JPH0191518A - Clock generating device - Google Patents

Clock generating device

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JPH0191518A
JPH0191518A JP62248698A JP24869887A JPH0191518A JP H0191518 A JPH0191518 A JP H0191518A JP 62248698 A JP62248698 A JP 62248698A JP 24869887 A JP24869887 A JP 24869887A JP H0191518 A JPH0191518 A JP H0191518A
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JP
Japan
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clock
circuit
phase
inverters
outputs
Prior art date
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Application number
JP62248698A
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Japanese (ja)
Inventor
Yukio Nakagawa
幸夫 中川
Yoshito Nakatsu
悦人 中津
Kazumaro Morishige
森重 和麿
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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  • Television Signal Processing For Recording (AREA)

Abstract

PURPOSE:To attain stable operation even when number of stages of delay elements is increased by selecting a clock of a proper phase among clocks of various phases obtained by delay at plural inverters so as to output the clock subject to phase control. CONSTITUTION:A reference pulse A, clocks T1-T3 having an edge of a prescribed phase and signals ST1-ST3 representing whether or not the clock is selected surely are outputted from a 1st clock selection circuits 1 connected in series. The clock is processed by a 2nd clock selection circuit 2 comprising inverters 6, 7, OR gates 8, 9 and an AND-OR gate 10, the clock having the edge of a prescribed phase with the reference pulse A is selected among the clocks T1-T3 and the result is outputted as the clock T subject to phase control. Even when the number of stages is increased and the delay is extended, the clock duty is kept nearly constant.

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は時間軸補正装置(以下TBCという)のクロッ
ク発生部に使用して効果的なクロック発生装置に関し、
特にビデオテープレコーダ(以下VTRという)の再生
信号の時間軸補正のためのクロック信号等を安定に発生
するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of Industrial Application The present invention relates to a clock generation device that is effective for use in a clock generation section of a time base correction device (hereinafter referred to as TBC).
In particular, it stably generates a clock signal for time axis correction of a reproduction signal of a video tape recorder (hereinafter referred to as a VTR).

従来の技術 ディジタルTBCは一般にVTR等で再生された水平同
期信号及びバースト信号に同期したクロックで再生ビデ
オ信号をA/D変換し、メモリに書き込み、時間軸変動
のないクロックで読み出した後D/A変換することによ
り時間軸変動が除去されたビデオ信号を得るようにして
いる。
Conventional technology Digital TBC generally A/D converts the reproduced video signal using a clock synchronized with the horizontal synchronization signal and burst signal reproduced by a VTR, writes it into memory, reads it with a clock without time axis fluctuation, and then converts the reproduced video signal to D/D. By performing A conversion, a video signal from which time axis fluctuations have been removed is obtained.

以上のようなディジタルTBCのA/D変換及びメモリ
の書き込み制御に使用されるクロックは、従来VTRか
ら再生された水平同期信号よりフェイズ・ロックド・ル
ープ(以下PLLという)であらかじめ水平周波数の整
数倍の周波数のクロックを作成しておき、前記PLLの
位相誤差を補正するために前記PLLで作成したクロッ
クと前記VTRから再生された水平同期信号またはバー
スト信号との位相関係が一定になるよう前記PLLで作
成したクロックを位相制御している。前記PLLで作成
したクロックの位相制御方法として位相変調を行うもの
(例えば特開昭57−190488号公報)、PLL内
の発振器の発振位相をリセットする型のもの(例えば特
開昭61−56585号公報)等があるが、いずれもク
リティカルパスを有するアナログ回路を必要とし上記デ
ィジタルTBCのディジタルLSI化には適さない。そ
こで複数の半導体遅延素子を直列に接続して前記PLL
で作成したクロックよりそれぞれ位相の異なるクロック
を複数作成し前記VTRから再生された水平同期信号ま
たはバースト信号と同位相のものを選択して出力する型
のものが考えられる。
The clock used for the A/D conversion of the digital TBC and the memory write control as described above is a phase-locked loop (hereinafter referred to as PLL) that is an integer multiple of the horizontal frequency from the horizontal synchronization signal reproduced from the conventional VTR. In order to correct the phase error of the PLL, a clock with a frequency of The phase of the clock created by is controlled. Methods for controlling the phase of the clock created by the PLL include those that perform phase modulation (for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 57-190488), and methods that reset the oscillation phase of the oscillator in the PLL (for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 61-56585). However, all of them require an analog circuit having a critical path and are not suitable for converting the digital TBC into a digital LSI. Therefore, by connecting a plurality of semiconductor delay elements in series, the PLL
A conceivable method is to create a plurality of clocks each having a different phase from the clock created in , and select and output the one having the same phase as the horizontal synchronizing signal or burst signal reproduced from the VTR.

