JPH02259574A - 分析計へのサンプル供給方法 - Google Patents
分析計へのサンプル供給方法Info
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- JPH02259574A JPH02259574A JP8251089A JP8251089A JPH02259574A JP H02259574 A JPH02259574 A JP H02259574A JP 8251089 A JP8251089 A JP 8251089A JP 8251089 A JP8251089 A JP 8251089A JP H02259574 A JPH02259574 A JP H02259574A
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- 238000012795 verification Methods 0.000 description 4
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/00584—Control arrangements for automatic analysers
- G01N35/0092—Scheduling
- G01N35/0095—Scheduling introducing urgent samples with priority, e.g. Short Turn Around Time Samples [STATS]
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- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、焼結原料、製品、銑鉄、高合金鋼等の成分分
析のための螢光Ｘ線分析計などの分析計へサンプルを供
給する際に、当該サンプルの優先順を勘案しながら供給
する方法に関する。
析のための螢光Ｘ線分析計などの分析計へサンプルを供
給する際に、当該サンプルの優先順を勘案しながら供給
する方法に関する。
前記螢光Ｘ線分析は汎（用いられているところであり、
サンプル数が多い場合には、迅速な分析処理がきわめて
重要な課題である。
サンプル数が多い場合には、迅速な分析処理がきわめて
重要な課題である。
通常、分析計へのサンプル供給は人手作業に頼っている
が、近年は試料の調整、サンプルの分析計への供給、分
析済サンプルの排出を自動化する試みがなされている。
が、近年は試料の調整、サンプルの分析計への供給、分
析済サンプルの排出を自動化する試みがなされている。
しかし、この自動化法の下でも、一義的かつシーケンシ
ャルなサンプルの供給形態に留っているのが現状である
。
ャルなサンプルの供給形態に留っているのが現状である
。
一方、サンプル数が多い場合には、人手作業では、処理
速度に限界がある“とともに、サンプル供給ミスを生じ
がちである。
速度に限界がある“とともに、サンプル供給ミスを生じ
がちである。
また、成分分析では、サンプルの身元によって分析処理
の優先順位が異ってくるとともに、分析計へ通常の被分
析サンプルのほか、校正サンプル（成分既知サンプル）
が分析操作手順に混入してくる。
の優先順位が異ってくるとともに、分析計へ通常の被分
析サンプルのほか、校正サンプル（成分既知サンプル）
が分析操作手順に混入してくる。
このように、処理手順が複雑であると、多数の分析員を
必要とし、処理手順ミスが発生し易いばかりでなく、た
とえシーケンシャルな分析自動化装置を用いても、−律
的にサンプルを処理するため、優先順の高いサンプルを
割り込ませて分析処理することはできない。
必要とし、処理手順ミスが発生し易いばかりでなく、た
とえシーケンシャルな分析自動化装置を用いても、−律
的にサンプルを処理するため、優先順の高いサンプルを
割り込ませて分析処理することはできない。
そこで、本発明の主たる目的は、サンプルの優先順を考
慮して優先順の高いサンプルを迅速に分析へ供給できる
方法を提供することにある。
慮して優先順の高いサンプルを迅速に分析へ供給できる
方法を提供することにある。
上記課題は、低優先順サンプルＳａ群が供給される供給
路Ａと、高優先順サンプルＳｂ群が供給される供給路Ｂ
と、１台以上の分析計と、前記供給路Ａおよびまたは供
給路Ｂからのサンプルを受けて一時仮置きし分析計へサ
ンプルが供給されるストックテーブルとを設け、 （イ）供給路Ｂにサンプル取出台のとき、供給路Ａから
供給路Ｂを経てストックテーブル上へのサンプルＳａの
供給を行わない、 （ロ）供給路Ｂにサンプル有で、かつストックテーブル
上のサンプル数がストックテーブル上における仮置限度
数ＮＢに満たないとき供給路Ｂからストックテーブル上
へ仮置限度数ＮＢになるまでサンプルＳｂの供給を行う
、 （ハ）供給路Ｂ上にサンプル取出台で、かつ供給路Ａ上
にサンプル取出台、さらにストックテーブル上における
