JPH02385A - ダイヤモンド発光素子およびその製造方法 - Google Patents
ダイヤモンド発光素子およびその製造方法Info
- Publication number
- JPH02385A JPH02385A JP63005326A JP532688A JPH02385A JP H02385 A JPH02385 A JP H02385A JP 63005326 A JP63005326 A JP 63005326A JP 532688 A JP532688 A JP 532688A JP H02385 A JPH02385 A JP H02385A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- diamond
- center
- atoms
- emitting device
- nitrogen
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000010432 diamond Substances 0.000 title claims abstract description 104
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 93
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 30
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 110
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 claims abstract description 59
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 50
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims abstract description 35
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 claims abstract description 33
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims abstract description 16
- 125000004433 nitrogen atom Chemical group N* 0.000 claims abstract description 12
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 claims description 27
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 26
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 5
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 3
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 abstract description 43
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 20
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 15
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 13
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 12
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 9
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 7
- 238000004020 luminiscence type Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000004575 stone Substances 0.000 description 4
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 4
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 239000006061 abrasive grain Substances 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- QJGQUHMNIGDVPM-UHFFFAOYSA-N nitrogen group Chemical group [N] QJGQUHMNIGDVPM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 2
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 2
- 238000004566 IR spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000010349 pulsation Effects 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/14—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range characterised by the material used as the active medium
- H01S3/16—Solid materials
- H01S3/1681—Solid materials using colour centres
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B29/00—Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
- C30B29/02—Elements
- C30B29/04—Diamond
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B33/00—After-treatment of single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Led Devices (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
本発明は、ダイヤモンド発光素子およびその製造方法に
関し、特に、可視域で波長可変な固体レーザに用いるの
に適したダイヤモンド発光素子およびその製造方法に関
するものである。
関し、特に、可視域で波長可変な固体レーザに用いるの
に適したダイヤモンド発光素子およびその製造方法に関
するものである。
[従来の技術およびその課題]
可視域で波長可変なレーザとしては、色素(Dye)レ
ーザが現在使用されている。しかしながら、色素レーザ
には、下記のような欠点がある。
ーザが現在使用されている。しかしながら、色素レーザ
には、下記のような欠点がある。
■ 色素が励起光によって劣化するため、出力が不安定
である。
である。
■ 溶液中に色素を溶かすため、発光中心の濃度が低く
、高出力が得にくい。
、高出力が得にくい。
■ 取扱いが不便である。
このため、固体で波長可変なレーザ索子の開発が望まれ
てきた。
てきた。
ダイヤモンドは、可視域に多数のカラーセンターを持つ
ため、最も当該目的に適した物質である。
ため、最も当該目的に適した物質である。
従来より、ダイヤモンドの各種のカラーセンターの研究
が行なわれており、たとえばDiamond Re5
erch (11〜14頁、1977年)やRepor
ts on Progress in Phy
sics第42巻(1605〜1659頁、1979年
)に示されているように、レーザへの適用可能性が指摘
されてきた。
が行なわれており、たとえばDiamond Re5
erch (11〜14頁、1977年)やRepor
ts on Progress in Phy
sics第42巻(1605〜1659頁、1979年
)に示されているように、レーザへの適用可能性が指摘
されてきた。
カラーセンターのレーザへの応用については、0pti
c Letters 10 (481〜483頁、
1985年)に、530nmでパルス発振した例が示さ
れている。その報告では、H3センターを用い、530
nmの波長で発振したとされている。しかし、未だ、N
−Vセンターによるレーザ発振の報告はない。
c Letters 10 (481〜483頁、
1985年)に、530nmでパルス発振した例が示さ
れている。その報告では、H3センターを用い、530
nmの波長で発振したとされている。しかし、未だ、N
−Vセンターによるレーザ発振の報告はない。
一方、N−Vセンターは、rb型型巣素原子孤立分散型
