JPH02114516A - Heat treatment device - Google Patents
Heat treatment deviceInfo
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】 [発明の]」的] (産業上の利用分野) 本発明は、熱処理装置に関する。[Detailed description of the invention] [the invention's] target] (Industrial application field) The present invention relates to a heat treatment apparatus.
(従来の技術)
近年、半導体デバイスの製造工程における熱拡散工程や
成膜工程で用いられる熱処理装置として、省スペース化
、省エネルギー化、ウェハボー、トのローディング・ア
ンローディングの自動化、半導体ウェハ等の被処理物の
大型化および自動化への対応が容易であること等の理由
から縦型熱処理装置が採用されている。(Prior art) In recent years, heat treatment equipment used in the thermal diffusion process and film formation process in the semiconductor device manufacturing process has been developed to save space, save energy, automate the loading and unloading of wafer boards, and cover semiconductor wafers, etc. Vertical heat treatment equipment has been adopted because it is easy to handle large-sized processing objects and adapt to automation.
この縦型熱処理装置は、石英等からなる円筒状の反応管
およびこの周囲を囲繞する如く設けられたヒータ機構、
均熱管、断熱材等から(1■成された反応炉本体がほぼ
垂直に配設されており、この反応管内に多数の半導体ウ
ェハを所定の間隔で棚積み収容した石英等からなるウェ
ハボートが配設されている。このウェハボートは反応管
下部に挿入された円筒状の保温筒上に搭載されており、
上下動可能とされた搬送機構により、この保温筒と一体
となってウェハボートが反応管内下方からロード・アン
ロードされるように構成されている。This vertical heat treatment apparatus includes a cylindrical reaction tube made of quartz or the like, a heater mechanism surrounding the tube,
A reactor body made up of soaking tubes, heat insulating materials, etc. (1) is arranged almost vertically, and inside this reaction tube are wafer boats made of quartz etc. in which a large number of semiconductor wafers are stored on shelves at predetermined intervals. This wafer boat is mounted on a cylindrical heat-insulating tube inserted at the bottom of the reaction tube.
The wafer boat is configured to be loaded and unloaded from below inside the reaction tube, integrally with this heat insulating cylinder, by a transport mechanism that is movable up and down.
このような縦型熱処理装置における処理作業は、予め装
置の処理制御系に記憶された所定の処理を行うための処
理プログラムに基づいて自動的に行われる。Processing work in such a vertical heat treatment apparatus is automatically performed based on a processing program for performing predetermined processing that is stored in advance in the processing control system of the apparatus.
(発明が解決しようとする課題)
ところで、近年の半導体製造分野では、多品種少量生産
化が進んでおり、これら多品種の生産に対応するために
1台の熱処理装置で多数の処理プログラムを記憶処理す
る必要があった。ところがこのように多数の処理プログ
ラムを装置内部の記憶機構に記憶しようとすると記憶容
量の大きな記憶機構が必要となり、装置コスト上昇を招
くばかりか、このように記憶機構の容量を大き(すると
、記憶された処理プログラムの呼出し・書込み時間即ち
ロード時間が長くなり、処理時間が遅くなるという問題
もあった。(Problem to be solved by the invention) In recent years, in the field of semiconductor manufacturing, there has been an increase in high-mix, low-volume production, and in order to cope with the production of a wide variety of products, a single heat treatment device has to store a large number of processing programs. It needed to be processed. However, in order to store such a large number of processing programs in the internal storage mechanism of the device, a storage mechanism with a large storage capacity is required, which not only increases the cost of the device, but also increases the capacity of the storage mechanism (increasing the storage capacity). There is also the problem that the calling/writing time, that is, the loading time of the processed processing program becomes long, which slows down the processing time.
本発明は、かかる従来の−j1情に対処してなされたも
ので、種々の製造工程にも容易に対応でき、しかも装置
内部の記憶機構の記憶容量の縮小化が図れ、装置製造コ
スト低減、ロード時間の短縮が可能な熱処理装置を提供
することを目的とするものである。The present invention was made in response to the above-mentioned problems of the prior art, and can easily be applied to various manufacturing processes.Moreover, it is possible to reduce the storage capacity of the storage mechanism inside the device, thereby reducing device manufacturing costs. The object of the present invention is to provide a heat treatment apparatus that can shorten loading time.
