JPH0211854B2 - - Google Patents

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JPH0211854B2
JPH0211854B2 JP56208297A JP20829781A JPH0211854B2 JP H0211854 B2 JPH0211854 B2 JP H0211854B2 JP 56208297 A JP56208297 A JP 56208297A JP 20829781 A JP20829781 A JP 20829781A JP H0211854 B2 JPH0211854 B2 JP H0211854B2
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JP
Japan
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heat insulating
test
test piece
holding
temperature
Prior art date
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Application number
JP56208297A
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English (en)
Other versions
JPS58109832A (ja
Inventor
Yasuhiro Tsuchida
Naoki Kamata
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hokusan Co Ltd
Original Assignee
Hokusan Co Ltd
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Publication date
Application filed by Hokusan Co Ltd filed Critical Hokusan Co Ltd
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Publication of JPS58109832A publication Critical patent/JPS58109832A/ja
Publication of JPH0211854B2 publication Critical patent/JPH0211854B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N3/00Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
    • G01N3/08Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress by applying steady tensile or compressive forces
    • G01N3/18Performing tests at high or low temperatures

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、低温下で各種材料による試験片の引
張り試験を行う装置に関し、特に当該試験片を均
一に冷却して温度分布を可及的に小さくし、信頼
性の高い引張り試験を行うことができるようにし
た引張り試験装置に係るものである。
従来、この種の引張り試験装置としては、第1
図に示す通り、試験片1の両保持端部分1a,1
bがチヤツク2a,2a,2b,2bおよび挟着
板3a,3bとからなる引張保持部A,A′によ
り保持され、かつ同片1の試験部分4は断熱容器
5に収納されたアルコールのような冷媒6中に浸
漬しておき、当該冷媒6にはノズル7から液体窒
素、液体炭酸ガスのような低温液化ガスまたはド
ライアイスを投入して、同冷媒6を所定温度に冷
却することにより試験片1に低温条件を付与する
ようにしている。
そして引張り試験としては、例えば挟着板3b
は固定し、他の挟着板3aを矢印の如く上方へ引
くことにより行なわれるが、この際挟着板3a,
3bのテーパ孔8がチヤツク2a,2bを狭縮
し、同チヤツクの第2図に示すV字状の保持溝9
に形成されたローレツト10が試験片1の端部に
食い込むようになつており、尚同図にあつて、試
験片1の下方保持端部分1bは直接チヤツク2
b,2bにより挾着することなく断熱容器5の底
部に嵌着して下方へ突設した連結杆11に螺着さ
れ、同杆11をチヤツク2b,2bにて挾着する
ようにしてあり、また試験片1が断熱容器5を貫
通する場合には連結杆11の代りに粘度でシール
している。
従来装置は、かゝる構成を有するものであるた
め、室内に存するチヤツク2a,2a,2b,2
b等から熱侵入があり、この結果試験片の上、下
保持端部分1a,1bが加温されるから、試験片
1に温度勾配が生じ信頼性の高い試験結果が得ら
れないだけでなく、シール部が前記の如く粘土の
場合、低温下では液漏れがあるため冷媒6を均一
温度にすることも難度があり、かつ所定温度に制
御すること自体も困難を伴うものとなつている。
そしてさらに第1図の如く試験片1の試験部分
4を細成加工した場合には、当該部分4から破断
されて試験目的を達成し得るが、同片1が均一太
さのものである場合には、上記の如く上、下保持
端部分1a,1bが高温条件下にあるため、低温
下にある部分より弱い状態にあり、この結果保持
端部分1a,1bから破断が生じて、本来の引張
り試験を行なうことができない等の重大な欠陥が
あつた。
本発明はかゝる欠点を解消するためになされた
もので、試験片に温度勾配を生じさせることな
く、従つて試験部分と保持端部分とが同一径の場
合でも、保持端部分で破断してしまうことのない
引張り試験装置を提供しようとするのが目的であ
る。
本発明を第3図以下に示す一実施例により説明
すれば、引張保持部A,A′の構成は、第1図の
ものと全く同じでよくチヤツク等の所要部材は同
一符号で示されており、当該発では下方の保持端
部分1bをも直接引張保持部A′により保持する
ようにしている。
そして本発明では試験片1の上、下保持端部分
1a,1bに対してノズル12a,12bから噴
射される低温液化ガスによる冷却流体を噴当する
ための冷却用噴射部Bが設けられており、図示例
では上記ノズル12a,12bをチヤツク2a,
2a,2b,2bの隙間から装入するようにして
いる。
こゝで上記の冷却流体としては、例えば液体窒
素または、これを気化させた窒素ガスを用いるの
がよく、さらにノズル12a,12bと試験片1
の試験部分4との間にあつて試験片1の温度を検
知する温度センサ13a,13bが付設してあ
り、ノズル12a,12bからの冷却流体につ
き、その温度を自動制御するため、第5図に示す
通り液化ガスボンベ17が電気ヒータ等による熱
交換器18を介してノズル12a,12bに連結
され、前記温度センサ13a,13bの検知信号