発明が解決しようとする問題点 しかしながら、クロックを遅延して行く場合クロックの
デユーティが変化して回路の動作が不安定になったり、
位相制御範囲を360°以上持たせるため遅延素子を全
段通過した場合の遅延量をクロックの1周期以上確保し
なければならないため位相制御の精度を高くしようとす
ればクロックの遅延段数が増加し、前記遅延されたクロ
ックのなかから希望する位相のクロックを選択する回路
は非常に大きなものになる。このため遅延段数の増加に
は限度があり位相制御の精度を大きくとれない。また遅
延素子として高価な遅延線を必要とし半導体化には適さ
ない。本発明は上記問題点に鑑み動作が安定でLSI化
が容易でかつ位相制御の精度に対し比較的小さな回路規
模で実現できるクロック発生装置を提供するものである
Problems to be Solved by the Invention However, when the clock is delayed, the duty of the clock changes and the operation of the circuit becomes unstable.
In order to have a phase control range of 360° or more, it is necessary to ensure a delay amount of one clock period or more when passing through all stages of delay elements, so if you try to increase the precision of phase control, the number of clock delay stages will increase. , the circuit for selecting a clock of a desired phase from among the delayed clocks becomes very large. For this reason, there is a limit to the increase in the number of delay stages, and the accuracy of phase control cannot be increased. Further, it requires an expensive delay line as a delay element, and is not suitable for semiconductor implementation. In view of the above-mentioned problems, the present invention provides a clock generation device that operates stably, can be easily integrated into an LSI, and can be realized with a relatively small circuit scale in terms of phase control accuracy.

問題点を解決するための手段 上記問題点を解決するために本発明のクロック発生装置
は略一定の周波数でかつ連続なクロックを入力し各種位
相のクロックを生成する直列接続された複数のインバー
タと、位相制御の基準となる基準パルスを入力と前記各
種位相のクロックを入力し前記各種位相のクロックから
基準パルスとエツジの位相が一定の関係にあるクロック
を抽出し出力する抽出回路と、前記抽出回路でクロック
が抽出されたかどうかを判定しその結果を出力する判定
回路を具備した第1のクロック選択回路が、前記複数の
インバータの最終段のインバータ出力が他の第1のクロ
ック選択回路の初段のインバータに入力されるように接
続された複数の第1のクロック選択回路と、前記複数の
第1のクロック選択回路のそれぞれから抽出クロックと
判定結果を入力し前記基準パルスとエツジの位相が一定
の関係にあるクロックを選択して出力する第2の選択回
路を具備し、これにより前記複数のインバータで遅延す
ることによって得られた各種位相のクロックのなかから
適当な位相のクロックを選択して位相制御のなされたク
ロックを出力として得るものである。
Means for Solving the Problems In order to solve the above problems, the clock generation device of the present invention includes a plurality of inverters connected in series that input continuous clocks at a substantially constant frequency and generate clocks of various phases. an extraction circuit that inputs a reference pulse serving as a reference for phase control and the clocks of the various phases, and extracts and outputs a clock whose edge phase has a fixed relationship with the reference pulse from the clocks of the various phases; A first clock selection circuit equipped with a determination circuit that determines whether or not a clock has been extracted in a circuit and outputs the result is configured such that the inverter output of the last stage of the plurality of inverters is the first stage of another first clock selection circuit. a plurality of first clock selection circuits connected so as to be input to an inverter, and an extracted clock and a judgment result are input from each of the plurality of first clock selection circuits, and the phases of the reference pulse and the edge are constant. a second selection circuit that selects and outputs a clock having a relationship of A phase-controlled clock is obtained as an output.

作用 本発明は上記した構成により、遅延素子の段数を増加し
た場合でも動作が安定でかつ回路規模の増加が極めて少
ない構成のクロック発生装置を得ることが可能である。
Effect of the Invention With the above-described configuration, the present invention can provide a clock generation device that operates stably even when the number of stages of delay elements is increased and that increases in circuit size are extremely small.

実施例 以下本発明のクロック発生装置の一実施例について、図
面を参照しながら説明する。第1図は本発明の一実施例
に於けるクロック発生装置の系統図であり、第2図は第
1図に於ける第1のクロック選択回路1の具体的な回路
例である。第1図に於いて位相制御される前のクロック
CKが初段のインバータ3に入力され、その出力CK 
+ は第1のクロック選択回路1に於ける初段のインバ
ータ入力となる。例えば第1のクロック選択回路1に於
ける遅延のためのインバータの段数を4段とすれば、そ
の最終段の出力CK sは次に接続される第1のクロッ
ク選択回路1の初段のインバータ入力に接続される。信
号Aは基準パルスであり、各部1のクロック選択回路l
に入力される。百。。、。
Embodiment Hereinafter, an embodiment of the clock generation device of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a system diagram of a clock generation device in an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a specific circuit example of the first clock selection circuit 1 in FIG. 1. In FIG. 1, the clock CK before phase control is input to the first stage inverter 3, and its output CK
+ becomes the first-stage inverter input in the first clock selection circuit 1. For example, if the number of stages of inverters for delay in the first clock selection circuit 1 is four, the output CKs of the final stage is input to the inverter input of the first stage of the first clock selection circuit 1 connected next. connected to. Signal A is a reference pulse, and the clock selection circuit l of each section 1
is input. hundred. . ,.

