JPH02242143A - Method and apparatus for inspecting stick housed type electronic component - Google Patents
Method and apparatus for inspecting stick housed type electronic componentInfo
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、スティック(マガジンと称することもある)
に収納されたIC,トランジスタ、半固定抵抗等の電子
部品を軟X線を用いて非破壊検査するためのスティック
収納型電子部品の検査方法とその装置に関する。[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention is directed to a stick (sometimes referred to as a magazine).
The present invention relates to a method and apparatus for testing electronic components stored in a stick type, such as ICs, transistors, semi-fixed resistors, etc., for non-destructive testing using soft X-rays.
[従来の技術とその課題]
電子部品製造工程において製造された電子部品は、断線
1回線破損、リード線接続不良等の有無を検査され、良
品のみが出荷されていく、このような電子部品の検査は
、一般にX線透視画像による非破壊検査によって行なわ
れる。[Conventional technology and its issues] Electronic components manufactured in the electronic component manufacturing process are inspected for the presence of broken wires, broken single lines, poor lead wire connections, etc., and only non-defective products are shipped. The inspection is generally performed by non-destructive inspection using X-ray fluoroscopic images.
ところで、第7図に示すようにICやある種のトランジ
スタ、半固定抵抗等の電子部品りは、プラスチックある
いはアルミ合金等からなる中空棒状スティックWに多数
個まとめて収納し搬送される。したがって、スティック
Wに収納したままの状態で多数個の電子部品を連続的に
検査できれば、検査の迅速化を図ることができる。Incidentally, as shown in FIG. 7, a large number of electronic components such as ICs, certain types of transistors, and semi-fixed resistors are stored and transported in hollow rod-shaped sticks W made of plastic, aluminum alloy, or the like. Therefore, if a large number of electronic components can be inspected continuously while stored in the stick W, inspection can be speeded up.
しかしながら、スティックW内の電子部品は。However, the electronic components inside the stick W.
前後左右に大きな空隙を有した状態となっているため姿
勢がまちまちであり、スティック収納状態のままX線検
査装置に供給しても電子部品の位置が定まらない、ゆえ
に、従来は電子部品を一個づつX線検査装置に取り付け
て検査を行なっており、作業性が悪いという問題を有し
ていた。Because there are large gaps in the front, back, left, and right, the position of the electronic component varies, and the position of the electronic component cannot be determined even if the stick is supplied to the X-ray inspection device while the stick is stored.Therefore, conventionally, the electronic component was Inspections are carried out by attaching the device to an X-ray inspection device, which has the problem of poor workability.
本発明はこのような問題点にかんがみてなされたもので
、スティックに収納したままの状態で電子部品の検査を
行なえ、検査の迅速化を図ることのできるスティック収
納型電子部品の検査方法とその装置の提供を目的とする
。The present invention has been made in view of these problems, and provides a method and method for testing electronic components stored in a stick, which allows electronic components to be tested while stored in a stick, thereby speeding up the testing. The purpose is to provide equipment.
[課題の解決手段]
上記目的を達成するために、本発明のスティック収納型
電子部品の検査方法は、電子部品を多数個直列に収納し
たスティックを前傾もしくは後傾姿勢に配置するととも
に、当該スティックを軸心もしくは軸心と平行な回転軸
を中心として時計廻り方向または反時計廻り方向に任意
の角度回転させてステイラク内の電子部品を整列させ、
その後、当該スティックを挟んで一方の位置からX線を
照射し、他方の位置で透過X線を検出することによりス
ティック内の電子部品を検査する方法としである。[Means for Solving the Problems] In order to achieve the above object, the method for inspecting stick storage type electronic components of the present invention involves arranging a stick storing a large number of electronic components in series in a forward or backward tilting position, and Align the electronic components in the stay rack by rotating the stick at any angle in the clockwise or counterclockwise direction around the axis or a rotation axis parallel to the axis.
Thereafter, the electronic components inside the stick are inspected by irradiating the stick with X-rays from one position and detecting the transmitted X-rays at the other position.
