JPH0249015B2 - - Google Patents

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JPH0249015B2
JPH0249015B2 JP57204008A JP20400882A JPH0249015B2 JP H0249015 B2 JPH0249015 B2 JP H0249015B2 JP 57204008 A JP57204008 A JP 57204008A JP 20400882 A JP20400882 A JP 20400882A JP H0249015 B2 JPH0249015 B2 JP H0249015B2
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JP
Japan
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magazine
magazines
elements
cassette
standby
Prior art date
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Application number
JP57204008A
Other languages
English (en)
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JPS5994433A (ja
Inventor
Masaaki Yasunaga
Jiro Tsuchishima
Eizo Wada
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Seimitsu Co Ltd
Original Assignee
Tokyo Seimitsu Co Ltd
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Publication date
Application filed by Tokyo Seimitsu Co Ltd filed Critical Tokyo Seimitsu Co Ltd
Priority to JP57204008A priority Critical patent/JPS5994433A/ja
Publication of JPS5994433A publication Critical patent/JPS5994433A/ja
Publication of JPH0249015B2 publication Critical patent/JPH0249015B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L22/00Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明はIC、LSI等のような半導体素子の電
気的性能を測定し、その結果を判断して多分類に
選別する装置に係るものである。従来、これらの
装置は測定しようとする半導体素子(以下単に素
子とする)を収納する棒状のマガジンを装置の供
給側に取付け、これから素子を送り出して測定、
選別して、収納側に別に配置された多数本のマガ
ジンの中に分類に従つて収納するもので、マガジ
ンの供給および選別の後の素子によつて満杯とな
つたマガジンの取出しは人手によつて行なつてい
た。ところが測定選別の高速化に伴い1人の作業
者の扱う選別装置の台数には限りがあるため、こ
れを何とか自動化して高能率の装置を開発する試
みがなされてきた。
従来装置の一例としてマガジンを多数本収容す
るカセツトを考え、これをもつて取扱うことによ
つて合理化しようとするものがある。例えば特開
昭56−66767号であるが、これはマガジンを複数
本並列にカセツト中に収容し、カセツトごと装置
に供給し、素子放出の終つたカセツトをそのまま
分類収容部に移すもので、最終搬出もカセツトに
よつて取扱うことができる。ところが、いま3分
類する場合を考えると3つのカセツトを配置し
て、この中のマガジンに選別された素子を送り込
む必要がある。さらに分類数Nが多くなるとカセ
ツトN個配置して、これに素子を送り込まねばな
らなくなり、平面的にカセツトを配置した場合に
は大きな面積をとり、従つて装置全体が大きくな
らざるを得ない。そこで装置を小さくするために
はカセツト内に収容するマガジンの本数を減少す
ることが考えられるが、これではカセツトの交換
の頻度が多くなり自動化の要請には充分応えるこ
とができない。また、上記に示された例ではカセ
ツトが装置の中を移動するため必然的に装置が大
きく、かつ強固に作らねばならず取扱い難い装置
となる欠点があつた。
本発明はこれらの点を改善し、全体を小さくか
つ連続高速運転を可能としたものであつて、その
ため装置内を移動するのはマガジンだけとし、カ
セツトは最初の供給と最終の取出しに使用する。
そしてマガジンを縦積みの状態にカセツト内に収