Q、、は第1のクロック選択回路1において選択回路の
前後で遅延クロックの位相がどう変化したかの情報をや
りとりする信号である。最終列の第1のクロック選択回
路lは次段から後のクロック位相の情報を入力できない
ので最終段にクロック位相検出用のフリップ・フロップ
5を必要とする。
Q, , is a signal that exchanges information about how the phase of the delayed clock changes before and after the selection circuit in the first clock selection circuit 1. Since the first clock selection circuit 1 in the last column cannot input information on a later clock phase from the next stage, a flip-flop 5 for clock phase detection is required in the final stage.

同様に初段のフリップ・フロップ4を初段の第1のクロ
ック選択回路1の前に配置する。以上のように直列に接
続された第1のクロック選択回路1からはそれぞれ基準
パルスAと一定位相のエツジを持つクロックT I” 
T 3と確実にクロックが選択されたかどうかを示す信
号S T l”’ S T 3が出力される。本実施例
ではS T l” S T 3はそれぞれクロックが選
択された場合は論理値の“H”が出力され、されなかっ
た場合は“L”を出力する。
Similarly, the flip-flop 4 at the first stage is arranged before the first clock selection circuit 1 at the first stage. As described above, each of the first clock selection circuits 1 connected in series outputs a clock T I" having an edge of a constant phase with respect to the reference pulse A.
T 3 and a signal ST 3 indicating whether the clock has been definitely selected are output. In this embodiment, S T 3 is a logical value when the clock is selected. "H" is output, and if not, "L" is output.

以上のクロックT1〜T3及び信号S T +〜S T
 3はインバータ6.7、ORゲート8.9、AND−
ORゲート10からなる第2のクロック選択回路2で処
理されT、−T3の中から1つの基準パルスAと一定位
相のエツジを持つクロックを選択して位相制御がなされ
たクロックTとして出力している。第1図の実施例に於
ける第2のクロック選択回路2ではST、が“H”の場
合にはT1を選択して出力し、他のTz 、T:lは選
択しない構成にしている。同様にある第1のクロック選
択回路1で希望する位相のクロックが得られ、その第1
のクロック選択回路1で確実にクロックが選択されたか
どうかを示す信号が“H”になった場合その後段の第1
のクロック選択回路のクロック出力は総て無視される。
The above clocks T1 to T3 and signals S T + to S T
3 is inverter 6.7, OR gate 8.9, AND-
A second clock selection circuit 2 consisting of an OR gate 10 selects a clock having an edge at a constant phase with one reference pulse A from among T and -T3 and outputs it as a phase-controlled clock T. There is. The second clock selection circuit 2 in the embodiment of FIG. 1 selects and outputs T1 when ST is "H", and does not select the other clocks Tz and T:l. Similarly, a certain first clock selection circuit 1 obtains a clock of a desired phase, and the first
When the signal indicating whether a clock is definitely selected in the clock selection circuit 1 of the clock selection circuit 1 becomes "H", the first
All clock outputs of the clock selection circuits are ignored.

以上のような構成に於いて入力クロックGKの周期をτ
。とじ、第1図に於けるCK、〜CK、3までの全体で
のクロック遅延時間をτ、とすれば、τ、〉τe/2で
あればよい。
In the above configuration, the period of the input clock GK is τ
. If the total clock delay time from CK to CK, 3 in FIG. 1 is τ, it is sufficient that τ,>τe/2.

全遅延量τ、がクロックの1周期の2以上であればよい
理由は遅延素子がインバータであるためクロックを遅延
して08〜180°の位相を作成した場合、反転された
クロックの位相が180@〜360 ”の位相となるか
らである。この場合クロックのデユーティは50%が前
提であり、実際には余裕をみてτ、を大きめにしておく
。また、クロックの周波数を低くしたり、位相制御の精
度を上げたい場合には、第1のクロック選択回路1の直
列接続の段数を多くすることにより対応可能である。
The reason why the total delay amount τ should be 2 or more of one period of the clock is because the delay element is an inverter, so if the clock is delayed to create a phase of 08 to 180 degrees, the phase of the inverted clock will be 180 degrees. This is because the phase will be ~360''. In this case, the duty of the clock is assumed to be 50%, and in reality, τ is set larger to allow for some margin. Also, lowering the clock frequency or changing the phase If it is desired to improve the accuracy of control, this can be achieved by increasing the number of stages of the first clock selection circuit 1 connected in series.