)と格子欠陥とを結合させて作製される。
)と格子欠陥とを結合させて作製される。
N−Vセンターの励起光吸収帯は500〜638nmの
範囲にあり、ルミネッセンス(螢光)は638〜740
nmの範囲で起こる。N−Vセンターの一般的な製造工
程としては、まず予めIb型窒素を含有した原石を用意
し、その原石に対して電子線照射を施して格子欠陥を作
る。これを真空中で加熱処理(アニーリング)すること
により、格子欠陥と窒素原子とを結合させ、N−Vセン
ターを得る。N−Vセンターによるレーザ発振の検討は
、5olid 5tate La5ers。
範囲にあり、ルミネッセンス(螢光)は638〜740
nmの範囲で起こる。N−Vセンターの一般的な製造工
程としては、まず予めIb型窒素を含有した原石を用意
し、その原石に対して電子線照射を施して格子欠陥を作
る。これを真空中で加熱処理(アニーリング)すること
により、格子欠陥と窒素原子とを結合させ、N−Vセン
ターを得る。N−Vセンターによるレーザ発振の検討は
、5olid 5tate La5ers。
Springer−Verlagの「カラーセンターレ
ーザ用の合成ダイヤモンドJ (1985年)に記載
されている。その報告では、当該センターによるレーザ
発振は準安定準位ができるために不利になると述べられ
ている。
ーザ用の合成ダイヤモンドJ (1985年)に記載
されている。その報告では、当該センターによるレーザ
発振は準安定準位ができるために不利になると述べられ
ている。
本発明の目的は、従来成功しなかったN−Vセンターを
用いたレーザ発振の可能なダイヤモンド発光素子および
その製造方法を提供し、また従来にない広範囲の波長で
発光し、かつレーザの発光強度が強いダイヤモンド発光
素子を提供することにある。
用いたレーザ発振の可能なダイヤモンド発光素子および
その製造方法を提供し、また従来にない広範囲の波長で
発光し、かつレーザの発光強度が強いダイヤモンド発光
素子を提供することにある。
[課題を解決するための手段〕
第1の発明に係るダイヤモンド発光素子は、人工合成ダ
イヤモンド中のN−Vセンターにおける励起光方向の光
学密度の最大値が0.01〜3の範囲にあり、かつ53
0〜610nmにおけるIb型富窒素原子光学密度の最
大値が0.2以下の範囲にあることを特徴としている。
イヤモンド中のN−Vセンターにおける励起光方向の光
学密度の最大値が0.01〜3の範囲にあり、かつ53
0〜610nmにおけるIb型富窒素原子光学密度の最
大値が0.2以下の範囲にあることを特徴としている。
第2の発明に係るダイヤモンド発光素子は、前記人工ダ
イヤモンドの窒素濃度が1×1017〜lX10’9原
子/ c m ”である。
イヤモンドの窒素濃度が1×1017〜lX10’9原
子/ c m ”である。
第3の発明に係るダイヤモンド発光素子は、前記人工合
成ダイヤモンドがさらにH3センターを結晶中に含有し
、IbおよびIa型の窒素を5×10” 〜2×10’
9原子/cm3含有するものである。
成ダイヤモンドがさらにH3センターを結晶中に含有し
、IbおよびIa型の窒素を5×10” 〜2×10’
9原子/cm3含有するものである。
第4の発明に係るダイヤモンド発光素子は、人工合成r
b型ダイヤモンドであって、lXl0’7〜2×10”
原子/cm3の窒素原子および1xl×1017 〜5
xl×1017原子/ c m ”のNi原子を含有し
、これらの原子および格子欠陥からなるカラーセンター
を有し、640〜11000nの波長範囲で連続発光す
ることを特徴とするものである。なお、好ましくは、前
記カラーセンターの発光緩和時間は、17nsec以上
である。
b型ダイヤモンドであって、lXl0’7〜2×10”
原子/cm3の窒素原子および1xl×1017 〜5
xl×1017原子/ c m ”のNi原子を含有し
、これらの原子および格子欠陥からなるカラーセンター
を有し、640〜11000nの波長範囲で連続発光す
ることを特徴とするものである。なお、好ましくは、前
記カラーセンターの発光緩和時間は、17nsec以上
である。
また、前記人工合成Ib型ダイヤモンドの窒素原子は、
たとえば孤立分散型または対形成型である。
たとえば孤立分散型または対形成型である。
第5の発明に係るダイヤモンド発光素子の製造方法は、
窒素濃度が1×1017〜lXl0’ 9原子/cm3
である人工合成ダイヤモンドを用い、前記ダイヤモンド
に2〜4 M e Vの電子線を1017〜10I 9
電子/cm2照射し、1Torr以下の真空下で600
〜1000℃の温度範囲内で加熱処理することを特徴と
している。なお、加熱処理は、5時間以上行なうのが好
ましい。
窒素濃度が1×1017〜lXl0’ 9原子/cm3
である人工合成ダイヤモンドを用い、前記ダイヤモンド
に2〜4 M e Vの電子線を1017〜10I 9
電子/cm2照射し、1Torr以下の真空下で600
〜1000℃の温度範囲内で加熱処理することを特徴と
している。なお、加熱処理は、5時間以上行なうのが好
ましい。
第6の発明に係るダイヤモンド発光素子の製造方法は、
窒素濃度が5810”〜2×102’原子/cm3であ
る人工合成ダイヤモンドを用い、前記ダイヤモンドに2
〜4 M e Vの電子線を101 ? 〜10I 8
7[子70m2照射し、3、OGPa以上かつ1700
℃以上の超高圧高温下で保持し、その後に2〜4MeV
の電子線を1017〜1018電子/ c m 2照射
し、さらにITo r r以下の真空下で600〜10
00℃の温度範囲で加熱処理することを特徴としている
。この場合、超高圧化の熱処理時間は20時間以上が好
ましい。
窒素濃度が5810”〜2×102’原子/cm3であ
る人工合成ダイヤモンドを用い、前記ダイヤモンドに2
〜4 M e Vの電子線を101 ? 〜10I 8
7[子70m2照射し、3、OGPa以上かつ1700
℃以上の超高圧高温下で保持し、その後に2〜4MeV
の電子線を1017〜1018電子/ c m 2照射
し、さらにITo r r以下の真空下で600〜10
00℃の温度範囲で加熱処理することを特徴としている
。この場合、超高圧化の熱処理時間は20時間以上が好
ましい。
また、真空下の熱処理時間は5時間以上が好ましい。
[手段の説明]
く第1.第2および第3の発明について〉N−Vセンタ
ーを用いてレーザ発振させるためには、次の構成が重要
である。
ーを用いてレーザ発振させるためには、次の構成が重要
である。
■ N−Vセンターの光学密度の最大値が0.01〜3
の間であること。
の間であること。
■ 紫外・可視域の530〜610nmの波長において
、Ib型窒素原子の光学密度の最大値が0〜0.2の範
囲にあること。
、Ib型窒素原子の光学密度の最大値が0〜0.2の範
囲にあること。
■ ダイヤモンドのIb型窒素濃度がI X 1 ’0
’7′〜lX10’9原子/ c m ”であること
。
’7′〜lX10’9原子/ c m ”であること
。
■ H3センターを共存させること。
前記構成■、■、■および■を説明するに先立ち、まず
、光学密度について比較する。光学密度は次式で定義さ
れる。
、光学密度について比較する。光学密度は次式で定義さ
れる。
光学密度−悲n(Io/I)
ここで、Ioは入射光強度、■は透過光強度である。こ
の場合、吸収が全くないときに1−1oとなる。この光
学密度の値は、結晶の厚みに依存する。また、同一物質
でも長さによって異なる。
の場合、吸収が全くないときに1−1oとなる。この光
学密度の値は、結晶の厚みに依存する。また、同一物質
でも長さによって異なる。
前記従来方法に基づき、窒素含有量が5×1018原子
/cm3 (約30ppm)以上の天然または人工のI
b型ダイヤモンドを用い、1〜5MeVの加速エネルギ
で1016〜1019電子/cm2の電子線を照射した
後、真空下で600〜1200℃の温度範囲で4時間以
上アニーリングして得た素子の代表的な光学密度変化を
第9図に示す。
/cm3 (約30ppm)以上の天然または人工のI
b型ダイヤモンドを用い、1〜5MeVの加速エネルギ
で1016〜1019電子/cm2の電子線を照射した
後、真空下で600〜1200℃の温度範囲で4時間以
上アニーリングして得た素子の代表的な光学密度変化を
第9図に示す。
一方、前記構成■、■および■を備えたダイヤモンド発
光素子の代表的な光学密度変化を第1図に示す。さらに
、前記構成■、■、■および■を備えたダイヤモンド発
光素子の代表的な光学密度変化をt82図に示す。
光素子の代表的な光学密度変化を第1図に示す。さらに
、前記構成■、■、■および■を備えたダイヤモンド発
光素子の代表的な光学密度変化をt82図に示す。
なお、第9図、第1図、第2図において、1点鎖線1,
11.21はN−Vセンターの光学密度変化を、破線2
,12.22はIb型窒素原子の光学密度変化を、2点
鎖線23はH3センターの光学密度変化を、そして実線
3,13.24はそれらの合計値としての光学密度の変
化をそれぞれ示している。
11.21はN−Vセンターの光学密度変化を、破線2
,12.22はIb型窒素原子の光学密度変化を、2点
鎖線23はH3センターの光学密度変化を、そして実線
3,13.24はそれらの合計値としての光学密度の変
化をそれぞれ示している。
構成■の説明
第3図は、厚みTの素子に、入射側よりI。の励起光を
