JPH0257425B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0257425B2 JPH0257425B2 JP60228253A JP22825385A JPH0257425B2 JP H0257425 B2 JPH0257425 B2 JP H0257425B2 JP 60228253 A JP60228253 A JP 60228253A JP 22825385 A JP22825385 A JP 22825385A JP H0257425 B2 JPH0257425 B2 JP H0257425B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- voltage
- capacitor
- ultrasonic
- burst
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- Expired - Lifetime
Links
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 13
- 238000002604 ultrasonography Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Ultra Sonic Daignosis Equipment (AREA)
- Measurement Of Velocity Or Position Using Acoustic Or Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、パルサ回路からのバースト波で超音
波振動子を励起する超音波診断装置に関し、更に
詳しくは、該パルサ回路に抵抗及びコンデンサか
らなる回路を介してバースト波の波高を決定する
直流電圧を印加するようにした超音波診断装置に
関する。
波振動子を励起する超音波診断装置に関し、更に
詳しくは、該パルサ回路に抵抗及びコンデンサか
らなる回路を介してバースト波の波高を決定する
直流電圧を印加するようにした超音波診断装置に
関する。
（従来の技術）
従来のパルサ回路を備えた超音波診断装置とし
て、例えば、第４図に示すものがある。第４図に
おいて、超音波診断装置は、予め定めた時間毎に
（外部からのタイミング信号による）、設定された
数（通常３〜４個）のトリガ信号を出力するトリ
ガ回路１と、該トリガ信号によつて起動し、直流
電圧源２又は３の出力電圧＋Ｖ又は−Ｖで決定さ
れる波高のバースト波を超音波振動子４に出力す
るパルサ回路５とを備えている。
て、例えば、第４図に示すものがある。第４図に
おいて、超音波診断装置は、予め定めた時間毎に
（外部からのタイミング信号による）、設定された
数（通常３〜４個）のトリガ信号を出力するトリ
ガ回路１と、該トリガ信号によつて起動し、直流
電圧源２又は３の出力電圧＋Ｖ又は−Ｖで決定さ
れる波高のバースト波を超音波振動子４に出力す
るパルサ回路５とを備えている。
以上の構成において、トリガ回路１に第５図イ
に示すタイミング信号を与えると、トリガ回路１
は、第５図ロに示すトリガ信号を出力する。この
トリガ信号の数は、トリガ回路１に設定されるバ
ースト数に対応する。パルサ回路５はこのトリガ
信号により駆動され、第５図ハに示すバースト波
（波高が＋Ｖ又は−Ｖの超音波振動子励起信号）
を出力する。これにより、所定強度の超音波が被
検体に向け投射される。
に示すタイミング信号を与えると、トリガ回路１
は、第５図ロに示すトリガ信号を出力する。この
トリガ信号の数は、トリガ回路１に設定されるバ
ースト数に対応する。パルサ回路５はこのトリガ
信号により駆動され、第５図ハに示すバースト波
（波高が＋Ｖ又は−Ｖの超音波振動子励起信号）
を出力する。これにより、所定強度の超音波が被
検体に向け投射される。
（発明が解決しようとする問題点）
しかし、従来の超音波診断装置にあつては、パ
ルサ回路は、波高が常に一定（＋Ｖ又は−Ｖ）の
バースト波をトリガ信号数に従つて出力するよう