次に第1図における第1のクロック選択回路の回路例に
ついて第2図を参照しながら説明する。
Next, a circuit example of the first clock selection circuit in FIG. 1 will be described with reference to FIG. 2.

第2図に於ける各部の波形図を第3図に示す。第2図の
回路例において101〜104は第1のクロック選択回
路1に於けるクロック遅延のためのインバータである。
FIG. 3 shows a waveform diagram of each part in FIG. 2. In the circuit example shown in FIG. 2, 101 to 104 are inverters for clock delay in the first clock selection circuit 1. In the circuit example shown in FIG.

動作説明上、初段のインバータ3、フリップ・フロップ
4、最終段のフリップ・フロップ5を第1図の実施例と
同じものを使用して説明する。また、第2図に於いて信
号T、、STXは第1図の信号T、〜T 3 、 S 
T r〜ST、にそれぞれ対応する。クロックCKと基
準ペルスAは第1図と同じである。第2図に於いて位相
制御される前のクロックCKが入力され初段のインバー
タ3とインバータ101〜104で反転と遅延の処理が
行われる。前記クロックCKと反転遅延がなされたクロ
ックCKn〜CK、l+4は初段のフリップ・フロップ
3と第1のクロック選択回路1のフリップ・フロップ1
11〜114及び最終段のフリップ・フロップ5に於い
て基準パルスAによりそれぞれ同時にラッチされる。第
3図に示すように、インバータ3. 101〜104の
入力と出力の間にはそれぞれΔtの遅延が存在する。こ
こである段のインバータ出力と2段後のインバータ出力
を比較すると遅延のため同一時刻でHs、“L、′の論
理値の異なる時間がある。例えば第3図(al (b)
 (C) (dl (el(f) (g) (h)に示
すように、パルスAの立ち上がり時点でCK、、+1が
H”なのに対しCK、lや、が“L″となった場合、N
ANDゲート133の出力−S n+2はL″となる。
To explain the operation, the inverter 3 and flip-flop 4 at the first stage and the flip-flop 5 at the final stage are the same as those in the embodiment shown in FIG. 1. Also, in FIG. 2, the signals T, , STX are the signals T, ~T 3 , STX in FIG.
T r to ST, respectively. Clock CK and reference pulse A are the same as in FIG. In FIG. 2, the clock CK before phase control is input, and inversion and delay processing are performed in the first stage inverter 3 and inverters 101 to 104. The clocks CKn to CK, l+4, which are inverted and delayed from the clock CK, are the first-stage flip-flop 3 and the flip-flop 1 of the first clock selection circuit 1.
11 to 114 and the final stage flip-flop 5 are simultaneously latched by the reference pulse A. As shown in FIG. There is a delay of Δt between the inputs and outputs of 101 to 104, respectively. Here, when comparing the inverter output of one stage and the inverter output of the second stage, there is a time when the logical values of Hs, "L, and ' are different at the same time due to the delay. For example, as shown in Fig. 3 (al (b)
(C) (dl (el(f) (g) As shown in (h), when CK, , +1 is "H" at the rising edge of pulse A, but CK, l, etc. are "L", N
The output -S n+2 of the AND gate 133 becomes L''.

このときインバータ123の出力でK yI * 2に
はパルスAと略同時刻に立ち上がりエツジを持つクロッ
クが出力されている。一般的にSs  (m=1.2.
3.−・”、n−1,n、n+1、・・・・・・)が“
L”となった場合で1−はパルスAと略同時刻に立ち上
がりエツジをもつクロックとなる。理論的には隣り合う
フリップ・フロップの出力Q、とQ @ * 1が同時
に“L”或いは“H”となった時、それらの隣り合うフ
リップ・フロップのD(データ)入力にはパルスAの立
ち上がりエツジと略同時刻にエツジを持ったクロックが
存在するはずである。従って隣り合うフリップ・フロッ
プの出力よりパルスAの立ち上がりエツジと略同時刻に
エツジを持ったクロックの検出を行ってもよい。しかし
ながら隣り合うフリップ・フロップのD入力には略同時
刻に片方には立ち上がりエツジが、もう片方には立ち下
がりエツジが入力される。このように、フリップ・フロ
ップのD入力のセット・アンプ・タイムが立ち上がりと
立ち下がりで異なると誤動作の原因となる。そこで第2
図の回路例ではある段と2段後のフリップ・フロップの
出力より適当なクロックを検出し、フリップ・フロップ
のD入力に対して立ち上がりエツジの部分だけで検出が
行えるように構成している。
At this time, a clock having a rising edge approximately at the same time as pulse A is outputted from the inverter 123 as K yI *2. Generally Ss (m=1.2.
3. -・", n-1, n, n+1, ......) is "
In the case of "L", 1- becomes a clock with a rising edge at approximately the same time as pulse A.Theoretically, the outputs Q and Q@*1 of adjacent flip-flops become "L" or "L" at the same time. When the level becomes "H", there should be a clock whose edge is approximately at the same time as the rising edge of pulse A at the D (data) input of those adjacent flip-flops. A clock having an edge at approximately the same time as the rising edge of pulse A may be detected from the output of . The falling edge is input to the flip-flop.In this way, if the set amplifier time of the D input of the flip-flop is different between the rising and falling edges, it will cause malfunction.
In the circuit example shown in the figure, an appropriate clock is detected from the outputs of flip-flops in one stage and two stages later, and the circuit is configured so that detection can be performed only at the rising edge of the D input of the flip-flop.