入射した場合の素子内の励起光強度分布を示す。光学密
度は、構成■の範囲内にある代表的な場合を実線31に
、それよりも大きい代表的な場合を破線32に示す。I
、Iaはそれぞれ透過側での強度である。1thは、通
常の共振器を用いた場合においてレーザ発振に必要なし
きい値である。
入射した場合の素子内の励起光強度分布を示す。光学密
度は、構成■の範囲内にある代表的な場合を実線31に
、それよりも大きい代表的な場合を破線32に示す。I
、Iaはそれぞれ透過側での強度である。1thは、通
常の共振器を用いた場合においてレーザ発振に必要なし
きい値である。
第3図より明らかなように、1thより強度の高い励起
光分布を得るには、光学密度が低いほどよい。光学密度
が高すぎると、結晶内でレーザ発振に必要な励起光強度
(1th)以下となるところが生じる。したがって、そ
の点より透過側では、レーザ発振が生じなくなる。素子
全体として発振させるためには、素子全体として励起光
強度をlth以上とする必要がある。このためには、光
学密度を3以下に設定する必要がある。一方、光学密度
を低く設定することは、カラーセンター濃度が減少する
ことを意味する。カラーセンター濃度が低すぎると、自
励発振が起こらずレーザ発振しなくなる。すなわち、N
−Vセンターの光学密度を0.01未満とすると、レー
ザ発振しなくなる。
光分布を得るには、光学密度が低いほどよい。光学密度
が高すぎると、結晶内でレーザ発振に必要な励起光強度
(1th)以下となるところが生じる。したがって、そ
の点より透過側では、レーザ発振が生じなくなる。素子
全体として発振させるためには、素子全体として励起光
強度をlth以上とする必要がある。このためには、光
学密度を3以下に設定する必要がある。一方、光学密度
を低く設定することは、カラーセンター濃度が減少する
ことを意味する。カラーセンター濃度が低すぎると、自
励発振が起こらずレーザ発振しなくなる。すなわち、N
−Vセンターの光学密度を0.01未満とすると、レー
ザ発振しなくなる。
構成■の説明
第9図、第1図、第2図に示すように、Ib型窒素によ
る吸収(1点鎖線1,11.21)と、N−Vセンター
による吸収(破線2,12.22)とが重なる領域があ
る。一方、N−Vセンターによるレーザ発振を効率良く
行なえる励起波長は、530〜610nmの範囲である
。したがって、この波長内においてIb型窒素原子によ
る吸収があると、励起光の一部がそちらに吸収されて励
起効率が悪くなる。レーザ発振させるためには、この吸
収による上限値として、光学密度の最大値がO〜0.2
の範囲内である必要がある。
る吸収(1点鎖線1,11.21)と、N−Vセンター
による吸収(破線2,12.22)とが重なる領域があ
る。一方、N−Vセンターによるレーザ発振を効率良く
行なえる励起波長は、530〜610nmの範囲である
。したがって、この波長内においてIb型窒素原子によ
る吸収があると、励起光の一部がそちらに吸収されて励
起効率が悪くなる。レーザ発振させるためには、この吸
収による上限値として、光学密度の最大値がO〜0.2
の範囲内である必要がある。
構成■の説明
N−Vセンターの光学密度の決定に関与する最も大きな
因子は窒素含有量である。窒素含有量が1×1017原
子/ c m ”以下の場合では、必要な窒素量に達し
ないために、他の2条件をいくら変化させても0.01
以上の光学密度を持つN−Vセンターは得られない。ま
た、窒素含有量が1×1019原子/cm3を越える場
合には、電子線照射量を低減して、結合に必要な空孔の
数を一定にし、N−Vセンターの光学密度を目的の値に
制御しなければならない。この場合には、空孔と結合し
なかったIb型窒素が数多く残る。残存したIb型窒素
が多いと、530〜610nmにおける吸収が大きくな
り、光学密度が0.2を越える。また、含有窒素と結合
するのに必要な十分な空孔を作製し、アニーリング条件
によって目的とする濃度のN−Vセンターを作製しても
、未結合のIb型窒素原子が多数残り、上記と同様の不
都合が生じる。この場合には、さらに、未結合の空孔よ
りなるGR1センターの吸収が新たに生じ、レーザ発振
に悪影響を及ぼす。
因子は窒素含有量である。窒素含有量が1×1017原
子/ c m ”以下の場合では、必要な窒素量に達し
ないために、他の2条件をいくら変化させても0.01
以上の光学密度を持つN−Vセンターは得られない。ま
た、窒素含有量が1×1019原子/cm3を越える場
合には、電子線照射量を低減して、結合に必要な空孔の
数を一定にし、N−Vセンターの光学密度を目的の値に
制御しなければならない。この場合には、空孔と結合し
なかったIb型窒素が数多く残る。残存したIb型窒素
が多いと、530〜610nmにおける吸収が大きくな
り、光学密度が0.2を越える。また、含有窒素と結合
するのに必要な十分な空孔を作製し、アニーリング条件
によって目的とする濃度のN−Vセンターを作製しても
、未結合のIb型窒素原子が多数残り、上記と同様の不
都合が生じる。この場合には、さらに、未結合の空孔よ
りなるGR1センターの吸収が新たに生じ、レーザ発振
に悪影響を及ぼす。
これに対し、窒素含有量を1×1017〜lX1019
原子/cm3とすれば、適切な光学密度が得られ、上述
のような不都合は生じない。
原子/cm3とすれば、適切な光学密度が得られ、上述
のような不都合は生じない。
構成■の説明
第2図に示すように、N−Vセンターによる吸収(破線
22)にH3センター(2点鎖線23)が付加される場
合、次のような特徴が生じる。第1図のように、N−V
センターのみからなる発光素子では、530〜600n
mの励起光がレーザ発振に大きく寄与する。さらに、H
3センターが加わると、540〜500 n mの励起
光もN−Vセンターのレーザ発振に寄与する。これは、
H3センターからN−Vセンターへの遷移が起きるため
である。この遷移による増加分が、N−Vセンター本来
の530〜610nmにおける励起光の吸収に付加され
、レーザ発振強度を高める。なお、この効果を得るため
には、前述の構成■および■の条件も同時に満たす必要
がある。
22)にH3センター(2点鎖線23)が付加される場
合、次のような特徴が生じる。第1図のように、N−V
センターのみからなる発光素子では、530〜600n
mの励起光がレーザ発振に大きく寄与する。さらに、H
3センターが加わると、540〜500 n mの励起
光もN−Vセンターのレーザ発振に寄与する。これは、
H3センターからN−Vセンターへの遷移が起きるため
である。この遷移による増加分が、N−Vセンター本来
の530〜610nmにおける励起光の吸収に付加され
、レーザ発振強度を高める。なお、この効果を得るため
には、前述の構成■および■の条件も同時に満たす必要
がある。
く第4の発明について〉
第4の発明においても、人工合成ダイヤモンドを用いる
。人工合成ダイヤモンドには、膜成長法で合成した砥粒
用小粒単結晶ダイヤモンドと、温度差法で合成した大型
単結晶ダイヤモンドとがある。両者の発光緩和時間を比
較したところ、前者は13nsec、後者は15nse
c以上であることがわかり、後者の方が発光強度が強い
ので、発光素子として適していることが判明した。
。人工合成ダイヤモンドには、膜成長法で合成した砥粒
用小粒単結晶ダイヤモンドと、温度差法で合成した大型
単結晶ダイヤモンドとがある。両者の発光緩和時間を比
較したところ、前者は13nsec、後者は15nse
c以上であることがわかり、後者の方が発光強度が強い
ので、発光素子として適していることが判明した。
人工合成されたtb型ダイヤモンドは、天然ダイヤモン
ドに比較して、(i)窒素濃度を制御できるので、窒素
が均一に含有されている、(N)窒素の含有状態が孤立
分散型であり、照射や熱処理によって1種類のカラーセ
ンターのみを作製できる、という特徴がある。また、温
度差法で合成したダイヤモンドは、発光緩和時間が15
nsec以上である。このうち17nsec以上の緩和
時間を持つ素子を用いれば、膜成長法による砥粒用のダ
イヤモンドの13nsecおよび天然ダイヤモンドの1
6nsecに比べて長いという特徴がある。これらの特
徴を活かすことにより、従来にない発光強度を示す素子
が作製可能となる。
ドに比較して、(i)窒素濃度を制御できるので、窒素
が均一に含有されている、(N)窒素の含有状態が孤立
分散型であり、照射や熱処理によって1種類のカラーセ
ンターのみを作製できる、という特徴がある。また、温
度差法で合成したダイヤモンドは、発光緩和時間が15
nsec以上である。このうち17nsec以上の緩和
時間を持つ素子を用いれば、膜成長法による砥粒用のダ
イヤモンドの13nsecおよび天然ダイヤモンドの1
6nsecに比べて長いという特徴がある。これらの特
徴を活かすことにより、従来にない発光強度を示す素子
が作製可能となる。
また、第4の発明に係る素子は、含有窒素濃度、照射条
件および熱処理条件を変化させることによって、効率良
く発光する素子となる。すなわち、窒素含有量が、1×
1017〜2×10”原子/ c m 3の合成Ib型
ダイヤモンドを用い、電子線照射量を10+ 7〜10
20電子/cm2とし、かつ、超高圧高温下の熱処理条
件を1500℃。
件および熱処理条件を変化させることによって、効率良
く発光する素子となる。すなわち、窒素含有量が、1×
1017〜2×10”原子/ c m 3の合成Ib型
