さくするが、
その関係は次のようにして決められる。反射器中
心周波数Rは表面弾性波の伝搬速度をvsとする
と、 R=(1−C2R)vs/LR (4) で与えられることが知られている。ここでC2R
周期摂動効果によるものであり、電極材、電極厚
さhnおよび溝の深さhgにより決まる。例えばST
カツトX伝搬水晶基板にアルミ電極を設けた場合
には、 C2R=4.33×10-4+4.23 ×10-2(hn/LR)+7.90(hn/LR) (5) で与えられ、また基板に溝を設ける効果は、 C2R10.8(hg/LR2 (6) となり、第5図のような金属−溝構造において
は、式(5)の電極効果と式(6)の溝効果が重畳された
ものとして与えられる。一方、変換器中心周波数
Tは、電極厚さhn、溝の深さhgの他にトランスジ
ユーサの電極対数Nに関係するが、計算の結果を
近似的に、T {1−C2T−C1T−C1T /(0.7qT 2+0.56qT+0.43)}vs/LT (7) で与えられることがわかつた。ここでC2Tは周期
摂動項で式(5)、式(6)と同様に与えられる。また
C1Tはトランスジユーサの電極ストリツプと自由
表面の間の弾性的な不整合をあらわす項として知
られており、STカツト水晶上にアルミ電極を設
けた場合には、 C1T=6.25×10-4+0.12(hn/LT) (8) で与えられ、また溝の効果は、 C1T=0.172(hg/LT) (9) となり、金属−溝構造では両者の効果が重畳され
る。またqTはトランスジユーサの電極対数をNと
すると、 qT=πC1TN (10) で与えられるパラメータである。 式(4)および(7)により、反射器とトランスジユー
サの中心周波数一致の条件として LT/LR(1−C2R)=1−C2T−C1T−C1T−C1T /(0.7qT 2+0.56qT+0.43) (11) が得られる。C1T、C2T、C2R、qTは電極材、電極
厚さ、溝の深さおよびトランスジユーサの電極対
数で決まるから、式(11)により電極周期比LT/LR
が決定できる。C1T、C2T、C2Rは通常1に比べて
きわめて小さい(10-3のオーダー)値であるか
ら、LT/LRは1よりもわずかに小さい値となる。 次に反射器とトランスジユーサの間隔の決定法
について説明する。第5図のような1端子対キヤ
ビテイ形共振器の共振条件は一般に、 2π/λ(lT+lr1+lr2)−φR−φT=mπ (12) m:整数、λ:共振周波数における波長 で与えられる。ただしlTは変換器の長さであり、
電極対数をNとするとlTNλの関係がある。ま
たφRは反射における位相シフト量であり、反射
中心周波数RではφR=π/2であることが知られ
ている。φTはトランスジユーサを弾性波が透過
する際に受ける位相シフト量であり、計算の結果
変換器中心周波数Tにおいては近似的に、 φT=(0.3+0.55qT)π (13) で与えられることがわかつた。これから周波数R
Tにおいて共振条件を満足するためには、反射
器とトランスジユーサの間隔を、 lr1+lr2(5n+4/10+0.28qT)λ (14) とすればよい。ここでnは整数であり偶数の場合
は反対称モード、奇数の場合は対数モードの共振
に相当する。n=1、2、3、4について式
(14)を示すと表1のようになる。また表1の下
段には従来の共振器で用いられている間隔を示す
が、本発明では、トランスジユーサの特性に応じ
て最適に設定するため、従来の設計に比べて間隔
を大きくとる。
【表】 実際の共振器の製作にあたつては、反射器とト
ランスジユーサの間隔を式(14)に厳密に合わせ
る必要はなく、特に右辺第2項0.28qTは数値計算
の結果0〜0.3におきかえても、共振器の特性上
大した差異はないことが明らかになつた。また共
振波長λはLTにほぼ等しいから、反射器とトラ
ンスジユーサの間隔は式(14)の代りに 5n+4/10LTlr1+lr2(5n+4/10+0.3)LT(15
) の範囲で設定すればよい。即ち、間隔の和lは (0.5n+0.4)LTl (0.5n+0.7)LT (15)′ の範囲で設定すればよい。 第6図は、本発明による表面弾性波共振器の別
の実施例である。この実施例では、反射器とトラ
ンスジユーサの電極周期を等しくとり、それぞれ
の中心周波数を一致させるため反射器の溝をトラ
ンスジユーサの溝に比べて深くしている。また第
7図はさらに別の実施例であるが、この場合も反
射器とトランスジユーサの電極周期を一致させ、
周波数条件を満たすため反射器の電極をトランス
ジユーサに比べて厚くしている。第6図、第7図
はいずれの実施例においても、反射器とトランス
ジユーサの間隔は式(15)を満たすようにしてお
く。 第8図は本発明による2端子対形表面弾性波共
振器の実施例である。反射器2,3の反射中心周
波数とトランスジユーサ4,6の変換器周波数
は、1端子対形共振器におけると同じ方法で一致
させておく。反射器、トランスジユーサ間隔は、
反射器2とトランスジユーサ4の間隔をlr1、反
射器3とトランスジユーサ6の間隔をlr2、トラ
ンスジユーサ4と6の間隔をliとすると、 10n+11/20LTlr1+lr2+li (10n+11/20+0.6)LT (16) を満たせばよい。即ち、間隔の総和lは (0.5n+0.55)LTl(0.5n+1.15)LT
