JPH02126339A - 入出力処理機能テスト方法及び装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、データ処理システムの入出力処理機能（例え
ばチャネルの機能）のテストに関し、特に、テスト動作
に先立つ入出力！置の状態設定と、テスト動作の実行タ
イミングの調整に関する。

〔従来の技術〕

一般に、データ処理システムの構成要素としての入出力
処理装置を充分にテストするには、入出力装置の種々異
なる状態に対してテストのための動作を行なわせること
が必要であり、そのためには、入出力装置を予め所望の
状態に設定し、その後に、所望のタイミングで、テスト
のための所定の入出力起動を実行しなければならない。

従来、この入出力装置の状態設定とテスト実行タイミン
グの調整は、専らテストプログラムにより実現されてい
た。模擬入出力装置を用いるテストにおいても、従来の
模擬入出力装置は個々の入出力起動に応答する動作を模
擬するだけであるから、事情は同じである。

従来技術による入出力処理装置のテストを、第７図ない
し第９図を用いて説明する。第７図は。

テスト用のデータ処理システムのブロックダイヤグラム
である。このテストシステム７００は、データ処理装置
７０１と入出力装置又は模擬入出力装置７０４からなる
。データ処理装置７０１は。

テストプログラム７０３を処理することによって、入出
力処理装置７０２をテストする。入出力装置又は模擬入
出力装［１７０４は、インタフェース制御部７０５と入
出力動作制御部７０６を有する。

第８図に示したテストプログラム処理８００は、装置状
Ｓ設定処理８０１とテスト実行処理８０２により構成さ
れる。装置状態設定処理８０１は、テスト実行処理８０
２のために装置の状態とタイミングを設定するための処
理であり、処理８０３により装置状態を設定するための
入出力起動を行ない、処理８０４によりタイミングを調
整した後。

テストのための入出力起動処理８０５を行なう。

他方、入出力装置又は模擬入出力装置における処理８１
０は、装置状態設定処理８０１中の入出力起動処理８０
３に応答して状態Ｓ１を設定し、その後、テスト実行処
理８０２中の入出力起動処理８０５に応答して入出力動
作８１２を行なう。

このタイミングは、テストプログラム処理中のタイミン
グ調整処理８０４の結果として、状態Ｓ１における点Ｐ
工に調整される。

第９図は、前述した状態Ｓ□とタイミングＰ１の関係の
一例を示す。状態Ｓ、は、コマンドチエインを実行中の
状態であり、タイミングＰ工は、第２コマンドの実行が
始まった時点である。

〔発明が解決しようとする課題〕

前述のテスト過程におけるタイミング調整処理は、シス
テムを構成する諸装置の物理的特性を考慮してなされな
ければならないために、容易でなく、タイミングの許容
幅が狭くなると、非常に困難になる。また、テストプロ
グラムは、状態設定のための入出力起動を個々に指令し
なければならない。

本発明の目的は、テストプログラムによるテストタイミ
ングの調整を不要にして、微細なタイミングでのテスト
を容易にし、かつ、テストに先立つ入出力装置の状態設
定を容易にすることにある。

〔課題を解決するための手段〕

本発明のテスト方法においては、テストプログラムは、
所望の装置状態とテストのための入出力処理の所望の実
行タイミングとを指定するデータを被制御入出力装置に
設定し、それからテストのための入出力起動処理を行な
う。他方、被制御入出力装置は、前記データを解析して
、指定された装置状態を設定し、それから、指定された
タイミングで、前記入出力起動処理に対応する入出力処
理を実行する。前記データの設定は、テス１へプログラ
ム中に用意されたものが被制御入出力装置へ転送されて
もよいし、あるいは、予め被制御入出力装置中に記憶さ
れている複数組のデータからテストプログラムにより選
択されてもよい。なお、本項及び特許請求の範囲にいう
被制御入出力装置は、模擬入出力装置を含む。

また、本発明による模擬入出力装置は、模擬すべき入出
力装置の属性並びに入出力処理機能のテストのために必
要な装置状態及び入出力処理の実行タイミングを示すデ
ータを記憶するための記憶手段と、テストのための入出
力起動指令に応答して前記データを解析し、指定された
入出力装置の指定された装置状態を設定するとともに、
指定されたタイミングで前記入出力起動指令に対応する
入出力処理を模擬する入出力動作制御手段とを備える。

