JPH02178814A - 低電圧基準電源回路 - Google Patents
低電圧基準電源回路Info
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- JPH02178814A JPH02178814A JP63331960A JP33196088A JPH02178814A JP H02178814 A JPH02178814 A JP H02178814A JP 63331960 A JP63331960 A JP 63331960A JP 33196088 A JP33196088 A JP 33196088A JP H02178814 A JPH02178814 A JP H02178814A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は低電圧基準電源回路に係り、特に約1.2V以
下の低電圧においJも零温度係数を有することができる
低電圧基準電源回路に関する。
下の低電圧においJも零温度係数を有することができる
低電圧基準電源回路に関する。
近年小型・軽量化のため乾電池−本(約1.5V )で
駆動を行なう製品が多く見られる。このような製品では
製品内の回路を駆動する際には低電圧で安定な基準電源
が必要とされている。
駆動を行なう製品が多く見られる。このような製品では
製品内の回路を駆動する際には低電圧で安定な基準電源
が必要とされている。
従来の技術
従来の基準電源回路を第5図及び第6図に示ザ。
第5図及び第6図に示す基準電源回路はトランジスタQ
IOのベース・エミッタ間のPN接合のバンドギャップ
電圧V、oを利用して出力端子3.4間の電圧を検出し
、検出信号を増幅回路1,2を介して制御素子であるト
ランジスタQuに供給する、1制御素子であるトランジ
スタQnは出力端子3゜4間に設けられ、出力端子3,
4間の出力基準電圧■、。、を一定の値に保持する。こ
のとき、出力基準電圧■、。fをエネルギーバンドギャ
ップ電圧■goと等しくすることにより基準電圧Vre
fは零温度係数を有し、温度特性として温度に対して安
定な基準電圧vref4!:得ていた。
IOのベース・エミッタ間のPN接合のバンドギャップ
電圧V、oを利用して出力端子3.4間の電圧を検出し
、検出信号を増幅回路1,2を介して制御素子であるト
ランジスタQuに供給する、1制御素子であるトランジ
スタQnは出力端子3゜4間に設けられ、出力端子3,
4間の出力基準電圧■、。、を一定の値に保持する。こ
のとき、出力基準電圧■、。fをエネルギーバンドギャ
ップ電圧■goと等しくすることにより基準電圧Vre
fは零温度係数を有し、温度特性として温度に対して安
定な基準電圧vref4!:得ていた。
発明が解決しようとする課題
しかるに、従来の基準電源回路は基準電圧V をエネ
ルギーバンドギャップ電圧vg。(約ef 1.2V)と等しくしなければ、温度係数を零とするこ
とができないため乾電池・−本で使用するような装置に
おいてより長期に渡って使用するため工〈 ネルギーバンドギャップ電圧V、、。(約1.2V )
以下の低電圧の基準電圧での使用が求められているにも
かかわらず、安定した電圧を得るためには基準電圧■r
efはエネルギーバンドギャップ電圧V (約1.2V
)としなければならず1本の電池O で装置をより長期に渡って使用することができない等の
問題点があった。
ルギーバンドギャップ電圧vg。(約ef 1.2V)と等しくしなければ、温度係数を零とするこ
とができないため乾電池・−本で使用するような装置に
おいてより長期に渡って使用するため工〈 ネルギーバンドギャップ電圧V、、。(約1.2V )
以下の低電圧の基準電圧での使用が求められているにも
かかわらず、安定した電圧を得るためには基準電圧■r
efはエネルギーバンドギャップ電圧V (約1.2V
)としなければならず1本の電池O で装置をより長期に渡って使用することができない等の
問題点があった。
本発明は上記の点に鑑みてなされたものでエネルギーバ
ンドギャップ電圧以下の電圧でも零温度係数で使用でき
る低電圧基準電源回路を提供することを目的とする。
ンドギャップ電圧以下の電圧でも零温度係数で使用でき
る低電圧基準電源回路を提供することを目的とする。
課題を解決するための手段
本発明は差動増幅回路を、差動増幅回路の出力信号に応
じて出力端子間電圧を制御する制御手段と、両端間電圧
が差動増幅回路の入力電圧となる第1の抵抗と、第1の
抵抗と直列に接続された第2の抵抗とよりなる第1の直
列回路と、第3の抵抗と、第3の抵抗と直列に接続され
た第4の抵抗と、第4の抵抗に直列に接続された第4の