を温度制御器19に導入し、同器19の出力によ
り上記熱交換器18の電気ヒータに供給される電
流を制御し、かくて温度制御器19により設定し
た所望温度の窒素ガス等をノズル12a,12b
から冷却流体として噴出し得るようにしてある。
つぎに上記試験部分4は断熱部Cによつて囲繞
するが、図示の断熱部Cは試験部分4に被覆した
断熱部材14と、これを包囲した断熱箱15と、
両者14,15間に画成された断熱空間16とに
より構成されている。
そして第3図にあつては全長にわたり均一径の
試験片1を用いており、この場合は断熱箱15内
の試験部分4を全面的に断熱部材14で被覆する
のがよいが、第4図に示すように試験部分4だけ
が小径である試験片であれば、当該部分4のみに
断熱部材14を施すようにし、このような場合に
はノズル12a,12bの端口を第4図の如く試
験部分4の近傍に臨装させるようにすることが望
ましい。
そこで上記装置を用いて試験をするには、まず
ノズル12a,12bから所定温度に制御された
冷却流体を噴射し、これにより試験片1はその保
持端部分1a,1bから試験部分4へと冷却され
る。
そして温度センサ13a,13bによつて感知
される温度が設定値に達したならば、挾着板3
a,3bを上下方向に動かすことにより、チヤツ
ク2a,2bを前記の如く狭縮して試験片1の保
持端部分1a,1bをしつかりと保持しながら引
張り力を伝えるようにすればよい。
以上説明した通り、本発明に係る低温引張り試
験装置は、試験片の両保持端部分を保持して、試
験片に引張り力を与えるための対をなす引張保持
部が、相互に対向する間隔をおいて配置されてお
り、これら引張保持部間には、試験片の両保持端
部分間にある試験部分を断熱するための断熱部が
配置されており、冷却流体を噴射するための冷却
用噴射部に設けられた対をなす噴射ノズルが、上
記両引張保持部を介して保持された試験片の両保
持端部分と対応して配置されており、上記断熱部
が、試験片の試験部分外周を被覆するための筒状
の断熱部材と、その断熱部材の外周を覆う断熱箱
とで構成されているとともに、これら断熱部材と
断熱箱との間に断熱空間が介在されていることを
特徴とする。
かかる構成を特徴とする本発明低温引張り試験
装置の場合、冷却用噴射部の各噴射ノズルより試
験片の両保持端部分へ冷却流体を噴射して、その
両保持端部分(両端)から試験片の試験部分(中
央)へと当該試験片を冷却するようにしたから、
この両方向からの低温熱伝導(両端冷却方式)に
より試験片の試験部分を速やかに冷却することが
でき、しかも、この際、上記試験部分を断熱部材
と断熱箱とで二重に断熱するので、試験片の温度
分布を効率よく均一化することができる。
特に、本発明低温引張り試験装置の場合、両引
張保持部を介して熱侵入が起こりがちな試験片の
両保持端部分を、両冷却用噴射部からの冷却流体
により冷却するので、これら保持端部分が試験部
分よりも高温化することがなく、したがつて、試
験片を両保持端部分から破断させるようなテスト
ミスも起こりがたく、所要の試験を行なう際の信
頼性が高まる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の引張試験装置を示す縦断正面
図、第2図はチヤツクの斜視図、第3図は本発明
に係る装置の一実施例を示す縦断正面図、第4図
は他の試験片を用いた場合の同要部縦断正面図、
第5図は同装置の冷却用噴射部に付設された低温
液化ガスの温度制御系を示す回路説明図である。 1……試験片、1a,1b……保持部分、4…
…試験部分、12a,12b……噴射ノズル、1
3a,13b……温度センサ、14……断熱部
材、15……断熱箱、16……断熱空間、A,
A′……引張保持部、B……冷却用噴射部、C…
…断熱部。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 試験片の両保持端部分を保持して、試験片に
    引張り力を与えるための対をなす引張保持部が、
    相互に対向する間隔をおいて配置されており、こ
    れら引張保持部間には、試験片の両保持端部分間
    にある試験部分を断熱するための断熱部が配置さ
    れており、冷却流体を噴射するための冷却用噴射
    部に設けられた対をなす噴射ノズルが、上記両引
    張保持部を介して保持された試験片の両保持端部
    分と対応して配置されており、上記断熱部が、試
    験片の試験部分外周を被覆するための筒状の断熱
    部材と、その断熱部材の外周を覆う断熱箱とで構
    成されているとともに、これら断熱部材と断熱箱
    との間に断熱空間が介在されていることを特徴と
    する低温引張り試験装置。
JP20829781A 1981-12-23 1981-12-23 低温引張り試験装置 Granted JPS58109832A (ja)

Priority Applications (1)

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JP20829781A JPS58109832A (ja) 1981-12-23 1981-12-23 低温引張り試験装置

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JP20829781A JPS58109832A (ja) 1981-12-23 1981-12-23 低温引張り試験装置

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Publication Number Publication Date
JPS58109832A JPS58109832A (ja) 1983-06-30
JPH0211854B2 true JPH0211854B2 (ja) 1990-03-16

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ID=16553912

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JP20829781A Granted JPS58109832A (ja) 1981-12-23 1981-12-23 低温引張り試験装置

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Families Citing this family (3)

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JPS5143162A (ja) * 1974-10-11 1976-04-13 Toyo Sanso Kk Gokuteionyozairyoshikensochi
JPS5423912U (ja) * 1977-07-19 1979-02-16
JPS5445066U (ja) * 1977-09-03 1979-03-28

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