以上のような動作によりインバータ121〜124の出
力に現れるクロックで1−〜CKイ9.に対してそのク
ロックを選択するか否かの信号丁イ〜丁。。。
Due to the above operation, the clocks appearing at the outputs of the inverters 121 to 124 are 1- to CK-9. A signal indicating whether or not to select that clock. . .

をNANDゲート131〜134が出力する。以上のよ
うに作成されたクロックで1乙〜でゴ乙。3と信号¥7
〜丁□、を0R−ANDゲート140に入力することに
より出力T8に位相制御のなされたクロックが出力され
る。また、一つのクロックも選択されなかった場合出力
T8は“H”となる。ここで、フリップ・フロップ11
1〜114、インバータ121〜124 、NANDゲ
ート131〜134.0R−ANDゲート140はクロ
ック抽出のための抽出回路20を構成している。第1の
クロック選択回路1に於いて回路当りのクロック遅延量
を大きくとりたい場合や位相制御の精度を上げたい場合
にはインバータ101〜104、フリップ・フロップ1
11〜114、インバータ121〜124 、NAND
ゲート131〜134の数と0R−ANDゲート140
の入力数を増加することで対応可能である。抽出回路2
0でクロックが抽出されたかどうかを判定する方法とし
てはNANDゲート111〜114の論理積を求め、そ
の論理値がL”であれば抽出がなされたことになる。し
かしながら第1のクロック選択回路1に於いて回路当り
のクロック遅延量を大きくとりたい場合や位相制御の精
度を上げたい場合にインバータ101〜104、フリッ
プ・フロップ111〜114、インバータ121〜12
4、NANDゲート131〜134の数と0R−AND
ゲート140の入力数を増加すると、論理積を求めるた
めの入力数が大きくなり、回路規模が大きくなる。これ
により、クロックが抽出されたかどうかの判定に要する
時間が長くなり応答が遅れる等の問題がおこる。判定回
路30はAND−ORゲートで構成され、クロックが抽
出されたかどうかの判定を簡単な回路で且つ高速に行う
ものである。今、インバータ101の入力からインバー
タ104の出力の間での遅延時間をτ0、インバータ3
の入力からインバータ113の出力の間での遅延時間を
τい2とし、τml=τ、2〈τc/2とする。CK−
++ 、CK−zのうちどれかのクロックが抽出された
場合、パルスAの到来時にフリップ・フロップ111の
入力は“H″になっており、フリップ・フロップ5の入
力は遅延のためまだL”のままのはずである。従ってフ
リップ・フロップ111の出力Q7は必ずH′でありフ
リップ・フリップ5の出力Q1.4は必ずL″になる。
The NAND gates 131 to 134 output. With the clock created as above, I got 1 to 1. 3 and signal ¥7
By inputting .about.D□ to the 0R-AND gate 140, a phase-controlled clock is output to the output T8. Furthermore, if no clock is selected, the output T8 becomes "H". Here, flip-flop 11
1 to 114, inverters 121 to 124, and NAND gates 131 to 134.0R-AND gate 140 constitute an extraction circuit 20 for clock extraction. In the first clock selection circuit 1, if you want to increase the amount of clock delay per circuit or increase the accuracy of phase control, inverters 101 to 104, flip-flops 1
11-114, inverter 121-124, NAND
Number of gates 131 to 134 and 0R-AND gate 140
This can be handled by increasing the number of inputs. Extraction circuit 2
As a method of determining whether a clock has been extracted at 0, the logical product of the NAND gates 111 to 114 is calculated, and if the logical value is "L", it means that the clock has been extracted.However, the first clock selection circuit 1 Inverters 101 to 104, flip-flops 111 to 114, and inverters 121 to 12 are used when you want to increase the amount of clock delay per circuit or increase the precision of phase control.
4. Number of NAND gates 131 to 134 and 0R-AND
When the number of inputs to the gate 140 is increased, the number of inputs for calculating the logical product increases, and the circuit scale increases. This causes problems such as a longer time required to determine whether a clock has been extracted, resulting in a delayed response. The determination circuit 30 is composed of an AND-OR gate, and is a simple circuit that can quickly determine whether a clock has been extracted. Now, the delay time between the input of inverter 101 and the output of inverter 104 is τ0, and inverter 3
The delay time between the input of the inverter 113 and the output of the inverter 113 is τ2, and τml=τ, 2<τc/2. CK-
++, CK-z, the input of flip-flop 111 is "H" when pulse A arrives, and the input of flip-flop 5 is still "L" due to the delay. Therefore, the output Q7 of flip-flop 111 is always H', and the output Q1.4 of flip-flop 5 is always L''.