になつているため、トリガ回路等のトラブルによ
つてパルサ回路が常時駆動状態になると（トリガ
信号が所定数以上連続して与えられる状態）、超
音波振動子の発熱が大きくなり、超音波振動子を
破壊したり、被検体に火傷を負わせる恐れがあつ
た。従つて、トリガ回路等のトラブルによつて機
器の損傷が大きくなるばかりか、安全性に欠ける
という問題があつた。
ルサ回路は、波高が常に一定（＋Ｖ又は−Ｖ）の
バースト波をトリガ信号数に従つて出力するよう
になつているため、トリガ回路等のトラブルによ
つてパルサ回路が常時駆動状態になると（トリガ
信号が所定数以上連続して与えられる状態）、超
音波振動子の発熱が大きくなり、超音波振動子を
破壊したり、被検体に火傷を負わせる恐れがあつ
た。従つて、トリガ回路等のトラブルによつて機
器の損傷が大きくなるばかりか、安全性に欠ける
という問題があつた。
本発明は、上記に鑑みてなされたものであり、
その目的は、トリガ回路等のトラブルによつて誘
発される機器の損傷を防ぐと共に、安全性を向上
させた超音波診断装置を提供するにある。
その目的は、トリガ回路等のトラブルによつて誘
発される機器の損傷を防ぐと共に、安全性を向上
させた超音波診断装置を提供するにある。
（問題点を解決するための手段）
上記目的を達成する本発明の超音波診断装置
は、パルサ回路に抵抗及びコンデンサからなる回
路を介してバースト波の波高を決定する直流電圧
を印加する構成となつている。
は、パルサ回路に抵抗及びコンデンサからなる回
路を介してバースト波の波高を決定する直流電圧
を印加する構成となつている。
（実施例）
以下、図面を参照し本発明について詳細に説明
する。
する。
第１図は、本発明の一実施例を示す構成図であ
る。第１図において、第４図と同一符号は同一意
味で用いられているので、ここでの説明を省略す
る。この実施例の特徴は、パルサ回路５に抵抗
R1及びコンデンサC1からなる回路６を介して直
流電圧源２の出力＋Ｖを印加すると共に、抵抗
R2及びコンデンサC2からなる回路７を介して直
流電圧源３の出力−Ｖを印加する点にある。
る。第１図において、第４図と同一符号は同一意
味で用いられているので、ここでの説明を省略す
る。この実施例の特徴は、パルサ回路５に抵抗
R1及びコンデンサC1からなる回路６を介して直
流電圧源２の出力＋Ｖを印加すると共に、抵抗
R2及びコンデンサC2からなる回路７を介して直
流電圧源３の出力−Ｖを印加する点にある。
尚、回路６及び７の各抵抗値及び各コンデンサ
の容量値は等しく、夫々Ｒ（この値は比較的大き
く選定されている）及びＣとなつている。
の容量値は等しく、夫々Ｒ（この値は比較的大き
く選定されている）及びＣとなつている。
以上の構成において、通常のバースト状態（３
〜４個のトリガ信号が短時間に与えられる状態）
のとき、第１図の回路は、等価的に第２図イの構
成となる（ここで、抵抗R1及びR2の各抵抗値Ｒ
が大きいので省略されている）。即ち、超音波振
動子４（容量Cpのコンデンサとして示されてい
る）には、コンデンサC1又はC2に充電された電
荷が、トリガ信号によつてａ側又はｂ側に切替え
られるスイツチ８（パルサ回路５の要部を表して
いる）を介して供給される。第２図イの回路の初
期状態では、ａ〜ｂ間電圧Ｅは2Vである（ａ〜
ｂ間に蓄えられる電荷はVCとなつている）。この
状態でスイツチ８がａ→ｂ、又は、ｂ→ａと切替
えられると１回の切替え毎に2VCp（正しくは
2ECp）づつ電荷が減少することになる。従つて、
ａ〜ｂ間電圧Ｅは下記の関係式で示すようにな
り、パルサ回路５の出力は第３図ロの時間T1の
波形となる。
〜４個のトリガ信号が短時間に与えられる状態）
のとき、第１図の回路は、等価的に第２図イの構
成となる（ここで、抵抗R1及びR2の各抵抗値Ｒ
が大きいので省略されている）。即ち、超音波振
動子４（容量Cpのコンデンサとして示されてい
る）には、コンデンサC1又はC2に充電された電
荷が、トリガ信号によつてａ側又はｂ側に切替え
られるスイツチ８（パルサ回路５の要部を表して
いる）を介して供給される。第２図イの回路の初
期状態では、ａ〜ｂ間電圧Ｅは2Vである（ａ〜