容することによつて立体的にコンパクトに構成す
ることができる。
第1図は本発明において使用するカセツトであ
つて、素子1を多数個収納する棒状のマガジン2
はカセツト3の下から上に押し込まれ、かつ両側
に設けられた爪4によつて保持され、爪4を開く
ことによつて下から取出すことができるものを使
用する。
つぎに第2図、第3図によつて全体の構成を説
明する。これから測定選別される素子を満杯に収
納したマガジン2を縦積みに入れた上記のカセツ
ト3をAのカセツト供給位置にセツトする。そし
てその下はマガジン取出位置Bであつて、カセツ
ト3からマガジン2を1本ずつ取出して図の左方
向に搬送する。送られたマガジンはCのマガジン
傾斜位置において素子の送り出し口を下にして傾
斜されて、収納されている素子を1個ずつ滑落さ
せる。そして素子を送り出し終つたマガジンは、
この位置で素子が残存しているか否かの検査を受
ける。そして素子の残存が検出された場合には振
動を与えるとか空気噴射を行なう等の処置によつ
て素子送り出しの援助を所定回数行う。次にマガ
ジンは水平位置に戻されて、もし先の素子送り出
しの援助にもかかわらずマガジンに素子が残存し
ていた場合には、D位置においてそのマガジンの
みを系外に排出する。そして完全に空であると確
認されたマガジンだけが降下位置Eにおいて下降
し、F位置のマガジン待機位置に入つてストツク
される。
一方Cのマガジン傾斜位置より送り出された素
子は従来装置と同様に、1個送り機構を通つて測
定位置Gに入り、電気的性能の測定・判定が行な
われ、その素子の選別分類a,b,c,d…が決
定され記憶される。素子はシユートを通りH位置
において方向変換機構により図の右方向の傾斜シ
ユートを通り、選別位置Iに入る。ここでは搬送
ベルト上に素子の保持装置を設け、これによつて
素子を受け取つて、ベルトを指定されただけ移動
させて、素子を指定移動分類位置a,b,c,d
…に放出する。すなわちaに分類されたとすれ
ば、保持装置はaの収容位置において停止して素
子を放出する。なお選別位置Iの次には素子の待
機位置J、素子分類収容位置Kを設けて、N本の
マガジンとそれの導入部の待機部とが傾斜した一
平面上に等間隔に配列される。ここで素子の待機
位置Jにおいては、通常は素子が通過するだけで
あるが、収容位置Kのマガジンの1本が満杯とな
り、そのマガジンの交換が行なわれる間、素子の
待機機構は通路の末端を一時閉じて、送られてく
る素子を一時ストツクして選別作業の続行に支障
をきたさないようにする。
第3図において、前述のマガジン待機位置Fに
入つた空マガジンは、後述するマガジン交換機構
によつて素子分類収容位置Kにあるマガジンのう
ち満杯となつたものの位置に運ばれて交換され、
満杯マガジンは交換機構によつて押し上げられ、
マガジン収容位置Lにあるカセツト3内に下から
押し込まれる。すなわち、いまK位置においてd
に分類された素子を収納するd分類マガジンが満
杯になつたとすると、空マガジンは交換機構によ
つてdマガジンの下に移されて、その位置にセツ
トされ、満杯マガジンはその上Lに待機するdマ
ガジンを収容するカセツト3に下から押し込まれ
る。
以上の構成において、最初にマガジンの待機位
置Fに予備マガジンを入れ、素子分類収容位置K
にマガジンをN本装着して、A位置にカセツト3
を供給すると供給カセツト中のマガジンは次々と
送り出され、空マガジンとなつたものは満杯マガ
ジンの後に補充されてバランスよく連続無人運転
が可能となり、カセツトの供給、搬出のみを行な
えばよい。なお素子の待機機構が設けられている
ので、満杯マガジンの交換、カセツト内への収容
に関係なく素子の検査、選別の操作が続行され
る。
以下に各位置に設けられた機構について説明す
る。第4図にカセツトの両側面に設けられる爪の
構造の一例を示す。ここでは爪4の下方に傾斜面
6を設け、下からレバー7が傾斜面6を押し付け
ることによつて爪4はスプリング8を圧縮して時
計方向に旋回し最下段のマガジン2を下方に落と
すよう構成されている。第5図はカセツト供給位
置Aおよびマガジン取出位置Bにおけるマガジン
の取出機構の一例を示すもので、マガジン2を縦
1列に収容しているカセツト3は案内9によつて
所定位置にセツトされる。なお、このカセツト3
には両側面下部に爪4が取付けられる。ここで図
の下のマガジン取出機構は左右対称であるので、
左側について説明する。レバー7は旋回して爪4
の傾斜面6に入つて、当つて爪4を左の方に押し
開きカセツトの下方を開放する。このときマガジ
ン受け12は上昇してマガジン2を下から支えて
いる。ついで第2の爪10が下から2番目のマガ
ジンに入つて、2番目以上のマガジンを支えて、
受け12上には1本のマガジン2が置かれる。受
け12の下にはチエーン14が設けられ、チエー
ンには突出部15が設けられている。チエーン1
4はチエーンホイール13にかけられて、指令に
よつてホイールは回転する。受け12はマガジン
2を受け取ると下降し、マガジン2は突出部15
上に置かれ、チエーン14によつて紙面に直角方
向に搬送される。なおマガジンの取出し搬送はC