ダイヤモンドを用い、電子線照射量を10+ 7〜10
20電子/cm2とし、かつ、超高圧高温下の熱処理条
件を1500℃。
3、OGPa以上に選ぶことにより、Ib型窒素の一部
をIa型に変換し、残存するIb型の窒素を制御できる
。より好ましい条件は、窒素含有量が5×1017 〜
2×102°原子/cm”、電子線照射量が1×101
7〜lXl0’ 8電子/cm2、熱処理条件が170
0℃である。残存したIb型窒素に電子線照射(2Me
V、10”〜1018電子/cm2)を行ない、600
〜1000℃で真空下(1Torr以下)で熱処理する
ことにより、目的とする濃度のN−Vセンターが得られ
る。
をIa型に変換し、残存するIb型の窒素を制御できる
。より好ましい条件は、窒素含有量が5×1017 〜
2×102°原子/cm”、電子線照射量が1×101
7〜lXl0’ 8電子/cm2、熱処理条件が170
0℃である。残存したIb型窒素に電子線照射(2Me
V、10”〜1018電子/cm2)を行ない、600
〜1000℃で真空下(1Torr以下)で熱処理する
ことにより、目的とする濃度のN−Vセンターが得られ
る。
さらに、Ni添加により、1種類のカラーセンターのみ
を有する従来のダイヤモンドでは得られなかった、波長
の長い範囲(640〜101000nでルミネッセンス
発光を示す素子が作製できる。なお、Niの添加量は、
1×1017原子/cm’未満では効果がなく、発光域
は640〜840nmの範囲となる。また、5X10’
8原子/ c m ”を超えると、発光効率が低下し
始める。
を有する従来のダイヤモンドでは得られなかった、波長
の長い範囲(640〜101000nでルミネッセンス
発光を示す素子が作製できる。なお、Niの添加量は、
1×1017原子/cm’未満では効果がなく、発光域
は640〜840nmの範囲となる。また、5X10’
8原子/ c m ”を超えると、発光効率が低下し
始める。
以上のように、ダイヤモンドが熱力学的に安定な領域内
で温度差法によって合成されかつNiが添加されたIb
型ダイヤモンドを用い、1017〜1020電子/ c
m 2の電子線照射を行ない、その後600〜100
0℃の真空下または3、OGPa、1500℃以上の超
高圧高温下で熱処理した後、10” 〜10’ 8電子
/cm2の電子線照射および600〜1000℃の真空
下で熱処理することによって、第4の発明に係るダイヤ
モンド発光素子が得られる。
で温度差法によって合成されかつNiが添加されたIb
型ダイヤモンドを用い、1017〜1020電子/ c
m 2の電子線照射を行ない、その後600〜100
0℃の真空下または3、OGPa、1500℃以上の超
高圧高温下で熱処理した後、10” 〜10’ 8電子
/cm2の電子線照射および600〜1000℃の真空
下で熱処理することによって、第4の発明に係るダイヤ
モンド発光素子が得られる。
く第5の発明について〉
次に、第5の発明としてのダイヤモンド発光素子の製造
方法を説明する。なお、この発明は、第1、第2および
第3の発明の実施に際して採用されるものである。
方法を説明する。なお、この発明は、第1、第2および
第3の発明の実施に際して採用されるものである。
この製造方法の最大の特徴は、窒素含量が1×1017
〜lXl0’ 9原子/c、〜3のダイヤモンドを用
いることにある。このことに基づく効果は、第1、第2
および第3の発明についての説明で述べたとおりである
。この製造方法では、Ib型ダイヤモンドからN−Vセ
ンターを作製するのに、第4図の工程を採用する。N−
Vセンターは、含有されている窒素と電子線照射した空
孔とをアニーリングによって結晶中に結合させて作製さ
れる。したがって、窒素含有量、電子線照射条件、およ
びアニーリング条件によって、N−Vセンターの濃度(
光学密度)を変えることができる。
〜lXl0’ 9原子/c、〜3のダイヤモンドを用
いることにある。このことに基づく効果は、第1、第2
および第3の発明についての説明で述べたとおりである
。この製造方法では、Ib型ダイヤモンドからN−Vセ
ンターを作製するのに、第4図の工程を採用する。N−
Vセンターは、含有されている窒素と電子線照射した空
孔とをアニーリングによって結晶中に結合させて作製さ
れる。したがって、窒素含有量、電子線照射条件、およ
びアニーリング条件によって、N−Vセンターの濃度(
光学密度)を変えることができる。
原石素材としては、人工合成したIb型ダイヤモンドが
適している。さらに好ましくは、温度差法によって合成
したダイヤモンドを用いるのがよい。人工合成ダイヤモ
ンドを使用すると、含有されている窒素の100%はI
b型であることがらN−Vセンターの光学密度が制御し
やすく、バルク状の不純物が少なく、しかも大型の結晶
が得られる。
適している。さらに好ましくは、温度差法によって合成
したダイヤモンドを用いるのがよい。人工合成ダイヤモ
ンドを使用すると、含有されている窒素の100%はI
b型であることがらN−Vセンターの光学密度が制御し
やすく、バルク状の不純物が少なく、しかも大型の結晶
が得られる。
電子線照射条件としては、2〜4MeV、1017〜1
018電子/cm2の範囲が良い。1017未満では、
未結合の窒素原子が残りやすくなる。また、1018を
越えると、空孔が多過ぎて未結合のまま残存しやすくな
る。
018電子/cm2の範囲が良い。1017未満では、
未結合の窒素原子が残りやすくなる。また、1018を
越えると、空孔が多過ぎて未結合のまま残存しやすくな
る。
アニーリング条件は、600〜1000℃の条件が良い
。600℃未満ではN−Vセンターが形成されない。1
000℃を超えると、N−Vセンターの破壊が生じ始め
る。
。600℃未満ではN−Vセンターが形成されない。1
000℃を超えると、N−Vセンターの破壊が生じ始め
る。
1Torr以下の真空下で・製造を行なわないと。
ダイヤモンドの表面が黒鉛化する。
く第6の発明について〉
第1.第2および第3の発明に係るダイヤモンド発光素
子を製造する方法として、第6の発明に係る方法を採用
することもできる。
子を製造する方法として、第6の発明に係る方法を採用
することもできる。
この製造方法の工程は、第5図に示すように、前電子線
照射と超高圧高温アニーリング工程が新たに加わった点
が前記第5の発明に係る製造方法と異なる。
照射と超高圧高温アニーリング工程が新たに加わった点
が前記第5の発明に係る製造方法と異なる。
この特徴的な2つの工程により、Ib型窒素が1aA型
窒素に変換される。なお、変換される割合は、超高圧高
温アニーリング条件、電子線照射量に依存する。この工
程自体は既知で、B、 P。
窒素に変換される。なお、変換される割合は、超高圧高
温アニーリング条件、電子線照射量に依存する。この工
程自体は既知で、B、 P。
Al 1er1.T、 Evans、Proceed
ing of the Royal 5oci
ety o f London (A)375 (
93〜104頁、1984年)に記載がある。
ing of the Royal 5oci
ety o f London (A)375 (
93〜104頁、1984年)に記載がある。
この工程により、原石ダイヤモンド中に、未変換のIb
型窒素と変換したIaA型窒素とが共存するようになる
。これに、電子線を照射し、真空アニーリングを施すと
、空孔とこれらの窒素が結びつく。そして、Ib型窒素
がN−Vセンターを、IaA型窒素がH3センターを構
成する。このようにして作製したH3センターの報告は
ないが、S、C,Randが[カラーセンターレーザ用
の合成ダイヤモンドJ (Solid 5tate
Lasers、Springer−Verlag。
型窒素と変換したIaA型窒素とが共存するようになる
。これに、電子線を照射し、真空アニーリングを施すと
、空孔とこれらの窒素が結びつく。そして、Ib型窒素
がN−Vセンターを、IaA型窒素がH3センターを構
成する。このようにして作製したH3センターの報告は
ないが、S、C,Randが[カラーセンターレーザ用
の合成ダイヤモンドJ (Solid 5tate
Lasers、Springer−Verlag。
1986年)の中で可能性を示唆している。しかしなが
ら、S、C,Randは、N−Vセンターの発振素子製
造方法については、−船釣な方法を提案するに留まって
いる。
ら、S、C,Randは、N−Vセンターの発振素子製
造方法については、−船釣な方法を提案するに留まって
いる。
この製造方法では、第5図に示すように、前電子線照射
工程と超高圧高温アニーリング工程とを含むことにより
、下記の利点が生じてN−Vセンターによるレーザ発振
が可能なダイヤモンド発光素子が得られるようになる。
工程と超高圧高温アニーリング工程とを含むことにより
、下記の利点が生じてN−Vセンターによるレーザ発振
が可能なダイヤモンド発光素子が得られるようになる。
■ Ib型窒素の一部をこれらの工程によりIaA型窒
素に変換させることによって、IbIJlの残存量の制
御ができる。これにより、N−Vセンターの光学密度も
制御可能となり、最適な光学密度の素子の作製が可能と
なる。
素に変換させることによって、IbIJlの残存量の制
御ができる。これにより、N−Vセンターの光学密度も
制御可能となり、最適な光学密度の素子の作製が可能と
なる。
■ Ib型窒素を減少させ得るようになり、530〜6