ｂ間に蓄えられる電荷はVCとなつている）。この
状態でスイツチ８がａ→ｂ、又は、ｂ→ａと切替
えられると１回の切替え毎に2VCp（正しくは
2ECp）づつ電荷が減少することになる。従つて、
ａ〜ｂ間電圧Ｅは下記の関係式で示すようにな
り、パルサ回路５の出力は第３図ロの時間T1の
波形となる。
E(0)＝2V
E(1)＝2V（Ｃ−2Cp）／（Ｃ＋Cp）
E(o)＝2V｛（Ｃ−2Cp）／（Ｃ＋Cp）｝n
但し、
E(0)…初期状態のａ〜ｂ間電圧
E(1)…１回切替え後のａ〜ｂ間電圧
E(o)…ｎ回切替え後のａ〜ｂ間電圧
上記各式及び第３図イから明らかなように、パ
ルサ回路５の出力はＣ（コンデンサC1及びC2の容
量）とCp（超音波振動子４の容量）との比によつ
て決定される時定数で減衰する。このパルサ回路
５の出力低下は、通常使用されるバースト数（３
〜４個）では実用上ほとんど問題にならない。
ルサ回路５の出力はＣ（コンデンサC1及びC2の容
量）とCp（超音波振動子４の容量）との比によつ
て決定される時定数で減衰する。このパルサ回路
５の出力低下は、通常使用されるバースト数（３
〜４個）では実用上ほとんど問題にならない。
一方、バースト状態が長時間続いたときの第１
図の等価回路は、第２図イから第２図ロに変る。
第２図ロの構成において、超音波振動子Cpには、
直流電圧源２又は３から抵抗R1又はR2を介して
電荷が供給される。このとき、超音波振動子Cp
に流れ込む電荷量QiはＶ・ｔ／Ｒとなる（Qi＝
Ｖ・ｔ／Ｒ、ｔ…スイツチ８の接点がａ又はｂに
接触している時間を示し、極めて短い時間）。又、
超音波振動子Cpで消費される電荷量Q0はＥ・Cp
である（Q0＝Ｅ・Cp）。ここで、Qi＝Q0が成立し
ているので、ａ〜ｂ間電圧Ｅは下記の関係式とな
る。
図の等価回路は、第２図イから第２図ロに変る。
第２図ロの構成において、超音波振動子Cpには、
直流電圧源２又は３から抵抗R1又はR2を介して
電荷が供給される。このとき、超音波振動子Cp
に流れ込む電荷量QiはＶ・ｔ／Ｒとなる（Qi＝
Ｖ・ｔ／Ｒ、ｔ…スイツチ８の接点がａ又はｂに
接触している時間を示し、極めて短い時間）。又、
超音波振動子Cpで消費される電荷量Q0はＥ・Cp
である（Q0＝Ｅ・Cp）。ここで、Qi＝Q0が成立し
ているので、ａ〜ｂ間電圧Ｅは下記の関係式とな
る。
Ｅ＝Ｖ・ｔ／Ｒ・Cp
従つて、バーストが長時間続いたとき、パルサ
回路５の出力は、ＲとCpで決まる時定数で減少
し、最終的には抵抗値Ｒで決まる電圧Ｖ・ｔ／
Ｒ・Cpにおちつく。この出力電圧は、第３図ロ
の時間T2に示す波形となる。これにより、バー
ストが長時間続いたとき、超音波振動子Cpには、
大きな電圧＋Ｖ又は−Ｖが印加されることがな
い。
回路５の出力は、ＲとCpで決まる時定数で減少
し、最終的には抵抗値Ｒで決まる電圧Ｖ・ｔ／
Ｒ・Cpにおちつく。この出力電圧は、第３図ロ
の時間T2に示す波形となる。これにより、バー
ストが長時間続いたとき、超音波振動子Cpには、
大きな電圧＋Ｖ又は−Ｖが印加されることがな
い。
（発明の効果）
以上、説明の通り、本発明の超音波診断装置に
よれば、比較的大きな値を有する抵抗及びコンデ
ンサが超音波振動子に対して所定の関係で接続さ
れる回路を介してパルサ回路に直流電圧を印加し
ているため、簡単な構成で、バーストの長時間状
態における超音波振動子の発熱を抑えることがで
きる。従つて、トリガ回路等のトラブルによつて
誘発される機器の損傷を防ぐと共に、安全性を向
上させることができる。
よれば、比較的大きな値を有する抵抗及びコンデ
ンサが超音波振動子に対して所定の関係で接続さ
れる回路を介してパルサ回路に直流電圧を印加し
ているため、簡単な構成で、バーストの長時間状
態における超音波振動子の発熱を抑えることがで
きる。従つて、トリガ回路等のトラブルによつて
誘発される機器の損傷を防ぐと共に、安全性を向
上させることができる。
第１図は、本発明の一実施例を示す構成図、第
２図イ及びロは、第１図の等価回路、第３図イ乃
至ハは、本発明の一実施例における動作波形図、
第４図は、従来例を示す構成図、第５図イ乃至ハ
