JPH0226389B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0226389B2
JPH0226389B2 JP60055631A JP5563185A JPH0226389B2 JP H0226389 B2 JPH0226389 B2 JP H0226389B2 JP 60055631 A JP60055631 A JP 60055631A JP 5563185 A JP5563185 A JP 5563185A JP H0226389 B2 JPH0226389 B2 JP H0226389B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chip
circuit board
flexible circuit
circuit
flexible
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP60055631A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS60211964A (ja
Inventor
Sukotsuto Enotsukusu Reimondo
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tektronix Inc
Original Assignee
Tektronix Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tektronix Inc filed Critical Tektronix Inc
Publication of JPS60211964A publication Critical patent/JPS60211964A/ja
Publication of JPH0226389B2 publication Critical patent/JPH0226389B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K7/00Constructional details common to different types of electric apparatus
    • H05K7/02Arrangements of circuit components or wiring on supporting structure
    • H05K7/10Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets
    • H05K7/1053Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets having interior leads
    • H05K7/1061Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets having interior leads co-operating by abutting
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/325Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by abutting or pinching, i.e. without alloying process; mechanical auxiliary parts therefor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R43/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing, assembling, maintaining, or repairing of line connectors or current collectors or for joining electric conductors
    • H01R43/02Apparatus or processes specially adapted for manufacturing, assembling, maintaining, or repairing of line connectors or current collectors or for joining electric conductors for soldered or welded connections

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、集積回路チツプを、半田付けあるい
はワイヤボンデイングすることなく、プリント回
路基板に圧接接続する集積回路接続装置に関す
る。
〔従来の技術〕
集積回路(以下ICという)チツプが使用され
るいかなる用途においても、そのチツプの種々の
接点を、チツプが用いられる回路あるいはシステ
ムの他の部品と電気的に接続する必要がある。通
常このような電気的接続は、チツプをプリント回
路基板に接続する際によく用いられるように、接
続パツドを半田付けするか、またはワイヤボンデ
イングすることによつて行なわれる。しかし、い
ずれの方法も繁雑で時間と費用がかかる。更に、
いずれの場合も、ICチツプは一旦取付けられる
と、容易に取外すことができず、不良の場合も交
換が困難であるという問題があつた。
また、従来、1対のプリント回路基板間で、あ
