JPH02111693A - Gas-injection structure in semiconductor epitaxial growth apparatus - Google Patents

Gas-injection structure in semiconductor epitaxial growth apparatus

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JPH02111693A
JPH02111693A JP26493388A JP26493388A JPH02111693A JP H02111693 A JPH02111693 A JP H02111693A JP 26493388 A JP26493388 A JP 26493388A JP 26493388 A JP26493388 A JP 26493388A JP H02111693 A JPH02111693 A JP H02111693A
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JP
Japan
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gas
ring
opening
cover
bell jar
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JP26493388A
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Mitsuhiro Kikuta
光洋 菊田
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Abstract

PURPOSE:To provide the title structure so designed that a stainless gas ring is covered with a quartz cover ring and the opening of the gas ring is covered with a quartz injection cover, thereby eliminating adverse effects on the epitaxial layer due to residual growth gas unreacted. CONSTITUTION:The objective structure equipped with (A) a susceptor 20 to set semiconductor wafers 80 to grow epitaxial layers, (B) a bell jar 10 enclosing said susceptor 20, and (C) a heat source 30 provided around said bell jar 10. This structure is comprised of (1) a gas ring 40 with an opening 41 to set an injection nozzle 60 for feeding a growth gas G into the bell jar 10, (2) a quartz cover ring 50 covering the inside of said gas ring 40, and (3) a quartz injection cover 70 set detachably at the opening 41. Said cover ring 50 is provided with an opening 51 at the position corresponding to the opening 41 on the gas ring 40.

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、半導体ウェハにエピタキシャル層を成長させ
る半導体エピタキシャル成長装置のガスインジェクト構
造に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION <Industrial Application Field> The present invention relates to a gas injection structure for a semiconductor epitaxial growth apparatus for growing an epitaxial layer on a semiconductor wafer.

〈従来の技術〉 まず、従来の半導体エピタキシャル成長装置の概要につ
いて、第4図を参照しつつ説明する。ただし、インジェ
クト構造は第5図を参照しつつ説明する。
<Prior Art> First, an overview of a conventional semiconductor epitaxial growth apparatus will be explained with reference to FIG. However, the injection structure will be explained with reference to FIG.

エピタキシャル成長装置は、横型、縦型及び第4図に示
rようなシリンダ型に大別することができる。
Epitaxial growth apparatuses can be broadly classified into horizontal types, vertical types, and cylinder types as shown in FIG.

横型のエピタキシャル成長装置は、横向きのベルジャと
、このベルジャの内部にセットされたサセプタとからな
っており、ベルジャ内部にエピタキシャル層を成長させ
る成長ガスを供給し、サセプタを成長ガスが反応する温
度にまで高周波コイルで加熱して、エピタキシャル層を
半導体ウェハに成長させるようになっている。また、縦
型の工ビタキシャル成長装置は、縦向きのベルジャと、
このベルジャ内部にセットされたサセプタとを有してお
り、サセプタの上に半導体ウェハを載置するように構成
されている。
A horizontal epitaxial growth apparatus consists of a horizontal bell jar and a susceptor set inside the bell jar. A growth gas for growing an epitaxial layer is supplied inside the bell jar, and the susceptor is heated to a temperature at which the growth gas reacts. The epitaxial layer is grown on the semiconductor wafer by heating with a high-frequency coil. In addition, the vertical bitaxial growth device has a vertical bell jar,
The bell jar has a susceptor set inside the bell jar, and is configured to place a semiconductor wafer on the susceptor.

これらの横型及び縦型のエピタキシャル成長装置にはロ
フト内の均一性や半導体ウェハの配置等に難点があるの
で、現在ではシリンダ形のエピタキシャル成長装置がそ
の大半を占めるようになっている。
Since these horizontal and vertical epitaxial growth apparatuses have drawbacks such as uniformity within the loft and arrangement of semiconductor wafers, cylinder-type epitaxial growth apparatuses are now the majority.