また1本発明のスティック収納型電子部品の検査装置は
、電子部品を多数個直列に収納したスティックを一本づ
つ供給する供給部と、供給されたスティックを前傾もし
くは後傾姿勢に配置するとともに、当該スティックを軸
心もしくは軸心と平行な回転軸を中心として時計廻り方
向または反時計廻り方向に任意の角度回転させる搬送位
置決め部と、搬送されてきたスティックを挟んで一方の
位置にX線発生源を、他方の位置にX線カメラを備えた
検査部と、上記検査部による検査を終了したスティック
を収納する収納部とで構成してあり、必要に応じて検査
の結果、不良品と判別された電子部品を収納する部位を
スティック表面にマーキングを行なうマーキング機を設
置した構成としである。In addition, the stick storage type electronic component inspection device of the present invention includes a supply section that supplies sticks containing a large number of electronic components in series one by one, and the supplied sticks are arranged in a forward or backward tilted position. , a transport positioning unit that rotates the stick at an arbitrary angle in the clockwise or counterclockwise direction around the axis or a rotation axis parallel to the axis, and an It consists of an inspection section equipped with an X-ray camera at the other position, and a storage section that stores the sticks that have been inspected by the inspection section.If necessary, as a result of the inspection, the sticks are determined to be defective. A marking machine is installed to mark the area on the stick surface where the identified electronic component is to be stored.
[実施例]
以下、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。[Examples] Examples of the present invention will be described below with reference to the drawings.
まず2本発明装置に係る実施例を第1図〜第4図にもと
づいて説明する。First, two embodiments of the apparatus of the present invention will be described based on FIGS. 1 to 4.
第1図はスティック収納型電子部品検査装置の全体構成
を示す縦断面図、第2図(a)は搬送位置決め部を拡大
して示す縦断面図、第2図(b)は同じく平面図、第3
図は第1図A−A断面を拡大して示す構成図である。FIG. 1 is a longitudinal sectional view showing the overall configuration of a stick storage type electronic component inspection device, FIG. 2(a) is a longitudinal sectional view showing an enlarged transport positioning section, and FIG. Third
The figure is a configuration diagram showing an enlarged cross section taken along the line A-A in FIG.
第1図において100は装置本体、200は電子部品を
多数個直列に収納したスティックWを供給する供給部、
300は前段搬送位置決め部300aおよび後段搬送位
置決め部300bからなる搬送位置決め部、400は搬
送されてきたスティックW内の電子部品を軟X線を用い
て検査する検査部、500は検査の終了したスティック
を収納する収納部である。In FIG. 1, 100 is the main body of the device, 200 is a supply unit that supplies a stick W containing a large number of electronic components in series;
Reference numeral 300 denotes a transport positioning section consisting of a front transport positioning section 300a and a rear transport positioning section 300b, 400 an inspection section that uses soft X-rays to inspect the electronic components in the stick W that has been transported, and 500 a stick that has been inspected. It is a storage section that stores.
供給部200は装置本体100の供給口101に連接し
て設けてあり、スティックWを一本づつ積み上げた状態
でストックする架台201を有し、供給ローラ202の
回転により下端のスティックWから一本づつ軸方向に引
き出し、装置本体100内に供給する。The supply unit 200 is provided in connection with the supply port 101 of the apparatus main body 100, and has a pedestal 201 that stores sticks W one by one, and the rotation of the supply roller 202 allows the sticks W to be stacked one by one to be stacked one by one. It is pulled out one by one in the axial direction and supplied into the apparatus main body 100.
装置本体100の内部は、中央部に検査部400か設け
てあり、供給口101から検査部400まての間に前段
搬送位置決め部300aが、また検査部40口から搬出
口102まての間に後段搬送位置決め部300bが、そ
れぞれ設けである。装置本体100は搬出口102側を
下向きにして傾斜しており、これに伴って前段搬送位置
決め部300aおよび後段搬送位置決め部300b上の
スティックWの搬送経路も前部を下向きにして傾斜して
いる。また、装置本体100の供給口101および搬出
口102には開閉シャッタ10:l、104か設けてあ
り、スティックWが通過するときのみ開閉シャッタ10
3 、 IO2か開放するようにして、X&Iの漏洩を
防止しである。Inside the apparatus main body 100, an inspection section 400 is provided in the center, and a pre-stage transport positioning section 300a is located between the supply port 101 and the inspection section 400, and between the inspection section 40 port and the carry-out port 102. A rear stage conveyance positioning section 300b is provided in each of the two stages. The main body 100 of the apparatus is tilted with the outlet 102 side facing downward, and accordingly, the transport path of the stick W on the front transport positioning section 300a and the rear transport positioning section 300b is also tilted with the front section facing downward. . Further, the supply port 101 and the export port 102 of the apparatus main body 100 are provided with opening/closing shutters 10:l, 104, and the shutters 10 are opened/closing only when the stick W passes through.
