JPH02275688A - 半導体光集積素子 - Google Patents

半導体光集積素子

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JPH02275688A
JPH02275688A JP5292989A JP5292989A JPH02275688A JP H02275688 A JPH02275688 A JP H02275688A JP 5292989 A JP5292989 A JP 5292989A JP 5292989 A JP5292989 A JP 5292989A JP H02275688 A JPH02275688 A JP H02275688A
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substrate
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semiconductor
semiconductor laser
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JP5292989A
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Shunichi Sato
俊一 佐藤
Hiroyuki Ieji
洋之 家地
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Ricoh Research Institute of General Electronics Co Ltd
Ricoh Co Ltd
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Ricoh Research Institute of General Electronics Co Ltd
Ricoh Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 皮■旦1 本発明は複数の半導体層からなる半導体光集積素子に関
する。
藍米退l 化合物半導体の代表的なものであるIII−V族化合物
は、各種の電子デバイスや光デバイスについて多くの研
究が行われている。最近では光源である半導体レーザの
研究とともに、半導体レーザと他の光機能デバイスを一
体化して集積する研究が進められている。この半導体レ
ーザを基礎とした光集積回路の実現による光デバイスの
高性能化は、光デバイスの使用形態を高度化するために
重要である。従来、半導体レーザは、そのレーザの構造
における結晶のへき開面を反射器として使用していた。
へき開面は、半導体レーザを単体として用いる場合には
反射器として有効なものである。しかし、このへき開面
が存在することによって結晶構造が断絶するため、光集
積回路を構成させることは不可能である。したがって、
光集積回路を実現するためには、反射器にへき開面以外
のものを使用し、反射器と出力導波路との一体化構造を
実現させる必要がある。
この構造を実現するものとして、例えばBJB(But
t−Jointed Built−ini型半導体レー
ザが提案されている。このBJB型半導体レーザは。
GaInAsP/InP系の結晶、あるいはAlGaA
s/GaAs系の結晶によるもので、同一基板上に発光
領域と導波領域が形成され、発光領域の活性導波路と導
波領域の出力導波路とが直接結合されている。したがっ
て、活性導波路で発光したレーザ光は、直接結合された
出力導波路に伝搬される。また出力導波路には、共振器
として分布反射器(DBR)が形成されている。出力導
波路の半導体材料のバンドギャップは、活性導波路のバ
ンドギャップよりも大きくなるように形成されており、
出力導波路における光の吸収を少なくしている。このよ
うにBJB型半導体レーザは1発光領域と導波領域の一
体集積化を実現したもので1発光したレーザ光を出力導
波路から光出力として取り出すことができるものである
しかし、BJB型半導体レーザを含む従来の提案、によ
る装置は、前述した理由によりへき開面以外の反射器を
必要とし、さらに装置の各層の層厚は、活性導波路と出
力導波路との間における位相整合条件を満足させるよう
に選定しなければならないため、厳密な精度が要求され
る。したがって、DBR共振器の製作、出力導波路の埋
め込み成長、あるいはレーザストライプ構造の形成など
、装置の各部会形成する際に、エツチング技術およびエ
ピタキシャル技術を繰り返して使用しなければならない
ため、素子の製造工程が複雑であった。また、活性導波
路と出力導波路とか結合しているために、両者の電気的
な絶縁が困難になり、光フィルタ、分波器、あるいは光
スィッチなどを集積化した光デバイスに適用することが
できなかった。
旦−一部 本発明はこのような従来技術の欠点を解消し、同一の基
板上に半導体レーザ素子と他の光機能素子が簡略な製造
工程で形成された半導体光集積素子を提供することを目
的とする。
構−一部 本発明は上記の目的を達成させるため、半導体基板の上
に複数の半導体層が積層された半導体光集積素子は、第
1の絶縁性材料からなる第1の層と、第1の絶縁性材料