現在の主流となっているシリンダ形のエピタキシャル成
長装置は、石英ガラスからなる略コツプ状のベルジャl
Oの内部に断面略台形状のサセプタ20が回転自在にセ
ットされており、ベルジャlOの内部にはインジェクト
ノズル60を介して、例えばジクロルシラン(SiHz
Cl 2)等のシランガスである成長ガスGが供給され
るようになっている。サセプタ20は赤外線ランプ30
によって加熱されて、これにより成長ガスGが活性化さ
れ、サセプタ20にセットされた半導体ウェハ80にエ
ピタキシャル層が成長する。
The current mainstream cylindrical epitaxial growth equipment is a roughly cup-shaped bell jar made of quartz glass.
A susceptor 20 having a substantially trapezoidal cross section is rotatably set inside the bell jar lO, and a susceptor 20, for example, dichlorosilane (SiHz
A growth gas G, which is a silane gas such as Cl2), is supplied. The susceptor 20 is an infrared lamp 30
This activates the growth gas G, and an epitaxial layer grows on the semiconductor wafer 80 set on the susceptor 20.

成長ガスGをベルジャ10の内部に供給するインジェク
トノズル60は、ベルジャ10の上方開口端部に取り付
けられたガスリング40の開口41にセットされている
。このガスリング40は、ステンレスから形成されてい
る。そして、石英からなるカバーリング50が、ガスリ
ング40の内側に密着するようにしてセントされる。カ
バーリング50を石英で形成する理由は、ステンレス類
のガスリング40には、未反応の成長ガスGが残留する
傾向があり、蓋13を開けた場合に残留した成長ガスG
と空気中の酸素とが反応してSiO□の粉末(以下、パ
ーティクルという)に変化し、このパーティクルがエピ
タキシャル層に悪影響を与えるおそれがあるためである
An injection nozzle 60 for supplying growth gas G into the inside of the bell jar 10 is set in an opening 41 of a gas ring 40 attached to the upper open end of the bell jar 10. This gas ring 40 is made of stainless steel. Then, a cover ring 50 made of quartz is placed in close contact with the inside of the gas ring 40. The reason why the cover ring 50 is made of quartz is that unreacted growth gas G tends to remain in the stainless steel gas ring 40, and when the lid 13 is opened, the remaining growth gas G
This is because the particles react with oxygen in the air and turn into SiO□ powder (hereinafter referred to as particles), and these particles may adversely affect the epitaxial layer.

なお、カバーリング50等の石英には成長ガスGが残留
せず、ガスリング40等のステンレスには成長ガスGが
残留する明確な理由は解明されていないが、以下のよう
な可能性が考えられる。すなわち、ガスリング40は冷
却のためにその内部に冷却水が循環するようになってい
るので、ガスリング40は成長ガスGが反応しない温度
に常に維持されている。それに対して、ベルジャIOは
赤外線ランプ30によって加熱されているので、成長ガ
スGはすべて反応して残留することがないのである。
Although the clear reason why growth gas G does not remain in quartz such as the cover ring 50 and why growth gas G remains in stainless steel such as the gas ring 40 has not been elucidated, the following possibilities are considered. It will be done. That is, since cooling water is circulated inside the gas ring 40 for cooling, the gas ring 40 is always maintained at a temperature at which the growth gas G does not react. On the other hand, since the Belljar IO is heated by the infrared lamp 30, all of the growth gas G reacts and does not remain.

〈発明が解決しようとする課題〉 しかしながら、上述した従来の半導体エピタキシャル成
長装置のガスインジェクト構造には、以下のような問題
点がある。
<Problems to be Solved by the Invention> However, the gas injection structure of the conventional semiconductor epitaxial growth apparatus described above has the following problems.

すなわち、カバーリング50には、成長ガスGがベルジ
ャ10内部に供給されるように切込み51が設けられて
いる。この切込み51が開口41より若干大きめに設定
されているがために、カバーリング50によってガスリ
ング40の内側すべてがカバーされているわけではない
。このため、成長ガスGが未反応のまま、ガスリング4
0の開口41近辺に残留し、lt3を開けるとこの未反
応の成長ガスGがパーティクルとなって、エピタキシャ
ル層の成長に悪影響を及ぼす。また、ガスリング40の
開口41の内面は、ステンレスが剥き出しになっている
ので、同様にパーティクル発生の原因となる。
That is, the cover ring 50 is provided with a notch 51 so that the growth gas G is supplied into the bell jar 10. Since this cut 51 is set to be slightly larger than the opening 41, the cover ring 50 does not cover the entire inside of the gas ring 40. Therefore, the growth gas G remains unreacted and the gas ring 4
When lt3 is opened, this unreacted growth gas G becomes particles and adversely affects the growth of the epitaxial layer. Further, since the stainless steel is exposed on the inner surface of the opening 41 of the gas ring 40, this also causes particles to be generated.