サンプル取出台が仮置限度数ＮＡ未満のとき、供給路Ａ
から供給路Ｂを経てストックテーブル上へ仮置限度数Ｎ
Ａになるまでサンプルの供給を行う、 （ニ）分析計における先のサンプルの分析が終了したな
らば、ストックテーブル上から優先順の高いサンプルを
分析計へ供給する、 ことで解決できる。
路Ａと、高優先順サンプルＳｂ群が供給される供給路Ｂ
と、１台以上の分析計と、前記供給路Ａおよびまたは供
給路Ｂからのサンプルを受けて一時仮置きし分析計へサ
ンプルが供給されるストックテーブルとを設け、 （イ）供給路Ｂにサンプル取出台のとき、供給路Ａから
供給路Ｂを経てストックテーブル上へのサンプルＳａの
供給を行わない、 （ロ）供給路Ｂにサンプル有で、かつストックテーブル
上のサンプル数がストックテーブル上における仮置限度
数ＮＢに満たないとき供給路Ｂからストックテーブル上
へ仮置限度数ＮＢになるまでサンプルＳｂの供給を行う
、 （ハ）供給路Ｂ上にサンプル取出台で、かつ供給路Ａ上
にサンプル取出台、さらにストックテーブル上における
サンプル取出台が仮置限度数ＮＡ未満のとき、供給路Ａ
から供給路Ｂを経てストックテーブル上へ仮置限度数Ｎ
Ａになるまでサンプルの供給を行う、 （ニ）分析計における先のサンプルの分析が終了したな
らば、ストックテーブル上から優先順の高いサンプルを
分析計へ供給する、 ことで解決できる。
本発明において、上記（イ）とすることによって、供給
路Ｂから優先順の高いサンプルＳｂのストックテーブル
上への供給を優先させることができる。
路Ｂから優先順の高いサンプルＳｂのストックテーブル
上への供給を優先させることができる。
また、（ロ）とすることによって、高優先順サンプルＳ
ｂをストックテーブル上へ補充供給し、ストックテーブ
ル上から分析計への移行をいつでも準備させることがで
きる。さらに（ハ）とすることで、いつでも高優先順の
サンプルＳｂが、供給路Ｂからストックテーブル上への
供給ができるように、余裕をもたせることができる。し
かも（ニ）とすることによって、優先順が混在するスト
ックテーブル上のサンプル群の中から高優先順サンプル
Ｓｂを分析計へ供給できる。
ｂをストックテーブル上へ補充供給し、ストックテーブ
ル上から分析計への移行をいつでも準備させることがで
きる。さらに（ハ）とすることで、いつでも高優先順の
サンプルＳｂが、供給路Ｂからストックテーブル上への
供給ができるように、余裕をもたせることができる。し
かも（ニ）とすることによって、優先順が混在するスト
ックテーブル上のサンプル群の中から高優先順サンプル
Ｓｂを分析計へ供給できる。
以下本発明をさらに詳説する。
いま、たとえば焼結原料、焼結成品、銑鉄等に由来する
被分析サンプルを低優先順サンプルＳａとし、合金鋼等
のサンプルを高優先順サンプルＳｂと区分する。かかる
区分は、製鉄所内の各発生元プロセスコンピュータから
の情報に基いて、分析室へそのサンプルのトラッキング
を行うことにより判別できる。
被分析サンプルを低優先順サンプルＳａとし、合金鋼等
のサンプルを高優先順サンプルＳｂと区分する。かかる
区分は、製鉄所内の各発生元プロセスコンピュータから
の情報に基いて、分析室へそのサンプルのトラッキング
を行うことにより判別できる。
分析室には、第１図のように、たとえば、２台の分析計
１および分析計２が設置される。また、前記低優先順サ
ンプルＳａの供給を受けて搬送する供給ベルトＡ１なら
びにその下流に連設された高優先順サンプルＳａの供給
を受けて搬送する供給ベルトＢがそれぞれ配置されてい
る。供給ベルトＢの下流には、サンプル取出台３が設け
られている。さらに、サンプルの１個ごとの移動を検出
するための移行検出器Ｓ１が、供給ベルトＢから受取っ
たサンプルがサンプル取出台３から１個ずつ取り出され
るごとその取出しを検出する移行検出器Ｓ２がそれぞれ
配設されている。
１および分析計２が設置される。また、前記低優先順サ
ンプルＳａの供給を受けて搬送する供給ベルトＡ１なら
びにその下流に連設された高優先順サンプルＳａの供給
を受けて搬送する供給ベルトＢがそれぞれ配置されてい
る。供給ベルトＢの下流には、サンプル取出台３が設け
られている。さらに、サンプルの１個ごとの移動を検出
するための移行検出器Ｓ１が、供給ベルトＢから受取っ
たサンプルがサンプル取出台３から１個ずつ取り出され
るごとその取出しを検出する移行検出器Ｓ２がそれぞれ
配設されている。
サンプル取出台３上のサンプルは、１個ごと取出マニピ
ュレータ４により、サンプルストックテーブル５へ移載
するようになっている。ストックテーブル５上のサンプ
ルは、主マニピュレータ６により、分析計１または分析
計２へ供給され、分析完了後はそのサンプルが、主マニ
ピュレータ６によりサンプル回収ベルトＣに移載される
よう構成されている。
ュレータ４により、サンプルストックテーブル５へ移載
するようになっている。ストックテーブル５上のサンプ
ルは、主マニピュレータ６により、分析計１または分析
計２へ供給され、分析完了後はそのサンプルが、主マニ