位置における傾斜マガジンが空になつて、傾斜台
が水平に復帰した時点において行なわれる。
傾斜台に送り込まれたマガジンは出口を閉鎖し
て傾斜され、測定位置Gへのシユートとの連結が
完了したところで出口を開き、従来の自動検査装
置と同様の測定部Gへの1個送り機構を経て素子
が送り出される。そして送り出しが完了したと
き、マガジンに残留する素子があるか否かを検査
するが、これには光線をマガジンに通す方法、フ
イーラーを挿入する方法等が用いられる。そして
もし残存素子があることが判明すれば素子の送り
出しを助けるためにマガジンの振動、加圧空気の
噴射を行ない、更にその後に再び残存検出を行な
う。ここで残存ありと判断されたマガジンは次の
素子残存マガジン処理位置Dにおいてトラツプを
開いて、そのマガジンのみを系外に排出する。こ
れは本発明においては素子の供給に使用されたマ
ガジンがそのまま分類選別素子収納用として転用
されるためである。
次に素子の選別に際しては、J位置に素子の待
機機構を設けるが、これはその下流末端にストツ
パーを設けたシユートであつて、その下のマガジ
ンが満杯になると、そのマガジンが空マガジンと
交換される間、その系列の待機機構のストツパー
を作動させて、選別されてくる素子を一時ストツ
クし、マガジンの交換が完了したときストツパー
を開いて、待機機構Jに一時ストツクされた素子
をマガジンに送り込む。
次にマガジン交換機構について説明する。第3
図において、分類収容のマガジンdが満杯になつ
たとすると、マガジン交換機構はマガジン待機位
置Fから空マガジン1本を受け取つて、K位置の
マガジンdの直下にきて満杯のマガジンdを旋回
して押し上げると共に、ここに新マガジンを装填
し、更にマガジンdを押し上げてカセツトdの中
に下からこれを押し込み、マガジン交換機構を復
帰する。
第6図にマガジン交換機構の一例を示す。マガ
ジン交換機構20はK位置の素子分類収容マガジ
ン列と同じ傾斜角度を有する二つのレール23,
24上を移動台25によつて指令に従つて紙面と
直角方向に移動する。そして移動台25に設けら
れたエアシリンダ26により、台25に平行に、
かつ直角方向に移動する中間板27を設け、この
中間板27の上にマガジン受け28,29を取付
ける。中間板27の図の右側には支点31を設
け、これに旋回板32を取付け、その中間に長孔
を設けて、これに軸33を入れる。軸33を先端
に有するロツドはエアシリンダ34によつて移動
し、旋回板32を支点31を中心として時計方向
に旋回させる。旋回板32の左端にはマガジン受
け35を上向きに設けると共に、中間板27の右
端にマガジン受け36を設けて、この二つのマガ
ジン受け35,36の上面で後述するように満杯
となつた収容マガジン21を旋回させて、カセツ
ト3内に押し込むよう構成されている。なお、K
位置にある収容マガジン21には各個にマガジン
クランパ22が設けられ、かつマガジンの移動の
案内をするガイド板37および38を設ける。
このような構造において素子分類収容位置Kに
セツトされているマガジン21が測定選別された
素子によつて満杯となると、空マガジン30をマ
ガジン受け28,29上に保持してマガジン待機
位置Fで待機しているマガジン交換機構20がレ
ール23,24上を移動してきて、第6図に示す
ようにマガジン受け35,36が満杯マガジン2
1に接した状態で停止する。次いでマガジンクラ
ンパ22が満杯マガジン21のクランプを解除す
ると、同時にエアシリンダ34が作動して旋回板
32が支点31を中心に時計方向に旋回し、マガ
ジン受け35は一点鎖線で示す35′の位置へ旋
回移動して停止する。この時満杯マガジン21は
マガジン受け35,36上に支持されているため
ガイド板37,38に案内されながら旋回移動し
て一点鎖線で示す21′の位置で停止する。次い
でエアシリンダ26が作動して中間板27を押し
上げると35′で示す位置に停止していたマガジ
ン受け35″の位置へ、支点31は31′の位置
へ、マガジン受け36は36′の位置へ押し上げ
られ、従つて満杯マガジン21′はカセツト3の
両側面の2つの爪4を押し広げて21″に示すよ
うにカセツト3の下部から収容される。
一方、空マガジン30は先のエアシリンダ26
の作動により、同時に素子分類収容位置Kまで押
し上げられて停止し、マガジンクランパ22によ
つてクランプされて新たな測定選別された素子を
収納できる状態にセツトされる。このようにして
満杯マガジン21はカセツト3内に収容され、空
マガジン30が素子分類収容位置Kにセツトされ
た後、マガジン交換機構20は下降してレール2
3,24上を移動してマガジン待機位置Fに戻つ
て新たな空マガジンを保持して待機する。なお、
先の説明において旋回板32の二つの受け35,
36は下方復帰の際、K位置においてセツトされ
たマガジンに接触しないための逃げ機構が設けら
れている。
なお、上記説明においては素子並びにマガジン
の搬送、移動機構、指令機構等公知のものは説明
が複雑となるので省略したが、本発明の素子、マ