〔作用〕

本発明のテスト方法によれば、所望の装置状態の設定と
所望のタイミングでの入出力処理の実行とが、被制御入
出力装置の内部処理によって行なわれ、したがって、テ
ストプログラムは、状態設定のための入出力起動を−４
行なう必要がなく、また、テストのための入出力起動の
実行タイミングを調整する必要もない。特に後者の特徴
は、プロセッサと入出力装置の持運的特性の影響を排除
して、入出力装置の状態に依存する動作のテストを容易
にする。

また、本発明の模擬入出力装置は、その記憶手段と入出
力動作制御手段を備えることにより、想定される各種の
入出力装置について、任意所望の装置状態における任意
所望のタイミングでの前記テスト方法の実施を可能にす
る。

〔実施例〕

第２図は本発明によるテストシステムの一例をブロック
ダイヤグラムで示し、第１図は第２図のシステムによる
処理の流れを示す。

第２図に示すように、テストシステム１００は、データ
処理装置１０１と模擬入出力装置１０４から構成される
。テスト対象装置である入出力処理装置（例えばチャネ
ル）１０２は、この例ではデータ処理装置１０１の内部
ユニットとなっているが、外部ユニットでもよい。テス
トプログラム１０３は、データ処理装置１０１のプログ
ラム処理部によって実行される。模擬入出力装置１０４
は、インタフェース制御部１０５、装置状態制御データ
記憶部１０７及び入出力動作制御部１０６から構成され
、マイグロブログラムにより制御される。入出力処理装
置１０２は、インタフェースＩ＆により模擬人出内装［
１０４のインタフェース制御部１０５に接続され、イン
タフェース制御部１０５は、インタフェースＩｂ及びＩ
ｃにより入出力動作制御部１０６及び装置状態制御デー
タ記憶部１０７にそれぞれ接続されている。装置状態制
御データ記憶部１０７に制御データを格納するか、入出
力動作制御部１０６に入出力動作を行なわせるかは、イ
ンタフェースＩ＆を経てインタフェース制御部１０５が
受信した入出力起動の種類によって決定される。

次に、第１図に従って第２図のシステムにより行なわれ
るテスト動作を説明する。処理群２００はデータ処理装
置１ｆｆＬＯ１におけるテストプログラムの処理を示し
、処理群２１０は模擬入出力装置１０４における処理を
示す。テストプログラムの処理が開始されると、装置の
状態設定を制御するための装置状態制御データＤ、が処
理２０１により模擬入出力装置１０４に送出され、模擬
入出力装置の処理２１１により装置状態制御データ記憶
部１０７に格納される。その後、模擬入出力装置１．０
４は起動待ち状態２１２に入る。やがて、起動待ちとな
っている模擬入出力装置に対して、テストプログラム処
理２０２によりテストのための入出力起動が行なわれる
と、待ち状態２１２が解除され、処理２１３から処理２
１７の処理が入出力動作制御部１０６により実行される
。他方、テストプログラムは、テストのための入出力起
動２０２の後、結果報告待ち状態２０３に入る。処理２
１３は処理２０２の入出力起動の内容を解析し、処理２
１４は装置の状態を設定するための装置状態制御データ
を装置状態制御データ記憶部１０７から読出す、処理２
１４により読出した装置状態制御データは処理２１５に
より解読され、処理２０２によって起動された入出力動
作を実行するための装置状ＢＳ１が処理２１５によって
設定される。この処理２１５によって設定した装置状態
Ｓｓにおいて、処理２１６が、テストのための入出力動
作をタイミングＰｌで実行する。入出力起動に対する結
果は処理２１７によりテストプログラムに報告され、テ
ストプログラムの結果報告待ち状態２０３が解除され、
処理２０４により結果のチエツクが実行される。