同様にCKI、、 CK、、−2のうちどれかのクロッ
クが抽出された場合、パルスへの到来時にフリップ・フ
ロップ4の入力は“H”になっており、フリップ・フロ
ップ114の入力は遅延のためまだ“L”のままのはず
である。従ってフリップ・フロップ4の出力Q1.−.
は必ず“H”でありフリップ・フロップ114の出力Q
7.3は必ず“L”になる。判別回路30は以上のこと
からフリップ・フロップの出力Q7と反転出力間、。4
及び出力Qn−+ と反転比がら、3よりクロックが抽
出されたか否かの判定を行っている。以上のことはイン
バータ101と104の間のインバータの段数を偶数段
増加し、フリップ・フロップ111と114の間のフリ
ップ・フロップの数を同数だけ増加した場合でも前述の
τ1、=τ、2〈τc/2の条件を満足することにより
成り立つ。即ち、判定回路30を増加することなくクロ
ックが抽出されたか否かの判定が可能である。以上で説
明した動作により判定回路30は第1のクロック選択回
路1に於いて希望する位相のクロックが抽出されたか否
かを判定し、抽出された場合には出力ST、に“H”の
信号を出力する。また第1のクロック選択回路1に於い
て抽出回路20のインバータ121〜124、NAND
ゲート131〜134.0R−ANDゲート140は第
1のゲート回路を構成し、判定回路30のAND−OR
ゲートは第2のゲート回路でありクロックの位相検出の
ためのフリップ・フロップ111〜114を共用するこ
とで回路構成を簡単にしている。
Similarly, when any of the clocks CKI, CK, -2 is extracted, the input of flip-flop 4 is "H" when the pulse arrives, and the input of flip-flop 114 is delayed. Therefore, it should still be at "L". Therefore, the output Q1 of flip-flop 4. −.
is always “H” and the output Q of the flip-flop 114
7.3 is always “L”. Based on the above, the discrimination circuit 30 is connected between the output Q7 and the inverted output of the flip-flop. 4
Based on the output Qn-+ and the inversion ratio, it is determined from 3 whether or not a clock has been extracted. The above means that even if the number of inverter stages between inverters 101 and 104 is increased by an even number, and the number of flip-flops between flip-flops 111 and 114 is increased by the same number, the above-mentioned τ1,=τ,2< This is established by satisfying the condition of τc/2. That is, it is possible to determine whether a clock has been extracted without increasing the number of determination circuits 30. Through the operation described above, the determination circuit 30 determines whether or not a clock of the desired phase has been extracted in the first clock selection circuit 1, and if it has been extracted, an "H" signal is sent to the output ST. Output. In addition, in the first clock selection circuit 1, the inverters 121 to 124 of the extraction circuit 20, the NAND
The gates 131 to 134.0R-AND gate 140 constitute a first gate circuit, and the AND-OR of the determination circuit 30
The gate is a second gate circuit, and the circuit configuration is simplified by sharing flip-flops 111 to 114 for clock phase detection.