ピュレータ６によりサンプル回収ベルトＣに移載される
よう構成されている。
７は校正サンプル供給テーブルで、校正サンプルまたは
機器検定サンプルを受は取るもので、そのテーブル７上
の校正サンプルまたは機器検定サンプルは、主マニピュ
レータ６により、分析計１または２に供給され、校正ま
たは検定後テーブル７上に戻されるようになっている。
機器検定サンプルを受は取るもので、そのテーブル７上
の校正サンプルまたは機器検定サンプルは、主マニピュ
レータ６により、分析計１または２に供給され、校正ま
たは検定後テーブル７上に戻されるようになっている。
一方、第１図には、各部所におけるサンプルの最大設置
数例をωａＸの後に図示しである。
数例をωａＸの後に図示しである。
このように構成された分析設備の下で、次のような分析
計１および２に対してサンプルの供給を行う。
計１および２に対してサンプルの供給を行う。
すなわち、供給ベルトＢにサンプルが有るとき、供給ベ
ルトＡを動かさず、供給ベルトＡから供給ベルトＢへの
サンプルＳａの供給を行わない。
ルトＡを動かさず、供給ベルトＡから供給ベルトＢへの
サンプルＳａの供給を行わない。
また、供給ベルトＢにサンプルＳａが有り、かつストッ
クテーブル５上における仮置限度数ＮＢ（本例ではＮＢ
＝１０）未満のとき、供給ベルトＢを動かし当該サンプ
ルＳｂをストックテーブル５へと移載することを、仮置
限度数Ｎになるまで行う。
クテーブル５上における仮置限度数ＮＢ（本例ではＮＢ
＝１０）未満のとき、供給ベルトＢを動かし当該サンプ
ルＳｂをストックテーブル５へと移載することを、仮置
限度数Ｎになるまで行う。
さらに、供給ベルトＢ上にサンプルＳｂが無く、供給ベ
ルトＡ上にサンプルＳａが有り、しかもストックテーブ
ル５上のサンプル取出台が仮置限度数ＮＡ（本例ではＮ
Ｈ−４）未満のとき、供給ベルトＡを起動し、供給ベル
トＢを経てストックテーブル５上へ仮置限度数ＮＡにな
るまでサンプルＳａの供給を行う。
ルトＡ上にサンプルＳａが有り、しかもストックテーブ
ル５上のサンプル取出台が仮置限度数ＮＡ（本例ではＮ
Ｈ−４）未満のとき、供給ベルトＡを起動し、供給ベル
トＢを経てストックテーブル５上へ仮置限度数ＮＡにな
るまでサンプルＳａの供給を行う。
上記の場合において、サンプル取出台３上のサンプルが
無くなったことを検出器Ｓ２が検出した後、供給ベルト
Ｂは起動し、また供給ベルトＡから供給ベルトＢへのサ
ンプルＳａの移載は、検出器ＳＬで検出を確認したなら
ば、供給ベルトＡを一旦停止し、未だ供給ベルトＢへの
移載が必要なときは、改めて供給ベルトＡからサンプル
Ｓａを供給ベルトＢへ移載する。
無くなったことを検出器Ｓ２が検出した後、供給ベルト
Ｂは起動し、また供給ベルトＡから供給ベルトＢへのサ
ンプルＳａの移載は、検出器ＳＬで検出を確認したなら
ば、供給ベルトＡを一旦停止し、未だ供給ベルトＢへの
移載が必要なときは、改めて供給ベルトＡからサンプル
Ｓａを供給ベルトＢへ移載する。
このようにして、高優先順サンプルＳｂが、低優先順サ
ンプルＳｂに先行して、順次ストックテーブル５上へ導
かれる。
ンプルＳｂに先行して、順次ストックテーブル５上へ導
かれる。
上記例において、ＮＢ＝１０．ＮＡ＝５としたのは、ス
トックテーブル５上に、少くとも高優先順サンプルＳｂ
を受は入れる余地を残しておくものである。ＮＢおよび
ＮＡ、ならびに設置最大数は適宜選定できるが、ＮＡ≧
ＮＢ、およびストックテーブル上の物理的仮置限度数よ
りもちろんＮＢが多くてはならない。
トックテーブル５上に、少くとも高優先順サンプルＳｂ
を受は入れる余地を残しておくものである。ＮＢおよび
ＮＡ、ならびに設置最大数は適宜選定できるが、ＮＡ≧
ＮＢ、およびストックテーブル上の物理的仮置限度数よ
りもちろんＮＢが多くてはならない。
他方、上記例では、供給ベルトＡと供給ベルトＢとを直
列に配設し、サンプルＳａも供給ベルトＢを経るように
しであるが、並列的に配置し、それぞれ別にストックテ
ーブル５へ導くようにしてもよい。また、サンプル取出
台３を設けないで、供給ベルトＢの下流端部から、ある
いは供給ベルトＡおよびＢの下流端部から取出マニピュ
レータ４により取り出すようにしてもよい。供給手段と
して、ベルトＡ、Ｂに限定されない。
列に配設し、サンプルＳａも供給ベルトＢを経るように
しであるが、並列的に配置し、それぞれ別にストックテ
ーブル５へ導くようにしてもよい。また、サンプル取出
台３を設けないで、供給ベルトＢの下流端部から、ある
いは供給ベルトＡおよびＢの下流端部から取出マニピュ
レータ４により取り出すようにしてもよい。供給手段と
して、ベルトＡ、Ｂに限定されない。
さて、ストックテーブル５上のサンプル群に対しては、
主マニピュレータ６により、サンプルＳａよりサンプル
Ｓｂを優先して分析計１または２へ供給するようにする
。
主マニピュレータ６により、サンプルＳａよりサンプル
Ｓｂを優先して分析計１または２へ供給するようにする
。
この場合において、ストックテーブル５上のサンプル取