[発明の構成]
(課題を解決するための手段)
本発明の熱処理装置は、所定の処理情報を記憶した記憶
機構と、この記憶機構に記憶された所定の処理情報に基
づいて反応炉内の被処理物に一連の熱処理を施す処理制
御機構を備えた熱処理装置において、前記記憶機構を交
換することにより処理内容を変更できるように構成した
ことを特徴とするものである。[Structure of the Invention] (Means for Solving the Problems) The heat treatment apparatus of the present invention includes a storage mechanism that stores predetermined processing information, and a storage mechanism that stores predetermined processing information in the storage mechanism. This heat treatment apparatus is equipped with a process control mechanism for subjecting a workpiece to a series of heat treatments, and is characterized in that the process content can be changed by replacing the storage mechanism.
(作 用)
本発明の熱処理装置は、記憶機構を処理内容に応じて交
換可能に構成することで、装置側の記憶機構の記憶容量
が縮小化でき、装置本体のコスト低減が可能となり、さ
らに記憶容量の縮小化により記憶された処理情報の呼出
し時間の短縮化が図れる。また、処理内容の種類に応じ
て予め記憶機構を用意しておけば、記憶機構の交換作業
だけで異なる成膜処理ができ、多品種少量生産、割込み
生産等の特殊な製造工程にも容易に対応でき、生産性の
向上が図れる。(Function) In the heat treatment apparatus of the present invention, by configuring the storage mechanism to be replaceable according to the processing content, the storage capacity of the storage mechanism on the apparatus side can be reduced, and the cost of the apparatus itself can be reduced. By reducing the storage capacity, the time required to retrieve stored processing information can be shortened. In addition, if a storage mechanism is prepared in advance according to the type of processing content, different film formation processes can be performed simply by replacing the storage mechanism, making it easy for special manufacturing processes such as high-mix low-volume production and interrupt production. This will help improve productivity.
(実施例)
以下、本発明を2連式縦型熱処理装置に適用した一実施
例について図を参照して説明する。(Example) Hereinafter, an example in which the present invention is applied to a double-barrel vertical heat treatment apparatus will be described with reference to the drawings.
反応炉本体は、石英等からなる円筒状の第]の反応管1
aを収容した第1の反応炉本体2aと、同様に第2の反
応管1bを収容した第2の反応炉本体2bとを並設した
2連式構造となっている。The reactor body consists of a cylindrical reaction tube 1 made of quartz or the like.
It has a double structure in which a first reactor main body 2a that accommodates a reactor tube 1a and a second reactor main body 2b that similarly accommodates a second reaction tube 1b are arranged side by side.
各反応管1a、lbには、処理ガス例えば5ill 2
C12、IIcI 、B 2 If 6 、PII3
等を処理内容に合わせて各反応管1a、lb内に所定量
供給するためのガスコントローラ3と、成膜処理時に各
反応管1a、1b内を所定の真空度に保持するための排
気系コントローラ4が設けられている。Each reaction tube 1a, lb contains a processing gas, for example, 5ill 2
C12, IIcI, B2If6, PII3
a gas controller 3 for supplying a predetermined amount of the like into each reaction tube 1a, lb according to the processing content, and an exhaust system controller for maintaining the inside of each reaction tube 1a, 1b at a predetermined degree of vacuum during the film forming process. 4 are provided.
また、各反応管1a、lbの外周には、温度コントロー
ラ5a、5bにより夫々制御されるヒータ機構6a、6
bが周設されており、これら温度コントローラ5a、5
bおよびヒータ機構6 a s6bにより各反応管1a
、lb内に収容された被処理物例えば半導体ウエノ\群
7a、7bを所定の処理温度まで加熱する。Furthermore, heater mechanisms 6a and 6 are provided on the outer periphery of each reaction tube 1a and lb, respectively, and are controlled by temperature controllers 5a and 5b.
b are arranged around the temperature controllers 5a, 5.
b and heater mechanism 6a s6b for each reaction tube 1a.
, 1b are heated to a predetermined processing temperature, such as semiconductor wafers 7a and 7b.
このような熱処理装置における処理例えばSiエピタキ
シャル成膜処理では、まず各反応管1a。In a process in such a heat treatment apparatus, for example, a Si epitaxial film forming process, first, each reaction tube 1a is processed.