第３図は、第２図に示した処理によって設定される装置
状態Ｓｌと、テストのための入出力動作の実行のタイミ
ングＰ１の概要を示したものである。

第４図は、装置状態制御データＤａの内容を示す。装置
状態制御データＤａは、共通情報Ｄａ−Ｇ、装置情報Ｄ
ａ−Ｄ、及び入出力動作制御情報Ｄａ−Ｃから構成され
る。共通情報Ｄａ−Ｇは、諸入出力装置の動作状態の制
御に共通に用いられる情報であり、転送データカウント
、入出力装置台数、入出力処理装置（チャネル）からの
応答の監視時間等を含む。装置情報Ｄａ−Ｄは、各入出
力装置の属性情報であり、装置アドレス、データ転送モ
ード等を含む。また、入出力動作制御情報Ｄａ−Ｃは、
各入出力装置動作の詳細を規定する制御情報であり、起
動処理方法、データ転送方法、他の入出力装置との同期
処理、テストのための入出力処理の実行（テスト実行）
等を指示するための各制御コードと、装置動作タイミン
グを調整するためのデイレイタイム、ステータス報告方
法等を指示するための各処理コードと、ステータス報告
時のステータスコードとから選択される所望の１個又は
複数のコードにより、構成される。装置情報Ｄａ−Ｄと
入出力動作制御情報Ｄａ−Ｃは、接続されていると想定
される各入出力装置ごとに対をなして準備され、更に、
入出力動作制御情報Ｄａ−Ｃは、入出力動作の各シーケ
ンスごとに１組ずつ準備される。一連のシーケンスを構
成する入出力制御情報の一連の組は、逐次処理される。

第５図は、あるテスト事例のために用意された装置状態
制御データＤａを示す、共通情報Ｄａ−Ｇは２台の入出
力装置が想定されていることを示す、装置情報Ｄａ−Ｄ
（Ａ）及び入出力動作制御情報Ｄ　ａ−Ｃ，（Ａ）　〜
Ｄ　ａ　−Ｃ，（Ａ）は、入出力装置Ａのための制御デ
ータであり、装置情報Ｄ　ａ−Ｄ　（Ｂ）及び入出力動
作制御情報Ｄａ　−Ｃ−（Ｂ　）　、Ｄ　ａ　　Ｃｚ　
（Ｂ　）は、入出力装置Ｂのための制御データである。

装置Ａのための第２人出内勤作制御情報Ｄａ−Ｃ２（Ａ
）は、装置Ｂとの同期処理を指示する制御コードを含む
。装置Ｂのための第１人出内勤作制御情報Ｄａ−Ｃ，（
Ｂ）は、テストのための入出力処理の実行（テスト実行
）を指示する制御コードを含み、第２人出内勤作制御情
報Ｄ　ａ　　Ｃｚ　（Ｂ　）は、装置Ａとの同期処理を
指示する制御コードを含む６ 第６図は、第５図の装置状態制御データを用いて行なわ
れる第１図の処理２０１及び２１０の進行を、タイムチ
ャートの形式で示す、装置状態制御データＤａは、処理
２０１及び２１１により、模擬入出力装置１０４に転送
されて記憶部１０７に格納され、その後、テストのため
の入出力起動処理２０２に応答して読出されて（処理２
１３及び２１４）、装置状態の設定と、テストのための
入出力処理の実行のために解析される。処理２１５及び
２１６において、共通情報Ｄａ−Ｇの内容から２台の入
出力装置が指定されていることが認識され、入出力装置
Ａの動作状態は、装置情報Ｄａ−Ｄ　（Ａ）及゛び入出
力動作制御情報ＤａＣｔ（Ａ）〜Ｄａ−Ｃ４（Ａ）を解
析することにより設定され、入出力装置Ｂの動作状態は
、装置情報Ｄａ−Ｄ（Ｂ）及び入出力動作制御情報Ｄａ
　−Ｃ１（Ｂ）とＤａ−（、ｚ（Ｂ）を解析することに
より設定される。

まず、装［Ａのための制御データが取出され、Ｄａ−Ｃ
１（Ａ）に従って装置ｉ！Ａの状態■が設定され、次い
で、Ｄ　ａ　−Ｃｚ（Ａ）に従って状態■が設定される
。　Ｄ　ａ　−Ｃｚ（Ａ）の制御コードの解析結果は装
置Ｂとの同期処理を指示し、したがって、装置Ｂのため
の入出力動作制御情報Ｄａ　　Ｃｔ（Ｂ）が取出され、
それに従って状態■が設定される。