3. Open IO2 to prevent X&I leakage.
前段搬送位置決め部300aは、第2図(a)。The front stage transport positioning section 300a is shown in FIG. 2(a).
(b)に示すように長尺状のハウジング301に一定間
隔ごと搬送ローラ302を設け、タイミングベルト]0
:la、:+03bを介して駆動モータ303の動力を
これら搬送ローラ302に伝達し、スティックWを図示
右方向に搬送するようになっている。搬送ローラ302
と対向する位置には上部ガイトローラ304が設けてあ
り、搬送ローラ302と上部ガイドローラ304とでス
ティックWの上下面を挟んで案内する。また、305は
側面ガイドローラであり、水平に二個設けられた一対の
ローラてスティックWの側面を案内する。As shown in (b), conveyance rollers 302 are provided at regular intervals on a long housing 301, and a timing belt]0
The power of the drive motor 303 is transmitted to these conveyance rollers 302 via :la and :+03b, and the stick W is conveyed rightward in the figure. Conveyance roller 302
An upper guide roller 304 is provided at a position facing the stick W, and guides the stick W by sandwiching the upper and lower surfaces thereof between the transport roller 302 and the upper guide roller 304. Further, 305 is a side guide roller, which guides the side surface of the stick W by a pair of horizontally provided rollers.
306は前段搬送位置決め部300aを回転するための
回転リング部材であり、ハウジング301の前後端部の
外周に配設するとともに、底部においてハウジング30
1と連結しである。この回転リング部材306には、支
持バンド307か外嵌してあり、装置本体100に固定
した支持プーリ308か三方向からこの支持バンド30
7を支持することにより(第3図参照)1回転リング部
材306が回転自在に支持固定されている。これにより
ハウジング301も回転リング部材306を介して支持
固定されている。また、回転リング部材306には外歯
車309か形成しである。この外歯車309には歯車3
10か噛み合っており、駆動ベルト311を介してモー
タ312からの動力か伝達される。これにより回転リン
グ部材306は軸心Oもしくは軸心Oと平行な回転軸を
中心として時計廻り方向または反時計廻り方向に、一定
の角度だけ回転するようになっている0回転角度は任意
に設定できるが、通常、供給時の角度な0度として、−
45度〜+90度程度に設定すれば十分である。Reference numeral 306 denotes a rotating ring member for rotating the front-stage conveyance positioning section 300a, which is disposed on the outer periphery of the front and rear ends of the housing 301, and at the bottom of the housing 30.
It is connected to 1. A support band 307 is externally fitted onto the rotating ring member 306, and a support pulley 308 fixed to the device main body 100 is attached to the support band 307 from three directions.
7 (see FIG. 3), the one-rotation ring member 306 is rotatably supported and fixed. Thereby, the housing 301 is also supported and fixed via the rotating ring member 306. Furthermore, an external gear 309 is formed on the rotating ring member 306. This external gear 309 has gear 3.
10 are in mesh with each other, and power from a motor 312 is transmitted via a drive belt 311. This causes the rotating ring member 306 to rotate by a certain angle in the clockwise or counterclockwise direction around the axis O or a rotation axis parallel to the axis O. The zero rotation angle can be set arbitrarily. It is possible, but usually the angle at the time of supply is 0 degrees, -
It is sufficient to set the angle to about 45 degrees to +90 degrees.
313はストッパであり、エアシリンダ314の駆動に
より爪コ15が支軸316を中心に回動してスティック
Wの搬送経路上に突出する。爪315には接触スイッチ
等のセンサが取り付けてあり、このセンサにスティック
Wの先端か接触したことを後述する制御・処理部700
に知らせて、搬送ローラ302の回転を停止させる。Reference numeral 313 denotes a stopper, and the claw 15 rotates around the support shaft 316 by driving the air cylinder 314, and projects onto the conveyance path of the stick W. A sensor such as a contact switch is attached to the claw 315, and when the tip of the stick W comes into contact with this sensor, the control/processing unit 700 (described later)
to stop the rotation of the conveyance roller 302.