1b内を所定の真空度とした後、所定の処理ガスをガス
コントローラ3て制御しながら反応管1aqlb内に導
入する。このとき排気系コントローラ4により反応管l
a −、1b内は所定の真空度例えばl〜1OTor
rとなるように排気制御される。そして温度コントロー
ラ5 a 、 5bにより半導体ウェハ群7a、7bが
所定の処理温度例えば850〜1050℃となるように
ヒータ機構6a、6bを制御しながら処理を行う。After setting the inside of 1b to a predetermined degree of vacuum, a predetermined processing gas is introduced into the reaction tube 1aqlb while being controlled by the gas controller 3. At this time, the exhaust system controller 4
a-, 1b has a predetermined degree of vacuum, e.g. 1 to 1 O Tor.
Exhaust is controlled so that r. Then, the semiconductor wafer groups 7a, 7b are processed by the temperature controllers 5a, 5b while controlling the heater mechanisms 6a, 6b so that the semiconductor wafer groups 7a, 7b reach a predetermined processing temperature, for example, 850 to 1050°C.
また、各反応管1a、lb内への半導体ウェハ群7a、
7bの搬送は、図示を省略した移載機構および搬送機構
により行われ、移載機溝によりウェハ授受例えばウェハ
カセット内に収容された半導体ウニへ群7 a s 7
bをウェハボート8a、8bに移載した後、搬送機構
によりこのウェハボート8a、8bを搬送して各反応管
1a、lb内に収容する。これら搬送機構および移載機
構の動作制御は、搬送系コントローラ9により制御され
る。In addition, a group of semiconductor wafers 7a, into each reaction tube 1a, lb,
The wafers 7b are transferred by a transfer mechanism and a transfer mechanism (not shown), and the wafers are transferred to and from the group 7a s 7 by a transfer groove, for example, to a semiconductor urchin housed in a wafer cassette.
After transferring the wafers 8a and 8b to the wafer boats 8a and 8b, the wafer boats 8a and 8b are transported by the transport mechanism and accommodated in the respective reaction tubes 1a and 1b. The operation of these transport mechanisms and transfer mechanisms is controlled by a transport system controller 9.
ところで、本実施例における成膜制御は、ガスコントロ
ーラ3内の内部メモリ3aに記憶された成膜プログラム
に基づいて自動的に行われる。By the way, the film deposition control in this embodiment is automatically performed based on a film deposition program stored in the internal memory 3a in the gas controller 3.
この成膜プログラムは、予め外部メモリ10に記憶され
ており、この外部メモリ10から内部メモリ3aへ処理
プログラムが呼び込まれる。This film forming program is stored in advance in the external memory 10, and the processing program is read from the external memory 10 to the internal memory 3a.
第2図は、この外部メモリ10の一例として、本実施例
に使用したプログラムカセット21を示す図で、樹脂製
の部材等からなる筐体22内には、図示を省略した記憶
素子例えば複数の書換え可能ROM (Program
mablc ROM)が内装されている。FIG. 2 is a diagram showing a program cassette 21 used in this embodiment as an example of this external memory 10. In a housing 22 made of a resin member or the like, there are a plurality of storage elements (not shown), for example. Rewritable ROM (Program
mablc ROM) is built-in.
筐体22の背面にはカセット側コネクタ23が設けられ
ており、このコネクタ23を熱処理装置のガスコントロ
ーラ3等の制御機器に設けられたコントローラ側コネク
タ24に接続させることにより、プログラムカセット2
1内のデータがガスコントローラ3内の内部メモリ3a
に記憶される。A cassette-side connector 23 is provided on the back of the housing 22, and by connecting this connector 23 to a controller-side connector 24 provided on a control device such as a gas controller 3 of a heat treatment apparatus, the program cassette 2
The data in 1 is stored in the internal memory 3a in the gas controller 3.
is memorized.
本実施例のプログラムカセット21は、記憶の書換えが
可能なROMを用いているので、他の処理プログラムを
記憶させたい場合には、筐体22の表面に設けられたプ
ロテクトスイッチ25を解除すれば、新たな成膜プログ
ラムに書換えることができる。尚、プログラムカセット
21表面に設けられたEI?RO1?表示部26は、書
込みおよび呼出し時の異常を知らせるためのもので、o
usy表示部27は書込みおよび呼出し動作を知らせる
ためのものである。The program cassette 21 of this embodiment uses a ROM whose memory can be rewritten, so if you want to store another processing program, you can release the protect switch 25 provided on the surface of the casing 22. , it is possible to rewrite to a new film deposition program. Furthermore, the EI? provided on the surface of the program cassette 21? RO1? The display section 26 is for notifying abnormalities during writing and reading.