10nmにおけるIb型窒素の光学密度を減少させるこ
とができる。
10nmにおけるIb型窒素の光学密度を減少させるこ
とができる。
■ H3カラーセンターを作製し、N−Vセンターと共
存させることにより、励起光の吸″収効率を上げること
が可能となる。
存させることにより、励起光の吸″収効率を上げること
が可能となる。
窒素含有量は、5×1017〜2×10”原子/ c
m ”が良い。原石の窒素含有量が、5×1017原子
/cm3未満であると、Ib型からIaA型への変換率
が低く、H3センターができにくい。また、H3センタ
ーができても、光学密度が低く、励起光を吸収する効率
が低い。2×102°原子/ c m ’を超えると、
Ib型からIaA型への変換率は高くなるが、残留する
Ib型窒素の絶対濃度が高くなり、N−Vセンターの光
学密度を3以下にすることが難しくなる。
m ”が良い。原石の窒素含有量が、5×1017原子
/cm3未満であると、Ib型からIaA型への変換率
が低く、H3センターができにくい。また、H3センタ
ーができても、光学密度が低く、励起光を吸収する効率
が低い。2×102°原子/ c m ’を超えると、
Ib型からIaA型への変換率は高くなるが、残留する
Ib型窒素の絶対濃度が高くなり、N−Vセンターの光
学密度を3以下にすることが難しくなる。
前電子線照射した試料について、3,0GPa。
1700℃以上の超高圧高温下で窒素変換を行なう。3
、OGPa未満では、ダイヤモンドが黒鉛化してしまい
使用できなくなる。また、1700℃未満の温度では、
Ib型からIaA型への変換が遅く、多大な時間を要す
る。さらに、前述の条件で20時間以上アニーリングす
ることにより、変換を十分に行なう。
、OGPa未満では、ダイヤモンドが黒鉛化してしまい
使用できなくなる。また、1700℃未満の温度では、
Ib型からIaA型への変換が遅く、多大な時間を要す
る。さらに、前述の条件で20時間以上アニーリングす
ることにより、変換を十分に行なう。
〈その他〉
第1.第2および第3の発明に係るダイヤモンド発光素
子、および第4の発明に係るダイヤモンド発光素子を作
製するにあたり、中性子線照射によってカラーセンター
を形成することもできる。
子、および第4の発明に係るダイヤモンド発光素子を作
製するにあたり、中性子線照射によってカラーセンター
を形成することもできる。
特に、中性子線によるカラーセンターの作成は、中性子
線の透過能力が高いことから、大型結晶(5mm以上)
を用いた場合に適している。
線の透過能力が高いことから、大型結晶(5mm以上)
を用いた場合に適している。
[実施例]
実施例1
実施例1は、第1.第2および第3の発明に係るダイヤ
モンド発光素子を製造するための、第5の発明に係る製
造方法に関するものである。
モンド発光素子を製造するための、第5の発明に係る製
造方法に関するものである。
温度差法で作製した1、2〜1.5カラツトの7個の人
工合成ダイヤモンド(窒素含有量は5×1016〜2×
10”原子/cm”)を直方体に加工した。励起光が入
射する方向の厚みは、2〜3mmであった。3MeV、
10”電子/cm2の条件で電子線照射した後、10−
’ To’rr、900℃で1〜15時間アニーリン
グした。
工合成ダイヤモンド(窒素含有量は5×1016〜2×
10”原子/cm”)を直方体に加工した。励起光が入
射する方向の厚みは、2〜3mmであった。3MeV、
10”電子/cm2の条件で電子線照射した後、10−
’ To’rr、900℃で1〜15時間アニーリン
グした。
得られた各試料の光学密度を、紫外・可視分光分析器に
より11111定した。第6図に示したようなレーザ発
振用共振器に試料をセットしたところ、レーザ発振に関
して第1表の結果が得られた。なお、第6図において、
41はAr+レーザである。42はダイレーザで、Ar
+レーザ光を530〜610nmの連続レーザ光に変換
しN−Vセンターを励起する。43は光路変更用全反射
ミラー、44は集光レンズ、45は全反射ミラー、46
は試料、47は半透過ミラー、48は励起光、49は発
振したレーザ光を示す。また、単結晶中のIb型窒素濃
度は、赤外分光分析装置により測定した1130cm−
’における吸収係数より推定した。
より11111定した。第6図に示したようなレーザ発
振用共振器に試料をセットしたところ、レーザ発振に関
して第1表の結果が得られた。なお、第6図において、
41はAr+レーザである。42はダイレーザで、Ar
+レーザ光を530〜610nmの連続レーザ光に変換
しN−Vセンターを励起する。43は光路変更用全反射
ミラー、44は集光レンズ、45は全反射ミラー、46
は試料、47は半透過ミラー、48は励起光、49は発
振したレーザ光を示す。また、単結晶中のIb型窒素濃
度は、赤外分光分析装置により測定した1130cm−
’における吸収係数より推定した。
レーザ強度のallJll法定しては、励起光としての
Ar+イオンレーザを試料に当てる方法を採用した。そ
して、この励起光によって発光した光を分光器に入れ、
波長を変化させながら、フォトマルチプライヤ−に入れ
て電気信号に変えることにより、強度スペクトルをdl
lJ定した。
Ar+イオンレーザを試料に当てる方法を採用した。そ
して、この励起光によって発光した光を分光器に入れ、
波長を変化させながら、フォトマルチプライヤ−に入れ
て電気信号に変えることにより、強度スペクトルをdl
lJ定した。
実施例2
実施例2は、第1.第2および第3の発明に係るダイヤ
モンド発光素子を製造するための、第6の発明に係る製
造方法に関するものである。
モンド発光素子を製造するための、第6の発明に係る製
造方法に関するものである。
温度差法を用いて合成した1、2〜1.5カラツトの5
個のIb型ダイヤモンド(窒素含有量はlX1017〜
9×102°原子/cm”)を直方体に加工した。励起
光の入射方向の厚みは、2〜3mmとした。Ib型から
IaA型へ変換するために、2MeV、10”電子/c
m2の条件で電子線照射した後、3、OGPaの圧力下
において2000℃の高温下で30時間アニーリングし
た。再び、3MeV、10”電子/ c m 2の条件
で電子線照射した後、1O−3Torr、850℃の真
空下で5時間アニーリングし、N−VセンターおよびH
3センターを作製した。
個のIb型ダイヤモンド(窒素含有量はlX1017〜
9×102°原子/cm”)を直方体に加工した。励起
光の入射方向の厚みは、2〜3mmとした。Ib型から
IaA型へ変換するために、2MeV、10”電子/c
m2の条件で電子線照射した後、3、OGPaの圧力下
において2000℃の高温下で30時間アニーリングし
た。再び、3MeV、10”電子/ c m 2の条件
で電子線照射した後、1O−3Torr、850℃の真
空下で5時間アニーリングし、N−VセンターおよびH
3センターを作製した。
これらの試料と、実施例1で用いた試料No。
4を用い、第7図に示されるような共振器内に試料をセ
ットし、レーザ発振テストを行なった。テスト結果を第
2表に示す。なお、第7図に示される共振器は、励起光
源が2種類の場合のレーザ発振装置である。第7図にお
いて、51はAr+レーザである。52はダイレーザで
、N−Vセンターを励起する。53はAr+レーザで、
H3センターを励起する。54および56はそれぞれ励
起光を、55はバンドパスミラーを示している。57は
光路変更用全反射ミラー、58は集光レンズ、59は全
反射ミラー、6oは試料、61は半透過ミラー、62は
レーザ光をそれぞれ示している。
ットし、レーザ発振テストを行なった。テスト結果を第
2表に示す。なお、第7図に示される共振器は、励起光
源が2種類の場合のレーザ発振装置である。第7図にお
いて、51はAr+レーザである。52はダイレーザで
、N−Vセンターを励起する。53はAr+レーザで、
H3センターを励起する。54および56はそれぞれ励
起光を、55はバンドパスミラーを示している。57は
光路変更用全反射ミラー、58は集光レンズ、59は全
反射ミラー、6oは試料、61は半透過ミラー、62は
レーザ光をそれぞれ示している。
また、全反射ミラー59と半透過ミラー61とによって
共振器が構成されている。また、各光学密度およびH3
センターの有無は、実施例1と同様に、紫外・可視分光
分析装置で測定した。
共振器が構成されている。また、各光学密度およびH3
センターの有無は、実施例1と同様に、紫外・可視分光
分析装置で測定した。
(以下余白)
なお、第2表において、試料No、11〜15のレーザ
強度は、試料No、4のレーザ光の強度を1とした場合
の相対強度を示している。レーザ光は、光学パワーメー
タにより測定した。レーザ強度における0は、レーザ発
振しなかったことを示している。
強度は、試料No、4のレーザ光の強度を1とした場合
の相対強度を示している。レーザ光は、光学パワーメー
タにより測定した。レーザ強度における0は、レーザ発
振しなかったことを示している。
実施例3
実施例3は、第1.第2および第3の発明に係るダイヤ
モンド発光素子を製造するための、第6の発明に係る製
造方法に関するものである。
モンド発光素子を製造するための、第6の発明に係る製
造方法に関するものである。
温度差法を用いて合成した3カラツトのIb型ダイヤモ
ンド(窒素含有量が1.7X10’ 9原子/cm3)
を7mmX2mmX5mmの寸法に加工した。Ib型か