(16)′ を満たせばよい。 STカツト水晶板を用いた場合の、本発明によ
る1端子対形共振器の設計例を、従来の共振器の
設計例として比較して表2に示す。
【表】 表2の共振器は第5図の構成によるものであ
り、本発明の場合トランスジユーサの中心周波数
と反射器の中心周波数を一致させるため、電極周
期比LT/LRは1よりも小さくしている。また反
射器とトランスジユーサの間隔lr1+lr2は式(15)
においてn=3に相当している。表に示すよう
に、反射電極数が小ないもかかわらずQ値は実用
的に十分な値が得られ、容量比も比較的小さい。
一方、従来の共振器では、電極周期比LT/LR
1であり、反射器、トランスジユーサ間隔はn=
3の場合1.75LTとしている。この場合Q値はきわ
めて低く、容量比は逆にかなり大きくなつてい
る。共振器の共振抵抗R1は共振角周波数をω0
並列容量をC0、容量比をγとすると、R1=γ/
ω0・Q・C0で与えられるから、共振抵抗の小さ
い共振器を得るためにはQ値が大きく、容量比が
低いことが必要である。本発明による表面波共振
器では表2に示すようにごく少数の反射電極数に
より、Q値が高く低容量比となるから、共振抵抗
の低い良好な共振器が実現でき、VHF帯から
UHF帯において発振器に広く適用可能で、その
効果は大きい。
【図面の簡単な説明】
第1図は、キヤビテイ形表面弾性波共振器の構
成図、第2図は溝形反射器、第3図は従来の表面
弾性波共振器の反射係数|Γ|と放孔コンダクタ
ンスGaの周波数関係をあらわす図、第4図は本
発明による表面弾性波共振器の反射係数|Γ|と
放射コンダクタンスGaの周波数関係をあらわす
図、第5図は本発明による1端子対形表面弾性共
振器の一実施例の断面図、第6図は別の実施例の
断面図、第7図はさらに別の実施例の断面図、第
8図は、2端子対形表面弾性波共振器の一実施例
の断面図である。 1……圧電基板、2……反射器、3……反射
器、4,6……トランスジユーサ、5,5′,7,
7′……電気端子。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 1枚の圧電基板上に、多数の反射グレーテイ
    ングよりなる2個の表面波反射器を間隔をおいて
    形成し、両表面波反射器の間に多数の交差指電極
    よりなる1個の表面波トランスジユーサを設け、
    表面波反射器の反射係数が最大となる周波数と表
    面波トランスジユーサの放射コンダクタンスが最
    大となる周波数とを一致せしめると共に、表面波
    トランスジユーサと各表面波反射器の間隔の和l
    を、表面波トランスジユーサの電極周期をLT
    nを正の整数として、 (0.5n+0.4)LTl(0.5n+0.7)LT の範囲に設定したことを特徴とするキヤビテイ形
    表面弾性波共振器。 2 1枚の圧電基板上に、多数の反射グレーテイ
    ングよりなる2個の表面波反射器を間隔をおいて
    形成し、両表面波反射器の間に多数の交差指電極
    よりなる2個の表面波トランスジユーサを間隔を
    おいて設け、表面波反射器の反射係数が最大とな
    る周波数と、表面波トランスジユーサの放射コン
    ダクタンスが最大となる周波数とを一致せしめる
    と共に、両表面波トランスジユーサ間の間隔およ
    び相隣りあう表面波反射器と表面波トランスジユ
    ーサの間隔の総和lを、表面波トランスジユーサ
    の電極周期をLT、nを整数として、 (0.5n+0.55)LTl(0.5n+1.15)LT の範囲に設定したことを特徴とするキヤビテイ形
    表面弾性波共振器。
JP7894180A 1980-06-13 1980-06-13 Cavity type surface elastic wave resonator Granted JPS575418A (en)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7894180A JPS575418A (en) 1980-06-13 1980-06-13 Cavity type surface elastic wave resonator
GB8116284A GB2078042B (en) 1980-06-13 1981-05-28 Surface acoustic wave resonator
US06/267,680 US4387355A (en) 1980-06-13 1981-05-28 Surface acoustic wave resonator
FR8111388A FR2484735A1 (fr) 1980-06-13 1981-06-10 Resonateur a ondes acoustiques de surface
NLAANVRAGE8102818,A NL187091C (nl) 1980-06-13 1981-06-11 Akoestische oppervlaktegolfresonator.
DE19813123410 DE3123410A1 (de) 1980-06-13 1981-06-12 Akustischer oberflaechenwellen-resonator