The usy display section 27 is for notifying write and call operations.
このようなプログラムカセット21に記憶される処理プ
ログラムは、第3図に示すように、処理ガス供給系の各
バルブの開閉、ガス流量調整、排気ポンプ等の成膜時に
おける一連の動作を成膜プロセスに基づいたステップ毎
に記憶させればよい。The processing program stored in such a program cassette 21, as shown in FIG. It is sufficient to memorize each step based on the process.
本実施例のプログラムカセット21は、最大20ロステ
ツプまで記憶可能な記憶容量を有しているが、成膜プロ
グラムの内容に応じて記憶容量も適したものを選択する
。The program cassette 21 of this embodiment has a storage capacity capable of storing up to 20 lost steps, but a suitable storage capacity is selected depending on the content of the film forming program.
また、本実施例のように2つの反応炉本体2a、2bを
有する熱処理装置では、各反応炉本体2a、2b毎で異
なった処理を行うことも考えられるか、そのような場合
には、第4図に示すように、1つのプログラムカセット
21に、2つの処理プログラムを記憶させればよい。例
えば、ステップO〜ステップnまでを反応炉本体2aの
成膜プログラムとし、ステップn+1〜ステツプ119
までを反応炉本体2bの成膜プログラムとすれば、1つ
のプログラムカセット21で各反応炉本体2a、2b毎
に異なる成膜処理が可能となる。In addition, in a heat treatment apparatus having two reactor bodies 2a, 2b as in this embodiment, it is conceivable to perform different treatments for each reactor body 2a, 2b, or in such a case, the first As shown in FIG. 4, two processing programs may be stored in one program cassette 21. For example, step O to step n are the film forming program for the reactor main body 2a, and step n+1 to step 119
If the above steps are taken as a film forming program for the reactor main body 2b, different film forming processes can be performed for each of the reactor main bodies 2a and 2b using one program cassette 21.
このようにプログラムカセット21等の外部メモリに一
連の成膜プログラムを記憶させておくことで、装置側の
内部メモリ3aの記憶容量の縮小化が図れ、装置本体の
コスト低減が可能となり、さらに記憶容量の縮小化によ
り成膜プログラムのロード時間の短縮化が図れる。By storing a series of film deposition programs in an external memory such as the program cassette 21 in this way, it is possible to reduce the storage capacity of the internal memory 3a on the apparatus side, reduce the cost of the apparatus body, and further improve the storage capacity. By reducing the capacity, the loading time of the film deposition program can be shortened.
また、処理内容の種類だけ予め外部メモリ10を揃えて
おけば、外部メモリ10の交換作業や差替え作業だけで
異なる成膜処理ができ、多品種少量生産、割込み生産等
の特殊な製造工程にも容易に対応でき、しかも生産性の
向上が図れる。また、本実施例のようなプログラムカセ
ット21の大きさは、例えば間口(W)約9011II
11、奥行き(L)約80■、高さ(H)約25ffi
iと小型・軽量であるため、保管場所を多く必要としな
い。In addition, if you prepare the external memories 10 in advance for the types of processing contents, you can perform different film forming processes just by replacing or replacing the external memories 10, and it can also be used for special manufacturing processes such as high-mix low-volume production and interrupt production. It can be easily handled and productivity can be improved. Further, the size of the program cassette 21 as in this embodiment is, for example, a width (W) of approximately 9011 II.
11. Depth (L) approx. 80cm, height (H) approx. 25ffi
Because it is small and lightweight, it does not require a lot of storage space.
上述実施例では、処理ガスコントローラ3を成膜プログ
ラムに基づいて自動的に制御する例について説明したが
、本発明は温度コントローラ5a、5b、排気系コント
ローラ4等の他のコントローラについても同様な制御が
可能で、また成膜処理以外の熱処理プロセスにも適用す
ることができる。In the above embodiment, an example was explained in which the processing gas controller 3 is automatically controlled based on the film formation program, but the present invention also provides similar control for other controllers such as the temperature controllers 5a and 5b and the exhaust system controller 4. It is also possible to apply this method to heat treatment processes other than film forming processes.