の屈折率よりも大きい屈折率を有する第2の絶縁性材料
からなる第2の層と、第2の絶縁性材料の屈折率よりも
小さい屈折率を有する第3の絶縁性材料からなる第3の
層とが半導体基板の主表面に、これに対して実質的に垂
直な方向に順次積層され、この積層された積層部の所定
の領域には発光層を含む発光手段が形成され、発光層は
、積層部の第2の層と結合するように形成されているこ
とを特徴としたものである。以下、本発明の一実施例に
基づいて具体的に説明する6 第1図には、本発明による集積型半導体発光素子の一実
施例の上面図が示されている。また第2図および第3図
には、それぞれ第1図の素子を一点鎖線II−IIで切
断した導波方向の断面図、および同III−IIIで切
断した断面図が示されている。
第2図からもわかるように、この実施例の構造は、基板
101の同一基板上のA部に活性部導波層103を含む
半導体レーザ素子部200が形成され、基板101上の
B部には出力導波層251を含む出力導波層部250が
形成されている。この積層構造をより詳細に説明すると
、n型ガリウム・砒素(GaAsl基板101の上にa
−SiOクラッド層255.クラッド層255の屈折率
よりも大きい屈折率を有するa−3iONからなる出力
導波層251.クラ・ンド層255と同じ屈折率を有す
るa−5ioクラッド層256.および多結晶層241
が順次積層されている。また、多結晶層241の一部に
は基板101に向って溝180が形成されており、溝1
80の下部は図示のように基板101に達している。溝
180の底面211である基板101の表面にはn−G
aAsバッファ層115゜n−Al0.42Gaa、 
58ASクラッド層124.アンドープ活性導波層10
3. p−AIo、42Gao、58Asクラッド層]
04.およびp−GaAsキャップ層135が順次積層
され、半導体レーザ素子部200を形成している。なお
、後述するように半導体レーザ素子部200の積層構造
を形成する際、半導体レーザ素子部200の活性導波層
103と、出力導波層部250の出力導波層251の位
置が整合するように各層の層厚が制御されている。
p側電極106は多結晶層241 Jよびp−GaAs
キャップ層135の上部に形成され、n側電極107は
基板101の裏面、つまり各層の積層側と反対側の基板
面に形成されている。
なお、この素子の半導体レーザ素子部200と出力導波
層部250との結合側でない一方の面は、この結晶構造
のへき開面210が露呈している。
以上の構造を有する半導体光集積素子は1発光部200
の活性領域で発光した光を、活性導波層103から直接
、出力導波層部250の出力導波層251に入射させ、
伝搬させることができる。
第7図には、本発明を適用した集積型半導体発光素子の
他の実施例を導波方向で切断した断面が示されている。
この実施例の素子では、第1図の素子の半導体レーザ素
子部200の共振器をなしている一方の面のへき開面2
10の上に、たとえばAu/SiO□膜などからなる高
反射膜272が形成されている。
この実施例の素子の構造によれば、半導体レーザ素子部
200のへき開面210の上には高反射膜272が形成
されていることから、発光した光を実質的に出力導波層
251からだけ放出させることができるため、高い光出
力を得ることができる。
なお、高反射膜272は、例えばAu/5iO7を使用
する場合は、半導体レーザ素子部200のへき開面21
0の上にS iO2層273.およびAu層274を順
次形成させることによって得られる。5102層273
の形成は電子ビーム蒸着法などを使用することができ、
Au層274の形成には真空蒸着法などを使用すること
ができる。なお、Au層274はp側電極106および
n側電極107がショートしないように形成されている
第8図には、本発明を適用した集積型半導体発光素子の
他の実施例を導波方向で切断した断面が示されている。
この実施例の素子では、第1図の素子におけるのと同様
な半導体レーザ素子部200と出力導波層部250との
間に溝181が形成されている。
この実施例の素子の構造によれば、同一基板401上に
形成された半導体レーザ素子部200と出力導波層部2
50との間に溝181が形成されていることから、半導
体レーザ素子部200の活性導波層103と、出力導波
層部250の出力導波層251との界面近傍における光
結合損失を低減させることができる。
なお、溝181の形成には、RIEエツチング法などの
エツチング技術を使用することができる。このエツチン
グは、p側電極106を形成する前にレジスト/ S 
102 /レジストの3層マスクなどによるエツチング
マスクを使用してAr−C1z系のガスにより行なわれ
る。エツチングによる満181の下部は、この例では基
m 101に達するように形成されているが、n−Ga
Asバッファ層115に達する程度に形成されていれば
よい。
第4図には、本発明を適用した集積型半導体発光素子の
他の実施例を導波方向で切断した断面が示されている。
この実施例の素子では、第1図の素子におけるのと同様
な半導体レーザ素子部200と出力導波層部250との
間に溝181が形成され。
また半導体レーザ素子部200の共振器をなしている一