本発明は上記事情に鑑みて創案されたもので、パーティ
クル発生の原因となるステンレスの露出部分をすべて石
英からなる部材でカバーすることによって、パーティク
ルが発生しない半導体エピタキシャル成長装置のガスイ
ンジェクト構造を提供することを目的としている。
The present invention was devised in view of the above circumstances, and provides a gas injection structure for a semiconductor epitaxial growth apparatus that does not generate particles by covering all exposed stainless steel parts that cause particle generation with a member made of quartz. It is intended to.

〈課題を解決するための手段〉 本発明に係る半導体エピタキシャル成長装置のガスイン
ジェクト構造は、エピタキシャル層を成長させるべき半
導体ウェハをセットするサセプタと、このサセプタを囲
むベルジャと、このベルジャの周囲に設置された熱源と
を備えた半導体エピタキシャル成長装置において、前記
ベルジャ内部に成長ガスを供給するインジェクトノズル
をセントする開口が開設されたガスリングと、このガス
リングの内側をカバーする石英からなるカバーリングと
、前記開口に着脱自在にセットされる石英からなるイン
ジェクトカバーとを具備しており、前記カバーリングに
はガスリングの開口と対応する腔所に開口が開設されて
いる。
<Means for Solving the Problems> The gas injection structure of the semiconductor epitaxial growth apparatus according to the present invention includes a susceptor for setting a semiconductor wafer on which an epitaxial layer is to be grown, a bell jar surrounding the susceptor, and a bell jar installed around the bell jar. In the semiconductor epitaxial growth apparatus, the semiconductor epitaxial growth apparatus is equipped with a gas ring having an opening through which an inject nozzle for supplying growth gas to the inside of the bell jar is opened, and a cover ring made of quartz that covers the inside of the gas ring. and an injection cover made of quartz that is detachably set in the opening, and the cover ring has an opening in a cavity corresponding to the opening of the gas ring.

く作用〉 成長ガスがインジェクトノズルを介してベルジャの内部
に供給される。この成長ガスは、赤外線ランプ等の熱源
で加熱されたサセプタによって活性化され、半導体ウェ
ハにエピタキシャル層を成長させる。
Function> Growth gas is supplied to the inside of the bell jar via the injection nozzle. This growth gas is activated by a susceptor heated by a heat source such as an infrared lamp to grow an epitaxial layer on the semiconductor wafer.

エピタキシャル層が所定の厚さにまで成長したならば、
半導体エピタキシャル成長装置から半導体ウェハを取り
出す。この時、空気がベルジャの内部に進入するが、未
反応の成長ガスが残留していないので、エピタキシャル
層に悪影舌を及ぼすパーティクルは発生しない。
Once the epitaxial layer has grown to a predetermined thickness,
A semiconductor wafer is taken out from a semiconductor epitaxial growth apparatus. At this time, air enters the inside of the bell jar, but since no unreacted growth gas remains, no particles are generated that would adversely affect the epitaxial layer.

〈実施例〉 以下、図面を参照して本発明に係る一実施例を説明する
。 なお、半導体エピタキシャル成長装置全体の説明は
第4図を参照しつつ行い、本発明に係る半導体エピタキ
シャル成長装置のガスインジェクト構造は第1図〜第3
図を参照しつつ説明する。
<Example> Hereinafter, an example according to the present invention will be described with reference to the drawings. The entire semiconductor epitaxial growth apparatus will be explained with reference to FIG. 4, and the gas injection structure of the semiconductor epitaxial growth apparatus according to the present invention will be explained in FIGS.
This will be explained with reference to the figures.

第1図は本発明に係る半導体エピタキシャル成長装置の
ガスインジェクト構造の概略を示す断面図、第2図はカ
バーリングの斜視図、第3図はインジェクトカバーの斜
視図、第4図は半導体エピタキシャル成長装置の概略図
である。なお、従来のものと路間−の部品等には同一の
符号を付して説明を行う。
FIG. 1 is a sectional view schematically showing a gas injection structure of a semiconductor epitaxial growth apparatus according to the present invention, FIG. 2 is a perspective view of a cover ring, FIG. 3 is a perspective view of an inject cover, and FIG. 4 is a semiconductor epitaxial growth device. FIG. 2 is a schematic diagram of the device. In addition, the same reference numerals are given to the conventional parts and the parts between the tracks, etc. in the explanation.