るいはプリント回路基板及び相互接続用フレキシ
ブル回路基板間で導体が圧接により接続されてい
た。その一例は、1978年11月14日に発行されたリ
アドンによる米国特許第4125310号明細書に開示
されている。リアドンの発明による装置は、電気
的接続を行なうために互いに圧接された内層導体
の対応パターンを有する1対のウエハから成る電
気コネクタである。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかし、半田付けやボンデイングを必要とせ
ず、取外し、取換ができるように純粋に機械的手
法によりICをプリント回路基板に接続するため
の問題点を、このリアドンの発明は解決するもの
ではない。
従つて、本発明の主目的は、ICチツプをプリ
ント回路基板に電気的に接続するIC接続装置を
提供することである。
本発明の他の目的は、ワイヤボンデイングや半
田付けを必要とせずICチツプをプリント回路基
板に接続するIC接続装置を提供することである。
本発明の他の目的は、容易に取付け、取外しが
できるICチツプを含む電気接続パツケージを提
供することである。
本発明の他の目的は、対応する電気接点のパタ
ーンを有する回路要素を重ねて押圧することによ
り、簡単且つ機械的に相互接続を行なうようにし
たICチツプを含む電気接続パツケージを提供す
ることである。
本発明の他の目的は、ICから発生する熱を放
散するIC用機械的圧力相互接続パツケージを提
供することである。
本発明の他の目的は、機械的あるいは電気的相
互接続を永久的に行なう方法を用いない部品のス
タツクからなり容易に取付け、取外しができる
IC用圧力接続パツケージを提供することである。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明による集積回路接続装置は、複数の接触
パツドを有する集積回路チツプ52と、開口30
及びこの開口の周囲に複数の導体28を有する回
路基板24と、回路基板24及び集積回路チツプ
52間に配置され、一面に回路基板24の導体に
対向する複数の導電ストリツプ40を有すると共
に、導電ストリツプ40に電気的に接続され、集
積回路チツプ52の接触パツドに対向して、他面
に露出した複数の接点を有するフレキシブル回路
部材34と、集積回路チツプ52、フレキシブル
回路部材34及び回路基板24を間に収容し、押
圧する第1及び第2押圧部材48,10と、第1
押圧部材及びフレキシブル回路部材34間に配置
され、フレキシブル回路部材34を回路基板24
に押圧する第1弾性押圧パツド44と、回路基板
の開口を介して、第2押圧部材48及ぶフレキシ
ブル回路部材34間に配置され、フレキシブル回
路部材34を集積回路チツプ24に押圧する第2
弾性押圧パツド32とを具えるものである。
〔作用〕
本発明によれば、ICチツプをプリント回路基
板に接続するための圧力接続パツケージが得られ
る。この圧力接続パツケージにおいて、ベースに
対して回転ロツクされる押圧プレートは、ベース
上に位置決めされた比較的平らな部品のスタツク
内の導電部分を電気的に接触させる。スタツク内
の他の部品は、圧力を受けたとき適切な接触が行
なわれるよう電気部品の接点の位置決めを行な
う。
パツケージは、回路部品、保持部材、及び押圧
パツドから成り、このうちの幾つかは、ベースに
結合された、上方に伸びる位置決め部材が貫通す
るよう孔あけされている。スタツクは位置決め部
材上に載置され、ヒートシンク(放熱器)として
も働く頂部プレートがスタツクの頂部で位置決め
部材に取付けられ所定位置に回転ロツクされる。
IC上の入出力点は、ICチツプの周辺部にパタ
ーン状に配置された一連の接触パツド、即ち接続
パツドから成る。本発明に用いられるプリント回
路基板は、導体がパターン状に被着されたエポキ
シ形材料の平坦な層から成る。
ICの接続パツド及びプリント回路基板の導体
パターン間の物理的相互接続は、一連の導電スト
リツプが被着されたマイラまたはポリイミドの薄
膜から成るフレキシブル相互接続回路、即ちフレ
キシブル回路によつて成される。フレキシブル回
路の導電ストリツプは、プリント回路基板の導電
ストリツプと略合致するようなパターン状に配置
される。導電ストリツプの終端点はICチツプの
接触パツドのパターンに合致するパターン状に配
列される。
フレキシブル回路にICの接続パツドと電気的
接続を行なわせるため、フレキシブル回路上の導
電パターンの終端点に微小直径の孔があけられ
る。この孔あけにはレーザを用いることができ
る。その後、これらの孔は銅の如き導電材料でメ
ツキし、孔内にポスト(柱)を形成する。このポ
ストはポリイミド薄膜から突出し、ICチツプの
接続パツドに接触し得る接点となる。
ICチツプは、シリコーン押圧パツド上に載置
される保持部材により適切な位置に保持される。
押圧パツドもフレキシブル回路に接触し、フレキ
シブル回路の導電ストリツプをプリント回路基板
に接触させる。第2のシリコーン押圧パツドはプ
リント回路基板の中央の孔に挿入され、フレキシ
ブル回路の導電ポストをICチツプの接続パツド
に押しつける。形成されたスタツク全体はベース
の上方突出位置決め手段に取付けられ、略均一な
圧力が与えられるとシリコーン押圧パツドはフレ
キシブル回路の対応する接触部材を押圧し、IC
チツプ及びプリント回路基板間で電気的接触を行
なう。この圧力は、スタツク上に頂部プレートを
取付け位置決め部材に回転ロツクさせることによ
り得られる。頂部プレートを回転ロツクするため
には、ある程度の押圧力を頂部プレートにかける
必要がある。この押圧力により、シリコーン押圧
パツドは種々の導電部品を押圧する。