発明の効果 以上のように本発明のクロック発生装置は、略一定の周
波数でかつ連続なクロックを入力し各種位相のクロック
を生成する直列接続された複数のインバータと、位相制
御の基準となる基準パルスを入力と前記各種位相のクロ
ックを入力し前記各種位相のクロックから基準パルスと
エツジの位相が一定の関係にあるクロックを抽出し出力
する抽出回路と、前記抽出回路でクロックが抽出された
かどうかを判定しその結果を出力する判定回路を具備し
た第1のクロック選択回路が、前記複数のインバータの
最終段のインバータ出力が他の第1のクロック選択回路
の初段のインバータに入力されるように接続された複数
の第1のクロック選択回路と、前記複数の第1のクロッ
ク選択回路のそれぞれから抽出クロックと判定結果を入
力し前記基準パルスとエツジの位相が一定の関係にある
クロックを選択して出力する第2の選択回路を具備して
いるので、1.延線を使用するのに対し全体の遅延量は
約半分でよく、安定な遅延が行われる。
Effects of the Invention As described above, the clock generation device of the present invention includes a plurality of serially connected inverters that input continuous clocks at a substantially constant frequency and generate clocks of various phases, and a standard that serves as a reference for phase control. an extraction circuit that inputs a pulse and clocks of the various phases, extracts and outputs a clock whose edge phase has a fixed relationship with a reference pulse from the clocks of the various phases, and determines whether the clock has been extracted by the extraction circuit; A first clock selection circuit including a determination circuit for determining and outputting the result is arranged such that an inverter output of a final stage of the plurality of inverters is input to a first stage inverter of another first clock selection circuit. The extracted clocks and judgment results are input from each of the plurality of connected first clock selection circuits and the plurality of first clock selection circuits, and a clock whose edge phase has a constant relationship with the reference pulse is selected. Since it is equipped with a second selection circuit that outputs 1. Compared to using extended lines, the total amount of delay is only about half, and stable delay is achieved.

2、IC化してインバータを同一特性のトランジスタで
構成すれば、インバータ出力の立ち上がりと立ち下がり
の遅延時間は異なっても2段分の遅延時間は略一定とな
り段数を多くして遅延量を大きくしてもクロックのデユ
ーティを略一定に確保することが可能である。30回路
が同一パターンのブロックに分割できるため回路規模が
大きくなっても集積化しやすい。4.クロックの位相を
検出して希望する位相のクロッ′りを抽出し出力するま
での処理時間を短くできる。等の効果がある。
2. If the inverter is made into an IC and configured with transistors with the same characteristics, even if the delay times for the rise and fall of the inverter output are different, the delay time for two stages will be approximately constant, and the amount of delay can be increased by increasing the number of stages. However, it is possible to maintain a substantially constant clock duty. Since 30 circuits can be divided into blocks with the same pattern, it is easy to integrate even when the circuit scale becomes large. 4. The processing time required to detect the phase of the clock, extract the clock of the desired phase, and output it can be shortened. There are other effects.

さらに、前記第1のクロック選択回路に於ける判定回路
は前記複数のインバータの初段の近傍に於けるクロック
の位相と最終段の近傍に於けるクロックの位相を比較す
る比較回路を具備することにより前記第1のクロック選
択回路に於けるインバータの遅延段数を多くしても、判
定回路の回路規模を一定に小さく保つことが可能である
。さらに、前記第1のクロック選択回路に於けるクロッ
ク抽出回路は前記複数のインバータの出力を前記基準パ
ルスでラッチする複数のフリップ・フロップと、複数の
フリップ・フロップの出力より基準パルスとエツジの位
相が一定の関係にあるクロックを検出し検出されたクロ
ックを出力として通過させる第1のゲート回路を具備し
、前記判定回路は前記抽出回路の複数のフリップ・フロ
ップの出力のうちの初段の近傍に於ける出力と最終段の
近傍に於ける出力よりクロックの抽出の有無を判断しそ
の結果を出力する第2のゲート回路を具備するように構
成すれば、クロックの位相検出にフリップ・フロップを
使用するため装置をすべてディジタル回路で構成できる
他、前記抽出回路と判定回路における位相検出のための
フリップ・フロップを共用できるので第1のクロック選
択回路をより簡単に構成する効果がある。
Furthermore, the determination circuit in the first clock selection circuit includes a comparison circuit that compares the phase of the clock near the first stage of the plurality of inverters with the phase of the clock near the last stage of the plurality of inverters. Even if the number of delay stages of the inverter in the first clock selection circuit is increased, the circuit scale of the determination circuit can be kept small. Further, the clock extraction circuit in the first clock selection circuit includes a plurality of flip-flops that latch the outputs of the plurality of inverters with the reference pulse, and a clock extraction circuit that extracts the phase of the reference pulse and the edge from the outputs of the plurality of flip-flops. a first gate circuit that detects a clock that has a certain relationship and passes the detected clock as an output, and the determination circuit is located near the first stage of the outputs of the plurality of flip-flops of the extraction circuit. If it is configured to include a second gate circuit that determines whether or not a clock is to be extracted from the output at the output and the output near the final stage and outputs the result, a flip-flop can be used to detect the phase of the clock. Therefore, not only can the device be constructed entirely of digital circuits, but also the flip-flop for phase detection in the extraction circuit and the determination circuit can be shared, which has the effect of simplifying the construction of the first clock selection circuit.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例に於けるクロック発生装置の
系統図、第2図は第1図に於ける第1のクロック選択回
路の回路例に於ける回路図、第3図は第2図に於ける各
部の波形図である。 1・・・・・・第1のクロック選択回路、2・・・・・
・第2のクロック選択回路、3・・・・・・インバータ
、4,5・・・・・・フリップ・フロップ、6.7・・
・・・・インバータ、8.9・・・・・・NORゲート
、10・・・・・・AND−ORゲート、20・・・・
・・抽出回路、30・・・・・・判定回路、101〜1
04・・・・・・インバータ、111〜114・・・・
・・フリップ・フロップ、121〜124・・・・・・
インバータ、131〜134・・・・・・NANDゲー
ト、140・・・・・・0R−ANDゲート。
FIG. 1 is a system diagram of a clock generation device in an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a circuit diagram of an example of the first clock selection circuit in FIG. 1, and FIG. 2 is a waveform diagram of each part in FIG. 2. FIG. 1...First clock selection circuit, 2...
・Second clock selection circuit, 3... Inverter, 4, 5... Flip-flop, 6.7...
...Inverter, 8.9...NOR gate, 10...AND-OR gate, 20...
...Extraction circuit, 30...Determination circuit, 101-1
04...Inverter, 111-114...
...Flip flop, 121-124...
Inverter, 131-134...NAND gate, 140...0R-AND gate.