方の面のへき開面210の上に、たとえばAu/SiO
□膜などからなる高反射膜272が形成されている。
この実施例の素子の構造によれば、同一基板101上に
形成された半導体レーザ素子部200と出力導波層部2
50との間に溝181が形成されていることから、半導
体レーザ素子部200の活性導波層103と、出力導波
層部250の出力導波層251との界面近傍における光
結合損失を低減させることができる6さらに、半導体レ
ーザ素子部200のへき開面210の上には高反射膜2
72が形成されていることから、発光した光を実質的に
出力導波層251からだけ放出させることができるため
、高い光出力を得ることができる。
第9図には、本発明を適用した集積型半導体発光素子の
他の実施例を導波方向で切断した断面が示されている。
この実施例の素子では、第1図の素子における多結晶層
241をクラッド層256上に設けず、かつ各層の層厚
を図示のように設定することによって素子表面を平坦化
したものである。
この素子は後述する製造工程において、結晶成長条件を
適切に選択し、多結晶層241をクラッド層256上に
堆積させないようにし、また、各層の層厚を制御して形
成される。
第10図には本発明を適用した集積型半導体発光素子の
他の実施例を導波方向で切断した断面が示されている。
この実施例の素子では、第9図の素子の一方の面のへき
開面210の上に、高反射膜272が形成されている。
この実施例の素子の構造によれば、半導体レーザ素子部
200のへき開面210の上には高反射膜272が形成
されていることから、発光した光を実質的に出力導波層
251からだけ放出させることができるため、高い光出
力を得ることができる。
第11図には本発明を適用した集積型半導体発光素子の
他の実施例を導波方向で切断した断面が示されている。
この実施例の素子では、第1C1図の素子の分離溝18
1の形状を半導体レーザ素子部200側で垂直、出力導
波層部250側で傾斜させたものである。この分離溝1
81は後述するようにドライエツチング技術を用いて形
成される。
第5A図〜第5D図には、第1図の実施例の素子の製造
工程の一例が示されている。
まず、n型GaAs flo[l)基m 101の上に
プラズマCVD法などを使用してa−5iOを約2μm
堆積させてクラッド層255(屈折率nx)を形成し、
クラッド層255の上にa−5iONを約2μm堆積さ
せて出力導波層251(屈折率r+zlを形成する。さ
らに出力導波層251のに上にa−5iOを約2μm堆
積させることによってクラッド層256(屈折率n31
 を形成する(第5A図) なお、これらの各層の屈折
率は、n 2 > 11・n3の関係を有するように形
成させる。
次に、フォトリングラフィ技術を使用して<0TI)お
よび<011)の方向にエツチングを行ない、凹部18
0を形成する(第5B図)。この凹部180を形成した
ことにより、絶縁層による光出力導波路が形成されたこ
とになる。このエツチングは、たとえば幅が約10am
、長さが約300μmのスノットパターンを使用して行
われ、エツチングによる凹部180の下部が基板101
に達する程度にする。この場合のエツチング技術として
は、HFとNH4Fを使用する、いわゆるバッフアート
ぶつ酸1BIIF)などの化学エツチング、あるいはC
F4+02系を使用するRIE法などのドライエツチン
グなどを使用することができる。
エツチングにより形成させた凹部180の底面、つまり
基板101の土にn−GaAsバッファ層115゜n−
Alo、 42GaO,5sAsクラッド層124.G
aAs活性導波層103、 p−AIo、42Gao、
58Asクラッド層104.およびp−GaAsキャッ
プ層135を順次、エピタキシャル成長させる(第5C
図)。この各層の成長の際、活性導波層103と出力導
波層251とが結合するように、各層の層厚を制御する
。なお、層115.124103、104および135
をエピタキシャル成長させる際、絶縁層256の上に多
結晶層241が図示のように堆積することがある。しか
し、結晶の成長条件を適切に選択すれば、多結晶層24
1を堆積させないようにすることもできる。なおエピタ
キシャル成長法としては、たとえば有機金属気相成長法
を使用することができる。
凹部180内に以上の各層を形成させた後、積層部の上
面の多結晶層241およびp−GaAsキャップ層13
5の上にp型オーミック電極106を形成し、基板10
1の裏面、つまり各層の積層側と反対側の基板面にn型
オーミック電極107を形成する。画電極を形成した後
、四部180の所定の位置、たとえば第5D図に示す位
置A−Aでこの結晶構体をへき開し、半導体レーザ素子
部200を完成させる。
以上の製造方法によって第1図の実施例の素子を得るこ
とができる。このように、第1図の実施例の素子では、
同一の基板101の上に絶縁層の形成とエピタキシャル
成長とをそれぞれ1回ずつ行なうことによって、半導体
レーザ素子部200と出力4彼層部250が形成される
なお、凹部180内に形成したn−Alo、 42Ga
O,5aA3クラッド層124.およびp−Alo、 
42GaO,5sAsクラッド層104のAI組成比は