後段搬送位置決め部300bは、搬送ローラおよび上面
、側面ガイドローラの設置位置が若干具なるだけで、全
体的な構成は前段搬送位置決め部300aと同じである
。The latter stage conveyance positioning section 300b has the same overall configuration as the first stage conveyance positioning section 300a, except that the installation positions of the conveyance roller and the upper and side guide rollers are slightly different.
検査部400には、スティックWの搬送経路を挟んで上
方の位置にX線発生源401を備え、また下方の位置に
X線カメラ402を移動自在に設けである。X線発生源
401としては、例えば、焦点寸法0.3 X(1,3
mm 、 X線出力1[10kV、/ 3 mA(7)
軟X線出力管を使用すればよい、またX線カメラ402
は、駆動機構403により、第3図の矢印a方向および
b方向に駆動されるようになっており、これにより搬送
されてきたスティックWの底面に近接し、あるいは搬送
中のスティックWとの接触を回避てきる。The inspection section 400 is equipped with an X-ray generation source 401 at an upper position across the transportation path of the stick W, and a movable X-ray camera 402 at a lower position. For example, the X-ray source 401 has a focal length of 0.3
mm, X-ray output 1 [10 kV, / 3 mA (7)
A soft X-ray output tube may be used, and an X-ray camera 402
are driven by a drive mechanism 403 in the directions of arrows a and b in FIG. can be avoided.
駆動機構403は、第一ボールベアリング404を第一
駆動モータ405で回転させることによって第一ボール
スクリュー406を軸方向(a方向)に移動させ、これ
に伴なって第一ボールスクリュー406に連結したX線
カメラ402をa方向に移動させる。また、第一駆動モ
ータ405および第一ボールベアリング404は移動台
407に取り付けてあり、第二駆動モータ408で第二
ボールスクリュー409を回転させることにより第二ボ
ールベアリング41O(移動台407)をb方向に移動
させ、これに伴ってX線カメラ402をb方向に移動さ
せる。The drive mechanism 403 moves the first ball screw 406 in the axial direction (direction a) by rotating the first ball bearing 404 with the first drive motor 405, and is connected to the first ball screw 406 accordingly. The X-ray camera 402 is moved in the direction a. Further, the first drive motor 405 and the first ball bearing 404 are attached to the movable base 407, and by rotating the second ball screw 409 with the second drive motor 408, the second ball bearing 41O (the movable base 407) is moved. direction, and the X-ray camera 402 is accordingly moved in the b direction.
ところで、検査部400はX線の漏洩を防ぐため、防護
壁411で仕切られており、しかもX線発生源401の
前面にはシャッタ412が設けてあり、X線照射時のみ
このシャッタ412を開口するようになっている。By the way, the inspection section 400 is partitioned by a protective wall 411 to prevent leakage of X-rays, and a shutter 412 is provided in front of the X-ray source 401, and this shutter 412 is opened only when X-rays are irradiated. It is supposed to be done.
第3図において、600はマーキング機てあり、エアシ
リンダ601により軸方向に駆動するシリンダロット6
02の先端にマーキングベン603が取り付けである。In FIG. 3, 600 is a marking machine, and a cylinder rod 6 is driven in the axial direction by an air cylinder 601.
A marking ben 603 is attached to the tip of 02.
一方、マーキングベン603のキャップ604は、支軸
605を中心に回動自在な取付板606に固定されてい
る。取付板606は1図示しない駆動モータにより回動
する。マーキング機600は、第3図の状態(マーキン
グベン603にキャップ604が嵌め込まれた状態)か
ら、まずエアシリンダ6旧によりマーキングベン603
を図示C方向に移動させてキャップ604からはずす0
次いで。On the other hand, the cap 604 of the marking ben 603 is fixed to a mounting plate 606 that is rotatable about a support shaft 605. The mounting plate 606 is rotated by a drive motor (not shown). The marking machine 600 starts from the state shown in FIG.
0 from the cap 604 by moving it in the direction C shown in the figure.
Next.