この頂部プレートはまた、ヒートシンクとして
用いるためのフインを含むことができる。ヒート
シンクは、IC保持板内のICチツプのパターンが
形成されていない表面に載置された絶縁被膜によ
り、ICチツプから電気的に絶縁される。
上述の接続には半田付けを使用しないので、
ICチツプは、単に頂部プレートのロツクを解除
し、保持板からICチツプを取外すことにより交
換できる。同様にフレキシブル回路部材あるいは
プリント回路基板の任意の欠陥は、単にその欠陥
部分を取外し交換することにより補修し得る。
圧力パツケージの全部品は、機械的に圧縮され
簡単な回転ロツク機構によりロツクされるスタツ
ク内に確実に収まるので、組立て、取外しに費用
及び時間を要する半田付けやボンデイングは不要
である。
〔実施例〕
〔第1の実施例〕 第1図は、本発明による圧力接続パツケージの
分解斜視図である。このパツケージは、下部ヒー
トシンクとしても働くベース10を含む。ベース
10は上方に突出した複数の位置決め部材12を
有し、この位置決め部材12の各々には頂部プレ
ート16と共に回転ロツク結合を行なうためのノ
ツチ14が設けられている。頂部プレート16も
ヒートシンクとして働き、複数の放熱フイン18
を有する。頂部プレート16は、位置決め部材1
2と係合するための孔20を有する。孔20は略
円形であるが、この孔に連結した長方形のスロツ
ト22を有し、上部プレート16を下部ベース1
0に取付けてトルクを与えたとき、このスロツト
22がノツチ14と係合してユニツトを所定位置
にロツクするようになつている。
回路基板24は位置決め部材12が貫通する複
数の孔26を有する。回路基板24の表面には複
数の導体28が被着されパターンを形成してい
る。回路基板24はまた、円筒状のシリコーン押
圧パツド32を受ける中心開口30を有する。回
路基板24が位置決め部材12に取付けられたと
き、パツド32はベース10の表面に載置され
る。
回路基板24の上には、フレキシブル相互接続
回路部材、即ち、フレキシブル回路34が設けら
れ、このフレキシブル回路34も、回路基板24
と同様に位置決め部材12が貫通する複数の孔3
6を有する。フレキシブル回路34は、銅または
他の適当な導電材料の導電ストリツプ40が被着
されたポリイミドまたはマイラの薄膜38から成
る。導電ストリツプ40は、回路基板24の導体
28のパターンの少なくとも一部に合致するよう
なパターン状に配置される。各導電ストリツプ4
0の内方の終端部には、マイラまたはポリイミド
の薄膜38を貫通するポスト(柱)42のパター
ンがある。ポスト42は、微小であり、各導電ス
トリツプ40の終端部でフイルム38にレーザに
より穴あけし、この穴を導電材料でメツキするこ
とにより形成し得る。ポスト42の寸法は、直径
0.005インチ(約0.127mm)、高さ0.003インチ(約
0.0762mm)の如き極めて小さいものである。ま
た、薄膜38は0.002インチ(約0.0508mm)の厚
さを有し、ポスト42がフイルム38上に約
0.001インチ(約0.0254mm)だけ突出するように
なつている。
フレキシブル回路34上に積層されるのは、シ
リコーン押圧パツド44であり、これもまた位置
決め部材12に適合する孔46を有する。シリコ
ーン押圧パツド44の上部には、保持板48が設
けられ、これも位置決め部材12と係合する孔5
0を有する、保持板48は、フレキシブル回路3
4のポスト42のパターンに対して予め定められ
た位置にICチツプ52を保持する。この位置は、
ICチツプ52の結合パツド、即ち、接触パツド
(図示せず)のパターンがフレキシブル回路34
のポスト42のパターンに合致するように選定さ
れる。ICチツプ52上に絶縁被膜54を載置す
ることができる。頂部プレート16は、パツケー
ジ全体が組立てられたときヒートシンクとして働
くように金属で形成することができる。
第1及び第2図に示すように、スタツク(積重
ね)を形成し、このスタツクを位置決め部材12
上に取付け、スタツクを頂部プレート16で覆
い、頂部プレート16をロツク位置まで回転させ
スロツト22をノツチ14に係合させることによ
り、パツケージが組立てられる。第3図に示すよ
うに、スタツクが圧縮されると、シリコーン押圧
パツド32がポスト42を上方に押し上げポスト
42をICチツプ52の結合パツドに接触させる。
ICチツプ52は保持板48内に挿入される。保
持板48はICチツプ52の結合パツドパターン
がポスト42のパターンに合致する所定位置に
ICチツプ52を保持する。同様に、頂部プレー
ト16による押圧によつて、シリコーン押圧パツ
ド44は、フレキシブル回路34の導電ストリツ
プ40を回路基板24の表面の導体28に押しつ
ける。こうして、ICチツプ52の結合パツドパ
ターンは、フレキシブル回路34を介して回路基
板24と電気的に接続される。この接続は単に圧
力による接触によつて達成されるので、組立てら
れたパツケージ内の任意の部品は、必要であれ
ば、単にロツクを外し頂部プレート16及び仲介
部品を取外すことにより交換できる。
〔第2の実施例〕 第5図は、第1〜第3図に示した圧力接続パツ
ケージの他の実施例を表わす。この実施例では、
回路基板とICチツプの位置が逆になつている。
第5図において、ベース100はボルト101に
より電子機器(図示せず)のシヤーシに固定され
ている。ベース100は、8角形の下部ヒートシ
ンク111を保持する複数の支持部材103を有
する。下部ヒートシンク111は、上方に突出し
た複数の位置決め部材112、及びシリコーン押
圧パツド144を受け入れる凹部113を有す