抵抗と、第4の抵抗に直列にコレクタが接続され、かつ
、ベースが第3の抵抗と第4の抵抗との接続点に接続さ
れたトランジスタとよりなる第2の直列回路とよりなり
、第1の直列回路の第1及び第2の抵抗の接続点と第2
の直列回路のトランジスタのコレクタ及び第4の抵抗の
接続点とを短絡し、第1及び第2の直列回路を出力端子
間に並列に接続してなる。
じて出力端子間電圧を制御する制御手段と、両端間電圧
が差動増幅回路の入力電圧となる第1の抵抗と、第1の
抵抗と直列に接続された第2の抵抗とよりなる第1の直
列回路と、第3の抵抗と、第3の抵抗と直列に接続され
た第4の抵抗と、第4の抵抗に直列に接続された第4の
抵抗と、第4の抵抗に直列にコレクタが接続され、かつ
、ベースが第3の抵抗と第4の抵抗との接続点に接続さ
れたトランジスタとよりなる第2の直列回路とよりなり
、第1の直列回路の第1及び第2の抵抗の接続点と第2
の直列回路のトランジスタのコレクタ及び第4の抵抗の
接続点とを短絡し、第1及び第2の直列回路を出力端子
間に並列に接続してなる。
作用
PN接合素子の接合部の電圧は周知の公式によって表わ
され、温度T及びPN接合素子を構成する半導体(通常
はシリコン)のバンドギャップに相当する電圧vgoの
関数となっている。また差動増幅回路を構成する2つの
トランジスタ、のベース・エミッタ間電圧の電圧差も周
知の公式によって表わされ、温度Tの関、数となってい
る。
され、温度T及びPN接合素子を構成する半導体(通常
はシリコン)のバンドギャップに相当する電圧vgoの
関数となっている。また差動増幅回路を構成する2つの
トランジスタ、のベース・エミッタ間電圧の電圧差も周
知の公式によって表わされ、温度Tの関、数となってい
る。
上記低電、圧基準電源回路の出力電圧は、トランジスタ
のベース・エミッタ間のPN接合部の電圧及び差動増幅
回路を構成する2つのトランジスタのベース・エミッタ
間電圧の電圧差として表われる。従ってこのように表わ
された出ツノ電圧はT及び■goの関数となっており、
この式を温度゛[で偏微分した式かび口となるように第
1及び第2の直列回路を構成する抵抗の値を選択するこ
とにより、出力電圧が■g。以下であって零温度係数を
有するように設定することができる。
のベース・エミッタ間のPN接合部の電圧及び差動増幅
回路を構成する2つのトランジスタのベース・エミッタ
間電圧の電圧差として表われる。従ってこのように表わ
された出ツノ電圧はT及び■goの関数となっており、
この式を温度゛[で偏微分した式かび口となるように第
1及び第2の直列回路を構成する抵抗の値を選択するこ
とにより、出力電圧が■g。以下であって零温度係数を
有するように設定することができる。
実施例
第1図は本発明の一実施例の回路図を示す。定電圧発生
用のPN接合はトランジスタQ1のベス・エミッタ間の
PN接合を用いる構成でトランジスタQ1のベース・コ
レクタ間を第4の抵抗である抵抗R2を介して接続した
構成である。また、PN接合を有する第2の直列回路は
トランジスタQ1のベースと抵抗R2との接続点と第3
の抵抗である抵、抗R+、とを接続した構成である。
用のPN接合はトランジスタQ1のベス・エミッタ間の
PN接合を用いる構成でトランジスタQ1のベース・コ
レクタ間を第4の抵抗である抵抗R2を介して接続した
構成である。また、PN接合を有する第2の直列回路は
トランジスタQ1のベースと抵抗R2との接続点と第3
の抵抗である抵、抗R+、とを接続した構成である。
また、トランジスタQ6は出力端子6.7間電圧を差動
増幅回路8の出力信号に応じて制御する制御手段を構成
する。図中抵抗R4は特許請求の範囲に記載した第1の
抵抗、抵抗R5は同様に・第2の抵抗、抵抗R1は第3
の抵抗、抵抗R2は第4の抵抗に対応し、トランジスタ
Q+がPN接合素子に対応する。また5は定電流電源で
あり出力端子6のラインに一定電流を供給する。
増幅回路8の出力信号に応じて制御する制御手段を構成
する。図中抵抗R4は特許請求の範囲に記載した第1の
抵抗、抵抗R5は同様に・第2の抵抗、抵抗R1は第3
の抵抗、抵抗R2は第4の抵抗に対応し、トランジスタ
Q+がPN接合素子に対応する。また5は定電流電源で
あり出力端子6のラインに一定電流を供給する。
抵抗R2を流れる電流を12、抵抗R3を流れる電流を
■3とすると、トランジスタQ1のベース・エミッタ間
電圧VBE1は、 ■ref VBEl−R+、I +
・・11)と表わされ、トランジスタQ2.Q3のベー
ス・エミッタ間電圧を夫々VBE2 、 VBE3とし
、R4の両端間電圧をへV旺とじた場合に△V 8E=