取付板606を図示時計方向に移動させることにより、
キャップ604をシリンダロッド602(マーキングベ
ン603)の移動線上から回避させる。そして、マーキ
ングベン603を図示d方向に移動させて搬送経路上の
スティック表面にマーキングを行なうようになっている
。この一連の動作は、後述する制御・処理部700から
の制御信号により行なわれる。制御・処理部700は、
検査の結果、不良品と判別された電子部品を収納する部
位のスティック表面に、マーキングを行なうようにマー
キング機600を制御する。By moving the mounting plate 606 clockwise in the figure,
The cap 604 is avoided from the movement line of the cylinder rod 602 (marking ben 603). Then, the marking ben 603 is moved in the direction d in the figure to mark the surface of the stick on the conveyance path. This series of operations is performed by control signals from a control/processing section 700, which will be described later. The control/processing unit 700 is
As a result of the inspection, the marking machine 600 is controlled to mark the surface of the stick in the area where the electronic component determined to be defective is to be stored.
収納部500は、後段搬送位置決め部300bにより搬
出口102かう搬出されてきたスティックWを収容する
架台501を備えている。The storage section 500 includes a pedestal 501 that accommodates the stick W that has been carried out to the outlet 102 by the rear transport positioning section 300b.
第4図は制御・処理部の正面図である。FIG. 4 is a front view of the control/processing section.
制御・処理部700は、装置各部の動作制御を行なう制
御装置(内蔵)および操作パネル701、検査部400
からの検査信号を画像処理する画像処理装置(内蔵)、
ビデオモニタ702を備えている。The control/processing unit 700 includes a control device (built-in) that controls the operation of each part of the device, an operation panel 701, and an inspection unit 400.
An image processing device (built-in) that processes the inspection signal from the
A video monitor 702 is provided.
この制御・処理部700は、装置本体100と別体とな
っており、信号ケーブル703により装置各部と接続さ
れている。したがって、あらゆる作業環境に適し、操作
性も向上している。This control/processing section 700 is separate from the main body 100 of the apparatus, and is connected to each part of the apparatus by a signal cable 703. Therefore, it is suitable for any work environment and has improved operability.
次に、上述の検査装置を使用したスティック収納型電子
部品の検査方法に係る実施例を説明する。Next, an embodiment of a method for testing stick storage type electronic components using the above-mentioned testing device will be described.
第5図は、同検査方法のフローチャート、第6図(a)
、(b)はそれぞれスティック内の電子部品の位置決め
状態を示す断面図である。Figure 5 is a flowchart of the inspection method, Figure 6 (a)
, (b) are cross-sectional views showing the positioning of electronic components within the stick.
まず、供給部200に非検査対象となる電子部品を収納
したスティックWを積み重ねて配置し、制御・処理部7
00の操作パネル701上にある始動スイッチをONに
する(START) 、検査は、供給部200に配置さ
れた全てのスティックWについて連続的に行なわれる。First, sticks W containing electronic components not to be inspected are stacked and arranged in the supply section 200, and the control/processing section 7
When the start switch on the operation panel 701 of 00 is turned on (START), the inspection is continuously performed on all the sticks W arranged in the supply section 200.
供給部200の供給ローラ202か回転し、供給部20
0内の下端に配置されたスティックWが、供給口101
を通して装置本体100内の前段搬送位置決め部300
a上に供給される(ステップ1)。The supply roller 202 of the supply section 200 rotates, and the supply section 20
The stick W placed at the lower end inside the supply port 101
Through the front stage transport positioning section 300 in the device main body 100
a (step 1).
前段搬送位置決め部300aでは、搬送ローラ302が
連続的に回転し、スティックWを搬送する。このとき3
ストツパ313は搬送ライン上に突出しており、搬送さ
れてきたスティックWの先端が爪315に設けたセンサ
に接触したときを検知して搬送ローラ302を停止させ
る。このようにしてスティックWの全体を前段搬送位置
決め部300a内に配置する(ステップ2)。In the first stage transport positioning section 300a, the transport roller 302 rotates continuously and transports the stick W. At this time 3
The stopper 313 protrudes onto the conveyance line, and detects when the tip of the stick W being conveyed comes into contact with a sensor provided on the claw 315, and stops the conveyance roller 302. In this way, the entire stick W is placed within the first-stage transport positioning section 300a (step 2).