さらに本発明に用いる外部メモリ10としては、実施例
のプログラムカセット21に限定されるものではなく、
例えば固定ディスクやフロッピーディスク等の他の記憶
媒体でもよいが、本例のようなROMやRAMは、ロー
ド時間が早く本発明には好適である。Furthermore, the external memory 10 used in the present invention is not limited to the program cassette 21 of the embodiment,
For example, other storage media such as fixed disks or floppy disks may be used, but ROM and RAM as in this example are suitable for the present invention because of their quick loading times.
尚、上述実施例では、本発明を縦型熱処理装置に適用し
た実施例について説明したが、本発明は横型熱処理装置
等の他の熱処理装置にも適用可能である。In the above-described embodiments, the present invention was applied to a vertical heat treatment apparatus, but the present invention is also applicable to other heat treatment apparatuses such as a horizontal heat treatment apparatus.
[発明の効果]
以上説明したように、本発明の熱処理装置によれば、種
々の製造工程にも容易に対応でき、しかも装置制御系の
記憶容量の縮小化が図れ、装置製造コスト低減、ロード
時間の短縮が可能となり、告!産性の向上が図れる。[Effects of the Invention] As explained above, the heat treatment apparatus of the present invention can easily be applied to various manufacturing processes, and furthermore, it is possible to reduce the storage capacity of the apparatus control system, reduce the apparatus manufacturing cost, and reduce the load. It is now possible to save time! Productivity can be improved.
第1図は本発明による一実施例の縦型熱処理装置の制御
系の構成を示す図、第2図は第1図の外部メモリの一例
であるプログラムカセットの外観を示す図、第3図およ
び第4図は第2図のプログラムカセットに記憶される処
理プログラムの一例を示す図である。
la、lb・・・・・・反応管、2a、2b・・・・・
・反応炉本体、3・・・・・・ガスコントローラ、3a
・・・・・・内部メモリ、4・・・・・・排気系コント
ローラ、5a、5b・・・・・温度コントローラ、7a
、7b・・・半導体ウェハ群、9・・・・・・搬送系コ
ントローラ、10・・・・・・外部メモリ、21・・・
・・・プログラムカセット。
出願人 チル相模株式会社FIG. 1 is a diagram showing the configuration of a control system of a vertical heat treatment apparatus according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a diagram showing the external appearance of a program cassette, which is an example of the external memory shown in FIG. FIG. 4 is a diagram showing an example of a processing program stored in the program cassette of FIG. 2. la, lb...reaction tube, 2a, 2b...
・Reactor main body, 3... Gas controller, 3a
...Internal memory, 4...Exhaust system controller, 5a, 5b...Temperature controller, 7a
, 7b... Semiconductor wafer group, 9... Transfer system controller, 10... External memory, 21...
...Program cassette. Applicant Chill Sagami Co., Ltd.
Claims (1)
記憶された所定の処理情報に基づいて反応炉内の被処理
物に一連の熱処理を施す処理制御機構を備えた熱処理装
置において、 前記記憶機構を交換することにより処理内容を変更でき
るように構成したことを特徴とする熱処理装置。[Scope of Claims] A storage mechanism that stores predetermined processing information, and a processing control mechanism that performs a series of heat treatments on a workpiece in a reactor based on the predetermined processing information stored in the storage mechanism. A heat treatment apparatus, characterized in that the heat treatment apparatus is configured such that processing contents can be changed by replacing the storage mechanism.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26795588A JPH02114516A (en) | 1988-10-24 | 1988-10-24 | Heat treatment device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP26795588A JPH02114516A (en) | 1988-10-24 | 1988-10-24 | Heat treatment device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JPH02114516A true JPH02114516A (en) | 1990-04-26 |
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ID=17451919
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP26795588A Pending JPH02114516A (en) | 1988-10-24 | 1988-10-24 | Heat treatment device |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JPH02114516A (en) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6132189A (en) * | 1984-07-23 | 1986-02-14 | Tokyo Electric Co Ltd | Card reader |
JPS62107370A (en) * | 1985-11-05 | 1987-05-18 | Toshiba Corp | Document preparing device |
JPS6316618A (en) * | 1986-07-08 | 1988-01-23 | Yokogawa Electric Corp | Control of semiconductor diffusion furnace |
-
1988
- 1988-10-24 JP JP26795588A patent/JPH02114516A/en active Pending
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