ガジンの流れを確実に行なう方法であれば、その
いずれをも採用することができる。また上記説明
においては供給カセツトを水平に入れ、これより
マガジンを1本取出して後傾斜させて、素子を送
り出すものについて述べたが、供給するカセツト
を最初から傾斜させて装填し、これを傾斜状態に
おいて素子の出口を閉鎖した状態でマガジン1本
を取り出し、素子送り出し位置において開口して
素子を送り出し、次の工程に移すことも可能であ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明が取扱う半導体素子、マガジン
およびカセツトの説明図、第2図・第3図は本発
明の構成を示す説明図、第4図はカセツト下部の
断面図、第5図はマガジン取出し搬送機構の側面
図、第6図はマガジン交換機構の側面図。 1:半導体素子、2:マガジン、3:カセツ
ト、4:爪、12:マガジン受け、14:搬送用
チエーン、20:マガジン交換機構、23,2
4:レール、25:移動台、27:中間板、2
8,29,35,36:受け、32:旋回板。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 半導体素子を収納するマガジンを縦積みに収
    容するカセツトを使用し、その下方よりマガジン
    を1本ずつ取出す機構と、取出されたマガジンか
    ら素子を放出する機構と、放出後のマガジンに素
    子が残存していることを検知した場合そのマガジ
    ンを系外に排出する機構と、素子の供給に使用さ
    れ空であることの確認されたマガジンを一時スト
    ツクするマガジン待機機構と、測定された素子を
    傾斜して並列配置された分類数N本のマガジンに
    選別する選別機構と、選別された素子の待機保持
    を可能とした待機機構と、分類された素子によつ
    て満杯となつたマガジンをストツク中の空マガジ
    ンと交換し、かつ満杯マガジンをその直上に待機
    するカセツトに収容するマガジン交換機構とを有
    する半導体素子の選別装置。
JP57204008A 1982-11-19 1982-11-19 半導体素子の選別装置 Granted JPS5994433A (ja)

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JP57204008A JPS5994433A (ja) 1982-11-19 1982-11-19 半導体素子の選別装置

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JP3213938A Division JPH04355945A (ja) 1991-08-26 1991-08-26 半導体素子の選別方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5994433A JPS5994433A (ja) 1984-05-31
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Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5984892U (ja) * 1982-11-29 1984-06-08 株式会社アドバンテスト Ic試験装置
JPS611097A (ja) * 1984-06-14 1986-01-07 日立電子エンジニアリング株式会社 マガジン自動供給装置
JPS6110572U (ja) * 1984-06-25 1986-01-22 株式会社アドバンテスト マガジンカセツト
JPS6153799A (ja) * 1984-08-23 1986-03-17 松下電器産業株式会社 部品供給装置
JPS6163094A (ja) * 1984-09-04 1986-04-01 松下電器産業株式会社 部品供給装置
JPS61178304A (ja) * 1985-01-31 1986-08-11 Nichiden Mach Ltd ワ−ク処理装置
JPS6274836A (ja) * 1985-09-30 1987-04-06 Toshiba Corp Ic試験用ハンドリング装置
JPS62261140A (ja) * 1986-05-07 1987-11-13 Nec Corp 半導体装置の電気的測定用のハンドリング装置
US4876305A (en) * 1987-12-14 1989-10-24 The B. F. Goodrich Company Oxidation resistant compositions for use with rare earth magnets
JPH0814601B2 (ja) * 1987-12-25 1996-02-14 東京エレクトロン株式会社 テープキャリヤの検査装置
JPH01165700U (ja) * 1988-05-09 1989-11-20

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