前段搬送位置決め部300aは、前部を下向きにして傾
斜しているので、第6図(a)の如くスティックW内の
各電子部品は重力により隙間なく接触し、前段方向の位
置決めが行なわれる。Since the front stage transport positioning section 300a is inclined with the front part facing downward, each electronic component in the stick W comes into contact with each other without gaps due to gravity, as shown in FIG. 6(a), and positioning in the front stage direction is performed.
次に1回転リング部材306を任意角度回転させ、前段
搬送位置決め部300a上のスティックWを前方または
後方からみて傾斜した姿勢にする(ステップ3)、その
結果、スティックW内の各電子部品は、第6図(b)の
如く重力により一側方に寄り、左右方向の位置決めが行
なわれる。Next, the ring member 306 is rotated once by an arbitrary angle to make the stick W on the front-stage transport positioning section 300a tilted when viewed from the front or rear (step 3). As a result, each electronic component in the stick W is As shown in FIG. 6(b), the object is moved to one side by gravity, and positioning is performed in the left-right direction.
このようにして前後、左右方向の位置決めを行なった後
、ストッパ313を解除し、搬送ローラ302を間欠的
に回転させてスティックWをステップ送りする(ステッ
プ4)、このときの送り量は、電子部品−個分の長さに
設定する。ステップ送りにより、スティックW内の電子
部品は一個づつ検査部400内のX線照射位置に配置さ
れる。なお、後段搬送位置決め部300bも前段搬送位
置決め部300aに同期して回転リング部材が回転し、
かつ搬送ローラかステップ送り動作を行なっており、検
査部400を通過したスティックWを搬送する。After positioning in the front-rear and left-right directions in this way, the stopper 313 is released, and the transport roller 302 is rotated intermittently to feed the stick W in steps (step 4). Set to the length of the part. By step feeding, the electronic components in the stick W are placed one by one at the X-ray irradiation position in the inspection section 400. Note that the rotary ring member of the second-stage transport positioning section 300b also rotates in synchronization with the first-stage transport positioning section 300a.
In addition, the conveyance roller performs a step-feeding operation, and conveys the stick W that has passed through the inspection section 400.
電子部品がxi照射位置に配置された状態で。With electronic components placed at the xi irradiation position.
X線カメラ402をスティックWの底面に近接して配置
する。そして、X線発生源401からX線を照射し、電
子部品を通過したX線をX線カメラ4Q2で受光する(
ステップ5)。X線発生源401から照射されるX線は
、軟X線であるため、小形電子部品等の場合には特に明
瞭なX線透視像を得ることができる。An X-ray camera 402 is placed close to the bottom surface of the stick W. Then, X-rays are emitted from the X-ray source 401, and the X-rays that have passed through the electronic components are received by the X-ray camera 4Q2 (
Step 5). Since the X-rays emitted from the X-ray generation source 401 are soft X-rays, particularly clear X-ray fluoroscopic images can be obtained in the case of small electronic components and the like.
X線カメラ402に入力したX線透視像は制御・処理部
700の画像処理装置に送られ、画像処理を経てビデオ
モニタ702に表示される。検査員はこの表示された画
像により目視検査を行ない、電子部品か不良品であるか
否かを判別する(ステップ6)。The X-ray fluoroscopic image input to the X-ray camera 402 is sent to the image processing device of the control/processing unit 700, undergoes image processing, and is displayed on the video monitor 702. The inspector visually inspects the displayed image and determines whether it is an electronic component or a defective product (step 6).
目視検査の結果、不良電子部品と判別した場合は、制御
・処理部700の操作パネル7Ql上に設けたマーキン
グ機作動スイッチをONにしてマーキング機600を作
動する(ステップ7)、これにより、不良電子部品を収
納する部位のスティック表面にマーキングがなされ、検
査終了後、このマーキングを目印として不良電子部品を
排除する。As a result of the visual inspection, if it is determined that the electronic component is defective, the marking machine activation switch provided on the operation panel 7Ql of the control/processing section 700 is turned on to operate the marking machine 600 (step 7). Markings are made on the surface of the stick where electronic components are stored, and after the inspection is complete, defective electronic components are removed using the markings as a guide.