は、従来例における動作波形図である。 １……トリガ回路、２及び３……直流電圧源、
４……超音波振動子、５……パルサ回路、６及び
７……抵抗及びコンデンサからなる回路、８……
スイツチ（パルサ回路の要部）。
２図イ及びロは、第１図の等価回路、第３図イ乃
至ハは、本発明の一実施例における動作波形図、
第４図は、従来例を示す構成図、第５図イ乃至ハ
は、従来例における動作波形図である。 １……トリガ回路、２及び３……直流電圧源、
４……超音波振動子、５……パルサ回路、６及び
７……抵抗及びコンデンサからなる回路、８……
スイツチ（パルサ回路の要部）。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 予め定めた時間毎に印加される所定数のトリ
ガ信号に従つてバースト波を超音波振動子に出力
するパルサ回路を備えた超音波診断装置におい
て、 前記パルサ回路に抵抗及びコンデンサからなる
回路を介してバースト波の波高を決定する直流電
圧を印加する構成であつて、該コンデンサは超音
波振動子と並列的に構成されると共に、前記抵抗
は超音波振動子と直列的に構成され、かつバース
ト状態が短時間のときには超音波振動子に前記コ
ンデンサの充電電圧が印加され、バースト状態が
長時間にわたつたときには超音波振動子に該抵抗
を介して前記直流電圧が印加されるように比較的
大きな抵抗値に選定されていることを特徴とする
超音波診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22825385A JPS6287141A (ja) | 1985-10-14 | 1985-10-14 | 超音波診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22825385A JPS6287141A (ja) | 1985-10-14 | 1985-10-14 | 超音波診断装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6287141A JPS6287141A (ja) | 1987-04-21 |
| JPH0257425B2 true JPH0257425B2 (ja) | 1990-12-04 |
Family
ID=16873566
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22825385A Granted JPS6287141A (ja) | 1985-10-14 | 1985-10-14 | 超音波診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6287141A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63305837A (ja) * | 1987-06-05 | 1988-12-13 | Katsuyuki Miyasaka | 電子機器 |
| JP5377498B2 (ja) * | 2009-03-12 | 2013-12-25 | パナソニック株式会社 | 超音波診断装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60158840A (ja) * | 1984-01-31 | 1985-08-20 | 株式会社東芝 | 超音波診断装置 |
-
1985
- 1985-10-14 JP JP22825385A patent/JPS6287141A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60158840A (ja) * | 1984-01-31 | 1985-08-20 | 株式会社東芝 | 超音波診断装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6287141A (ja) | 1987-04-21 |
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