らIaA型へ変換するために、2MeV、10”電子/
cm2の条件で電子線照射した後、3、OGPa”、2
000℃の超高圧高温下で30時間アニーリングした。
ンド(窒素含有量が1.7X10’ 9原子/cm3)
を7mmX2mmX5mmの寸法に加工した。Ib型か
らIaA型へ変換するために、2MeV、10”電子/
cm2の条件で電子線照射した後、3、OGPa”、2
000℃の超高圧高温下で30時間アニーリングした。
再び、2゜OMeV、10”電子/cm2の条件で電子
線照射した後、10− ’ To r r、850℃で
5時間アニーリングし、N−VセンターおよびH3セン
ターを作製した。
線照射した後、10− ’ To r r、850℃で
5時間アニーリングし、N−VセンターおよびH3セン
ターを作製した。
得られた試料を、7mX2mの平面に垂直に励起光が入
射するように、第7図に示されるような共振器内にセッ
トした。研摩により試料の厚さを順次減少させることに
より、試料厚みを0. 3〜5mmの間において変化さ
せ、レーザ発振テストを行なった結果を、第3表に示す
。この場合、0゜3mmは、加工可能な最小厚みである
。なお、光学測定は、実施例2と同一方法で行なった。
射するように、第7図に示されるような共振器内にセッ
トした。研摩により試料の厚さを順次減少させることに
より、試料厚みを0. 3〜5mmの間において変化さ
せ、レーザ発振テストを行なった結果を、第3表に示す
。この場合、0゜3mmは、加工可能な最小厚みである
。なお、光学測定は、実施例2と同一方法で行なった。
第3表
実施例4
実施例4は、第1.第2および第3の発明に係るダイヤ
モンド発光素子を製造するための、第5の発明に係る製
造方法に関するものである。
モンド発光素子を製造するための、第5の発明に係る製
造方法に関するものである。
温度差法を用いて合成した3、2カラツトのIb型ダイ
ヤモンド(窒素含有量が5×1017電子/cm2)を
7mmX2mmX5mmの寸法に加工した。2.Ome
V、10”電子/cm2の条件で電子線照射した後、1
0− ’ To r r。
ヤモンド(窒素含有量が5×1017電子/cm2)を
7mmX2mmX5mmの寸法に加工した。2.Ome
V、10”電子/cm2の条件で電子線照射した後、1
0− ’ To r r。
850℃で10時間アニーリングし、N−Vセンターを
作製した。
作製した。
得られた試料を、7mX2mの平面に垂直に励起光が入
射するように、第7図に示す共振器内にセットした。試
料厚みを0.3〜5mmの間で変化させ、レーザ発振テ
ストを行なった。光学測定は、実施例1と同一の方法で
行なった。得られた結果を第4表に示す。
射するように、第7図に示す共振器内にセットした。試
料厚みを0.3〜5mmの間で変化させ、レーザ発振テ
ストを行なった。光学測定は、実施例1と同一の方法で
行なった。得られた結果を第4表に示す。
(以下余白)
□□□□□□□」
第4表
この実施例は、第4の発明に係るダイヤモンド発光素子
に関するものである。
に関するものである。
温度差法により合成した°大型単結晶ダイヤモンド、合
成砥粒単結晶ダイヤモンドおよび天然ダイヤモンドを用
いて、第5表に示す条件で発光素子を作製した。第8図
に示すように、作製した発光索子71の表面に、反射ロ
スを少なくするためのコーティング72を施した。そし
て、発光素子71を半透過ミラー74およびグレーティ
ング73よりなるキャビティにセットした。この第8図
に示すレーザ発振装置を用いて、発光素子71の発光強
度(ルミネッセンス)を測定した。その結果を第5表に
示す。
成砥粒単結晶ダイヤモンドおよび天然ダイヤモンドを用
いて、第5表に示す条件で発光素子を作製した。第8図
に示すように、作製した発光索子71の表面に、反射ロ
スを少なくするためのコーティング72を施した。そし
て、発光素子71を半透過ミラー74およびグレーティ
ング73よりなるキャビティにセットした。この第8図
に示すレーザ発振装置を用いて、発光素子71の発光強
度(ルミネッセンス)を測定した。その結果を第5表に
示す。
なお、励起光源76としてはYAGレーザの第2高調波
を用いた。照射条件としては1016電子/cm2、熱
処理条件としては1000℃をそれぞれ選んだ。発光緩
和時間のD1定方法としては、励起光として色素レーザ
(色素はRohdamin)を用い、4nsecでパル
ス発振させた。生じたパルス光を試料に当て、発光強度
を測定するため、パルス発振させた光の反射が入らない
位置にパワーメータを設置し、出力をオシロスコープに
入れた。そして、パルスとルミネッセンスを同期させて
測定することにより緩和時間を求めた。
を用いた。照射条件としては1016電子/cm2、熱
処理条件としては1000℃をそれぞれ選んだ。発光緩
和時間のD1定方法としては、励起光として色素レーザ
(色素はRohdamin)を用い、4nsecでパル
ス発振させた。生じたパルス光を試料に当て、発光強度
を測定するため、パルス発振させた光の反射が入らない
位置にパワーメータを設置し、出力をオシロスコープに
入れた。そして、パルスとルミネッセンスを同期させて
測定することにより緩和時間を求めた。
(以下余白)
第5表において、レーザ強度は、合成大型単結晶を1と
した。
した。
実施例に
の実施例は、第4の発明に係るダイヤモンド発光素子に
関するものである。
関するものである。
温度差法により合成した合成大型単結晶ダイヤモンドを
用いて、第6表の条件で発光素子を作製し、ルミネッセ
ンスの発光強度を測定した。また、第6表の試料43を
第8図に示すキャビティに入れ、レーザ発振を行なうた
ところ、連続発振を行なうことができた。なお、照射条
件は1018電子/cm2、熱処理条件は1000℃で
あった。
用いて、第6表の条件で発光素子を作製し、ルミネッセ
ンスの発光強度を測定した。また、第6表の試料43を
第8図に示すキャビティに入れ、レーザ発振を行なうた
ところ、連続発振を行なうことができた。なお、照射条
件は1018電子/cm2、熱処理条件は1000℃で
あった。
その他の実施条件は、実施例5と同様であった。
(以下余白)
なお、レーザ強度は、試料41を1とした。
実施例7
この実施例は、第1.第2および第3の発明に係るダイ
ヤモンド発光素子、あるいは第4の発明に係るダイヤモ
ンド発光素子を中性子線照射によって製造する場合の例
である。
ヤモンド発光素子、あるいは第4の発明に係るダイヤモ
ンド発光素子を中性子線照射によって製造する場合の例
である。
窒素含有量が5X10’ 8個/ c m 3のIb型
合成ダイヤモンド5個を、5mmX5mmX5mmの寸
法に加工した。窒素含有量は、赤外分光分析を用いて1
130cm−’の吸収係数より推定した。また、質量分
析装置で、結晶中に含まれる金属元素を調べたところ、
Niが8×1017個cm3含有されていた。当該試料
に下記の条件で中性子線照射を行ない、1O−2Tor
r真空下で900℃・10時間の熱処理を行ない、N−
Vセンターを作製した。第8図に示すレーザ発振装置を
用い、ダイレーザで励起したところ、第7表に示すよう
な結果が得られた。なお、試料の放射線量をガイガーカ
ウンタで測定したが、はとんど測定されなかった。
合成ダイヤモンド5個を、5mmX5mmX5mmの寸
法に加工した。窒素含有量は、赤外分光分析を用いて1
130cm−’の吸収係数より推定した。また、質量分
析装置で、結晶中に含まれる金属元素を調べたところ、
Niが8×1017個cm3含有されていた。当該試料
に下記の条件で中性子線照射を行ない、1O−2Tor
r真空下で900℃・10時間の熱処理を行ない、N−
Vセンターを作製した。第8図に示すレーザ発振装置を
用い、ダイレーザで励起したところ、第7表に示すよう
な結果が得られた。なお、試料の放射線量をガイガーカ
ウンタで測定したが、はとんど測定されなかった。
なお、第7表においてレーザ発振強度は試料N0153
の場合の強度を1とした。また、レーザ発振強度および
波長は、次のようにしてa−1定した。
の場合の強度を1とした。また、レーザ発振強度および
波長は、次のようにしてa−1定した。
まず第8図の励起用ダイレーザ76より励起光77を発
振させ、バンドパスミラー75により方向を変え、試料
71に入射させた、半透明ミラー74およびグレーティ
ング73よりなるキャビティの間で試料71を共振させ
ると、レーザ発振光78が得られた。そして、グレーテ
ィング73の角度を変化させて、レーザ発振波長を変え
た。レーザ発振強度は、励起光78をパワーメータに入
れることによって測定した。また、発振波長は、分光器
に入れて測定した。
振させ、バンドパスミラー75により方向を変え、試料
71に入射させた、半透明ミラー74およびグレーティ
ング73よりなるキャビティの間で試料71を共振させ
ると、レーザ発振光78が得られた。そして、グレーテ
ィング73の角度を変化させて、レーザ発振波長を変え
た。レーザ発振強度は、励起光78をパワーメータに入
れることによって測定した。また、発振波長は、分光器
に入れて測定した。
[発明の効果]
(1) 第1の発明によれば、従来発振しにくいと考え
られていたN−Vセンターのレーザ発振が可能なダイヤ
モンド発光素子が得られる。このダイヤモンド発光素子
によるレーザ光は、分光分析用光源、a−1距離用光源
、ボインティング用光源、微細加工用光源、ダイレーザ