上記のステップ4〜6(該当する場合はステップ7まて
)の操作をスティックW内の全ての電子部品について行
なった後、後段搬送位置決め部300bの搬送ローラを
連続的に回転し、スティックWの全体を後段搬送位置決
め部300b内に配置する9次いで、後段搬送位置決め
部300bの回転リング部材を送回転させ、スティック
Wの前方または後方からみた姿勢を水平にする。そして
、搬送ローラを連続的に回転し、搬出口102から収納
部500へとスティックWを搬出する(ステップ8)。After performing the operations in steps 4 to 6 above (up to step 7 if applicable) for all electronic components in the stick W, the conveyance roller of the rear conveyance positioning section 300b is continuously rotated, and the The entire stick W is placed in the rear conveyance positioning section 300b.Next, the rotary ring member of the rear conveyance positioning section 300b is rotated, so that the posture of the stick W as seen from the front or rear is made horizontal. Then, the transport roller is continuously rotated to transport the stick W from the exit 102 to the storage section 500 (Step 8).
供給部200に配置した全てのスティックWについて以
上の操作を終了したら、制御・処理部700の操作パネ
ル701上にある始動スイッチをOFFにして、検査を
終了する(END)。When the above operations are completed for all the sticks W arranged in the supply section 200, the start switch on the operation panel 701 of the control/processing section 700 is turned off to end the test (END).
なお1本発明は上述した実施例に限定されるものではな
く、要旨を変更しない範囲で種々の変形実施が可能であ
る。Note that the present invention is not limited to the embodiments described above, and various modifications can be made without changing the gist.
例えば、スティックの前後方向の位置決めは。For example, positioning the stick in the front and back direction.
スティックの後部が下向きとなる状態に傾斜させること
により行なってもよい。また、不良品の判別は目視検査
によらなくとも、コンピュータな用いて正常晶の画像と
X線透視画像とを比較することにより自動的に行なって
もよい。This may be done by tilting the stick so that the rear part faces downward. Moreover, the determination of defective products does not have to be based on visual inspection, but may be automatically performed by using a computer to compare images of normal crystals and X-ray fluoroscopic images.
〔発明の効果]
以上説明したように本発明のスティック収納型電子部品
の検査方法およびその装置によれば、スティックに収納
したままの状態で電子部品の検査を行なえるため、検査
の迅速化2作業の容易化を図ることがてきる。[Effects of the Invention] As explained above, according to the method and apparatus for testing electronic components stored in a stick according to the present invention, electronic components can be tested while stored in a stick, thereby speeding up the testing. It can make the work easier.
第1図〜第4図は本発明装置の実施例を説明するための
図であり、第1図は装置の全体構成を示す縦断面図、第
2図(a)は搬送位置決め部を拡大して示す縦断面図、
第2図(b)は同じく平面図、第3図は第1図A−A断
面を拡大して示す構成図、第4図は制御・処理部の正面
図である。
第5図および第6図(a)、(b)は本発明方法の実施
例を説明するための図て、第5図は同方法のフローチャ
ート、第6図(a)、(b)はそれぞれスティック内の
電子部品の位置決め状態を示す断面図である。
第7図は電子部品収納用スティックの一部切欠断面図で
ある。
100:装置本体 103,104:開閉シャッタ
200:供給部 300:搬送位置決め部300
a :前段搬送位置決め部
300b :後段搬送位置決め部
306:回転リング部材 コニ3:ストツパ400:検
査部 401:X線発生源402:X線カメラ
403:駆動機構50〇 二収納部 6
00:マーキング機700:制御・処理部1 to 4 are diagrams for explaining an embodiment of the device of the present invention, FIG. 1 is a longitudinal sectional view showing the overall configuration of the device, and FIG. 2(a) is an enlarged view of the conveyance positioning section. A vertical cross-sectional view shown in
FIG. 2(b) is a plan view, FIG. 3 is a block diagram showing an enlarged cross section taken along the line AA in FIG. 1, and FIG. 4 is a front view of the control/processing section. 5 and 6 (a) and (b) are diagrams for explaining an embodiment of the method of the present invention, FIG. 5 is a flowchart of the method, and FIG. 6 (a) and (b) are respectively FIG. 3 is a cross-sectional view showing the positioning of electronic components within the stick. FIG. 7 is a partially cutaway sectional view of the electronic component storage stick. 100: Apparatus main body 103, 104: Opening/closing shutter 200: Supply section 300: Transport positioning section 300
a: Front-stage transport positioning section 300b: Back-stage transport positioning section 306: Rotating ring member 3: Stopper 400: Inspection section 401: X-ray source 402: X-ray camera 403: Drive mechanism 50〇 Two storage sections 6
00: Marking machine 700: Control/processing section
Claims (3)
傾もしくは後傾姿勢に配置するとともに、当該スティッ
クを軸心もしくは軸心と平行な回転軸を中心として時計
廻り方向または反時計廻り方向に任意の角度回転させて
スティック内の電子部品を整列させ、その後、当該ステ
ィックを挟んで一方の位置からX線を照射し、他方の位
置で透過X線を検出することによりスティック内の電子
部品を検査することを特徴としたスティック収納型電子
部品の検査方法。(1) A stick containing a large number of electronic components stored in series is placed in a forward or backward tilted position, and the stick is rotated clockwise or counterclockwise around the axis or a rotation axis parallel to the axis. Align the electronic components inside the stick by rotating it at an arbitrary angle, then irradiate the stick with X-rays from one position and detect the transmitted X-rays at the other position. A method for inspecting stick storage type electronic components.