本発明に係る半導体エピタキシャル成長装置のガスイン
ジェクト構造は、エピタキシャル層を成長させるべき半
導体ウェハ80をセットするサセプタ20と、このサセ
プタ20を囲むベルジャ10と、このベルジャ10の周
囲に設置された熱源とを備えた半導体エピタキシャル成
長装置において、前記ベルジャ10内部に成長ガスGを
供給するインジェクトノズル60をセットする開口41
が開設されたガスリング40と、このガスリング40の
内側をカバーする石英からなるカバーリング50と、前
記間口41に着脱自在にセットされる石英からなるイン
ジェクトカバー70とを具備しており、前記カバーリン
グ50にはガスリング40の開口41と対応する箇所に
開口51が開設されている。
The gas injection structure of the semiconductor epitaxial growth apparatus according to the present invention includes a susceptor 20 for setting a semiconductor wafer 80 on which an epitaxial layer is to be grown, a belljar 10 surrounding the susceptor 20, and a heat source installed around the belljar 10. In a semiconductor epitaxial growth apparatus, an opening 41 for setting an inject nozzle 60 for supplying growth gas G into the inside of the bell jar 10;
The gas ring 40 has a gas ring 40, a cover ring 50 made of quartz that covers the inside of the gas ring 40, and an injection cover 70 made of quartz that is detachably set in the opening 41. An opening 51 is formed in the cover ring 50 at a location corresponding to the opening 41 of the gas ring 40.

エピタキシャル成長装置とは、形成させようとする薄膜
材料を構成する元素を含む一種以上の成長ガスGを半導
体ウェハ80上に供給し、気相又は半導体ウェハ80表
面での化学反応により所望の薄膜(この場合はエピタキ
シャル層)を形成させるC V D (Chemica
l Vapor Deposition)装置の一種で
あって、ベルジャ10と、エピタキシャル層を成長させ
るべき半導体ウェハ80をセットするサセプタ20と、
ベルジャ10の内部に供給された成長ガスGが活性化す
る温度にまでサセプタ20を加熱する熱源としての赤外
線ランプ30と、成長ガスGをベルジャ10の内部に供
給するインジェクトノズル60とを備えている。
An epitaxial growth apparatus is a device that supplies one or more growth gases G containing elements constituting a thin film material to be formed onto a semiconductor wafer 80, and forms a desired thin film (this film) through a vapor phase or a chemical reaction on the surface of the semiconductor wafer 80. C V D (Chemica
A susceptor 20 on which a belljar 10 and a semiconductor wafer 80 on which an epitaxial layer is to be grown is set.
It includes an infrared lamp 30 as a heat source that heats the susceptor 20 to a temperature at which the growth gas G supplied to the inside of the bell jar 10 is activated, and an inject nozzle 60 that supplies the growth gas G to the inside of the bell jar 10. There is.

ベルジャ10は石英ガラスからなる槽であって、上方が
開口した略コツプ状に形成されている。このベルジャI
Oの底部には、供給された成長ガスGを排気するための
排気口12が設けられており、この排気口12は図示し
ない排気装置につながっている。また、上方の開口の縁
部は、後述するガスリング40を装着するためのフラン
ジ11として形成されている。なお、図面中13はベル
ジャ10を閉塞する蓋を示している。
The bell jar 10 is a tank made of quartz glass, and is formed into a substantially cup-like shape with an open top. This Bellja I
An exhaust port 12 for exhausting the supplied growth gas G is provided at the bottom of the O, and this exhaust port 12 is connected to an exhaust device (not shown). Further, the edge of the upper opening is formed as a flange 11 for mounting a gas ring 40, which will be described later. Note that 13 in the drawings indicates a lid that closes the bell jar 10.

このようなベルジャ10の周囲には、熱源としての赤外
線ランプ30が複数個設けられている。この赤外線ラン
プ30は、サセプタ20を約1000〜1200”Cに
加熱することによってベルジャ10の内部温度を成長ガ
スGが活性化する温度にまで加熱するものである。なお
、この赤外線ランプ3oの周囲には、発光時に赤外線ラ
ンプ30を冷却する冷却機構31が設けられている。
A plurality of infrared lamps 30 are provided around the bell jar 10 as heat sources. This infrared lamp 30 heats the susceptor 20 to approximately 1000 to 1200''C, thereby heating the internal temperature of the bell jar 10 to a temperature at which the growth gas G is activated. is provided with a cooling mechanism 31 that cools the infrared lamp 30 when emitting light.