る。押圧パツド144は、下部ヒートシンク11
1の形状に対応した8角形状である。シリコーン
押圧パツド144は、その4つの側部に上方に伸
びる4個のパツド部材145を有する。これらの
パツド部材145は4個の分離部材147で結合
されている。パツド部材145は保持板148の
スロツト149を通つて上方に突出する。保持板
148も、上方に伸びる位置決め部材112に適
合する複数の孔146を有する。保持板148の
中央の方形開口はICチツプ152を保持するも
のである。絶縁被膜154はICチツプ152が
下部ヒートシンク111と電気的に接触するのを
防止する。複数の孔136を有するフレキシブル
回路134はICチツプ152上に載置される。
フレキシブル回路134の複数の導電ストリツプ
140は、ICチツプ152の接触パツドに接触
するようなパターン状に終端している。導電スト
リツプ140の終端ポイント近くのフレキシブル
回路134上に載置される小さい環状シリコーン
押圧パツド132により電気的接触が保証され
る。複数の孔126を有するプリント回路基板1
24はフレキシブル回路134上に載置される。
回路基板124の導体パターン(図示せず)は、
シリコーン押圧パツド144によつて助長される
ような機械的圧力を受けると、フレキシブル回路
134の導電ストリツプ140の外方部分と接触
する。回路基板124は、シリコーン押圧パツド
132を受け入れるための円形開口130を有す
る。押圧力は、上部ヒートシンクとしても働く頂
部プレート116によつて供給される。よつて、
頂部プレート116は熱エネルギーを発散させる
ため及び取扱いを容易にするためのフイン118
を有する。頂部プレート116は孔120及びこ
れに隣接した長方形スロツト122を有する。こ
の孔120は、上方に伸びた位置決め部材122
を受け入れ、回転力を受けるとスロツト122が
位置決め手段122と係合してパツケージ全体が
ロツクされる。
頂部プレート116の押圧力は、シリコーンパ
ツド132及び144を圧縮し、フレキシブル回
路134の対応部分を夫々プリント回路基板12
4及びICチツプ152と電気的に接触させる。
フレキシブル回路134は垂直平面内で屈曲、変
形可能なので逆方向に設けられた押圧パツド13
2及び144によつて発生する差動圧力を吸収す
ることができる。
〔発明の効果〕
本発明によれば、ICチツプ及びその取り付け
に関連する部品全てに関し、半田付けを一切必要
としないので、ICチツプ、フレキシブル回路又
は回路基板のいずれの交換も容易に行える。ま
た、フレキシブル回路及び回路基板間の接続と、
フレキシブル回路及びICチツプの接続とは、複
数の弾性押圧パツドにより別個に行われるので、
接続が確実であり、振動によりICチツプが若干
ずれたとしてもこのずれはフレキシブル回路に吸
収される。フレキシブル回路とICチツプとの接
続はフレキシブル回路から突出したポストにより
行なわれるのでICチツプの接触パツド間隔が狭
くても良好な接触状態が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明による集積回路接続装置の一
実施例の分解斜視図、第1A図は第1図のフレキ
シブル回路部材の反対面の斜視図、第2図は第1
図の集積回路接続装置の一部の分解断面図、第3
図は第2図の組立て後の断面図、第4図は第1図
のフレキシブル回路部材の断面図、第5図は本発
明による集積回路接続装置の他の実施例の分解斜
視図である。 図中において、24,124は回路基板、28
は導体、30は開口、32は第2弾性押圧パツ
ド、34,134はフレキシブル回路部材、4
0,140は導体ストリツプ、44は第1弾性押
圧パツド、52,152は集積回路チツプであ
る。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 複数の接触パツドを有する集積回路チツプ
    と、 開口及び該開口の周囲に複数の導体を有する回
    路基板と 該回路基板及び上記集積回路チツプ間に配置さ
    れ、一面に該回路基板の導体に対向する複数の導
    電ストリツプを有すると共に、該導電ストリツプ
    に電気的に接続され、上記集積回路チツプの上記
    接触パツドに対向して、他面に露出した複数の接
    点を有するフレキシブル回路部材と、 上記集積回路チツプ、上記フレキシブル回路部
    材及び上記回路基板を間に収容し、押圧する第1
    及び第2押圧部材と、 上記第1押圧部材及び上記フレキシブル回路部
    材間に配置され、該フレキシブル回路部材を上記
    回路基板に押圧する第1弾性押圧パツドと、 上記回路基板の上記開口を介して、上記第2押
    圧部材及び上記フレキシブル回路部材間に配置さ
    れ、該フレキシブル回路部材を上記集積回路チツ
    プに押圧する第2弾性押圧パツドとを具え、 上記集積回路チツプを上記フレキシブル回路部
    材を介して上記回路基板に接続することを特徴と
    する集積回路接続装置。
JP60055631A 1984-03-19 1985-03-19 集積回路接続装置 Granted JPS60211964A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US06/591,348 US4597617A (en) 1984-03-19 1984-03-19 Pressure interconnect package for integrated circuits
US591348 1984-03-19