本づつ供給するための供給口と、供給されたスティック
を前傾もしくは後傾姿勢に配置するとともに、当該ステ
ィックを軸心もしくは軸心と平行な回転軸を中心として
時計廻り方向または反時計廻り方向に任意の角度回転さ
せる搬送位置決め部と、搬送されてきたスティックを挟
んで一方の位置にX線発生源を、他方の位置にX線カメ
ラを備えた検査部と、上記検査部での検査を終了したス
ティックを搬出するための搬出口とを具備したことを特
徴とするスティック収納型電子部品の検査装置。(2) A supply port for supplying sticks containing a large number of electronic components in series one by one, and placing the supplied sticks in a forward or backward tilted position, and aligning the sticks with the axial center or axial center. A transport positioning unit that rotates an arbitrary angle clockwise or counterclockwise around parallel rotation axes, and an X-ray source at one position and an X-ray source at the other position across the transported stick. 1. A stick storage type electronic component inspection device, comprising: an inspection section equipped with a camera; and an exit for carrying out sticks that have been inspected in the inspection section.
査装置において、検査の結果不良品と判別された電子部
品を収納する部位のスティック表面にマーキングを行な
うマーキング機を備えたことを特徴とするスティック収
納型電子部品の検査装置。(3) The stick-storage type electronic component inspection device according to claim 2, further comprising a marking machine that marks the surface of the stick in a portion where electronic components determined as defective as a result of the inspection are to be stored. A stick storage type electronic component inspection device.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1062197A JPH02242143A (en) | 1989-03-16 | 1989-03-16 | Method and apparatus for inspecting stick housed type electronic component |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1062197A JPH02242143A (en) | 1989-03-16 | 1989-03-16 | Method and apparatus for inspecting stick housed type electronic component |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02242143A true JPH02242143A (en) | 1990-09-26 |
Family
ID=13193181
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1062197A Pending JPH02242143A (en) | 1989-03-16 | 1989-03-16 | Method and apparatus for inspecting stick housed type electronic component |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02242143A (en) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001307669A (en) * | 2000-04-21 | 2001-11-02 | Shimadzu Corp | Soft X-ray generator and X-ray inspection device |
| JP2005024453A (en) * | 2003-07-04 | 2005-01-27 | Anritsu Sanki System Co Ltd | X-ray inspection device |
| JP2016133500A (en) * | 2015-01-16 | 2016-07-25 | 東芝Itコントロールシステム株式会社 | Inspection apparatus |
-
1989
- 1989-03-16 JP JP1062197A patent/JPH02242143A/en active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001307669A (en) * | 2000-04-21 | 2001-11-02 | Shimadzu Corp | Soft X-ray generator and X-ray inspection device |
| JP2005024453A (en) * | 2003-07-04 | 2005-01-27 | Anritsu Sanki System Co Ltd | X-ray inspection device |
| JP2016133500A (en) * | 2015-01-16 | 2016-07-25 | 東芝Itコントロールシステム株式会社 | Inspection apparatus |
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