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)略一定の周波数でかつ連続なクロックを入力し各
種位相のクロックを生成する直列接続された複数のイン
バータと、位相制御の基準となる基準パルスを入力と前
記各種位相のクロックを入力し前記各種位相のクロック
から基準パルスとエッジの位相が一定の関係にあるクロ
ックを抽出し出力する抽出回路と、前記抽出回路でクロ
ックが抽出されたかどうかを判定しその結果を出力する
判定回路を具備した第1のクロック選択回路が、前記複
数のインバータの最終段のインバータ出力が他の第1の
クロック選択回路の初段のインバータに入力されるよう
に接続された複数の第1のクロック選択回路と、前記複
数の第1のクロック選択回路のそれぞれから抽出クロッ
クと判定結果を入力し前記基準パルスとエッジの位相が
一定の関係にあるクロックを選択して出力する第2の選
択回路とを具備することを特徴とするクロック発生装置
(1) A plurality of inverters connected in series generate clocks of various phases by inputting a continuous clock at a substantially constant frequency, inputting a reference pulse serving as a reference for phase control, and inputting the clocks of the various phases. It includes an extraction circuit that extracts and outputs a clock whose edge phase has a constant relationship with a reference pulse from the clocks of various phases, and a determination circuit that determines whether or not the extraction circuit extracts a clock and outputs the result. a plurality of first clock selection circuits connected such that an inverter output of a final stage of the plurality of inverters is inputted to a first stage inverter of another first clock selection circuit; , a second selection circuit inputting the extracted clock and the determination result from each of the plurality of first clock selection circuits, and selecting and outputting a clock whose edge phase has a constant relationship with the reference pulse. A clock generator characterized by:
(2)第1のクロック選択回路に於ける判定回路は複数
のインバータの初段の近傍に於けるクロックの位相と最
終段の近傍に於けるクロックの位相を比較する比較回路
を具備することを特徴とする特許請求の範囲第(1)項
記載のクロック発生装置。
(2) The determination circuit in the first clock selection circuit is characterized by comprising a comparison circuit that compares the phase of the clock near the first stage of the plurality of inverters and the phase of the clock near the last stage of the plurality of inverters. A clock generation device according to claim (1).
(3)第1のクロック選択回路に於けるクロック抽出回
路は複数のインバータの出力を基準パルスでラッチする
複数のフリップ・フロップと、複数のフリップ・フロッ
プの出力より基準パルスとエッジの位相が一定の関係に
あるクロックを検出し検出されたクロックを出力として
通過させる第1のゲート回路を具備し、前記判定回路は
前記抽出回路の複数のフリップ・フロップの出力のうち
の初段の近傍に於ける出力と最終段の近傍に於ける出力
よりクロックの抽出の有無を判断しその結果を出力する
第2のゲート回路を具備することを特徴とする特許請求
の範囲第(1)項記載のクロック発生装置。
(3) The clock extraction circuit in the first clock selection circuit includes multiple flip-flops that latch the outputs of multiple inverters with reference pulses, and the phase of the reference pulse and edge is constant from the outputs of the multiple flip-flops. a first gate circuit that detects a clock having a relationship of The clock generator according to claim (1), further comprising a second gate circuit that determines the presence or absence of clock extraction from the output and the output near the final stage and outputs the result. Device.
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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61296815A (en) * 1985-06-21 1986-12-27 アドバンスト・マイクロ・デイバイシズ・インコ−ポレ−テツド Apparatus for synchronizing first and second signals

Patent Citations (1)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61296815A (en) * 1985-06-21 1986-12-27 アドバンスト・マイクロ・デイバイシズ・インコ−ポレ−テツド Apparatus for synchronizing first and second signals

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