用光源に利用すると効果的である。
られていたN−Vセンターのレーザ発振が可能なダイヤ
モンド発光素子が得られる。このダイヤモンド発光素子
によるレーザ光は、分光分析用光源、a−1距離用光源
、ボインティング用光源、微細加工用光源、ダイレーザ
用光源に利用すると効果的である。
(2) 第2の発明によれば、前記発明の効果(1)の
効果を得るのにより適したダイヤモンド発光素子が得ら
れる。
効果を得るのにより適したダイヤモンド発光素子が得ら
れる。
(3) 第3の発明によれば、前記発明の効果(1)の
効果を得るのにさらに適したダイヤモンド発光素子が得
られる。
効果を得るのにさらに適したダイヤモンド発光素子が得
られる。
(4) 第4の発明によれば、従来にない広範囲な波長
域において、任意の波長で発光させることのできるダイ
ヤモンド発光素子を得ることができる。このダイヤモン
ド発光素子によるレーザ光を用いることにより、高精度
な分光分析、距fill 1l11定および化学反応の
促進において、大きな効果をもたらすことが可能となる
。
域において、任意の波長で発光させることのできるダイ
ヤモンド発光素子を得ることができる。このダイヤモン
ド発光素子によるレーザ光を用いることにより、高精度
な分光分析、距fill 1l11定および化学反応の
促進において、大きな効果をもたらすことが可能となる
。
(5) 第5の発明または第6の発明によれば、前記発
明の効果(1)、(2)および(3)を得ることができ
る第1.第2および第3の発明に係るダイヤモンド発光
素子を作製することが可能となる。
明の効果(1)、(2)および(3)を得ることができ
る第1.第2および第3の発明に係るダイヤモンド発光
素子を作製することが可能となる。
第1図は、本発明の一実施例に係るダイヤモンド発光素
子の光学密度変化を示すグラフである。 第2図は、別の実施例に係るダイヤモンド発光素子の光
学密度変化を示すグラフである。第3図は、ダイヤモン
ド発光素子内の励起光強度分布を示すグラフである。第
4図は、第5の発明の製造方法に係る一実施例の工程を
示すフローチャートである。第5図は、その他の製造方
法に係る工程を示すフローチャートである。第6図は、
励起光源が1挿類の場合のレーザ発振装置を示す概略図
である。第7図は、励起光源が2種類の場合のレーザ発
振装置を示す概略図である。第8図は、レーザ発振装置
のさらに別の例を示す概略図である。第9図は、従来例
に係るダイヤモンド発光素子の光学密度変化を示すグラ
フである。 波−&(nm) =i表 (nm) 波長(nm) 第4図 第5 図
子の光学密度変化を示すグラフである。 第2図は、別の実施例に係るダイヤモンド発光素子の光
学密度変化を示すグラフである。第3図は、ダイヤモン
ド発光素子内の励起光強度分布を示すグラフである。第
4図は、第5の発明の製造方法に係る一実施例の工程を
示すフローチャートである。第5図は、その他の製造方
法に係る工程を示すフローチャートである。第6図は、
励起光源が1挿類の場合のレーザ発振装置を示す概略図
である。第7図は、励起光源が2種類の場合のレーザ発
振装置を示す概略図である。第8図は、レーザ発振装置
のさらに別の例を示す概略図である。第9図は、従来例
に係るダイヤモンド発光素子の光学密度変化を示すグラ
フである。 波−&(nm) =i表 (nm) 波長(nm) 第4図 第5 図
Claims (6)
- (1)人工合成ダイヤモンド中のN−Vセンターにおけ
る励起光方向の光学密度の最大値が0.01〜3の範囲
にあり、かつ530〜610nmにおけるIb型窒素原
子の光学密度の最大値が0.2以下の範囲にあるダイヤ
モンド発光素子。 - (2)前記人工合成ダイヤモンドは、その窒素濃度が1
×10^1^7〜1×10^1^9原子/cm^3であ
る、請求項1記載のダイヤモンド発光素子。 - (3)前記人工合成ダイヤモンドは、さらにH3センタ
ーを結晶中に含有し、IbおよびIa型の窒素5×10
^1^7〜2×10^1^9原子/cm^3含有する、
請求項1記載のダイヤモンド発光素子。 - (4)人工合成Ib型ダイヤモンドであって、1×10
^1^7〜2×10^2^0原子/cm^3の窒素原子
および1×10^1^7〜5×10^1^8原子/cm
^3のNi原子を含有し、これらの原子および格子欠陥
からなるカラーセンターを有し、640〜1000nm
の波長範囲で連続発光するダイヤモンド発光素子。 - (5)窒素濃度が1×10^1^7〜1×10^1^9
原子/cm^3である人工合成ダイヤモンドを用い、 前記ダイヤモンドに2〜4MeVの電子線を10^1^
7〜10^1^8電子/cm^2照射し、1Torr以
下の真空下で600〜1000℃の温度範囲内で加熱処
理するダイヤモンド発光素子の製造方法。 - (6)窒素濃度が5×10^1^7〜2×10^2^0
原子/cm^3である人工合成Ib型ダイヤモンドを用
い、 前記ダイヤモンドに2〜4MeVの電子線を10^1^
7〜10^1^8電子/cm^2照射し、3、OGPa
以上かつ1700℃以上の超高圧高温下で保持し、 その後に2〜4MeVの電子線を10^1^7〜10^
1^8電子/cm^2照射し、 さらに1Torr以下の真空下で600〜1000℃の
温度範囲で加熱処理するダイヤモンド発光素子の製造方
法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP573087 | 1987-01-12 | ||
JP62-5730 | 1987-01-12 | ||
JP62-274494 | 1987-10-29 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02385A true JPH02385A (ja) | 1990-01-05 |
Family
ID=11619233
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63005326A Pending JPH02385A (ja) | 1987-01-12 | 1988-01-12 | ダイヤモンド発光素子およびその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02385A (ja) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2007009037A1 (en) * | 2005-07-11 | 2007-01-18 | Apollo Diamond, Inc. | Structures formed in diamond |
JP2010526746A (ja) * | 2007-05-10 | 2010-08-05 | アンセルム(アンスチチュ ナショナル ドゥ ラ サンテ エ ドゥ ラ ルシェルシュ メディカル) | 発光ダイヤモンドナノ粒子を製造する方法 |
US7829377B2 (en) | 2005-01-11 | 2010-11-09 | Apollo Diamond, Inc | Diamond medical devices |
WO2010149775A1 (en) * | 2009-06-26 | 2010-12-29 | Element Six Limited | Method for treating single crystal cvd diamond and product obtained |
US8986646B2 (en) | 2009-06-26 | 2015-03-24 | Element Six Technologies Limited | Diamond material |
JP2016157740A (ja) * | 2015-02-23 | 2016-09-01 | 日本電信電話株式会社 | 発光素子 |
EP3699330A4 (en) * | 2017-10-20 | 2021-06-30 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | SYNTHETIC SINGLE CRYSTAL DIAMOND |
EP3699329A4 (en) * | 2017-10-20 | 2021-06-30 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | SYNTHETIC MONOCRYSTALLINE DIAMOND, TOOL, AND PROCESS FOR THE PRODUCTION OF SYNTHETIC MONOCRISTALLINE DIAMOND |
WO2024127679A1 (ja) * | 2022-12-17 | 2024-06-20 | 株式会社ディスコ | 半導体部材加工砥石、半導体部材加工工具、半導体製造装置、および半導体部材加工砥石の製造方法 |
-
1988
- 1988-01-12 JP JP63005326A patent/JPH02385A/ja active Pending
Cited By (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7829377B2 (en) | 2005-01-11 | 2010-11-09 | Apollo Diamond, Inc | Diamond medical devices |