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS60211964A JPS60211964A (ja) 1985-10-24
JPH0226389B2 true JPH0226389B2 (ja) 1990-06-08

Family

ID=24366138

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60055631A Granted JPS60211964A (ja) 1984-03-19 1985-03-19 集積回路接続装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US4597617A (ja)
JP (1) JPS60211964A (ja)
DE (1) DE3509734A1 (ja)
NL (1) NL8500777A (ja)

Families Citing this family (93)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5014161A (en) * 1985-07-22 1991-05-07 Digital Equipment Corporation System for detachably mounting semiconductors on conductor substrate
US5917707A (en) 1993-11-16 1999-06-29 Formfactor, Inc. Flexible contact structure with an electrically conductive shell
FR2596607A1 (fr) * 1986-03-28 1987-10-02 Bull Sa Procede de montage d'un circuit integre sur une carte de circuits imprimes, boitier de circuit integre en resultant et ruban porteur de circuits integres pour la mise en oeuvre du procede
AU598253B2 (en) * 1986-05-07 1990-06-21 Digital Equipment Corporation System for detachably mounting semi-conductors on conductor substrates
US4885126A (en) * 1986-10-17 1989-12-05 Polonio John D Interconnection mechanisms for electronic components
US4832612A (en) * 1986-10-31 1989-05-23 Amp Incorporated Protective carrier and securing means therefor
US4744009A (en) * 1986-10-31 1988-05-10 Amp Incorporated Protective carrier and securing means therefor
EP0269430A3 (en) * 1986-11-26 1989-02-22 A. F. BULGIN & COMPANY PLC. Electrical connector
DE3641353A1 (de) * 1986-12-03 1988-06-09 Schoeller & Co Elektrotech Einrichtung zur kontaktierung von anschluessen
US4740867A (en) * 1987-03-26 1988-04-26 Advanced Circuit Technology, Inc. Printed circuit connection system
US4768973A (en) * 1987-07-02 1988-09-06 Amp Incorporated Removable retaining plate
US4859189A (en) * 1987-09-25 1989-08-22 Minnesota Mining And Manufacturing Company Multipurpose socket
DE68925922T2 (de) * 1988-05-30 1996-09-05 Canon Kk Elektrischer Schaltungsapparat
US5408190A (en) * 1991-06-04 1995-04-18 Micron Technology, Inc. Testing apparatus having substrate interconnect for discrete die burn-in for nonpackaged die
US5123850A (en) * 1990-04-06 1992-06-23 Texas Instruments Incorporated Non-destructive burn-in test socket for integrated circuit die
ATE105458T1 (de) * 1990-08-03 1994-05-15 Siemens Nixdorf Inf Syst Einbausystem fuer elektrische funktionseinheiten insbesondere fuer die datentechnik.