V 8E2−V 8E3であり、したがって、 抵抗 と表わされ、 式(6) を式(3) に代入すると、 ・・・(2) ここで、 十Rs =・R。
■3とすると、トランジスタQ1のベース・エミッタ間
電圧VBE1は、 ■ref VBEl−R+、I +
・・11)と表わされ、トランジスタQ2.Q3のベー
ス・エミッタ間電圧を夫々VBE2 、 VBE3とし
、R4の両端間電圧をへV旺とじた場合に△V 8E=
V 8E2−V 8E3であり、したがって、 抵抗 と表わされ、 式(6) を式(3) に代入すると、 ・・・(2) ここで、 十Rs =・R。
どすると
・・・(7)
とまた、トランジスタQ1のベース・エミッタ間電圧V
BE+は VBE+ =R21+ +R5(I2 +13 )・=
(4)電流I3は I3−△VBE/R4・・・(5) と表さる。さらに12)I3とすると電圧となる。
BE+は VBE+ =R21+ +R5(I2 +13 )・=
(4)電流I3は I3−△VBE/R4・・・(5) と表さる。さらに12)I3とすると電圧となる。
またトランジスタQI
圧をV BElとすると
のベース・エミッタ量定
と表わされることが知られている。ここでVg。はトラ
ンジスタQ1を構成するシリコンのエネルギーバンドギ
ャップに相当する電圧(約1.2V )、Tは温度、T
oは基準となる動作湿度、V BEOはT = T o
のときのトランジスタQ1のベース・エミッタ間電圧で
ある。
ンジスタQ1を構成するシリコンのエネルギーバンドギ
ャップに相当する電圧(約1.2V )、Tは温度、T
oは基準となる動作湿度、V BEOはT = T o
のときのトランジスタQ1のベース・エミッタ間電圧で
ある。
また差動増幅回路8の入力電圧となるΔVIEはΔV
BE= V BF2− V BF2となる。
BE= V BF2− V BF2となる。
ここで(10)式を温度Tで偏微分し、となることが知
られている。ここでnlはトランジスタQ3のトランジ
スタQ2に対する電流密度化(又は接合部の面積比)n
2はトランジスタQ4のトランジスタQ5に対する電流
密度化であり、kは、ボルツマン定数、qは電子電荷で
ある。
られている。ここでnlはトランジスタQ3のトランジ
スタQ2に対する電流密度化(又は接合部の面積比)n
2はトランジスタQ4のトランジスタQ5に対する電流
密度化であり、kは、ボルツマン定数、qは電子電荷で
ある。
(8)(9)式を(7)式に代入するととなる。温度変
化が零となる条件は a■ref/θT−0であるため、式(11)ヲセロト
おいてVg。を求めると R2 R。
化が零となる条件は a■ref/θT−0であるため、式(11)ヲセロト
おいてVg。を求めると R2 R。
であり、これは抵抗Rz 、R4、Rs 、Roを(1
2)式を満たすよう設定すれば■、。、の湯度係数はゼ
ロとなることを示している。
2)式を満たすよう設定すれば■、。、の湯度係数はゼ
ロとなることを示している。
またT = T oにおけるVr8fの値は(1o)(
12)式と表わされる。(13)式は温度TがT =
T oのときに出力端子6.7間に生じる電圧V、。、
がシリコンのバンドギャップに相当する1、2vよりも
低い低電圧となり得ることを示しており、しがもこれは
零温度係数を有するため温度変化に対して安定な出力と
なっている。
12)式と表わされる。(13)式は温度TがT =
T oのときに出力端子6.7間に生じる電圧V、。、
がシリコンのバンドギャップに相当する1、2vよりも
低い低電圧となり得ることを示しており、しがもこれは
零温度係数を有するため温度変化に対して安定な出力と
なっている。
また、■、。fが(13)式J:り高い電圧の時は(1
1)式は となり、正の温度特性を示し、(13)式より低い電圧
の時は(11)式は である。これよりvref(T=TO)とv、oの関係
を求めると となり、負の温度特性を示す。
1)式は となり、正の温度特性を示し、(13)式より低い電圧
の時は(11)式は である。これよりvref(T=TO)とv、oの関係
を求めると となり、負の温度特性を示す。
すなわち、第2図に示すようにvrefを温度係数が零
となる電圧((13)式)より上下することにより出力
電圧の811特性(係数)を変化させることができる。
となる電圧((13)式)より上下することにより出力
電圧の811特性(係数)を変化させることができる。
第3図及び第4図は、夫々本発明の第2実施例、第3実
施例の回路図を示しており、これらの回路中第1図と同
一構成部分には同一符号を付し、その説明を省略する。
施例の回路図を示しており、これらの回路中第1図と同