ガスリング40は、ステンレスから形成されており、所
定個(図面では2個)の開口41が開設されている。こ
の開口41には、インジェクトノズル6゜がOリング6
1を介してセットされる。そして、開口41の内面41
1のうちインジェクトノズル6oにょうてカバーされて
いない部分には、石英からなるインジェクトカバー70
が着脱自在にセットされている。すなわち、開口41の
内面411は、インジェクトカバー70及びインジェク
トノズル6oによって完全にカバーされているのである
。このインジェクト力バー70には、少なくとも1つの
孔71が開設されており、この孔71の個数或いは形状
は成長させるべきエピタキシャル層の特性、例えばエピ
タキシャル層の膜厚、比抵抗分布等の特性に応じて適宜
変更されるものとする(第3図(a)及びら)参照)。
The gas ring 40 is made of stainless steel, and has a predetermined number (two in the drawing) of openings 41. The injection nozzle 6° is inserted into the opening 41 through the O-ring 6.
Set via 1. Then, the inner surface 41 of the opening 41
1, an inject cover 70 made of quartz is placed on the part of the inject nozzle 6o that is not covered.
is set in a removable manner. That is, the inner surface 411 of the opening 41 is completely covered by the inject cover 70 and the inject nozzle 6o. This injection force bar 70 is provided with at least one hole 71, and the number and shape of this hole 71 depends on the characteristics of the epitaxial layer to be grown, such as the film thickness and resistivity distribution of the epitaxial layer. It shall be changed as appropriate (see Figures 3(a) and 3).

カバーリング50は前記ガスリング40の内側に取り付
けられて、ガスリング40の内側をカバーするものであ
って、ガスリング40の開口41に対応した箇所にのみ
開口51が開設されている。このカバーリング50は、
未反応の成長ガスGが残留しないように石英からなって
いる。すなわち、ガスリング40の内側は、未反応の成
長ガスGが残留しない石英製のカバーリング50によっ
て完全にカバーされていることになる。
The cover ring 50 is attached to the inside of the gas ring 40 to cover the inside of the gas ring 40, and has openings 51 only at locations corresponding to the openings 41 of the gas ring 40. This covering ring 50 is
It is made of quartz to prevent unreacted growth gas G from remaining. That is, the inside of the gas ring 40 is completely covered by the quartz cover ring 50 in which no unreacted growth gas G remains.

従って、この半導体エピタキシャル成長装置のインジェ
クトノズル60の周辺(ガスリング40の内側及び開口
41の内面411)は、すべて石英によってカバーされ
ていることになるので、パーティクル発生の原因となる
未反応の成長ガスGの残留が発生しない。
Therefore, the area around the inject nozzle 60 of this semiconductor epitaxial growth apparatus (the inside of the gas ring 40 and the inside surface 411 of the opening 41) is completely covered with quartz, so that unreacted growth that causes particle generation is prevented. No residual gas G is generated.

〈発明の効果〉 本発明に係る半導体エピタキシャル成長装置のガスイン
ジェクト構造は、エピタキシャル層を成長させるべき半
導体ウェハをセットするサセプタと、このサセプタを囲
むベルジャと、このベルジャの周囲に設置された熱源と
を備えた半導体エピタキシャル成長装置において、前記
ベルジャ内部に成長ガスを供給するインジェクトノズル
をセットする開口が開設されたガスリングと、このガス
リングの内側をカバーする石英からなるカバーリングと
、前記開口に着脱自在にセットされる石英からなるイン
ジェクトカバーとを具備しており、前記カバーリングに
はガスリングの開口と対応する箇所に開口が開設されて
いるので、以下のような効果を奏する。
<Effects of the Invention> The gas injection structure of the semiconductor epitaxial growth apparatus according to the present invention includes a susceptor for setting a semiconductor wafer on which an epitaxial layer is to be grown, a bell jar surrounding the susceptor, and a heat source installed around the bell jar. A semiconductor epitaxial growth apparatus comprising: a gas ring having an opening for setting an inject nozzle for supplying growth gas into the bell jar; a cover ring made of quartz that covers the inside of the gas ring; It is equipped with an inject cover made of quartz that is detachably set, and the cover ring has an opening at a location corresponding to the opening of the gas ring, so that the following effects are achieved.