US5905382A (en) * 1990-08-29 1999-05-18 Micron Technology, Inc. Universal wafer carrier for wafer level die burn-in
US7511520B2 (en) * 1990-08-29 2009-03-31 Micron Technology, Inc. Universal wafer carrier for wafer level die burn-in
US7198969B1 (en) 1990-09-24 2007-04-03 Tessera, Inc. Semiconductor chip assemblies, methods of making same and components for same
US20010030370A1 (en) * 1990-09-24 2001-10-18 Khandros Igor Y. Microelectronic assembly having encapsulated wire bonding leads
US5148266A (en) * 1990-09-24 1992-09-15 Ist Associates, Inc. Semiconductor chip assemblies having interposer and flexible lead
US5148265A (en) 1990-09-24 1992-09-15 Ist Associates, Inc. Semiconductor chip assemblies with fan-in leads
US5679977A (en) * 1990-09-24 1997-10-21 Tessera, Inc. Semiconductor chip assemblies, methods of making same and components for same
US5109320A (en) * 1990-12-24 1992-04-28 Westinghouse Electric Corp. System for connecting integrated circuit dies to a printed wiring board
US5059129A (en) * 1991-03-25 1991-10-22 International Business Machines Corporation Connector assembly including bilayered elastomeric member
US5099393A (en) * 1991-03-25 1992-03-24 International Business Machines Corporation Electronic package for high density applications
US5302891A (en) * 1991-06-04 1994-04-12 Micron Technology, Inc. Discrete die burn-in for non-packaged die
US5578934A (en) * 1991-06-04 1996-11-26 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for testing unpackaged semiconductor dice
US5495179A (en) * 1991-06-04 1996-02-27 Micron Technology, Inc. Carrier having interchangeable substrate used for testing of semiconductor dies
US6094058A (en) 1991-06-04 2000-07-25 Micron Technology, Inc. Temporary semiconductor package having dense array external contacts
US5336649A (en) * 1991-06-04 1994-08-09 Micron Technology, Inc. Removable adhesives for attachment of semiconductor dies
US5815000A (en) * 1991-06-04 1998-09-29 Micron Technology, Inc. Method for testing semiconductor dice with conventionally sized temporary packages
US6828812B2 (en) * 1991-06-04 2004-12-07 Micron Technology, Inc. Test apparatus for testing semiconductor dice including substrate with penetration limiting contacts for making electrical connections
US6340894B1 (en) 1991-06-04 2002-01-22 Micron Technology, Inc. Semiconductor testing apparatus including substrate with contact members and conductive polymer interconnect
US5342807A (en) * 1991-06-04 1994-08-30 Micron Technology, Inc. Soft bond for semiconductor dies
US6998860B1 (en) 1991-06-04 2006-02-14 Micron Technology, Inc. Method for burn-in testing semiconductor dice
US5317478A (en) * 1991-11-12 1994-05-31 Hughes Aircraft Company Hermetic sealing of flexprint electronic packages
US5240420A (en) * 1992-03-31 1993-08-31 Research Organization For Circuit Knowledge Self-aligning high-density printed circuit connector
US5457400A (en) * 1992-04-10 1995-10-10 Micron Technology, Inc. Semiconductor array having built-in test circuit for wafer level testing
US5267867A (en) * 1992-09-11 1993-12-07 Digital Equipment Corporation Package for multiple removable integrated circuits
US6765561B1 (en) * 1992-10-21 2004-07-20 Ray A. Stoller Display device having integrated circuit chips thereon
US5754171A (en) * 1992-10-21 1998-05-19 Photonics Systems, Inc. Display device having integrated circuit chips thereon
US5402077A (en) * 1992-11-20 1995-03-28 Micromodule Systems, Inc. Bare die carrier
US6937044B1 (en) 1992-11-20 2005-08-30 Kulicke & Soffa Industries, Inc. Bare die carrier
US5414298A (en) * 1993-03-26 1995-05-09 Tessera, Inc. Semiconductor chip assemblies and components with pressure contact
US5350319A (en) * 1993-04-02 1994-09-27 Miraco, Inc. High-density printed circuit connector
US5656945A (en) * 1993-05-12 1997-08-12 Tribotech Apparatus for testing a nonpackaged die
US5395249A (en) * 1993-06-01 1995-03-07 Westinghouse Electric Corporation Solder-free backplane connector
US5359493A (en) * 1993-07-09 1994-10-25 Texas Instruments Incorporated Three dimensional multi-chip module with integral heat sink