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7894180A JPS575418A (en) 1980-06-13 1980-06-13 Cavity type surface elastic wave resonator

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS575418A JPS575418A (en) 1982-01-12
JPH027207B2 true JPH027207B2 (ja) 1990-02-16

Family

ID=13675902

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7894180A Granted JPS575418A (en) 1980-06-13 1980-06-13 Cavity type surface elastic wave resonator

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS575418A (ja)

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6273622U (ja) * 1985-10-28 1987-05-12
JP3216137B2 (ja) * 1994-09-29 2001-10-09 セイコーエプソン株式会社 Sawデバイス
JP3487772B2 (ja) * 1998-03-11 2004-01-19 富士通株式会社 弾性表面波フィルタ
KR20110133037A (ko) * 2009-02-27 2011-12-09 세이코 엡슨 가부시키가이샤 탄성 표면파 공진자, 탄성 표면파 발진기, 및 전자 기기
JP4645923B2 (ja) 2009-02-27 2011-03-09 セイコーエプソン株式会社 弾性表面波共振子、および弾性表面波発振器
JP5678486B2 (ja) 2010-06-17 2015-03-04 セイコーエプソン株式会社 弾性表面波共振子、弾性表面波発振器および電子機器
JP5934464B2 (ja) 2010-08-26 2016-06-15 セイコーエプソン株式会社 弾性表面波共振子、および弾性表面波発振器、ならびに電子機器
JP2012049817A (ja) 2010-08-26 2012-03-08 Seiko Epson Corp 弾性表面波デバイス、および弾性表面波発振器、ならびに電子機器
JP2012049818A (ja) 2010-08-26 2012-03-08 Seiko Epson Corp 弾性表面波共振子、弾性表面波発振器、電子機器
JP2012060418A (ja) 2010-09-09 2012-03-22 Seiko Epson Corp 弾性表面波デバイス、電子機器及びセンサー装置
JP2012060421A (ja) 2010-09-09 2012-03-22 Seiko Epson Corp 弾性表面波デバイス、電子機器及びセンサー装置
JP2012060419A (ja) 2010-09-09 2012-03-22 Seiko Epson Corp 弾性表面波デバイス、電子機器及びセンサー装置
JP2012060420A (ja) 2010-09-09 2012-03-22 Seiko Epson Corp 弾性表面波デバイス、電子機器及びセンサー装置
JP2012060422A (ja) 2010-09-09 2012-03-22 Seiko Epson Corp 弾性表面波デバイス、電子機器及びセンサー装置
JP5652606B2 (ja) 2010-12-03 2015-01-14 セイコーエプソン株式会社 弾性表面波共振子、弾性表面波発振器、及び電子機器
JP5648908B2 (ja) * 2010-12-07 2015-01-07 セイコーエプソン株式会社 振動デバイス、並びに発振器、および電子機器
WO2012137027A1 (en) 2011-04-07 2012-10-11 Gvr Trade Sa Surface acoustic wave resonator
JP2015029358A (ja) * 2014-10-29 2015-02-12 セイコーエプソン株式会社 弾性表面波共振子、弾性表面波発振器および電子機器

Also Published As

Publication number Publication date
JPS575418A (en) 1982-01-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102554129B1 (ko) 탄성파 디바이스들
JPH027207B2 (ja)
EP0186410B1 (en) Surface acoustic wave resonator
US11177791B2 (en) High quality factor transducers for surface acoustic wave devices
US6420946B1 (en) Surface acoustic wave arrangement with a junction region between surface acoustic wave structures having a decreasing then increasing finger period
JP3339350B2 (ja) 弾性表面波装置
US7135805B2 (en) Surface acoustic wave transducer
CN115021705B (zh) 一种高频声波谐振器及应用其的滤波器
US6946932B2 (en) Surface acoustic wave resonator with an interdigital transducer divided into regions having a different fixed pitch
US4742319A (en) Surface-acoustic-wave resonator
JPS6147009B2 (ja)
JPH0134411B2 (ja)
US4076987A (en) Multiple resonator or filter vibrating in a coupled mode
JP2620085B2 (ja) 2ポートsaw共振子
JP2000188521A (ja) 弾性表面波装置及び2ポ―ト弾性表面波共振子
JP4059147B2 (ja) 弾性表面波共振子
JP2850122B2 (ja) 2ポートsaw共振子
EP1030445A2 (en) Edge reflection type surface acoustic wave device
JPS60140918A (ja) 弾性表面波共振子
JP4158289B2 (ja) 表面弾性波素子の製造方法
JPH0124366B2 (ja)
JPS59213A (ja) 弾性表面波装置
JP2516166Y2 (ja) 共振器
JPS63173412A (ja) リ−キ−saw共振子
JPH0817303B2 (ja) リ−キ−saw共振子