この時、Ｄａ−Ｃｘ（Ｂ）中のテスト実行を指示する制
御コードが解析されて、状態■の設定の直後にテストの
ための入出力処理■が実行される。すなわち、テストプ
ログラムの処理２０２により発行されたテストのための
入出力起動は、装置Ａが状態■にあり、かつ、装置Ｂが
状態■にあるＰ点において、装置Ａに対して実行される
。

その後、Ｄａ　　（、ｚ（Ｂ）の制御コードの解析の結
果、装置Ａとの同期処理頃）が指示されて、装置Ａのた
めの入出力動作制御情報Ｄａ−Ｃａ（Ａ）及びＤａ　　
Ｃ４（Ａ）が順次取出され、それらにそれぞれ従って、
装置Ａの状態（３う及び■が順次設定される。装［Ａか
らの終了報告Ｔｓ　１．Ｔｓ　２゜Ｔｓ３．Ｔｓ４及び
装ｖ１Ｂからの終了報告Ｔ　ｓ　５の内容は、テストプ
ログラム処理におけるチエツク処理２０４によりチエツ
クされる。

装置状態制御データは、模擬入出力装置に常駐してもよ
い。例えば、各種の型のテストに必要な装置状態制御デ
ータのそれぞれの組が予め模擬入出力装置に装備され、
テストプログラムが所望の組の制御データを識別する情
報を模擬人出力装置に送るようにすることができる。更
に、本発明は、模擬入出力装置に限らず、実際の入出力
装置に所要の機能を付加したものを用いても実施するこ
とができる。

〔発明の効果〕

本発明のテスト方法によれば、入出力装置の状態に依存
する入出力処理機能のテストに際して、所望の装置状態
の設定のための入出力起動をテストプログラムによって
行なう必要がなく、加えて、テストのための入出力起動
のタイミングをテストプログラムの側で調整する必要も
ない。特に後行の利点は、装置の物理的特性に影響され
る微妙なタイミング調整を容易にする。

また、本発明の模擬入出力装置は１本発明のテスト方法
の実施を一段と容易にする。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明のテスト方法の一実施例を示すフローチ
ャートであり、第２図は第１図の処理を実行するための
テストシステムの一例を示すブロックダイヤグラムであ
り、第３図は第１図の処理により実現されるテスト動作
の一例のタイミングを示すタイムチャートであり、第４
図は第１図の処理で使用される装置状態制御データを一
般的に示す図であり、第５図はあるテスト事例のための
装置状態制御データを示す図であり、第６図は第５図の
データを用いて行なわれるテスト動作のタイミングを示
すタイムチャートであり、第７図は従来のテストシステ
ムのブロックダイヤグラムであり、第８図は従来のテス
ト方法を示すフローチャートであり、第９図は第８図の
処理により実現されるテスト動作のタイミングを示すタ
イムチャートである。 １０２・・・入出力処理装置、１０３・・・テストプロ
グラム、１０４・・・模擬入出力装置、１０６・・・入
出力動作制御部、１０７・・・装置状態制御データ記憶
部、２０１．２１１・・・装置状態制御データの転送と
格納、２０２・・テストのための入出力起動、２１５゜
２１６・・装置状態の設定及び所定タイミングでの入出
力処理の実行。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、データ処理システムの入出力処理機能のテストであ
   つて、テストプログラムの処理により、所望の装置状態
   とテストのための入出力処理の所望の実行タイミングと
   を指定するデータを被制御入出力装置内に設定し、次い
   でテストのための入出力起動処理を遂行するステップと
   、前記被制御入出力装置において、前記データを解析し
   て、前記指定された装置状態を設定し、次いで前記指定
   されたタイミングで前記入出力起動処理に対応する入出
   力処理を実行するステップとを有するテスト方法。 ２、請求項１において、前記データは前記テストプログ
   ラムの一部として用意されて前記被制御入出力装置に転
   送されるテスト方法。 ３、模擬すべき入出力装置の属性並びに入出力処理機能
   のテストのために必要な装置状態及び入出力処理の実行
   タイミングを示すデータを記憶するための記憶手段と、
   テストのための入出力起動指令に応答して前記データを
   解析して指定された入出力装置の指定された装置状態を
   設定するとともに指定されたタイミングで前記入出力起
   動指令に対応する入出力処理を模擬する入出力動作制御
   手段とを備えた模擬入出力装置。