US5648893A (en) * 1993-07-30 1997-07-15 Sun Microsystems, Inc. Upgradable multi-chip module
EP0637079A1 (en) * 1993-07-30 1995-02-01 Sun Microsystems, Inc. Upgradable multi-chip module
US5648890A (en) * 1993-07-30 1997-07-15 Sun Microsystems, Inc. Upgradable multi-chip module
US5820014A (en) 1993-11-16 1998-10-13 Form Factor, Inc. Solder preforms
US20020053734A1 (en) 1993-11-16 2002-05-09 Formfactor, Inc. Probe card assembly and kit, and methods of making same
US5831918A (en) * 1994-02-14 1998-11-03 Micron Technology, Inc. Circuit and method for varying a period of an internal control signal during a test mode
US6587978B1 (en) 1994-02-14 2003-07-01 Micron Technology, Inc. Circuit and method for varying a pulse width of an internal control signal during a test mode
US5632631A (en) 1994-06-07 1997-05-27 Tessera, Inc. Microelectronic contacts with asperities and methods of making same
US5615824A (en) * 1994-06-07 1997-04-01 Tessera, Inc. Soldering with resilient contacts
US5802699A (en) * 1994-06-07 1998-09-08 Tessera, Inc. Methods of assembling microelectronic assembly with socket for engaging bump leads
US5983492A (en) * 1996-11-27 1999-11-16 Tessera, Inc. Low profile socket for microelectronic components and method for making the same
US5504652A (en) * 1994-09-16 1996-04-02 Apple Computer, Inc. Unitary heat sink for integrated circuits
JP2877011B2 (ja) * 1994-12-20 1999-03-31 日本電気株式会社 ベアチップテストキャリア
US5604445A (en) * 1994-12-21 1997-02-18 International Business Machines Corporation Apparatus, and corresponding method, for stress testing semiconductor chips
US5994910A (en) * 1994-12-21 1999-11-30 International Business Machines Corporation Apparatus, and corresponding method, for stress testing wire bond-type semi-conductor chips
JP2655827B2 (ja) * 1995-04-17 1997-09-24 山一電機株式会社 Icキャリア
US5937515A (en) * 1995-04-25 1999-08-17 Johnson; Morgan T. Reconfigurable circuit fabrication method
US5699228A (en) * 1995-06-06 1997-12-16 Hughes Electronics Method of interconnecting leadless devices to printed wiring boards and apparatus produced thereby
US5833472A (en) * 1995-07-27 1998-11-10 The Whitaker Corporation Socket assembly for an electronic package
JP2768920B2 (ja) * 1995-08-11 1998-06-25 山一電機株式会社 Icキャリア
US5662163A (en) * 1995-11-29 1997-09-02 Silicon Graphics, Inc. Readily removable heat sink assembly
US5994152A (en) 1996-02-21 1999-11-30 Formfactor, Inc. Fabricating interconnects and tips using sacrificial substrates
US8033838B2 (en) 1996-02-21 2011-10-11 Formfactor, Inc. Microelectronic contact structure
US5923179A (en) * 1996-03-29 1999-07-13 Intel Corporation Thermal enhancing test/burn in socket for C4 and tab packaging
US5991214A (en) * 1996-06-14 1999-11-23 Micron Technology, Inc. Circuit and method for varying a period of an internal control signal during a test mode
DE29620595U1 (de) * 1996-11-26 1998-01-02 Siemens Ag Sockel für eine integrierte Schaltung
US6060891A (en) 1997-02-11 2000-05-09 Micron Technology, Inc. Probe card for semiconductor wafers and method and system for testing wafers
US6798224B1 (en) * 1997-02-11 2004-09-28 Micron Technology, Inc. Method for testing semiconductor wafers
US5938454A (en) * 1997-05-30 1999-08-17 International Business Machines Corporation Electrical connector assembly for connecting first and second circuitized substrates
SE511103C2 (sv) * 1997-10-29 1999-08-02 Ericsson Telefon Ab L M Klämma för att fästa en effekttransistorenhet eller liknande mot ett kretskort
JPH11354561A (ja) * 1998-06-09 1999-12-24 Advantest Corp バンプ形成方法及びバンプ
US6200142B1 (en) * 1999-02-22 2001-03-13 Berg Technology, Inc. Assembly including a flex circuit and a gas tight chamber
US6459582B1 (en) 2000-07-19 2002-10-01 Fujitsu Limited Heatsink apparatus for de-coupling clamping forces on an integrated circuit package
US6542366B2 (en) * 2000-12-28 2003-04-01 Gateway, Inc. Circuit board support
PL373874A1 (en) * 2001-05-25 2005-09-19 Intel Corporation High density optical fiber array
US7173442B2 (en) * 2003-08-25 2007-02-06 Delaware Capital Formation, Inc. Integrated printed circuit board and test contactor for high speed semiconductor testing