すなわち、未反応の成長ガスが残留するステンレス製の
ガスリングが、未反応の成長ガスが残留しない石英製の
カバーリングで覆われ、しかもインジェクトノズルがセ
ットされるガスリングの開口が石英製のインジェクトカ
バーで覆われているので、残留した未反応の成長ガスを
原因とするパーティクルが発生することがない。従って
、パーティクルによるエピタキシャル層への悪影響がな
い。また、パーティクルが発生しないので、半導体エピ
タキシャル成長装置のメンテナンスが容易になり、稼働
率を向上させることができる。さらに、成長せさるべき
エピタキシャル層の特性に応じてインジェクトカバーを
交換することができるので、インジェクトノズル全体を
交換しなくとも各種の特性のエピタキシャル層を成長さ
せることができる。
In other words, the stainless steel gas ring, in which unreacted growth gas remains, is covered with a quartz cover ring, which does not leave unreacted growth gas, and the gas ring opening into which the inject nozzle is set is made of quartz. Since it is covered with an injection cover, particles caused by residual unreacted growth gas are not generated. Therefore, there is no adverse effect on the epitaxial layer due to particles. Furthermore, since particles are not generated, maintenance of the semiconductor epitaxial growth apparatus becomes easy and the operating rate can be improved. Furthermore, since the inject cover can be replaced depending on the characteristics of the epitaxial layer to be grown, epitaxial layers with various characteristics can be grown without replacing the entire injection nozzle.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明に係る半導体エピタキシャル成長装置の
ガスインジェクト構造の概略を示す断面図、第2図はカ
バーリングの斜視図、第3図はインジェクトカバーの斜
視図、第4図は半導体エピタキシャル成長装置の概略図
、第5図は従来のガスリング及びカバーリングの斜視図
である。 lO・・・ベルジャ、20・・・サセプタ、30・・・
赤外線ランプ(熱源)、40・・・ガスリング、41・
・・ (ガスリングの)開口、411  ・・・ (ガ
スリングの開口の)内面、50・・・カバーリング、5
1・・・ (カバーリングの)開口、60・・・インジ
ェクトノズル、70・・・インジェクトカバー80・・
・半導体ウェハ、G・・・成長ガス。
FIG. 1 is a sectional view schematically showing a gas injection structure of a semiconductor epitaxial growth apparatus according to the present invention, FIG. 2 is a perspective view of a cover ring, FIG. 3 is a perspective view of an inject cover, and FIG. 4 is a semiconductor epitaxial growth device. A schematic diagram of the apparatus, FIG. 5 is a perspective view of a conventional gas ring and cover ring. lO... Bellja, 20... Susceptor, 30...
Infrared lamp (heat source), 40... Gas ring, 41.
... Opening (of the gas ring), 411 ... Inner surface (of the opening of the gas ring), 50... Cover ring, 5
1... Opening (of the covering ring), 60... Inject nozzle, 70... Inject cover 80...
・Semiconductor wafer, G...Growth gas.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)エピタキシャル層を成長させるべき半導体ウェハ
をセットするサセプタと、このサセプタを囲むベルジャ
と、このベルジャの周囲に設置された熱源とを備えた半
導体エピタキシャル成長装置のガスィンジェクト構造に
おいて、前記ベルジャ内部に成長ガスを供給するインジ
ェクトノズルをセットする開口が開設されたガスリング
と、このガスリングの内側をカバーする石英からなるカ
バーリングと、前記開口に着脱自在にセットされる石英
からなるインジェクトカバーとを具備しており、前記カ
バーリングにはガスリングの開口と対応する箇所に開口
が開設されていることを特徴とする半導体エピタキシャ
ル成長装置のガスインジェクト構造。
(1) In a gas injection structure of a semiconductor epitaxial growth apparatus that includes a susceptor for setting a semiconductor wafer on which an epitaxial layer is to be grown, a bell jar surrounding the susceptor, and a heat source installed around the bell jar, the inside of the bell jar a gas ring with an opening for setting an inject nozzle that supplies growth gas to the gas ring, a cover ring made of quartz that covers the inside of this gas ring, and an injector made of quartz that is removably set in the opening. 1. A gas injection structure for a semiconductor epitaxial growth apparatus, comprising: a cover, the cover ring having an opening at a location corresponding to an opening of a gas ring.
JP26493388A 1988-10-19 1988-10-19 Gas-injection structure in semiconductor epitaxial growth apparatus Pending JPH02111693A (en)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5641358A (en) * 1995-10-10 1997-06-24 Stewart; Jeffrey Modular parylene deposition apparatus having vapor deposition chamber extension
JP2000514136A (en) * 1996-06-28 2000-10-24 ラム リサーチ コーポレイション High density plasma chemical vapor deposition apparatus and method

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