出台の中でも、優先順を付与して分析計１．２に供給す
ることもできる。ストックテーブル５上にサンプルＳａ
が複数有る場合においても同様である。
出台の中でも、優先順を付与して分析計１．２に供給す
ることもできる。ストックテーブル５上にサンプルＳａ
が複数有る場合においても同様である。
以上の通り、本発明によれば、サンプル数が多くとも優
先順の高いサンプルを優先しながら分析計へ供給できる
。また、螢光Ｘ線分析以外の方法などにも適用でき、汎
用性がある。
先順の高いサンプルを優先しながら分析計へ供給できる
。また、螢光Ｘ線分析以外の方法などにも適用でき、汎
用性がある。
第１図は本発明を実施するための設備例の概要図である
。 １゜ ２・・・分析計 ５・・・ストックテーブル ６・・・主マニピュレータ Ａ。 Ｂ・・・供給ベルト
。 １゜ ２・・・分析計 ５・・・ストックテーブル ６・・・主マニピュレータ Ａ。 Ｂ・・・供給ベルト
Claims (1)
- （１）低優先順サンプルＳａ群が供給される供給路Ａと
、高優先順サンプルＳｂ群が供給される供給路Ｂと、１
台以上の分析計と、前記供給路Ａおよびまたは供給路Ｂ
からのサンプルを受けて一時仮置きし分析計へサンプル
が供給されるストックテーブルとを設け、 （イ）供給路Ｂにサンプル有のとき、供給路Ａから供給
路Ｂを経てストックテーブル上へのサンプルＳａの供給
を行わない、 （ロ）供給路ＢにサンプルＳｂ有で、かつストックテー
ブル上のサンプル数がストックテーブル上における仮置
限度数ＮＢに満たないとき供給路Ｂからストックテーブ
ル上へ仮置限度数ＮＢになるまでサンプルＳｂの供給を
行う、 （ハ）供給路Ｂ上にサンプルＳｂ無で、かつ供給路Ａ上
にサンプルＳａ有、さらにストックテーブル上における
サンプルＳａ数が仮置限度数ＮＡ未満のとき、供給路Ａ
から供給路Ｂを経てストックテーブル上へ仮置限度数Ｎ
ＡになるまでサンプルＳａの供給を行う、 （ニ）分析計における先のサンプルの分析が終了したな
らば、ストックテーブル上から優先順の高いサンプルか
ら分析計へ供給する、 ことを特徴とする分析計へのサンプル供給方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8251089A JPH02259574A (ja) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | 分析計へのサンプル供給方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8251089A JPH02259574A (ja) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | 分析計へのサンプル供給方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02259574A true JPH02259574A (ja) | 1990-10-22 |
Family
ID=13776517
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8251089A Pending JPH02259574A (ja) | 1989-03-31 | 1989-03-31 | 分析計へのサンプル供給方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02259574A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04283170A (ja) * | 1991-03-07 | 1992-10-08 | Kayaba Ind Co Ltd | 車両の後輪操舵装置 |
| JPH0536366U (ja) * | 1991-10-21 | 1993-05-18 | 株式会社ニツテク | 血液容器の分配装置 |
| JP2000046842A (ja) * | 1998-07-31 | 2000-02-18 | Hitachi Ltd | 検体処理システム |
-
1989
- 1989-03-31 JP JP8251089A patent/JPH02259574A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04283170A (ja) * | 1991-03-07 | 1992-10-08 | Kayaba Ind Co Ltd | 車両の後輪操舵装置 |
| JPH0536366U (ja) * | 1991-10-21 | 1993-05-18 | 株式会社ニツテク | 血液容器の分配装置 |
| JP2000046842A (ja) * | 1998-07-31 | 2000-02-18 | Hitachi Ltd | 検体処理システム |
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