JP4598614B2 (ja) * 2005-06-30 2010-12-15 富士通株式会社 ソケット及び電子機器
US7394658B2 (en) * 2005-09-01 2008-07-01 Harman International Industries, Incorporated Heat sink with twist lock mounting mechanism
JP4814035B2 (ja) * 2006-09-20 2011-11-09 富士通株式会社 プリント基板ユニットおよび電子機器
JP5684584B2 (ja) * 2010-04-28 2015-03-11 株式会社アイエスシーIsc Co., Ltd. 電子部品、電子部材の接続方法および回路接続部材
CN103732118B (zh) * 2012-03-30 2016-02-17 奥林巴斯株式会社 密封构造及天线装置
TWI543451B (zh) * 2013-07-30 2016-07-21 鴻海精密工業股份有限公司 電連接器及其組合
JP2018164324A (ja) * 2017-03-24 2018-10-18 株式会社オートネットワーク技術研究所 電気接続箱
US11587597B2 (en) * 2020-06-24 2023-02-21 Intel Corporation Connector retention mechanism for improved structural reliability

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5324255B2 (ja) * 1974-09-09 1978-07-19
JPS6024077B2 (ja) * 1976-10-14 1985-06-11 財団法人半導体研究振興会 単結晶の成長方法

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US1663570A (en) * 1926-01-11 1928-03-27 Perfection Metal Container Com Metal container
US3705332A (en) * 1970-06-25 1972-12-05 Howard L Parks Electrical circuit packaging structure and method of fabrication thereof
US3832769A (en) * 1971-05-26 1974-09-03 Minnesota Mining & Mfg Circuitry and method
GB1383297A (en) * 1972-02-23 1974-02-12 Plessey Co Ltd Electrical integrated circuit package
US3967162A (en) * 1974-07-24 1976-06-29 Amp Incorporated Interconnection of oppositely disposed circuit devices
US3904262A (en) * 1974-09-27 1975-09-09 John M Cutchaw Connector for leadless integrated circuit packages
US4095867A (en) * 1974-10-10 1978-06-20 Bunker Ramo Corporation Component connection system
US3991463A (en) * 1975-05-19 1976-11-16 Chomerics, Inc. Method of forming an interconnector
GB1539470A (en) * 1975-11-13 1979-01-31 Tektronix Inc Electrical connector
JPS5324255U (ja) * 1976-08-09 1978-03-01
NL7610306A (nl) * 1976-09-16 1978-03-20 Du Pont Contactinrichting voor een geintegreerde schakeling.
US4063791A (en) * 1976-12-27 1977-12-20 Cutchaw John M Connector for leadless integrated circuit packages
US4360858A (en) * 1981-01-14 1982-11-23 General Motors Corporation Instrument panel assembly with conductive elastomeric connectors
US4402561A (en) * 1981-03-27 1983-09-06 Amp Incorporated Socket for integrated circuit package with extended leads
US4390220A (en) * 1981-04-02 1983-06-28 Burroughs Corporation Electrical connector assembly for an integrated circuit package
JPS6024077U (ja) * 1983-07-25 1985-02-19 富士通株式会社 ソケツト

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5324255B2 (ja) * 1974-09-09 1978-07-19
JPS6024077B2 (ja) * 1976-10-14 1985-06-11 財団法人半導体研究振興会 単結晶の成長方法

Also Published As

Publication number Publication date
DE3509734C2 (ja) 1988-04-28
US4597617A (en) 1986-07-01
JPS60211964A (ja) 1985-10-24
NL8500777A (nl) 1985-10-16
DE3509734A1 (de) 1985-09-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0226389B2 (ja)
JP3268548B2 (ja) 電気アセンブリ
US5829988A (en) Socket assembly for integrated circuit chip carrier package
US5949242A (en) Method and apparatus for testing unpackaged semiconductor dice
US5878485A (en) Method for fabricating a carrier for testing unpackaged semiconductor dice
US6362637B2 (en) Apparatus for testing semiconductor wafers including base with contact members and terminal contacts
JP3410396B2 (ja) 高性能集積回路チップパッケージ
US5186632A (en) Electronic device elastomeric mounting and interconnection technology
JPH0334388A (ja) 圧着プリント配線板モジュール
KR20010072583A (ko) 적층화 집적 회로 패키지
JPS62584B2 (ja)
US5881453A (en) Method for mounting surface mount devices to a circuit board
EP0685990B1 (en) Apparatus for mounting electrical devices to a circuit board
US20010033179A1 (en) Method and apparatus for handling electronic devices
JPS61259470A (ja) 半導体チツプに直接相互連結させるための圧着式電気ソケツト
EP0281899B1 (en) Method and apparatus for mounting a flexible film semiconductor chip carrier on a circuitized substrate
JP2001141780A (ja) ボールグリッドアレイ構造のデバイスに使用されるコンタクトフィルム及びデバイス実装構造体
US20020158646A1 (en) Spiral leaf spring contacts
EP0905521A2 (en) Burn-in testing device
JP2842416B2 (ja) 半導体装置用ソケット
JP2002075568A (ja) ソケット
JP3409380B2 (ja) プリント基板装置
JPH05327155A (ja) 回路モジュール用コネクタ
JPH044379Y2 (ja)
JPH1187873A (ja) 配線板及びその製造方法並びに半導体装置