US8455278B2 (en) | 2005-07-11 | 2013-06-04 | Apollo Diamond, Inc | Method of forming a waveguide in diamond |
JP2009500695A (ja) * | 2005-07-11 | 2009-01-08 | アポロ ダイヤモンド,インク | ダイヤモンドに形成された構造 |
WO2007009037A1 (en) * | 2005-07-11 | 2007-01-18 | Apollo Diamond, Inc. | Structures formed in diamond |
US8058085B2 (en) | 2005-07-11 | 2011-11-15 | Apollo Diamond, Inc | Method of forming a waveguide in diamond |
JP2010526746A (ja) * | 2007-05-10 | 2010-08-05 | アンセルム(アンスチチュ ナショナル ドゥ ラ サンテ エ ドゥ ラ ルシェルシュ メディカル) | 発光ダイヤモンドナノ粒子を製造する方法 |
US8986646B2 (en) | 2009-06-26 | 2015-03-24 | Element Six Technologies Limited | Diamond material |
JP2014166956A (ja) * | 2009-06-26 | 2014-09-11 | Element Six Ltd | 単結晶cvdダイヤモンドの処理方法及び得られた製品 |
WO2010149775A1 (en) * | 2009-06-26 | 2010-12-29 | Element Six Limited | Method for treating single crystal cvd diamond and product obtained |
US9017632B2 (en) | 2009-06-26 | 2015-04-28 | Element Six Technologies Limited | Diamond material |
US9068257B2 (en) | 2009-06-26 | 2015-06-30 | Element Six Technologies Limited | Diamond material |
US9255009B2 (en) | 2009-06-26 | 2016-02-09 | Element Six Technologies Limited | Diamond material |
US9840419B2 (en) | 2009-06-26 | 2017-12-12 | Element Six Technologies Limited | Diamond material |
JP2016157740A (ja) * | 2015-02-23 | 2016-09-01 | 日本電信電話株式会社 | 発光素子 |
EP3699330A4 (en) * | 2017-10-20 | 2021-06-30 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | SYNTHETIC SINGLE CRYSTAL DIAMOND |
EP3699329A4 (en) * | 2017-10-20 | 2021-06-30 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | SYNTHETIC MONOCRYSTALLINE DIAMOND, TOOL, AND PROCESS FOR THE PRODUCTION OF SYNTHETIC MONOCRISTALLINE DIAMOND |
US11613826B2 (en) | 2017-10-20 | 2023-03-28 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Synthetic single crystal diamond |
WO2024127679A1 (ja) * | 2022-12-17 | 2024-06-20 | 株式会社ディスコ | 半導体部材加工砥石、半導体部材加工工具、半導体製造装置、および半導体部材加工砥石の製造方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4880613A (en) | Light emitting element comprising diamond and method for producing the same | |
US4638484A (en) | Solid state laser employing diamond having color centers as a laser active material | |
Chervin et al. | Ruby-spheres as pressure gauge for optically transparent high pressure cells | |
Friel et al. | Development of high quality single crystal diamond for novel laser applications | |
JPH0288498A (ja) | ダイヤモンドレーザ結晶およびその作製方法 | |
Kanemitsu et al. | Optical properties of Mn-doped CdS nanocrystals fabricated by sequential ion implantation | |
Gorokhovsky et al. | Photoluminescence vibrational structure of Si center in chemical‐vapor deposited diamond | |
JPH02385A (ja) | ダイヤモンド発光素子およびその製造方法 | |
Lindsey et al. | Effects of increasing size and changing europium activator concentration in KCaI3 scintillator crystals | |
JPS62291082A (ja) | 同調可能固体レ−ザとその材料 | |
EP0327111B1 (en) | Diamond laser and method of producing the same and method of operating the same | |
Wang et al. | Growth, spectroscopic characteristics and laser potential of Yb 3+: Ca 3 La 2 (BO 3) 4 crystal | |
Brodu et al. | Exciton-phonon coupling in InP quantum dots with ZnS and (Zn, Cd) Se shells | |
JP7429367B2 (ja) | 蛍光ダイヤモンドおよびその製造方法 | |
Jaque et al. | Influence of neodymium concentration on the cw laser properties of Nd doped Ca 3 Ga 2 Ge 3 O 12 laser garnet crystal | |
WO2010024447A2 (ja) | カラーセンター含有酸化マグネシウムとその薄膜、波長可変レーザー媒体、レーザー装置、光源デバイス | |
CZ300221B6 (cs) | Zpusob prípravy wolframanového monokrystalu | |
Vincenti et al. | Spectroscopic investigation of F, F2 and F3+ color centers in gamma irradiated lithium fluoride crystals | |
JPH0228983A (ja) | ダイヤモンド発光素子及びその製造方法 | |
Robins et al. | Photoluminescence excitation by band‐gap optical absorption in chemical vapor deposition diamond films | |
JPS63246885A (ja) | ダイヤモンド発光素子及び製造方法 | |
Mitani et al. | Time-resolved synchrotron spectroscopy of exciton fluorescence in anthracene single crystals | |
US20220251729A1 (en) | Method for manufacturing crystal for synthetic gem | |
Hamano et al. | Upconversion luminescence of rare-earth-doped CaGa2S4 | |
JPH06214030A (ja) | ダイヤモンド熱ルミネッセンス線量計およびその製造方法 |