一構成部分には同一符号を付し、その説明を省略する。
第1図の回路は本発明の主目的である温度変動に対して
安定な低電圧出力を与えることができるが、第3図、第
4図の回路はこの他に電源電圧変動及び負荷変動等によ
って生ずる出力電圧の変動を防止するために第1図の回
路の周辺に必要な回路を設けたものであり、両回路とも
低電圧基準電源回路8(第1図の回路に対応)の左側が
、第1図の定電流電源5の役割を果す。
安定な低電圧出力を与えることができるが、第3図、第
4図の回路はこの他に電源電圧変動及び負荷変動等によ
って生ずる出力電圧の変動を防止するために第1図の回
路の周辺に必要な回路を設けたものであり、両回路とも
低電圧基準電源回路8(第1図の回路に対応)の左側が
、第1図の定電流電源5の役割を果す。
第3図では、■ioに電源が投入されると定電流回路9
によって略一定の電流がトランジスタQ8のベースに供
給され、出力制御用素子であるトランジスタQ8がオン
となることによって低電圧基準電源回路8が動作し、こ
れに伴って制御素子であるPNPトランジスタQ6がオ
ンとなる。この状態から、負荷変動等によって出力電圧
V。utが例えば増大する方向に変化するとPNPトラ
ンジスタQ6はより強くオンになりエミッタ電流が増え
るため、トランジスタQ7のベースに供給される電流は
減少する。これによってトランジスタQ8のコレクタか
ら供給される出力電圧V。U−よ下げられる。一方、出
力電圧■。utが減少する方向に変化すると上記とは逆
にV。utを上げるよう動作し、出力電圧V。utを一
定に保とうとする。
によって略一定の電流がトランジスタQ8のベースに供
給され、出力制御用素子であるトランジスタQ8がオン
となることによって低電圧基準電源回路8が動作し、こ
れに伴って制御素子であるPNPトランジスタQ6がオ
ンとなる。この状態から、負荷変動等によって出力電圧
V。utが例えば増大する方向に変化するとPNPトラ
ンジスタQ6はより強くオンになりエミッタ電流が増え
るため、トランジスタQ7のベースに供給される電流は
減少する。これによってトランジスタQ8のコレクタか
ら供給される出力電圧V。U−よ下げられる。一方、出
力電圧■。utが減少する方向に変化すると上記とは逆
にV。utを上げるよう動作し、出力電圧V。utを一
定に保とうとする。
第4図の回路は、■ioに電源が投入されると起動回路
15が動作してカレントミラー回路1oが動作し、電流
が流れる。カレンミラー回路1oが動作すると低電圧基
準電源回路11及びトランジスタQ7に電流が供給され
回路動作が開始される。
15が動作してカレントミラー回路1oが動作し、電流
が流れる。カレンミラー回路1oが動作すると低電圧基
準電源回路11及びトランジスタQ7に電流が供給され
回路動作が開始される。
低電圧基準電源回路11の出力は出力端子12゜13間
の電圧と電圧比較回路14で比較され、その差に応じた
出力はトランジスタQ9のベースに供給される。このた
めトランジスタQ9に電圧比較回路14の出力に応じた
電流が流れ、1〜ランジスタQ7に流れる電流も制御さ
れる。したがって出力制御用素子であるトランジスタQ
8のベース電流が制御されトランジスタQ9に流れる電
流が制御され、出力端子12.13間の電圧が一定に制
御される。
の電圧と電圧比較回路14で比較され、その差に応じた
出力はトランジスタQ9のベースに供給される。このた
めトランジスタQ9に電圧比較回路14の出力に応じた
電流が流れ、1〜ランジスタQ7に流れる電流も制御さ
れる。したがって出力制御用素子であるトランジスタQ
8のベース電流が制御されトランジスタQ9に流れる電
流が制御され、出力端子12.13間の電圧が一定に制
御される。
発明の効果
上述の如く、本発明によれば、比較的簡単な回路構成に
よりシリコンの1ネルギーバンドギヤツプに相当する電
圧以下の零温度係数を有する安定な低電圧を取り出すこ
とができ、バッテリ駆動の電気製品の増加に伴って拡大
しつつある低電圧の基準電源に対する需要に応えること
でかでき、更に容易に集積回路化が可能なことから信頼
性、経済性の点で有利であるという特長を有する。
よりシリコンの1ネルギーバンドギヤツプに相当する電
圧以下の零温度係数を有する安定な低電圧を取り出すこ
とができ、バッテリ駆動の電気製品の増加に伴って拡大
しつつある低電圧の基準電源に対する需要に応えること
でかでき、更に容易に集積回路化が可能なことから信頼
性、経済性の点で有利であるという特長を有する。
第1図は本発明の第1の実施例の回路図、第2図は本発
明の第1の実施例の温度−出力電圧特性図、第3図は本