9本実施例で示した値以外のものを使用してもよいこと
は、言うまでもない。
その他の実施例の素子も同様の方法により製造される。
例えば第9図、第1O図および第11図の素子は、結晶
成長条件を適切に選択し、多結晶層241をクラッド層
256上に堆積させないようにし、また、各層の層厚を
制御して形成される。
参考のため、従来の出力導波路付集積レーザであるBJ
B型半導体レーザの一例の構造を第6図に示す。図を見
るとわかるように、この従来例の素子はInP基板l上
のa部に、GaInAsP活性導波層2、GaIロAs
Pメルトバック防止層3、InPクラッド層4、および
IロPキャップ層5からなる発光領域が形成され、また
b部には、活性導波層2のバンドギャップよりも大きい
バンドギャップを有するGa1nAsP出力導波層6が
活性導波層2に結合するように形成されている。また、
出力導波層6の上部には、出力導波層6における光の吸
収を少なくするため、分布反射器(DBR) 7が形成
されている。
以上の構造を有するこの従来の素子は、発光領域で発光
した光を活性導波層2に結合された出力導波層6に直接
伝搬させるものである。しかしこの素子は、活性導波層
2と出力導波層6とが結合していることから1両者の間
の電気的な絶縁が困難であり、光フィルタ、分波器ある
いは光スィッチなどを集積化する光デバイスに適用する
ことができないという欠点があった。また、この素子の
構造では分布反射器7を形成させなければならず、さら
には活性導波層2と出力導波層6の間における位相整合
条件を満足させるために、各層の層厚を廠格に調整しな
ければならなかった。したがって、各層を形成する際、
エツチングおよびエピタキシャル成長を繰り返して行わ
なければならないため、製造工程が複雑となり、素子の
製造が困難であった。
しかし、本発明による素子では、出力導波層部250が
a−5iOクラッド層255.a−5iON出力導波層
251およびa−3iOクラッド層256の絶縁層によ
り形成されているため、出力導波層だけでなく光スィッ
チなど他の光機能素子を形成させることが可能である。
しかも、同一の基板101の上に、出力導波層部250
を形成するための堆積と半導体レーザ素子部200を形
成するためのエピタキシャル成長とをそれぞれ1回ずつ
行なうことによって、素子構造を形成できるため、半導
体光集積素子の製造が容易である。
なお、実施例の素子では出力導波層部250の形成にa
−3iO/a−5iONの絶縁層を使用したが、a−5
iO/a−5iON以外の、例えば酸化ケイ素、あるい
は窒化ケイ素など他の絶縁性材料を使用することも可能
である。
効−一里 本発明によれば、発光領域を含む発光部と、この発光部
の発光領域で発光した光を伝搬させるための導波部とが
同一基板上に形成され、しかも導波部が複数の絶縁層に
より形成されているため、同一基板上に導波層以外の光
機能素子を集積化させることができる。また、発光部お
よび導波部をそれぞれ1回のエピタキシャル成長および
堆積によって同一基板上に形成させることができるため
、半導体光集積素子の製造が容易である。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明による半導体光・集積素子の一実施例
を示す上面図。 第2図は、第1図に示された半導体光集積素子を一点鎖
線II−IIで切断した断面図。 第3図は、第1図に示された素子を一点鎖線III−I
IIで切断した断面図、 第4図は、本発明による半導体光集積素子の他の実施例
を示す断面図、 第5A図〜第5D図は、第1図に示された半導体光集積
素子の製造工程を示す断面図。 第6図は、従来の半導体光集積素子の一例を示す断面図
、 第7図ないし第11図は、本発明による半導体光集積素
子の他の実施例を示す断面図である。 。 の竺1の3日 101、、 、 、基板 103、、 、 、活性導波層 106、、 、 、 り側電極 107、、 、 、 n側電極 180、、 、 、溝 20(]、、 、 、半導体レーザ素子部250、、 
、  出力導波層部 251、、 、 、出力導波層 255、256. 、クラッド層

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 半導体基板の上に複数の半導体層が積層された半導体光
    集積素子において、該素子は、 第1の絶縁性材料からなる第1の層と、 第1の絶縁性材料の屈折率よりも大きい屈折率を有する
    第2の絶縁性材料からなる第2の層と、 第2の絶縁性材料の屈折率よりも小さい屈折率を有する
    第3の絶縁性材料からなる第3の層とが前記半導体基板
    の主表面に、該主表面に対して実質的に垂直な方向に順
    次積層され、 該積層された積層部の所定の領域には発光層を含む発光
    手段が形成され、 該発光層は、前記積層部の第2の層と結合するように形
    成されていることを特徴とする半導体光集積素子。
JP5292989A 1988-03-19 1989-03-07 半導体光集積素子 Pending JPH02275688A (ja)

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