発明の第2の実施例の回路図、第4図は本発明の第3実
施例の回路図、第5図は従来の一例の回路図、第6図は
従来の他の一例の回路図である。 1・・・増幅回路、8・・・差動増幅回路、11・・・
低電圧基準電圧回路、01〜Qn・・・1ヘランジスタ
、R1−R6・・・抵抗1゜ 特許出願人 ミツミ電機株式会社
明の第1の実施例の温度−出力電圧特性図、第3図は本
発明の第2の実施例の回路図、第4図は本発明の第3実
施例の回路図、第5図は従来の一例の回路図、第6図は
従来の他の一例の回路図である。 1・・・増幅回路、8・・・差動増幅回路、11・・・
低電圧基準電圧回路、01〜Qn・・・1ヘランジスタ
、R1−R6・・・抵抗1゜ 特許出願人 ミツミ電機株式会社
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 差動増幅回路と、 差動増幅回路の出力信号に応じて出力電圧を制御する制
御手段と、両端子電圧が該差動増幅回路の入力電圧とな
る第1の抵抗と、該第1の抵抗と直列に接続された第2
の抵抗とよりなる第1の直列回路と、 第3の抵抗と、該第3の抵抗と直列に接続された第4の
抵抗と、該第4の抵抗にコレクタ−エミッタ間が直列と
なるように接続され、かつ、ベースが該第3の抵抗と該
第4の抵抗との接続点に接続されたトランジスタとより
なる第2の直列回路とを有し、 該第1の直列回路の該第1及び第2の抵抗の接続点と該
第2の直列回路の該トランジスタのコレクタとを短絡し
、該第1及び第2の直列回路を並列に接続してなり、前
記差動増幅回路の出力信号に応じて前記制御手段を動作
させることにより該出力電圧を前記トランジスタのベー
スエミッタ間のPN接合のバンドキャップ電圧以下の一
定電圧に制御することを特徴とする低電圧基準電源回路
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33196088A JP2745610B2 (ja) | 1988-12-29 | 1988-12-29 | 低電圧基準電源回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33196088A JP2745610B2 (ja) | 1988-12-29 | 1988-12-29 | 低電圧基準電源回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02178814A true JPH02178814A (ja) | 1990-07-11 |
| JP2745610B2 JP2745610B2 (ja) | 1998-04-28 |
Family
ID=18249568
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33196088A Expired - Lifetime JP2745610B2 (ja) | 1988-12-29 | 1988-12-29 | 低電圧基準電源回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2745610B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02285408A (ja) * | 1989-03-30 | 1990-11-22 | Texas Instr Inc <Ti> | 基準電圧を発生する回路 |
| JP2012242943A (ja) * | 2011-05-17 | 2012-12-10 | Rohm Co Ltd | 電圧検出回路 |
-
1988
- 1988-12-29 JP JP33196088A patent/JP2745610B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02285408A (ja) * | 1989-03-30 | 1990-11-22 | Texas Instr Inc <Ti> | 基準電圧を発生する回路 |
| JP2012242943A (ja) * | 2011-05-17 | 2012-12-10 | Rohm Co Ltd | 電圧検出回路 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2745610B2 (ja) | 1998-04-28 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
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